DE4420998A1 - Schaltungseinrichtung zum genauen Messen eines elektrischen Widerstandes - Google Patents

Schaltungseinrichtung zum genauen Messen eines elektrischen Widerstandes

Info

Publication number
DE4420998A1
DE4420998A1 DE19944420998 DE4420998A DE4420998A1 DE 4420998 A1 DE4420998 A1 DE 4420998A1 DE 19944420998 DE19944420998 DE 19944420998 DE 4420998 A DE4420998 A DE 4420998A DE 4420998 A1 DE4420998 A1 DE 4420998A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
microcontroller
circuit device
switching
resistance
connection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19944420998
Other languages
English (en)
Other versions
DE4420998C2 (de
Inventor
Eckhard Dipl Ing Steffen
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HYDROMETER ELECTRONIC GMBH, 90451 NUERNBERG, DE
Original Assignee
Diehl GmbH and Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Diehl GmbH and Co filed Critical Diehl GmbH and Co
Priority to DE19944420998 priority Critical patent/DE4420998C2/de
Priority to FR9506562A priority patent/FR2721406B3/fr
Publication of DE4420998A1 publication Critical patent/DE4420998A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE4420998C2 publication Critical patent/DE4420998C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/16Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
    • G01K7/22Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
    • G01K7/24Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft eine Schaltungseinrichtung gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1 zum genauen Messen eines elektrischen Widerstandes.
Eine solche Schaltungseinrichtung führt die präzise Messung eines unbekannten elektrischen Widerstandes auf die Messung der Zeitkonstante eines RC-Gliedes zurück, wobei R der unbekannte, d. h. der zu messende elektrische Widerstand und C die Kapazität eines elektrischen Kondensators ist, die miteinander in Reihe schaltbar bzw. in Reihe geschaltet sind.
Die Funktionsweise bzw. der Meßablauf einer solchen bekannten, einen Microcontroller aufweisenden Schaltungseinrichtung ist wie folgt:
Zuerst wird bei offenem zweiten und offenem dritten Schaltanschluß des Microcontrollers, dessen erster Schaltanschluß geschlossen. Hierdurch wird die Versorgungs- Gleichspannungsquelle mit dem elektrischen Kondensator verbunden und der elektrische Kondensator auf die Nennspannung der Versorgungs-Gleichspannungsquelle aufgeladen. Der Ladestrom des elektrischen Kondensators konvergiert hierbei zeitlich gegen Null, so daß der Innenwiderstand der Versorgungs-Gleichspannungsquelle für die Endspannung am elektrischen Kondensator insbes. dann keine Rolle spielt, wenn die Ladezeit ausreichend lang gewählt wird. Sobald der Kondensator auf die Nenngleichspannung aufgeladen ist, wird der erste Schaltanschluß geöffnet. Das wird durch die Steuerung des Microcontrollers bewirkt. Anschließend wird der dritte Schaltanschluß geöffnet und gleichzeitig der Zähler des Microcontrollers gestartet. Durch das Schließen des dritten Schaltanschlusses ergibt sich eine Entladung des Kondensators über den an den dritten Schaltanschluß angeschlossenen zu messenden elektrischen Widerstand. Diese Entladung erfolgt bekanntermaßen nach einer exponentiellen Zeitfunktion. Sobald eine vorgegebene Schwellenspannung an dem am Unterbrecheranschluß des Microcontrollers angeschlossenen Komparator erreicht bzw. unterschritten wird, schaltet der Ausgang des Komparators derart, daß der Zähler des Microcontrollers über den Unterbrecheranschluß gestoppt wird. Der Zählerstand des Zählers ist folglich ein Maß für den zu bestimmenden elektrischen Widerstand, wenn die Kapazität des Kondensators bekannt ist.
Da der elektrische Kondensator des RC-Gliedes eine Kapazitätstoleranz und eine Temperaturabhängigkeit aufweist, wird bekanntermaßen noch eine Vergleichsmessung mit einem bekannten Referenzwiderstand durchgeführt. Zu diesem Zwecke wird die oben beschriebene Meßprozedur wiederholt, wobei an Stelle des dritten Schaltanschlusses der zweite Schaltanschluß des Microcontrollers aktiviert wird, an den der genannte Referenzwiderstand angeschlossen ist. Als Ergebnis der mit dem Referenzwiderstand durchgeführten Meßprozedur liegt dann ein dem Referenzwiderstand entsprechender Zählerstand vor.
Die beiden Zählerstände genügen idealerweise den Gleichungen:
(1)   Zx = K·Rx·C
(2)   Zref = K·Rref·C.
Aus den Formeln (1) und (2) kann dann der zu messende elektrische Widerstand zu
berechnet werden mit
Zx = dem zu messenden elektrischen Widerstand entsprechender Zählerstand
Zref = dem Referenzwiderstand entsprechender Zählerstand
C = Kapazität des elektrischen Kondensators
K = Konstante
Rx = Widerstandswert des zu messenden elektrischen Widerstandes,
Rref = Widerstandswert des Referenzwiderstandes.
Die oben angegebene Formel (3) berücksichtigt jedoch noch nicht, daß der zweite und der dritte Schaltanschluß Innenwiderstände Ron aufweisen. Unter Berücksichtigung dieser Innenwiderstände Ron, die für den zweiten und den dritten Schaltanschluß als gleich groß angenommen werden können, ergeben sich für die Zählerstände entsprechend den oben angegebenen Formeln (1) und (2) die folgenden Gleichungen:
(4)   Zx = K·(Rx + Ron)·C
(5)   Zref = K·(Rref + Ron)·C.
Ohne genaue Kenntnis der Innenwiderstände Ron ist es folglich nicht möglich, den Wert des zu messenden elektrischen Widerstandes zu berechnen bzw. zu bestimmen. Die Innenwiderstände Ron sind von verschiedenen Parametern abhängig. Im Falle einer Realisierung einer solchen Schaltungseinrichtung in CMOS-Technologie hängen die Innenwiderstände Ron von der Temperatur, von der Versorgungsspannung und von der Prozeßsteuerung ab.
Zur Abschätzung der genannten Innenwiderstände Ron sind die folgenden Verfahren bekannt:
Die Innenwiderstände Ron werden in der Produktion individuell gemessen und dem Microcontroller mitgeteilt. Damit wird die Prozeßsteuerung erfaßt. Wenn die Temperatur der Schaltungseinrichtung und die Temperaturabhängigkeit der Innenwiderstände Ron bekannt sind, kann der entsprechende Widerstandswert jedes Innenwiderstandes Ron abgeschätzt werden. Gleiches gilt für die Abhängigkeit der Innenwiderstände Ron von der Versorgungsspannung. Falls diese und die Funktionsabhängigkeit jedes Innenwiderstandes Ron von der Versorgungsspannung bekannt sind, kann der entsprechende Innenwiderstand Ron bestimmt werden. Werden diese drei Parameter berücksichtigt, so ergibt sich neben den entsprechenden individuellen Messungen für jeden Innenwiderstand Ron ein dreidimensionales Korrektur- Kennfeld, aus welchem ein entsprechend hoher Speicher- und Rechenaufwand resultiert.
Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde, eine Schaltungseinrichtung der eingangs genannten Art zu schaffen, die mit relativ einfachen Mitteln eine präzise Messung eines elektrischen Widerstandes ermöglicht, wobei im Zusammenspiel mit geeigneten Temperatursensoren exakte Messungen bspw. im Temperaturbereich von größenordnungsmäßig +15°C bis +100°C mit einer Temperaturauflösung von < 0,1 K und einem Meßfehler von < 0,1 K möglich sein sollen.
Diese Aufgabe wird bei einer Schaltungseinrichtung der eingangs genannten Art erfindungsgemäß durch die Merkmale des Kennzeichenteiles des Anspruchs 1 gelöst. Bevorzugte Aus- und Weiterbildungen der erfindungsgemäßen Schaltungseinrichtung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
Dadurch, daß der Microcontroller einen vierten Schaltanschluß aufweist, an den ein zweiter Referenzwiderstand angeschlossen ist, ist es möglich, zu jeder Messung des unbekannten elektrischen Widerstandes den aktuellen Wert des Innenwiderstandes des zugehörigen Schaltanschlusses zu bestimmen.
Zusätzlich zu den oben in Verbindung mit der bekannten Schaltungseinrichtung der gattungsgemäßen Art beschriebenen Messungen des nicht bekannten elektrischen Widerstandes und des ersten Referenzwiderstandes wird mit der erfindungsgemäßen Schaltungseinrichtung also mittels des zweiten Referenzwiderstandes eine dritte Messung durchgeführt. Entsprechend den weiter oben angegebenen mathematischen Formeln (4) und (5) ergibt sich für den zweiten Referenzwiderstand
(6)   Zref2 = K · (Rref2 + Ron)·C.
Mit Rref1 = Widerstandswert des zweiten Referenzwiderstandes.
Aus den Gleichungen (4), (5) und (6) ist es folglich möglich, die Innenwiderstände Ron der zugehörigen Schaltanschlüsse zu eliminieren und den unbekannten Widerstand Rx wie folgt zu bestimmen:
Aus der Gleichung (7) wird ersichtlich, daß eine Bestimmung des unbekannten Widerstandes möglich ist, wenn sich die Widerstandswerte des ersten und des zweiten Referenzwiderstandes voneinander unterscheiden. Besonders zweckmäßig ist es, wenn sich die Werte des ersten und des zweiten Referenzwiderstandes um einen möglichst großen Wert unterscheiden. Dabei ist außerdem zu beachten, daß die Innenwiderstände der entsprechenden Schaltanschlüsse nur einen begrenzt linearen, d. h. ohmschen Bereich aufweisen. Oberhalb eines bestimmten elektrischen Stromes wird der entsprechende Innenwiderstand zunehmend größer, d. h. er geht in einen nicht linearen Bereich über. Damit die oben angegebenen mathematischen Gleichungen Gültigkeit besitzen, müssen der erste und der zweite Referenzwiderstand derartig dimensioniert sein, daß die Schaltanschlüsse des Microcontrollers stets im Ohmschen, d. h. linearen, Bereich betrieben werden.
Weitere Einzelheiten, Merkmale und Vorteile ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung eines in der Zeichnung dargestellten Schaltungsbeispieles der erfindungsgemäßen Schalteinrichtung.
Die Zeichnung zeigt in einer Blockdarstellung eine Ausführungsform der Schaltungseinrichtung 10 mit einem als Block angedeuteten Microcontroller 12, der einen ersten Schaltanschluß 14, einen zweiten Schaltanschluß 16, einen dritten Schaltanschluß 18, einen vierten Schaltanschluß 20 sowie einen Unterbrecheranschluß 22 aufweist. Jedem der Schaltanschlüsse 14, 16, 18 und 20 ist ein Schalter 24, 26, 28 bzw. 30 zugeordnet. Der Schalter 24 ist zwischen dem ersten Schaltanschluß 14 und einem Spannungsanschluß 32 des Microcontrollers 12 vorgesehen. Die Schalter 26, 28, 30 sind zwischen dem zugehörigen Schaltanschluß 16, 18 bzw. 20 und Masse 34 angeordnet.
An den Spannungsanschluß 32 ist eine Versorgungs- Gleichspannungsquelle 36 angeschlossen, deren Innenwiderstand mit der Bezugsziffer 38 bezeichnet ist. Die Versorgungs-Gleichspannungsquelle 36 ist mit ihrem einen Pol an den Spannungsanschluß 32 angeschlossen und mit ihrem zweiten Pol mit Masse 34 verbunden.
Ein elektrischer Kondensator 40 ist einerseits an den ersten Schaltanschluß 14 und andererseits an Masse 34 angeschlossen. Zwischen dem mit der Bezugsziffer 42 bezeichneten ersten Anschluß des Kondensators 40 und dem zweiten Schaltanschluß 16 ist ein erster Referenzwiderstand 44, zwischen dem dritten Schaltanschluß 18 und dem ersten Anschluß 42 des elektrischen Kondensators 40 ist der zu messende elektrische Widerstand 46 und zwischen dem vierten Schaltanschluß 20 des Microcontrollers 12 und dem ersten Anschluß 42 des Kondensators 40 ist ein zweiter Referenzwiderstand 48 eingeschaltet. Ein Komparator 50 ist zwischen dem ersten Anschluß 42 des Kondensators 40 und dem Unterbrecheranschluß 22 des Microcontrollers 12 eingeschaltet.
Die Schalter 24, 26, 28 bzw. 30 werden mittels einer Steuerung 52 geschaltet, die in der Zeichnungsfigur ebenfalls nur als Block angedeutet ist. Dem Unterbrecheranschluß 22 ist ein ebenfalls nur als Block angedeuteter Zähler 54 zugeordnet.
Zur weiteren Verdeutlichung der Funktionsweise der erfindungsgemäßen Schaltungseinrichtung 10 mag das nachfolgende Dimensionierungsbeispiel dienen: Zunächst wird die maximale Frequenz des Zählers 54 ermittelt. Diese beträgt bei einem technisch und wirtschaftlich in Frage kommenden 4-bit Microcontroller 12 maximal 250 kHz bei einem 2 MHz Oszillator. Wird die Kapazität des Kondensators 40 aus Platz- und Kostengründen z. B. auf 0,68 µF festgelegt, so ist es möglich, einen leckstromarmen Folienkondensator anzuwenden. Wird die Schwellenspannung des Komparators 50 auf 40% der Spannung der Versorgungs-Gleichspannungsquelle 36 festgelegt, so ist es vorteilhaft möglich, auf der Entladekennlinie des Kondensators 40 noch im Bereich großer Steigung zu sein. Bei dieser Schwellenspannung liegt zwischen dem Beginn der Kondensatorentladung und dem Erreichen der genannten Spannungsschwelle die Zeit
0,915·τ mit τ = R · C.
Aus der Gleichung
d. h.
1 : 250 kHz = 0,915 · R · C
ergibt sich mit C = 0,68 µF für den Widerstand R:
R = 6,4 Ohm.
Der verwendete, zu messende Widerstand 46, welcher einen Temperatursensor zur Messung einer Temperatur bspw. im Bereich zwischen +15°C und +100°C vorgesehen sein soll, sollte seinen elektrischen Widerstand also um mindestens ungefähr 6 Ohm/0,1 K ändern. Diese Bedingung ist von handelsüblichen PTC-Widerständen bzw. von einem PT1000- Widerstand nicht erfüllbar, weil diese wegen ihrer niedrigen Absolutwiderstände eine Größenordnung zu niedrig liegen. NTC-Widerstände sind jedoch zur Verwendung bei der erfindungsgemäßen Schaltungseinrichtung geeignet.
Der zweite Referenzwiderstand 44 wird bei der erfindungsgemäßen Schaltungseinrichtung 10 z. B. derartig gewählt, daß der Maximalstrom durch den vierten Schaltanschluß 20 noch - wie bereits weiter oben erwähnt worden ist - im ohmschen Bereich liegt. Der ohmsche Bereich endet bei einem handelsüblichen 4-bit Microcontroller 12 der oben genannten Art bspw. bei etwa 3 mA. Bei einer Versorgungs-Gleichspannung von z. B. 3 V errechnet sich somit für den zweiten Referenzwiderstand 44 ein Widerstandswert von
Rref2 = 3 V : 3 mA = 1 k Ohm.
Der erste Referenzwiderstand 44 sollte auf der logarithmischen Achse des Funktionszusammenhanges zwischen Widerstandswert und Temperatur wenigstens annähernd in der Mitte des gegebenen Widerstandswertebereiches liegen, was im konkreten Ausführungsbeispiel für den ersten Referenzwiderstand bspw.
Rref = 15 k Ohm
ergibt.
Der Komparator 50 ist erforderlich, um die Reproduzierbarkeit der Schaltschwelle sicherzustellen. Würde man bspw. direkt dem Unterbrecheranschluß 22 des Microcontrollers 12 benutzen, so müßte wegen der möglichen internen Verseuchung der Versorgungsspannung mit einem nicht reproduzierbaren Verhalten der Schaltschwelle gerechnet werden. Ist auch die externe Versorgungsspannung verseucht, ist es zweckmäßig, die Versorgungsleitung des Komparators 50 zu filtern. Besonderes Augenmerk ist auf die Leckstromarmut des Komparatoreingangs zu richten.
Die erfindungsgemäße Schaltungseinrichtung 10 weist die Vorteile auf, daß bei Anwendung entsprechender Temperatursensoren bspw. im Temperaturbereich zwischen +15°C und +100°C eine Temperaturauflösung von < 0,1 K und ein Meßfehler von <0,1 K realisierbar ist. Im Temperaturbereich von -15°C bis +130°C kann eine etwas geringere Meßgenauigkeit zulässig sein. Ein weiterer Vorteil besteht darin, daß ein maskenprogrammierbarer Standard-Microcontroller 12 verwendbar ist, der vergleichsweise preisgünstig zur Verfügung steht. Bei entsprechender Dimensionierung unter Verwendung geeigneter Bauelemente ergibt sich der weitere Vorteil einer äußerst geringen mittleren Stromaufnahme von z. B. größenordnungsmäßig 10 µA, so daß nicht auswechselbare, fest installierte Langzeitbatterien z. B. während einer Zeitspanne von ca. 11 Jahren die Energiequelle bilden können. Weitere Vorteile der erfindungsgemäßen Schaltungseinrichtung bestehen im minimierten Kostenaufwand für die zur Anwendung gelangenden Komponenten, in den geringen Herstellungskosten sowie im geringen Platzbedarf, so daß sich die erfindungsgemäße Schaltungseinrichtung bspw. bei der Konzeptionierung eines elektrischen Heizkostenverteilers anwenden läßt.

Claims (6)

1. Schaltungsanordnung zum genauen Messen eines elektrischen Widerstandes (46) mit einem Microcontroller (12), wobei an einen ersten Schaltanschluß (14) des Microcontrollers (12) ein elektrischer Kondensator (40) angeschlossen ist, der mit einer Versorgungs-Gleichspannungsquelle (36) verbindbar ist, an einem zweiten Schaltanschluß (16) des Microcontrollers (12) ein Referenzwiderstand (44), an einen dritten Schaltanschluß (18) des Microcontrollers (12) der zu messende Widerstand (46), und an einen Unterbrecheranschluß (22) des Microcontrollers (12) ein Komparator (50) angeschlossen ist, wobei der Microcontroller (12) zum Schalten des jeweiligen Schaltanschlusses (14, 16, 18) eine Steuerung (52) sowie einen mit dem Unterbrecheranschluß (22) verbundenen Zähler (54) aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß der Microcontroller (12) einen vierten Schaltanschluß (20) aufweist, an den ein zweiter Referenzwiderstand (48) angeschlossen ist, wobei der erste und der zweite Referenzwiderstand (44, 48) voneinander verschiedene Nennwiderstandswerte besitzen.
2. Schaltungseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Microcontroller (12) in CMOS-Technologie ausgebildet ist.
3. Schaltungseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Komparator (50) ein digitaler Schmitt-Trigger ist.
4. Schaltungseinrichtung nach Anspruch 1 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Komparator (50) eine definierte Schwellenspannung aufweist.
5. Schaltungseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Kondensator (40) ein leckstromarmer Folienkondensator ist.
6. Schaltungseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Referenzwiderstände (44, 48) als NTC- Widerstände ausgebildet sind.
DE19944420998 1994-06-17 1994-06-17 Schaltungseinrichtung zum genauen Messen eines elektrischen Widerstandes Expired - Fee Related DE4420998C2 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19944420998 DE4420998C2 (de) 1994-06-17 1994-06-17 Schaltungseinrichtung zum genauen Messen eines elektrischen Widerstandes
FR9506562A FR2721406B3 (fr) 1994-06-17 1995-06-02 Circuit pour la mesure précise d'une résistance électrique.

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19944420998 DE4420998C2 (de) 1994-06-17 1994-06-17 Schaltungseinrichtung zum genauen Messen eines elektrischen Widerstandes

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE4420998A1 true DE4420998A1 (de) 1995-12-21
DE4420998C2 DE4420998C2 (de) 1999-03-25

Family

ID=6520704

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19944420998 Expired - Fee Related DE4420998C2 (de) 1994-06-17 1994-06-17 Schaltungseinrichtung zum genauen Messen eines elektrischen Widerstandes

Country Status (2)

Country Link
DE (1) DE4420998C2 (de)
FR (1) FR2721406B3 (de)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19641648C1 (de) * 1996-10-09 1998-01-02 Ziegler Horst Widerstandsmeßschaltung und Widerstandsmeßverfahren
DE10028671A1 (de) * 2000-03-29 2001-10-11 Datron Electronic Gmbh Dreiachsig sensierender Präzisionsabtaster
US6690183B2 (en) 2001-04-19 2004-02-10 Acam-Messelectronic Gmbh Resistance measurement
WO2006111231A1 (de) * 2005-04-20 2006-10-26 Braun Gmbh Verfahren zum erzeugen einer zeitbasis für einen mikrokontroller und schaltungsanordnung hierfür
WO2010049298A1 (de) * 2008-10-30 2010-05-06 Endress+Hauser Conducta Gesellschaft Für Mess- Und Regeltechnik Mbh+Co. Kg Widerstandsmessung eines von einer messgrösse abhängigen widerstandselements
WO2014093426A1 (en) * 2012-12-11 2014-06-19 B3 Systems, Inc. Methods and circuits for measuring a high impedance element based on time constant measurements
EP3553538A1 (de) * 2018-04-13 2019-10-16 Nokia Technologies Oy Vorrichtung, elektronische vorrichtung und verfahren zur impedanzschätzung
EP3936875A1 (de) 2020-07-07 2022-01-12 Diehl Metering GmbH Widerstandsmessschaltung, messeinrichtung und widerstandsmessverfahren

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10024716C2 (de) * 2000-05-19 2002-08-14 Asm Automation Sensorik Messte Meßumformer für potentiometrische Positionssensoren und Verfahren zur Parametrisierung
DE10134635C1 (de) * 2001-07-17 2003-01-16 Texas Instruments Deutschland Widerstandsmessschaltung
DE10157529B4 (de) * 2001-11-23 2005-03-31 Insta Elektro Gmbh Verfahren zur Bestimmung von Widerstands- und/oder Kapazitätswerten
DE102010048677B4 (de) * 2010-10-16 2014-10-02 Acam-Messelectronic Gmbh Schaltung und Verfahren zum Messen der Entladezeit eines Kondensators über mindestens einen Messwiderstand
CN112212908B (zh) * 2020-10-10 2022-04-26 北京航空航天大学 一种智能传感器及其智能化方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3900782A1 (de) * 1988-01-13 1989-07-27 Ciapem Vorrichtung zur eingabe von daten in einen mikroprozessor, insbesondere fuer die steuerung eines haushaltsgeraetes

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3900782A1 (de) * 1988-01-13 1989-07-27 Ciapem Vorrichtung zur eingabe von daten in einen mikroprozessor, insbesondere fuer die steuerung eines haushaltsgeraetes

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19641648C1 (de) * 1996-10-09 1998-01-02 Ziegler Horst Widerstandsmeßschaltung und Widerstandsmeßverfahren
DE10028671A1 (de) * 2000-03-29 2001-10-11 Datron Electronic Gmbh Dreiachsig sensierender Präzisionsabtaster
DE10028671B4 (de) * 2000-03-29 2006-02-02 Datron-Electronic Gmbh Werkzeugmaschine
US6690183B2 (en) 2001-04-19 2004-02-10 Acam-Messelectronic Gmbh Resistance measurement
CN101164234B (zh) * 2005-04-20 2010-09-29 布劳恩股份有限公司 用于产生微控制器的时基的方法和为此使用的电路
US7620512B2 (en) 2005-04-20 2009-11-17 Braun Gmbh Determining a time base for a microcontroller
WO2006111231A1 (de) * 2005-04-20 2006-10-26 Braun Gmbh Verfahren zum erzeugen einer zeitbasis für einen mikrokontroller und schaltungsanordnung hierfür
WO2010049298A1 (de) * 2008-10-30 2010-05-06 Endress+Hauser Conducta Gesellschaft Für Mess- Und Regeltechnik Mbh+Co. Kg Widerstandsmessung eines von einer messgrösse abhängigen widerstandselements
DE102008043326A1 (de) 2008-10-30 2010-05-06 Endress + Hauser Conducta Gesellschaft für Mess- und Regeltechnik mbH + Co. KG Verfahren und Vorrichtung zur Widerstandsmessung eines von einer chemischen und/oder physikalischen Messgröße abhängigen Widerstandselements
DE102008043326B4 (de) 2008-10-30 2018-03-15 Endress+Hauser Conducta Gmbh+Co. Kg Verfahren und Vorrichtung zur Widerstandsmessung eines von einer chemischen und/oder physikalischen Messgröße abhängigen Widerstandselements
WO2014093426A1 (en) * 2012-12-11 2014-06-19 B3 Systems, Inc. Methods and circuits for measuring a high impedance element based on time constant measurements
US9482706B2 (en) 2012-12-11 2016-11-01 Dust Company, Inc. Methods and circuits for measuring a high impedance element based on time constant measurements
EP3553538A1 (de) * 2018-04-13 2019-10-16 Nokia Technologies Oy Vorrichtung, elektronische vorrichtung und verfahren zur impedanzschätzung
WO2019197517A1 (en) * 2018-04-13 2019-10-17 Nokia Technologies Oy An apparatus, electronic device and method for estimating impedance
EP3936875A1 (de) 2020-07-07 2022-01-12 Diehl Metering GmbH Widerstandsmessschaltung, messeinrichtung und widerstandsmessverfahren
DE102020004075A1 (de) 2020-07-07 2022-01-13 Diehl Metering Gmbh Widerstandsmessschaltung, Messeinrichtung und Widerstandsmessverfahren

Also Published As

Publication number Publication date
DE4420998C2 (de) 1999-03-25
FR2721406A3 (fr) 1995-12-22
FR2721406B3 (fr) 1996-04-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69326921T2 (de) Verfahren und Schaltungen zum Messen der Leitfähigkeit von Lösungen
DE4420998C2 (de) Schaltungseinrichtung zum genauen Messen eines elektrischen Widerstandes
DE2740289C3 (de) Vorrichtung zur Überwachung des Niveaus einer in einem Behälter enthaltenen Flüssigkeit
DE2551798A1 (de) Elektrischer neigungsmessfuehler
DE3933311C2 (de)
WO2019081365A1 (de) Verfahren zum betrieb eines batteriesensors und batteriesensor
DE2645897A1 (de) Nahrungsmitteltemperaturempfindliche steuereinrichtung
WO1992018856A1 (de) Integrierbare leitfähigkeitsmessvorrichtung
DE3304805C2 (de) Vorrichtung zur Messung und Anzeige des Ölstandes von Brennkraftmaschinen für Fahrzeuge
EP0154716A1 (de) Schaltungsanordnung zur elektrothermischen, Umgebungstemperaturkompensierten Füllstandmessung
DE2317103B2 (de) Schaltungsanordnung zur Verarbeitung von Ausgangssignalen eines optoelektrischen Wandlers eines Fotometers
DE3123265A1 (de) Anordnung und verfahren zum messen von widerstaenden
EP1849223B1 (de) Vorrichtung zur induktiven gleichstromerfassung mit temperaturgangskompensation der wandlerpermeabilität durch anpassung der frequenz der eingeprägten wechselspannung
EP0019884A1 (de) Schaltungsanordnung zur Überwachung der Betriebseigenschaften eines funkenstreckenlosen Überspannungsableiters
DE2710782C2 (de) Vorrichtung zur Messung von Temperaturdifferenzen
EP2844989B1 (de) Schaltungsanordnung zur messung einer sensorelementkapazität
DE2901688A1 (de) Verfolgungs- und halteschaltungsanordnung
EP0250028A2 (de) Schaltungsanordnung zur Kompensation von temperatur- und nichttemperatur-bedingtem Driften eines kapazitiven Sensors
DE2353812C3 (de) Temperaturmeßschaltung
DE102012208159B4 (de) Signalkonditionierung eines Temperatursensors
EP0129132B1 (de) Messeinrichtung zur Erfassung einer Temperaturdifferenz
DE2743448C3 (de) Lineares Ohmmeter mit einem Differenzverstärker
DE2333455C3 (de) LeitfähigkeitsmeBvorrichtung
DE3625071A1 (de) Verfahren zum betreiben eines sensors und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
DE4020732A1 (de) Manuelle analogeingabe fuer mikroprozessoren

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: DIEHL STIFTUNG & CO., 90478 NUERNBERG, DE

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: HYDROMETER ELECTRONIC GMBH, 90451 NUERNBERG, DE

R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee

Effective date: 20140101