DE60202228D1 - Verfahren zur Bestimmung der Lage einer Schattenlinie auf einem photoempfindlichen Matrixsensor und Refraktometer, welches dieses Verfahren anwendet - Google Patents

Verfahren zur Bestimmung der Lage einer Schattenlinie auf einem photoempfindlichen Matrixsensor und Refraktometer, welches dieses Verfahren anwendet

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