DE9218478U1 - Längen- oder Winkelmeßeinrichtung - Google Patents
Längen- oder WinkelmeßeinrichtungInfo
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
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- H03M1/12—Analogue/digital converters
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Description
DR. JOHANNES HEIDENHAIN GmbH 7. Februar 1994
Längen- oder Winkelmeßeinrichtung
Die Erfindung bezieht sich auf Längen- oder Winkelmeßeinrichtungen
gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1.
Derartige Meßeinrichtungen werden insbesondere bei Bearbeitungsmaschinen zur Messung der Relativlage
eines Werkzeugs bezüglich eines zu bearbeitenden Werkstücks sowie bei Koordinatenmeßmaschinen zur
Ermittlung von Lage und/oder Abmessungen von Prüf-Objekten eingesetzt.
Bei solchen Meßeinrichtungen unterscheidet man zwischen inkrementalen Längen- oder Winkelmeßeinrichtungen
und codierten Längen- oder Winkelmeßeinrichtungen.
Eine inkrementale Wegmeßeinrichtung weist einen Teilungsträger mit einer inkrementalen Teilung auf,
die von einer Abtasteinrichtung zur Erzeugung
20
20
von periodischen Abtastsignalen abgetastet wird, aus denen in einer Auswerteeinrichtung Zählimpulse
für jedes Teilungsinkrement gewonnen werden. Die Zählung dieser Zählimpulse durch einem Zähler liefert
den momentanen Positionsmeßwert und erfolgt jeweils von frei wählbaren Meßbezugslagen dieser
inkrementalen Teilung ausgehend; diesen Meßbezugslagen
können zur gegenseitigen Unterscheidung codierte Referenzmarken absolut zugeordnet sein, deren
Lage einer bestimmten Position absolut zugeordnet sind.
Die an den Referenzmarken erzeugten Referenzimpulse
können auf verschiedene Weise verwertet werden, z.B. zum Reproduzieren der Nullbezugslage im Zähler,
zum Anfahren einer bestimmten Nullbezugslage zu Beginn einer Messung oder zur Kontrolle der
Zählergebnisse des Zählers sowie zur Auswertung in einer nachgeschalteten numerischen Steuerung.
Aus der DE-AS 12 58 120 ist eine Längenmeßeinrichtung bekannt, bei der zwei stetige Strichfolgen unterschiedlicher
Intervallänge auf einer Nivellierlatte vorgesehen sind. In einem Teilungsbereich,
welcher der Länge des kleinsten gemeinsamen Vielfachen der Intervallängen der beiden Strichfolgen
entspricht, werden die Restintervalle zwischen dem Index der Ablesevorrichtung und den diesem in steigendem
oder fallendem Teilungssinn nächstliegenden Teilstrichen der Strichfolgen nacheinander mikrometrisch
gemessen und aus den so erhaltenen Mikrometerablesungen die Lage des Index der Ablesevorrichtung
in bezug auf den Teilungsnullpunkt berechnet.
• m u
Eine weitere Positionsmeßeinrichtung ist aus der
WO 89/11080 bekannt. Dort wird folgendes beschrieben:
WO 89/11080 bekannt. Dort wird folgendes beschrieben:
Um in einer Positionsmeßeinrichtung praktisch jederzeit ein lagecodiertes Signal zu erzeugen, werden
zwei Spuren mittels zweier Sensoren abgetastet, die je ein sinusförmiges Signalpaar (cos &agr;; sin &agr;;
cos ß, sin ß) oder ein ähnliches periodisches Signal mit einer jederzeit definierten Phasenlage erzeugen,
deren Periodenlänge sich wie n/n+1 verhalten. Der gesuchte Relativabstand ergibt sich dann
als Differenz der beiden Phasenlagen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Meßeinrichtung zur absoluten Positionsbestimmung zu
schaffen, die inkrementale Ausgangssignale von einer möglichst geringen Anzahl von Spuren liefert,
wobei eine hohe Auflösung, ein geringer Einfluß von Interpolationsfehlern und große Meßlängen gefordert
sind.
Diese Aufgabe wird mit einer Längen- oder Winkelmeßeinrichtung gelöst, die die Merkmale des An-Spruches
1 aufweist.
Die Vorteile der erfindungsgemäßen Meßeinrichtung liegen darin, daß mit wenigen Inkrementalspuren eine
absolutcodierte Position bei großer Meßlänge und mit hoher Auflösung bestimmt werden kann, wobei jede
Inkrementalspur interpolationsgeeignet ist. Dabei werden die Interpolationsfehler klein gehalten.
Mit Hilfe von Ausführungsbeispielen wird die Erfindung anhand der Schema-Zeichnungen noch näher
erläutert:
• ■ <
Es zeigt
Figur 1 die Kernmerkmale einer Längenmeßeinrichtung;
Figur 2 eine Maßverkörperung mit einer Referenzspur.
Eine in Figur 1 dargestellte Längenmeßeinrichtung weist eine Beleuchtungsquelle 1 und einen Kondensor
2 auf, die paralleles Licht auf eine Maßverkörperung 3 richten. Die Maßverkörperung 3 weist vier
Spuren mit Meßteilungen 4, 5, 6 und 7 auf, deren Teilungsperioden sich voneinander unterscheiden.
Des weiteren ist eine Abtastplatte 8 und eine Detektoreinheit 9 vorgesehen, deren Abtast- und Detektorfelder
den Meßteilungen angepaßt und zugeordnet sind. Eine Auswerteeinrichtung trägt das Bezugszeichen
10.
Jede Spur der Meßteilungen 4, 5, 6 und 7 wird in bekannter Weise mit vier um 1/4 Teilungsperiode zueinander
versetzten Abtastfeldern abgetastet. Dadurch werden in bekannter Weise je Spur aus jeder
Meßteilung 4, 5, 6 und 7 zwei um 1/4 Teilungsperiode zueinander versetzte sinusförmige Signale erzeugt,
die in vorbestimmbaren Schritten interpolationsfähig sind.
Die Abstufung der Teilungsperioden zueinander ermöglicht eine besonders einfache Auscodierung des
zu ermittelnden absoluten Positionswertes. Die mathematischen Zusammenhänge der Teilungsabstufungen
ergeben sich daraus, daß die Teilungsperiode der ersten Meßteilung 4=P ist und die Kehrwerte der
Teilungsperioden Tn der weiteren Meßteilungen 5, 6,
7 abzüglich des Kehrwertes l/P der Teilungsperiode P der ersten Meßteilung 4 eine endliche geometrische
Reihe bis zum (n-l)-ten Glied für die n-te Meßteilung darstellen.
Bei N Spuren ist der Bereich der absoluten Codierung &Agr;<&Ngr;"15*&Bgr; Meßschritte. Die zulässige Phasenabweichung
von Spur zu Spur (bei (1) und (2)) bzw. von der 1. zur N. Spur (bei (4) und (5))
B
B
beträgt + und zwar aus folgendem Grund:
2A
Um bei Code-Meßsystemen mit mehreren Inrkementalspuren unterschiedlicher Teilung Meßfehler zu vermeiden,
die bei geringfügiger Verlagerung der Spuren zueinander infolge notwendiger Toleranzen entstehen
können, sollten die Ausgangssignale aller Spuren zunächst mit den bekannten Verfahren B-fach
unterteilt werden, so daß der Meßschritt für die Grundteilung l/B der Teilungsperiode P der Grundteilung
beträgt. Für die Grundteilung ist die Anzahl der Codewerte innerhalb einer Teilungsperiode
gleich B. Für alle weiteren Spuren sind aber aus B Interpolationsschritten nur A Codewerte zu bilden,
wobei A<B/2 (speziell A=B/8 oder A=B/16) ist. Dadurch ist ein fehlerfreier codierteer Positionswert
CP auch noch gegeben, wenn sich die Phasenlage der einzelnen Teilungsspuren zueinander um bis zu +
1/2*B/A verändert.
Beispiel N = 4 Spuren
B = lOOfach Interpolation
A = 10 Codewerte ab der 2. Spur
P = lOOjum Teilungsperiode der 1. Spur
A = 10 Codewerte ab der 2. Spur
P = lOOjum Teilungsperiode der 1. Spur
(Grundte ilung)
Tn= Teilungsperioden der N Spuren nach
Tn= Teilungsperioden der N Spuren nach
·· · * · i JiI.
Gleichung (1) Tn = P* &Ngr;_&khgr;
T1 = &Igr;&Ogr;&Ogr;&mgr;&pgr;&igr;
T2 = 90,9090909&mgr;&idiagr;&eegr;
T3 = 90,09009009&mgr;&idiagr;&eegr;
T4 = 90,00900090009JUItI
T2 = 90,9090909&mgr;&idiagr;&eegr;
T3 = 90,09009009&mgr;&idiagr;&eegr;
T4 = 90,00900090009JUItI
zul. Phasenfehler von Spur zu Spur
B 1 100
< + — = +—* '■ = + 5 Interpolationsschritte
2A 2 10
2A 2 10
< + 5&mgr;&idiagr;&eegr;
Aus den Anzeigen Zx, Z2, Z3 und Z4 der Verschiebungsbruchteile
je Spur bei einer bestimmten Position CP berechnet sich der Positionswert CP gemäß
dem Hauptpatent.
Figur 2 zeigt eine Maßverkörperung 32, deren Meßteilungen
42, 52, 62 und 72 nach einem der vorstehenden Schemata abgestuft sind. Eine Spur 0 ist als
Referenzspur vorgesehen, auf die die Phasenlage der nachgeordneten Spuren 42 bis 72 bezogen ist. Aus
zeichnerischen Gründen ist das Prinzip allerdings 0 stark übertrieben dargestellt worden.
Zum Ermitteln eines Codewertes aus N Spuren müssen zwischen den Inkrementen der Spuren Interpolationswerte gebildet werden. Interpolationsfehler beeinflüssen
direkt den Wert des Phasenwinkels zwischen den Spuren. Sie sind umso größer, je gröber die
Teilungsperiode ist. Um die Interpolationsfehler
klein zu halten, wird zusätzlich zu den nach Gleichung
(1) berechneten N Spuren eine weitere Spur O mit einer Teilungsperiode P0, die kleiner als die
Teilungsperiode P der Grundspur 42 ist,
1 1
(vorzugsweise P0 =e.p=——- p; aus zeichentechnischen
(vorzugsweise P0 =e.p=——- p; aus zeichentechnischen
A 10
1
1
Gründen sind— P dargestellt)
vorgesehen und die Phasenlagen der N Spuren auf diese Spur bezogen. Dadurch verringert sich der
Einfluß der Interpolationsfehler.
Weiter werden in einer Auswerteeinheit 10 Mittel vorgesehen, mit deren Hilfe laufend der Phasenfehler
zwischen den N Spuren und der Grundspur 42 bzw. der Referenzspur 0 bestimmt wird und beim Überschreiten
eines maximalen Wertes von z.B. +0,4P0 zum Schalten einer Fehleranzeige benutzt wird. Zum
Ermitteln des Phasenfehlers wird zunächst aus den Ist-Interpolationswerten der einzelnen Spuren der
Codewert bestimmt, dann aus dem Codewert die Soll-Interpolationswerte berechnet und aus der Differenz
zwischen Soll- und Istwerten der Phasenfehler.
Da die erfindungsgemäße Längen- oder Winkelmeßeinrichtung
ausschließlich Meßteilungen mit Gitterstruktur - also Inkrementalteilungen - aufweist,
kann die Meßeinrichtung auch als rein inkrementale Wegmeßeinrichtung arbeiten.
5 Die Erfindung ist nicht auf das beschriebene optoelektrische Meßprinzip beschränkt. Auch die anderen
bekannten physikalischen Meßprinzipien - wie magnetische, induktive und kapazitive Abtastungen sind
bei entsprechender Ausgestaltung von Meßteilungen und Abtasteinrichtungen möglich und stellen
glatte Äquivalente dar.
Claims (2)
1. Längen- oder Winkelmeßeinrichtung mit einer Maßverkörperung die mehrere Meßteilungen mit unterschiedlichen
Teilungsperioden aufweist, denen jeweils Abtasteinrichtungen zugeordnet sind, und
bei der die von den Abtasteinrichtungen erzeugten Signale mit an sich bekannten Verfahren unterteilt
werden, wobei durch einen Unterteilungsfaktor die Anzahl der Interpolationsschritte
einer Meßteilung bestimmt werden, und daß für die Grundteilung die Anzahl (B) der Interpolationsschritte
gleich einer Anzahl (B) von Codewerten ist, und daß für die weiteren Meßteilungen
aus (B) Interpolationsschritten eine Anzahl (A) von Codewerten gebildet wird, wobei (A<B/2) ist,
dadurch gekennzeichnet, daß eine weitere Meßteilung (0) als Referenzspur vorgesehen ist, deren
Teilungsperiode (P0) kleiner ist als die Teilungsperiode (P) der Grundteilung (4; 42),
und daß die Phasenlage der N Meßteilungen (4, 5, 6, 7; 42, 52, 62, 72) auf diese Referenzspur (0)
bezogen ist.
2. Längen- oder Winkelmeßeimrichtung ^nach Anspruch
1, dadurch gekennzeichnet/ daß die Referenzspur
(0) die Teilungsperiode
(P-"71P)
aufweist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE9218478U DE9218478U1 (de) | 1992-04-18 | 1992-04-18 | Längen- oder Winkelmeßeinrichtung |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4212952A DE4212952C2 (de) | 1991-08-03 | 1992-04-18 | Längen- oder Winkelmeßeinrichtung |
DE9218478U DE9218478U1 (de) | 1992-04-18 | 1992-04-18 | Längen- oder Winkelmeßeinrichtung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE9218478U1 true DE9218478U1 (de) | 1994-04-07 |
Family
ID=25914066
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE9218478U Expired - Lifetime DE9218478U1 (de) | 1992-04-18 | 1992-04-18 | Längen- oder Winkelmeßeinrichtung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE9218478U1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19719459A1 (de) * | 1997-05-07 | 1998-11-12 | Inotech Ges Fuer Entwicklung U | Vorrichtung zur Abtastung der Teilstriche eines mechanischen Rollenzählwerkes bei Zählern aller Art |
-
1992
- 1992-04-18 DE DE9218478U patent/DE9218478U1/de not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19719459A1 (de) * | 1997-05-07 | 1998-11-12 | Inotech Ges Fuer Entwicklung U | Vorrichtung zur Abtastung der Teilstriche eines mechanischen Rollenzählwerkes bei Zählern aller Art |
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