DE7404644U - Microscope with angled viewing and with photometer device - Google Patents

Description

»Μ It till fft||lt» ¹XI¹IlII ¹II¹III I «nt , /_Λ »Μ It till fft || lt» ¹ XI ¹ IlII ¹ II ¹ III I «nt, / _Λ

14.570/9 -/ei (014.570 / 9 - / egg (0

Oi₁ .-■Oi ₁ .- ■

Firma C. REICHERT OPTISCHE WERKE AG, Hernalser Hauptstrasse 219, A-1170 Wien / ÖsterreichC. REICHERT OPTISCHE WERKE AG, Hernalser Hauptstrasse 219, A-1170 Vienna / Austria

Ilikroskop mit Schragein-Ilicroscope with angled

s, blick und mit Photometereinrichtungs, Blick and with photometer device

Bekannte Einrichtungen für Mikrophotometrie, welche aus einem Grundmikroskop und einer Zusatzeinrichtung bestehen, besitzen zur Arbeit mit der Photometrieeinrichtung einen eigenen monokularen Einblick. Der Benutzer war daher gezwungen, immer wieder vom normalen binokularen Schrägeinblick (Binotubus) zum monokularen Einblick der Photometrieeinrichtung zu wechseln. Dies erschwerte die Beobachtung und war wegen des monokularen Einblickes auch weniger praktisch. Known devices for microphotometry, which consist of a basic microscope and an additional device, have their own monocular view for working with the photometric device. The user was therefore forced to again and again from the normal binocular oblique view (binotube) to the monocular view of the photometric device switch. This made observation difficult and was also less practical because of the monocular view.

7404644 16.10.757404644 10/16/75

In jenen Fällen, wo in Verbindung mit einer Photometrieeinrichtung ein Binotubus bekannt ist, entfallen die bei der vorhin erwähnleü Sinr-ichtuag vorhandenen Verteile der Justierunempfindlichkeit und der Treffsicherheit der Einstellung. Diese Einrichtungen können daher auch nicht ganz befriedigen.In those cases where in connection with a photometric device a binotube is known, the distributions of the previously mentioned Sinr-ichtuag are omitted Adjustment insensitivity and the accuracy of the setting. These facilities can therefore also not quite to satisfy.

Die Erfindung hat zum Ziel, die genannten Nachteile zu vermeiden und die Vorteile der bekannten Einrichtungen zu nützen, indem sie an sich bekannte Merkmale zu einer neuen Kombination verbindet. Im Zusammenhang mit Mikrophotometer-Einrichtungen ist es an sich bekannt, zur Erzeugung eines Zwisdienbildcs das Licht über optische Strahlenumlenkelemente zu führen, z.B. Spiegel oder Umlenkprismen, und zuletzt wieder in die ursprüngliche optische Achse einzuspiegeln. E3- ist ferner an sich bekannt, in Mikroskopen aus dem Strahlengang ausschaltbare optische Elemente, wie Strahlenumlenkelemente (Prismen usw.) vorzusehen und diese auch mit einem weiteren optischen Element auf einem Schieber unterzubringen, so dass alternativ das eine oder andere Element in den Strahlengang gebracht werden kann. Ein solches Mikroskop kann auch für sich allein, also ohne Zusatzeinrichtung, verwendet werden, wobei es die Beobachtung mittels binokularem Schrägeinblick erlaubt.The invention aims to avoid the disadvantages mentioned and to use the advantages of the known devices, by combining properties that are known per se into a new combination. Related to microphotometer facilities it is known per se to produce a Intermediate image the light via optical beam deflecting elements to guide, e.g. mirrors or deflection prisms, and finally to reflect them back into the original optical axis. E3- is also known per se, in microscopes from the beam path Provide optical elements that can be switched off, such as beam deflection elements (prisms, etc.) and also with them to accommodate another optical element on a slide, so that alternatively one or the other element can be brought into the beam path. Such a microscope can also be used on its own, i.e. without additional equipment, can be used, whereby it allows observation by means of a binocular angled view.

r ιr ι

Die Feuerung betrifft demnach ein Mikroskop mit, vorzugsweise bino-cularem, Schrägeinblick der Beobachtungseinrichtung und mit IPotometcrcinrichtung, mit mindestens «ίηρίη 7,wi sr.hnn ti&m Objektiv des Mikroskopes und der Beobachtungseinrichtung angeordneten, aus dem Strahlengang ausschaltbaren bzv;. gepen ein anderes optisches Element austauschbaren Strahlenumlenkelement, wobei der Beobachtungstrahlengang bei ausgeschaltetem ersten Strahienumlenkelement über die ?otometcreinrichtung und zusätzliche StrahlenumlenkeleTnerite derart geführt ist, dass er zuletzt mit dem ursprünglichen Strahlengang der Beobachtungseinrichtung, d.h. bei eingeschaltetem ersten otrahlenumlenkelement, zusammenfällt und zeichnet sich dadurch aus, dass die zusätzlichen Strahlenumlenkelemente in einer mit dem Mikroskop verbindbaren Zusatzeinrichtung untergebracht sind.The firing accordingly relates to a microscope with, preferably bino-cellular, oblique view of the observation device and with IPotometcrcineinrichtung, with at least "ίηρίη 7, wi sr.hnn ti & m lens of the microscope and the observation device arranged, or can be switched off from the beam path. gepen another optical element exchangeable beam deflecting element, wherein the observation beam path with the first beam deflecting element switched off is guided via the otometceinrichtung and additional beam deflecting elements in such a way that it finally coincides with the original beam path of the observation device, ie when the first beam deflecting element is switched on, and is characterized in that the additional beam deflection elements are accommodated in an additional device that can be connected to the microscope.

Eine derartige Ausbildung hat gegenüber einer z.3. ?.us der OE-PS 218 2?2 "bekannten Einrichtung wesentliche Vorteile, die vor allem in der einfacheren und praktischeren 3edienbarkeit des Gerätes liegen. Der Beobachter kann photometrische Messungen vornehmen, ohne seine Augen vun dem binokularen ochrägeinblick zu nehmen und hat trotzdem die Möglichkeit, den Messort mit hoher Treffsicherheit zu bestimmen, da er die Messöffnung zugleich mit den Bi"¹ d des beobachteten Objektes sieht.Such a training has compared to a z.3. ?. From the device known from OE-PS 218 2? 2 "there are significant advantages, which are mainly in the simpler and more practical operability of the device. The observer can take photometric measurements without taking his eyes from the binocular oblique view and still have the Possibility of determining the measurement location with a high degree of accuracy, since it ^{sees the measurement opening at the same time as the Bi "1} d of the observed object.

7404644 16.10.757404644 10/16/75

Dennoch wirkt die erfindungsgemässe Anordnung in einer weiteren Ausbildung derselben kaum verteuernd auf das Grundmikroskop, weil dieses nur wenige Änderungen erfahren muss, um einen Umlenkspiegel od. dgl. mit zugehörigem Strahlengang als Verbindung zu einer Zusatzeinrichtung für die Photoaietrie aufzunehmen. Die erfindungsgemässe Unterbringung der anderen zusätzlichen Strahlenumlenkelemente in der Zusatzeinrichtung für Photometrie bringt den genannten Vorteil, der sich auf den Preis des Grundmikroskopes auswirkt, mit sich.Nevertheless, the arrangement according to the invention in a further embodiment of the same hardly makes the basic microscope more expensive, because this only has to undergo a few changes in order to create a deflecting mirror or the like with an associated beam path as a connection to an additional device for photoimetry to record. The accommodation according to the invention of the other additional beam deflecting elements in the additional device for photometry has the advantage mentioned, which affects the price of the basic microscope themselves.

Natürlich lassen sich verschiedene Arten der Verwirklichung solcher erfindungsgemäss aufgebauter Strahlengänge denken.Of course, different ways of realizing such beam paths constructed according to the invention can be thought of.

Zum besseren Verständnis der Erfindung wird diese mit weiteren Einzelheiten anhand der Zeichnungen näher erläutert, die in ganz schematischer V/eise verschiedene grundsätzliche Anordnungsmöglichkeiten zeigen. »For a better understanding of the invention, it will be explained in more detail with reference to the drawings, which show various basic arrangement options in a very schematic manner. »

Es zeigt:It shows:

Figur 1 einen Strahlengang bekannter Art für ein Mikroskop mit Schrägeinblick und ausschaltbarem Strahlenumlenkelement; FIG. 1 shows a known type of beam path for a microscope with an oblique view and a beam deflecting element that can be switched off;

74046 44 46.1ft 7574046 44 46.1ft 75

Figur 2 eine er-xindungsgemässe Anordnung zum Ersatz des ausschaltbaren Strahlenumlenkelementes;FIG. 2 shows an arrangement according to the invention for replacement the switchable beam deflecting element;

Figur 3 eine weitere derartige Anordnung mit modifiziertem Strahlenverlauf;Figure 3 shows another such arrangement with a modified Ray path;

Figur 4 ganz schematisch eine grundsätzlich mögliche Ausführungsform in Verbindung mit einer Mikrophotometrieeinrichtung, die eine hinten verspiegelte Linse mit Messöffnung darin aufweist; FIG. 4 very schematically a basically possible embodiment in connection with a microphotometric device, which has a mirrored rear lens with measurement port therein;

Figur 5 eine weitere derartige Anwendung, wobei der Strahlengang zur Linse horizontal ist undFIG. 5 shows another application of this type, the beam path to the lens being horizontal and

Figur 6 eine Modifikation der Figur 5.FIG. 6 shows a modification of FIG. 5.

In der eine bekannte Anordnung darstellenden Figur 1 bezeichnet 1 das Objektiv eines Mikroskopes, 2 ein darin befindliches Strahlenumlenkelement, welches ausschaltbar ist, d.h. aus dem Strahlengang verschiebbar ist, 3 den vom Objekt kommenden Strahlengang, der sich gerade nach oben fortsetzen kann oder durch Einschieben des Umlenkelementes 2 zumindest teilweise über den Strahlengang 4 zur Beobachtungseinrichtung 5 hingelenkt wird. Bei einer solchen Anordnung kann anstelle des (als Prisma ausgebildeten) Strahlenumlenkelement es 2 einfach ein Leerloch oder ein optisches Element In FIG. 1, which shows a known arrangement, 1 denotes the objective of a microscope, 2 a beam deflecting element located therein, which can be switched off, ie can be moved out of the beam path, 3 the beam path coming from the object, which can continue straight up or by inserting the Deflection element 2 is at least partially deflected via the beam path 4 to the observation device 5. In such an arrangement, instead of the beam deflecting element (designed as a prism), it 2 can simply be an empty hole or an optical element

740464416.10.75740464416.10.75

vorgesehen sein. Im Falle eines Leerloches setzt sich der Strahlengang nach oben fort, z.B. bis zu einer monokularen Beobachtungseinrichtung oder einer sonstigen Einrichtung. In diesem Falle müsste man auf die Annehmlichkeiten des Schrägeinblickes mit beiden Augen verzichten.be provided. In the case of an empty hole, the beam path continues upwards, e.g. up to a monocular one Observation facility or other facility. In this case one would have to take advantage of the convenience of the Do not look obliquely with both eyes.

In der Figur 2 ist nun eine erfindungsgemässe Anordnung dargestellt, die es erlaubt, die binokulare Beobachtungseinrichtung mit Schrägeinblick auch dann noch zu verwenden, wenn das strichliert gezeichnete Strahlenumlenkelement 2 ausgeschaltet ist, d.h. statt dessen nur ein Leerloch vorhanden ist. Zu diesem Zweck wird erfindungsgemäss der Strahlengang 3, der sich oberhalb des ausschaltbaren Elementes 2 nach oben mit 6 fortset vfc, über einen Umlenkspiegel 9 in die Richtung 7 und einen weiteren Umlenkspiegel 10 in Richtung 8 geführt, .aus der er mittels des statt des Elementes 2 eingebrachten Umlenkspiegels 11 in die ursprüngliche Richtung 4 zur Beobachtungseinrichtung (Binotubus) 5 geführt wird.An arrangement according to the invention is now shown in FIG. which allows the binocular observation device with angled view to be used even if that Dashed-line beam deflecting element 2 switched off , i.e. instead there is only one empty hole. For this purpose, according to the invention, the beam path 3, which continues above the disengageable element 2 upwards with 6 vfc, via a deflection mirror 9 in the direction 7 and a further deflection mirror 10 guided in the direction 8, .from which it is introduced by means of the element 2 instead of Deflection mirror 11 in the original direction 4 to the observation device (Binotube) 5 is guided.

Die beiden Elemente 2 und 11 können in an sich bekannter Weise auf einem Schieber od. dgl. angeordnet sein, so dass nur das eine oder das andere im Strahlengang liegt.The two elements 2 and 11 can be arranged in a manner known per se on a slide or the like, so that only one or the other is in the beam path.

Aus Platzgründen ist es im allgemeinen günstiger, die Anordnung so zu treffen, wie sie in der Figur 3 dargestellt ist. Dort bezeichnet 18 eine strichpunktiert angedeuteteFor reasons of space, it is generally more advantageous to use the arrangement to meet as shown in Figure 3. There 18 denotes a dash-dotted line

Zusatzeinrichtung, innerhalb der sich die r ,iden Ualenkspiegel od. dgl. 13, 14 befinden = ;nd die auch Abbildungsoptiken 1fv, 17 beinhaltet. Mit 15 ist eine Zwischenbildebene angedeutet. Der Umlenkspiegel 12 ist im Grundmikroskop untergebracht und lenkt den Strahl 8 in die ursprüngliche Richtung 4 um, so dass er zur binokularen Beobachtungseinrichtung 5 gelangt, wenn das Umlenkelement 2 ausgeschaltet ist. Die Pfeile geben die Strahlrichtungen vom Objektiv weg an.Additional device within which the r, iden Ualenkspiegel or the like 13, 14 are located =; nd the imaging optics 1fv, 17 includes. An intermediate image plane is indicated at 15. The deflection mirror 12 is housed in the basic microscope and deflects the beam 8 in the original direction 4, so that it goes to the binocular observation device 5 arrives when the deflecting element 2 is switched off. The arrows indicate the beam directions away from the lens.

Eine solche Anordnung bestehend aus Grundmikroskop und Zusatzeinrichtung 18 hat den Vorteil, dass das Grundmikroskop gegenüber bisherigen Ausführungen nur wenig verändert werden muss und für sich allein verwendet v/erden kann, wobei alle Vorteile des Schrägeinblickes mit zwei Augen in beiden Armendungsfällen erhalten sind.Such an arrangement consisting of a basic microscope and additional device 18 has the advantage that the basic microscope has changed little compared to previous versions must be used and can be used on its own, with all the advantages of an angled view with two eyes in both arm endings are preserved.

Die Erfindung lässt sich, wie erwähnt, mit besonderem Vorteil bei Mikroskopen mit Photometrieeinrichtung verwenden. Eine solche bekannte Einrichtung ist in der österreichischen PS 218 272 beschrieben. Die bekannte Mikrophotometereinrichtung weist eine Linse mit verspiegelter Rückseite auf, deren Spiegel eins¹» kleine Durchtrittsöffnung für einen zur Messung dienenden Lichtanteil besitzt, der auf eine dahinter liegende Messzelle fällt. Am Spiegel entsteht ein Zwischenbild des Objektes, welches zusammen mit dem Bild der Öffnung der Beobachtungseinrichtung zugeführtAs mentioned, the invention can be used with particular advantage in microscopes with a photometric device. Such a known device is described in Austrian PS 218 272. The known microphotometer device has a lens with a mirrored back, the mirror of which has a ¹ »small opening for a portion of the light used for measurement that falls on a measuring cell located behind it. An intermediate image of the object is created on the mirror, which is fed together with the image to the opening of the observation device

7404644 16.10.757404644 10/16/75

■ II« t 4■ II «t 4

wird. Somit ist in der Beobachtungseinrichtung im Bild des Objektes auch das Bild der Messöffnung zu sehen. Dies erlaubt ein« sehr bone Jäinsreiigenauigkeit auf bestimmte Bereiche des Objektes, die ausgemessen werden sollen. Durch die Erfindung wird diese Einrichtung noch verbessert, indem nun die Beobachtung nur mit einer Beobachtungseinrichtung allein, und zwar mit dem am Grundmikroskop üblicher-will. The image of the measurement opening can thus also be seen in the image of the object in the observation device. This allows a “very bone jain inaccuracy in certain areas of the object to be measured. The invention improves this device by Now the observation with only one observation device, namely with the usual one on the basic microscope

weise vorhandenen binokularen Schrägeinblick, möglich gemacht wird.wise existing binocular angled view is made possible.

Es wäre an sich denkbar, die Anordnung grundsätzlich nach der Figur 4 zu treffen. Darin bezeichnet 23 einen teil-It would be conceivable in principle to make the arrangement according to FIG. 4. 23 denotes a partially

aurchiässigeri Spiegel, der Statt döS FrJ.siüäs ist, 19 eine hinten mit einem Spiegel 20 versehene Linse, 21 eine Messöffnung im Spiegel 20 und 24 eine Messzelle. Bei dieser gedachten Anordnung ist aber eine Abbildungsoptik notwendig, die zwischen Linse und Spiegel 23 sitzen müsste und die für beide Richtungen des Strahles 6 geeignet sein müsste. Im Strahlengang 4 müsste ausserdem eine Optik 22 vorhanden sein.aurchiässigeri mirror, the place of FrJ.siüäs 19 a lens provided with a mirror 20 at the rear, 21 a measuring opening in the mirror 20 and 24 a measuring cell. In this imaginary arrangement, however, imaging optics are necessary, which are located between the lens and the mirror 23 and which would have to be suitable for both directions of the beam 6. In addition, one would have to be in the beam path 4 Optics 22 may be present.

Um diese Schwierigkeit zu vermeiden, kann die Anordnung vorteilhaft im Sinne der Figur 5 oder 6 getroffen werden. Hier ist der Strahlengang 3 über eine Abbildungsoptik 29 zum Umlenkspiegel 26 und von dort durch den halbdurchlässigen Spiegel 25 zur Linse 19 geführt, deren verspiegelte Rücksei-In order to avoid this difficulty, the arrangement can be advantageous in the sense of Figure 5 or 6 are taken. Here the beam path 3 is via imaging optics 29 to the deflecting mirror 26 and from there through the semitransparent mirror 25 to the lens 19, the mirrored rear side of which

7404644 mifl.757404644 with 75

te 20 das Licht reflektiert, so dass es über den Spiegel 25 und die Abbildungsoptik 27 zum Umlenkspiegel 12 gelangt undte 20 reflects the light so that it reaches the deflection mirror 12 via the mirror 25 and the imaging optics 27 and

VOZl dox*"b in die Ux'öpl'u£iglj.uhe rLj.OIi*ÖUug ·+ ZUx' BöübäCivfcüÄigö—VOZl dox * "b in the Ux'öpl'u £ iglj.uhe rLj.OIi * ÖUug · + ZUx 'BöübäCivfcüÄigö—

einrichtung 5. Wieder ist hier das ausschaltbare Strahlenumlenkelement 2 strichliert eingezeichnet, welches durch den Umlenkspiegel 12 ersetzt wird, wobei dieser Spiegel auch fest eingebaut sein kann. Die strichpunktierte Linie 18 deutet wieder die Umrandung eines Zusatzgerätes an, das auf das Grundmikroskop aufsetzbar ist. Die Strahlenführung der Figur 3 entspricht derjenigen in Figur 5 und die Strahlenführung nach Figur 2 derjenigen nach Figur 6.device 5. Again, this is the switchable beam deflecting element 2 drawn in dashed lines, which is replaced by the deflecting mirror 12, this mirror also can be permanently installed. The dash-dotted line 18 again indicates the border of an additional device that is on the Basic microscope can be attached. The beam guidance in FIG. 3 corresponds to that in FIG. 5 and the beam guidance according to FIG. 2 that according to FIG. 6.

Xn der Figur S wird der von des Objektiv Λ !coEsencle Strstii! über den halbdurchlässigen Spiegel 27 zur Linse 19 bzw. deren verspiegelter Rückseite 20 geleitet, von wo aus er reflektiert wird, den halbdurchlässigen Spiegel 27 durchdringt und über Spiegel 28 zum Umlenkspiegel 11 gelangt, der ihn in die ursprüngliche Richtung 4 zur binokularen Beobachtungseinrichtung leitet. Diese letztere Ausführung wird praktisch aber kaum in Betracht kommen, weil sie in Richtung zum Binotubus zu viel Raum braucht.Xn the figure S is that of the lens Λ ! CoEsencle Strstii! Passed through the semi-transparent mirror 27 to the lens 19 or its mirrored rear side 20, from where it is reflected, penetrates the semi-transparent mirror 27 and arrives via mirror 28 to the deflecting mirror 11, which leads it in the original direction 4 to the binocular observation device. However, this latter version will hardly come into consideration in practice because it takes up too much space in the direction of the binotube.

.Natürlich sind durch die in den Figuren dargestellten Ausführungsbeispiele nicht alle Ausführungsmöglichkeiten und Anwendungsmöglichkeiten der Erfindung beschrieben. Anstelle der rechtwinkelig verlaufenden Umlenkungen könnten beliebige. Of course, by the embodiments shown in the figures not all possible embodiments and possible applications of the invention are described. Instead of the deflections running at right angles could be any

7404844 45.10.757404844 45.10.75

- 10 -- 10 -

A'-uA'-u /if/ if

andere Winkel auftreten; auch könnten mehr als die angegebene Zahl von Ucilenkungen vorgesehen sein, um sich bestimmten Konstruktionsbedingungen anzupassen. Schliesslich könnte natürlich die Strahlenführung von der Horizontalen oder Vertikalen abweichend sein. Anstel? e eines Grundmikroskopes und einer Zusatzeinrichtung könnte auch die gesamte Anordnung in einer konstruktiven Einheit ausgeführt sein, die das Grundmikroskop umfasst. Auch kann statt der hinten verspiegelten Linse 19 ein (in Figur A bis 6 nicht dargestellter) Hohlspiegel vorgesehen werden.other angles occur; more than the specified number of guide lines could also be provided for specific purposes To adapt construction conditions. Finally, of course, the beam guidance could be from the horizontal or Vertical. Anstel? e of a basic microscope and an additional device, the entire arrangement could also be implemented in a structural unit, which the basic microscope includes. Instead of the mirrored lens 19 at the back, a lens (not shown in FIGS. A to 6) Concave mirrors are provided.

Weiter sind Anwendungen im Bereiche des Polarisationsmethoden denkbar, wo es notwendig ist, eine Zwischenabbildung des Objektfeldes oder der Obje. .'vpupille mit jeweils dahinter liegendem Analysator noch vor dem ersten die Polari-Applications in the field of polarization methods are also conceivable, where intermediate imaging is necessary of the object field or the object. .'vpupille with each behind lying analyzer before the first the polar

-t sation störenden Blement (also z.B. einem Strahlenumlenk--t sation disruptive Blement (e.g. a beam deflection-

element) vorzusehen.element).

Claims (3)

Neue SchutzansprücheNew protection claims 1. Mikroskop mit, vorzugsweise "binokularem, Schrägeinblick der Beobachtungseinrichtung und mit Fotometereinrichtung, mit mindestens einem zwischen dem Objektiv des Hikroskopes und der Beobachtungseinrichtung" angeordneten, aus dem Strahlengang ausawtschaltbaren bzw. gegen ein anderes optische** Element austauschbaren ersten Strahlenumlenkelement, wobei der Beobachtungsstrahlengang bei ausgeschaltetem ersten Strahienumlenkelement über die Fotometereinrichtung und zusätzliche Strahlenunf enkelemente derart geführt ist, dass er zuletzt mit dem ursprünglichen Strahlengang der Beobachtungseinrichtung, d.h. bei eingeschaltetem ersten Strahienumlenkelement, ausammenf ällt, dadurch gekennzeichnet, dass die zusätzlichen Strahienumlenkelement e (9, 10; 13, 14, 25 bis 28) in einer mit dem Mikroskop verbindbaren Zusatzeinrichtung untergebracht sind.1. Microscope with, preferably "binocular, angled viewing" the observation device and with a photometer device, with at least one between the objective of the hicroscope and the observation device "arranged from the Beam path can be switched off or against another optical ** element exchangeable first beam deflecting element, the observation beam path via the photometer device when the first beam deflecting element is switched off and additional Strahlunf enkelemente guided in such a way is that he was last with the original beam path of the observation device, i.e. when the first beam deflecting element, fails, thereby characterized in that the additional Strahienumlenkelement e (9, 10; 13, 14, 25 to 28) in one housed additional device connectable to the microscope are. 2. Mikroskop nach Anspruch 1, daudrch gekennzeichnet, dass in der Zusatzeinrichtung (18) Abbildungsoptiken (16, 17) enthalten sind.2. Microscope according to claim 1, characterized in that in the additional device (18) imaging optics (16, 17) are included. 7404644 18.10 757404644 18.10 75 3. Mikroskop nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, d&. .j ein zweites Strahlenumlenkelement (11 12), das bei ausgeschaltetem ersten Strahl enumlenkeleiiient (2) im Strahlengang der zusätzlichen Strahlenumlenkelemente (9, 10; 13, 14-; 25 "bis 28) der Zusatzeinrichtung (18) liegt, im Mikroskop untergebracht ist.3. Microscope according to claim 2, characterized in that d &. .j a second beam deflecting element (11 12), which when switched off first beam enumlenkeleiiient (2) in the beam path of the additional beam deflecting elements (9, 10; 13, 14-; 25 "to 28) of the additional device (18) is in Microscope is housed. 4·. Mikroskop nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass das im Mikroskop untergebrachte zweite Strahlenumlenkelement (11, 12) so angeordnet ist, dass sein Strahlengang teilweise mit dem des ausschaltbar an ersten Strahlenumlenkelementes (2) in einer Linie liegt.4 ·. Microscope according to claim 3, characterized in that the second beam deflecting element (11, 12) accommodated in the microscope is arranged in such a way that its beam path partially with that of the first beam deflecting element which can be switched off (2) Lies in a line. 5_s Mikroskop nach Anspruch 3 oder 4-, dadurch gekennzeichnet, dass das erste Strahlenumlenkelement (2) vorzugsweise ein Prisma, zusammen mit dem im Mikroskop untergebrachten weiteren Strahlenumlenkelement (vorzugsweise ein umlenkspiegel) gegeneinander austauschbar, z.B. auf einem Schieber, angeordnet ist.5 _s microscope according to claim 3 or 4, characterized in that the first beam deflecting element (2) preferably a prism, together with the further beam deflecting element housed in the microscope (preferably a deflecting mirror) is arranged interchangeably, e.g. on a slide. 6_# Mikroskop nach Ansprüchen 4- und 5, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Strahlenumlenkelement (12) unabhängig vom ersten Strahlenumlsnkelement (2) eingebaut ist.6 _# Microscope according to Claims 4 and 5, characterized in that the second beam deflecting element (12) is installed independently of the first beam deflecting element (2). η_% Mikroskop nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die in der Zusatzeinrichtung (18) untergebrachten, zusätzlichen Strahlenumlenkelement e (13, 14·; 25 bis 28) derart angeordnet sind, dass ihr Strahlengang den Strahlengang der im Mikroskop angeordneten Strahlenumlenkelemente überkreuzt und mit diesem eine Schleife bildet. η _% microscope according to one or more of claims 1 to 6, characterized in that the additional beam deflection elements (13, 14 ·; 25 to 28) accommodated in the additional device (18) are arranged in such a way that their beam path corresponds to the beam path of the im Microscope arranged beam deflecting elements crossed and forms a loop with this. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die in der auf der Oberseite des Mikroskops angeordneten Zusatzeinrichtung (18) untergebrachten zu-Microscope according to one of Claims 1 to 6, characterized in that that the additional device (18) accommodated on the top of the microscope 7404644 16.10757404644 16.1075 sätzlichen Strahlenumlenkelemente (9, 10; 25 bis 28) und die im Mikroskop angeordneten Strahl enumlenkelemente (11) an den Ecken eines Dreiecks oder Vierecks, vorzugsweise Rechtecks, sitzen, derart, dass der Strahlengang einen unten offenen Winkel oder ein unten offenes Rechteck "bildet, und dass das im Strahlengang vor der Beobachtungseinrichtung (5) letzte Strahlenumlenkelement (11) im Mikroskop unterhalb der Beobachtungseinrichtung angeordnet ist, derart, dass der Strahlengang dort einen nach oben offenen Winkel bildet.additional beam deflection elements (9, 10; 25 to 28) and the beam deflecting elements (11) arranged in the microscope at the corners of a triangle or square, preferably rectangle, sit in such a way that the The beam path forms an angle that is open at the bottom or a rectangle that is open at the bottom, and that in the beam path in front of the observation device (5) the last beam deflecting element (11) in the microscope below the Observation device is arranged such that the beam path there is an upwardly open angle forms. 9· Mikroskop nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 8, wobei die Fotomväfrereinrichtung eine auf ihrer ebenen Rückseite mit einem Spiegel versehene bzw. verspiegelte Linse (19) oder einen Hohlspiegel mit einer Messöffnung für den Lichtdurchtritt aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlengang vom objektiv des Mikroskopes über einen Umlenkspiegel (26) durch einen halbdurchlässigen Spiegel (25) zu der Linse (19) bzw. zum Hohlspiegel geführt ist und vom halbdurchlässigen Spiegel in umgekehrter Richtung über einen weiteren Umlenkspiegel (12) zur Beobachtungseinrichtung (Binotubus).9 · Microscope according to one or more of Claims 1 to 8, the Fotomväfreinrichtung one on its planes Rear side provided with a mirror or mirrored lens (19) or a concave mirror with a measuring opening for the passage of light, characterized in that the beam path from the objective des Microscope via a deflection mirror (26) through a semi-transparent mirror (25) to the lens (19) or is led to the concave mirror and from the semitransparent mirror in the opposite direction via another Deflection mirror (12) for the observation device (binotube). 7404644 16.10.757404644 10/16/75