ES2443240B1 - Método para el dopado selectivo de un semiconductor mediante transferencia inducida por láser - Google Patents

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Abstract

Método para el dopado selectivo de un semiconductor mediante transferencia inducida por láser, que comprende un sistema precursor (200) compuesto de al menos una capa absorbente (202) a la radiación láser, con una solución dopante (203) y un soporte transparente (201) , el cual se coloca enfrentado y en contacto directo con el sistema receptor (300) donde se integra el substrato (301) semiconductor y se irradia con uno o más pulsos de un haz láser (100) focalizados en la interfaz entre la fuente y el substrato, provocando la transferencia de material proveniente de la fuente hacia el substrato y la introducción de átomos dopantes provenientes de la fuente dentro del substrato semiconductor. El sustrato (301) es, preferentemente, una oblea de silicio con una cara frontal (302) y una cara posterior (303) con capas pasivante antirreflejo dieléctricas.

Description

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Owner name: UNIVERSIDAD POLITECNICA DE MADRID

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Country of ref document: ES

Kind code of ref document: B1

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