DE69828800T2 - Herstellungschnittstelle für ein integriertes schaltungsprüfsystem - Google Patents

Herstellungschnittstelle für ein integriertes schaltungsprüfsystem Download PDF

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Description

  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • GEBIET DER ERFINDUNG
  • Diese Erfindung betrifft allgemein automatische Testausrüstung, die bei der Herstellung von Halbleitern verwendet wird, und insbesondere die Produktionsschnittstelle und die Handler-Treiber des Testsystems.
  • BESCHREIBUNG DES STANDES DER TECHNIK
  • Automatische Testausrüstung wird verbreitet bei der Herstellung von Halbleitern verwendet. Halbleiter werden im allgemeinen mindestens einmal während ihrer Herstellung getestet und werden manchmal bei mehr als einem Schritt innerhalb des Herstellungsprozesses getestet. Weil jedes Bauelement getestet wird, ist die Testgeschwindigkeit kritisch für die ökonomische Herstellung von Halbleitern. Langsames Testen verhindert die volle Ausnutzung der teuren Ausrüstung, die nötig ist, um Halbleiterbauelemente zu produzieren. Moderne Halbleiterbauelemente sind sehr kompliziert und haben viele Betriebszustände. Jeder dieser Betriebszustände muss abgearbeitet werden, um einen vollständigen Test durchzuführen. Deshalb wird automatische Testausrüstung konstruiert, um Testdaten an ein Halbleiterbauelement anzulegen und sehr schnell zahlreiche Messungen in einer Produktionseinstellung durchzuführen.
  • 1 zeigt ein verallgemeinertes automatisches Testsystem nach dem Stand der Technik. Um sorgfältiges und schnelles Testen zu ermöglichen, weist das automatische Testsystem im allgemeinen einen Testgerätkörper 112, eine Computer-Arbeitsstation 110 und eine Bedieneinrichtung 114 auf. Die Computer-Arbeitsstation 110 steuert sowohl die Bedieneinrichtung 114 als auch den Testgerätkörper 112. Er steuert die Bedieneinrichtung 114, um das Halbleiterbauelement (nicht sichtbar) zu positionieren, wo es mit zahlreichen Testsonden 118 auf dem Testgerätkörper 112 in Kontakt kommt. Oft weist ein Testgerät einen gesonderten Testkopf auf, der Testsonden 118 enthält. Jedoch ist eine solche Unterscheidung für die Erfindung nicht wichtig.
  • Die Arbeitsstation 110 steuert dann den Testgerätkörper 112, um eine Serie von Tests auf dem zu prüfenden Bauelement laufen zu lassen. Jeder Test weist im allgemeinen einen Vorbereitungsteil auf, in dem Steuersignale von der Arbeitsstation 110 zum Testgerätkörper 112 gesendet werden. Die Steuersignale sind normalerweise digitale Werte, die über den Bus 116 gesendet werden. Diese Steuersignale konfigurieren die Hardware im Testgerätkörper 112, um die für den Test erforderlichen Messungen durchzuführen. Die Hardware im Testgerätkörper stellt Auslöseimpulse bereit und misst Antworten von dem zu prüfenden Bauelement entsprechend den Steuersignalen.
  • 1 zeigt, dass die Hardware im Testgerätkörper 112 zahlreiche Schaltungen aufweist, die als Pin 124 bezeichnet werden. Jeder Pin 124 erzeugt Signale oder führt Messungen für eine der Testsonden 118 durch. Jeder Pin 124 kann ein stationäres oder Gleichspannungssignal bereitstellen oder messen. Alternativ kann jeder Pin 124 sich ändernde Daten in einem sogenannten "Burst" bereitstellen oder messen.
  • Während eines Bursts wird der Testgerätkörper 112 durch die Takt- und Ablaufschaltung 120 gesteuert. Die Takt- und Ablaufschaltung 120 bewirkt, dass jeder der Pins 124 eine Folge von Datenwerten aus einem zugeordneten Speicher 128 liest. Jeder Datenwert kennzeichnet die Art von Signal, die der Pin zu einem bestimmten Zeitpunkt an der ihm zugeordneten Testsonde 118 anlegen oder zu messen erwarten sollte. Wenn der Pin eine Messung mit einem erwarteten Wert vergleicht, könnten die Resultate auch im Speicher 128 gespeichert werden.
  • Die Menge von Datenwerten, die die Werte definieren, die alle Pins 124 zu einer Zeit bereitstellen oder zu messen erwarten sollten, wird "Vektor" genannt. Während eines Bursts werden viele Vektoren ausgeführt. Die Vektoren müssen mit einer sehr hohen Frequenz ausgeführt werden, um tatsächliche Betriebsbedingungen des zu prüfenden Bauelements zu simulieren. Normalerweise gibt es Millionen von Vektoren, um die Bursts zu definieren, die benötigt werden, um ein Halbleiterbauelement zu testen. Die Vektoren werden normalerweise zu dem Zeitpunkt, zu dem das Testsystem programmiert wird, um eine bestimmte Art von Bauteil zu testen, in Speicher 128 geladen. Dieser Ladeprozess könnte einige Minuten beanspruchen und wird nicht für jeden Burst wiederholt. Stattdessen sendet die Arbeitsstation 110 für jeden Burst Befehle, die anzeigen, welche Vektoren als Teil des Bursts auszuführen sind. Sobald der Burst abgeschlossen ist, liest die Arbeitsstation 110 die Ergebnisse des Bursts aus dem Speicher 128 oder der Takt- und Ablaufschaltung 120.
  • Außerdem weist der Testgerätkörper 112 eines oder mehrere Instrumente 126 auf. Ein Instrument führt eine spezifische Testfunktion aus. Es kann z.B. ein spezifisches Testsignal wie etwa eine Sinuskurve erzeugen. Alternativ kann ein Instrument ein Signal mit einer hohen Frequenz abtasten, so dass es später durch einen digitalen Signalprozessor analysiert werden kann. Diese Funktionen können als Teil eines Bursts ausgeführt werden oder gesondert von einem Burst ausgeführt werden.
  • Ein vollständiger Test eines Bauteils, manchmal als "Job" bezeichnet, besteht aus einer Folge von Bursts, in die DC-Messungen sowie Messungen durch die Instrumente 126 eingestreut sind. Die Bursts könnten verwendet werden, um spezifische Funktionseigenschaften des zu prüfenden Bauelements zu messen. Alternativ könnte jeder Burst nur dazu verwendet werden, das zu prüfende Bauelement in einen Zustand zu versetzen, in dem eine Gleichstrommessung durchgeführt werden kann. Die Reihenfolge, in der diese Elemente eines Tests durchgeführt werden – manchmal als der "Ablauf' bezeichnet – wird von Software in der Arbeitsstation 110 bestimmt.
  • Sobald ein Bauelement vollständig getestet worden ist oder bis zu dem Punkt getestet worden ist, an dem es als fehlerhaft bestimmt wird, erzeugt die Arbeitsstation 110 Steuersignale an die Bedienvorrichtung 114. Die Bedienvorrichtung 114 übergibt dann dem Testgerätkörper 112 das nächste zu prüfende Bauelement, und der Prozess wird wiederholt. Arbeitsstation 110 sammelt auch Daten darüber, ob bestimmte Bauelemente bestanden oder versagt haben. Er kann diese Daten so verarbeiten, dass defekte Bauelemente verworfen werden, oder er kann andere Funktionen ausführen, wie etwa die Daten auf Fehlertrends zu analysieren.
  • Für die Produktion ist es höchst wünschenswert, dass die Software, die es einem Bediener ermöglicht, das Testgerät zu steuern, sehr leicht zu erlernen und zu benutzen ist. Was in einem Produktionstestumfeld benötigt wird, ist eine sehr einfache Bedienerschnittstelle zum Rest des Testsystems. Außerdem muss die Schnittstelle wegen der vielen von Kunde zu Kunde veränderten Anforderungen an diese Schnittstelle flexibel und leicht zu ändern sein.
  • Ein Vortrag mit dem Titel "Object-Oriented design of Measurement Systems" von Daponte P. et al und veröffentlicht in "Proceedings of the Instrumentation and Measurement Technology Conference", New York, 12.-14. Mai 1992, Seiten 243–248, XP000344047, beschreibt ein objektorientiertes Simultan-Echtzeit-Modell für die Entwicklung von Software eines rechnergestützten Messsystems.
  • Ein Vortrag mit dem Titel "Ada Software Support Environment for Test" von DeWald Gee et al und veröffentlicht in "Advancing Mission Accomplishment", San Antonio, 17.-20. September 1990, Seiten 239–246, XP000201781.
  • Ein Artikel mit dem Titel "ActiveX Demystified" von Chappell et al und veröffentlicht in Byte, Vol. 20, Nr. 9, September 1997, Seiten 56–62, XP000726365, liefert eine Hintergrundbeschreibung der ActiveX-Technologie.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Die vorliegende Erfindung stellt ein Verfahren bereit, um eine einfache Bedienerschnittstelle zum Testsystem zu erzeugen, die sehr flexibel ist. Eine Produktions-Bedienerschnittstelle wird unter Verwendung selbständiger ActiveX-Steuerungsobjekte erzeugt, von denen jedes eine Schnittstelle zu einem spezifischen Teil des gesamten Testsystems bereitstellt. All diese Steuerungsobjekte kommunizieren automatisch untereinander. Die Produktionsschnittstelle verwendet ein ActiveX-"Testgerät-Steuerungsobjekt", das eine Anwendungs-Programmierschnittstelle zum Rest des Softwaresteuerungssystems bereitstellt. Eine Bibliothek selbständiger ActiveX-Steuerungsobjekte wird bereitgestellt, die "Bedienungselemente" enthält, die in ein Bedienerfenster "gezogen und losgelassen" werden können, um den Bediener mit Information und der Fähigkeit, das Testsystem zu steuern, zu versehen. Die ActiveX-Bedienungselemente kommunizieren über das ActiveX-Testgerät-Steuerungsobjekt mit dem Rest des Testsystems.
  • Außerdem muss ein Halbleitertestsystem angepasst werden, damit es mit einem oder mehreren verschiedenen Handlern für geschlossene Bauelemente oder mit Wafersonden zusammenarbeitet, die ein Halbleiterbauelement zum Testen durch das Testgerät positionieren. Ein ActiveX-Bedienungselement ermöglicht es einem Bediener, einen Handler-Treiber aus einer Bibliothek von Handler-Treibern auszuwählen. Jeder Handler-Treiber verwendet ein ActiveX-Handlertestgerät-Steuerungsobjekt, das als Schnittstelle zwischen dem Handler und dem ActiveX-Testgerät-Steuerungsobjekt (und dadurch zum Rest des Testsystems) dient.
  • BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • 1 ist ein Hardware-Blockschaltbild eines Testgeräts nach dem Stand der Technik.
  • 2 ist ein Funktions-Blockschaltbild der Produktionsschnittstelle der vorliegenden Erfindung.
  • 3 ist ein Beispiel einer sehr einfachen Produktions-Bedienerschnittstelle.
  • AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
  • 2 ist ein ausführliches Funktions-Blockschaltbild des vollständigen Testsystems gemäß der vorliegenden Erfindung. Das System weist eine PC-Arbeitsstation 2000, ein Testgerät 2002, einen Handler 2004 und einen Zentralrechner 2006 auf. Die Software der Arbeitsstation 2000 besteht aus einer Produktionsschnittstelle 2008 und dem Testentwicklungs- und Ausführungsprogramm 2010 (im allgemeinen als Softwaresteuerungssystem bezeichnet).
  • Die Produktionsschnittstelle 2008 dient als Schnittstelle zwischen dem Bediener und dem Testentwicklungs- und Ausführungsprogramm 2010, dem Zentalrechner 2006 und dem Handler 2004. Um diese Ausrüstung in einem Produktionstestumfeld zu steuern, ist es erforderlich, dem Bediener der Ausrüstung eine sehr einfache Steuerungsschnittstelle bereitzustellen. Jedoch gibt es viele veränderte Anforderungen an diese Schnittstelle von Kunde zu Kunde und auch von Ort zu Ort beim selben Kunden. Außerdem muss die Testausrüstung oft mit anderen Rechnersteuersystemen mit einer Vielzahl von Anforderungen kommunizieren. Eine Schnittstelle bereitzustellen, die einfach und dennoch flexibel ist, die den Anforderungen aller Nutzer entspricht und die mit anderen Rechnersteuerprogrammen verknüpft werden kann, war ein sehr schwieriges Problem. Dies wurde früher alles in C/C++ programmiert.
  • Die Produktionsschnittstelle 2008 löst das Problem durch die Verwendung von selbständigen Steuerungsobjekten, nachfolgend selbständige "Steuerungsobjekte" genannt, von denen jedes eine Schnittstelle zu einem spezifischen Teil des gesamten Testsystems mit dem Testentwicklungs- und Ausführungsprogramm 2010, dem Zentralrechner 2006 und Handler-Treibern 2004 bereitstellt. Diese Steuerungen kommunizieren alle automatisch miteinander.
  • In der bevorzugten Ausführungsform sind diese Steuerungen "ActiveX"-Steuerungsobjekte, die in Visual Basic (nachfolgend VB) von der Microsoft Corporation, Redmond, Washington, geschrieben wurden. Diese Steuerungsobjekte können unter Verwendung von Visual Basic schnell und einfach zu einer grafischen Anwenderschnittstelle (GUI) kombiniert werden oder als Programmschnittstelle ohne GUI verwendet werden. Die ActiveX-Steuerungsobjekte ermöglichen es dem Bediener, eine Aktion im Testentwicklungs- und Ausführungsprogramm 2010, dem Zentralrechner 2006 oder dem Handler 2004 auszulösen. Der Bediener verwendet während des Produktionstests ein ActiveX-Steuerungsobjekt, um mit der Exekutive 2016 zu kommunizieren. Zusätzlich kann der Bediener begleitende Aktionen durch den Handler 2004 und den Zentralrechner 2006 auslösen oder die Produktionsschnittstelle kann als Antwort auf Anfragen vom Handler 2004 oder vom Zentralrechner 2006 automatisch eine Aktion im Testentwicklungs- und Ausführungsprogramm 2010 (durch Exekutive 2016) auslösen.
  • Eine ActiveX-Steuerungsobjekt-Schnittstelle ist durch Eigenschaften, Ereignisse und Methoden definiert. Eine Methode ist eine Visual-Basic-Funktion, die im Steuerungsobjekt aufgerufen werden kann. Die Funktion kann Argumente entgegennehmen und einen Wert zurückgeben und ist analog zu einer Funktionsdefinition in einer C/C++-Bibliothek. Eine Eigenschaft ist im Grunde genommen eine globale Variable im Steuerungsobjekt mit Zugriffsfunktionen, die bereitgestellt werden, um ihren Wert zu erhalten und/oder festzulegen. Eigenschaften können zur Entwurfzeit oder zur Laufzeit programmierbar gemacht werden, und VB behandelt die Sicherung programmierter Eigenschaftswerte automatisch als Teil der ausführbaren Produktionsschnittstelle. Ein Ereignis ist ein durch das Steuerungsobjekt ausgelöstes Signal, das zu dem Objekt weitergeleitet wird, das das Steuerungsobjekt enthält. Der Container (die Produktionsschnittstelle in der bevorzugten Ausführungsform) kann einen Handler (Steuerungsprogramm) für das Ereignis enthalten, falls es notwendig sein sollte.
  • Es gibt vier Typen von ActiveX-Steuerungsobjekten in der bevorzugten Ausführungsform:
    • – Testgerät-Steuerung 2014. Diese liefert eine Anwendungsprogrammierschnittstelle (API) zum Rest des Systems.
    • – Bedienungselemente 2022. Dies sind GUI-Komponenten, die dem Bediener am Testgerät-Steuerpult erlauben, Aktionen auszuführen oder Zustände zu überwachen.
    • – Handlertestgerät-Steuerungsobjekt 2026. Dies ist ein ActiveX-Steuerungsobjekt, das die Schnittstelle zu jedem Handler 2004 definiert. Sie dient als einziger Verbindungspunkt zwischen dem Handler-Treiber 2024 und der Testgerät-Steuerung 2014 der Produktionsschnittstelle. Alles was diese Steuerung enthält, kann als Handler-Treiber 2024 mit der Produktionsschnittstelle 2008 verwendet werden.
    • – Zentralrechner-Schnittstellensteuerung 2021. Dieses Steuerungsobjekt übersetzt die API der Testgerät-Steuerung 2104 in Standardnachrichten, die an den Zentralrechner 2006 gesendet oder von dort empfangen werden.
  • Der Begriff "Produktions-Steuerungsobjekte" bezieht sich auf alle ActiveX-Steuerungsobjekte, die verwendet werden, um eine Produktions-Bedienerschnittstelle und/oder einen Handler-Treiber zu erzeugen. Dies schließt die Testgerätsteuerung, die Bedienungselemente, die Handlertestgerät-Steuerungsobjekte und die Zentralrechner-Schnittstellensteuerungsobjekte ein.
  • Um das Testgerät in einem Halbleiter-Produktionsumfeld zu betreiben, muss eine Vielzahl von Fenstern verfügbar sein, die der Bediener abhängig vom durchzuführenden Test auf seinen Bildschirm bringen kann. Um diese Fenster zu erzeugen, kann der Programmierer Steuerungsobjekte aus einer Bibliothek von ActiveX-Steuerungsobjekten auf das Bedienerfenster "ziehen und loslassen". ActiveX-Steuerungsobjekte sind geeignet, selbständig zu wirken, so dass sie in jede beliebige Anwendung gezogen und losgelassen werden können. Der Begriff "ziehen und loslassen" wird allgemein zur Bezeichnung der Handlung des Auswählens eines Gebildes und des Plazierens dieses Gebildes in einem Container verwendet. Der Begriff Container wird allgemein zur Bezeichnung eines Gebildes verwendet, das andere Objekte enthalten kann. In der bevorzugten Ausführungsform ist der Container das Bedienerfenster, und die Objekte sind ActiveX-Steuerungsobjekte. Der Vorteil ist die Einfachheit, mit der die verschiedenen Fenster an der Bedienerschnittstelle erzeugt werden können. Früher mussten alle solche Formen einzeln in C/C++ programmiert werden, was schwierig und zeitraubend war. Es ist eine völlig neuartige Anwendung, ActiveX-Steuerungsobjekte für Bedienungselemente beim Testen von Halbleitern zu verwenden.
  • Ein weiterer Vorteil besteht darin, wie die ActiveX-Steuerungsobjekte in einem spezifischen Fenster der Bedienerstation alle miteinander kommunizieren. Jedes ActiveX-Steuerungsobjekt ist geeignet, so zu arbeiten, dass zum Zeitpunkt der Initialisierung jedes Bedienungselement nach anderen Bedienungselementen und der Testgerät-Steuerung im Fenster sucht und eine Kommunikationsverbindung zu jedem anderen ActiveX-Steuerungsobjekt herstellt, so dass jedes Steuerungsobjekt mit jedem anderen Steuerungsobjekt kommunizieren kann.
  • Zur weiteren Darstellung ist in 3 eine beispielhafte Produktions-Bedienerschnittstelle gezeigt. Die Bedienerschnittstelle 3000 enthält ein Testgerät-Steuerungsobjekt 3030, eine Ablagefach-Anzeige 3010 und einen Startknopf 3020. Die Ablagefach-Anzeige und der Startknopf sind Beispiele für Bedienungselemente. Ein Beispiel für die Suchroutine, die verwendet wird, um alle Ablagefach-Anzeigen im Fenster zu identifizieren, ist unten angegeben. Die verwendete Methode besteht darin, auf der Suche nach Steuerungsobjekten des Typs "BinDisplay" (Ablagefach-Anzeige) alle Steuerungsobjekte im Hauptfenster wiederholt zu durchlaufen. Wenn eine Ablagefach-Anzeige gefunden wird, wird ein Objekthandler für dieses Steuerungsobjekt für die zukünftige Kommunikation mit den Ablagefach-Anzeigen gesichert. Diese Suchroutine war schwierig zu bestimmen, und das folgende in Visual Basic geschriebene Programm ist der beste bekannte Möglichkeit für die Suche.
  • Anmerkung 1: Diese Routine durchsucht momentan genau ein Level; es sollte erweitert werden, um eine beliebige Anzahl von Levels durchlaufen zu können.
  • Anmerkung 2: Diese Routine wird aufgerufen, sobald Kommunikation mit einer Ablagefach-Anzeige benötigt wird (siehe Anmerkung 3). Da die Anzahl der Steuerungsobjekte zur Optimierung sich zur Laufzeit nicht ändern kann (siehe Anmerkung 4), wird die Routine einfach verlassen, wenn schon Ablagefach-Anzeigen gefunden worden sind.
  • Anmerkung 3: Diese Routine wird mehrfach aufgerufen, da es kein geeignetes Initialisierungsereignis für das Nutzer-Steuerungsobjekt gibt, wenn sie aufgerufen werden kann. Aus verschiedenen Gründen funktionieren weder UserControl_Initialize noch UserControl_InitProperties. Das sollte wenn möglich korrigiert werden.
  • Anmerkung 4: Steuerungsobjekte können tatsächlich zur Laufzeit hinzugefügt werden. Wir gehen davon aus, dass das nicht geschehen wird. Aber das ist nicht unbedingt eine sichere Annahme.
  • Figure 00060001
  • Als ein Beispiel dafür, wie die ActiveX-Steuerungsobjekte miteinander kommunizieren, wenn der Bediener einen Test auslösen möchte, benutzt er ein ActiveX-Start-Steuerungsobjekt aus den Bedienungselementen 2022. Das Start-Steuerungsobjekt ist so programmiert, dass es mit einer Methode in der ActiveX-Testgerät-Steuerung 2014 kommuniziert, die den Start des Tests durch die Exekutive 2016 auslöst. Das Testprogramm läuft, und ein Ergebnis wird verfügbar. Das Testentwicklungs- und Ausführungsprogramm 2010 sendet eine Meldung zurück, dass der Test abgeschlossen ist. Die Testgerät-Steuerung 2104 fragt die Ergebnisse des Tests von der Exekutive 2016 ab. Die Testgerät-Steuerung 2104 informiert als nächstes jede Ablagefach-Anzeige über die Testergebnisse.
  • Alle ActiveX-Steuerungsobjekte in der Bedienerschnittstelle kommunizieren mit dem Rest des Testsystems durch die ActiveX-Testgerät-Steuerung. Es gibt nur eine Testgerät-Steuerung 2014.
  • Die Bedienungselemente 2022 weisen auch ein ActiveX-Handler-Steuerungsobjekt auf, das einem Bediener ermöglicht, einen Handler aus einem Menü verfügbarer Handler-Treiber auszuwählen, ihn zu verbinden und ihn zu aktivieren. Der Begriff "Handler" wird allgemein zur Bezeichnung von Handlern für geschlossene Bauelemente oder Wafersonden verwendet. Die Gestaltung der Handler-Treiber 2024 weicht wesentlich davon ab, was nach dem Stand der Technik getan wurde. Die Handler-Unterstützung für diese herkömmlichen Testgeräte besteht aus einer einzigen, stark konfigurierbaren Bibliothek, die versucht, jede mögliche Ausrüstung zu unterstützen. Das hat sich für Kunden als schwer anwendbar erwiesen. Jedes einzelne Teil der Ausrüstung zu konfigurieren, ist kompliziert, da die Schnittstelle viele programmierbare Einstellungen aufweist, von denen nur einige notwendig sind. Wenn ein neuer Handler ein Merkmal erfordert, das nicht in der Bibliothek verfügbar ist, ist eine Aktualisierung der Systemsoftware erforderlich, die der Endanwender nicht durchführen kann. Und die Bibliothek ist fehleranfällig, da jede Änderung, um neue Handler zu unterstützen, das Risiko birgt, Fehler in die bereits bestehenden einzuführen.
  • In der bevorzugten Ausführungsform hat jeder Handler seinen eigenen Treiber, der nur den Code enthält, der erforderlich ist, um diesen spezifischen Handler zu bedienen. Zur Laufzeit wird der Treiber, der benötigt wird, um den verwendeten Handler zu bedienen, dynamisch in die Produktionsschnittstelle geladen. Dies hat gegenüber der herkömmlichen Methode bedeutende Vorteile:
    • – Da jedes Treibermodul nur den von ihm benötigten Code hat, ist es viel kleiner und einfacher.
    • – Die Visual-Basic-Umgebung macht es für den Kundendienst oder die Kunden selbst einfach, einen neuen Treiber zu erzeugen, ohne Unterstützung von der Softwareabteilung des Herstellers zu benötigen. Die bevorzugte Ausführungsform weist eine Anzahl von Treibern auf, die als Startpunkte kopiert werden können.
    • – Das Risiko ist gering, dass die Softwareentwicklung für die Erfindung Fehler verursacht, anders als bei einer einzelnen Bibliothek, die kontinuierlich geändert werden muss, um neue Merkmale hinzuzufügen.
  • Die bevorzugte Ausführungsform stellt eine Bibliothek von Handler-Treibern bereit, die Kunden entweder direkt oder als Basis zur Entwicklung eines neuen Treibers nutzen können. Der übliche Anfang bei der Entwicklung eines neuen Treibers besteht darin, einen Treiber der bevorzugten Ausführungsform zu kopieren. Der Treiber besteht aus einer VB-Vorlage, die mindestens ein Handlertestgerät-Steuerungsobjekt 2026 und Aufrufe zu einer Kommunikationsschnittstelle 2028 enthält. Das Handlertestgerät-Steuerungsobjekt 2026 definiert die Schnittstelle zum Handler 2004. Benutzerdefinierter Code verwendet die Eigenschaften, Ereignisse und Methoden des Steuerungsobjekts und programmiert über die Kommunikationsschnittstelle 2028 auch den Handler entsprechend.
  • Genauer betrachtet, ist das Handlertestgerät-Steuerungsobjekt 2026 ein ActiveX-Steuerungsobjekt, das die Schnittstelle zu jedem Handler 2004 definiert. Dies dient als der einzige Verbindungspunkt zwischen dem Handler-Treiber 2024 und dem Rest der Produktionsschnittstelle 2008. Alles, was dieses Steuerungsobjekt enthält, kann von der Produktionsschnittstelle 2008 als Handler-Treiber 2024 verwendet werden.
  • Die Kommunikationsschnittstelle 2028 definiert die Netzwerktransportschicht zwischen der Testgerät-Steuerung 2014 und jeglicher Peripherie. Der Handler-Treiber 2024 verwendet eine oder mehrere Kommunikationsschnittstellen 2028, um die eigentlichen Lese- und Schreiboperationen zu und von dem Handler oder der Sonde 2004 durchzuführen.
  • Die Produktionsschnittstelle 2008 weist auch eine ActiveX-Zentralrechner-Schnittstellensteuerung 2021 auf, die es dem Bediener ermöglicht, den Zentralrechner 2006 mit dem Testgerät 2002 zu verbinden. In der Produktionsstätte wird manchmal ein Testgerät 2002 mit einem Zentralrechner 2006 verbunden, der den Zustand des Testgeräts überwacht, Testergebnisse sammelt und den Testprozess direkt steuern kann.
  • Die Zentralrechner-Schnittstellensteuerung 2021 übersetzt die API der Testgerät-Steuerung 2014 in Standardnachrichten, die an den Zentralrechner 2006 gesendet oder von dort empfangen werden. Es gibt zwei Teile der Zentralrechner-Schnittstellensteuerung 2021. Die Zentralrechner-Nachrichtensteuerung 2030 ist zuständig für die Übersetzung der API der Testgerät-Steuerung 2014 in Nachrichten in einem Standardformat, die von den Zentralrechnern verstanden werden können. Die Netzwerkschnittstelle 2032 führt die eigentliche Netzwerkkommunikation mit der Zentralrechnerverwaltung durch.
  • Die Zentralrechner-Nachrichtensteuerung 2030 ist ein ActiveX-Steuerungsobjekt, das die Ereignisse der Testgerät-Steuerung 2014 wahrnimmt und deren Eigenschaften und Methoden ausführen kann. Wenn ein Ereignis der Testgerät-Steuerung 2014 empfangen wird, das eine Nachricht zum Zentralrechner 2006 erfordert, erzeugt es eine Zentralrechner-Nachricht, die das Ereignis beschreibt, und ruft ein Ereignis "Nachricht bereit" hervor. Wenn eine Nachricht vom Zentralrechner 2006 mittels eines "Nachricht empfangen"-Verfahrens empfangen wird, greift es auf die geeigneten Testgerät-Steuerungsmethoden und -eigenschaften zu, um die Anfrage zu implementieren. Die Netzwerkschnittstelle 2032 wird durch einen Code in der Produktionsschnittstelle gesteuert, der mit der Zentralrechner-Nachrichtensteuerung zusammenwirkt.
  • Das Testentwicklungs- und -ausführungsprogramm 2010 arbeitet innerhalb des Betriebssystems Windows NT und besteht aus Software, die in Elemente aufgeteilt ist, die verwendet werden: 1) zur Testentwicklungs- und -auswertungszeit und 2) zur Testausführungszeit. Die Excel-Arbeitsmappe 308 ist der Abschnitt des Programms, der zur Entwicklung von Tests zur Testentwicklungs- und -auswertungszeit verwendet wird. Excel ist ein Tabellenkalkulationsprogramm, mit dem eine Anwendung entwickelt werden kann. Visual Basic ist eine in Excel eingebaute Programmiersprache, die genutzt wird, um Testvorlagen zu schreiben und die Ausführung von Tests zu steuern.
  • In der bevorzugten Ausführungsform sind die Werkzeuge zur Bauelementdaten- und Ablaufentwicklung 310 durch kundenspezifische Tabellen innerhalb der Excel-Arbeitsmappe 308 implementiert. Drei Typen von Daten müssen durch die Tabellen für einen Test festgelegt werden: Bauelementdaten, Testablaufdaten und Testinstanzdaten. Bei Bauelementdaten können dies Tabellen für Taktsätze, Kanalbelegungen, Flankensätze oder einen Anschlussbelegungsplan sein. Jede dieser Tabellen ist ein Datensatz. Die Testinstanzdaten-Tabellen bestimmen die Testvorlage und ihren zugeordneten Bauelementdatensatz. Eine Testvorlage ist ein Testalgorithmus. In der bevorzugten Ausführungsform sind Testvorlagen in Visual Basic geschrieben. Eine Testvorlage und ihr zugeordneter Datensatz werden als "Instanz" bezeichnet. Testablaufdaten können Tabellen sein, die eine Serie von auszuführenden Testschritten festlegen. Die Serie von Testschritten kann die Ausführung einer Serie von Testvorlagen sein, die jeweils einen zugeordneten Datensatz verwenden.
  • Zusammengefasst weist die Excel-Tabelleninformation 312 auf: die Bauelementdatensätze, die Testinstanzinformation, die definiert, welche Vorlagen mit dem zugeordneten Datensatz zu verwenden sind, und die Testablaufinformation, die die Reihenfolge der auszuführenden Testinstanzen definiert.
  • Die Testvorlagen 320 sind in Visual Basic geschrieben und werden normalerweise vom Hersteller bereitgestellt. Die Werkzeuge zur Bauelementdaten- und Ablaufentwicklung 310, die Excel-Arbeitsblätter 312 und die vom Hersteller bereitgestellten Testvorlagen 320 werden zur Testentwicklungs- und -auswertungszeit vor der Testausführung während des Produktionstests verwendet. Testvorlagen 320 und Excel-Arbeitsblätter 312 werden ebenfalls während des Produktionstest verwendet.
  • Die zusätzliche Software des Testentwicklungs- und -ausführungsprogramms 2010, die zur Testausführungszeit während des Produktionstests verwendet wird, sind die Exekutive 2016, die Ablaufsteuerungssoftware 314, der Datenmanager 316 und die Gerätetreiber 328. Diese gesamte Software arbeitet in der Betriebssystem-Umgebung Windows NT.
  • In der bevorzugten Ausführungsform löst die Testgerät-Steuerung 2014 das Hochladen des Testprogramms aus. Excel wird gestartet, und die Arbeitsmappe 308 wird geöffnet. Die Daten der Arbeitsblätter 312 gehen an den Datenmanager 316. Die Exekutive 2016 reagiert auf die Testgerät-Steuerung 2014 und ruft die Ablaufsteuerung 314 und die Gerätetreiber 328 auf. Diese fordern Daten vom Datenmanager 316 an. Der Test ist nun bereit zu starten, und alle Funktionen nehmen einen Ruhezustand ein. Wenn das Testprogramm bereit ist zum Start, weist die Testgerät-Steuerung die Exekutive 2016 an, den Test auszulösen. Die Exekutive weist die Ablaufsteuerung 314 an, das Programm auszuführen. Die Ablaufsteuerung legt fest, welche Instanz auszuführen ist, und ruft eine Vorlage aus der Vorlagenbibliothek 320 auf. Die Vorlage fordert die Bauelementdaten (d.h. Argumente) vom Datenmanager 316 an und ruft dann die Treiber 328 auf.
  • Die Gerätetreiber 328 übergeben die Signale an das Testgerät 2002, um einen vollständigen Test oder "Job" mit einem zu prüfenden Bauelement (DUT) durchzuführen. Der gesamte Test weist Gleichstrompegel-, funktionales und serielles/abfragendes Testen des DUT auf. Das Testgerät kann ein beliebiges dem Stand der Technik entsprechendes Testgerät für einen Halbleiter sein. Ein Beispiel eines Testgeräts ist in dem US-Patent 5606568 beschrieben, das auf denselben Rechtsnachfolger Teradyne übertragen ist und dessen Inhalt hierin durch Bezugnahme aufgenommen wird.
  • Nachdem das Testgerät 2002 den Test beendet hat, bestimmt die Vorlage, ob der Test bestanden worden ist oder nicht, und übergibt die Steuerung zurück an die Ablaufsteuerung 314. Die Ablaufsteuerung bestimmt dann, ob noch mehr Instanzen auszuführen sind oder ob der Ablauf abgeschlossen ist. Ist der Ablauf abgeschlossen, geht das Testsystem in einen Ruhezustand über.
  • Das Testentwicklungs- und -ausführungsmodul 2010 ist in einer auf den gleichen Rechtsnachfolger Teradyne übertragenen, gleichzeitig anhängigen Patentanmeldung mit dem Titel "Low cost, easy to use automatic test system software" von Daniel C. Proskauer und Predeep B. Deshpande, angemeldet am 13. Juni 1997 als US-A-5910895 bzw. EP-A-0988558, umfassender offenbart.
  • Zusätzliche Angaben zur Produktionsschnittstelle 2008, zum Handler-Treiber 2024 und zur Zentralrechner-Schnittstellensteuerung 2021 sind im nachfolgenden Anhang A aufgeführt.
  • Alle Rechte, einschließlich Urheberrechte, an dem in Anhang A enthaltenen Material sind auf Teradyne, den Rechtsnachfolger der vorliegenden Erfindung, übergegangen und ihr Eigentum. Teradyne behält sich alle Rechte an Anhang A vor und erteilt die Genehmigung, das Material zu vervielfältigen, nur in Verbindung mit der Vervielfältigung des erteilten Patents und für keinen anderen Zweck.
  • Obwohl die bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung dargestellt und beschrieben worden sind, bieten sich dem Fachmann zahlreiche Abwandlungen und alternative Ausführungsformen an. Folglich wird die Erfindung nur durch die beigefügten Ansprüche eingeschränkt.
  • ANHANG A
  • PRODUKTIONSSOFTWARE IG-XL
  • INHALT
    • 1. EINLEITUNG 1
    • 1.1. Architekturüberblick
    • 1.2. Konzept des offenen Entwurfs
    • 1.3. ActiveX-Steuerungsobjekte
    • 2. TESTGERÄT-STEUERUNG 4
    • 3. BEDIENUNGSELEMENTE 6
    • 3.1. Handler-Steuerung
    • 3.2. Standort-Steuerungsobjekt
    • 3.3. "BinDisplay"-Steuerungsobjekt
    • 3.4. Startknopf-Steuerungsobjekt
    • 3.5. Ausbeutenüberwachungs-Steuerungsobjekt
    • 4. HANDLER-TREIBER 8
    • 4.1. Treibermodell
    • 4.2. Eingebaute Treiber
    • 4.3. Entwicklung eines Treibers
    • 4.4. Handler-Treiber-Assistent
    • 4.5. Testen eines Treibeis
    • 5. ZENTRALRECHNER-SCHNITTSTELLE 13
    • 5.1. Zentralrechner-Nachrichtensteuerung
    • 5.2. Netzwerkschnittstelle
    • 6. PROJEKTLISTE 15
  • IG-XL-PRODUKTIONSSOFTWARE
  • BISHERIGER VERLAUF DER BEARBEITUNG
    • 16. Juni 1997 Jon Vollmar: Abschnitte zu ActiveX und Zentralrechner-Steuerungsobjekt hingefügt.
    • 14. Mai 1997 Jon Vollmar: Erste Version auf der Grundlage von Ed Gilberts "Aurora Production Software"
    • Verwandte Dokumente
    • "Aurora Production Software", Ed Gilbert, 2.8.96
    • \\aurorant\aurora\Documents\Production_SW\ProposalProductionSoftware.doc
  • EINLEITUNG
  • Architekturüberblick
  • Dieses Dokument beschreibt die Produktionssoftware IG-XL. Wie in 1 dargestellt, erfordert der Produktionstest vier physische Komponenten. Das Testgerät selbst besteht aus einem PC, auf dem IG-XL läuft, und seiner zugehörigen Testhardware. Ein Handler setzt Bauelemente zum Testen ein und sortiert sie auf der Grundlage von Testergebnissen (man beachte, dass in diesem Dokument "Handler" immer als "Handler oder Sonde" zu verstehen ist). Schließlich wird das Testgerät normalerweise mit einem Zentralrechner (Server) verbunden, der Testergebnisse sammelt und speichert sowie den Testvorgang direkt steuern kann. In letzterem Fall wird der Zentralrechner oft als Zellen-Steuerungseinrichtung bezeichnet.
    Figure 00110001
    Fig. 1: Produktionssoftware IG-XL
  • Innerhalb von IG-XL gibt es zwei Windows-NT-Prozesse. Microsoft Excel ist die Schnittstelle zum Laden, Ausführen und Austesten des Programms. Während der Produktion führt Excel diese Funktionen weiterhin aus, auch wenn es kein sichtbares Fenster gibt, es sei denn, der Bediener geht in den Entwicklungsmodus über.
  • Ein zweiter Prozess stellt die Produktionsschnittstelle bereit. Dies ist ein in Visual Basic geschriebenes ausführbares Programm. Es besteht aus als "ActiveX-Steuerungsobjekte" bezeichneten Bausteinen, die in IG-XL enthalten sind. Es gibt drei Arten von Steuerungsobjekten:
    • – Die Testgerät-Steuerung. Diese stellt eine API zu Exekutive und Job von IG-XL bereit.
    • – Bedienungselemente. Dies sind GUI-Komponenten, die es einem Bediener am Testgerät-Steuerpult ermöglichen, Aktionen auszuführen oder Zustände zu beobachten.
    • – Zentralrechner-Schnittstellensteuerung. Dieses Steuerungsobjekt übersetzt die API der Testgerät-Steuerung in Standardnachrichten, die zum Zentralrechner gesendet oder von dort empfangen werden. Beispiele für diese Standards sind SECS II, definiert durch SEMI, und SEMF, definiert durch Teradyne.
  • Eine Produktionsschnittstelle weist außerdem einen Handler-Treiber auf, der die gerätespezifische Information darüber aufweist, wie eine) bestimmter) Handler oder Sonde zu betreiben ist. Ein Treiber wird zur Laufzeit ausgewählt und geladen. IG-XL weist Treiber für Standardschnittstellen und allgemein verwendete Ausrüstung auf. Es ist auch leicht für einen Kunden, einen kundenspezifischen Handler-Treiber zu erzeugen, ohne irgendwelche Änderungen an IG-XL zu erfordern.
  • Konzept des offenen Entwurfs
  • Eine Bedienerschnittstelle muss leicht anzupassen sein; jeder Kunde wünscht sich, seine eigene zu erzeugen, die auf seine Fabrikräume zugeschnitten ist. Testgerät-Software erfüllt diesen Bedarf im allgemeinen durch Bereitstellung von grundlegenden Anzeigewerkzeugen, die für die meisten Kunden nützlich sind, sowie durch Bereitstellung einer API, die Kunden ermöglicht, ihre eigenen Werkzeuge zu erzeugen. Aber ein Kunde, der ein Werkzeug erzeugt, kann damit normalerweise nicht beginnen, indem er ein systemeigenes Werkzeug modifiziert, da es schwierig und teuer ist, die Entwicklungsumgebung der Systemsoftware zu reproduzieren, und die Schnittstellen, die erforderlich sind, um es funktionsfähig zu machen, oft nicht exportiert oder dokumentiert werden.
  • Die Wahl von Visual Basic macht ein anderes Entwurfsmodell möglich. Die VB-Entwicklungsumgebung ist sowohl leistungsfähig genug, um für die Entwicklung von Systemsoftware verwendet zu werden, als auch so einfach anwendbar und preiswert, dass auch Kunden sie nutzen können. IG-XL enthält Muster-Produktionsschnittstellen, die entweder ohne Umschweife verwendet oder kopiert und kundengerecht angepasst werden können. Der serienmäßige Software-Lieferumfang weist Quellcode und Dokumentation für die Bedienungselemente, Zentralrechner-Schnittstellensteuerungen und Handler-Treiber auf. Indem ein Kunde einfach Visual Basic kauft, hat er die gleichen Möglichkeiten, Produktionsschnittstellen zu erzeugen, wie die IG-XL-Softwaregruppe.
  • ActiveX-Steuerungsobjekte
  • Überblick
  • ActiveX ist eine Softwaretechnologie von Microsoft zur Entwicklung sprachunabhängiger Softwarekomponenten, die als Steuerungsobjekte bezeichnet werden. Indem man sie verwendet, kann man ein individuelles Steuerungsobjekt erzeugen, beispielsweise eine Ablagefach-Anzeige. Das Steuerungsobjekt wird als eine binäre Datei vertrieben, in die sowohl der Code als auch die GUI- Information eingebettet sind und die jeder Entwicklungsumgebung, die ActiveX unterstützt, hinzugefügt werden kann, unabhängig von der Umgebung, die ursprünglich verwendet wurde, um das Steuerungsobjekt zu erzeugen.
  • Vor Visual Basic V5.0 wurden ActiveX-Steuerungsobjekte unter Verwendung von C++ erzeugt (wo sie als kundenspezifische OLE-Steuerungsobjekte bezeichnet wurden). Die C++-Schnittstelle zu ActiveX ist schwer zu verwenden und erfordert einen erfahrenen Microsoft-C++/MFC-Programmierer. VB 5.0 fügte die Fähigkeit hinzu, ActiveX-Steuerungsobjekte viel einfacher zu erzeugen und zu verwenden, was die Technologie einer größeren Menge von Programmierern zugänglich machte.
  • Eigenschaften, Ereignisse und Methoden
  • Ein in einer herkömmlichen C/C++-Bibliothek bereitgestelltes Merkmal besteht aus Klassendefinitionen, Funktionsaufruf-Vereinbarungen und, wenn es schlecht konzipiert wurde, globalen Variablen. Eine Schnittstelle eines ActiveX-Steuerungsobjekts ist durch Eigenschaften, Ereignisse und Methoden definiert.
  • Eine Methode ist einfach eine Visual-Basic-Funktion, die man im Steuerungsobjekt aufrufen kann. Die Funktion kann Argumente entgegennehmen und einen Wert zurückgeben und ist analog zu einer Funktionsdefinition in einer C/C++-Bibliothek.
  • Eine Eigenschaft ist im Grunde genommen eine globale Variable im Steuerungsobjekt mit Zugriffsfunktionen, die bereitgestellt werden, um ihren Wert zu erhalten und/oder festzulegen. Eigenschaften können zur Entwurfzeit oder zur Laufzeit programmierbar gemacht werden, und VB behandelt die Sicherung programmierter Eigenschaftswerte automatisch als Teil der ausführbaren Produktionsschnittstelle.
  • Ein Ereignis ist ein durch das Steuerungsobjekt ausgelöstes Signal. Der Container (die Produktionsschnittstelle) kann einen Handler für das Ereignis einfügen. Zum Beispiel weist die Testgerät-Steuerung ein "Test abgeschlossen" genanntes Ereignis auf, das gesendet wird, wenn ein Job-Durchlauf abgeschlossen ist. Die Produktionsschnittstelle kann einen Handler für dieses Ereignis aufweisen, der automatisch aufgerufen wird, wenn dieses Ereignis eintritt.
  • TESTGERÄT-STEUERUNG
  • Die Testgerät-Steuerung ist die API zum Testgerät. Sie dient als die einzige Verbindungsstelle zwischen IG-XL und dem Rest der Welt. Durch sie können andere Steuerungsobjekte Programme laden und ausführen sowie Ergebnisse empfangen. Eine Produktionsschnittstelle muss genau eine Testgerät-Steuerung enthalten. Die Testgerät-Steuerung-Schnittstelle wird für Kunden dokumentiert, aber sie wird nicht als Quellcode vertrieben, weil ihre Verbindung zu Excel und der Exekutive nicht für allgemeine Nutzer offengelegt werden soll.
  • Eigenschaften:
    • – Programmname
    • – Programmstatus - geladen, geprüft, läuft, in der Auffangroutine
    • – DIB-Kennung
    • – Sondenkarten-Kennung
    • – Ablagefach-Ergebnisse
    • – Entwicklungsmodus-Passwort
    • – Los-Kennung
    • – Wafer-Koordinaten
    • – Bedienername
    • – Liste aktiver Standorte – Karte gegenwärtig geprüfter Standorte
    • – Maximale Standorte – Anzahl der Standorte in der Kanalkarte des Programms
    • – Kalibrierungsstatus
    • – Programm-Handhabung – ermöglicht beliebige Aufrufe zwischen dem Programm und Nutzer-Steuerungsobjekten
  • Ereignisse:
    • – Bediener eingeloggt/ausgeloggt
    • – Laden begonnen
    • – Laden abgeschlossen
    • – Laden abgebrochen
    • – Test begonnen
    • – Test abgeschlossen
    • – Test abgebrochen
    • – Kalibrierung begonnen
    • – Kalibrierung abgeschlossen
    • – Kalibrierung abgebrochen
    • – Neues Los beginnen
    • – Los-Ende
    • – Wafer-Anfang
    • – Ende des Wafers
    • – Job gelöscht
  • Methoden:
    • – Bediener einloggen/ausloggen
    • – Ein Testprogramm laden
    • – Ein Testprogramm löschen
    • – Ein Los laden
    • – Ein Los löschen
    • – Ein einzelnes Bauelement testen
    • – Bei Fehler in Schleife gehen (zur Sicherung des ununterbrochenen Ablaufs)
    • – Testwiederholung
    • – Für eine(n) Handler/Sonde konfigurieren
    • – Inbetriebnahme/Außerbetriebnahme startet von einem Handler/einer Sonde
    • – Einen Standort aktivieren/deaktivieren
    • – Abbruch
  • BEDIENUNGSELEMENTE
  • Handler-Steuerungsobjekt
  • Das Handler-Steuerungsobjekt ermöglicht einem Bediener, einen Handler aus einem Menü verfügbarer Handler-Treiber auszuwählen, ihn anzuschließen und ihn in Betrieb zu nehmen.
  • Eigenschaften:
    • – Handler-Treiber-Handhabung
  • Methoden:
    • – Handler-Treiber auswählen
    • – Handler anschließen
    • – Handler trennen
    • – Handler in Betrieb nehmen
    • – Handler außer Betrieb nehmen
  • Standort-Steuerungsobjekt
  • Dieses Steuerungsobjekt zeigt die Anzahl der Standorte in der Kanalkarte des Jobs an und ermöglicht es, spezifische Standorte zum Testen zu aktivieren und zu deaktivieren.
  • Ablagefach-Anzeige
  • Zeigt das letzte Ablagefach-Ergebnis an einem bestimmten Standort an.
  • Startknopf
  • Dieses Steuerungsobjekt ist ein Knopf, der einen Job-Durchlauf startet.
  • Ausbeutenüberwachung
  • Die Ausbeutenüberwachung überwacht die Gut/Schlecht-Ergebnisse von Bauelementen an einem Standort und verfolgt die Ausbeute. Sie stellt eine graphische Anzeige der Ausbeute über der Zeit bereit und weist programmierbare Ausbeutegrenzen auf, die bei Überschreitung Ereignisse auslösen.
  • Eigenschaften:
    • – Standort – der Standort, den die Anzeige überwacht
    • – Bauelemente pro Zelle – Anzahl der Bauelemente, die gemeinsam zu einer Zelle gruppiert sind
    • – Anzahl der Zellen – wie viele Zellen verfolgt werden
    • – Zellenzähler – wie voll die Zelle ist
    • – Zellenausbeute – die Ausbeutezahl für eine bestimmte Zelle von Bauelementen
    • – Zellenanzeige in Betrieb – zeigt ein Säulendiagramm der Zellenausbeuten
    • – Kumulative Anzeige in Betrieb – zeigt ein Liniendiagramm der über die Zellen kumulierten
  • Ausbeute
    • – Diagrammgestaltung – horizontal oder vertikal
    • – Alarm-Obergrenze – Ausbeuteschwelle, bei der das Ereignis "Alarm-Obergrenze" auszulösen ist
    • – Alarm-Untergrenze – Ausbeuteschwelle, bei der das Ereignis "Alarm-Untergrenze" auszulösen ist
  • Ereignisse:
    • – Ausbeutenalarm-Obergrenze
    • – Ausbeutenalarm-Untergrenze
  • Methoden:
    • – Rücksetzen – leert alle Zellen
  • HANDLER-TREIBER
  • Die Gestaltung von Handler-Treibern in IG-XL weicht erheblich von dem ab, was in VTD und ICD getan wurde. Die Handler-/Sonden-Unterstützung für diese Testgeräte besteht aus einer einzigen, stark konfigurierbaren Bibliothek, die versucht, jede mögliche Ausrüstung zu unterstützen. Das hat sich für Kunden als schwer anwendbar erwiesen. Jedes einzelne Teil der Ausrüstung zu konfigurieren, ist kompliziert, da die Schnittstelle viele programmierbare Steuerungsobjekte aufweist, von denen nur einige notwendig sind. Wenn ein neuer Handler ein Merkmal erfordert, das nicht in der Bibliothek verfügbar ist, ist eine Aktualisierung der Systemsoftware erforderlich, die der Endanwender nicht durchführen kann. Und die Bibliothek ist fehleranfällig, da jede Änderung, um neue Handler zu unterstützen, das Risiko birgt, Fehler in die bereits bestehenden einzuführen.
  • Treibermodell
  • In IG-XL hat jeder Handler seinen eigenen Treiber, der nur den Code enthält, der erforderlich ist, um diesen spezifischen Handler zu bedienen. Zur Laufzeit wird der Treiber, der benötigt wird, um den verwendeten Handler zu bedienen, dynamisch in die Produktionsschnittstelle geladen. Dies hat gegenüber der Herangehensweise in VTD/ICD bedeutende Vorteile:
    • – Da jedes Treibermodul nur den von ihm benötigten Code hat, ist es viel kleiner und einfacher.
    • – Die Visual-Basic-Umgebung macht es für den Teradyne-Kundendienst oder die Kunden selbst einfach, einen neuen Treiber zu erzeugen, ohne Unterstützung von der Softwareabteilung des Herstellers zu benötigen. IG-XL weist eine Anzahl von Treibern auf, die als Startpunkte kopiert werden können.
    • – Das Risiko ist gering, dass die Teradyne-Softwareentwicklung Fehler verursacht, anders als bei einer einzelnen Bibliothek, die kontinuierlich geändert werden muss, um neue Merkmale hinzuzufügen.
  • Eingebaute Treiber
  • IG-XL stellt eine Bibliothek von Handler-Treibern bereit, die Kunden entweder direkt oder als Basis zur Entwicklung eines neuen Treibers nutzen können. Wir stellen die folgenden Treiber bereit:
    • – P849. Dies ist ein IEEE-Standard für die Kommunikation mit einem Handler oder einer Sonde über eine RS232-Schnittstelle. Bei Teradyne wird er mitunter als RDP bezeichnet. Jedes Peripheriegerät, das diesen Standard erfüllt, ist imstande, den eingebauten Treiber ohne Abwandlung zu verwenden.
    • – SECS II/HSEM (Handlerspezifisches Ausrüstungsmodell). Dies ist ein SEMI-Standard für die Schnittstelle zu Halbleiter-Handhabungsausrüstung gemäß dem SECS-II-Kommunikationsstandard. Dieser Treiber unterstützt jede Ausrüstung, die die Spezifikation erfüllt.
    • – Spezifische Handler/Sonden, die gewöhnlich von Teradyne-Kunden verwendet werden (die Liste ist noch zu bestimmen).
  • Entwicklung eines Treibers
  • Um einen neuen Treiber zu entwickeln, wird man normalerweise damit beginnen, einen der Treiber von IG-XL zu kopieren. Der Treiber besteht aus einer VB-Vorlage, die mindestens ein Handlertestgerät-Steuerungsobjekt und Aufrufe zu einer Kommunikationsschnittstelle enthält. Das Handlertestgerät-Steuerungsobjekt definiert die Schnittstelle zu IG-XL. Benutzerdefinierter Code in der Vorlage verwendet die Eigenschaften, Ereignisse und Methoden des Steuerungsobjekts und programmiert den Handler über die Kommunikationsschnittstelle entsprechend.
  • 2 stellt die Struktur eines Handler-Treibers dar.
    Figure 00170001
    Fig. 2: Innerer Aufbau eines Handler-Treibers:
  • Handlertestgerät-Steuerungsobjekt
  • Das Handlertestgerät-Steuerungsobjekt ist ein von IG-XL zur Verfügung gestelltes ActiveX-Steuerungsobjekt, das die Schnittstelle zu jedem Handler definiert. Dies dient als der einzige Verbindungspunkt zwischen dem Handler-Treiber und dem Rest von IG-XL. Alles, was dieses Steuerungsobjekt enthält, kann in eine Produktionsschnittstelle fallengelassen und als Handler verwendet werden.
  • Eigenschaften:
    • – In Betrieb
    • – Angeschlossen
    • – Ablagefach-Ergebnisse
    • – Fehlercode
    • – Fehlermeldung
    • – Kennung des zu prüfenden Bauelements (DUT)
    • – Handler-/Sonden-Kennung
    • – Ausgangsrohr-Status (nur Handler)
    • – Eingangsrohr-Status (nur Handler)
    • – Waferstatus (nur Sonden)
    • – Eingangskassetten-Status (nur Sonden)
    • – X-Koordinate (nur Sonden)
    • – Y-Koordinate (nur Sonden)
  • Ereignisse:
    • – Test abgeschlossen
    • – In Betrieb
    • – Außer Betrieb
    • – Angeschlossen
    • – Getrennt
    • – Wafer vollständig (nur Sonden)
  • Methoden:
    • – Test beginnen
    • – Handler in Betrieb nehmen
    • – Handler außer Betrieb nehmen
    • – Handler anschließen
    • – Handler trennen
    • – Auf Start warten
    • – Ablagefach-Abfertigung
    • – Einstellungen laden
    • – Befehl senden
    • – Anforderung senden
    • – Kontakt unterbrechen (nur Handler)
    • – Kontakt herstellen (nur Handler)
    • – Wafer laden (nur Sonden)
    • – Wafer entladen (nur Sonden)
    • – Wafer abtasten (nur Sonden)
    • – Abtasten abbrechen (nur Sonden)
    • – Zu absolutem Chip bewegen (nur Sonden)
    • – Zu relativem Chip bewegen (nur Sonden)
    • – Zu relativer Position bewegen (nur Sonden)
    • – Zum Kontakt hin bewegen (nur Sonden)
    • – Vom Kontakt weg bewegen (nur Sonden)
    • – Zu gegebener Höhe bewegen (nur Sonden)
    • – Sortierkästen für gute Chips zuweisen (nur Sonden)
    • – Logische Farbcodes zuweisen (nur Sonden)
  • Kommunikationsschnittstelle
  • Die Kommunikationsschnittstelle definiert die Netzwerktransportschicht zwischen dem Testgerät und jeglicher Peripherie. Der Handler-/Sonden-Treiber verwendet eine oder mehrere dieser Schnittstellen, um die eigentlichen Lese- und Schreiboperationen zu und von dem Handler oder der Sonde durchzuführen.
  • Wir beabsichtigen, fünf Schnittstellen zu unterstützen:
    • – RS232. Dies ist die serielle Standardschnittstelle. Microsoft stellt mit Visual Basic einen Controller für serielle Anschlüsse bereit, und wir hoffen, diesen verwenden zu können. Wir haben auch ein anspruchsvolleres, Multithreading-fähiges Steuerungsobjekt, das von Ed Gilbert entwickelt wurde.
    • – GPIB. Dies ist eine parallele Standardschnittstelle, die verbreitet von Test- und Messinstrumenten benutzt wird. Wir hoffen, eine PC-GPIB-Schnittstelle von National Instruments zu erwerben.
    • – Anwendungsspezifisch parallel. Dies ist eine spezielle Parallelschnittstelle, die eigens für schnelle Kommunikation vom Testgerät zum Handler entwickelt wurde, wobei jede Leitung eine spezifische Testfunktion ausführt (nicht die Parallelschnittstelle an einem PC). VTD stellt ein Parallelschnittstellen-Controllererzeugnis her, das mit einem RS232-Anschluss im Computer verbunden wird und die nötigen parallelen Signale erzeugt; wir hoffen, diese Box als unsere Unterstützung für Parallelschnittstellen verwenden zu können.
    • – Ethernet. Ethernet-Schnittstellen werden an neuerer Ausrüstung verfügbar, und wir müssen es unterstützen. Bisher gibt es aber noch keinen Plan dafür.
    • – Parallel-/Seriell-Kombination. Manche Maschinen weisen bei Bedarf sowohl eine anwendungsspezifische Parallelschnittstelle für Geschwindigkeit als auch einen RS232-Anschluss für kompliziertere Mitteilungen aus. Da ein Handler-Treiber über jede einzelne oder alle der obigen Schnittstellen kommunizieren kann, erfordert es keine besondere Arbeit, dies zu unterstützen.
  • Es ist komfortabel, wenn die Kommunikationsschnittstelle ein aktives Active X Steuerungsobjekt ist, aber es ist nicht erforderlich. Es kann eine C/C++-DLL sein oder irgendetwas anderes, das aus Visual-Basic-Code heraus aufgerufen werden kann.
  • Handler-Treiber-Assistent
  • Windows-Software weist das Konzept der "Assistenten" auf, die einen mit einer Entwicklungsaufgabe beginnen lassen, indem sie eine Reihe von Fragen danach stellen, was man tun möchte, und dann automatisch ein Projekt mit einem Codegerippe erzeugen, das von Hand ausgefüllt wird, um das Projekt zu erzeugen. Das macht es dem Anfänger leicht, mit einem Projekt zu beginnen, und selbst erfahrene Treiber-Entwickler erhalten eine bequeme Startvorgabe zum Schreiben ihres Codes.
  • Wir werden einen Handler-Treiber-Assistent erzeugen, um die Entwicklung von Handler-Treibern zu erleichtern. Dieser würde Fragen aufwerfen wie:
    • – Treiber für einen Handler oder eine Sonde?
    • – Was für eine Kommunikationsschnittstelle wird er verwenden?
    • – Ist es ein Handler für parallele Tests? Wie viele Standorte?
    • – Anzahl der unterstützten Sortierkästen?
  • Testen eines Treibers
  • Das Testen einer Produktionsschnittstelle erfordert normalerweise, dass ein lauffähiges Testprogramm und Testgerät zur Verfügung steht. Dies schränkt die Fähigkeit ein, die Entwicklung der Produktionssoftware und der Testprogramm-Software parallel durchzuführen.
  • Der modulare Aufbau der IG-XL-Produktionssoftware ermöglicht es, dass das Testen einer Produktionsschnittstelle und eines neuen Handler-Treibers unabhängig voneinander vonstatten gehen kann. Es sind Standard-PC-Karten verfügbar, die jeden PC direkt mit einem Handler kommunizieren lassen, ohne dass ein Testgerät vorhanden ist. Ein spezielles Softwaretest-Aufbauzubehör wird bereitgestellt, das die Verbindung mit der Testgerät-Steuerung anstelle von Excel herstellt. Das Aufbauzubehör weist eine Mini-Exekutive auf, die scheinbar ein Programm laden und ausführen sowie zufällige oder vorprogrammierte Ablagefach-Ergebnisse zurückgeben kann.
  • Dies würde dem Entwickler, der eine Produktionsschnittstelle entwickelt, ermöglichen, lediglich mit einem Laptop, auf dem IG-XL installiert ist, dem Handler selbst und einer Schnittstellenkarte hochgradige Tests auszuführen.
  • ZENTRALRECHNER-SCHNITTSTELLENSTEUERUNGEN
  • Im Fabrikraum wird ein Testgerät normalerweise mit einem Zentralrechner verbunden, der den Testgerät-Zustand überwacht, Testergebnisse sammelt und den Testvorgang direkt steuern kann.
  • Die IG-XL-Produktionssoftware unterstützt dies durch eine Zentralrechner-Schnittstelle, wie in 3 dargestellt.
    Figure 00200001
    Fig. 3: Zentralrechner-Schnittstelle
  • Die Zentralrechner-Schnittstelle hat zwei Bestandteile. Die Zentralrechner-Nachrichtensteuerung ist für die Übersetzung der API der IG-XL-Testgerät-Steuerung in Nachrichten in einem Standardformat verantwortlich, das vom Zentralrechner verstanden werden kann. Die Netzwerkschnittstelle führt die eigentliche Netzwerkkommunikation mit dem Zentralrechner durch.
  • Zentralrechner-Nachrichtensteuerungen
  • Die Zentralrechner-Nachrichtensteuerung ist ein ActiveX-Steuerungsobjekt, das die Ereignisse der Testgerät-Steuerung wahrnimmt und deren Eigenschaften und Methoden ausführen kann. Wenn ein Ereignis der Testgerät-Steuerung empfangen wird, das eine Nachricht zum Zentralrechner erfordert, erzeugt es eine Zentralrechner-Nachricht, die das Ereignis beschreibt, und ruft ein Ereignis "Nachricht bereit" hervor. Wenn eine Nachricht vom Zentralrechner mittels eines "Nachricht empfangen"-Verfahrens empfangen wird, greift es auf die geeigneten Testgerät-Steuerungsmethoden und -eigenschaften zu, um die Anfrage zu implementieren.
  • Eigenschaften:
    • – In Betrieb – Das Steuerungsobjekt kann außer Betrieb genommen werden, um das Senden von Nachrichten zu unterbrechen.
  • Ereignisse:
    • – Zentralrechner-Nachricht bereit – Das Testgerät hat eine Nachricht, die an den Zentralrechner zu senden ist. Ein Ereignis-Handler in der Produktionsschnittstelle überträgt die Nachricht über das Netzwerk.
  • Methoden:
    • – Zentralrechner-Nachricht verarbeiten – Die Produktionsschnittstelle hat eine Zentralrechner-Nachricht über die Netzwerkschnittstelle empfangen, die verarbeitet werden muss.
  • Zwei spezifische Zentralrechner-Nachrichtensteuerungen werden mit IG-XL bereitgestellt:
    • – SEMF (Standard-Ereignisnachrichtenformat). Dies ist ein von Teradyne entwickelter Standard. Er besteht aus Textnachrichten, die hauptsächlich vom Testgerät zum Zentralrechner gesendet werden, um seinen Zustand zu melden.
    • – SECS II/TSEM. SECS (SEMI-Gerätekommunikationsstandard) ist ein Standard, der die Einzelheiten des Nachrichtenaustauschs zwischen einem Zentralrechner und beliebiger Halbleiter-Ausrüstung beschreibt. TSEM (Testgerätspezifisches Ausrüstungsmodell) beschreibt Ergänzungen zum Standard, die für die Testausrüstung spezifisch sind.
  • Netzwerkschnittstelle
  • Die Schnittstelle zum Netzwerk wird durch Code in der Produktionsschnittstelle gesteuert, der mit der Zentralrechner-Nachrichtensteuerung zusammenarbeitet. Windows NT weist mehrere Optionen zur Kommunikation mit dem Zentralrechner auf:
    • – Winsock-Steuerungsobjekt. Visual Basic weist ein Standard-ActiveX-Steuerungsobjekt zur Socket-Kommunikation unter Verwendung von TCP mit jedem Knoten im Netzwerk, der Sockets unterstützt, auf.
    • – RPC (Fern-Prozeduraufruf). Dieser Standard ermöglicht einem Computer, Unterprogramm-Aufrufe auf einer anderen Maschine im Netzwerk auszuführen. Dies ist aus Visual Basic heraus nicht so einfach wie ein Socket zu verwenden, gibt uns aber einen Ausweg, um eine Produktionsschnittstelle auf dem Netzwerk alles das durchführen zu lassen, was sie durchführen muss.
    • – Verteiltes ActiveX. Innerhalb einer Windows-Betriebssystemumgebung können ActiveX-Steuerungsobjekte auf verschiedenen Maschinen so einfach einander direkt aufrufen, wie sie bei laufendem Betrieb miteinander kommunizieren, Wir haben diese Möglichkeit noch nicht umfassend erforscht.
  • PROJEKTLISTE
  • Produktions-Nutzer-Steuerungsobjekte
    • – Testgerät-Steuerung
    • – Standort-Steuerungsobjekt, Ablagefach-Anzeige, Handler-Steuerungsobjekt, Startknopf
    • – Ausbeutenüberwachung
  • Zentralrechner-Kommunikation
    • – SEMF-Zentralrechner-Nachrichtensteuerung
    • – SECS-II/TSEM-Zentralrechner-Nachrichtensteuerung
  • Handler-Treiber
    • – Handlertestgerät-Steuerungsobjekt
    • – P849-Treiber
    • – SECS-II/HSEM-Treiber
    • – Spezifischer) Handler/Sonde Nr. 1
    • – Spezifischer) Handler/Sonde Nr. 2
    • – RS232-Schnittstelle
    • – GPIB-Schnittstelle
    • – Ethernet-Schnittstelle
    • – Handler-Treiber-Assistent
    • – Test-Aufbauzubehör
  • Beispiel-Produktionsschnittstellen
    • – Muster Nr.1
    • – Muster Nr.2
  • Diese Projekte werden als Standard-Bestandteil von IG-XL vertrieben und weisen Quellcode auf, um als Beispiele zu dienen, falls kundenspezifische Entwicklung erforderlich ist.

Claims (17)

  1. Halbleitertestsystem mit: einem Softwaresteuerungssystem (2000); einer Bibliothek von selbständigen Steuerungsobjekten; einem Bedienerfenster; wobei eines oder mehrere der selbständigen Steuerungsobjekte geeignet sind, eine Produktionsschnittstelle (2008) zu dem Softwaresteuerungssystem (2000) zu erzeugen, wobei die Produktionsschnittstelle (2008) aufweist: 1) eine selbständige Testgerät-Steuerung (2014) zur Bereitstellung einer Anwendungsprogrammierschnittstelle zu dem Softwaresteuerungssystem und 2) selbstständige Bedienungselemente (2022), die eine Schnittstelle zwischen dem Bedienerfenster und der selbständigen Testgerät-Steuerung darstellen; wobei die selbständigen Bedienungselemente (2022) in der Bibliothek "Drag-and-drop"-Bedienungselemente sind, die geeignet sind, in das Bedienerfenster "gezogen und losgelassen" zu werden.
  2. Halbleitertestsystem nach Anspruch 1, bei dem die selbständigen Objekte in dem Bedienerfenster alle miteinander kommunizieren.
  3. Halbleitertestsystem nach Anspruch 1 oder 2, bei dem jedes selbständige Steuerungsobjekt geeignet ist, so zu arbeiten, dass zur Zeit der Initialisierung jedes selbständige Steuerungsobjekt nach anderen selbständigen Steuerungsobjekten in dem Fenster sucht und eine Kommunikationsverknüpfung mit den anderen selbständigen Steuerungsobjekten herstellt, so dass jedes selbständige Steuerungsobjekt sich mit jedem anderen selbständigen Steuerungsobjekt verständigen kann.
  4. Halbleitertestsystem nach Anspruch 1, 2 oder 3, bei dem die selbständigen Steuerungsobjekte sowohl Code- als auch grafische Anwenderschnittstelleninformation umfassen.
  5. Halbleitertestsystem nach Anspruch 4, bei dem die Bedienungselemente in der Visual Basic-Programmiersprache programmiert sind.
  6. Halbleitertestsystem nach Anspruch 1 oder 2, bei dem das selbständige Prüfgerät-Steuerungsobjekt und die selbständigen Bedienersteuerungsobjekte in dem Bedienerfenster sind und miteinander kommunizieren.
  7. Halbleitertestsystem nach Anspruch 1, wobei die selbständigen Objekte in dem Bedienerfenster alle miteinander kommunizieren, wobei die selbständigen Steuerungsobjekte sowohl Code- als auch grafische Anwenderschnittstellen-Information, kurz GUI-Information genannt, umfassen, und ferner mit: einem Halbleiterprüfgerät (2002); einem Testentwicklungs- und -ausführungsprogramm (2010) zur Übergabe von Halbleiterbauelementdaten-Parametern an das Testgerät, wobei das Softwaresteuerungssystem (2000) eine Exekutive (2016) zur Initialisierung eines Tests durch das Testentwicklungs- und -ausführungsprogramm umfasst.
  8. Halbleitertestsystem nach Anspruch 7, bei dem jedes Steuerungsobjekt geeignet ist, so zu arbeiten, dass zur Zeit der Initialisierung jedes Steuerungsobjekt nach anderen Steuerungsobjekten in dem Fenster sucht und eine Kommunikationsverbindung mit jedem anderen Steuerungsobjekt herstellt, so dass jedes Steuerungsobjekt sich mit jedem anderen Steuerungsobjekt verständigen kann.
  9. Halbleitertestsystem nach Anspruch 8, bei dem die Steuerungsobjekte in der Visual Basic-Programmiersprache programmiert sind.
  10. Halbleitertestsystem nach Anspruch 1, das geeignet ist, mit einem oder mehreren verschiedenen Handlern (2004) zu arbeiten, wobei die Handler zur Positionierung eines zu prüfenden Halbleiterbauelements dienen, und mit: einer Bibliothek von Handler-Treibern (2024), wobei jeder Handler-Treiber geeignet ist, mit einem anderen Handler zusammenzuarbeiten, wobei die Produktionsschnittstelle (2008) geeignet ist, auf die Bibliothek zuzugreifen, und wobei das selbständige Bedienersteuerungsobjekt (2022) einem Bediener ermöglicht, einen Handler-Treiber aus der Bibliothek von Handler-Treibern zu wählen.
  11. Halbleitertestsystem nach Anspruch 10, bei dem jeder Handler-Treiber (2024) ein selbständiges Handlertestgerät-Steuerungsobjekt (2026) hat, das als Schnittstelle zwischen dem Handler und dem selbständigen Testgerät-Steuerungsobjekt (2014) dient.
  12. Halbleitertestsystem nach Anspruch 11 mit einer Kommunikationsschnittstelle, die die Kommunikationsnetzwerkschicht zwischen dem Handler und dem Handlertestgerät-Steuerungsobjekt definiert.
  13. Halbleitertestsystem nach Anspruch 12, bei dem das Handlertestgerät-Steuerungsobjekt, das Prüfgerät-Steuerungsobjekt und das Bedienersteuerungsobjekt sowohl Code- als auch grafische Anwenderschnittstelleninformation umfassen.
  14. Halbleitertestsystem nach Anspruch 13, bei dem die Steuerungsobjekte in der Visual Basic-Programmiersprache geschrieben sind.
  15. Halbleitertestsystem nach Anspruch 1 und ferner mit: einem Testgerät (2002); einem Handler (2004) zur Positionierung eines Halbleiterbauelements, das von dem Testgerät zu testen ist, wobei der Handler einer aus einer Vielzahl von Handlern ist, die geeignet sind, mit dem Testsystem zusammenzuarbeiten; einer Bibliothek von Handler-Treibern (2024), wobei jeder Handler-Treiber geeignet ist, mit einem anderen Handler zusammenzuarbeiten, wobei die selbständigen Steuerungsobjekte sowohl Code- als auch grafische Anwenderschnittstelleninformation umfassen, wobei die Produktionsschnittstelle (2008) geeignet ist, auf die Bibliothek von Handler-Treibern zuzugreifen, und wobei sowohl das Code- als auch das grafische Anwenderschnittstelleninformation-Bedienersteuerungsobjekt einem Bediener ermöglichen, einen Handler-Treiber aus der Bibliothek von Handler-Treibern zu wählen.
  16. Halbleitertestsystem nach Anspruch 15, bei dem jeder Handler-Treiber (2024) ein Handlertest-Steuerungsobjekt (2026) hat, das als Schnittstelle zwischen dem Handler und dem Testgerät-Steuerungsobjekt (2014) dient.
  17. Halbleitertestsystem nach Anspruch 16 mit einer Kommunikationsschnittstelle (2028), die die Kommunikationsnetzwerkschicht zwischen dem Handler und dem Handlertestgerät-Steuerungsobjekt definiert.
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Families Citing this family (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6047293A (en) * 1997-09-16 2000-04-04 Teradyne, Inc. System for storing and searching named device parameter data in a test system for testing an integrated circuit
US6035119A (en) 1997-10-28 2000-03-07 Microsoft Corporation Method and apparatus for automatic generation of text and computer-executable code
US6834388B1 (en) 1998-03-13 2004-12-21 Iconics, Inc. Process control
SE9801295L (sv) * 1998-04-15 1999-10-16 Ericsson Telefon Ab L M Arkivsystem för datafiler
US6496203B1 (en) * 1998-05-27 2002-12-17 Microsoft Corporation Standardized and application-independent graphical user interface components implemented with web technology
US6732053B1 (en) * 1998-09-30 2004-05-04 Intel Corporation Method and apparatus for controlling a test cell
EP1121626B1 (de) * 1998-10-16 2004-03-17 Iconics, Inc. Prozesssteuerung
US6981215B1 (en) 1998-12-31 2005-12-27 Microsoft Corp. System for converting event-driven code into serially executed code
US6889379B1 (en) * 1998-12-31 2005-05-03 Microsoft Corporation Transporting objects between a client and a server
US7017116B2 (en) 1999-01-06 2006-03-21 Iconics, Inc. Graphical human-machine interface on a portable device
DE10031478A1 (de) * 1999-06-28 2001-07-12 Hyundai Electronics Ind Halbleiterfabrikautomatisierungs-System und Verfahren zum Steuern einer Messanlage zur Messung von Halbleiterwafern
US6681351B1 (en) * 1999-10-12 2004-01-20 Teradyne, Inc. Easy to program automatic test equipment
US6675193B1 (en) * 1999-10-29 2004-01-06 Invensys Software Systems Method and system for remote control of a local system
US6487514B1 (en) * 1999-12-22 2002-11-26 Koninklijke Philips Electronics N.V. System and method for computer controlled interaction with integrated circuits
JP3327283B2 (ja) * 2000-03-10 2002-09-24 ヤマハ株式会社 ディジタルシグナルプロセッサ
US6880148B1 (en) * 2000-07-18 2005-04-12 Agilent Technologies, Inc. Active data type variable for use in software routines that facilitates customization of software routines and efficient triggering of variable processing
US20020170000A1 (en) * 2001-05-09 2002-11-14 Emanuel Gorodetsky Test and on-board programming station
US7996481B2 (en) * 2002-03-20 2011-08-09 At&T Intellectual Property I, L.P. Outbound notification using customer profile information
KR100445526B1 (ko) * 2002-04-09 2004-08-21 미래산업 주식회사 테스트 핸들러의 데이터 관리방법
US7143361B2 (en) * 2002-12-16 2006-11-28 National Instruments Corporation Operator interface controls for creating a run-time operator interface application for a test executive sequence
US7437261B2 (en) 2003-02-14 2008-10-14 Advantest Corporation Method and apparatus for testing integrated circuits
US7171587B2 (en) * 2003-04-28 2007-01-30 Teradyne, Inc. Automatic test system with easily modified software
US7567964B2 (en) * 2003-05-08 2009-07-28 Oracle International Corporation Configurable search graphical user interface and engine
JP2005009942A (ja) * 2003-06-18 2005-01-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路の試験装置
US20050097548A1 (en) * 2003-10-31 2005-05-05 Dillenburg Brian J. Systems and methods for developing and distributing software components
US20050114066A1 (en) * 2003-11-24 2005-05-26 Kolman Robert S. Method and apparatus for detecting and correcting invalid test definition data
KR100640590B1 (ko) 2004-10-21 2006-11-01 삼성전자주식회사 핸들러 원격 제어가 가능한 반도체 소자의 검사 시스템 및그 작동방법
US7408339B2 (en) 2005-10-17 2008-08-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Test system of semiconductor device having a handler remote control and method of operating the same
US8397207B2 (en) * 2007-11-26 2013-03-12 Microsoft Corporation Logical structure design surface
US20090224793A1 (en) * 2008-03-07 2009-09-10 Formfactor, Inc. Method And Apparatus For Designing A Custom Test System
JP2009063567A (ja) * 2008-08-22 2009-03-26 Advantest Corp 半導体試験システム
TWI398649B (zh) * 2009-02-11 2013-06-11 King Yuan Electronics Co Ltd Semiconductor test system with self - test for electrical channel
TWI394966B (zh) * 2009-02-11 2013-05-01 King Yuan Electronics Co Ltd A semiconductor test system with self - test for the electrical channel of the probe seat
JP2013250252A (ja) * 2012-06-04 2013-12-12 Advantest Corp テストプログラム
CN103969520A (zh) * 2013-01-30 2014-08-06 深圳伊欧陆微电子***有限公司 一种硬件测试***
JP2018141699A (ja) * 2017-02-28 2018-09-13 セイコーエプソン株式会社 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
US11169203B1 (en) 2018-09-26 2021-11-09 Teradyne, Inc. Determining a configuration of a test system
US11461222B2 (en) 2020-04-16 2022-10-04 Teradyne, Inc. Determining the complexity of a test program

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5764908A (en) * 1996-07-12 1998-06-09 Sofmap Future Design, Inc. Network system containing program modules residing in different computers and executing commands without return results to calling modules

Also Published As

Publication number Publication date
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JP2001516885A (ja) 2001-10-02
WO1999014609A1 (en) 1999-03-25
KR20010024015A (ko) 2001-03-26
US5828674A (en) 1998-10-27
EP1012614B1 (de) 2005-01-26

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