DE69028527T2 - Verfahren und apparat zum testen des zusammenbaus einer vielzahl von elektrischen komponenten auf einem substrat - Google Patents

Verfahren und apparat zum testen des zusammenbaus einer vielzahl von elektrischen komponenten auf einem substrat

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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5834323A (en) * 1997-01-21 1998-11-10 Accurel Systems International Corporation Method of modification and testing flip-chips
US7138814B2 (en) * 2003-11-21 2006-11-21 Agere Systems Inc. Integrated circuit with controllable test access to internal analog signal pads of an area array
DE102004043822A1 (de) * 2004-09-10 2006-03-16 Robert Bosch Gmbh Batteriepack
US20090207790A1 (en) 2005-10-27 2009-08-20 Qualcomm Incorporated Method and apparatus for settingtuneawaystatus in an open state in wireless communication system

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1951861A1 (de) * 1968-10-17 1970-08-06 Gen Electric Information Syste Verfahren und Anordnung zur automatischen UEberpruefung von Karten mit gedruckten Schaltungen
GB1263644A (en) * 1969-08-07 1972-02-16 Olivetti & Co Spa Apparatus for automatically testing electronic circuits
GB1297377A (de) * 1969-11-27 1972-11-22
IT949829B (it) * 1972-03-03 1973-06-11 Honeywell Inf Systems Dispositivo per la prova dei circuiti stampati
US4038648A (en) * 1974-06-03 1977-07-26 Chesley Gilman D Self-configurable circuit structure for achieving wafer scale integration
US4139818A (en) * 1977-09-30 1979-02-13 Burroughs Corporation Circuit means for collecting operational errors in IC chips and for identifying and storing the locations thereof
JPS5723869A (en) * 1980-07-18 1982-02-08 Fujitsu Ltd Function testing method
CA1163721A (en) * 1980-08-18 1984-03-13 Milan Slamka Apparatus for the dynamic in-circuit testing of electronic digital circuit elements
US4711024A (en) * 1981-10-30 1987-12-08 Honeywell Information Systems Inc. Method for making testable electronic assemblies
US4538104A (en) * 1983-04-11 1985-08-27 Test Point 1, Inc. In-circuit test apparatus for printed circuit board
FR2557701B1 (fr) * 1983-12-28 1986-04-11 Crouzet Sa Dispositif de controle de continuite des circuits imprimes
GB2156532B (en) * 1984-03-24 1988-07-20 Plessey Co Plc Apparatus for testing a printed circuit board
GB2157507A (en) * 1984-04-11 1985-10-23 Standard Telephones Cables Ltd Testing apparatus for printed circuit boards
US4639664A (en) * 1984-05-31 1987-01-27 Texas Instruments Incorporated Apparatus for testing a plurality of integrated circuits in parallel
JPS63127560A (ja) * 1986-11-17 1988-05-31 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
US4758780A (en) * 1986-12-08 1988-07-19 Ncr Corporation Circuit board test apparatus and method
US4853626A (en) * 1987-03-10 1989-08-01 Xilinx, Inc. Emulator probe assembly for programmable logic devices
US4835469A (en) * 1987-07-24 1989-05-30 John Fluke Mfg. Co., Inc. Integrated circuit clip for circuit analyzer

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