DE69121612D1 - Halbleiterintegrierte Schaltungsvorrichtung mit einer Prüfschaltung - Google Patents

Halbleiterintegrierte Schaltungsvorrichtung mit einer Prüfschaltung

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DE69121612D1
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test circuit
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DE69121612T
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Hiroshi Katakura
Makoto Yoshida
Masayuki Kokado
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318516—Test of programmable logic devices [PLDs]

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