DE69416396T2 - Rauschpegelmessungsverfahren in Gegenwart von einem Signal - Google Patents
Rauschpegelmessungsverfahren in Gegenwart von einem SignalInfo
- Publication number
- DE69416396T2 DE69416396T2 DE69416396T DE69416396T DE69416396T2 DE 69416396 T2 DE69416396 T2 DE 69416396T2 DE 69416396 T DE69416396 T DE 69416396T DE 69416396 T DE69416396 T DE 69416396T DE 69416396 T2 DE69416396 T2 DE 69416396T2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- signal
- wavelength
- noise
- λsignal
- optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 39
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 27
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 16
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 22
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 21
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 12
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 7
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 5
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 5
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 2
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000011410 subtraction method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
- H04B10/073—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an out-of-service signal
- H04B10/0731—Testing or characterisation of optical devices, e.g. amplifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/0014—Monitoring arrangements not otherwise provided for
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/29—Repeaters
- H04B10/291—Repeaters in which processing or amplification is carried out without conversion of the main signal from optical form
- H04B10/2912—Repeaters in which processing or amplification is carried out without conversion of the main signal from optical form characterised by the medium used for amplification or processing
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S2301/00—Functional characteristics
- H01S2301/02—ASE (amplified spontaneous emission), noise; Reduction thereof
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Lasers (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Description
- Die Erfindung betrifft ein Rauschpegelmessungsverfahren in Gegenwart eines Signals. Ein derartiges Verfahren wird beispielsweise bei der Rauschpegelmessung optischer Verstärker verwendet.
- Optische Verstärker werden in optischen Telekommunikationssystemen zur Kompensation der im optischen Übertragungsnetz auftretenden Verluste verwendet. Ein besonders vorteilhafter Typ eines optischen Verstärkers ist der erbiumdotierte Faserverstärker (EDFV). Wichtige Parameter für die Kennzeichnung eines erbiumdotierten Faserverstärkers sowie anderer optischer Verstärker sind Verstärkungs- und Rauschwerte. Der Rauschwert ist für den Leistungsvergleich verschiedener Verstärkerauslegungen und für das Systemdesign wichtig. Das in einem erbiumdotierten Faserverstärker erzeugte Rauschen verschlechtert das Signal-Rausch-Verhältnis am optoelektronischen Empfänger und erhöht somit die Bitfehlerrate eines optischen Kommunikationssystems. Eine Rauschquelle ist die inkohärente Strahlung, die in dem erbiumdotierten Faserverstärker erzeugt wird, die verstärkte Spontanemission genannt wird.
- Während die Messung der Verstärkung vergleichsweise einfach ist, treten bei der Messung der Rauschwerte von optischen Verstärkern Probleme in der Praxis auf.
- Beispielsweise muß der Rauschpegel bei der Wellenlänge (oder Frequenz) eines optischen Signals in Gegenwart des Signals bestimmt werden. Sowohl Signal als auch Rauschen werden üblicherweise auf einem optischen Spektrum-Analysator als Diagramm der optischen Intensität in Abhängigkeit von der Wellenlände dargestellt. Bei der Signalwellenlänge sind Rausch- und Signalintensität überlagert, so daß es schwierig ist, die tatsächliche Rauschintensität bei dieser Wellenlänge festzustellen.
- Ein bekanntes Verfahren zur Lösung dieses Problems ist die Interpolation. Gemäß diesem Verfahren werden die Rauschpegel rechts und links des Signals (bei einer größeren und kleineren Wellenlänge) gemessen und der Rauschpegel bei der Signalwellenlänge durch Interpolation bestimmt. Ebenso ist eine Verbesserung dieses Verfahrens bekannt, d. h. es werden verschiedene Werte in unterschiedlichen Abständen zur Signalwellenlänge zu beiden Seiten der Signalwellenlänge abgenommen und durch Spline-Anpassung oder polynomische Anpassung zur Signalwellenlänge interpoliert.
- Der bei der Kennzeichnung eines erbiumdotierten Faserverstärkers verwendete optische Spektrum-Analysator soll zusätzlich zum Signal nur verstärkte Spontanemissionen (VSE) anzeigen. In Wirklichkeit wird durch den erbiumdotierten Faserverstärker auch die Spontanemission der Quelle (SQE) verstärkt und kommt zur verstärkten Spontanemission hinzu. Ein Weg zur Eliminierung der Spontanemission der Quelle besteht darin, diese vor dem Einsetzen des Faserverstärkers zu messen und von der angezeigten Spontanemission (Verstärkung x Spontanemission der Quelle) abzuziehen. Dieses Verfahren wird als "verstärkte Spontanemissionsinterpolation/-subtraktion" bezeichnet.
- Eine andere Alternative ist das Polarisations-Extinktions-Verfahren. Dieses Verfahren basiert auf der Tatsache, daß die verstärkte Spontanemission vollkommen unpolarisiert ist, während die Spontanemission der Quelle entweder vollkommen polarisiert ist oder mit einem Polarisator polarisiert werden kann. Dann wird ein Polarisationssteuergerät bzw. ein Polarisationsfilter zum Entfernen der polarisierten Spontanemission der Quelle verwendet, so daß nur die unpolarisierte verstärkte Spontanemission durchgelassen wird (um genau zu sein, die Hälfte davon). Ein Problem dieses Verfahrens zeigt sich darin, daß die Polarisationsmodendispersion des erbiumdotierten Faserverstärkers den Betrag der unterdrückten Spontanemissionen der Quelle bei Wellenlängen, die nicht der Wellenlänge der Signalwellenlänge entsprechen, reduziert. Je größer die Wellenlängendifferenz und/oder die Polarisationsmodendispersion ist, desto mangelhafter ist die Unterdrückung. Dies führt zu der manchmal starken Wellenlängenabhängigkeit des kombinierten Signals (VSE + Verstärkung · SQE) (einem Einbruch bei der Signalwellenlänge) auf dem optischen Spektrum- Analysator, wenn das Polarisations-Extinktions-Verfahren angewendet wird.
- Die bekannten Verfahren zur Messung des Rauschpegels haben den Nachteil, daß sie nur in beschränktem Maße genau sind, insbesondere da manchmal der Rauschpegel in der Nähe der Signalwellenlänge eine starke Krümmung aufweist. Beim Polarisations-Extinktions-Verfahren kann der Rauschpegel in der Nähe der Signalwellenlänge eine starke Krümmung aufweisen, da dies ein inhärentes Merkmal dieses Verfahrens ist. Es ist offensichtlich, daß eine solche Krümmung die Bestimmung der tatsächlichen Rauschintensität bei der Signalwellenlänge erschwert. Das Polarisations-Extinktions-Verfahren sowie einige andere Verfahren zur Bestimmung des Rauschwertes bei optischen Verstärkern wird in D. Baney, C. Hentschel, J. Dupre: "Optical Fiber Amplifiers", Lightwave Symposium 1993 beschrieben.
- Aus Patent Abstracts of Japan, Bd. 17, Nr. 509 (S. 1612), 13. September 1993 ist ein Verfahren zur Messung des Rauschpegels in Gegenwart eines Signals in einem Glasfaser-optischen Verstärker bekannt. In dieser Veröffentlichung werden die folgenden Merkmale in Kombination erläutert:
- - Messung der Rauschpegel einer Originalkurve, die die Schwankung der optischen Intensität darstellt, bei verschiedenen Wellenlängen;
- - Bestimmung einer Abweichungsfunktion, wobei der Wert der Abweichungsfunktion bei der Signalwellenlänge durch Interpolation bestimmt wird;
- - Hinzufügen des Werts der Abweichungsfunktion bei der Signalwellenlänge zum Rauschpegel.
- Es ist somit ein Ziel der Erfindung, ein Rauschpegelmessungsverfahren in Gegenwart eines Signals zur Verfügung zu stellen, das eine höhere Genauigkeit aufweist.
- Gemäß der Erfindung werden diese Ziele durch das in Anspruch 1 definierte Verfahren erreicht.
- Gemäß einem der Erfindung zugrundeliegenden Prinzip wird die Signalwellenlänge verstimmt, beispielsweise mit einer durchstimmbaren Laserquelle, wodurch ein Zugriff auf die Wellenform des Rauschens bei dar Signalwellenlänge möglich ist. Es ist wahrscheinlich, daß sich der absolute Rauschpegel infolge der Frequenzänderung verändert. Dieser Effekt kann jedoch durch eine Kurvenanpassung zwischen der Originalrauschkurve und der verstimmten Rauschkurve korrigiert werden.
- In einer Ausführung der Erfindung werden die Rauschpegel bei mehreren Wellenlängen vor und nach der Frequenzänderung mit einem optischen Spektrurn- Analysator gemessen und daraus eine Abweichungsfunktion abgeleitet, die den Unterschied der Rauschpegel vor und nach der Frequenzänderung beschreibt. Anhand der Messung des Rauschpegels nach der Frequenzänderung bei der Wellenlänge des Originalsignals und dem interpolierten Wert der Abweichungsfunktion bei dieser Wellenlänge wird ein korrigierter Rauschpegel bei der Wellenlänge des Originalsignals bestimmt.
- Einen weiteren Vorteil der Erfindung besteht in folgendem: Bei Verstärkern mit einer großen Polarisationsmodendispersion ist das klassische Polarisations- Extinktions-Verfahren nicht vollkommen zur Bestimmung des untersten Punktes des oben erwähnten Einbruchs, der auf dem optischen Spektrum-Analysator angezeigt wird, geeignet. Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren wird dieser Einbruch gut angezeigt (die unterste Spitze des Einbruchs stellt den Punkt dar, bei dem die Spontanemission der Quelle am stärksten unterdrückt wird).
- Im folgenden wird die Erfindung mit Bezugnahme auf die Zeichnungen im Detail erklärt.
- Abb. 1 zeigt eine Ausführung einer Vorrichtung zur Durchführung der Erfindung.
- Abb. 2 zeigt zwei Kurven eines optischen Signals zur Illustration des erfindungsgemäßen Prinzips.
- Abb. 1 zeigt eine Vorrichtung zur Messung des Rauschpegels in einem erbiumdotierten Faserverstärker 10. Der Verstärker 10 wird über optische Fasern 35 und 36 mit einem Verstärkertestset 11 verbunden. Die Verbindung der Fasern 35 und 36 mit dem Verstärker 10 auf der einen Seite und dem Testset 11 auf der anderen Seite wird mittels optischer Anschlüsse 40, 41, 42, 43 hergestellt. Das Verstärkertestset 11 ist über eine optische Faser 20 mit dem Ausgang einer durchstimmbaren Laserquelle 14 verbunden. Die durchstimmbare Laserquelle 14 liefert einen kohärenten Lichtstrahl, dessen Wellenlänge auf den gewünschten Wert eingestellt werden kann. Ein Beispiel einer solchen durchstimmbaren Laserquelle ist die Hewlett-Packard Model No. HP 8168A Tunable Laser Source.
- Das Verstärkertestset 11 umfaßt einen ersten optischen Koppler 15, der einen bestimmten Bruchteil des in das Testset 11 eintretenden Laserlichts zu einem Leistungsmesser 22 leitet. Das abgezweigte Laserlicht wird mittels einer optischen Faser 21 zum Leistungsmesser 22 übertragen. Das Testset 11 umfaßt außerdem einen zweiten optischen Koppler 16, der einen bestimmten Bruchteil des Laserlichts, das durch den ersten Koppler 15 und dann durch den erbiumdotierten Faserverstärker 10 geführt wurde, zu einem Ausgangsterminal 23 leitet. Für die Messung der Verstärkung des erbiumdotierten Faserverstärkers 10 wird der Ausgangsterminal 23 an einen Leistungsmesser angeschlossen. Der Leistungsmesser 22 kann beispielsweise für diesen Zweck verwendet werden. Anhand des Vergleichs der jeweils vom ersten Koppler 15 und vom zweiten Koppler 16 abgezweigten optischen Intensität wird die Verstärkerleistung ermittelt. Gemäß einem praktischen Beispiel werden etwa 1% der am ersten Koppler 15 und etwa 95% der am zweiten Koppler 16 einfallenden optischen Intensität abgezweigt.
- Das Verstärkertestset 11 umfaßt außerdem ein Polarisationssteuergerät bzw. ein Polarisationsfilter 12, der das Signal und die Spontanemission der durchstimmbaren Laserquelle teilweise unterdrückt. Wie oben ausgeführt soll das Polarisationssteuergerät bzw. das Polarisationsfilter die Spontanemission der Quelle unterdrücken. Er unterdrückt auch das Signal, da die Spontanemission der Quelle dieselbe Polarisation wie das Signal aufweist. Die Unterdrückung des Signals ist jedoch nicht stark genug, um direkt bei der Signalwellenlänge meßbar zu sein. Das optische Ausgangssignal des Polarisationssteuergeräts bzw. -filters 12 wird über eine optische Faser 24 zu einem optischen Spektrum-Analysator 13 übertragen. Der optische Spektrum-Analysator zeigt die Lichtintensität im Verhältnis zur Wellenlänge (oder Frequenz) an. In einem praktischen Beispiel ist der optische Spektrum-Analysator ein Hewlett-Packard Model No. HP 71450A Optical Spectrum Analyzer.
- Das optische Signal kann, statt · durch das Polarisationssteuergerät bzw. Das Polarisationsfilter 12 geführt zu werden, vom Verstärker 10 direkt zum optischen Spektrum-Analysator 13 übertragen werden. Zu diesem Zweck sind Umschaltvorrichtungen 17, 18 vorgesehen, mit denen über eine optische Übertragungsleitung 19 das Polarisationssteuergerät bzw. das Polarisationsfilter 12 umgangen werden kann.
- Im folgenden werden die einzelnen Verfahrensschritte zur Messung des Rauschpegels unter Bezugnahme auf Abb. 2 beschrieben. In Abb. 2 sind die Kurven des optischen Spektrum-Analysators 13 dargestellt. Die horizontale Achse stellt die Wellenlänge des optischen Signals dar, die vertikalen Achse die Intensität. Die obere Kurve 50 umfaßt eine Signalspitze 51 bei der Wellenlänge λsignal. Der Rauschpegel bei der Wellenlänge λsignal soll bestimmt werden.
- Gemäß einem ersten Schritt der Erfindung werden mehrere Rauschproben der Kurve 50 bei vordefinierten Wellenlängen gemessen. Diese Rauschproben werden mit 60a, 61a, 62a, 64a, 65a, 66a bezeichnet. Im zweiten Schritt wird die gesamte Kurve 50 mit der Signalspitze 51 um eine bestimmte Wellenfänge verstimmt. Die Frequenzänderung erfolgt durch entsprechende Änderung der Wellenlänge des Ausgangssignals der durchstimmbaren Laserquelle 14. Bei einem praktischen Beispiel wird das Signal um etwa 1-2 Nanometer geändert. Die daraus resultierende Kurve auf dem optischen Spektrum-Analysator 13 ist die Kurve 52 mit der Signalspitze 53. Diese Kurve ist im Verhältnis zur Originalkurve 50 mit der Signalspitze 51 um ein bestimmtes Wellenlängeninterval verschoben. Im nächsten Schritt werden die Rauschproben der frequenzverstimmenten Kurve 52 bei denselben Wellenlängen wie die Rauschproben der Originalkurve 50 gemessen. Die Rauschproben der frequenzverstimmenten Kurve werden mit 60b, 61b, 62b, 64b, 65b, 66b bezeichnet. Des weiteren wird die Rauschprobe 63 bei der Wellenlänge λsignal der Originalsignalspitze 51 gemessen. Der numerische Wert der Rauschprobe 63 wird als N* (λsignal) bezeichnet.
- Im nächsten Schritt wird die Abweichungsfunktion Delta (λ) bestimmt. Diese Abweichungsfunktion entspricht dem numerischen Unterschied zwischen den an der Originalkurve 50 und den an der frequenzverstimmten Kurve 52 bei jeweils denselben Wellenlängen abgenommenen Rauschproben als eine Funktion der Wellenlänge. Dann wird der Wert der Funktion Delta (λ) bei der Wellenlänge λsignal der Originalsignalspitze 51 bestimmt. Diese Bestimmung erfolgt entweder durch Interpolation oder Spline-Anpassung oder gemäß einer bevorzugten Ausführung durch polynomische Anpassung.
- Schließlich wird der korrekte Rauschpegel N (λsignal) bei der Wellenlänge λsignal durch Hinzufügen des Werts der Abweichungsfunktion bei der Wellenlänge λsignal zum Wert der Rauschprobe 63 bestimmt:
- N (λsignal) = Delta (λsignal) + n* (λsignal)
- Das oben beschriebene Verfahren kann automatisiert werden, d. h. die Messung der Rauschproben an der Originalkurve und der frequenzverstimmten Kurve sowie die erforderlichen Berechnungen werden automatisch unter Computersteuerung ausgeführt.
- Das beschriebene Verfahren bietet im Vergleich zu den auf Interpolation basierenden Verfahren auf dem bisherigen Stand der Technik eine deutliche Verbesserung in der Genauigkeit. Die Verbesserung in der Genauigkeit beruht auf dem Umfang der Spontanemissionen der Quelle, auf der Polarisationsmodendispersion des Faserverstärkers und auf dem Sättigungsgrad. Gemäß einem praktischen Beispiel sind Verbesserungen in der Größenordnung von 0,1 bis 0,2 dB möglich.
- Das erfindungsgemäße Verfahren kann auch in Verbindung mit dem Interpolations-/Subtraktions-Verfahren für verstärkte Spontanemission verwendet werden, da eine starke Krümmung der Wellenlänge in Abhängigkeit von der verstärkten Spontanemission ein typisches Problem ist, das durch die physikalischen Gegebenheiten des erbiumdotierten Faserverstärkers verursacht wird. Bei der Interpolation/Subtraktion für verstärkte Spontanemissionen ist kein Polarisationssteuergerät bzw. Polarisationsfilter erforderlich.
- Obwohl das sich erfindungsgemäße Verfahren besonders für die Rauschpegelmessung in optischen Verstärkern eignet, ist es nicht auf dieses Gebiet beschränkt, sondern kann auch in anderen Bereichen verwendet werden, in denen Rauschen in Gegenwart eines Signals zu messen ist.
Claims (2)
1. Rauschpegelmessungsverfahren in Gegenwart eines Signals (51) bei einer
Signalwellenlänge (λsignal), das folgende Schritte umfaßt:
a) Messung der Rauschpegel (60a, 61a, 62a, 64a, 65a, 66a) einer
Originalkurve (50), die die Schwankung der optischen Intensität darstellt,
bei verschiedenen Wellenlängen,
b) Frequenzänderung des Signals (51) auf eine zweite Wellenlänge, die
nicht die Signalwellenlänge ist,
c) Messung der Rauschpegel (60b, 61b, 62b, 64b, 65b, 66b) der Kurve
(52), die die Schwankung der optischen Intensität nach der
Frequenzänderung darstellt, bei verschiedenen Wellenlängen,
einschließlich des Rauschpegels (N*(λsignal)) bei der Signalwellenlänge
(λsignal),
d) Bestimmung einer Abweichungsfunktion (Delta (λ)), die der numerischen
Differenz zwischen den an der Originalkurve (50) und den an der
frequenzgeänderten Kurve (52) bei jeweils denselben Wellenlängen
abgenommenen Rauschwerten entsprechen, als eine Funktion der
Wellenlänge,
wobei der Wert der Abweichungsfunktion (Delta) bei der
Signalwellenlänge (λsignal) durch Interpolation, Approximation oder
polynomische Anpassung bestimmt wird, und
e) Hinzufügen des Werts der Abweichungsfunktion (Delta) bei der
Signalwellenlänge (λsignal) zum Rauschpegel (N*(λsignal)) bei der in
Schritt c) gemessenen Signalwellenlänge (λsignal).
2. Verfahren gemäß Anspruch 1 zur Rauschpegelmessung in einem optischen
Verstärker, beispielsweise einem erbiumdotierten Faserverstärker.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP94105533A EP0678988B1 (de) | 1994-04-11 | 1994-04-11 | Rauschpegelmessungsverfahren in Gegenwart von einem Signal |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69416396D1 DE69416396D1 (de) | 1999-03-18 |
DE69416396T2 true DE69416396T2 (de) | 1999-06-10 |
Family
ID=8215848
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69416396T Expired - Fee Related DE69416396T2 (de) | 1994-04-11 | 1994-04-11 | Rauschpegelmessungsverfahren in Gegenwart von einem Signal |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5696707A (de) |
EP (1) | EP0678988B1 (de) |
JP (1) | JP3549942B2 (de) |
DE (1) | DE69416396T2 (de) |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5825521A (en) * | 1995-07-24 | 1998-10-20 | Lucent Technologies Inc. | Method of determining inter-symbol interference in transmission systems |
JP3216519B2 (ja) * | 1996-03-27 | 2001-10-09 | 安藤電気株式会社 | 光ファイバ増幅器の測定装置の較正方法 |
US6016213A (en) * | 1996-07-08 | 2000-01-18 | Ditech Corporation | Method and apparatus for optical amplifier gain and noise figure measurement |
EP0887954B1 (de) * | 1997-06-26 | 2000-09-13 | Hewlett-Packard Company | Rauschmassmessung von optischen Verstärkern mittels Leistungssubstitution |
US5969834A (en) * | 1997-09-03 | 1999-10-19 | Ditech Corporation | Method and apparatus for monitoring wavelength multiplexed optical signals |
US6069718A (en) * | 1997-09-19 | 2000-05-30 | Nortel Networks Corporation | Distortion penalty measurement procedure in optical systems using noise loading |
EP0905490B1 (de) * | 1998-04-21 | 2001-01-17 | Hewlett-Packard Company | Prüfvorrichtung für optische Komponenten |
SE512370C2 (sv) * | 1998-07-03 | 2000-03-06 | Ericsson Telefon Ab L M | Anordning och förfarande för att uppskatta total bruseffekt |
JP3779502B2 (ja) * | 1999-08-12 | 2006-05-31 | 富士通株式会社 | 光増幅装置、光送信装置、光伝送システム、光増幅方法および光入射方法 |
US6607689B1 (en) * | 2000-08-29 | 2003-08-19 | Micron Technology, Inc. | Layer thickness control for stereolithography utilizing variable liquid elevation and laser focal length |
JP2002168691A (ja) * | 2000-11-28 | 2002-06-14 | Ando Electric Co Ltd | 雑音指数測定装置、及び、雑音指数測定方法 |
US6751012B1 (en) * | 2000-12-14 | 2004-06-15 | Tyco Telecommunications (Us) Inc. | Method and apparatus for measuring noise figure in optical amplifiers |
US6570894B2 (en) | 2001-01-30 | 2003-05-27 | Tektronix, Inc. | Real-time wavelength calibration for swept lasers |
US6671429B2 (en) * | 2001-10-03 | 2003-12-30 | Dorsal Networks, Inc. | Balanced coupler for radiation sources |
JP4301822B2 (ja) * | 2003-01-24 | 2009-07-22 | 富士通株式会社 | 偏波モード分散補償機能を有する光増幅器 |
US20100174392A1 (en) * | 2003-06-10 | 2010-07-08 | Fink Jeffrey E | Optimal dimensional and mechanical properties of laser sintered hardware by thermal analysis and parameter optimization |
US20040254665A1 (en) * | 2003-06-10 | 2004-12-16 | Fink Jeffrey E. | Optimal dimensional and mechanical properties of laser sintered hardware by thermal analysis and parameter optimization |
US20050068612A1 (en) * | 2003-09-30 | 2005-03-31 | Gordon Wilson | Pre-programmable optical filtering / amplifying method and apparatus |
RU2345490C2 (ru) | 2003-10-15 | 2009-01-27 | Эксфо Электро-Оптикал Инжиниринг Инк | Способ и устройство для тестирования оптических сетей |
FR2864386B1 (fr) * | 2003-12-23 | 2006-04-21 | Cit Alcatel | Procede de gestion d'un reseau de transmission optique |
WO2006096668A2 (en) * | 2005-03-07 | 2006-09-14 | Nettest North America, Inc. | Passive optical network loss test apparatus and method of use thereof |
US7508577B2 (en) * | 2005-03-29 | 2009-03-24 | Alcatel-Lucent Usa Inc. | Method and system for suppressing ASE noise |
US7457032B2 (en) * | 2005-09-22 | 2008-11-25 | Bti Photonic Systems Inc. | Arrangement, system, and method for accurate power measurements using an optical performance monitor (OPM) |
US8045861B1 (en) * | 2006-11-17 | 2011-10-25 | Hrl Laboratories, Llc | Method and system for spectral suppression of noise in a communication signal |
JP5320011B2 (ja) * | 2008-10-10 | 2013-10-23 | 日本電気通信システム株式会社 | 光信号受信機、光伝送装置、光信号の異常検出方法 |
JP5035396B2 (ja) * | 2009-11-10 | 2012-09-26 | 横河電機株式会社 | スペクトラムデータ補正装置および方法 |
WO2012161083A1 (ja) * | 2011-05-24 | 2012-11-29 | 住友電気工業株式会社 | パルス光源 |
US8873135B2 (en) * | 2012-12-21 | 2014-10-28 | Ciena Corporation | Extended dynamic range optical amplifier |
US9831948B2 (en) | 2015-09-22 | 2017-11-28 | Exfo Inc. | Optical power measurement in a passive optical network |
US10270554B2 (en) | 2015-09-22 | 2019-04-23 | Exfo Inc. | Optical power measurement in a passive optical network |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT1237135B (it) * | 1989-10-30 | 1993-05-24 | Pirelli Cavi Spa | Gruppo di amplificazione ottico a basso rumore, con riflessione della potenza di pompaggio. |
WO1991012509A1 (en) * | 1990-02-15 | 1991-08-22 | British Telecommunications Public Limited Company | Optical test apparatus |
US5095281A (en) * | 1990-11-13 | 1992-03-10 | At&T Bell Laboratories | Method and apparatus for determining the absolute noise figure of optical amplifiers |
JP3018606B2 (ja) * | 1991-06-20 | 2000-03-13 | 安藤電気株式会社 | 光パルス試験器 |
JPH05133841A (ja) * | 1991-11-15 | 1993-05-28 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 雑音指数の測定方法及び装置 |
JP3135999B2 (ja) * | 1992-09-18 | 2001-02-19 | リーダー電子株式会社 | Cn比測定装置 |
US5340979A (en) * | 1992-09-25 | 1994-08-23 | Hewlett-Packard Company | Technique for determining the amplified spontaneous emission noise of an optical circuit in the presence of an optical signal |
US5471334A (en) * | 1992-10-21 | 1995-11-28 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Method and apparatus for monitoring noise figure of optical amplifier |
DE4305838A1 (de) * | 1993-02-26 | 1994-09-01 | Sel Alcatel Ag | Mehrstufiger faseroptischer Verstärker |
US5392153A (en) * | 1993-08-31 | 1995-02-21 | At&T Corp. | Optical amplifier |
US5430572A (en) * | 1993-09-30 | 1995-07-04 | At&T Corp. | High power, high gain, low noise, two-stage optical amplifier |
US5363234A (en) * | 1993-10-14 | 1994-11-08 | Corning Incorporated | Amplifier having pump fiber filter |
JP3203611B2 (ja) * | 1994-02-14 | 2001-08-27 | 日本電信電話株式会社 | 雑音指数測定方法および装置 |
US5436759A (en) * | 1994-06-14 | 1995-07-25 | The Regents Of The University Of California | Cross-talk free, low-noise optical amplifier |
JP3531761B2 (ja) * | 1994-10-14 | 2004-05-31 | 安藤電気株式会社 | 光増幅器雑音指数測定方法および装置 |
JPH08122208A (ja) * | 1994-10-24 | 1996-05-17 | Ando Electric Co Ltd | 光増幅器の雑音指数測定装置 |
-
1994
- 1994-04-11 DE DE69416396T patent/DE69416396T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-04-11 EP EP94105533A patent/EP0678988B1/de not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-04-10 JP JP10908695A patent/JP3549942B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1995-04-10 US US08/419,999 patent/US5696707A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0678988A1 (de) | 1995-10-25 |
JPH07301580A (ja) | 1995-11-14 |
EP0678988B1 (de) | 1999-02-03 |
DE69416396D1 (de) | 1999-03-18 |
US5696707A (en) | 1997-12-09 |
JP3549942B2 (ja) | 2004-08-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69416396T2 (de) | Rauschpegelmessungsverfahren in Gegenwart von einem Signal | |
DE60100064T2 (de) | Bestimmung der Eigenschaften eines optischen Gerätes | |
DE68913369T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Beurteilen einer optischen Faser mit Brillouin Verstärkung. | |
DE19638390B4 (de) | Eigenschaftsmeßvorrichtung für eine optische Faser | |
DE69333054T2 (de) | Genaue Wellenlängeneichung eines Spektrometers | |
DE60303979T2 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Merkmalsextraktion von optischen Komponenten und Kalibrierung von optischen Empfängern mittels Rayleigh Rückstreuung | |
DE69800853T2 (de) | Ferngesteuerte Messung von wellenlängenabhängigen Informationen über optische Komponenten | |
DE69801979T2 (de) | Messung optischer Verluste | |
DE4230345A1 (de) | Optisches niederkohaerenz-reflektometer mit optischer verstaerkung | |
DE68903572T2 (de) | Verfahren und vorrichtung zum kalibrieren eines messsystems von optischen merkmalen. | |
DE3638583A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der dispersion optischer fasern | |
DE10297428T5 (de) | Wellenlängerdispersions-Abtastsystem | |
DE69522276T2 (de) | Spektrale Dämpfungsmessung eines optischen Wellenleiters mittels OTDR | |
DE69308968T2 (de) | Messung eines Parameters eines optischen Verstärkers | |
DE69800326T2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer optischen Faser mit einer bestimmten, über ihre Länge gemittelten Dispersion | |
DE19625490A1 (de) | Testverfahren für optische Fasern | |
DE60127060T2 (de) | Messung der polarisationsabhängigen Eigenschaft optischer Einheiten | |
EP1450149B1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der chromatischen Dispersion von optischen Komponenten | |
EP1262033B1 (de) | Vorrichtung zur erfassung der pmd von optoelektronischen übertragungsstrecken | |
DE19712519A1 (de) | Meßvorrichtung für optischen Faserverstärker und entsprechendes Einstellverfahren | |
DE60211126T2 (de) | Teststruktur zur gleichzeitigen Charakterisierung von zwei Ports einer optischen Komponente mittels interferometerbasierender optischer Netzwerkanalyse | |
DE60017355T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum optischen Überlagerungsempfang mittels optischer Dämpfung | |
EP1532756B1 (de) | Verfahren zur ermittlung der signal-rauschabstände eines optischen signals | |
EP1056998B1 (de) | Messverfahren für einzelfasern von kabeln | |
DE69202780T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung für interferometrische Absolutmessungen physikalischer Grössen. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: AGILENT TECHNOLOGIES DEUTSCHLAND GMBH, 71034 BOEBL |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |