EP2090139A2 - Electrode for an organic light-emitting device, acid etching thereof, and also organic light-emitting device incorporating it - Google Patents
Electrode for an organic light-emitting device, acid etching thereof, and also organic light-emitting device incorporating itInfo
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- EP2090139A2 EP2090139A2 EP07858713A EP07858713A EP2090139A2 EP 2090139 A2 EP2090139 A2 EP 2090139A2 EP 07858713 A EP07858713 A EP 07858713A EP 07858713 A EP07858713 A EP 07858713A EP 2090139 A2 EP2090139 A2 EP 2090139A2
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- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2217/00—Coatings on glass
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- H10K2102/00—Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
- H10K2102/301—Details of OLEDs
- H10K2102/351—Thickness
Definitions
- the present invention relates to a multilayer electrode for organic electroluminescent device, its acid etching and an organic electroluminescent device incorporating it.
- the known organic electroluminescent systems or OLED comprise a material or a stack of organic electroluminescent materials supplied with electricity by electrodes generally in the form of two electroconductive layers flanking it.
- ITO layers commonly comprise a layer based on indium oxide, generally indium oxide doped with tin better known under the abbreviation ITO.
- ITO layers have been particularly studied. They can be easily deposited by magnetic field assisted sputtering, either from an oxide target (non-reactive sputtering), or from an indium and tin-based target (reactive sputtering in the presence of an oxygen-type oxidizing agent) of the order of 100 to 150 nm.
- this ITO layer has a number of disadvantages. Firstly, the material and the method of deposition at high temperature (350 ° C.) to improve the conductivity generate additional costs. The square resistance remains relatively high (of the order of 10 ⁇ / square) unless the thickness of the layers is increased beyond 150 nm, which results in a decrease in the transparency and in an increase in the roughness of the area.
- JP2005-038642 discloses a flat electroluminescent screen
- TFT thin-film transistor
- top-emitting organic electroluminescent systems (“top emission” in English) generating respectively a red light, a green light, and a blue light, to form an active matrix .
- Each organic electroluminescent device is provided with a so-called lower or rear electrode (or “bottom electrode” in English), comprising: a contact layer, for example made of ITO,
- the aim of the invention is to obtain an assembly of electroconductive layers to form a reliable, robust electrode (especially in terms of stability and / or mechanical strength, thermal) without sacrificing its electroconductivity properties, its quality optical, nor the performance of the device incorporating it, nor cause difficulties of implementation.
- the object of the invention is, in particular, to achieve an assembly of electroconductive layers to form a lower electrode of a reliable, robust electroluminescent system without sacrificing its electroconductivity properties, its optical quality, or the optical performance of the electroluminescent system. OLED, nor to create difficulties of realization.
- the aim is to develop essentially transparent, semi-transparent (both transparent and reflective) and reflective electrodes that are suitable for OLEDS forming active and passive matrix OLED screens, or used in general lighting
- the subject of the invention is a substrate, for organic electroluminescent device, carrying on a first main face of a so-called lower multilayer electrode, which successively comprises:
- the thin blocking layer directly on the metallic functional layer, the thin blocking layer comprising a metal layer with a thickness less than or equal to 5 nm, preferably between 0.5 and 2 nm, and / or comprising a layer with a thickness less than or equal to 10 nm, preferably between 0.5 and 2 nm, and which is based on stoichiometric metal oxide, stoichiometric metal oxynitride or stoichiometric metal nitride,
- a coating comprising an overlayer, made of a dielectric material based on a metal oxide, forming an adaptation layer of the output work.
- the thin blocking layer forms a protective layer or even a "sacrificial" layer which makes it possible to avoid the alteration of the functional metal, in particular pure and / or in thin layer, in one or both of the configurations. following:
- the layer which overcomes the functional layer is deposited using a reactive plasma (oxygen, nitrogen, etc.), for example if the oxide layer which surmounts it is deposited by cathodic sputtering,
- composition of the layer which overcomes the functional layer is likely to vary during industrial manufacture (evolution of deposition conditions such as wear of a target, etc.), especially if the stoichiometry of an oxide and / or nitride type layer is changing. , thus modifying the quality of the functional layer and therefore the properties of the electrode (square resistance, light transmission, etc.),
- the thin metallic blocking layer may preferably be made of a material selected from at least one of the following metals: Ti, V, Mn, Fe, Co, Cu, Zn, Zr, Hf, Al, Nb, Ni , Cr, Mo, Ta, W, or an alloy based on at least one of these materials.
- a thin blocking layer based on a metal chosen from niobium Nb, tantalum Ta, titanium Ti, chromium Cr or nickel Ni or an alloy from at least two of these is particularly preferred.
- metals including niobium and tantalum (Nb / Ta), niobium and chromium (Nb / Cr) or tantalum and chromium (Ta / Cr) or nickel and chromium (Ni / Cr) alloys .
- This type of layer based on at least one metal has a particularly important effect of entrapment ("getter" effect).
- a thin metal blocking layer can be easily manufactured without altering the functional layer.
- This metal layer may preferably be deposited in an inert atmosphere (that is to say without voluntary introduction of oxygen or nitrogen) consisting of noble gas (He, Ne, Xe, Ar, Kr). It is not excluded or annoying that on the surface this metal layer is oxidized during the subsequent deposition of a metal oxide layer.
- Such a thin metal blocking layer also makes it possible to obtain excellent mechanical strength (resistance to abrasion, especially to scratches). This is especially true for stacks that undergo heat treatment, and thus a large diffusion of oxygen or nitrogen.
- the thin blocking layer can be partially oxidized.
- This layer is deposited in non-metallic form and is therefore not deposited in stoichiometric form, but in sub-stoichiometric form, of the MO x type, where M represents the material and x is a number less than the stoichiometry of the oxide of the material or type MNOx for an oxide of two materials M and N (or more).
- M represents the material
- x is a number less than the stoichiometry of the oxide of the material or type MNOx for an oxide of two materials M and N (or more).
- TiOx, NiCrOx may be mentioned.
- X is preferably between 0.75 and 0.99 times the normal stoichiometry of the oxide.
- x is preferably between 0.5 and 0.98 and for a x-dioxide between 1.5 and 1.98.
- the thin blocking layer is based on TiO x and x can be in particular such that 1, 5 ⁇ x ⁇ 1, 98 or 1, 5 ⁇ x ⁇ 1, 7, or even 1, 7 ⁇ x ⁇ 1, 95.
- the thin blocking layer may be partially nitrided. It is therefore not deposited in stoichiometric form, but in substoichiometric form, of the type MN y , where M represents the material and y is a number less than the stoichiometry of the nitride of the material. Y is preferably between 0.75 and 0.99 times the normal stoichiometry of the nitride.
- the thin blocking layer can also be partially oxynitrided.
- This thin oxidized and / or nitrided blocking layer can be easily manufactured without altering the functional layer. It is preferably deposited from a ceramic target, in a non-oxidizing atmosphere preferably consisting of noble gas (He, Ne, Xe, Ar, Kr).
- the thin blocking layer may be preferably nitride and / or substoichiometric oxide for further reproducibility of electrical and optical properties of the electrode.
- the thin blocking layer chosen under stoichiometric oxide and / or nitride may be preferably based on a metal chosen from at least one of the following metals: Ti, V, Mn, Fe, Co, Cu, Zn, Zr, Hf, Al, Nb, Ni, Cr, Mo,
- a metal selected from niobium Nb, tantalum Ta, titanium Ti, chromium Cr or nickel Ni or an alloy from at least two of these metals, especially an alloy of niobium and tantalum (Nb / Ta), niobium and chromium (Nb / Cr) or tantalum and chromium (Ta / Cr) or nickel and chromium (Ni / Cr).
- a silicon nitride SiN x or AlNx aluminum or Cr Nx chromium layer it is also possible to choose a silicon nitride SiN x or AlNx aluminum or Cr Nx chromium layer, or TiNx titanium or a multi-metal nitride layer such as NiCrNx.
- the thin blocking layer may have an oxidation gradient, for example M (N) OXi with variable Xi, the part of the blocking layer in contact with the functional layer is less oxidized than the portion of this layer furthest from the functional layer by using a particular deposition atmosphere.
- the thin blocking layer may also be multilayer and include:
- an "interface” layer immediately in contact with said functional layer this interface layer being made of a material based on non-stoichiometric metal oxide, nitride or oxynitride, such as those above, - on the other hand, at least one layer of a metallic material, such as those mentioned above, layer immediately in contact with said "interface” layer.
- the interface layer may be an oxide, nitride, or oxynitride of a metal or metal that is or is present in the eventual adjacent metal layer.
- the electrode according to the invention has a compatibility of the surface properties, in particular with organic electroluminescent systems, while having properties of electrical conductivity and / or of transparency or reflectivity that can be adjusted in a particular way, in particular by playing on the thickness of the metal functional layer, or even other layers and / or on the deposition conditions.
- the electrode of the invention makes it possible to improve the yield in lm / W of the OLED by at least 5 to 10% for a brightness greater than 500 cd / m 2 compared to an ITO electrode.
- the electrode according to the invention can be over a large surface, for example an area greater than or equal to 0.02 m 2 , or even 0.5 m 2 or 1 m 2 .
- the coating may have a thickness greater than or equal to 20 nm to provide an oxygen and / or water barrier and be a monolayer or a single or mixed doped or non-doped metal oxide multilayer, rather than a nitride layer more absorbent and / or insulating.
- An overcoat is preferably chosen with an electrical conductivity greater than 10 5 S-Cm 1 , or even ICH S. cm 1 , easy and / or fast to achieve, transparent and economical layer.
- the overlayer may preferably be based on at least one of the following conductive and transparent metal oxides:
- indium oxide, zinc oxide, tin oxide, and their mixed oxides in particular of a zinc and tin oxide Sn x Zn y O z generally non stoichiometric and under amorphous phase, or of a mixed indium tin oxide (ITO), a mixed oxide of indium and zinc (IZO).
- ITO indium tin oxide
- IZO mixed oxide of indium and zinc
- This type of metal oxide can be doped typically between 0.5 and 5%.
- S-doped tin oxide, or Al (AZO) doped zinc oxide, Ga (GZO), B, Sc, or Sb for a better stability of the deposition process, and / or further increase the electrical conductivity ,.
- These conductive and transparent metal oxides can be surface stoichiometric to increase the work output.
- the coating may consist solely of this overlayer, for example with a thickness greater than or equal to 15 nm, for example between 20 and 150 nm, to provide at the same time the oxygen barrier and / or water.
- this overlayer may be preferably the last layer, a particularly stable ITO overlay is particularly preferred and it is moreover possible to retain the existing technologies for the manufacture and optimization of the OLED organic structure.
- an ITO overlay is chosen, it is preferable that the latter is of thickness less than or equal to 30 nm, in particular and between 3 nm and 20 nm, and to add an additional layer underlying protection against oxygen for a cumulative total thickness preferably greater than or equal to 15 nm, at 30 nm, for example between 30 and 150 nm.
- the overlayer may be alternatively or cumulatively based on at least one of the following stoichiometric metal oxides: nickel oxide, nickel oxide, aluminum oxide, titanium oxide, zirconium oxide, tantalum oxide, silicon oxide , silver oxide, gold, platinum, palladium, and preferably be less than or equal to 10 nm, for example between 1 and 5 nm.
- metal oxides are chosen stoichiometrically to be sufficiently electroconductive, and thin to be sufficiently transparent.
- the overlay can be deposited by a vacuum deposition technique, in particular by evaporation or magnetic field assisted sputtering, in particular at room temperature.
- an etching overcoat is preferably chosen with the same etching solution as the contact layer.
- the electrode may comprise, between the blocking layer and the overcoat, a protective layer against oxygen and / or water, based on metal oxide especially when the overcoat is thin (less than or equal to 20 nm), as an overlay in ITO (or IZO / ITO or IZO) or NiOx type aforementioned material.
- the protective layer may preferably be based on at least one of the following metal oxides distinct from the overcoat materials: zinc oxide, indium oxide, tin oxide, aluminum oxide, titanium oxide, zirconium oxide, tantalum oxide, silicon oxide.
- the metal oxide can be doped typically between 2 and 5%. It is in particular S-doped tin oxide, or Al-doped ZnO doped zinc oxide (AZO) for a better stability, Ga (GZO) to increase the conductivity, or even B , Sc, or Sb.
- the protective layer may be based on a mixed oxide, in particular a zinc and tin oxide Sn x Zn y O z that is generally non-stoichiometric and in an amorphous phase, or a mixed oxide of indium and aluminum oxide.
- a mixed oxide in particular a zinc and tin oxide Sn x Zn y O z that is generally non-stoichiometric and in an amorphous phase
- a mixed oxide of indium and aluminum oxide tin (ITO), a mixed oxide of indium and zinc (IZO).
- the protective layer may be a monolayer or a multilayer. This protective layer is preferably of (total) thickness between 3 and 150 nm, more preferably between 5 and 100 nm.
- this layer dedicated to the protection allows a greater freedom in the choice of the overlayer only chosen to have optimal surface properties including adaptation work output for OLEDS.
- a protective layer which is easy and / or fast to produce is preferably transparent, especially a layer, doped or non-doped, based on ITO, IZO, Sn x Zn 7 O 2 , ZnO x .
- a protective layer which can be etched is preferably chosen with the same etching solution as the contact layer.
- the protective layer can be deposited by a vacuum deposition technique, in particular by evaporation or preferably by magnetic field assisted sputtering, especially at ambient temperature.
- the contact layer and the protective layer are identical in nature, in particular pure zinc oxide, doped or even alloyed, and preferably the overcoat comprises ITTO in a layer. more external.
- the thin blocking layer is metallic, it is possible to choose an overlying stoichiometric layer and / or to use a highly reactive plasma in order to oxidize the metal layer in order to reduce its absorption.
- the thin blocking layer is based on nitride and / or metal oxide under stoichiometric, depositing a pure or doped layer of metal oxide M (N) Ox ', with x' less than 1 to limit the overoxidation of the thin blocking layer and with x 'slightly less than 1 to avoid too much absorption of this overlying layer thicker.
- the electrode according to the invention may have one or the following characteristics:
- the surface of the overlayer may be of roughness RMS (otherwise called Rq) less than or equal to 3 nm, preferably less than or equal to 2 nm, still more preferably less than or equal to
- R. M. S roughness means "Root Mean Square” roughness. This is a measure of measuring the value of the mean square deviation of roughness.
- This roughness R. M. S concretely, therefore quantifies on average the height of the peaks and troughs of roughness, with respect to the average height.
- an R. M. S roughness of 2 nm means a double peak amplitude.
- atomic force microscopy by a mechanical point system (using for example the measuring instruments marketed by VEECO under the name DEKTAK), by optical interferometry.
- the measurement is usually made on a square micrometer by atomic force microscopy, and on a larger area, of the order of 50 micrometers to 2 millimeters for mechanical systems to tip.
- the functional layer is based on a pure material selected from silver Ag, Au, Cu or Al or based on said material alloyed or doped with Ag, Au, Al, Pt, Cu, Zn, In , Si, Zr, Mo, Ni, Cr, Mg, Mn, Co, Sn, Pd.
- a pure material selected from silver Ag, Au, Cu or Al or based on said material alloyed or doped with Ag, Au, Al, Pt, Cu, Zn, In , Si, Zr, Mo, Ni, Cr, Mg, Mn, Co, Sn, Pd.
- silver doped with Pd or a gold-copper alloy or a silver-gold alloy silver doped with Pd or a gold-copper alloy or a silver-gold alloy.
- the functional layer may be deposited by a vacuum deposition technique, in particular by evaporation or preferably by magnetic field assisted sputtering, especially at room temperature.
- a silver-based layer is preferably chosen for its conductivity and transparency.
- the thickness of the selected functional layer based on silver may be between 3 to 20 nm, preferably between 5 to 15 nm. In this range of thicknesses, the electrode remains transparent. However, it is not excluded to have a much thicker layer especially in the case where the organic electroluminescent system operates in reflection.
- the thickness of the functional layer chosen based on silver may be between 50 and 150 nm, preferably between 80 and 100 nm.
- the thickness of the selected silver-based functional layer may furthermore be between 20 to 50 nm to switch from operation mainly in transmission to operation mainly in reflection.
- the contact layer may preferably be based on at least one of the following metal oxides stoichiometric or not: chromium oxide, indium oxide, zinc oxide, aluminum oxide, titanium oxide, molybdenum oxide, zirconium oxide, antimony oxide, tantalum oxide, silica oxide or even tin oxide.
- the metal oxide can be doped typically between 0.5 and 5%. It is in particular zinc oxide doped with Al (AZO), Ga (GZO), or even with B, Sc, or Sb for a better stability of deposition process, or even tin oxide doped with F or S.
- the contact layer may be based on a mixed oxide, in particular a zinc and tin oxide Sn x Zn y O z which is generally non-stoichiometric and in amorphous phase, or a mixed oxide of indium and tin ( ITO), a mixed oxide of indium and zinc (IZO).
- a mixed oxide in particular a zinc and tin oxide Sn x Zn y O z which is generally non-stoichiometric and in amorphous phase
- ITO indium and tin
- IZO mixed oxide of indium and zinc
- the contact layer may be a monolayer or a multilayer. This layer is preferably of thickness (total) between 3 and 30 nm, more preferably between 5 and 20 nm.
- a layer which is not toxic is preferably chosen, an easy and / or rapid layer to be produced, possibly transparent if necessary, in particular a doped or non-doped layer based on ITO, IZO, Sn x Zn y O z , ZnO x .
- a layer of crystalline nature is selected in a preferred growth direction to promote heteroepitaxy of the functional metal layer.
- This layer may especially be etchable by 'RIE'("Reactive ion etching" in English) or even more preferably by wet etching (easily integrated in the manufacturing phase and at atmospheric pressure).
- the same etching agent is used as the overcoat (acid solution, reactive plasma (s) type Ar, CF 4 SF 6 and O 2 ).
- a ZnOx zinc oxide layer is preferably preferred, with preferably less than 1 x, even more preferably between 0.88 and 0.98, especially from 0.90 to 0.95.
- This layer can be pure or doped with Al or Ga as already indicated.
- wet etching of the electrode in one step was possible even when the functional layer is relatively thick, for example between 30 and 70 nm (depending on the concentration and the etching solution chosen), particularly if the latter is relatively porous. Modifications in the deposition parameters may make it possible to obtain a certain porosity of this functional layer. It is thus possible to choose a relatively high pressure. We can vary also others parameters such as process temperature, mixing of gases used in the process.
- a material is etchable by an etching solution, if the latter is dissolved in the solution or is sufficiently corroded by the solution and at least the attachment is sufficiently weakened so that a small action mechanical, including a rinse with a low pressure jet is sufficient to remove the material.
- the contact layer can be deposited by various techniques. It can be deposited, for example by a pyrolysis technique, especially in the gas phase (a technique often referred to by the abbreviation of C. V. D, for "Chemical Vapor Deposition").
- the electroconductive layer may be deposited by a vacuum deposition technique, in particular by evaporation or preferably by magnetic field assisted sputtering, in particular at room temperature.
- the spray may be reactive (starting from metal targets or under-oxidized, in an oxidizing atmosphere) or non-reactive (starting from ceramic targets, in an inert atmosphere).
- a thin, so-called lower, blocking layer can be inserted between the contact layer and the functional layer which is based on a metal of thickness less than or equal to at 5 nm, preferably between 0.5 and 2 nm, and / or an oxide, oxynitride, metal nitride, with a thickness of less than or equal to 10 nm, preferably between 0.5 and 2 nm, for example based on aforementioned materials for the blocking layer.
- This thin lower blocking layer (mono or multilayer) serves as a bonding layer, nucleation and / or protection during a possible heat treatment after deposition.
- the electrode according to the invention may be further associated with a base layer capable of forming an alkaline barrier, especially when the contact layer is oxide-based.
- the primer gives the electrode according to the invention many advantages. It is initially likely to be a barrier to the alkalis underlying the electrode. It protects the contact layer from pollution (pollution that may cause mechanical defects such as delaminations); it also preserves the electrical conductivity of the metallic functional layer. It also prevents the organic structure of an OLED device from being polluted by alkalis, thereby significantly reducing the life of the OLED.
- the alkali migration can occur during the manufacture of the device, causing unreliability, and / or subsequently reducing its life.
- the primer improves the bonding properties of the contact layer without significantly increasing the roughness of the assembly.
- the invention is of course of particular interest for a carrier substrate capable of releasing alkalis such as silicosodocalcic glass including clear, extraclair.
- the basecoat is robust, easy and fast to deposit according to different techniques. It can be deposited, for example by a pyrolysis technique, especially in the gas phase (a technique often referred to by the abbreviation of C. V. D, for "Chemical Vapor Deposition”). This technique is interesting for the invention because appropriate settings of the deposition parameters make it possible to obtain a very dense layer for a reinforced barrier.
- the primer can be deposited by a vacuum deposition technique, in particular by evaporation or magnetic field assisted sputtering, in particular at room temperature.
- the primer may be optionally doped with aluminum to make its vacuum deposit more stable.
- the bottom layer (monolayer or multilayer, optionally doped) may be between 10 and 150 nm thick, more preferably between 20 and 100 nm.
- the bottom layer may preferably be:
- layer of general formula SiOC based on silicon nitride, silicon oxynitride, silicon oxycarbonitride, layer of general formula SiNOC, in particular SiN, in particular Si3N4.
- the electrode may preferably comprise a wet etch stop layer between the base layer and the contact layer, in particular a layer based on tin oxide, in particular a layer of thickness between 10 and
- the wet etch stop layer may be part of or be the bottom layer: it may be preferably based on silicon nitride or it may be a layer which is based on silicon dioxide. silicon oxide or based on silicon oxycarbide and with tin to enhance by anti-etch property, layer of general formula SnSiOCN.
- the wet etch stop layer serves to protect the substrate in the case of chemical etching or reactive plasma etching. Thanks to the etching stop (dry or wet), the base layer remains present even in the engraved area or zones ("patterned" in English). Also, the alkali migration, by edge effect, between the substrate in an etched area and an adjacent electrode portion (or even an organic structure) can be stopped. It is particularly preferable to have a bottom layer / stopping of etching (essentially) of Si3N4 silicon nitride, doped or otherwise. Silicon nitride is very fast to deposit and forms an excellent barrier to alkalis.
- the carrier substrate thanks to its high optical index relative to the carrier substrate, it makes it possible to adapt the optical properties of the electrode by preferably playing on the thickness of this base layer. This thus makes it possible, for example, to adjust the color in transmission when the electrode is transparent or in reflection when the opposite face of the carrier substrate is a mirror.
- the bottom layer and preferably the optional (wet) etch stop layer may substantially cover (almost) all of a main face of a glass plane substrate.
- the contact layers, lower blocking (optional), the functional layer, the thin blocking layer, and the coating are structured according to the same etching pattern and preferably by a single wet etching, which will be detailed further in the present application.
- the etch stop layer if present, is preferably intact, but may be slightly etched, for example one-tenth of its original thickness. It is preferably the same for the bottom layer if the etch stop layer is not present.
- the electrode may be wider than the organic structure or other element from above to facilitate the taking of electrical contacts.
- a border of the overlayer may be surmounted by a current feed band (continuous or discontinuous, forming part of a collector or a current distributor) preferably of thickness between 0.5 at 10 ⁇ m and in the form of a metal monolayer in one of the following metals: Mo, Al, Cr, Nd or metal alloy such as MoCr, AlNd or a metal multilayer such as MoCr / Al / MoCr.
- a current feed band continuous or discontinuous, forming part of a collector or a current distributor
- a current feed band preferably of thickness between 0.5 at 10 ⁇ m and in the form of a metal monolayer in one of the following metals: Mo, Al, Cr, Nd or metal alloy such as MoCr, AlNd or a metal multilayer such as MoCr / Al / MoCr.
- the power supply means may also be added after the etching, for example be enamel conductive, for example silver and screen printed.
- the total thickness of ITO or even indium in the electrode may be less than or equal to 30 nm or even 20 nm,
- the total thickness (with the primer) is between 30 nm and 250 nm.
- the invention does not apply only to stacks having only one "functional" layer. It also applies to stacks comprising a plurality of functional layers, in particular two functional layers alternating with two or three coatings.
- each functional layer is provided with a layer "on" blocking according to the invention (or even a layer of under blocking).
- the electrode comprises n times the following structure, with n a number integer greater than or equal to 1: the contact layer, optionally the thin lower blocking layer, the functional layer, the thin blocking layer, optionally the protective layer with water and / or oxygen, the structure being surmounted by a sequence comprising the contact layer, the functional layer, the thin blocking layer, optionally the protective layer with water and / or oxygen, said overlayer.
- the planar substrate may be transparent (especially for emission through the susbtrate).
- the planar substrate may be rigid, flexible or semi-flexible.
- This substrate may be of large size, for example with an area greater than 0.02 m 2 , or even 0.5 m 2 or 1 m 2 and with a lower electrode occupying substantially the surface (in the structuring zones).
- the planar substrate is preferably glass, in particular of silicosodocalcic glass.
- the substrate may advantageously be a glass having an absorption coefficient of less than 2.5 m 1 , preferably less than 0.7 m 1 at the wavelength of the OLED radiation (s).
- silicosodocalcic glasses with less than
- the thickness of the chosen glass substrate may be at least 1 mm, preferably at least
- edges of the wafer may also be reflective, and preferably include a mirror, to ensure optimal recycling of the guided radiation and the edges, together with the main face associated with the OLED system an external angle greater than or equal to 45 ° and less than 90 °, preferably greater than or equal to 80 °, to redirect the radiation over a wider extraction zone.
- the slice can be thus beveled.
- the lower electrode is structured in several etching steps involving different acids and at different etch rates. First, the adaptation layer of the output work is engraved, then the metal layer and finally the contact layer.
- the aim of the invention is to achieve an assembly of electroconductive layers to form a reliable, robust electrode (especially in terms of stability and / or thermal resistance, mechanical) without sacrificing its electroconductivity properties, its quality optical, nor the performance of the device incorporating it, nor cause difficulties in particular realization of wet etching.
- the invention thus proposes a method of acid etching a multilayer electrode on a substrate, in particular a glass substrate, comprising an acid etch stop layer, preferably based on silicon nitride, the electrode comprising:
- a doped or non-doped metal oxide contact layer chosen from zinc oxide, tin and zinc mixed oxide, tin and indium oxide, indium oxide and zinc oxide (ZnOx, SnxZnyOz ITO); or IZO),
- a thin lower blocking layer directly under a functional layer the layer comprising a metal layer with a thickness of less than or equal to 5 nm and / or a layer with a thickness of less than or equal to 10 nm, which is based on oxide or metal oxynitride or stoichiometric metal nitride,
- the functional metallic layer with intrinsic properties of electrical conductivity with a thickness of less than or equal to 70 nm and chosen from silver and / or gold, doped or not,
- the layer comprising a metal layer of thickness less than or equal to 5 nm and / or a layer with a thickness less than or equal to at 10 nm, which is based on oxide or metal oxynitride or stoichiometric metal nitride,
- a doped or non-doped metal oxide protective layer selected from among zinc oxide, tin and zinc mixed oxide, tin and indium oxide, indium oxide and zinc oxide;
- an optionally conducting conductive oxide overcoat selected from indium oxide, zinc oxide, tin oxide and / or an overlayer with a thickness of less than or equal to 10 nm of stoichiometric oxide selected from molybdenum oxide, nickel oxide, aluminum oxide, titanium oxide, zirconium oxide, tantalum oxide, silicon oxide, silver oxide, gold oxide, platinum oxide and palladium oxide, the etching being carried out in one step and with an acid solution selected from pure nitric acid HNO3 in or mixture with hydrochloric acid HCl or pure hydrochloric acid in or mixture with iron trichloride FeCl3 in other words Fe III chloride.
- etching stop layer may be the primer already presented above.
- the etching may be carried out in the presence of at least one metal strip of current feed, in the form of a monolayer preferably based on one of the following metals Mo, Al, Cr, Nd or alloy such as MoCr , AlNd or multilayer such as MoCr / Al / MoCr.
- the invention also relates to an organic electroluminescent device comprising at least one carrier substrate, in particular glass substrate, provided with at least one organic electroluminescent layer disposed between the lower electrode as described above and a so-called upper electrode.
- the OLED device can produce monochromatic light, especially blue and / or green and / or red, or be adapted to produce white light.
- the OLED device may comprise a plurality of adjacent organic electroluminescent systems, each emitting white light or, in a series of three, red, green and blue light, the systems being for example connected in series.
- the device can be part of a multiple glazing, including a vacuum glazing or with air knife or other gas.
- the device can also be monolithic, include a monolithic glazing to gain compactness and / or lightness.
- the OLED system may be glued or preferably laminated with another flat substrate said cover, preferably transparent such as a glass, using a lamination interlayer, in particular extraclair.
- the laminated glazings usually consist of two rigid substrates between which is disposed a sheet or a superposition of polymer sheets of the thermoplastic type.
- the invention also includes so-called "asymmetrical" laminated glazings using a particularly rigid carrier substrate of the glass type and as a substrate covering one or more protective polymer sheets.
- the invention also includes laminated glazings having at least one interlayer sheet based on a single or double-sided adhesive polymer of the elastomer type (that is to say not requiring a lamination operation in the conventional sense of the term, laminating imposing heating generally under pressure to soften and adhere the thermoplastic interlayer sheet).
- the means for securing the cover and the carrier substrate may then be a lamination interlayer, in particular a sheet of thermoplastic material, for example polyurethane (PU), polyvinyl butyral (PVB), ethylene vinyl acetate (EVA), or resin multi-component or one-component heat-curable (epoxy, PU) or ultraviolet (epoxy, acrylic resin). It is preferably (substantially) of the same size as the cover and the substrate.
- the lamination interlayer may make it possible to prevent bending of the bonnet, particularly for devices of large dimensions, for example with an area greater than 0.5 m 2 .
- the EVA offers many advantages: - it is not or little loaded with water in volume, it does not necessarily require a high pressurization for its implementation.
- thermoplastic lamination interlayer may be preferred to a cast resin cover because it is both easier to implement, more economical and possibly more watertight.
- the interlayer optionally comprises a network of electroconductive son embedded in its so-called internal surface facing the upper electrode, and / or an electroconductive layer or electroconductive strips on the inner surface of the cover.
- the OLED system can be preferably placed inside the double glazing, with a particularly inert gas blade (argon for example).
- the upper electrode may be an electroconductive layer advantageously chosen from metal oxides, especially the following materials: doped zinc oxide, in particular aluminum ZnO: Al or gallium
- ZnO Ga, - or doped indium oxide, especially with tin (ITO) or zinc doped indium oxide (IZO).
- TCO Transparent Conductive Oxide
- TCC Transparent Conductive Coating
- the electrode is not necessarily continuous.
- the upper electrode may comprise a plurality of conductive strips or conductive wires (grid).
- a coating having a given functionality on the opposite side of the carrier substrate of the electrode according to the invention or on an additional substrate. It may be an anti-fog layer (using a hydrophilic layer), anti-fouling (photocatalytic coating comprising at least partially crystallized ⁇ O2 in anatase form), or an anti-reflection stack of type for example Si3N4 / SiO2 / Si3N4 / SiO2 or a UV filter such as a titanium oxide layer (TiO2). It may also be one or more phosphor layers, a mirror layer, at least one scattering zone light extraction.
- the invention also relates to the various applications that can be found in these OLEDS devices, forming one or more transparent and / or reflecting luminous surfaces (mirror function) arranged both outside and inside.
- the device can form (alternative or cumulative choice) a lighting system, decorative, architectural, etc.), a signage display panel - for example of the type drawing, logo, alphanumeric signaling, including an emergency exit sign.
- the OLED device can be arranged to produce a uniform light, especially for uniform illumination, or to produce different light areas of the same intensity or distinct intensity.
- OLED organic electroluminescent system
- the extraction zone may be adjacent to the OLED system or on the other side of the substrate.
- the extraction zone (s) can be used, for example, to reinforce the illumination provided by the direct light zone, in particular for an architectural type of lighting, or to signal the luminous panel.
- the extraction zone or zones are preferably in the form of band (s) of light, in particular uniform (s), and preferably arranged (s) on the periphery of one of the faces. These strips can for example form a very bright frame.
- the extraction is obtained by at least one of the following means arranged in the extraction zone: a diffusing layer, preferably based on mineral particles and preferably with a mineral binder, the substrate made diffusing, in particular texture or rough.
- the two main faces may each have a direct light area.
- an illuminating window can in particular be produced. Improved lighting of the room is not achieved at the expense of light transmission. By also limiting the light reflection, especially on the outside of the illuminating window, this also makes it possible to control the level of reflection, for example to comply with the anti-glare standards in force for building facades.
- the device in particular transparent part (s) or entirely, may be: intended for the building, such as an external light glazing, an internal light partition or a (part of) light glass door including sliding, for a transport vehicle, such as a bright roof, a (part of) side window light, an internal light partition of a land vehicle, aquatic or aerial (car, truck train, plane, boat, etc.), intended for street furniture or professional such as a bus shelter panel, a wall of a display, a jewelery display or a showcase, a wall of a greenhouse, an illuminating slab, intended for interior furnishing, an element of a shelf or furniture, a front of a piece of furniture, an illuminating slab, a ceiling lamp, a refrigerator lighting tablet, an aquarium wall, intended for the backlighting of electronic equipment, in particular a display screen or display, possibly dual screen such as a television or computer screen, a touch screen.
- one of the electrodes may be reflective or a mirror may be disposed on the opposite side of the OLED system, if it is desired to favor illumination of only one side in the direct light region.
- the illuminated panel can be used for lighting a bathroom wall or a kitchen worktop, to be a ceiling lamp.
- OLEDs are generally dissociated into two major families depending on the organic material used.
- the organic electroluminescent material of the thin layer consists of evaporated molecules such as, for example, the AlCl 3 complex (tris (8-hydroxyquinoline) aluminum), the DPVBi (4,4 '- (diphenylvinylene biphenyl)), the
- the emissive layer may also be for example a layer of 4.4 f, fl 4 -tri (N-carbazolyl) TRIPHENYLAMINE (TCTA) doped with fac tris (2-phenylpyridine) iridium [Ir (ppy) 3].
- an SM-OLED consists of a stack of hole injection layers or "HIL" for "HoIe Injection
- a hole injection layer is copper phthalocyanine (CuPC)
- the hole transport layer may be, for example, N, N 1 -Bis (naphthalenyl) -N, N'-bis ( phenyl) benzidine (alpha-NPB).
- the electron transport layer can be composed of tris- (8-hydroxyquinoline) aluminum (Alq3) or bathophenanthroline (BPhen).
- the upper electrode may be a layer of Mg / Al or LiF / Al.
- Examples of organic electroluminescent stacks are for example described in US6645645.
- the organic electroluminescent material of the thin layer consists of these polymers (pLEDs) such as for example PPV for poly [p ⁇ r ⁇ -phenylene vinylene), PPP (poly [p ⁇ r ⁇ -phenylene), DO-PPP (poly (2 decyloxy-1,4-phenylene), MEH-PPV (poly [2- (2'-ethylhexyloxy) -5-methoxy-1,4-phenylene vinylene)]), CN-PPV (poly [2,5] -bis (hexyloxy) -1,4-phenylene- (1-cyanovinylene)]) or PDAF (poly (dialkylfluorene), the polymer layer is also associated with a layer which promotes the injection of holes (HIL) constituted by example of PEDT / PSS (poly (3,4-ethylene-di
- PLED consists of a following stack: a layer of poly (2,4-ethylene dioxythiophene) doped with poly (styren sulphonate) (PEDOT: PSS) of 50 nm,
- PEDOT poly(styren sulphonate)
- the upper electrode may be a layer of Ca.
- FIG. 1 is a schematic sectional view of an organic electroluminescent device, for a uniform (back) illumination, which comprises a lower electrode according to the invention in a first embodiment
- FIG. 2 is a partial view showing this lower electrode in more detail
- Figure 3 illustrates a method of manufacturing and etching of this electrode
- Figure 4 illustrates a schematic sectional view of an organic electroluminescent device, for a (retro) uniform illumination, which is arranged on several zones, and comprises a lower electrode according to the invention in a second embodiment
- FIGS. 5 and 6 illustrate schematic views from above showing two diagrams of electrical electrode connections similar to those used in the second embodiment
- Figure 7 shows a schematic side sectional view of an organic electroluminescent device used for differentiated illumination.
- FIG. 1 is deliberately very schematic, it shows in section an organic electroluminescent device 10 (emission through the substrate or "bottom emission” in English) comprising a planar substrate of sand-soda-lime glass 1, clear or extraclear, of 2, 1 mm thick, with first and second main faces 1 1, 12.
- the first main face 1 1 comprises:
- a bottom layer 2 deposited directly on the first main face 1 1, also acting as a wet etching stop, made of silicon nitride, with a thickness between 10 nm and 80 nm, and covering substantially all of the first main face 1 1,
- a contact layer 31 chosen from ZnO x doped or not, Zn x Sn 2 O 7, ITO or IZO,
- a preferably pure silver functional layer 32 directly on the contact layer 31, a thin blocking layer 32 'directly on the functional layer 32, a metallic layer preferably obtained by a metal target with a neutral or nitride plasma and / or oxide of one or more metals such as Ti, Ni, Cr, preferably obtained by a ceramic target with a neutral plasma, - a coating formed:
- a protective layer 33 selected from ZnO, Zn x Sn y O z, ITO or IZO, the contact layer and the protective layer against water and / or oxygen being identical in nature, an overlay 34 for adapting the output work, preferably the ZnO stack: Al / Ag / Ti, TiOx or NiCr /
- ZnO A1 / ITO of respective thicknesses 5 to 20 nm for ZnO: A1,
- an organic electroluminescent system 4 for example an SM-OLED of following structure:
- a LiF layer a reflecting top electrode 5, in particular a metal electrode, in particular based on silver or aluminum.
- the set of layers 2 to 5 was deposited by magnetic field sputtering at room temperature.
- the lower electrode 3 has the following characteristics:
- TL light transmission greater than or equal to 70% (measured on a full layer, before structuring), and a luminous reflection RL less than or equal to 20%
- RMS roughness less than or equal to 3 nm measured by optical interferometry, on a square micrometer by atomic force microscopy.
- noble gas He, Ne, Xe, Ar, Kr
- the deposition conditions for each of the layers are preferably as follows:
- the Si3N4-based layer is deposited by reactive sputtering using an aluminum doped silicon target at a pressure of 0.8 Pa in an argon / nitrogen atmosphere,
- the silver-based layer is deposited using a silver target, at a pressure of 0.8 Pa in a pure argon atmosphere,
- the Ti layer is deposited using a titanium target, at a pressure of 0.8 Pa in a pure argon atmosphere, the ZnO-based layers are deposited by reactive sputtering using an aluminum doped zinc target under a pressure of 0.3 Pa and in an argon / oxygen atmosphere,
- the ITO layer is deposited using a ceramic target in an argon / oxygen atmosphere. For a series of three samples, each carrying this stack
- Ohm / square is a maximum deviation of 0, 1 1 and a mean square resistance of 4.39 Ohm / square.
- the electrode of the invention makes it possible to improve the yield in lm / W of the OLED by at least 5 to 10% for a gloss greater than 500 cd / m 2 with respect to an electrode. ITO.
- the first electrode may alternatively comprise a thin lower blocking layer, in particular a metal layer preferably obtained by a metal target with a neutral plasma or nitride and / or oxide of one or more metals such as Ti, Ni, Cr, preferably obtained by a ceramic target with a neutral plasma.
- the first electrode may alternatively also be a semi-transparent electrode.
- NiCrinm / ZnO Al 40 nm / ITO 20 m gives a TL of about 15%, an RL of about 80%, a square resistance of 0.9 Ohm / square.
- the first electrode may also be a reflective electrode.
- the lower electrode 3 overflows on one side of the glass 1.
- the edge of the overlay 34 is thus surmounted by a first metal strip 61 of feed current, preferably of thickness between 0.5 to 10 microns, for example 5 microns, and in the form of a layer of one of the following metals: Mo, Al, Cr, Nd or alloy such as MoCr , AlNd or multilayer such as MoCr / Al / MoCr.
- the lower electrode 3 may alternatively comprise the base layer and an n times repeated structure, with n being an integer greater than or equal to 1, this structure being the following: the contact layer / the functional layer / the thin layer of blocking / possibly the protective layer with water and / or oxygen.
- This structure is surmounted by a sequence comprising the contact layer / the functional layer / possibly the protective layer with water and / or oxygen / said overlayer.
- the upper electrode protrudes on the opposite side of the glass 1. This edge of the upper electrode 5 is optionally surmounted by a second metal current supply strip, preferably similar to the first metal strip. This second band is preferable in the case where the upper electrode is less than or equal to 50 nm in thickness.
- the second electrode may indeed also be, alternatively, a transparent or semi-transparent electrode and for example be identical to the first electrode. It is possible to report in this case a reflector on the second face 12, for example a metal layer with a thickness of 150 nm
- An EVA-type sheet can make it possible to flick the glass 1 to another glass, preferably with the same characteristics as the glass 1.
- the face of the glass 12 facing the EVA sheet is provided with a given feature stack described above. later.
- the lower electrode 3 is in two parts spaced apart by the structuring zone 310, for example a line.
- the etching with hydrochloric acid leads to very homogeneous etching profiles.
- the nitric acid and hydrochloric acid mixture also gives interesting results.
- the mixture of HCl and FeCl 3 is conventionally used for ITO.
- the etching profile, the etching time and the resolution can be adapted using mixtures of the two acids and varying the concentrations. It is thus possible to etch engraving patterns whose width and spacing vary according to the applications.
- each etched zone may typically be 10 to 20 ⁇ m. , each etched zone being spaced from 10 to 50 ⁇ m, for example 35 ⁇ m (corresponding to the width of each electrode zone).
- each engraved area may be of the order of 0.5 mm and the width of each electrode zone may be a few mm , a few cm or more ...
- the width of each engraved zone may be less than or equal to 100 ⁇ m, even more preferentially to 50 ⁇ m, whatever the size of the screen.
- Figure 3 illustrates a method of manufacturing and etching this electrode.
- this layer 6 is etched with a solution that does not damage the electrode for example sodium hydroxide (step E1), then one-step etching of the lower electrode 3 as already indicated (step E2), followed by the deposition of the OLED system 4 and the upper electrode 5 for example in Al above (step E3).
- FIG. 4 illustrates a schematic sectional view of an organic electroluminescent device 10 ', for a uniform (retro) illumination, which is arranged in several zones, and comprises a lower electrode according to the invention in a second embodiment.
- This second device 10 ' differs from the first device 10 by the elements described below.
- the device 10 comprises two adjacent organic electroluminescent systems 4a and 4b, each of which preferably emits white light or, alternatively, a series of three, of red, green and blue light.
- the systems 4a and 4b are connected in series.
- the lower electrode is divided mainly into two rectangles or squares 3a, 3b of about ten cm each side exceeding one side (left in the figure). These electrode zones are separated by the etching zone 310.
- the second electrode zone 3b is separated by the etching zone 320 from a "residual" lower electrode zone (to the right of the figure).
- the first lower electrode section 3a is partially covered by a first metal strip forming a "bus bar" 61.
- the upper electrode is also divided.
- the first upper electrode section 5a protrudes to the right side and covers the left edge of the second lower electrode section 3b.
- the second upper electrode section 5b protrudes to the right side and covers the left edge of the residual lower electrode section and is covered by a second metal band forming a "bus bar" 62.
- the etching areas 310, 320 are for example strips of width 20 to 50 microns to be almost invisible to the naked eye.
- Figures 5 and 6 illustrate schematic top views showing two diagrams of electrode electrical connections 20, 20 'similar to those used in the second embodiment.
- Etching areas 310 and 320 are strips of width 20 to 50 microns to be almost invisible to the naked eye.
- the lower electrode is divided into 3 rectangles of about 10 cm wide, each protruding by one side (left in the figure). They are separated by the etching areas 310, 320.
- the upper electrode 5a to 5c is also divided into three.
- the first lower electrode section is partially covered by a first metal strip forming a "bus bar" 61.
- the first two upper electrode sections 5a, 5b protrude to the right side and overlap the left edge of the adjacent lower electrode section.
- the third upper electrode section 5c protrudes to the right side and overlaps the left edge of a residual lower electrode section and is partially covered by a second metal bus bar 62.
- organic electroluminescent systems 4a to 4c
- Etching areas 310 to 330 are both lateral 310, 320 and longitudinal 330, and are strips of width 20 to 50 microns to be almost invisible to the naked eye.
- the lower electrode is divided into six squares of about ten cm each side protruding by one side (left in the figure).
- the lower electrode sections are separated by the etching areas 310 to 330 '.
- the first busbar strip is cut to form a current collector with two strips 61 ', 62' on the left side of the figure.
- the upper electrode 5a to 5c, 5'a to 5'c is also divided into six.
- the first two upper sections (upper left in the figure) of the upper electrode 5a to 5b protrude to the right side and cover the left edge of the third section of the adjacent lower electrode.
- the upper third upper electrode section 5b protrudes to the side right and covers the left edge of the residual lower electrode section and is covered by a metal strip forming 610 electrical interconnection with the third lower section (bottom right in the figure) electrode.
- the first two lower sections (bottom left in the figure) of the upper electrode 5 'to 5T? protrude to the right side and overlap the left edge of the third lower section of the adjacent lower electrode.
- Fig. 7 is a schematic side sectional view of an organic electroluminescent device 10 used for differentiated illumination.
- This device 10 firstly comprises a plane transparent substrate, preferably a preferably thick glass sheet 1, for example 4 or
- This glass 1 has first and second parallel main faces 12, 1 1 and a wafer 13. The device is closed in its lower part by a cover, not shown here.
- the electroluminescent device 10 of the OLED type includes a system
- ZnO Al 20 nm / Ag i2 nm / Tii nm / ZnO: Al 20 nm / ITO 20 nm which is on a 25 nm SiaN4 primer layer and arranged on the first main face 1 1. direct light 71, 72 on both sides of the glass 1.
- the first direct light region 71 on the opposite side of the OLED system 4 with respect to the substrate 1, covers the central part of the first main face 12.
- the second direct light zone 72 on the OLED system side 4, extends over the entire second main face 1 1.
- the characteristics of the device 10 are adapted so that the luminance L1 of the first direct light region 71 is preferably greater than the luminance L2 of the second direct light region 72 (as symbolized by the thick arrow Fl and thin arrow F2).
- the device 10 is therefore main emission by the lower electrode.
- Ll equal to about 1000 cd / m 2 and L2 equal to about 500 cd / m 2 for visual comfort.
- the device 10 is also a source of radiation guided in the thickness of the glass 1, by total reflections. Guided radiation is extracted edges of the first face 1 1 by means of a diffusing layer 7 for example based on mineral diffusing particles dispersed in a mineral binder. This defines a third light zone 73 forming a peripheral light frame. As a variant, the diffusing layer 7 only forms lateral strips or peripheral longitudinal strips.
- each edge forming the wafer 13 forms with the second main face 1 1 associated with the light source 10 an external angle greater than 80 ° and comprises a mirror 14, for example a metallic silver layer or copper.
- the device 10 may be intended for the building, be an illuminating window, a door, a greenhouse wall or a canopy or be a vehicle side window or a bright roof.
- the second face 12 is the inner face (the most illuminating face).
- the direct light area 71 31 may be able to preserve the privacy of a person inside a room, a cabin at night or in a dark environment. It suffices for that the luminous flux sent by the glazing is at least equal to that reflected and returned by the room.
- the device 10 may form a double glazing, the device 2 being preferably located in the space filled with internal gas between the glass 1 and an optionally additional glass thinner.
- the device 10 thus designed can also serve as a transparent and illuminating shelf, refrigerator light shelf, transparent partition and illuminating between two parts, wall of an aquarium.
- the characteristics of the device 10 can then be adapted so that the luminance L1 of the first direct light region 71 is substantially equal to the luminance L2 of the second direct light region 72.
- the light zones 71, 72 are uniform.
- the device 10 may also have, alternatively, at least one discontinuous direct light zone and / or forming a drawing, a logo, a signaling.
- Thin layers are thus deposited on the surface to give them a particular property, for example that which consists in allowing the substrate to remain as clean as possible, whatever the environmental aggressions, that is to say aimed at permanence of the surface and appearance properties over time, and in particular making it possible to space the cleanings, by succeeding in gradually eliminating the soils gradually deposited on the surface of the substrate, in particular soils of organic origin such as fingerprints or volatile organic products present in the atmosphere, or even soot-type soiling, dust pollution.
- photocatalytic coatings on substrate, which have a marked "antifouling" effect and that can be manufactured industrially.
- These photo-catalytic coatings generally comprise at least partially crystallized titanium oxide, incorporated in said coating in the form of particles, in particular of size ranging from a few nanometers (3 or 4) to 100 nm, preferably around 50 nm for the essential crystallized form anatase or anatase / rutile.
- Titanium oxide is in fact part of the semiconductors which, under the action of light in the visible range or ultraviolet, degrade organic products which are deposited on their surface.
- the photo-catalytically-active coating results from a solution based on nanoparticles of TiO 2 and a mesoporous silica (SiO 2) binder.
- the photo-catalytically-active coating results from a solution based on ⁇ O2 nanoparticles and an unstructured silica (SiO 2) binder.
- titanium oxide which is at least partially crystallized because it has been shown to be much more efficient in terms of photocatalytic properties than amorphous titanium oxide.
- it is crystallized in anatase form, in rutile form or in the form of a mixture of anatase and rutile.
- the coating is produced in such a way that the crystallized titanium oxide it contains is in the form of "crystallites", that is to say single crystals, having an average size of between 0.5 and 100 nm, preferably 3 to 60 nm. It is indeed in this size range that titanium oxide appears to have an optimal photo-catalytic effect, probably because the crystallites of this size develop a large active surface.
- the photocatalytically active coating may also comprise, in addition to titanium oxide, at least one other type of mineral material, especially in the form of an amorphous or partially crystalline oxide, for example silicon oxide (or a mixture of oxides), titanium, tin, zirconium or aluminum.
- This mineral material can also participate in the photo-catalytic effect of crystallized titanium oxide, itself having a certain photo-catalytic effect, even small compared to that of crystallized ⁇ O2, which is the case of the amorphous or partially crystalline titanium oxide.
- This doping can also be done by a surface doping only of the titanium oxide or of the entire coating, surface doping achieved by covering at least a portion of the coating with a layer of oxides or salts metal, the metal being selected from iron, copper, ruthenium, cerium, molybdenum, vanadium and bismuth.
- the photo-catalytic phenomenon can be amplified by increasing the yield and / or kinetics of the photo-catalytic reactions by covering the titanium oxide or at least a part of the coating which incorporates it with a noble metal in the form of a thin layer.
- a noble metal in the form of a thin layer. platinum, rhodium, silver.
- the coating with photocatalytic property also has an outer surface of hydrophilic and / or oleophilic pronounced, especially in the case where the binder is inorganic, which brings two significant advantages: a hydrophilic character allows a perfect wetting of water which can be deposited on the coating, thus facilitating cleaning.
- hydrophilic character can also have an oleophilic character, allowing the "wetting" of organic soils which, as for water, then tend to deposit on the coating in the form of a continuous film less visible than " spots well localized.
- An "organic dirt” effect is thus obtained in two stages: as soon as it is deposited on the coating, the soil is already not very visible. Then, gradually, it disappears by radical degradation initiated by photocatalysis.
- the thickness of the coating is variable, it is between a few nanometers and a few microns, typically between 50 nm and 10 microns.
- the choice of the thickness may depend on various parameters, in particular the envisaged application of the substrate, or the size of the cristallO 2 crystallites in the coating.
- the coating may also be chosen with a more or less smooth surface: a low surface roughness may indeed be advantageous if it makes it possible to develop a larger active photo-catalytic surface. However, too pronounced, it can be penalizing by favoring the encrustation, the accumulation of soiling.
- the functionality that is reported on the other side of the substrate may be constituted by an anti-reflection coating.
- ni and / or ri3 are between 2.00 and 2.30, in particular between 2, 15 and 2.25, and preferably close to 2.20.
- n 2 and / or n 4 are from 1.35 to 1.65.
- ei is between 5 and 50 nm, especially between 10 and 30 nm, or between 15 and 25 nm.
- e 2 is between 5 and 50 nm, especially less than or equal to 35 nm or 30 nm, in particular between 10 and 35 nm.
- e3 is between 40 and 180 nm and preferably between 45 and 150 nm.
- e4 is between 45 and 1 10 nm and preferably between 70 and
- the most suitable materials for forming the first and / or third layer of the stack A which is of anti-reflective type, those with a high index, are based on mixed nitride of silicon and zirconium or a mixture of these nitrides. mixed. In a variant, these high-index layers are based on mixed nitrides of silicon and tantalum or a mixture of these. All these materials may be optionally doped to improve their chemical and / or mechanical and / or electrical resistance properties.
- the most suitable materials for constituting the second and / or fourth layer of the stack A are based on silicon oxide, oxynitride and / or silicon oxycarbide or based on a mixed oxide of silicon and aluminum.
- a mixed oxide tends to have a better durability, especially chemical, than pure SiO 2 (an example is given in patent EP 791 562).
- the respective proportion of the two oxides can be adjusted to achieve the expected improvement in durability without greatly increasing the refractive index of the layer.
- a preferred embodiment of this antireflection stack is of the substrate / Si 3 N 4 / SiO 2 / Si 3 N 4 / SiO 2 form .
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Abstract
The subject of the present invention is a multilayer electrode (3), acid etching thereof and also organic light-emitting devices incorporating it. The multilayer electrode, known as a lower electrode for an organic light-emitting device (10), successively comprises: - a contact layer (31) based on a metal oxide and/or a metal nitride; a functional metallic layer (32) having intrinsic electrical conductivity properties; a thin blocking layer (32) directly on the functional layer, the layer comprising a metallic layer having a thickness less than or equal to 5 nm and/or a layer with a thickness less than or equal to 10 nm, which is based on a substoichiometric metal oxide, substoichiometric metal oxynitride or substoichiometric metal nitride; a coating comprising an overlayer based on a metal oxide (34) for adapting the work function.
Description
ELECTRODE POUR DISPOSITIF ELECTROLUMINESCENT ORGANIQUE, SA GRAVURE ACIDE, AINSI QUE DISPOSITIF ELECTROLUMINESCENT ORGANIQUE L'INCORPORANT ELECTRODE FOR ORGANIC ELECTROLUMINESCENT DEVICE, ACID ETCHING THEREOF, AND ORGANIC ELECTROLUMINESCENT DEVICE INCORPORATING IT
La présente invention a pour objet une électrode multicouches pour dispositif électroluminescent organique, sa gravure acide ainsi qu'un dispositif électroluminescents organique l'incorporant.The present invention relates to a multilayer electrode for organic electroluminescent device, its acid etching and an organic electroluminescent device incorporating it.
Les systèmes électroluminescents organiques connus ou OLED (pour « Organic Light Emitting Diodes » en anglais) comportent un matériau ou un empilement de matériaux électroluminescents organiques alimenté en électricité par des électrodes généralement sous forme de deux couches électroconductrices l'encadrant.The known organic electroluminescent systems or OLED (for "Organic Light Emitting Diodes" in English) comprise a material or a stack of organic electroluminescent materials supplied with electricity by electrodes generally in the form of two electroconductive layers flanking it.
Ces couches électroconductrices comportent communément une couche à base d'oxyde d'indium, généralement l'oxyde d'indium dopé à l'étain plus connu sous l'abréviation ITO. Les couches ITO ont été particulièrement étudiées. Elles peuvent être aisément déposées par pulvérisation cathodique assistée par champ magnétique, soit à partir d'une cible d'oxyde (pulvérisation non réactive), soit à partir d'une cible à base d'indium et d'étain (pulvérisation réactive en présence d'un agent oxydant du type oxygène) épaisse de l'ordre de 100 à 150 nm. Cependant, cette couche d'ITO présente un certain nombre d'inconvénients. En premier lieu, la matière et le procédé de dépôt à température élevée (350°C) pour améliorer la conductivité engendrent des surcoûts. La résistance carré reste relativement élevée (de l'ordre de 10 Ω/ carré) à moins d'augmenter l'épaisseur des couches au-delà de 150 nm ce qui résulte en une diminution de la transparence et en une augmentation de la rugosité de surface.These electroconductive layers commonly comprise a layer based on indium oxide, generally indium oxide doped with tin better known under the abbreviation ITO. ITO layers have been particularly studied. They can be easily deposited by magnetic field assisted sputtering, either from an oxide target (non-reactive sputtering), or from an indium and tin-based target (reactive sputtering in the presence of an oxygen-type oxidizing agent) of the order of 100 to 150 nm. However, this ITO layer has a number of disadvantages. Firstly, the material and the method of deposition at high temperature (350 ° C.) to improve the conductivity generate additional costs. The square resistance remains relatively high (of the order of 10 Ω / square) unless the thickness of the layers is increased beyond 150 nm, which results in a decrease in the transparency and in an increase in the roughness of the area.
Aussi, de nouvelles structures d'électrode se développent. On connaît par exemple par le document JP2005-038642 un écran plat électroluminescentAlso, new electrode structures are developing. For example, JP2005-038642 discloses a flat electroluminescent screen
TFT (« thin-film transistor » en anglais) comportant des systèmes électroluminescents organiques à émission par le haut (« top émission » en anglais) générant respectivement, une lumière rouge, une lumière verte, et une lumière bleue, pour former une matrice active.TFT ("thin-film transistor" in English) comprising top-emitting organic electroluminescent systems ("top emission" in English) generating respectively a red light, a green light, and a blue light, to form an active matrix .
Chaque dispositif organique électroluminescent est pourvu d'une électrode dite inférieure ou arrière (ou « bottom électrode » en anglais), comportant :
- une couche de contact, par exemple en ITO,Each organic electroluminescent device is provided with a so-called lower or rear electrode (or "bottom electrode" in English), comprising: a contact layer, for example made of ITO,
- une couche métallique (semi)réfléchissante notamment à base d'argent, d'aluminium, ou en argent contenant de l'aluminium, d'épaisseur au moins égale à 50 nm, - une surcouche d'adaptation du travail de sortie, par exemple en ITO.a metal layer (semi) reflecting, in particular, based on silver, aluminum, or aluminum-containing silver, having a thickness of at least 50 nm, an overlay of adaptation of the output work, by example in ITO.
Le but que se fixe l'invention est de parvenir à obtenir un assemblage de couches électroconductrices pour former une électrode fiable, robuste (notamment en termes de stabilité et/ ou de tenue mécanique, thermique) sans sacrifier ses propriétés d'électroconductivité, sa qualité optique, ni les performances du dispositif l'incorporant, ni engendrer des difficultés de réalisation.The aim of the invention is to obtain an assembly of electroconductive layers to form a reliable, robust electrode (especially in terms of stability and / or mechanical strength, thermal) without sacrificing its electroconductivity properties, its quality optical, nor the performance of the device incorporating it, nor cause difficulties of implementation.
Le but que se fixe l'invention est en particulier de parvenir à obtenir un assemblage de couches électroconductrices pour former une électrode inférieure d'un système électroluminescent fiable, robuste sans sacrifier ses propriétés d'électroconductivité, sa qualité optique, ni les performances optiques de l'OLED, ni engendrer des difficultés de réalisation.The object of the invention is, in particular, to achieve an assembly of electroconductive layers to form a lower electrode of a reliable, robust electroluminescent system without sacrificing its electroconductivity properties, its optical quality, or the optical performance of the electroluminescent system. OLED, nor to create difficulties of realization.
Par électrode inférieure au sens de l'invention il faut comprendre que l'on fait référence à l'électrode la plus proche du substrat, intercalée entre le substrat porteur et le système OLED. Accessoirement, il s'agit d'atteindre cet objectif sans bouleverser les configurations connues des systèmes électroluminescents organiques concernant l'invention, et à moindre coût.By lower electrode in the sense of the invention it should be understood that reference is made to the electrode closest to the substrate, interposed between the carrier substrate and the OLED system. Incidentally, it is a question of achieving this objective without upsetting the known configurations of organic electroluminescent systems concerning the invention, and at a lower cost.
Il s'agit de mettre au point des électrodes essentiellement transparentes, semi transparentes (à la fois transparentes et réfléchissantes) ou réfléchissantes qui conviennent aussi bien pour des OLEDS formant des écrans OLED à matrice active et aussi passive, ou utilisés dans des applications d'éclairage généralThe aim is to develop essentially transparent, semi-transparent (both transparent and reflective) and reflective electrodes that are suitable for OLEDS forming active and passive matrix OLED screens, or used in general lighting
(architectural et/ ou décoratif) ou de signalétique voire même pour d'autres applications électroniques.(architectural and / or decorative) or signage or even for other electronic applications.
A cet effet, l'invention a pour objet un substrat, pour dispositif électroluminescent organique, porteur sur une première face principale d'une électrode multicouche dite inférieure, laquelle comporte successivement :For this purpose, the subject of the invention is a substrate, for organic electroluminescent device, carrying on a first main face of a so-called lower multilayer electrode, which successively comprises:
- une couche, dite de contact, en matériau diélectrique de type oxyde métallique et/ ou de nitrure métallique,
- une couche fonctionnelle métallique à propriétés intrinsèques de conductivité électrique,a so-called contact layer of dielectric material of the metal oxide and / or metal nitride type, a functional metallic layer with intrinsic properties of electrical conductivity,
- une fine couche de blocage directement sur la couche fonctionnelle métallique, la fine couche de blocage comprenant une couche métallique d'épaisseur inférieure ou égale à 5 nm, préférentiellement comprise entre 0,5 et 2 nm, et/ou comprenant une couche avec une épaisseur inférieure ou égale à 10 nm, préférentiellement comprise entre 0,5 et 2 nm, et qui est à base d'oxyde métallique sous stoechiométrique, d'oxynitrure métallique sous stoechiométrique ou de nitrure métallique sous stoechiométrique,a thin blocking layer directly on the metallic functional layer, the thin blocking layer comprising a metal layer with a thickness less than or equal to 5 nm, preferably between 0.5 and 2 nm, and / or comprising a layer with a thickness less than or equal to 10 nm, preferably between 0.5 and 2 nm, and which is based on stoichiometric metal oxide, stoichiometric metal oxynitride or stoichiometric metal nitride,
- un revêtement comportant une surcouche, en matériau diélectrique à base d'oxyde métallique, formant une couche d'adaptation du travail de sortie.a coating comprising an overlayer, made of a dielectric material based on a metal oxide, forming an adaptation layer of the output work.
La fine couche de blocage forme une couche de protection voire même une couche « sacrificielle » qui permet d'éviter l'altération du métal fonctionnel, notamment pur et/ ou en couche mince, dans l'une et/ ou l'autre des configurations suivantes :The thin blocking layer forms a protective layer or even a "sacrificial" layer which makes it possible to avoid the alteration of the functional metal, in particular pure and / or in thin layer, in one or both of the configurations. following:
- si la couche qui surmonte la couche fonctionnelle est déposée en utilisant un plasma réactif (oxygène, azote ...), par exemple si la couche d'oxyde qui la surmonte est déposée par pulvérisation cathodique,if the layer which overcomes the functional layer is deposited using a reactive plasma (oxygen, nitrogen, etc.), for example if the oxide layer which surmounts it is deposited by cathodic sputtering,
- si la composition de la couche qui surmonte la couche fonctionnelle est susceptible de varier lors de la fabrication industrielle (évolution conditions de dépôt type usure d'une cible etc) notamment si la stoechiométrie d'une couche de type oxyde et/ ou nitrure évolue, modifiant alors la qualité de la couche fonctionnelle et donc les propriétés de l'électrode (résistance carré, transmission lumineuse...),if the composition of the layer which overcomes the functional layer is likely to vary during industrial manufacture (evolution of deposition conditions such as wear of a target, etc.), especially if the stoichiometry of an oxide and / or nitride type layer is changing. , thus modifying the quality of the functional layer and therefore the properties of the electrode (square resistance, light transmission, etc.),
- si l'électrode subit postérieurement au dépôt un traitement thermique. Cette couche protectrice voire sacrificielle améliore significativement la reproductibilité des propriétés électriques et optiques de l'électrode. Cela est très important pour une démarche industrielle ou une seule faible dispersion des propriétés des électrodes est acceptable.
La fine couche blocage choisie métallique peut être, de préférence, constituée d'un matériau choisi parmi l'un au moins des métaux suivants Ti, V, Mn, Fe, Co, Cu, Zn, Zr, Hf, Al, Nb, Ni, Cr, Mo, Ta, W, ou d'un alliage à base d'au moins un de ces matériaux. On préfère en particulier une fine couche de blocage à base d'un métal choisi parmi le niobium Nb, le tantale Ta, le titane Ti, le chrome Cr ou le nickel Ni ou d'un alliage à partir d'au moins deux de ces métaux, notamment d'un alliage de niobium et de tantale (Nb/Ta), de niobium et de chrome (Nb/Cr) ou de tantale et de chrome (Ta/ Cr) ou de nickel et de chrome (Ni/ Cr). Ce type de couche à base d'au moins un métal présente un effet de piégeage (effet « getter » ) particulièrement important.if the electrode undergoes a heat treatment after the deposition. This protective or even sacrificial layer significantly improves the reproducibility of the electrical and optical properties of the electrode. This is very important for an industrial approach or a single weak dispersion of electrode properties is acceptable. The thin metallic blocking layer may preferably be made of a material selected from at least one of the following metals: Ti, V, Mn, Fe, Co, Cu, Zn, Zr, Hf, Al, Nb, Ni , Cr, Mo, Ta, W, or an alloy based on at least one of these materials. In particular, a thin blocking layer based on a metal chosen from niobium Nb, tantalum Ta, titanium Ti, chromium Cr or nickel Ni or an alloy from at least two of these is particularly preferred. metals, including niobium and tantalum (Nb / Ta), niobium and chromium (Nb / Cr) or tantalum and chromium (Ta / Cr) or nickel and chromium (Ni / Cr) alloys . This type of layer based on at least one metal has a particularly important effect of entrapment ("getter" effect).
Une fine couche de blocage métallique peut être aisément fabriquée sans altérer la couche fonctionnelle. Cette couche métallique peut être de préférence déposée dans une atmosphère inerte (c'est-à-dire sans introduction volontaire d'oxygène ou d'azote) constituée de gaz noble (He, Ne, Xe, Ar, Kr). Il n'est pas exclu ni gênant qu'en surface cette couche métallique soit oxydée lors du dépôt ultérieur d'une couche à base d'oxyde métallique.A thin metal blocking layer can be easily manufactured without altering the functional layer. This metal layer may preferably be deposited in an inert atmosphere (that is to say without voluntary introduction of oxygen or nitrogen) consisting of noble gas (He, Ne, Xe, Ar, Kr). It is not excluded or annoying that on the surface this metal layer is oxidized during the subsequent deposition of a metal oxide layer.
La telle fine couche de blocage métallique permet en outre d'obtenir une excellente tenue mécanique (résistance à l'abrasion, aux rayures notamment). Ceci est spécialement vrai pour des empilements qui subissent un traitement thermique, et donc une diffusion important d'oxygène ou d'azote.Such a thin metal blocking layer also makes it possible to obtain excellent mechanical strength (resistance to abrasion, especially to scratches). This is especially true for stacks that undergo heat treatment, and thus a large diffusion of oxygen or nitrogen.
Néanmoins, pour l'utilisation de couche de blocage métallique, il faut limiter l'épaisseur de la couche métallique et donc l'absorption lumineuse pour conserver une transmission lumineuse suffisante. La fine couche de blocage peut être partiellement oxydée. Cette couche est déposée sous forme non métallique et n'est donc pas déposée sous forme stoechiométrique, mais sous forme sous-stoechiométrique, du type MOx, où M représente le matériau et x est un nombre inférieur à la stoechiométrie de l'oxyde du matériau ou du type MNOx pour un oxyde de deux matériaux M et N (ou plus). On peut citer par exemple TiOx, NiCrOx.However, for the use of metal blocking layer, it is necessary to limit the thickness of the metal layer and therefore the light absorption to maintain sufficient light transmission. The thin blocking layer can be partially oxidized. This layer is deposited in non-metallic form and is therefore not deposited in stoichiometric form, but in sub-stoichiometric form, of the MO x type, where M represents the material and x is a number less than the stoichiometry of the oxide of the material or type MNOx for an oxide of two materials M and N (or more). For example, TiOx, NiCrOx may be mentioned.
X est de préférence compris entre 0,75 fois et 0,99 fois la stoechiométrie normale de l'oxyde. Pour un monoxyde, on peut notamment choisir x entre 0,5 et 0,98 et pour un dioxyde x entre 1 ,5 et 1 ,98.
Dans une variante particulière, la fine couche de blocage est à base de TiOx et x peut être en particulier tel que 1 ,5 ≤ x ≤ 1 ,98 ou 1 ,5 < x < 1 ,7, voire 1 ,7 < x < 1 ,95.X is preferably between 0.75 and 0.99 times the normal stoichiometry of the oxide. For a monoxide, it is possible in particular to choose x between 0.5 and 0.98 and for a x-dioxide between 1.5 and 1.98. In a particular variant, the thin blocking layer is based on TiO x and x can be in particular such that 1, 5 ≤ x ≤ 1, 98 or 1, 5 <x <1, 7, or even 1, 7 <x <1, 95.
La fine couche de blocage peut être partiellement nitrurée. Elle n'est donc pas déposée sous forme stoechiométrique, mais sous forme sous- stoechiométrique, du type MNy, où M représente le matériau et y est un nombre inférieur à la stoechiométrie de du nitrure du matériau. Y est de préférence compris entre 0,75 fois et 0,99 fois la stoechiométrie normale du nitrure.The thin blocking layer may be partially nitrided. It is therefore not deposited in stoichiometric form, but in substoichiometric form, of the type MN y , where M represents the material and y is a number less than the stoichiometry of the nitride of the material. Y is preferably between 0.75 and 0.99 times the normal stoichiometry of the nitride.
De la même manière, la fine couche de blocage peut aussi être partiellement oxynitrurée.In the same way, the thin blocking layer can also be partially oxynitrided.
Cette fine couche de blocage oxydée et/ ou nitrurée peut être aisément fabriquée sans altérer la couche fonctionnelle. Elle est, de préférence, déposée à partir d'une cible céramique, dans une atmosphère non oxydante constituée de préférence de gaz noble (He, Ne, Xe, Ar, Kr). La fine couche de blocage peut être préférentiellement en nitrure et/ ou oxyde sous-stoechiométrique pour encore davantage de reproductibilité des propriétés électriques et optiques de l'électrode.This thin oxidized and / or nitrided blocking layer can be easily manufactured without altering the functional layer. It is preferably deposited from a ceramic target, in a non-oxidizing atmosphere preferably consisting of noble gas (He, Ne, Xe, Ar, Kr). The thin blocking layer may be preferably nitride and / or substoichiometric oxide for further reproducibility of electrical and optical properties of the electrode.
La fine couche blocage choisie oxyde et/ ou nitrure sous stoechiométrique peut être, de préférence à base d'un métal choisi parmi l'un au moins des métaux suivants : Ti, V, Mn, Fe, Co, Cu, Zn, Zr, Hf, Al, Nb, Ni, Cr, Mo,The thin blocking layer chosen under stoichiometric oxide and / or nitride may be preferably based on a metal chosen from at least one of the following metals: Ti, V, Mn, Fe, Co, Cu, Zn, Zr, Hf, Al, Nb, Ni, Cr, Mo,
Ta, W, ou d'un oxyde d'un alliage sous stoechiométrique à base d'au moins un de ces matériaux.Ta, W, or an oxide of a stoichiometric alloy based on at least one of these materials.
On préfère en particulier une couche à base d'un oxyde ou d'oxynitrure d'un métal choisi parmi le niobium Nb, le tantale Ta, le titane Ti, le chrome Cr ou le nickel Ni ou d'un alliage à partir d'au moins deux de ces métaux, notamment d'un alliage de niobium et de tantale (Nb/Ta), de niobium et de chrome (Nb /Cr) ou de tantale et de chrome (Ta/ Cr) ou de nickel et de chrome (Ni/Cr).Particularly preferred is a layer based on an oxide or oxynitride of a metal selected from niobium Nb, tantalum Ta, titanium Ti, chromium Cr or nickel Ni or an alloy from at least two of these metals, especially an alloy of niobium and tantalum (Nb / Ta), niobium and chromium (Nb / Cr) or tantalum and chromium (Ta / Cr) or nickel and chromium (Ni / Cr).
Comme nitrure métallique sous stoechiométrique, on peut choisir aussi une couche en nitrure de silicium SiNx ou d'aluminium AlNx ou de chrome Cr Nx , ou de titane TiNx ou de nitrure de plusieurs métaux comme le NiCrNx.As a stoichiometric metal nitride, it is also possible to choose a silicon nitride SiN x or AlNx aluminum or Cr Nx chromium layer, or TiNx titanium or a multi-metal nitride layer such as NiCrNx.
La fine couche de blocage peut présenter un gradient d'oxydation, par exemple M(N)OXi avec Xi variable, la partie de la couche de blocage en contact
avec la couche fonctionnelle est moins oxydée que la partie de cette couche la plus éloignée de la couche fonctionnelle en utilisant une atmosphère de dépôt particulière.The thin blocking layer may have an oxidation gradient, for example M (N) OXi with variable Xi, the part of the blocking layer in contact with the functional layer is less oxidized than the portion of this layer furthest from the functional layer by using a particular deposition atmosphere.
La fine couche de blocage peut aussi être multicouche et notamment comprendre :The thin blocking layer may also be multilayer and include:
- d'une part d'une couche « d'interface » immédiatement en contact avec ladite couche fonctionnelle, cette couche d'interface étant en un matériau à base d'oxyde, de nitrure ou d'oxynitrure métallique non stoechiométrique, tels que ceux précités, - d'autre part, d'au moins une couche en un matériau métallique, tels que ceux précités, couche immédiatement en contact avec ladite couche « d'interface ».on the one hand an "interface" layer immediately in contact with said functional layer, this interface layer being made of a material based on non-stoichiometric metal oxide, nitride or oxynitride, such as those above, - on the other hand, at least one layer of a metallic material, such as those mentioned above, layer immediately in contact with said "interface" layer.
La couche d'interface peut être un oxyde, un nitrure ou un oxynitrure d'un métal ou de métaux qui est ou sont présent(s) dans la couche métallique adjacente éventuelle.The interface layer may be an oxide, nitride, or oxynitride of a metal or metal that is or is present in the eventual adjacent metal layer.
L'électrode selon l'invention présente une compatibilité des propriétés de surface notamment avec les systèmes électroluminescents organiques tout en ayant des propriétés de conductivité électrique et/ ou de transparence ou de réflectivité ajustables à façon, notamment en jouant notamment sur l'épaisseur de la couche fonctionnelle métallique, voire des autres couches et/ ou sur les conditions de dépôt.The electrode according to the invention has a compatibility of the surface properties, in particular with organic electroluminescent systems, while having properties of electrical conductivity and / or of transparency or reflectivity that can be adjusted in a particular way, in particular by playing on the thickness of the metal functional layer, or even other layers and / or on the deposition conditions.
Pour une structure organique donnée d'un dispositif OLED, l'électrode de l'invention permet d'améliorer le rendement en lm/W de l'OLED d'au moins 5 à 10% pour une brillance supérieure à 500 cd/m2 par rapport à une électrode en ITO.For a given organic structure of an OLED device, the electrode of the invention makes it possible to improve the yield in lm / W of the OLED by at least 5 to 10% for a brightness greater than 500 cd / m 2 compared to an ITO electrode.
L'électrode selon l'invention peut être sur une grande surface par exemple une surface supérieure ou égale à 0,02 m2, voire même 0,5 m2 ou 1 m2.The electrode according to the invention can be over a large surface, for example an area greater than or equal to 0.02 m 2 , or even 0.5 m 2 or 1 m 2 .
De préférence, le revêtement peut avoir une épaisseur supérieure ou égale à 20 nm pour fournir une barrière à l'oxygène et/ ou à l'eau et être une monocouche ou une multicouche d'oxyde métallique simple ou mixte dopé ou non, plutôt qu'une couche nitrurée plus absorbante et/ ou isolante.
On choisit de préférence une surcouche avec une conductivité électrique supérieure à 10 5 S-Cm 1, voire ICH S. cm 1, couche facile et/ ou rapide à réaliser, transparente et économique.Preferably, the coating may have a thickness greater than or equal to 20 nm to provide an oxygen and / or water barrier and be a monolayer or a single or mixed doped or non-doped metal oxide multilayer, rather than a nitride layer more absorbent and / or insulating. An overcoat is preferably chosen with an electrical conductivity greater than 10 5 S-Cm 1 , or even ICH S. cm 1 , easy and / or fast to achieve, transparent and economical layer.
La surcouche peut être de préférence à base de l'un au moins des oxydes métalliques conducteurs et transparents suivants :The overlayer may preferably be based on at least one of the following conductive and transparent metal oxides:
- oxyde d'indium, oxyde de zinc, oxyde d'étain, et leurs oxydes mixtes, notamment d'un oxyde mixte de zinc et d'étain SnxZnyOz généralement non stoechiométrique et sous phase amorphe, ou d'un oxyde mixte d'indium et d'étain (ITO), d'un oxyde mixte d'indium et de zinc (IZO). Ce type d'oxyde métallique peut être dopé typiquement, entre 0,5 et 5 %. Il s'agit en particulier d'oxyde d'étain dopé par S, ou d'oxyde de zinc dopé par Al (AZO), Ga (GZO), B, Sc, ou Sb pour une meilleure stabilité du procédé de dépôt, et/ ou augmenter encore la conductivité électrique,.indium oxide, zinc oxide, tin oxide, and their mixed oxides, in particular of a zinc and tin oxide Sn x Zn y O z generally non stoichiometric and under amorphous phase, or of a mixed indium tin oxide (ITO), a mixed oxide of indium and zinc (IZO). This type of metal oxide can be doped typically between 0.5 and 5%. These are in particular S-doped tin oxide, or Al (AZO) doped zinc oxide, Ga (GZO), B, Sc, or Sb for a better stability of the deposition process, and / or further increase the electrical conductivity ,.
Ces oxydes métalliques conducteurs et transparents peuvent être sur stoechiométriques en surface pour augmenter le travail de sortie.These conductive and transparent metal oxides can be surface stoichiometric to increase the work output.
Le revêtement peut être uniquement constitué de cette surcouche par exemple d'épaisseur supérieure ou égale à 15 nm, par exemple comprise entre 20 et 150 nm, pour fournir en même temps la barrière à l'oxygène et/ou à l'eau.The coating may consist solely of this overlayer, for example with a thickness greater than or equal to 15 nm, for example between 20 and 150 nm, to provide at the same time the oxygen barrier and / or water.
Cette surcouche pouvant être de préférence la dernière couche, on préfère tout particulièrement une surcouche d'ITO qui est stable et permet qui plus est de conserver les technologies existantes pour la fabrication et l'optimisation de la structure organique OLED.Since this overlayer may be preferably the last layer, a particularly stable ITO overlay is particularly preferred and it is moreover possible to retain the existing technologies for the manufacture and optimization of the OLED organic structure.
Pour des raisons économiques, si l'on choisit une surcouche en ITO, il est préférable que cette dernière soit d'épaisseur inférieure ou égale à 30 nm, notamment et comprise entre 3 nm et 20 nm et de rajouter une couche additionnelle sous jacente de protection contre l'oxygène pour une épaisseur totale cumulée de préférence supérieure ou égale à 15 nm, à 30 nm, par exemple comprise entre 30 et 150 nm.For economic reasons, if an ITO overlay is chosen, it is preferable that the latter is of thickness less than or equal to 30 nm, in particular and between 3 nm and 20 nm, and to add an additional layer underlying protection against oxygen for a cumulative total thickness preferably greater than or equal to 15 nm, at 30 nm, for example between 30 and 150 nm.
La surcouche peut être alternativement ou cumulativement à base de l'un au moins des oxydes métalliques sous stoechiométriques suivants : en oxyde de molybdène oxyde de nickel, oxyde d'aluminium, oxyde de titane, oxyde de zirconium, oxyde de tantale, oxyde de silicium, oxyde d'argent, d'or, de platine, de
palladium, et être de préférence d'épaisseur inférieure ou égale à 10 nm, par exemple comprise entre 1 et 5 nm.The overlayer may be alternatively or cumulatively based on at least one of the following stoichiometric metal oxides: nickel oxide, nickel oxide, aluminum oxide, titanium oxide, zirconium oxide, tantalum oxide, silicon oxide , silver oxide, gold, platinum, palladium, and preferably be less than or equal to 10 nm, for example between 1 and 5 nm.
Ces oxydes métalliques sont choisis sous stoechiométriques pour être suffisamment électroconducteurs, et fins pour être suffisamment transparents. On peut déposer la surcouche par une technique de dépôt sous vide, notamment par évaporation ou pulvérisation cathodique assistée par champ magnétique, en particulier à température ambiante.These metal oxides are chosen stoichiometrically to be sufficiently electroconductive, and thin to be sufficiently transparent. The overlay can be deposited by a vacuum deposition technique, in particular by evaporation or magnetic field assisted sputtering, in particular at room temperature.
On choisit encore plus préférentiellement une surcouche gravable de préférence avec une même solution de gravure que la couche de contact. Dans une conception de l'invention, pour prévenir la corrosion de la couche fonctionnelle, l'électrode peut comprendre, entre la couche de blocage et la surcouche, une couche de protection contre l'oxygène et/ou l'eau, à base d'oxyde métallique tout particulièrement lorsque la surcouche est mince (inférieure ou égale à 20 nm), comme une surcouche en ITO (ou IZO /ITO ou IZO) ou en matériau précité type NiOx.Even more preferably, an etching overcoat is preferably chosen with the same etching solution as the contact layer. In a design of the invention, to prevent corrosion of the functional layer, the electrode may comprise, between the blocking layer and the overcoat, a protective layer against oxygen and / or water, based on metal oxide especially when the overcoat is thin (less than or equal to 20 nm), as an overlay in ITO (or IZO / ITO or IZO) or NiOx type aforementioned material.
La couche de protection peut être de préférence à base de l'un au moins des oxydes métalliques suivants distincts des matériaux de la surcouche : oxyde de zinc, oxyde d'indium, oxyde d'étain, oxyde d'aluminium, oxyde de titane, oxyde de zirconium, oxyde de tantale, oxyde de silicium. L'oxyde métallique peut être dopé typiquement, entre 2 et 5 %. Il s'agit en particulier d'oxyde d'étain dopé par S, ou d'oxyde de zinc dopé ZnO(x) dopé par Al (AZO) pour une meilleure stabilité, Ga (GZO) pour augmenter la conductivité, voire par B, Sc, ou Sb.The protective layer may preferably be based on at least one of the following metal oxides distinct from the overcoat materials: zinc oxide, indium oxide, tin oxide, aluminum oxide, titanium oxide, zirconium oxide, tantalum oxide, silicon oxide. The metal oxide can be doped typically between 2 and 5%. It is in particular S-doped tin oxide, or Al-doped ZnO doped zinc oxide (AZO) for a better stability, Ga (GZO) to increase the conductivity, or even B , Sc, or Sb.
La couche de protection peut être à base d'oxyde mixte notamment d'un oxyde mixte de zinc et d'étain SnxZnyOz généralement non stoechiométrique et sous phase amorphe, ou d'un oxyde mixte d'indium et d'étain (ITO), d'un oxyde mixte d'indium et de zinc (IZO).The protective layer may be based on a mixed oxide, in particular a zinc and tin oxide Sn x Zn y O z that is generally non-stoichiometric and in an amorphous phase, or a mixed oxide of indium and aluminum oxide. tin (ITO), a mixed oxide of indium and zinc (IZO).
La couche de protection peut être une monocouche ou une multicouche. Cette couche de protection est de préférence d'épaisseur (totale) entre 3 et 150 nm encore plus préférentiellement entre 5 et 100 nm.The protective layer may be a monolayer or a multilayer. This protective layer is preferably of (total) thickness between 3 and 150 nm, more preferably between 5 and 100 nm.
Naturellement, l'ajout de cette couche dédiée à la protection permet une plus grande liberté dans le choix de la surcouche uniquement choisie pour avoir
des propriétés de surface optimales notamment d'adaptation du travail de sortie pour les OLEDS.Naturally, the addition of this layer dedicated to the protection allows a greater freedom in the choice of the overlayer only chosen to have optimal surface properties including adaptation work output for OLEDS.
On choisit de préférence une couche de protection facile et/ ou rapide à réaliser, transparente, notamment une couche, dopée ou non, à base d'ITO, IZO, SnxZn7O2, ZnOx.A protective layer which is easy and / or fast to produce is preferably transparent, especially a layer, doped or non-doped, based on ITO, IZO, Sn x Zn 7 O 2 , ZnO x .
On choisit encore plus préférentiellement une couche de protection gravable de préférence avec une même solution de gravure que la couche de contact.Even more preferably, a protective layer which can be etched is preferably chosen with the same etching solution as the contact layer.
On peut déposer la couche de protection par une technique de dépôt sous vide, notamment par évaporation ou de préférence par pulvérisation cathodique assistée par champ magnétique notamment à température ambiante.The protective layer can be deposited by a vacuum deposition technique, in particular by evaporation or preferably by magnetic field assisted sputtering, especially at ambient temperature.
Dans un mode de réalisation préféré de l'invention, la couche de contact et la couche de protection sont de nature identique, en particulier de l'oxyde de zinc pur, dopé voire allié, et de préférence la surcouche comprend de ITTO en couche la plus extérieure.In a preferred embodiment of the invention, the contact layer and the protective layer are identical in nature, in particular pure zinc oxide, doped or even alloyed, and preferably the overcoat comprises ITTO in a layer. more external.
On peut de préférence adapter l'état d'oxydation et/ ou les conditions de fabrication de la couche qui surmonte la fine couche de blocage (soit la couche de protection, soit la surcouche) en fonction de la nature de la fine couche de blocage. Ainsi lorsque la fine couche de blocage est métallique, on peut choisir une couche sus jacente sur stoechiométrique et/ ou utiliser un plasma très réactif afin d'oxyder la couche métallique pour diminuer son absorption.It is preferable to adapt the oxidation state and / or the manufacturing conditions of the layer which overcomes the thin blocking layer (either the protective layer or the overcoat) depending on the nature of the thin blocking layer. . Thus, when the thin blocking layer is metallic, it is possible to choose an overlying stoichiometric layer and / or to use a highly reactive plasma in order to oxidize the metal layer in order to reduce its absorption.
Inversement, lorsque la fine couche de blocage est à base de nitrure et/ ou d'oxyde métallique sous stoechiométrique, on dépose une couche pure ou dopée d'oxyde métallique M(N)Ox', avec x' inférieur à 1 pour limiter la suroxydation de la fine couche de blocage et avec x' légèrement inférieur à 1 pour éviter une trop forte absorption de cette couche sus-jacente plus épaisse.Conversely, when the thin blocking layer is based on nitride and / or metal oxide under stoichiometric, depositing a pure or doped layer of metal oxide M (N) Ox ', with x' less than 1 to limit the overoxidation of the thin blocking layer and with x 'slightly less than 1 to avoid too much absorption of this overlying layer thicker.
On préfère en particulier une couche à base d'oxyde de zinc ZnOx', avec x' inférieur à 1 , préférentiellement compris entre de 0,88 à 0,98, notamment de 0,90 à 0,95.In particular, a layer based on zinc oxide ZnOx ', with x' less than 1, preferably between 0.88 and 0.98, especially from 0.90 to 0.95, is particularly preferred.
Avantageusement, l'électrode selon l'invention peut présenter l'une ou les caractéristiques suivantes :Advantageously, the electrode according to the invention may have one or the following characteristics:
- une résistance carré inférieure ou égale à 10 Ω/carré pour une
épaisseur de couche fonctionnelle à partir de 6 nm, de préférence inférieure ou égale à 5 Ω/carré pour une épaisseur de couche fonctionnelle à partir de 10 nm, combinée de préférence à une transmission lumineuse TL supérieure ou égale à 70%, encore plus préférentiellement à 80% ce qui rend son utilisation en tant qu'électrode transparente particulièrement satisfaisante,a square resistance less than or equal to 10 Ω / square for a functional layer thickness from 6 nm, preferably less than or equal to 5 Ω / square for a functional layer thickness from 10 nm, combined preferably with a light transmission TL greater than or equal to 70%, even more preferably at 80% which makes its use as a transparent electrode particularly satisfactory,
- une résistance carré inférieure ou égale à 1 Ω/carré pour une épaisseur de couche fonctionnelle à partir de 50 nm, de préférence inférieure ou égale à 0,6 Ω/carré, combinée de préférence une réflexion lumineuse RL supérieure ou égale à 70%, encore plus préférentiellement à 80%, ce qui rend son utilisation en tant qu'électrode réfléchissante particulièrement satisfaisante,a square resistor less than or equal to 1 Ω / square for a functional layer thickness from 50 nm, preferably less than or equal to 0.6 Ω / square, preferably combined with a light reflection RL greater than or equal to 70% even more preferably at 80%, which makes its use as a reflecting electrode particularly satisfactory,
- une résistance carré inférieure ou égale à 3 Ω/carré pour une épaisseur de couche fonctionnelle à partir de 20 nm, de préférence inférieure ou égale à 1 ,8 Ω/carré, combinée de préférence un rapporta square resistance of less than or equal to 3 Ω / square for a functional layer thickness starting from 20 nm, preferably less than or equal to 1.8 Ω / square, preferably combined with a ratio
TL sur RL entre 0, 1 et 0,7, ce qui rend son utilisation en tant qu'électrode semi transparente particulièrement satisfaisante,TL on RL between 0, 1 and 0.7, which makes its use as a semi-transparent electrode particularly satisfactory,
- la surface de la surcouche peut être de rugosité RMS (autrement appelé Rq) inférieure ou égale à 3 nm, de préférence inférieure ou égale à 2 nm, encore plus préférentiellement inférieure ou égale àthe surface of the overlayer may be of roughness RMS (otherwise called Rq) less than or equal to 3 nm, preferably less than or equal to 2 nm, still more preferably less than or equal to
1 ,5 nm, afin d'éviter les défauts de pointes (« spike effect » en anglais) qui réduisent drastiquement la durée de vie et la fiabilité notamment de l'O LED.1, 5 nm, to avoid spike effects that drastically reduce the life and reliability of the O LED.
La rugosité R. M. S signifie rugosité « Root Mean Square ». Il s'agit d'une mesure consistant à mesurer la valeur de l'écart quadratique moyen de la rugosité. Cette rugosité R. M. S, concrètement, quantifie donc en moyenne la hauteur des pics et creux de rugosité, par rapport à la hauteur moyenne. Ainsi, une rugosité R. M. S de 2 nm signifie une amplitude de pic double.R. M. S roughness means "Root Mean Square" roughness. This is a measure of measuring the value of the mean square deviation of roughness. This roughness R. M. S, concretely, therefore quantifies on average the height of the peaks and troughs of roughness, with respect to the average height. Thus, an R. M. S roughness of 2 nm means a double peak amplitude.
Elle peut être mesurée de différentes manières : par exemple, par microscopie à force atomique, par un système mécanique à pointe (utilisant par exemple les instruments de mesure commercialisés par la société VEECO sous la dénomination DEKTAK), par interférométrie optique. La mesure se fait généralement sur un micromètre carré par microscopie à force atomique, et sur
une surface plus importante, de l'ordre de 50 micromètres à 2 millimètres pour les systèmes mécaniques à pointe.It can be measured in various ways: for example, by atomic force microscopy, by a mechanical point system (using for example the measuring instruments marketed by VEECO under the name DEKTAK), by optical interferometry. The measurement is usually made on a square micrometer by atomic force microscopy, and on a larger area, of the order of 50 micrometers to 2 millimeters for mechanical systems to tip.
La couche fonctionnelle est à base d'un matériau pur choisi parmi l'argent Ag, l'Au, le Cu ou l'Ai ou à base dudit matériau allié ou dopé avec Ag, Au, Al, Pt, Cu, Zn, In, Si, Zr, Mo, Ni, Cr, Mg, Mn, Co, Sn, Pd. On peut citer par exemple de l'argent dopé au Pd ou un alliage or cuivre ou un alliage argent or.The functional layer is based on a pure material selected from silver Ag, Au, Cu or Al or based on said material alloyed or doped with Ag, Au, Al, Pt, Cu, Zn, In , Si, Zr, Mo, Ni, Cr, Mg, Mn, Co, Sn, Pd. There may be mentioned, for example, silver doped with Pd or a gold-copper alloy or a silver-gold alloy.
On peut déposer la couche fonctionnelle par une technique de dépôt sous vide, notamment par évaporation ou de préférence par pulvérisation cathodique assistée par champ magnétique, notamment à température ambiante.The functional layer may be deposited by a vacuum deposition technique, in particular by evaporation or preferably by magnetic field assisted sputtering, especially at room temperature.
Si une haute conductivité est particulièrement recherchée, on peut choisir de préférence un matériau pur. Si des propriétés mécaniques remarquables sont particulièrement recherchées, on peut choisir de préférence un matériau dopé ou allié. On choisit de préférence une couche à base d'argent pour sa conductivité et sa transparence.If a high conductivity is particularly desired, it is possible to choose a pure material. If remarkable mechanical properties are particularly desired, it is possible to choose preferably a doped or alloyed material. A silver-based layer is preferably chosen for its conductivity and transparency.
L'épaisseur de la couche fonctionnelle choisie à base d'argent peut être comprise entre 3 à 20 nm, préférentiellement comprise entre 5 à 15 nm. Dans cette gamme d'épaisseurs, l'électrode demeure transparente. II n'est cependant pas exclu d'avoir une couche nettement plus épaisse notamment dans le cas où le système électroluminescent organique fonctionne en réflexion. L'épaisseur de la couche fonctionnelle choisie à base d'argent peut être comprise entre 50 et 150 nm, préférentiellement comprise entre 80 à 100 nm.The thickness of the selected functional layer based on silver may be between 3 to 20 nm, preferably between 5 to 15 nm. In this range of thicknesses, the electrode remains transparent. However, it is not excluded to have a much thicker layer especially in the case where the organic electroluminescent system operates in reflection. The thickness of the functional layer chosen based on silver may be between 50 and 150 nm, preferably between 80 and 100 nm.
L'épaisseur de la couche fonctionnelle choisie à base d'argent peut en outre être comprise entre 20 à 50 nm pour basculer d'un fonctionnement principalement en transmission, à un fonctionnement principalement en réflexion.The thickness of the selected silver-based functional layer may furthermore be between 20 to 50 nm to switch from operation mainly in transmission to operation mainly in reflection.
La couche de contact peut être de préférence à base de l'un au moins des oxydes métalliques suivants stoechiométriques ou non : oxyde de chrome, oxyde d'indium, oxyde de zinc, oxyde d'aluminium, oxyde de titane, oxyde de molybdène, oxyde de zirconium, oxyde d'antimoine, oxyde de tantale, oxyde de silice, voire oxyde d'étain.
L'oxyde métallique peut être dopé typiquement, entre 0,5 et 5 %. Il s'agit en particulier d'oxyde de zinc dopé par Al (AZO), Ga (GZO), voire par B, Sc, ou Sb pour une meilleure stabilité de procédé de dépôt, voire d'oxyde d'étain dopé par F ou S.The contact layer may preferably be based on at least one of the following metal oxides stoichiometric or not: chromium oxide, indium oxide, zinc oxide, aluminum oxide, titanium oxide, molybdenum oxide, zirconium oxide, antimony oxide, tantalum oxide, silica oxide or even tin oxide. The metal oxide can be doped typically between 0.5 and 5%. It is in particular zinc oxide doped with Al (AZO), Ga (GZO), or even with B, Sc, or Sb for a better stability of deposition process, or even tin oxide doped with F or S.
La couche de contact peut être à base d'oxyde mixte notamment d'un oxyde mixte de zinc et d'étain SnxZnyOz généralement non stoechiométrique et sous phase amorphe, ou d'un oxyde mixte dïndium et d'étain (ITO), d'un oxyde mixte dïndium et de zinc (IZO).The contact layer may be based on a mixed oxide, in particular a zinc and tin oxide Sn x Zn y O z which is generally non-stoichiometric and in amorphous phase, or a mixed oxide of indium and tin ( ITO), a mixed oxide of indium and zinc (IZO).
La couche de contact peut être une monocouche ou une multicouche. Cette couche est de préférence d'épaisseur (totale) entre 3 et 30 nm encore plus préférentiellement entre 5 et 20 nm.The contact layer may be a monolayer or a multilayer. This layer is preferably of thickness (total) between 3 and 30 nm, more preferably between 5 and 20 nm.
On choisit de préférence une couche qui n'est pas toxique, une couche facile et/ ou rapide à réaliser, éventuellement transparente si nécessaire, notamment une couche dopée ou non à base d'ITO, IZO, SnxZnyOz, ZnOx.A layer which is not toxic is preferably chosen, an easy and / or rapid layer to be produced, possibly transparent if necessary, in particular a doped or non-doped layer based on ITO, IZO, Sn x Zn y O z , ZnO x .
On choisit encore plus préférentiellement une couche de nature cristalline suivant une direction de croissance privilégiée pour favoriser l'hétéroépitaxie de la couche métallique fonctionnelle. Cette couche peut tout particulièrement être gravable par 'RIE' (« Reactive ion etching » en anglais) ou encore plus préférentiellement par gravure humide (facilement intégrable dans la phase de fabrication et à pression atmosphérique). De préférence on utilise un même agent de gravure que la surcouche (solution acide, plasma(s) réactif(s) type Ar, CF4 SF6 et O2...).Still more preferably, a layer of crystalline nature is selected in a preferred growth direction to promote heteroepitaxy of the functional metal layer. This layer may especially be etchable by 'RIE'("Reactive ion etching" in English) or even more preferably by wet etching (easily integrated in the manufacturing phase and at atmospheric pressure). Preferably the same etching agent is used as the overcoat (acid solution, reactive plasma (s) type Ar, CF 4 SF 6 and O 2 ...).
On préfère ainsi une couche d'oxyde de zinc ZnOx, avec préférentiellement x inférieur à 1, encore plus préférentiellement compris entre de 0,88 à 0,98, notamment de 0,90 à 0,95. Cette couche peut être pure ou dopée par Al ou par Ga comme déjà indiqué.A ZnOx zinc oxide layer is preferably preferred, with preferably less than 1 x, even more preferably between 0.88 and 0.98, especially from 0.90 to 0.95. This layer can be pure or doped with Al or Ga as already indicated.
La Demanderesse a constaté que la gravure humide de l'électrode en une étape était possible même lorsque la couche fonctionnelle est relativement épaisse, par exemple entre 30 et 70 nm (en fonction de la concentration et de la solution de gravure choisie) en particulier si cette dernière est relativement poreuse. Des modifications dans les paramètres de dépôts peuvent permettre d'obtenir une certaine porosité de cette couche fonctionnelle. On peut ainsi choisir une pression relativement élevée. On peut varier aussi d'autres
paramètres comme la température du procédé, le mélange des gaz utilisés lors du procédé.The Applicant has found that wet etching of the electrode in one step was possible even when the functional layer is relatively thick, for example between 30 and 70 nm (depending on the concentration and the etching solution chosen), particularly if the latter is relatively porous. Modifications in the deposition parameters may make it possible to obtain a certain porosity of this functional layer. It is thus possible to choose a relatively high pressure. We can vary also others parameters such as process temperature, mixing of gases used in the process.
Au sens de l'invention, un matériau est gravable par une solution de gravure, si ce dernier est dissout dans la solution ou est suffisamment corrodé par la solution et à tout le moins dont l'accrochage est suffisamment fragilisé pour qu'une petite action mécanique, notamment un rinçage avec un jet à faible pression suffise pour enlever le matériau.Within the meaning of the invention, a material is etchable by an etching solution, if the latter is dissolved in the solution or is sufficiently corroded by the solution and at least the attachment is sufficiently weakened so that a small action mechanical, including a rinse with a low pressure jet is sufficient to remove the material.
On peut déposer la couche de contact par différentes techniques. On peut la déposer, par exemple par une technique de pyrolyse, notamment en phase gazeuse (technique souvent désignée par l'abréviation anglaise de C. V. D, pour « Chemical Vapor Déposition »).The contact layer can be deposited by various techniques. It can be deposited, for example by a pyrolysis technique, especially in the gas phase (a technique often referred to by the abbreviation of C. V. D, for "Chemical Vapor Deposition").
On peut déposer la couche électroconductrice par une technique de dépôt sous vide, notamment par évaporation ou de préférence pulvérisation cathodique assistée par champ magnétique, en particulier à température ambiante. La pulvérisation peut être réactive (en partant de cibles métalliques ou sous-oxydées, en atmosphère oxydante) ou non réactive (en partant de cibles céramiques, en atmosphère inerte).The electroconductive layer may be deposited by a vacuum deposition technique, in particular by evaporation or preferably by magnetic field assisted sputtering, in particular at room temperature. The spray may be reactive (starting from metal targets or under-oxidized, in an oxidizing atmosphere) or non-reactive (starting from ceramic targets, in an inert atmosphere).
En particulier lors que la couche de contact à base d'oxyde métallique, on peut intercaler une fine couche de blocage, dite inférieure, entre la couche de contact et la couche fonctionnelle qui est à base d'un métal d'épaisseur inférieure ou égale à 5 nm, préférentiellement comprise entre 0,5 et 2 nm, et/ ou d'un oxyde, oxynitrure, nitrure métallique, avec une épaisseur inférieure ou égale à 10 nm, préférentiellement comprise entre 0,5 et 2 nm par exemple à base des matériaux précités pour la couche de blocage. Cette fine couche de blocage inférieure (mono ou multicouche) sert de couche d'accrochage, de nucléation et/ ou de protection lors d'un éventuel traitement thermique postérieurement au dépôt.In particular, when the metal oxide-based contact layer is used, a thin, so-called lower, blocking layer can be inserted between the contact layer and the functional layer which is based on a metal of thickness less than or equal to at 5 nm, preferably between 0.5 and 2 nm, and / or an oxide, oxynitride, metal nitride, with a thickness of less than or equal to 10 nm, preferably between 0.5 and 2 nm, for example based on aforementioned materials for the blocking layer. This thin lower blocking layer (mono or multilayer) serves as a bonding layer, nucleation and / or protection during a possible heat treatment after deposition.
L'électrode selon l'invention peut être associée en outre à une couche de fond susceptible de former une barrière aux alcalins, notamment lorsque la couche de contact est à base d'oxyde.The electrode according to the invention may be further associated with a base layer capable of forming an alkaline barrier, especially when the contact layer is oxide-based.
La couche de fond confère à l'électrode selon l'invention de nombreux atouts. Elle est d'abord susceptible d'être une barrière aux alcalins sous jacents à l'électrode. Elle protège de toute pollution la couche de contact (pollutions qui
peuvent entraîner des défauts mécaniques tels que des délaminations); elle préserve en outre la conductivité électrique de la couche fonctionnelle métallique. Elle évite aussi que la structure organique d'un dispositif OLED ne soit polluée par les alcalins réduisant de fait considérablement la durée de vie de l'OLED.The primer gives the electrode according to the invention many advantages. It is initially likely to be a barrier to the alkalis underlying the electrode. It protects the contact layer from pollution (pollution that may cause mechanical defects such as delaminations); it also preserves the electrical conductivity of the metallic functional layer. It also prevents the organic structure of an OLED device from being polluted by alkalis, thereby significantly reducing the life of the OLED.
La migration des alcalins peut intervenir pendant la fabrication du dispositif, engendrant un manque de fiabilité, et/ou postérieurement, réduisant sa durée de vie.The alkali migration can occur during the manufacture of the device, causing unreliability, and / or subsequently reducing its life.
La couche de fond améliore les propriétés d'accrochage de la couche de contact sans accroître notablement la rugosité de l'ensemble.The primer improves the bonding properties of the contact layer without significantly increasing the roughness of the assembly.
L'invention trouve naturellement un intérêt tout particulièrement pour un substrat porteur susceptible de relarguer des alcalins tels que le verre silicosodocalcique notamment clair, extraclair.The invention is of course of particular interest for a carrier substrate capable of releasing alkalis such as silicosodocalcic glass including clear, extraclair.
Par ailleurs, grâce à cette structure d'empilement particulière, on obtient en outre une électrode fiable, permettant des gains de productivité significatifs.Moreover, thanks to this particular stacking structure, a reliable electrode is also obtained, allowing significant productivity gains.
La couche de fond est robuste, facile et rapide à déposer suivant différentes techniques. On peut la déposer, par exemple par une technique de pyrolyse, notamment en phase gazeuse (technique souvent désignée par l'abréviation anglaise de C. V. D, pour « Chemical Vapor Déposition »). Cette technique est intéressante pour l'invention car des réglages appropriés des paramètres de dépôt permettent d'obtenir une couche très dense pour une barrière renforcée.The basecoat is robust, easy and fast to deposit according to different techniques. It can be deposited, for example by a pyrolysis technique, especially in the gas phase (a technique often referred to by the abbreviation of C. V. D, for "Chemical Vapor Deposition"). This technique is interesting for the invention because appropriate settings of the deposition parameters make it possible to obtain a very dense layer for a reinforced barrier.
On peut déposer la couche de fond par une technique de dépôt sous vide, notamment par évaporation ou pulvérisation cathodique assistée par champ magnétique, en particulier à température ambiante.The primer can be deposited by a vacuum deposition technique, in particular by evaporation or magnetic field assisted sputtering, in particular at room temperature.
La couche de fond peut être éventuellement dopée à l'aluminium pour rendre son dépôt sous vide plus stable.The primer may be optionally doped with aluminum to make its vacuum deposit more stable.
La couche de fond (monocouche ou multicouche, éventuellement dopée) peut être d'épaisseur entre 10 et 150 nm, encore plus préférentiellement entre 20 et 100 nm.The bottom layer (monolayer or multilayer, optionally doped) may be between 10 and 150 nm thick, more preferably between 20 and 100 nm.
La couche de fond peut être de préférence :The bottom layer may preferably be:
- à base d'oxyde de silicium d'oxycarbure de silicium, couche de formule générale SiOC,
- à base de nitrure de silicium, d'oxynitrure de silicium, d'oxycarbonitrure de silicium, couche de formule générale SiNOC, notamment SiN en particulier Si3N4.based on silicon oxycarbide silicon oxide, layer of general formula SiOC, based on silicon nitride, silicon oxynitride, silicon oxycarbonitride, layer of general formula SiNOC, in particular SiN, in particular Si3N4.
L'électrode peut comprendre de manière préférentielle une couche d'arrêt de gravure humide entre la couche de fond et la couche de contact, notamment une couche à base d'oxyde d'étain, couche notamment d'épaisseur entre 10 etThe electrode may preferably comprise a wet etch stop layer between the base layer and the contact layer, in particular a layer based on tin oxide, in particular a layer of thickness between 10 and
100 nm, encore plus préférentiellement entre 20 et 60 nm. Ou tout particulièrement, pour souci de simplicité, la couche d'arrêt de gravure humide peut faire partie ou être la couche de fond : elle peut être de préférence à base de nitrure de silicium ou elle peut être une couche qui est à base de d'oxyde de silicium ou à base d'oxycarbure de silicium et avec de l'étain pour renforcer par propriété d'anti gravure humide, couche de formule générale SnSiOCN.100 nm, even more preferably between 20 and 60 nm. Or particularly, for the sake of simplicity, the wet etch stop layer may be part of or be the bottom layer: it may be preferably based on silicon nitride or it may be a layer which is based on silicon dioxide. silicon oxide or based on silicon oxycarbide and with tin to enhance by anti-etch property, layer of general formula SnSiOCN.
La couche d'arrêt de gravure humide sert à protéger le substrat dans le cas d'une gravure chimique ou une gravure par plasma réactif. Grâce à l'arrêt de gravure (sèche ou humide), la couche de fond reste présente même dans la ou les zones gravées (« patterned » en anglais). Aussi, la migration des alcalins, par effet de bord, entre le substrat dans une zone gravée et une partie d'électrode adjacente (voire une structure organique) peut être stoppée. On peut préférer tout particulièrement une couche de fond/ d'arrêt de gravure (essentiellement) en nitrure de silicium Si3N4, dopé ou non. Le nitrure de silicium est très rapide à déposer et forme une excellente barrière aux alcalins. En outre, grâce à son indice optique élevé par rapport au substrat porteur, il permet d'adapter les propriétés optiques de l'électrode en jouant de préférence sur l'épaisseur de cette couche de fond. Cela permet ainsi d'ajuster par exemple la couleur en transmission lorsque l'électrode est transparente ou en réflexion lorsque la face opposée du substrat porteur est un miroir.The wet etch stop layer serves to protect the substrate in the case of chemical etching or reactive plasma etching. Thanks to the etching stop (dry or wet), the base layer remains present even in the engraved area or zones ("patterned" in English). Also, the alkali migration, by edge effect, between the substrate in an etched area and an adjacent electrode portion (or even an organic structure) can be stopped. It is particularly preferable to have a bottom layer / stopping of etching (essentially) of Si3N4 silicon nitride, doped or otherwise. Silicon nitride is very fast to deposit and forms an excellent barrier to alkalis. In addition, thanks to its high optical index relative to the carrier substrate, it makes it possible to adapt the optical properties of the electrode by preferably playing on the thickness of this base layer. This thus makes it possible, for example, to adjust the color in transmission when the electrode is transparent or in reflection when the opposite face of the carrier substrate is a mirror.
De manière avantageuse, la couche de fond et de préférence l'éventuelle couche d'arrêt de gravure (humide) peuvent couvrir sensiblement la (quasi) totalité d'une face principale d'un substrat plan verrier.Advantageously, the bottom layer and preferably the optional (wet) etch stop layer may substantially cover (almost) all of a main face of a glass plane substrate.
Et encore plus préférentiellement, les couches de contact, de blocage inférieure (optionnelle), la couche fonctionnelle, la fine couche de blocage, et le revêtement sont structurés suivant un même motif de gravure et de préférence
par une seule gravure humide, ce qui sera détaillé plus avant dans la présente demande.And even more preferably, the contact layers, lower blocking (optional), the functional layer, the thin blocking layer, and the coating are structured according to the same etching pattern and preferably by a single wet etching, which will be detailed further in the present application.
La couche d'arrêt de gravure, si elle est présente, est de préférence intacte, mais peut se trouver légèrement gravée, par exemple sur un dixième de son épaisseur initiale. Il en est de préférence de même pour la couche de fond si la couche d'arrêt de gravure n'est pas présente.The etch stop layer, if present, is preferably intact, but may be slightly etched, for example one-tenth of its original thickness. It is preferably the same for the bottom layer if the etch stop layer is not present.
L'électrode peut être plus large que la structure organique ou autre élément par dessus pour faciliter les prises de contacts électriques.The electrode may be wider than the organic structure or other element from above to facilitate the taking of electrical contacts.
En outre, une bordure de la surcouche peut être surmontée d'une bande d'amenée de courant (continue ou discontinue, formant une partie d'un collecteur ou d'un distributeur de courant) de préférence d'épaisseur comprise entre 0,5 à 10 μm et sous forme d'une monocouche métallique en l'un des métaux suivants : Mo, Al, Cr, Nd ou en alliage de métaux tels que MoCr, AlNd ou d'une multicouche métallique telle que MoCr/ Al/ MoCr. Cette bande peut être conçue pendant la phase de gravure.In addition, a border of the overlayer may be surmounted by a current feed band (continuous or discontinuous, forming part of a collector or a current distributor) preferably of thickness between 0.5 at 10 μm and in the form of a metal monolayer in one of the following metals: Mo, Al, Cr, Nd or metal alloy such as MoCr, AlNd or a metal multilayer such as MoCr / Al / MoCr. This band can be designed during the etching phase.
Les moyens d'alimentation électrique peuvent aussi être rajoutés postérieurement à la gravure, par exemple être en émail conducteur, par exemple à l'argent et sérigraphiés.The power supply means may also be added after the etching, for example be enamel conductive, for example silver and screen printed.
Dans des modes de réalisation préférés de l'invention, on peut éventuellement avoir recours en outre à l'une et/ ou à l'autre des dispositions suivantes :In preferred embodiments of the invention, one or more of the following may also be used:
- l'épaisseur totale d'ITO voire d'indium dans l'électrode peut être inférieure ou égale à 30 nm, voire à 20 nm,the total thickness of ITO or even indium in the electrode may be less than or equal to 30 nm or even 20 nm,
- l'épaisseur totale (avec la couche de fond) est entre 30 nm et 250 nm. L'invention ne s'applique pas seulement à des empilements ne comportant qu'une seule couche « fonctionnelle ». Elle s'applique aussi à des empilements comportant une pluralité de couches fonctionnelles, notamment deux couches fonctionnelles alternées avec deux ou trois revêtements.the total thickness (with the primer) is between 30 nm and 250 nm. The invention does not apply only to stacks having only one "functional" layer. It also applies to stacks comprising a plurality of functional layers, in particular two functional layers alternating with two or three coatings.
Dans le cas d'un empilement pluri-couches fonctionnelles, au moins une, et de préférence chaque couche fonctionnelle est munie d'une couche « sur » blocage selon l'invention (voire d'une couche de sous blocage).In the case of a multilayer stack functional, at least one, and preferably each functional layer is provided with a layer "on" blocking according to the invention (or even a layer of under blocking).
Ainsi, sur les éventuelles couche de fond et/ ou couche d'arrêt de gravure humide, l'électrode comprend n fois la structure suivante, avec n un nombre
entier supérieur ou égal à 1 : la couche de contact, éventuellement la fine couche de blocage inférieure, la couche fonctionnelle, la fine couche de blocage, éventuellement la couche de protection à l'eau et/ ou à l'oxygène, la structure étant surmontée d'une séquence comprenant la couche de contact, la couche fonctionnelle, la fine couche de blocage, éventuellement la couche de protection à l'eau et/ ou à l'oxygène, ladite surcouche.Thus, on the possible bottom layer and / or wet etch stop layer, the electrode comprises n times the following structure, with n a number integer greater than or equal to 1: the contact layer, optionally the thin lower blocking layer, the functional layer, the thin blocking layer, optionally the protective layer with water and / or oxygen, the structure being surmounted by a sequence comprising the contact layer, the functional layer, the thin blocking layer, optionally the protective layer with water and / or oxygen, said overlayer.
Le substrat plan peut être transparent (en particulier pour une émission à travers le susbtrat). Le substrat plan peut être rigide, flexible ou semi-flexible.The planar substrate may be transparent (especially for emission through the susbtrate). The planar substrate may be rigid, flexible or semi-flexible.
Ses faces principales peuvent être rectangulaires, carrées ou même de toute autre forme (ronde, ovale, polygonale...). Ce substrat peut être de grande taille par exemple de surface supérieure à 0,02m2, voire même 0.5 m2 ou 1 m2 et avec une électrode inférieure occupant sensiblement la surface (aux zones de structuration près).Its main faces can be rectangular, square or even any other shape (round, oval, polygonal ...). This substrate may be of large size, for example with an area greater than 0.02 m 2 , or even 0.5 m 2 or 1 m 2 and with a lower electrode occupying substantially the surface (in the structuring zones).
Le substrat plan est de préférence verrier, notamment en verre silicosodocalcique. Le substrat peut être avantageusement un verre présentant un coefficient d'absorption inférieur à 2,5 m 1, de préférence inférieur à 0,7 m 1 à la longueur d'onde du ou des rayonnements OLEDs.The planar substrate is preferably glass, in particular of silicosodocalcic glass. The substrate may advantageously be a glass having an absorption coefficient of less than 2.5 m 1 , preferably less than 0.7 m 1 at the wavelength of the OLED radiation (s).
On choisit par exemple des verres silicosodocalciques avec moins deFor example, silicosodocalcic glasses with less than
0,05% de Fe III ou de Fe2θ3, notamment le verre Diamant de Saint-Gobain Glass, le verre Optiwhite de Pilkington, le verre B270 de Schott. On peut choisir toutes les compositions de verre extraclair décrites dans le document0.05% Fe III or Fe 2 O 3, especially Saint-Gobain Glass Diamond, Pilkington Optiwhite glass, Schott B270 glass. All the extraclear glass compositions described in the document can be selected
WO04/025334.WO04 / 025334.
Dans une configuration choisie d'une émission du système OLED à travers l'épaisseur du substrat transparent, une partie du rayonnement émis est guidé dans le substrat.In a selected configuration of an OLED system emission through the thickness of the transparent substrate, a portion of the emitted radiation is guided in the substrate.
Aussi, dans une conception avantageuse de l'invention, l'épaisseur du substrat choisi verrier peut être d'au moins 1 mm, de préférence d'au moinsAlso, in an advantageous design of the invention, the thickness of the chosen glass substrate may be at least 1 mm, preferably at least
5 mm, par exemple. Cela permet de diminuer le nombre de réflexions internes et d'extraire ainsi plus de rayonnement guidé dans le verre, augmentant ainsi la luminance de la zone lumineuse.5 mm, for example. This reduces the number of internal reflections and thus extract more radiation guided in the glass, thus increasing the luminance of the light zone.
Les bords de la tranche peuvent en outre être réfléchissants, et comporter de préférence un miroir, pour assurer un recyclage optimal du rayonnement guidé et les bords, forment avec la face principale associée au
système OLED un angle externe supérieur ou égal à 45° et inférieur à 90°, de préférence supérieur ou égal à 80°, pour rediriger les rayonnements sur une plus large zone d'extraction. La tranche peut être ainsi biseautée.The edges of the wafer may also be reflective, and preferably include a mirror, to ensure optimal recycling of the guided radiation and the edges, together with the main face associated with the OLED system an external angle greater than or equal to 45 ° and less than 90 °, preferably greater than or equal to 80 °, to redirect the radiation over a wider extraction zone. The slice can be thus beveled.
Pour séparer électriquement les électrodes dans le document JP2005- 038642, l'électrode inférieure est structurée en plusieurs étapes de gravure impliquant différents acides et à différentes vitesses de gravure. On grave ainsi d'abord la couche d'adaptation du travail de sortie, puis la couche métallique et enfin la couche de contact.To electrically separate the electrodes in JP2005-038642, the lower electrode is structured in several etching steps involving different acids and at different etch rates. First, the adaptation layer of the output work is engraved, then the metal layer and finally the contact layer.
Le but que se fixe l'invention est de parvenir à obtenir un assemblage de couches électroconductrices pour former une électrode fiable, robuste (notamment en termes de stabilité et/ou de tenue thermique, mécanique) sans sacrifier ses propriétés d'électroconductivité, sa qualité optique, ni les performances du dispositif l'incorporant, ni engendrer des difficultés de réalisation notamment de gravure humide. L'invention propose ainsi un procédé de gravure acide d'une électrode multicouche sur un substrat, notamment verrier, comportant une couche d'arrêt de gravure acide, de préférence à base de nitrure de silicium, l'électrode comportant :The aim of the invention is to achieve an assembly of electroconductive layers to form a reliable, robust electrode (especially in terms of stability and / or thermal resistance, mechanical) without sacrificing its electroconductivity properties, its quality optical, nor the performance of the device incorporating it, nor cause difficulties in particular realization of wet etching. The invention thus proposes a method of acid etching a multilayer electrode on a substrate, in particular a glass substrate, comprising an acid etch stop layer, preferably based on silicon nitride, the electrode comprising:
- une couche de contact en oxyde métallique dopé ou non choisi parmi l'oxyde de zinc, l'oxyde mixte d'étain et de zinc, d'étain et d'indium, d'indium et de zinc, (ZnOx, SnxZnyOz ITO ou IZO),a doped or non-doped metal oxide contact layer chosen from zinc oxide, tin and zinc mixed oxide, tin and indium oxide, indium oxide and zinc oxide (ZnOx, SnxZnyOz ITO); or IZO),
- éventuellement une fine couche de blocage inférieure directement sous une couche fonctionnelle, la couche comprenant une couche métallique d'épaisseur inférieure ou égale à 5 nm et/ou une couche avec une épaisseur inférieure ou égale à 10 nm, qui est à base d'oxyde ou d'oxynitrure métallique ou de nitrure métallique sous stoechiométrique,optionally a thin lower blocking layer directly under a functional layer, the layer comprising a metal layer with a thickness of less than or equal to 5 nm and / or a layer with a thickness of less than or equal to 10 nm, which is based on oxide or metal oxynitride or stoichiometric metal nitride,
- la couche fonctionnelle métallique à propriétés intrinsèques de conductivité électrique d'épaisseur inférieure ou égale à 70 nm et choisie parmi l'argent et/ ou l'or, dopée ou non,the functional metallic layer with intrinsic properties of electrical conductivity with a thickness of less than or equal to 70 nm and chosen from silver and / or gold, doped or not,
- une fine couche de blocage directement sur la couche fonctionnelle, la couche comprenant une couche métallique d'épaisseur inférieure ou égale à 5 nm et/ ou une couche avec une épaisseur inférieure ou égale
à 10 nm, qui est à base d'oxyde ou d'oxynitrure métallique ou de nitrure métallique sous stoechiométrique,a thin blocking layer directly on the functional layer, the layer comprising a metal layer of thickness less than or equal to 5 nm and / or a layer with a thickness less than or equal to at 10 nm, which is based on oxide or metal oxynitride or stoichiometric metal nitride,
- éventuellement une couche de protection en oxyde métallique dopé ou non choisie parmi l'oxyde de zinc, l'oxyde mixte d'étain et de zinc, d'étain et d'indium, d'indium et de zinc,optionally a doped or non-doped metal oxide protective layer selected from among zinc oxide, tin and zinc mixed oxide, tin and indium oxide, indium oxide and zinc oxide;
- et une surcouche en oxyde conducteur éventuellement mixte choisi parmi l'oxyde d'indium, l'oxyde de zinc, l'oxyde d'étain et/ ou une surcouche d'épaisseur inférieure ou égale à 10 nm en oxyde sous stoechiométrique choisi parmi l'oxyde de molybdène, oxyde de nickel, oxyde d'aluminium, oxyde de titane, oxyde de zirconium, oxyde de tantale, oxyde de silicium, oxyde d'argent, d'or, de platine, de palladium, la gravure étant réalisée en une étape et avec une solution d'acide choisie parmi l'acide nitrique HNO3 pur en ou mélange avec de l'acide chlorhydrique HCl ou l'acide chlorhydrique pur en ou mélange avec du trichlorure de fer FeCl3 autrement dit chlorure de Fe III.and an optionally conducting conductive oxide overcoat selected from indium oxide, zinc oxide, tin oxide and / or an overlayer with a thickness of less than or equal to 10 nm of stoichiometric oxide selected from molybdenum oxide, nickel oxide, aluminum oxide, titanium oxide, zirconium oxide, tantalum oxide, silicon oxide, silver oxide, gold oxide, platinum oxide and palladium oxide, the etching being carried out in one step and with an acid solution selected from pure nitric acid HNO3 in or mixture with hydrochloric acid HCl or pure hydrochloric acid in or mixture with iron trichloride FeCl3 in other words Fe III chloride.
Naturellement la couche d'arrêt de gravure peut être la couche de fond déjà présentée plus haut.Naturally the etching stop layer may be the primer already presented above.
On peut ainsi graver à façon des motifs de gravure dont la largeur et l'espacement varient en fonction des applications. La gravure peut être réalisée en présence d'au moins une bande métallique d'amenée de courant, sous forme d'une monocouche de préférence à base de l'un des métaux suivants Mo, Al, Cr, Nd ou en alliage tel que MoCr, AlNd ou en multicouche telle que MoCr/ Al/ MoCr.It is thus possible to etch engraving patterns whose width and spacing vary according to the applications. The etching may be carried out in the presence of at least one metal strip of current feed, in the form of a monolayer preferably based on one of the following metals Mo, Al, Cr, Nd or alloy such as MoCr , AlNd or multilayer such as MoCr / Al / MoCr.
L'invention a trait également à un dispositif électroluminescent organique comportant au moins un substrat porteur, notamment verrier, muni d'au moins une couche électroluminescente organique disposée entre l'électrode inférieure telle que décrite précédemment et une électrode dite supérieure.The invention also relates to an organic electroluminescent device comprising at least one carrier substrate, in particular glass substrate, provided with at least one organic electroluminescent layer disposed between the lower electrode as described above and a so-called upper electrode.
Le dispositif OLED peut produire de la lumière monochromatique, notamment bleue et/ou verte et/ou rouge, ou être adaptée pour produire une lumière blanche.The OLED device can produce monochromatic light, especially blue and / or green and / or red, or be adapted to produce white light.
Pour produire de la lumière blanche plusieurs méthodes sont possibles : mélange de composés (émission rouge vert, bleu) dans une seule couche, empilement sur la face des électrodes de trois structures organiques (émission
rouge vert, bleu) ou de deux structures organiques (jaune et bleu), série de trois structures organiques adjacentes (émission rouge vert, bleu), sur la face des électrodes une structure organique dans une couleur et sur l'autre face des couches luminophores adaptées. Le dispositif OLED peut comprendre une pluralité de systèmes électroluminescents organiques adjacents, chacun émetteur de lumière blanche ou, par série de trois, de lumière rouge, verte et bleu, les systèmes étant par exemple connectés en série.To produce white light several methods are possible: mixture of compounds (emission red green, blue) in a single layer, stack on the face of the electrodes of three organic structures (emission red green, blue) or two organic structures (yellow and blue), a series of three adjacent organic structures (emission red green, blue), on the face of the electrodes an organic structure in one color and on the other side of the phosphor layers adapted. The OLED device may comprise a plurality of adjacent organic electroluminescent systems, each emitting white light or, in a series of three, red, green and blue light, the systems being for example connected in series.
Le dispositif peut faire partie d'un vitrage multiple, notamment un vitrage sous vide ou avec lame d'air ou autre gaz. Le dispositif peut aussi être monolithique, comprendre un vitrage monolithique pour gagner en compacité et/ ou en légèreté.The device can be part of a multiple glazing, including a vacuum glazing or with air knife or other gas. The device can also be monolithic, include a monolithic glazing to gain compactness and / or lightness.
Le système OLED peut être collé ou de préférence feuilleté avec un autre substrat plan dit capot, de préférence transparent tel qu'un verre, à l'aide d'un intercalaire de feuilletage, notamment extraclair.The OLED system may be glued or preferably laminated with another flat substrate said cover, preferably transparent such as a glass, using a lamination interlayer, in particular extraclair.
Les vitrages feuilletés sont usuellement constitués de deux substrats rigides entre lesquels est disposée une feuille ou une superposition de feuilles de polymère du type thermoplastique. L'invention inclut aussi les vitrages feuilletés dits « asymétriques » utilisant un substrat notamment porteur rigide du type verre et comme substrat couvrant une ou des feuilles protectrices de polymère.The laminated glazings usually consist of two rigid substrates between which is disposed a sheet or a superposition of polymer sheets of the thermoplastic type. The invention also includes so-called "asymmetrical" laminated glazings using a particularly rigid carrier substrate of the glass type and as a substrate covering one or more protective polymer sheets.
L'invention inclut aussi les vitrages feuilletés ayant au moins une feuille intercalaire à base d'un polymère adhésif simple ou double face du type élastomère (c'est-à-dire ne nécessitant pas une opération de feuilletage au sens classique du terme, feuilletage imposant un chauffage généralement sous pression pour ramollir et rendre adhérente la feuille intercalaire thermoplastique) .The invention also includes laminated glazings having at least one interlayer sheet based on a single or double-sided adhesive polymer of the elastomer type (that is to say not requiring a lamination operation in the conventional sense of the term, laminating imposing heating generally under pressure to soften and adhere the thermoplastic interlayer sheet).
Dans cette configuration, le moyen pour solidariser capot et substrat porteur peut être alors un intercalaire de feuilletage notamment une feuille de matière thermoplastique par exemple en polyuréthane (PU), en polyvinylbutyral (PVB), en éthylène vinylacétate (EVA), ou être en résine pluri ou monocomposants réticulables thermiquement (époxy, PU) ou aux ultraviolets (époxy, résine acrylique). Elle est de préférence (sensiblement) de même dimension que le capot et le substrat.
L'intercalaire de feuilletage peut permettre d'éviter un fléchissement du capot notamment pour des dispositifs de grande dimension par exemple de surface supérieure à 0,5m2.In this configuration, the means for securing the cover and the carrier substrate may then be a lamination interlayer, in particular a sheet of thermoplastic material, for example polyurethane (PU), polyvinyl butyral (PVB), ethylene vinyl acetate (EVA), or resin multi-component or one-component heat-curable (epoxy, PU) or ultraviolet (epoxy, acrylic resin). It is preferably (substantially) of the same size as the cover and the substrate. The lamination interlayer may make it possible to prevent bending of the bonnet, particularly for devices of large dimensions, for example with an area greater than 0.5 m 2 .
L'EVA offre en particulier de multiples avantages : - il n'est pas ou peu chargé en eau en volume, il ne nécessite pas nécessairement une mise sous pression élevée pour sa mise en œuvre.In particular, the EVA offers many advantages: - it is not or little loaded with water in volume, it does not necessarily require a high pressurization for its implementation.
Un intercalaire de feuilletage thermoplastique peut être préféré à une couverture en résine coulée car elle est à la fois plus facile à mettre en oeuvre, plus économique et est éventuellement plus étanche.A thermoplastic lamination interlayer may be preferred to a cast resin cover because it is both easier to implement, more economical and possibly more watertight.
L'intercalaire comporte éventuellement un réseau de fils électroconducteurs incrustés sur sa surface, dite interne, en regard de l'électrode supérieure, et/ ou une couche électroconductrice ou des bandes électroconductrices sur la surface interne du capot. Le système OLED peut être disposé de préférence à l'intérieur du double vitrage, avec une lame de gaz notamment inerte (argon par exemple).The interlayer optionally comprises a network of electroconductive son embedded in its so-called internal surface facing the upper electrode, and / or an electroconductive layer or electroconductive strips on the inner surface of the cover. The OLED system can be preferably placed inside the double glazing, with a particularly inert gas blade (argon for example).
L'électrode supérieure peut être une couche électroconductrice avantageusement choisie parmi les oxydes métalliques notamment les matériaux suivants : - l'oxyde de zinc dopé, notamment à l'aluminium ZnO: Al ou au galliumThe upper electrode may be an electroconductive layer advantageously chosen from metal oxides, especially the following materials: doped zinc oxide, in particular aluminum ZnO: Al or gallium
ZnO: Ga, - ou encore l'oxyde d'indium dopé, notamment à l'étain (ITO) ou l'oxyde d'indium dopé au zinc (IZO).ZnO: Ga, - or doped indium oxide, especially with tin (ITO) or zinc doped indium oxide (IZO).
On peut utiliser plus généralement tout type de couche électroconductrice transparente, par exemple une couche dite « TCO » (pour « Transparent Conductive Oxyde » en anglais), par exemple d'épaisseur entre 20 et 1000 nm.It is more generally possible to use any type of transparent electroconductive layer, for example a so-called "TCO" (for "Transparent Conductive Oxide" in English) layer, for example of thickness between 20 and 1000 nm.
On peut aussi utiliser une couche mince métallique dite « TCC » (pour « Transparent conductive coating » en anglais) par exemple en Ag, Al, Pd, Cu, Pd, Pt In, Mo, Au et typiquement d'épaisseur entre 5 et 150 nm en fonction de la transmission/réflexion lumineuse souhaitée.It is also possible to use a thin metallic layer called "TCC" (for "Transparent Conductive Coating" in English) for example in Ag, Al, Pd, Cu, Pd, Pt In, Mo, Au and typically of thickness between 5 and 150. nm depending on the desired transmission / light reflection.
L'électrode n'est pas forcément continue. L'électrode supérieure peut comprendre une pluralité de bandes conductrices ou de fils conducteurs (grille).
En outre, il peut être avantageux d'ajouter un revêtement ayant une fonctionnalité donnée sur la face opposée du substrat porteur de l'électrode selon l'invention ou sur un substrat additionnel. Il peut s'agir d'une couche anti-buée (à l'aide d'une couche hydrophile), anti-salissures (revêtement photocatalytique comprenant du ΗO2 au moins partiellement cristallisé sous forme anatase), ou encore un empilement anti-reflet du type par exemple Si3N4/Siθ2/Si3N4/Siθ2 ou encore un filtre aux UV comme par exemple une couche d'oxyde de titane (TiO2). Il peut en outre s'agir d'une ou plusieurs couches luminophores, d'une couche miroir, d'au moins une zone diffusante d'extraction de lumière.The electrode is not necessarily continuous. The upper electrode may comprise a plurality of conductive strips or conductive wires (grid). In addition, it may be advantageous to add a coating having a given functionality on the opposite side of the carrier substrate of the electrode according to the invention or on an additional substrate. It may be an anti-fog layer (using a hydrophilic layer), anti-fouling (photocatalytic coating comprising at least partially crystallized ΗO2 in anatase form), or an anti-reflection stack of type for example Si3N4 / SiO2 / Si3N4 / SiO2 or a UV filter such as a titanium oxide layer (TiO2). It may also be one or more phosphor layers, a mirror layer, at least one scattering zone light extraction.
L'invention concerne également les diverses applications que l'on peut trouver à ces dispositifs OLEDS, formant une ou des surfaces lumineuses transparentes et/ ou réfléchissantes (fonction miroir) disposés aussi bien en extérieur qu'en intérieur. Le dispositif peut former (choix alternatif ou cumulatif) un système éclairant, décoratif, architectural, etc .), un panneau d'affichage de signalisation - par exemple du type dessin, logo, signalisation alphanumérique, notamment un panneau d'issue de secours.The invention also relates to the various applications that can be found in these OLEDS devices, forming one or more transparent and / or reflecting luminous surfaces (mirror function) arranged both outside and inside. The device can form (alternative or cumulative choice) a lighting system, decorative, architectural, etc.), a signage display panel - for example of the type drawing, logo, alphanumeric signaling, including an emergency exit sign.
Le dispositif OLED peut être arrangé pour produire une lumière uniforme, notamment pour un éclairage homogène, ou pour produire différentes zones lumineuses, de même intensité ou d'intensité distincte.The OLED device can be arranged to produce a uniform light, especially for uniform illumination, or to produce different light areas of the same intensity or distinct intensity.
Inversement, on peut rechercher un éclairage différencié. Le système électroluminescent organique (OLED) produit une zone de lumière directe, et une autre zone lumineuse est obtenue par extraction du rayonnement OLED qui est guidé par réflexions totales dans l'épaisseur du substrat choisi verrier.Conversely, one can seek a differentiated lighting. The organic electroluminescent system (OLED) produces a direct light region, and another light zone is obtained by extraction of OLED radiation which is guided by total reflections in the thickness of the selected glass substrate.
Pour former cette autre zone lumineuse, la zone d'extraction peut être adjacente au système OLED ou de l'autre côté du substrat. La ou les zones d'extraction peuvent servir par exemple pour renforcer l'éclairage fourni par la zone de lumière directe, notamment pour un éclairage de type architectural, ou encore pour signaler le panneau lumineux. La ou les zones d'extraction sont de préférence sous forme de bande(s) de lumière, notamment uniforme(s), et préférentiellement disposée(s) en périphérie d'une des faces. Ces bandes peuvent par exemple former un cadre très lumineux.
L'extraction est obtenue par l'un au moins des moyens suivants disposés dans la zone extraction : une couche diffusante, de préférence à base de particules minérales et de préférence avec un liant minéral, le substrat rendu diffusant, notamment texture ou rugueux. Les deux faces principales peuvent avoir chacune une zone de lumière directe.To form this other light zone, the extraction zone may be adjacent to the OLED system or on the other side of the substrate. The extraction zone (s) can be used, for example, to reinforce the illumination provided by the direct light zone, in particular for an architectural type of lighting, or to signal the luminous panel. The extraction zone or zones are preferably in the form of band (s) of light, in particular uniform (s), and preferably arranged (s) on the periphery of one of the faces. These strips can for example form a very bright frame. The extraction is obtained by at least one of the following means arranged in the extraction zone: a diffusing layer, preferably based on mineral particles and preferably with a mineral binder, the substrate made diffusing, in particular texture or rough. The two main faces may each have a direct light area.
Lorsque les électrodes et la structure organique du système OLED sont choisies transparentes, on peut réaliser notamment une fenêtre éclairante. L'amélioration de l'éclairage de la pièce n'est alors pas réalisée au détriment de la transmission lumineuse. En limitant en outre la réflexion lumineuse notamment du côté extérieur de la fenêtre éclairante, cela permet aussi de contrôler le niveau de réflexion par exemple pour respecter les normes anti- éblouissement en vigueur pour les façades de bâtiments.When the electrodes and the organic structure of the OLED system are chosen to be transparent, an illuminating window can in particular be produced. Improved lighting of the room is not achieved at the expense of light transmission. By also limiting the light reflection, especially on the outside of the illuminating window, this also makes it possible to control the level of reflection, for example to comply with the anti-glare standards in force for building facades.
Plus largement, le dispositif, notamment transparent par partie(s) ou entièrement, peut être : destiné au bâtiment, tel qu'un vitrage lumineux extérieur, une cloison lumineuse interne ou une (partie de) porte vitrée lumineuse notamment coulissante, destiné à un véhicule de transport, tel qu'un toit lumineux, une (partie de) vitre latérale lumineuse, une cloison lumineuse interne d'un véhicule terrestre, aquatique ou aérien (voiture, camion train, avion, bateau, etc), destiné au mobilier urbain ou professionnel tel qu'un panneau d'abribus, une paroi d'un présentoir, d'un étalage de bijouterie ou d'une vitrine, une paroi d'une serre, une dalle éclairante, destiné à l'ameublement intérieur, un élément d'étagère ou de meuble, une façade d'un meuble, une dalle éclairante, un plafonnier, une tablette éclairante de réfrigérateur, une paroi d'aquarium, destiné au rétro-éclairage d'un équipement électronique, notamment d'écran de visualisation ou d'affichage, éventuellement double écran, comme un écran de télévision ou d'ordinateur, un écran tactile.
On peut par exemple concevoir un rétro-éclairage d'un écran double face avec des tailles différentes, l'écran de petite taille étant de préférence associé à une lentille de Fresnel pour concentrer la lumière.More broadly, the device, in particular transparent part (s) or entirely, may be: intended for the building, such as an external light glazing, an internal light partition or a (part of) light glass door including sliding, for a transport vehicle, such as a bright roof, a (part of) side window light, an internal light partition of a land vehicle, aquatic or aerial (car, truck train, plane, boat, etc.), intended for street furniture or professional such as a bus shelter panel, a wall of a display, a jewelery display or a showcase, a wall of a greenhouse, an illuminating slab, intended for interior furnishing, an element of a shelf or furniture, a front of a piece of furniture, an illuminating slab, a ceiling lamp, a refrigerator lighting tablet, an aquarium wall, intended for the backlighting of electronic equipment, in particular a display screen or display, possibly dual screen such as a television or computer screen, a touch screen. For example, it is possible to design a backlighting of a double-sided screen with different sizes, the small screen being preferably associated with a Fresnel lens for concentrating the light.
Pour former un miroir éclairant, l'une des électrodes peut être réfléchissante ou un miroir peut être disposé sur la face opposée au système OLED, si l'on souhaite privilégier un éclairage d'un seul côté dans la zone de lumière directe.To form an illuminating mirror, one of the electrodes may be reflective or a mirror may be disposed on the opposite side of the OLED system, if it is desired to favor illumination of only one side in the direct light region.
Il peut être aussi un miroir. Le panneau lumineux peut servir à l'éclairage d'une paroi de salle de bains ou d'un plan de travail de cuisine, être un plafonnier.It can also be a mirror. The illuminated panel can be used for lighting a bathroom wall or a kitchen worktop, to be a ceiling lamp.
Les OLED sont généralement dissociés en deux grandes familles suivant le matériau organique utilisé.OLEDs are generally dissociated into two major families depending on the organic material used.
Si les couches électroluminescentes sont des petites molécules, on parle de SM-OLED (« Small Molécule Organic Light Emitting Diodes » en anglais). Le matériau électroluminescent organique de la couche mince est constitué à partir de molécules évaporées comme par exemple le complexe d'AlÇj3 (tris(8- hydroxyquinoline) aluminium), le DPVBi (4,4'-(diphényl vinylène biphényl)), leIf the electroluminescent layers are small molecules, it is called SM-OLED ("Small Molecule Organic Light Emitting Diodes"). The organic electroluminescent material of the thin layer consists of evaporated molecules such as, for example, the AlCl 3 complex (tris (8-hydroxyquinoline) aluminum), the DPVBi (4,4 '- (diphenylvinylene biphenyl)), the
DMQA (diméthyl quinacridone) ou le DCM (4-(dicyanométhylène)-2-méthyl-6-(4- diméthylaminostyryl)-4H-pyran). La couche émissive peut être aussi par exemple par une couche de 4,4f,4fl-tri(N-carbazolyl) triphenylamine (TCTA) dopé au fac tris(2-phenylpyridine) iridium [Ir(ppy)3] .DMQA (dimethyl quinacridone) or DCM (4- (dicyanomethylene) -2-methyl-6- (4-dimethylaminostyryl) -4H-pyran). The emissive layer may also be for example a layer of 4.4 f, fl 4 -tri (N-carbazolyl) TRIPHENYLAMINE (TCTA) doped with fac tris (2-phenylpyridine) iridium [Ir (ppy) 3].
D'une manière générale la structure d'une SM-OLED consiste en un empilement de couches d'injection de trous ou « HIL » pour « HoIe InjectionIn general, the structure of an SM-OLED consists of a stack of hole injection layers or "HIL" for "HoIe Injection
Layer » en anglais, couche de transport de trous ou « HTL » pour « HoIe Transporting Layer » en anglais, couche émissive, couche de transport d'électron ou « ETL » pour « Electron Transporting Layer » en anglais."Layer" in English, hole transport layer or "HTL" for "HoIe Transporting Layer" in English, emissive layer, electron transport layer or "ETL" for "Electron Transporting Layer" in English.
Un exemple de couche d'injection de trous est le phthalocyanine de cuivre (CuPC), la couche de transport de trous peut être par exemple le N, N1- Bis(naphthalen- l -yl)-N,N'-bis(phenyl)benzidine (alpha-NPB). La couche de transport d'électron peut être composée de tris-(8- hydroxyquinoline) aluminum (Alq3) ou le bathophenanthroline (BPhen).An example of a hole injection layer is copper phthalocyanine (CuPC), the hole transport layer may be, for example, N, N 1 -Bis (naphthalenyl) -N, N'-bis ( phenyl) benzidine (alpha-NPB). The electron transport layer can be composed of tris- (8-hydroxyquinoline) aluminum (Alq3) or bathophenanthroline (BPhen).
L'électrode supérieure peut être une couche de Mg/ Al ou LiF/ Al.
Des exemples d'empilements électroluminescents organiques sont par exemple décrits dans le document US6645645.The upper electrode may be a layer of Mg / Al or LiF / Al. Examples of organic electroluminescent stacks are for example described in US6645645.
Si les couches électroluminescentes organiques sont des polymères, on parle de PLED (« Polymer Light Emitting Diodes » en anglais). Le matériau électroluminescent organique de la couche mince est constitué à partir de CES polymères (pLEDs) comme par exemple le PPV pour poly[pαrα-phénylène vinylène), le PPP (poly[pαrα-phénylène), le DO-PPP (poly(2- décyloxy- l ,4-phénylène), le MEH-PPV (poly[2-(2'-éthylhexyloxy)-5-méthoxy- l ,4- phénylène vinylène)]), le CN-PPV (poly[2,5-bis(hexyloxy)- l ,4-phénylène-( l - cyanovinylène)]) ou les PDAF (poly (dialkylfluorène) , la couche de polymère est associée également à une couche qui favorise l'injection des trous (HIL) constituée par exemple du PEDT/ PSS (poly (3,4-ethylène-dioxythiophène/ poly(4-styrène sulfonate)).If the organic electroluminescent layers are polymers, it is called PLED ("Polymer Light Emitting Diodes" in English). The organic electroluminescent material of the thin layer consists of these polymers (pLEDs) such as for example PPV for poly [pαrα-phenylene vinylene), PPP (poly [pαrα-phenylene), DO-PPP (poly (2 decyloxy-1,4-phenylene), MEH-PPV (poly [2- (2'-ethylhexyloxy) -5-methoxy-1,4-phenylene vinylene)]), CN-PPV (poly [2,5] -bis (hexyloxy) -1,4-phenylene- (1-cyanovinylene)]) or PDAF (poly (dialkylfluorene), the polymer layer is also associated with a layer which promotes the injection of holes (HIL) constituted by example of PEDT / PSS (poly (3,4-ethylene-dioxythiophene / poly (4-styrene sulfonate)).
Un exemple de PLED consiste en un empilement suivant : - une couche de poly(2,4-ethilene dioxythiophene) dopé au poly(styren sulphonate) (PEDOT :PSS) de 50nm,An example of PLED consists of a following stack: a layer of poly (2,4-ethylene dioxythiophene) doped with poly (styren sulphonate) (PEDOT: PSS) of 50 nm,
- une couche de phenyl poly (p-phenylenevynilene) Ph-PPV de 50nm. L'électrode supérieure peut être une couche de Ca.a phenyl poly (p-phenylenevinylenene) Ph-PPV layer of 50 nm. The upper electrode may be a layer of Ca.
L'invention sera maintenant décrite plus en détails à l'aide d'exemples non limitatifs et de figures :The invention will now be described in more detail using non-limiting examples and figures:
La figure 1 est une vue schématique en coupe d'un dispositif électroluminescent organique, pour un (rétro) éclairage uniforme, lequel comprend une électrode inférieure conforme à l'invention dans un premier mode de réalisation, la figure 2 est une vue partielle montrant cette électrode inférieure plus en détail, la figure 3 illustre un procédé de fabrication et de gravure de cette électrode, la figure 4 illustre une vue schématique en coupe d'un dispositif électroluminescent organique, pour un (rétro)éclairage uniforme, lequel est arrangé sur plusieurs zones, et comprend une électrode inférieure conforme à l'invention dans un deuxième mode de réalisation, les figures 5 et 6 illustrent des vues schématiques de dessus
montrant deux schémas de connexions électriques d'électrodes similaires à celles utilisées dans le deuxième mode de réalisation, la figure 7 représente une vue schématique en coupe latérale d'un dispositif électroluminescent organique utilisé pour un éclairage différencié.FIG. 1 is a schematic sectional view of an organic electroluminescent device, for a uniform (back) illumination, which comprises a lower electrode according to the invention in a first embodiment, FIG. 2 is a partial view showing this lower electrode in more detail, Figure 3 illustrates a method of manufacturing and etching of this electrode, Figure 4 illustrates a schematic sectional view of an organic electroluminescent device, for a (retro) uniform illumination, which is arranged on several zones, and comprises a lower electrode according to the invention in a second embodiment, FIGS. 5 and 6 illustrate schematic views from above showing two diagrams of electrical electrode connections similar to those used in the second embodiment, Figure 7 shows a schematic side sectional view of an organic electroluminescent device used for differentiated illumination.
On précise que par un souci de clarté les différents éléments des objets (y compris les angles) représentés ne sont pas nécessairement reproduits à l'échelle.It is specified that for the sake of clarity the various elements of the objects (including angles) represented are not necessarily reproduced on the scale.
La figure 1 est volontairement très schématique, elle représente en coupe un dispositif électroluminescent organique 10 (à émission à travers le substrat ou « bottom émission » en anglais) comprenant un substrat plan de verre silico- sodo-calcique 1 , clair ou extraclair, de 2, 1 mm d'épaisseur, avec des première et deuxième faces principales 1 1 , 12. La première face principale 1 1 comporte :FIG. 1 is deliberately very schematic, it shows in section an organic electroluminescent device 10 (emission through the substrate or "bottom emission" in English) comprising a planar substrate of sand-soda-lime glass 1, clear or extraclear, of 2, 1 mm thick, with first and second main faces 1 1, 12. The first main face 1 1 comprises:
- une couche de fond 2, déposée directement sur la première face principale 1 1 , faisant office également d'arrêt de gravure humide, en nitrure de silicium, d'épaisseur entre 10 nm et 80 nm, et couvrant sensiblement la totalité de la première face principale 1 1 ,a bottom layer 2, deposited directly on the first main face 1 1, also acting as a wet etching stop, made of silicon nitride, with a thickness between 10 nm and 80 nm, and covering substantially all of the first main face 1 1,
- une électrode inférieure 3, déposée directement sur la couche de fond 2, gravée, choisie transparente, comportant un empilement de couches (voir figure 2) du type :a lower electrode 3 deposited directly on the transparent, chosen, etched bottom layer 2, comprising a stack of layers (see FIG. 2) of the type:
- une couche de contact 31 choisie parmi ZnOx dopée ou non, SnxZn7O2, ITO ou IZO,- a contact layer 31, chosen from ZnO x doped or not, Zn x Sn 2 O 7, ITO or IZO,
- une couche fonctionnelle 32 en argent de préférence pur, directement sur la couche de contact 31 , - une fine couche de blocage 32' directement sur la couche fonctionnelle 32, couche métallique obtenue de préférence par une cible métallique avec un plasma neutre ou en nitrure et/ ou oxyde d'un ou plusieurs métaux tels que Ti, Ni, Cr, obtenue de préférence par une cible céramique avec un plasma neutre, - un revêtement formé :a preferably pure silver functional layer 32, directly on the contact layer 31, a thin blocking layer 32 'directly on the functional layer 32, a metallic layer preferably obtained by a metal target with a neutral or nitride plasma and / or oxide of one or more metals such as Ti, Ni, Cr, preferably obtained by a ceramic target with a neutral plasma, - a coating formed:
- d'une couche de protection 33 choisie parmi ZnOx, SnxZnyOz, ITO ou IZO, la couche de contact et la couche de protection contre l'eau et/ ou l'oxygène étant de nature identique,
- d'une surcouche 34 d'adaptation du travail de sortie, soit de préférence l'empilement ZnO :A1/Ag/Ti, TiOx ou NiCr/- a protective layer 33 selected from ZnO, Zn x Sn y O z, ITO or IZO, the contact layer and the protective layer against water and / or oxygen being identical in nature, an overlay 34 for adapting the output work, preferably the ZnO stack: Al / Ag / Ti, TiOx or NiCr /
ZnO :A1/ITO d'épaisseurs respectives 5 à 20 nm pour le ZnO :A1,ZnO: A1 / ITO of respective thicknesses 5 to 20 nm for ZnO: A1,
5 à 15 nm pour l'argent, 0,5 à 2 nm pour le TiOx, Ti, NiCr, 5 à 20 nm pour le ZnO :A1, 5 à 20 nm pour l'ITO,5 to 15 nm for silver, 0.5 to 2 nm for TiOx, Ti, NiCr, 5 to 20 nm for ZnO: A1, 5 to 20 nm for ITO,
- un système électroluminescent organique 4, par exemple un SM- OLED de structure suivante :an organic electroluminescent system 4, for example an SM-OLED of following structure:
- une couche en alpha-NPD,an alpha-NPD layer,
- une couche en TCTA + Ir(ppy)3, - une couche en BPhen,a TCTA + Ir (ppy) 3 layer, a BPhen layer,
- une couche en LiF, une électrode supérieure réfléchissante 5, notamment métallique notamment à base d'argent ou d'aluminium.a LiF layer, a reflecting top electrode 5, in particular a metal electrode, in particular based on silver or aluminum.
L'ensemble des couches 2 à 5 a été déposé par pulvérisation cathodique assistée par champ magnétique, à température ambiante.The set of layers 2 to 5 was deposited by magnetic field sputtering at room temperature.
L'électrode inférieure 3 présente les caractéristiques suivantes :The lower electrode 3 has the following characteristics:
- une résistance carré inférieure ou égale à 5 Ω/carré,a square resistance less than or equal to 5 Ω / square,
- une transmission lumineuse TL supérieure ou égale à 70% (mesure sur pleine couche, avant la structuration), et une réflexion lumineuse RL inférieure ou égale à 20%,a TL light transmission greater than or equal to 70% (measured on a full layer, before structuring), and a luminous reflection RL less than or equal to 20%,
- une rugosité RMS (ou Rq) inférieure ou égale à 3 nm mesurée par interférométrie optique, sur un micromètre carré par microscopie à force atomique.- An RMS roughness (or Rq) less than or equal to 3 nm measured by optical interferometry, on a square micrometer by atomic force microscopy.
Pour Si3N4 25nm/ZnO:Al ionm/Ag i2nm/Tiinm/ ZnO:Al2onm/IT 2onm, on obtient une TL de 83%, une résistance carré stable, une rugosité RMS de 1 ,3 nm. La couche de Ti est déposée par pulvérisation cathodique dans une atmosphère inerteFor Si 3 N 4 25nm / ZnO: Al 2 O 3 / Ag 2nm / Tiinm / ZnO: Al 2 onm / IT 2 onm, a TL of 83%, a stable square resistance, an RMS roughness of 1.3 nm are obtained. The Ti layer is deposited by sputtering in an inert atmosphere
(c'est-à-dire sans introduction volontaire d'oxygène ou d'azote) constituée de gaz noble (He, Ne, Xe, Ar, Kr).(that is to say without voluntary introduction of oxygen or nitrogen) consisting of noble gas (He, Ne, Xe, Ar, Kr).
Les conditions de dépôt pour chacune des couches sont de préférence les suivantes :The deposition conditions for each of the layers are preferably as follows:
• la couche à base de Si3N4 est déposée par pulvérisation réactive à l'aide d'une cible en silicium dopée à l'aluminium, sous une pression de 0,8 Pa dans une atmosphère argon/azote,
• la couche à base d'argent est déposée à l'aide d'une cible en argent, sous une pression de 0,8 Pa dans une atmosphère d'argon pur,The Si3N4-based layer is deposited by reactive sputtering using an aluminum doped silicon target at a pressure of 0.8 Pa in an argon / nitrogen atmosphere, The silver-based layer is deposited using a silver target, at a pressure of 0.8 Pa in a pure argon atmosphere,
• la couche de Ti est déposée à l'aide d'une cible titane, sous une pression de 0,8 Pa dans une atmosphère d'argon pur, • les couches à base de ZnO sont déposées par pulvérisation réactive à l'aide d'une cible de zinc dopé aluminium, sous une pression de 0,3 Pa et dans une atmosphère argon /oxygène,The Ti layer is deposited using a titanium target, at a pressure of 0.8 Pa in a pure argon atmosphere, the ZnO-based layers are deposited by reactive sputtering using an aluminum doped zinc target under a pressure of 0.3 Pa and in an argon / oxygen atmosphere,
• la couche d'ITO est déposée à l'aide d'une cible céramique dans une atmosphère argon/ oxygène. Pour une série de trois échantillons, chacun porteur de cet empilement• The ITO layer is deposited using a ceramic target in an argon / oxygen atmosphere. For a series of three samples, each carrying this stack
Si3N4 25nm/ZnO:Al ionm/Ag i2nm/Tiinm/ ZnO:Al2onm/IT 2onm, on obtient respectivement une résistance carré de 4,35 Ohm/carré, de 4,37 Ohm/carré, de 4,44 Ohm/carré soit un écart maximal de 0, 1 1 et une résistance carré moyenne de 4,39 Ohm/carré.Si3N 4 25nm / ZnO: Al 2 O / Ag 2nm / Tiinm / ZnO: Al 2 onm / IT 2 onm, a square resistor of 4.35 Ohm / square, 4.37 Ohm / square, 4.44 Ohm / square, is obtained respectively. Ohm / square is a maximum deviation of 0, 1 1 and a mean square resistance of 4.39 Ohm / square.
Pour une série de trois échantillons comparatifs chacun porteur de cet empilement sans la fine couche de blocage, on obtient respectivement une résistance carré de 4,4 Ohm/carré, de 4,75 Ohm/carré, de 4,71 Ohm/carré soit un écart maximal de 0,35 trois fois plus élevé et une résistance carré moyenne de 4,62For a series of three comparative samples, each carrying this stack without the thin blocking layer, a square resistance of 4.4 Ohm / square, 4.75 Ohm / square, 4.71 Ohm / square is obtained respectively. maximum deviation of 0.35 three times higher and a mean square resistance of 4.62
Ohm/ carré.Ohm / square.
Pour cette structure organique, l'électrode de l'invention permet d'améliorer le rendement en lm/W de l'OLED d'au moins 5 à 10% pour une brillance supérieure à 500 cd/m2 par rapport à une électrode en ITO.For this organic structure, the electrode of the invention makes it possible to improve the yield in lm / W of the OLED by at least 5 to 10% for a gloss greater than 500 cd / m 2 with respect to an electrode. ITO.
La première électrode peut en variante comprendre une fine couche de blocage inférieure, notamment une couche métallique obtenue de préférence par une cible métallique avec un plasma neutre ou en nitrure et/ou oxyde d'un ou plusieurs métaux tels que Ti, Ni, Cr, obtenue de préférence par une cible céramique avec un plasma neutre.The first electrode may alternatively comprise a thin lower blocking layer, in particular a metal layer preferably obtained by a metal target with a neutral plasma or nitride and / or oxide of one or more metals such as Ti, Ni, Cr, preferably obtained by a ceramic target with a neutral plasma.
La première électrode peut en variante aussi être une électrode semi- transparente. POUr Si3N4 20 nm/ZnO:Al 20 nm/Ag 30 nm/TiOXlnm OUThe first electrode may alternatively also be a semi-transparent electrode. For Si3N4 20 nm / ZnO: Al 2 0 nm / Ag 30 nm / TiOXnn OR
NiCrinm/ZnO:Al 40 nm/ITO 20 m, on obtient une TL d'environ 15%, une RL d'environ 80%, une résistance carré de 0,9 Ohm/carré.NiCrinm / ZnO: Al 40 nm / ITO 20 m gives a TL of about 15%, an RL of about 80%, a square resistance of 0.9 Ohm / square.
La première électrode peut aussi être une électrode réfléchissante. L'électrode inférieure 3 déborde sur un côté du verre 1. La bordure de la surcouche 34 est ainsi surmontée d'une première bande métallique 61 d'amenée
de courant, de préférence d'épaisseur comprise entre 0,5 à 10 μm, par exemple 5 μm, et sous forme d'une couche en l'un des métaux suivants : Mo, Al, Cr, Nd ou en alliage tel que MoCr, AlNd ou en multicouche tel que MoCr/ Al/ MoCr.The first electrode may also be a reflective electrode. The lower electrode 3 overflows on one side of the glass 1. The edge of the overlay 34 is thus surmounted by a first metal strip 61 of feed current, preferably of thickness between 0.5 to 10 microns, for example 5 microns, and in the form of a layer of one of the following metals: Mo, Al, Cr, Nd or alloy such as MoCr , AlNd or multilayer such as MoCr / Al / MoCr.
L'électrode inférieure 3 peut en variante comprendre la couche de fond et une structure répétée n fois, avec n un nombre entier supérieur ou égal à 1 , cette structure étant la suivante : la couche de contact/ la couche fonctionnelle /la fine couche de blocage/ éventuellement la couche de protection à l'eau et/ ou à l'oxygène.The lower electrode 3 may alternatively comprise the base layer and an n times repeated structure, with n being an integer greater than or equal to 1, this structure being the following: the contact layer / the functional layer / the thin layer of blocking / possibly the protective layer with water and / or oxygen.
Cette structure est surmontée d'une séquence comprenant la couche de contact/la couche fonctionnelle/ éventuellement la couche de protection à l'eau et/ou à l'oxygène /ladite surcouche.This structure is surmounted by a sequence comprising the contact layer / the functional layer / possibly the protective layer with water and / or oxygen / said overlayer.
Dans le cas d'un empilement de structures organiques par exemple émettant dans le rouge, le vert, le bleu, pour produire une lumière blanche, on peut par ailleurs répéter trois fois l'ensemble des éléments 3, 4, 5 ou bien simplement utiliser une multicouche Al/ ITO ou Ag/ éventuellement une fine couche de blocage similaire /ITO ou Ag/ éventuellement une fine de couche blocage similaire /ZnO /ITO pour les électrodes inférieures supplémentaires.In the case of a stack of organic structures for example emitting in the red, the green, the blue, to produce a white light, one can also repeat three times all the elements 3, 4, 5 or simply use a multilayer Al / ITO or Ag / optionally a thin layer of similar blocking / ITO or Ag / possibly a thin layer of similar blocking / ZnO / ITO for the additional lower electrodes.
L'électrode supérieure déborde sur le côté opposé du verre 1. Cette bordure de l'électrode supérieure 5 est éventuellement surmontée d'une deuxième bande métallique d'amenée de courant, de préférence similaire à la première bande métallique. Cette deuxième bande est préférable dans le cas où l'électrode supérieure est d'épaisseur inférieure ou égale à 50 nm.The upper electrode protrudes on the opposite side of the glass 1. This edge of the upper electrode 5 is optionally surmounted by a second metal current supply strip, preferably similar to the first metal strip. This second band is preferable in the case where the upper electrode is less than or equal to 50 nm in thickness.
La deuxième électrode peut en effet aussi être, en variante, une électrode transparente ou semi transparente et par exemple être identique à la première électrode. On rapporte éventuellement dans ce cas un réflecteur sur la deuxième face 12 par exemple une couche métallique d'épaisseur 150 nmThe second electrode may indeed also be, alternatively, a transparent or semi-transparent electrode and for example be identical to the first electrode. It is possible to report in this case a reflector on the second face 12, for example a metal layer with a thickness of 150 nm
Une feuille type EVA peut permettre de feuilleter le verre 1 à un autre verre de préférence de mêmes caractéristiques que le verre 1. Optionnellement, la face du verre 12 tournée vers la feuille d'EVA est munie d'un empilement de fonctionnalité donnée décrite plus tard.An EVA-type sheet can make it possible to flick the glass 1 to another glass, preferably with the same characteristics as the glass 1. Optionally, the face of the glass 12 facing the EVA sheet is provided with a given feature stack described above. later.
L'électrode inférieure 3 est en deux parties espacées par la zone de structuration 310 par exemple une ligne.The lower electrode 3 is in two parts spaced apart by the structuring zone 310, for example a line.
La gravure humide est utilisée pour séparer électriquement l'électrode
inférieure 3 de l'électrode supérieure du dispositif 10.Wet etching is used to electrically separate the electrode lower 3 of the upper electrode of the device 10.
Pour graver la totalité de l'électrode inférieure (couches de contact, fonctionnelle, de blocage, de protection et surcouche) suivant un même motif de gravure et en une fois, on expose les couches - préalablement en partie masquées à l'aide d'une bande adhésive résistante aux acides ou en variante avec un masque de photolithographie - à l'une des solutions acides suivantes : à l'HCl (par exemple à 40%), ou à l'HCl (par exemple à 4%), ou à un mélange de HCl (par exemple à 4%) et de HNO (par exemple à 7 %), ou à un mélange de HCl et de FeCl3, - à l'HNO3 entre 10 et 18%.To engrave the entire lower electrode (contact, functional, blocking, protective and overlayer layers) according to the same etching pattern and at once, the layers - previously partially masked with the aid of an acid-resistant adhesive tape or alternatively with a photolithography mask - with one of the following acid solutions: with HCl (for example at 40%), or with HCl (for example at 4%), or to a mixture of HCl (for example 4%) and HNO (for example 7%), or to a mixture of HCl and FeCl 3, with HNO 3 between 10 and 18%.
La gravure à l'acide chlorhydrique conduit à des profils de gravure très homogènes. Le mélange acide nitrique et acide chlorhydrique donne aussi des résultats intéressants. Le mélange de HCl et FeCl3 est utilisé de manière classique pour l'ITO.The etching with hydrochloric acid leads to very homogeneous etching profiles. The nitric acid and hydrochloric acid mixture also gives interesting results. The mixture of HCl and FeCl 3 is conventionally used for ITO.
Le profil de gravure, le temps de gravure et la résolution peuvent être adaptés en utilisant des mélanges des deux acides et en jouant sur les concentrations . On peut ainsi graver à façon des motifs de gravure dont la largeur et l'espacement varient en fonction des applications.The etching profile, the etching time and the resolution can be adapted using mixtures of the two acids and varying the concentrations. It is thus possible to etch engraving patterns whose width and spacing vary according to the applications.
Pour des écrans OLED à matrice passive de petite taille (pour affichage d'un matériel électronique de type téléphone portable, afficheur, assistant personnel, lecteur MP3....), la largeur de chaque zone gravée peut être typiquement de 10 à 20 μm, chaque zone gravée étant espacée de 10 à 50 μm par exemple de 35 μm (correspondant à la largeur de chaque zone d'électrode).For OLED displays with a small passive matrix (for displaying an electronic equipment such as a mobile phone, display, personal assistant, MP3 player, etc.), the width of each etched zone may typically be 10 to 20 μm. , each etched zone being spaced from 10 to 50 μm, for example 35 μm (corresponding to the width of each electrode zone).
Pour des écrans OLED à matrice passive de grande taille, par exemple pour affichage publicitaire, signalétique, la largeur de chaque zone gravée peut être de l'ordre de 0,5 mm et la largeur de chaque zone d'électrode peut être de quelques mm, quelques cm ou plus...For large passive matrix OLED screens, for example for advertising display, signage, the width of each engraved area may be of the order of 0.5 mm and the width of each electrode zone may be a few mm , a few cm or more ...
Pour un éclairage homogène, la largeur de chaque zone gravée peut être inférieure ou égale à 100 μm, encore plus préférentiellement à 50 μm quelle que
soit la taille de l'écran.For homogeneous illumination, the width of each engraved zone may be less than or equal to 100 μm, even more preferentially to 50 μm, whatever the size of the screen.
La figure 3 illustre un procédé de fabrication et de gravure de cette électrode.Figure 3 illustrates a method of manufacturing and etching this electrode.
Après dépôt de la couche de fond 2, de l'électrode 3 et de la couche métallique (mono ou multicouche) pour l'amenée de courant 6, on procède à la gravure de cette couche 6 avec une solution qui ne grave pas l'électrode par exemple de la soude (étape El), puis on procède à la gravure en une étape de l'électrode inférieure 3 comme déjà indiqué (étape E2), suivi du dépôt du système OLED 4 et de l'électrode supérieure 5 par exemple en Al au-dessus (étape E3).After depositing the bottom layer 2, the electrode 3 and the metal layer (monolayer or multilayer) for the current supply 6, this layer 6 is etched with a solution that does not damage the electrode for example sodium hydroxide (step E1), then one-step etching of the lower electrode 3 as already indicated (step E2), followed by the deposition of the OLED system 4 and the upper electrode 5 for example in Al above (step E3).
La figure 4 illustre une vue schématique en coupe d'un dispositif électroluminescent organique 10', pour un (rétro) éclairage uniforme, lequel est arrangé sur plusieurs zones, et comprend une électrode inférieure conforme à l'invention dans un deuxième mode de réalisation. Ce deuxième dispositif 10' diffère du premier dispositif 10 par les éléments décrits ci après.FIG. 4 illustrates a schematic sectional view of an organic electroluminescent device 10 ', for a uniform (retro) illumination, which is arranged in several zones, and comprises a lower electrode according to the invention in a second embodiment. This second device 10 'differs from the first device 10 by the elements described below.
Le dispositif 10' comprend deux systèmes électroluminescents organiques 4a et 4b adjacents, chacun émetteur de lumière de préférence blanche ou, en variante par série de trois, de lumière rouge, verte et bleue. Les systèmes 4a et 4b sont connectés en série. L'électrode inférieure est divisée principalement en deux rectangles ou carrés 3a, 3b d'une dizaine de cm de coté chacun dépassant par un côté (gauche sur la figure). Ces zones d'électrodes sont séparées par la zone de gravure 310. La deuxième zone d'électrode 3b est séparée par la zone de gravure 320 d'une zone d'électrode inférieure « résiduelle » (à droite de la figure). La première section d'électrode inférieure 3a est recouverte partiellement par une première bande métallique formant « bus bar » 61.The device 10 'comprises two adjacent organic electroluminescent systems 4a and 4b, each of which preferably emits white light or, alternatively, a series of three, of red, green and blue light. The systems 4a and 4b are connected in series. The lower electrode is divided mainly into two rectangles or squares 3a, 3b of about ten cm each side exceeding one side (left in the figure). These electrode zones are separated by the etching zone 310. The second electrode zone 3b is separated by the etching zone 320 from a "residual" lower electrode zone (to the right of the figure). The first lower electrode section 3a is partially covered by a first metal strip forming a "bus bar" 61.
L'électrode supérieure est également divisée. La première section d'électrode supérieure 5a, dépasse vers le côté droit et recouvre le bord gauche de la deuxième section d'électrode inférieure 3b. La deuxième section d'électrode supérieure 5b dépasse vers le côté droit et recouvre le bord gauche de la section d'électrode inférieure résiduelle et est recouverte par une deuxième bande métallique formant « bus bar » 62.
Les zones de gravure 310, 320 sont par exemple des bandes de largeur de 20 à 50 μm pour être quasi invisibles à l'œil nu.The upper electrode is also divided. The first upper electrode section 5a protrudes to the right side and covers the left edge of the second lower electrode section 3b. The second upper electrode section 5b protrudes to the right side and covers the left edge of the residual lower electrode section and is covered by a second metal band forming a "bus bar" 62. The etching areas 310, 320 are for example strips of width 20 to 50 microns to be almost invisible to the naked eye.
Les figures 5 et 6 illustrent des vues schématiques de dessus montrant deux schémas de connexions électriques d'électrodes 20, 20' similaires à celles qui sont utilisées dans le deuxième mode de réalisation.Figures 5 and 6 illustrate schematic top views showing two diagrams of electrode electrical connections 20, 20 'similar to those used in the second embodiment.
Dans la figure 5, trois systèmes électroluminescents organiques 4a à 4c sont connectés en série. Les zones de gravure 310 et 320 sont des bandes de largeur de 20 à 50 μm pour être quasi invisibles à l'œil nu.In FIG. 5, three organic electroluminescent systems 4a to 4c are connected in series. Etching areas 310 and 320 are strips of width 20 to 50 microns to be almost invisible to the naked eye.
L'électrode inférieure est divisée en 3 rectangles d'une dizaine de cm de largeur chacun dépassant par un côté (gauche sur la figure). Ils sont séparés par les zones de gravure 310, 320. L'électrode supérieure 5a à 5c est également divisée en trois. La première section d'électrode inférieure est recouverte partiellement par une première bande métallique formant « bus bar » 61.The lower electrode is divided into 3 rectangles of about 10 cm wide, each protruding by one side (left in the figure). They are separated by the etching areas 310, 320. The upper electrode 5a to 5c is also divided into three. The first lower electrode section is partially covered by a first metal strip forming a "bus bar" 61.
Les deux premières sections d'électrode supérieure 5a, 5b dépassent vers le côté droit et recouvre le bord gauche de la section d'électrode inférieure adjacente. La troisième section d'électrode supérieure 5c, dépasse vers le côté droit et recouvre le bord gauche d'une section d'électrode inférieure résiduelle et est recouverte partiellement par une deuxième bande métallique formant « bus bar » 62. Dans la figure 6, six systèmes électroluminescents organiques 4a à 4c,The first two upper electrode sections 5a, 5b protrude to the right side and overlap the left edge of the adjacent lower electrode section. The third upper electrode section 5c protrudes to the right side and overlaps the left edge of a residual lower electrode section and is partially covered by a second metal bus bar 62. In FIG. organic electroluminescent systems 4a to 4c,
4 'a à 4'c sont connectés en série (trois en haut, trois en bas). Les zones de gravure 310 à 330 sont à la fois latérales 310, 320 et longitudinales 330, et sont des bandes de largeur de 20 à 50 μm pour être quasi invisibles à l'œil nu.4 'to 4'c are connected in series (three at the top, three at the bottom). Etching areas 310 to 330 are both lateral 310, 320 and longitudinal 330, and are strips of width 20 to 50 microns to be almost invisible to the naked eye.
L'électrode inférieure est divisée en six carrés d'une dizaine de cm de côté chacun dépassant par un côté (gauche sur la figure). Les sections d'électrode inférieure sont séparées par les zones de gravure 310 à 330'. La première bande formant bus bar est coupée pour former un collecteur de courant avec deux bandes 61 ', 62' du côté gauche de la figure.The lower electrode is divided into six squares of about ten cm each side protruding by one side (left in the figure). The lower electrode sections are separated by the etching areas 310 to 330 '. The first busbar strip is cut to form a current collector with two strips 61 ', 62' on the left side of the figure.
L'électrode supérieure 5a à 5c, 5'a à 5'c est également divisée en six. Les deux premières sections hautes (en haut à gauche sur la figure) de l'électrode supérieure 5a à 5b dépassent vers le côté droit et recouvre le bord gauche de la troisième section de l'électrode inférieure adjacente.The upper electrode 5a to 5c, 5'a to 5'c is also divided into six. The first two upper sections (upper left in the figure) of the upper electrode 5a to 5b protrude to the right side and cover the left edge of the third section of the adjacent lower electrode.
La troisième section haute d'électrode supérieure 5b dépasse vers le côté
droit et recouvre le bord gauche de la section d'électrode inférieure résiduelle et est recouverte par une bande métallique formant 610 d'interconnexion électrique avec la troisième section basse (en bas à droite sur la figure) d'électrode.The upper third upper electrode section 5b protrudes to the side right and covers the left edge of the residual lower electrode section and is covered by a metal strip forming 610 electrical interconnection with the third lower section (bottom right in the figure) electrode.
Les deux premières sections basses (en bas à gauche sur la figure) de l'électrode supérieure 5 'a à 5T? dépassent vers le côté droit et recouvre le bord gauche de la troisième section basse de l'électrode inférieure adjacente.The first two lower sections (bottom left in the figure) of the upper electrode 5 'to 5T? protrude to the right side and overlap the left edge of the third lower section of the adjacent lower electrode.
La figure 7 représente une vue schématique en coupe latérale d'un dispositif électroluminescent organique 10 utilisé pour un éclairage différencié.Fig. 7 is a schematic side sectional view of an organic electroluminescent device 10 used for differentiated illumination.
Ce dispositif 10 comprend d'abord un substrat transparent plan, de préférence une feuille 1 en verre de préférence épaisse, par exemple de 4 ouThis device 10 firstly comprises a plane transparent substrate, preferably a preferably thick glass sheet 1, for example 4 or
6 mm, et avec un coefficient d'absorption inférieur ou égal à 2,5 m 1 dans le visible. On choisit de préférence un verre sodocalcique extraclair, de coefficient d'absorption inférieur à 0,7 m 1 dans le visible. Ce verre 1 est doté de première et deuxième faces principales parallèles 12, 1 1 et d'une tranche 13. Le dispositif est refermé dans sa partie inférieure par un capot, non illustré ici.6 mm, and with an absorption coefficient less than or equal to 2.5 m 1 in the visible. An extraclear soda-lime glass having an absorption coefficient of less than 0.7 m 1 in the visible is preferably chosen. This glass 1 has first and second parallel main faces 12, 1 1 and a wafer 13. The device is closed in its lower part by a cover, not shown here.
Le dispositif électroluminescent 10 de type OLED inclut un systèmeThe electroluminescent device 10 of the OLED type includes a system
OLED 4 disposé sur une électrode inférieure de typeOLED 4 arranged on a lower electrode type
ZnO:Al 20 nm/Ag i2 nm/Tiinm/ZnO:Al 20 nm/ITO 20 nm qui est sur une couche de fond en SiaN4 de 25 nm et agencée sur la première face principale 1 1. On définit des premières zones de lumière directe 71 , 72 de part et d'autre du verre 1.ZnO: Al 20 nm / Ag i2 nm / Tii nm / ZnO: Al 20 nm / ITO 20 nm which is on a 25 nm SiaN4 primer layer and arranged on the first main face 1 1. direct light 71, 72 on both sides of the glass 1.
La première zone de lumière directe 71 , du côté opposé au système OLED 4 par rapport au substrat 1 , couvre la partie centrale de la première face principale 12. La deuxième zone de lumière directe 72, du côté du système OLED 4, s'étend sur toute la deuxième face principale 1 1. On adapte les caractéristiques du dispositif 10 pour que la luminance Ll de la première zone de lumière directe 71 soit de préférence supérieure à la luminance L2 de la deuxième zone de lumière directe 72 (comme symbolisé par la flèche épaisse Fl et la flèche mince F2).The first direct light region 71, on the opposite side of the OLED system 4 with respect to the substrate 1, covers the central part of the first main face 12. The second direct light zone 72, on the OLED system side 4, extends over the entire second main face 1 1. The characteristics of the device 10 are adapted so that the luminance L1 of the first direct light region 71 is preferably greater than the luminance L2 of the second direct light region 72 (as symbolized by the thick arrow Fl and thin arrow F2).
Pour avoir Ll supérieure à L2, le dispositif 10 est donc à émission principale par l'électrode inférieure. Par exemple on choisit Ll égale à environ 1000 cd/m2 et L2 égale à environ 500 cd/m2 pour un confort visuel.To have L1 greater than L2, the device 10 is therefore main emission by the lower electrode. For example, we choose Ll equal to about 1000 cd / m 2 and L2 equal to about 500 cd / m 2 for visual comfort.
Le dispositif 10 est aussi une source de rayonnement guidé dans l'épaisseur du verre 1 , par réflexions totales. Le rayonnement guidé est extrait
des bords de la première face 1 1 au moyen d'une couche diffusante 7 par exemple à base de particules diffusantes minérales dispersés dans un liant minéral. On définit ainsi une troisième zone de lumière 73 formant un cadre lumineux périphérique. En variante, la couche diffusante 7 forme uniquement des bandes latérales ou des bandes longitudinales périphériques.The device 10 is also a source of radiation guided in the thickness of the glass 1, by total reflections. Guided radiation is extracted edges of the first face 1 1 by means of a diffusing layer 7 for example based on mineral diffusing particles dispersed in a mineral binder. This defines a third light zone 73 forming a peripheral light frame. As a variant, the diffusing layer 7 only forms lateral strips or peripheral longitudinal strips.
Pour favoriser l'extraction du rayonnement guidé, chacun des bords formant la tranche 13 forme avec la deuxième face principale 1 1 associée à la source de lumière 10 un angle externe supérieur à 80° et comporte un miroir 14, par exemple une couche métallique argent ou cuivre. Le dispositif 10 peut être destiné au bâtiment, être une fenêtre éclairante, une porte éclairante, une paroi de serre ou une verrière ou encore être une vitre latérale de véhicule ou un toit lumineux. La deuxième face 12 est la face intérieure (face la plus éclairante).To promote the extraction of the guided radiation, each edge forming the wafer 13 forms with the second main face 1 1 associated with the light source 10 an external angle greater than 80 ° and comprises a mirror 14, for example a metallic silver layer or copper. The device 10 may be intended for the building, be an illuminating window, a door, a greenhouse wall or a canopy or be a vehicle side window or a bright roof. The second face 12 is the inner face (the most illuminating face).
Lorsque le dispositif 10 est allumé, la zone de lumière directe 71 31 peut être apte à préserver l'intimité d'une personne à l'intérieur d'une pièce, d'un habitacle la nuit ou dans un environnement sombre. Il suffit pour cela que le flux lumineux envoyé par le vitrage soit au moins égal à celui réfléchi et renvoyé par la pièce.When the device 10 is turned on, the direct light area 71 31 may be able to preserve the privacy of a person inside a room, a cabin at night or in a dark environment. It suffices for that the luminous flux sent by the glazing is at least equal to that reflected and returned by the room.
Le dispositif 10 peut former un double vitrage, le dispositif 2 étant de préférence situé dans l'espace rempli de gaz interne entre le verre 1 et un verre additionnel éventuellement plus mince.The device 10 may form a double glazing, the device 2 being preferably located in the space filled with internal gas between the glass 1 and an optionally additional glass thinner.
Le dispositif 10 ainsi conçu peut aussi servir d'étagère transparente et éclairante, de tablette lumineuse de réfrigérateur, de cloison transparente et éclairante entre deux pièces, de paroi d'un aquarium. On peut alors adapter les caractéristiques du dispositif 10 pour que la luminance Ll de la première zone de lumière directe 71 soit sensiblement égale à la luminance L2 de la deuxième zone de lumière directe 72.The device 10 thus designed can also serve as a transparent and illuminating shelf, refrigerator light shelf, transparent partition and illuminating between two parts, wall of an aquarium. The characteristics of the device 10 can then be adapted so that the luminance L1 of the first direct light region 71 is substantially equal to the luminance L2 of the second direct light region 72.
Les zones de lumière 71 , 72 sont uniformes. Le dispositif 10 peut aussi avoir, en variante, au moins une zone de lumière directe discontinue et/ ou formant un dessin, un logo, une signalisation.The light zones 71, 72 are uniform. The device 10 may also have, alternatively, at least one discontinuous direct light zone and / or forming a drawing, a logo, a signaling.
FONCTIONS ADDITIONNELLESADDITIONAL FUNCTIONS
Comme déjà dit, il peut être judicieux de fonctionnaliser la deuxième
face du substrat 1 porteur (côté opposé au système électroluminescent organique) .As already said, it may be wise to functionalize the second face of the carrier substrate 1 (opposite side to the organic electroluminescent system).
On dépose ainsi à la surface des couches minces destinées à leur conférer une propriété particulière, comme par exemple celle qui consiste à permettre au substrat de rester le plus propre possible, quelles que soient les agressions environnementales, c'est-à-dire visant la permanence dans le temps des propriétés d'aspect et de surface, et permettant notamment d'espacer les nettoyages, en parvenant à éliminer au fur et à mesure les salissures se déposant progressivement à la surface du substrat, notamment les salissures d'origine organique comme les traces de doigts ou des produits organiques volatils présents dans l'atmosphère, ou même des salissures du type suie, poussières de pollution.Thin layers are thus deposited on the surface to give them a particular property, for example that which consists in allowing the substrate to remain as clean as possible, whatever the environmental aggressions, that is to say aimed at permanence of the surface and appearance properties over time, and in particular making it possible to space the cleanings, by succeeding in gradually eliminating the soils gradually deposited on the surface of the substrate, in particular soils of organic origin such as fingerprints or volatile organic products present in the atmosphere, or even soot-type soiling, dust pollution.
Or, on sait qu'il existe certains matériaux semi-conducteurs, à base d'oxyde métallique, qui sont aptes, sous l'effet d'un rayonnement de longueur d'onde adéquate, à initier des réactions radicalaires provoquant l'oxydation de produits organiques : on parle en général de matériaux « photo-catalytiques » ou encore « photo-réactifs ».However, it is known that there are certain semiconductor materials, based on metal oxide, which are capable, under the effect of radiation of adequate wavelength, initiating radical reactions causing the oxidation of organic products: we generally speak of "photo-catalytic" or "photo-reactive" materials.
On connaît, dans le domaine des substrats à fonction de vitrage, l'utilisation de revêtements photo-catalytiques sur substrat, qui présentent un effet « anti-salissures » marqué et que l'on puisse fabriquer de manière industrielle. Ces revêtements photo-catalytiques comportent généralement de l'oxyde de titane au moins partiellement cristallisé, incorporé audit revêtement sous forme de particules, notamment de taille comprise entre quelques nanomètres (3 ou 4) et 100 nm, préférentiellement voisin de 50 nm pour l'essentiel cristallisées sous forme anatase ou anatase/ rutile.It is known in the field of substrates with a glazing function, the use of photocatalytic coatings on substrate, which have a marked "antifouling" effect and that can be manufactured industrially. These photo-catalytic coatings generally comprise at least partially crystallized titanium oxide, incorporated in said coating in the form of particles, in particular of size ranging from a few nanometers (3 or 4) to 100 nm, preferably around 50 nm for the essential crystallized form anatase or anatase / rutile.
L'oxyde de titane fait en effet partie des semi-conducteurs qui, sous l'action de la lumière dans le domaine visible ou des ultraviolets, dégradent des produits organiques qui se déposent à leur surface.Titanium oxide is in fact part of the semiconductors which, under the action of light in the visible range or ultraviolet, degrade organic products which are deposited on their surface.
Ainsi selon un premier exemple de réalisation, le revêtement à propriété photo-catalytique résulte d'une solution à base de nanoparticules de TIO2 et d'un liant de silice (Siθ2) mésoporeuse.
Selon un deuxième exemple de réalisation, le revêtement à propriété photo-catalytique résulte d'une solution à base de nanoparticules de ΗO2 et d'un liant de silice (Siθ2) non structuré.Thus, according to a first exemplary embodiment, the photo-catalytically-active coating results from a solution based on nanoparticles of TiO 2 and a mesoporous silica (SiO 2) binder. According to a second exemplary embodiment, the photo-catalytically-active coating results from a solution based on ΗO2 nanoparticles and an unstructured silica (SiO 2) binder.
Quelle que soit la forme de réalisation du revêtement photo-catalytique, au niveau des particules d'oxyde de titane, le choix s'est porté, en outre, sur de l'oxyde de titane qui est au moins partiellement cristallisé parce qu'il a été montré qu'il était beaucoup plus performant en terme de propriété photo- catalytique que l'oxyde de titane amorphe. De préférence, il est cristallisé sous forme anatase, sous forme rutile ou sous forme d'un mélange d'anatase et de rutile.Whatever the embodiment of the photo-catalytic coating, at the level of the titanium oxide particles, the choice was furthermore made on titanium oxide which is at least partially crystallized because it has been shown to be much more efficient in terms of photocatalytic properties than amorphous titanium oxide. Preferably, it is crystallized in anatase form, in rutile form or in the form of a mixture of anatase and rutile.
La fabrication du revêtement est opérée de manière à ce que l'oxyde de titane cristallisé qu'il contient se trouve sous forme de « cristallites », c'est-à-dire de monocristaux, ayant une taille moyenne comprise entre 0,5 et 100 nm, de préférence 3 à 60 nm. C'est en effet dans cette gamme de dimension que l'oxyde de titane paraît avoir un effet photo-catalytique optimal, vraisemblablement parce que les cristallites de cette taille développent une surface active importante.The coating is produced in such a way that the crystallized titanium oxide it contains is in the form of "crystallites", that is to say single crystals, having an average size of between 0.5 and 100 nm, preferably 3 to 60 nm. It is indeed in this size range that titanium oxide appears to have an optimal photo-catalytic effect, probably because the crystallites of this size develop a large active surface.
Le revêtement à propriété photo-catalytique peut comporter également, outre l'oxyde de titane, au moins un autre type de matériau minéral, notamment sous forme d'un oxyde amorphe ou partiellement cristallisé, par exemple en oxyde de silicium (ou mélange d'oxydes), de titane, d'étain, de zirconium ou d'aluminium. Ce matériau minéral peut aussi participer à l'effet photo- catalytique de l'oxyde de titane cristallisé, en présentant lui-même un certain effet photo-catalytique, même faible par rapport à celui du ΗO2 cristallisé, ce qui est le cas de l'oxyde de titane amorphe ou partiellement cristallisé.The photocatalytically active coating may also comprise, in addition to titanium oxide, at least one other type of mineral material, especially in the form of an amorphous or partially crystalline oxide, for example silicon oxide (or a mixture of oxides), titanium, tin, zirconium or aluminum. This mineral material can also participate in the photo-catalytic effect of crystallized titanium oxide, itself having a certain photo-catalytic effect, even small compared to that of crystallized ΗO2, which is the case of the amorphous or partially crystalline titanium oxide.
On peut aussi augmenter le nombre de porteurs de charge par dopage du réseau cristallin de l'oxyde de titane, en y insérant au moins un des éléments métalliques suivants : niobium, tantale, fer, bismuth, cobalt, nickel, cuivre, ruthénium, cérium, molybdène. Ce dopage peut aussi se faire par un dopage de surface seulement de l'oxyde de titane ou de l'ensemble du revêtement, dopage de surface réalisé en recouvrant au moins une partie du revêtement d'une couche d'oxydes ou de sels
métalliques, le métal étant choisi parmi le fer, le cuivre, le ruthénium, le cérium, le molybdène, le vanadium et le bismuth.It is also possible to increase the number of charge carriers by doping the crystalline lattice of titanium oxide by inserting at least one of the following metallic elements: niobium, tantalum, iron, bismuth, cobalt, nickel, copper, ruthenium, cerium molybdenum. This doping can also be done by a surface doping only of the titanium oxide or of the entire coating, surface doping achieved by covering at least a portion of the coating with a layer of oxides or salts metal, the metal being selected from iron, copper, ruthenium, cerium, molybdenum, vanadium and bismuth.
Enfin, on peut amplifier le phénomène photo-catalytique en augmentant rendement et/ou cinétique des réactions photo-catalytiques, en recouvrant l'oxyde de titane ou au moins une partie du revêtement qui l'incorpore par un métal noble sous forme de couche mince du type platine, rhodium, argent.Finally, the photo-catalytic phenomenon can be amplified by increasing the yield and / or kinetics of the photo-catalytic reactions by covering the titanium oxide or at least a part of the coating which incorporates it with a noble metal in the form of a thin layer. platinum, rhodium, silver.
Le revêtement à propriété photo-catalytique présente également une surface extérieure à caractère hydrophile et/ ou oléophile prononcé, notamment dans le cas où le liant est minéral, ce qui amène deux avantages non négligeables : un caractère hydrophile permet un mouillage parfait de l'eau qui peut se déposer sur le revêtement, facilitant ainsi le nettoyage.The coating with photocatalytic property also has an outer surface of hydrophilic and / or oleophilic pronounced, especially in the case where the binder is inorganic, which brings two significant advantages: a hydrophilic character allows a perfect wetting of water which can be deposited on the coating, thus facilitating cleaning.
Conjointement à un caractère hydrophile, il peut aussi présenter un caractère oléophile, permettant le « mouillage » des salissures organiques qui, comme pour l'eau, tendent alors à se déposer sur le revêtement sous forme d'un film continu moins visible que des « taches » bien localisées. On obtient ainsi un effet « anti-salissures organiques » qui s'opère en deux temps : dès qu'elle se dépose sur le revêtement, la salissure est déjà peu visible. Ensuite, progressivement, elle disparaît par dégradation radicalaire amorcée par photocatalyse. L'épaisseur du revêtement est variable, elle est comprise entre quelques nanomètres et quelques micromètres, typiquement comprise 50 nm et 10 μm.Together with a hydrophilic character, it can also have an oleophilic character, allowing the "wetting" of organic soils which, as for water, then tend to deposit on the coating in the form of a continuous film less visible than " spots well localized. An "organic dirt" effect is thus obtained in two stages: as soon as it is deposited on the coating, the soil is already not very visible. Then, gradually, it disappears by radical degradation initiated by photocatalysis. The thickness of the coating is variable, it is between a few nanometers and a few microns, typically between 50 nm and 10 microns.
En fait, le choix de l'épaisseur peut dépendre de différents paramètres, notamment de l'application envisagée du substrat, ou encore de la taille des cristallites de ΗO2 dans le revêtement. Le revêtement peut également être choisi de surface plus ou moins lisse : une faible rugosité de surface peut en effet être avantageuse, si elle permet de développer une surface photo-catalytique active plus grande. Cependant, trop prononcée, elle peut être pénalisante en favorisant l'incrustation, l'accumulation des salissures.In fact, the choice of the thickness may depend on various parameters, in particular the envisaged application of the substrate, or the size of the cristallO 2 crystallites in the coating. The coating may also be chosen with a more or less smooth surface: a low surface roughness may indeed be advantageous if it makes it possible to develop a larger active photo-catalytic surface. However, too pronounced, it can be penalizing by favoring the encrustation, the accumulation of soiling.
Selon une autre variante, la fonctionnalité qui est rapportée sur l'autre face du substrat peut être constituée par un revêtement anti-reflet.According to another variant, the functionality that is reported on the other side of the substrate may be constituted by an anti-reflection coating.
Sont données ci-après les gammes préférées des épaisseurs géométriques et des indices des quatre couches de l'empilement antireflet, cet empilement étant dénommé A :
ni et/ ou ri3 sont compris entre 2,00 et 2,30, notamment entre 2, 15 et 2,25, et préférentiellement voisin de 2,20. n2 et/ OU n4 sont compris entre 1 ,35 et 1 ,65. ei est compris entre 5 et 50 nm, notamment entre 10 et 30 nm, ou entre 15 et 25 nm. e2 est compris entre 5 et 50 nm, notamment inférieur ou égal à 35 nm ou à 30 nm, en étant notamment compris entre 10 et 35 nm. e3 est compris entre 40 et 180 nm et préférentiellement entre 45 et 150 nm. - e4 est compris entre 45 et 1 10 nm et préférentiellement entre 70 etThe following are the preferred ranges of the geometric thicknesses and indices of the four layers of the antireflection stack, this stack being referred to as A: ni and / or ri3 are between 2.00 and 2.30, in particular between 2, 15 and 2.25, and preferably close to 2.20. n 2 and / or n 4 are from 1.35 to 1.65. ei is between 5 and 50 nm, especially between 10 and 30 nm, or between 15 and 25 nm. e 2 is between 5 and 50 nm, especially less than or equal to 35 nm or 30 nm, in particular between 10 and 35 nm. e3 is between 40 and 180 nm and preferably between 45 and 150 nm. e4 is between 45 and 1 10 nm and preferably between 70 and
105 nm.105 nm.
Les matériaux les plus appropriés pour constituer la première et/ ou la troisième couche de l'empilement A qui est de type antireflet, celles à haut indice, sont à base de nitrure mixte de silicium et de zirconium ou d'un mélange de ces nitrures mixtes. En variante, ces couches à haut indice sont à base de nitrures mixtes de silicium et de tantale ou d'un mélange de ces derniers. Tous ces matériaux peuvent être éventuellement dopés pour améliorer leurs propriétés de résistance chimique et/ ou mécanique et/ ou électrique.The most suitable materials for forming the first and / or third layer of the stack A, which is of anti-reflective type, those with a high index, are based on mixed nitride of silicon and zirconium or a mixture of these nitrides. mixed. In a variant, these high-index layers are based on mixed nitrides of silicon and tantalum or a mixture of these. All these materials may be optionally doped to improve their chemical and / or mechanical and / or electrical resistance properties.
Les matériaux les plus appropriés pour constituer la seconde et/ ou la quatrième couche de l'empilement A, celles à bas indice, sont à base d'oxyde de silicium, d'oxynitrure et/ ou d'oxycarbure de silicium ou encore à base d'un oxyde mixte de silicium et d'aluminium. Un tel oxyde mixte tend à avoir une meilleure durabilité, notamment chimique, que du Siθ2 pur (Un exemple en est donné dans le brevet EP 791 562). On peut ajuster la proportion respective des deux oxydes pour obtenir l'amélioration de durabilité escomptée sans trop augmenter l'indice de réfraction de la couche.The most suitable materials for constituting the second and / or fourth layer of the stack A, those with low index, are based on silicon oxide, oxynitride and / or silicon oxycarbide or based on a mixed oxide of silicon and aluminum. Such a mixed oxide tends to have a better durability, especially chemical, than pure SiO 2 (an example is given in patent EP 791 562). The respective proportion of the two oxides can be adjusted to achieve the expected improvement in durability without greatly increasing the refractive index of the layer.
Une forme préférée de réalisation de cet empilement antireflet est de la forme substrat/ Si3N4/ SiO2/ Si3N4/ SiO2.A preferred embodiment of this antireflection stack is of the substrate / Si 3 N 4 / SiO 2 / Si 3 N 4 / SiO 2 form .
Il va de soi que l'invention s'applique de la même manière aux systèmes utilisant d'autres systèmes électroluminescents que ceux décrits dans les exemples.
It goes without saying that the invention applies in the same way to systems using other electroluminescent systems than those described in the examples.
Claims
1. Substrat (1), pour dispositif électroluminescent organique (10, ICC), porteur sur une première face principale (1 1) une électrode multicouche (3), dite inférieure, laquelle comporte successivement : une couche dite de contact (31) à base d'oxyde métallique et/ou de nitrure métallique, une couche fonctionnelle métallique (32) à propriétés intrinsèques de conductivité électrique, - un revêtement (33, 34) comportant une surcouche en matériau diélectrique à base d'oxyde métallique (34), formant une couche d'adaptation du travail de sortie, caractérisé en ce que l'électrode multicouche (3) comprend en outre une fine couche de blocage (32^ directement sur la couche fonctionnelle (32), la fine couche de blocage comprenant une couche métallique d'épaisseur inférieure ou égale à 5 nm et/ ou une couche avec une épaisseur inférieure ou égale à 10 nm, qui est à base d'oxyde métallique sous stoechiométrique, d'oxynitrure métallique sous stoechiométrique ou de nitrure métallique sous stoechiométrique. 1. Substrate (1), for organic electroluminescent device (10, ICC), carrier on a first main face (1 1) a multilayer electrode (3), said lower, which comprises successively: a so-called contact layer (31) to metal oxide base and / or metal nitride, a metal functional layer (32) with intrinsic properties of electrical conductivity, - a coating (33, 34) having an overcoat of metal oxide dielectric material (34), forming an output work adaptation layer, characterized in that the multilayer electrode (3) further comprises a thin blocking layer (32) directly on the functional layer (32), the thin blocking layer comprising a layer metal with a thickness of less than or equal to 5 nm and / or a layer with a thickness of less than or equal to 10 nm, which is based on a sub stoichiometric metal oxide, on stoichiometric metal oxynitride or on stoichiometric metal nitride.
2. Substrat (1) selon la revendication 1 caractérisé en ce que la fine couche de blocage (32^ est une couche métallique, nitrure et/ ou oxyde métallique à base d'au moins l'un des métaux suivants : Ti, V, Mn, Fe, Co, Cu, Zn, Zr, Hf, Al, Nb, Ni, Cr, Mo, Ta, W, ou d'un alliage à base d'au moins un desdits matériaux et de préférence le niobium, le tantale, le titane, le chrome ou le nickel ou d'un alliage à partir d'au moins deux desdits métaux.2. Substrate (1) according to claim 1 characterized in that the thin blocking layer (32 ^ is a metal layer, nitride and / or metal oxide based on at least one of the following metals: Ti, V, Mn, Fe, Co, Cu, Zn, Zr, Hf, Al, Nb, Ni, Cr, Mo, Ta, W, or an alloy based on at least one of said materials and preferably niobium, tantalum , titanium, chromium or nickel or an alloy from at least two of said metals.
3. Substrat (1) selon l'une des revendications précédentes caractérisé en ce que la surcouche (34) est à base de l'un au moins des oxydes métalliques suivants : en oxyde conducteur éventuellement mixte et/ ou dopé et/ ou surstoechiométrique en surface choisi parmi l'oxyde d'indium, l'oxyde de zinc, l'oxyde d'étain, tel que l'oxyde d'étain dopé par Sb, ou l'oxyde de zinc dopé par Al, Ga, en étant éventuellement un oxyde mixte notamment oxyde mixte dïndium et d'étain, oxyde mixte d'indium et de zinc, oxyde mixte de zinc et d'étain, et/ ou en oxyde sous stoechiométrique choisi parmi l'oxyde de molybdène, oxyde de nickel, oxyde d'aluminium, oxyde de titane, oxyde de zirconium, oxyde de tantale, oxyde de silicium, oxyde d'argent, d'or, de platine, de palladium, en éventuellement dopé et mixte, la surcouche en oxyde sous stoechiométrique étant de préférence d'épaisseur inférieure ou égale à 10 nm.3. Substrate (1) according to one of the preceding claims characterized in that the overcoat (34) is based on at least one of the following metal oxides: conductive oxide optionally mixed and / or doped and / or surstoechiometric in surface chosen from indium oxide, zinc oxide, tin oxide, such as tin oxide doped with Sb, or zinc oxide doped with Al, Ga, possibly being a mixed oxide especially mixed indium and tin oxide, mixed indium zinc oxide, zinc and tin mixed oxide, and / or stoichiometric oxide selected from molybdenum oxide, nickel oxide, aluminum oxide , titanium oxide, zirconium oxide, tantalum oxide, silicon oxide, silver oxide, gold oxide, platinum oxide, palladium oxide, optionally doped and mixed, the stoichiometric oxide undercoat being preferably of thickness less than or equal to 10 nm.
4. Substrat (1) selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que le revêtement (33, 34) comprend, entre la fine couche de blocage (32^ et la surcouche (34), une couche de protection (33) contre l'eau et/ou l'oxygène à base de l'un au moins des oxydes métalliques suivants : oxyde d'indium, oxyde de zinc, oxyde d'étain, oxyde d'aluminium, oxyde de titane, oxyde de zirconium, oxyde de tantale, oxyde de silicium, cette couche étant éventuellement dopée, tel que l'oxyde d'étain dopé par Sb, ou l'oxyde de zinc dopé par Al, Ga, et/ ou étant éventuellement un oxyde mixte notamment oxyde mixte dïndium et d'étain, oxyde mixte dïndium et de zinc, oxyde mixte de zinc et d'étain.4. Substrate (1) according to one of the preceding claims, characterized in that the coating (33, 34) comprises, between the thin blocking layer (32 ^ and the overlay (34), a protective layer (33) against water and / or oxygen based on at least one of the following metal oxides: indium oxide, zinc oxide, tin oxide, aluminum oxide, titanium oxide, zirconium oxide, tantalum oxide, silicon oxide, this layer being optionally doped, such as tin oxide doped with Sb, or zinc oxide doped with Al, Ga, and / or possibly being a mixed oxide, especially mixed indium oxide and tin, mixed oxide of indium and zinc, mixed oxide of zinc and tin.
5. Substrat (1) selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que le revêtement (33, 34) est d'épaisseur supérieure ou égale à 20 nm et de préférence à base d'oxyde métallique.5. Substrate (1) according to one of the preceding claims, characterized in that the coating (33, 34) is of greater than or equal to 20 nm thick and preferably based on metal oxide.
6. Substrat (1) selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que la couche de contact (31) et la couche de protection contre l'eau et/ ou l'oxygène (33) sont de nature identique, notamment à base de l'oxyde de zinc, éventuellement dopé par Al, et de préférence la surcouche (34) est de l'oxyde mixte d'étain et dïndium.6. Substrate (1) according to one of the preceding claims, characterized in that the contact layer (31) and the protective layer against water and / or oxygen (33) are identical in nature, in particular to zinc oxide base, optionally doped with Al, and preferably the overcoat (34) is mixed tin oxide and indium.
7. Substrat (1) selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'électrode (3) présente une transmission lumineuse TL supérieure ou égale à 70% et une résistance carré inférieure ou égale à 10 Ω/carré pour une épaisseur de couche fonctionnelle à partir de 6 nm, de préférence inférieure ou égale à 5 Ω/carré pour une épaisseur de couche fonctionnelle à partir de 10 nm ou en ce qu'elle est présente une réflexion lumineuse RL supérieure ou égale à 70% ou ce qu'elle présente une résistance carré inférieure ou égale à 3 Ω/carré pour une épaisseur de couche fonctionnelle à partir de 20 nm, de préférence inférieure ou égale à 1 ,8 Ω/carré, combinée de préférence un rapport TL sur RL entre 0, 1 et 0,7.7. Substrate (1) according to one of the preceding claims, characterized in that the electrode (3) has a TL light transmission greater than or equal to 70% and a square resistance less than or equal to 10 Ω / square for a thickness functional layer starting from 6 nm, preferably less than or equal to 5 Ω / square for a functional layer thickness starting from 10 nm or in that it has a light reflection RL greater than or equal to 70% or it has a square resistance less than or equal to 3 Ω / square for a functional layer thickness from 20 nm, preferably less than or equal to 1.8 Ω / square, preferably combined a ratio TL on RL between 0.1 and 0.7.
8. Substrat (1) selon l'une des revendications précédentes caractérisé en ce que la couche fonctionnelle (32) est à base d'un matériau pur choisi parmi l'argent, l'or, l'aluminium, le cuivre, ou à base dudit matériau allié ou dopé avec Ag, Au, Pd, Al, Pt, Cu, Zn, Cd, In, Si, Zr, Mo, Ni, Cr, Mg, Mn, Co, Sn, notamment un alliage or et argent ou or et cuivre.8. Substrate (1) according to one of the preceding claims characterized in that the functional layer (32) is based on a pure material selected from silver, gold, aluminum, copper, or to base of said material alloyed or doped with Ag, Au, Pd, Al, Pt, Cu, Zn, Cd, In, Si, Zr, Mo, Ni, Cr, Mg, Mn, Co, Sn, especially a gold and silver alloy or gold and copper.
9. Substrat (1) selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'épaisseur de la couche fonctionnelle (32) choisie à base d'argent est comprise entre 3 à 20 nm, préférentiellement comprise entre 5 à 15 nm ou en ce que l'épaisseur de la couche fonctionnelle choisie à base d'argent est comprise entre 20 à 50 nm ou en ce que l'épaisseur de la couche fonctionnelle choisie à base d'argent est comprise entre 50 et 150 nm, préférentiellement comprise entre 80 à 100 nm.9. Substrate (1) according to one of the preceding claims, characterized in that the thickness of the functional layer (32) chosen based on silver is between 3 to 20 nm, preferably between 5 to 15 nm or in that the thickness of the selected functional layer based on silver is between 20 to 50 nm or in that the thickness of the chosen functional layer based on silver is between 50 and 150 nm, preferably between between 80 to 100 nm.
10. Substrat (1) selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que la couche de contact (31) est à base de l'un au moins des oxydes métalliques suivants : oxyde de chrome, oxyde d'indium, oxyde de zinc éventuellement sous stoechiométrique, oxyde d'aluminium, oxyde de titane, oxyde de molybdène, oxyde de zirconium, oxyde d'antimoine, oxyde d'étain, oxyde de tantale, oxyde de silicium, en étant éventuellement dopé, tel que l'oxyde d'étain dopé par F, Sb, ou l'oxyde de zinc dopé, en étant éventuellement un oxyde mixte notamment un oxyde mixte d'indium et d'étain, un oxyde mixte d'indium et de zinc, oxyde mixte de zinc et d'étain et en ce que la couche de contact est de préférence d'épaisseur entre 3 et10. Substrate (1) according to one of the preceding claims, characterized in that the contact layer (31) is based on at least one of the following metal oxides: chromium oxide, indium oxide, oxide of zinc optionally stoichiometric, aluminum oxide, titanium oxide, molybdenum oxide, zirconium oxide, antimony oxide, tin oxide, tantalum oxide, silicon oxide, optionally doped, such as oxide of F, Sb-doped tin, or doped zinc oxide, optionally being a mixed oxide, especially a mixed indium tin oxide, a mixed indium zinc oxide, mixed zinc oxide, and of tin and in that the contact layer is preferably between 3 and
30 nm.30 nm.
1 1. Substrat (1) selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'électrode comprend une fine couche de blocage dite inférieure, en contact direct avec la couche de contact et la couche fonctionnelle métallique et à base d'oxyde, de nitrure, d'oxynitrure métallique sous stoechiométrique avec une épaisseur inférieure ou égale à 10 nm et/ ou une couche métallique d'épaisseur inférieure ou égale à 5 nm. 1 1. Substrate (1) according to one of the preceding claims, characterized in that the electrode comprises a thin so-called lower blocking layer, in direct contact with the contact layer and the functional layer metal and oxide-based , nitride, stoichiometric metal oxynitride with a thickness of less than or equal to 10 nm and / or a metal layer with a thickness of less than or equal to 5 nm.
12. Substrat (1) selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que la première face principale (1 1) comporte, sous l'électrode (3), une couche de fond (2) susceptible de former une barrière aux alcalins, la couche de fond (2) est une couche, éventuellement dopée, choisie parmi une couche à base d'oxyde de silicium, d'oxycarbure de silicium, à base de nitrure de silicium, d'oxynitrure de silicium, d'oxycarbonitrure de silicium, de préférence d'épaisseur entre 10 et 150 nm.12. Substrate (1) according to one of the preceding claims, characterized in that the first main face (1 1) comprises, under the electrode (3), a base layer (2) capable of forming an alkali barrier the bottom layer (2) is a layer, optionally doped, selected from a layer based on silicon oxide, silicon oxycarbide, based on silicon nitride, silicon oxynitride, oxycarbonitride, silicon, preferably of thickness between 10 and 150 nm.
13. Substrat (1) selon la revendication précédente caractérisé en ce que la première face principale (1 1) comprend une couche d'arrêt de gravure humide entre la couche de fond et la couche de contact, notamment une couche à base d'oxyde d'étain, ou en ce qu'une couche d'arrêt de gravure (2) fait partie ou forme la couche de fond, et de préférence est à base de nitrure de silicium ou est à base de d'oxyde de silicium ou d'oxycarbure de silicium avec de l'étain. Substrate (1) according to the preceding claim characterized in that the first main face (1 1) comprises a wet etch stop layer between the base layer and the contact layer, in particular an oxide-based layer. of tin, or in that an etch stop layer (2) is part of or forms the primer, and preferably is based on silicon nitride or is based on silicon oxide or silicon oxycarbide with tin.
14. Substrat (1) selon l'une des revendications 12 et 13 caractérisé en ce que la couche de fond et de préférence l'éventuelle couche d'arrêt de gravure humide (2) couvrent sensiblement la totalité de la première face principale du substrat choisi verrier et plan et les couches de contact (31), l'éventuelle fine couche de blocage inférieure, la couche fonctionnelle (32), la fine couche de blocage (32^ et le revêtement (33) sont gravées suivant un même motif de gravure et de préférence par une seule gravure humide.14. Substrate (1) according to one of claims 12 and 13 characterized in that the bottom layer and preferably the optional wet etch stop layer (2) substantially cover the whole of the first major face of the substrate chosen glass and plane and the contact layers (31), the possible thin lower blocking layer, the functional layer (32), the thin blocking layer (32 ^ and the coating (33) are etched in the same pattern of etching and preferably by a single wet etching.
15. Substrat (1) selon l'une des revendications précédentes caractérisé en ce que sur les éventuelles couches de fond et/ ou couche d'arrêt de gravure humide est agencé n fois la structure suivante, avec n un nombre entier supérieur ou égal à 1 : la couche de contact, éventuellement la fine couche de blocage inférieure, la couche fonctionnelle, la fine couche de blocage, éventuellement la couche de protection à l'eau et/ou à l'oxygène, la structure étant surmontée d'une séquence comprenant la couche de contact, la couche fonctionnelle, la fine couche de blocage, ledit revêtement comprenant éventuellement la couche de protection à l'eau et/ou à l'oxygène et comprenant ladite surcouche.15. Substrate (1) according to one of the preceding claims characterized in that on the possible bottom layers and / or wet etch stop layer is arranged n times the following structure, with n an integer greater than or equal to 1: the contact layer, optionally the thin lower blocking layer, the functional layer, the thin blocking layer, optionally the protective layer with water and / or oxygen, the structure being surmounted by a sequence comprising the contact layer, the functional layer, the thin blocking layer, said coating optionally comprising the protective layer with water and / or oxygen and comprising said overlayer.
16. Substrat (1) selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'une bordure de la surcouche (34) est surmontée d'une bande métallique d'amenée de courant (61, 61 ', 62^, de préférence d'épaisseur comprise entre 0,5 à 10 μm et sous forme d'une monocouche en l'un des métaux suivants : Mo, Al, Cr, Nd ou en alliage tel que MoCr, AlNd ou d'une multicouche telle que MoCr/ Al/ MoCr. 16. Substrate (1) according to one of the preceding claims, characterized in that a border of the overlay (34) is surmounted by a metal strip a current feed (61, 61 ', 62), preferably having a thickness of between 0.5 and 10 μm, and in the form of a monolayer of one of the following metals: Mo, Al, Cr, Nd or alloy such as MoCr, AlNd or a multilayer such as MoCr / Al / MoCr.
17. Substrat (1) selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que le substrat est plan et en verre silicosodocalcique (1) de préférence clair ou extraclair.17. Substrate (1) according to one of the preceding claims, characterized in that the substrate is flat and silicosodocalcic glass (1) preferably clear or extraclair.
18. Substrat (1) selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que la deuxième face principale (12) comprend un revêtement fonctionnel choisi parmi : une multicouche antireflet, une couche antibuée ou antisalissures, un filtre ultraviolet, notamment une couche d'oxyde de titane, une couche luminophore, une couche miroir, une zone diffusante d'extraction de lumière (73).18. Substrate (1) according to one of the preceding claims, characterized in that the second main face (12) comprises a functional coating selected from: an antireflection multilayer, an anti-fog or antifouling layer, an ultraviolet filter, including a layer of titanium oxide, a phosphor layer, a mirror layer, a light scattering zone (73).
19. Procédé de gravure acide d'une électrode multicouche (3) sur un substrat (1), notamment verrier, comportant sur une face principale une couche d'arrêt de gravure, de préférence à base de nitrure de silicium, et l'électrode dite inférieure sur la couche d'arrêt de gravure, ladite électrode comportant : une couche de contact en oxyde métallique dopé ou non choisi parmi l'oxyde de zinc, l'oxyde mixte d'étain et de zinc, d'étain et dïndium, dïndium et de zinc, éventuellement une fine couche de blocage inférieure directement sous une couche fonctionnelle, la fine couche comprenant une couche métallique d'épaisseur inférieure ou égale à 5 nm et/ou une couche avec une épaisseur inférieure ou égale à 10 nm, qui est à base d'oxyde ou d'oxynitrure métallique ou de nitrure métallique sous stoechiométrique, la couche fonctionnelle métallique dopée ou non à propriétés intrinsèques de conductivité électrique, d'épaisseur inférieure à 70 nm, et choisie parmi l'argent et/ ou l'or, une fine couche de blocage directement sur la couche fonctionnelle métallique, la couche comprenant une couche métallique d'épaisseur inférieure ou égale à 5 nm et/ ou une couche avec une épaisseur inférieure ou égale à 10 nm, qui est à base d'oxyde ou d'oxynitrure métallique ou de nitrure métallique sous stoechiométrique, éventuellement une couche de protection en oxyde métallique dopé ou non choisi parmi l'oxyde de zinc, l'oxyde mixte d'étain et de zinc, dïndium et de zinc, une surcouche en oxyde conducteur éventuellement mixte choisi parmi l'oxyde d'indium, l'oxyde de zinc, l'oxyde d'étain et/ou une surcouche d'épaisseur inférieure ou égale à 10 nm en oxyde sous stoechiométrique choisi parmi l'oxyde de molybdène, oxyde de nickel, oxyde d'aluminium, oxyde de titane, oxyde de zirconium, oxyde de tantale, oxyde de silicium, oxyde d'argent, d'or, de platine, de palladium, la gravure étant réalisée en une étape et avec une solution d'acide choisie parmi l'acide nitrique HNO3 pur en ou mélange avec de l'acide chlorhydrique HCl, ou l'acide chlorhydrique pur en ou mélange avec du trichlorure de fer19. A method of acid etching a multilayer electrode (3) on a substrate (1), in particular glass, comprising on a main face an etching stop layer, preferably based on silicon nitride, and the electrode said lower on the etch stop layer, said electrode comprising: a doped or non-doped metal oxide contact layer selected from zinc oxide, tin and zinc mixed oxide, tin and indium, of zinc and indium, optionally a thin lower blocking layer directly under a functional layer, the thin layer comprising a metal layer of thickness less than or equal to 5 nm and / or a layer with a thickness less than or equal to 10 nm, which is based on metal oxide or oxynitride or on stoichiometric metal nitride, the doped or non-doped metallic functional layer with intrinsic properties of electrical conductivity, with a thickness of less than 70 nm, and chosen for among silver and / or gold, a thin blocking layer directly on the metallic functional layer, the layer comprising a metal layer of thickness less than or equal to 5 nm and / or a layer with a thickness less than or equal to 10 nm, which is based on oxide or metal oxynitride or stoichiometric metal nitride, optionally a doped metal oxide protective layer or not selected from zinc oxide, the mixed oxide of tin and zinc, of indium and zinc, an overcoat optionally conducting conductive oxide selected from indium oxide, zinc oxide, tin oxide and / or an overlayer of thickness less than or equal to at 10 nm of sub-stoichiometric oxide selected from molybdenum oxide, nickel oxide, aluminum oxide, titanium oxide, zirconium oxide, tantalum oxide, silicon oxide, silver oxide, gold oxide, platinum, palladium, the etching being carried out in one step and with an acid solution selected from nitric acid HNO3 pure or mixed with hydrochloric acid HCl, or pure hydrochloric acid in or mixture with trichloride of iron
FeCl3.FeCl 3 .
20. Procédé de gravure d'une électrode multicouche (3) selon la revendication précédente caractérisé en ce que la gravure est réalisée en présence d'au moins une bande métallique d'amenée de courant de préférence sous forme d'une monocouche à base de l'un des métaux suivants : Mo, Al, Cr, Nd ou en alliage tel que MoCr, AlNd ou d'une multicouche telle que MoCr/ Al/ MoCr.20. A method of etching a multilayer electrode (3) according to the preceding claim characterized in that the etching is performed in the presence of at least one metal strip current supply preferably in the form of a monolayer based on one of the following metals: Mo, Al, Cr, Nd or alloy such as MoCr, AlNd or a multilayer such as MoCr / Al / MoCr.
21. Dispositif électroluminescent organique (10, ÎO') comportant au moins un substrat notamment verrier, avec une électrode inférieure selon l'une des revendications 1 à 18, comportant au moins une couche électroluminescente organique sur l'électrode inférieure et sous une électrode dite supérieure.21. Organic electroluminescent device (10, 10 ') comprising at least one substrate, in particular glass, with a lower electrode according to one of claims 1 to 18, comprising at least one organic electroluminescent layer on the lower electrode and under a so-called electrode. higher.
22. Dispositif électroluminescent organique (10, ÎO') selon la revendication 21 , caractérisé en ce que le dispositif est un vitrage simple, un double vitrage ou un vitrage feuilleté.22. Organic electroluminescent device (10, 10 ') according to claim 21, characterized in that the device is a single glazing, double glazing or laminated glazing.
23. Dispositif électroluminescent organique (10, ÎO') selon l'une des revendications 21 à 22, caractérisé en ce qu'il comprend une pluralité de systèmes électroluminescents organiques adjacents, chacun émetteur de lumière blanche ou, par série de trois, de lumière rouge, verte et bleue, les systèmes étant connectés en série.23. Organic electroluminescent device (10, 10 ') according to one of claims 21 to 22, characterized in that it comprises a plurality of adjacent organic electroluminescent systems, each emitter of white light or, in series of three, red, green and blue light, the systems being connected in series.
24. Dispositif électroluminescent organique (10, ICC) selon l'une des revendications 21 à 23 caractérisé en ce qu'il forme une ou des surfaces lumineuses transparentes et/ou réfléchissantes, notamment un système éclairant, décoratif, architectural, un panneau d'affichage de signalisation par exemple du type dessin, logo, signalisation alphanumérique, le système produisant une lumière uniforme ou des zones lumineuses différenciées notamment par extraction de lumière guidée dans le substrat verrier. 24. The organic electroluminescent device (10, ICC) according to one of claims 21 to 23 characterized in that it forms one or more transparent and / or reflective luminous surfaces, in particular an illuminating, decorative, architectural system, a panel of signaling display, for example of the drawing, logo, alphanumeric signaling type, the system producing uniform light or differentiated light zones, in particular by guided light extraction in the glass substrate.
25. Dispositif électroluminescent organique (10, ÎO') selon l'une des revendications 21 à 24 caractérisé en ce qu'il est : destiné au bâtiment, tel qu'un vitrage lumineux extérieur, une cloison lumineuse interne ou une (partie de) porte vitrée lumineuse notamment coulissante, - destiné à un véhicule de transport, tel qu'un toit lumineux, une25. An organic electroluminescent device (10, 10 ') according to one of claims 21 to 24, characterized in that it is: intended for the building, such as an external luminous glazing, an internal light partition or a (part of) luminous glazed door, in particular a sliding door, intended for a transport vehicle, such as a luminous roof, a
(partie de) vitre latérale lumineuse, une cloison lumineuse interne d'un véhicule terrestre, aquatique ou aérien, destiné au mobilier urbain ou professionnel tel qu'un panneau d'abribus, une paroi d'un présentoir, d'un étalage de bijouterie ou d'une vitrine, une paroi d'une serre, une dalle éclairante, destiné à l'ameublement intérieur, un élément d'étagère ou de meuble, une façade d'un meuble, une dalle éclairante, un plafonnier, une tablette éclairante de réfrigérateur, une paroi d'aquarium, destiné au rétro-éclairage d'un équipement électronique, notamment d'un écran de visualisation ou d'affichage éventuellement double écran, comme un écran de télévision ou d'ordinateur, un écran tactile, un miroir éclairant, notamment pour l'éclairage d'une paroi de salle de bains ou d'un plan de travail de cuisine, ou pour être un plafonnier. (part of) illuminated side window, an internal light partition of a land, water or aerial vehicle, intended for street or professional furniture such as a bus shelter panel, a wall of a display, a jewelery display or a showcase, a wall of a greenhouse, an illuminating slab, intended for interior furnishing, a shelf or furniture element, a cabinet facade, an illuminated slab, a ceiling lamp, an illuminating tablet refrigerator, an aquarium wall, for the backlighting of electronic equipment, including a display or display screen possibly dual screen, such as a television or computer screen, a touch screen, a illuminating mirror, especially for lighting a bathroom wall or a kitchen worktop, or to be a ceiling light.
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