DE4420998A1 - Schaltungseinrichtung zum genauen Messen eines elektrischen Widerstandes - Google Patents
Schaltungseinrichtung zum genauen Messen eines elektrischen WiderstandesInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Schaltungseinrichtung gemäß dem
Oberbegriff des Anspruches 1 zum genauen Messen eines
elektrischen Widerstandes.
Eine solche Schaltungseinrichtung führt die präzise Messung
eines unbekannten elektrischen Widerstandes auf die Messung
der Zeitkonstante eines RC-Gliedes zurück, wobei R der
unbekannte, d. h. der zu messende elektrische Widerstand und
C die Kapazität eines elektrischen Kondensators ist, die
miteinander in Reihe schaltbar bzw. in Reihe geschaltet
sind.
Die Funktionsweise bzw. der Meßablauf einer solchen
bekannten, einen Microcontroller aufweisenden
Schaltungseinrichtung ist wie folgt:
Zuerst wird bei offenem zweiten und offenem dritten Schaltanschluß des Microcontrollers, dessen erster Schaltanschluß geschlossen. Hierdurch wird die Versorgungs- Gleichspannungsquelle mit dem elektrischen Kondensator verbunden und der elektrische Kondensator auf die Nennspannung der Versorgungs-Gleichspannungsquelle aufgeladen. Der Ladestrom des elektrischen Kondensators konvergiert hierbei zeitlich gegen Null, so daß der Innenwiderstand der Versorgungs-Gleichspannungsquelle für die Endspannung am elektrischen Kondensator insbes. dann keine Rolle spielt, wenn die Ladezeit ausreichend lang gewählt wird. Sobald der Kondensator auf die Nenngleichspannung aufgeladen ist, wird der erste Schaltanschluß geöffnet. Das wird durch die Steuerung des Microcontrollers bewirkt. Anschließend wird der dritte Schaltanschluß geöffnet und gleichzeitig der Zähler des Microcontrollers gestartet. Durch das Schließen des dritten Schaltanschlusses ergibt sich eine Entladung des Kondensators über den an den dritten Schaltanschluß angeschlossenen zu messenden elektrischen Widerstand. Diese Entladung erfolgt bekanntermaßen nach einer exponentiellen Zeitfunktion. Sobald eine vorgegebene Schwellenspannung an dem am Unterbrecheranschluß des Microcontrollers angeschlossenen Komparator erreicht bzw. unterschritten wird, schaltet der Ausgang des Komparators derart, daß der Zähler des Microcontrollers über den Unterbrecheranschluß gestoppt wird. Der Zählerstand des Zählers ist folglich ein Maß für den zu bestimmenden elektrischen Widerstand, wenn die Kapazität des Kondensators bekannt ist.
Zuerst wird bei offenem zweiten und offenem dritten Schaltanschluß des Microcontrollers, dessen erster Schaltanschluß geschlossen. Hierdurch wird die Versorgungs- Gleichspannungsquelle mit dem elektrischen Kondensator verbunden und der elektrische Kondensator auf die Nennspannung der Versorgungs-Gleichspannungsquelle aufgeladen. Der Ladestrom des elektrischen Kondensators konvergiert hierbei zeitlich gegen Null, so daß der Innenwiderstand der Versorgungs-Gleichspannungsquelle für die Endspannung am elektrischen Kondensator insbes. dann keine Rolle spielt, wenn die Ladezeit ausreichend lang gewählt wird. Sobald der Kondensator auf die Nenngleichspannung aufgeladen ist, wird der erste Schaltanschluß geöffnet. Das wird durch die Steuerung des Microcontrollers bewirkt. Anschließend wird der dritte Schaltanschluß geöffnet und gleichzeitig der Zähler des Microcontrollers gestartet. Durch das Schließen des dritten Schaltanschlusses ergibt sich eine Entladung des Kondensators über den an den dritten Schaltanschluß angeschlossenen zu messenden elektrischen Widerstand. Diese Entladung erfolgt bekanntermaßen nach einer exponentiellen Zeitfunktion. Sobald eine vorgegebene Schwellenspannung an dem am Unterbrecheranschluß des Microcontrollers angeschlossenen Komparator erreicht bzw. unterschritten wird, schaltet der Ausgang des Komparators derart, daß der Zähler des Microcontrollers über den Unterbrecheranschluß gestoppt wird. Der Zählerstand des Zählers ist folglich ein Maß für den zu bestimmenden elektrischen Widerstand, wenn die Kapazität des Kondensators bekannt ist.
Da der elektrische Kondensator des RC-Gliedes eine
Kapazitätstoleranz und eine Temperaturabhängigkeit
aufweist, wird bekanntermaßen noch eine Vergleichsmessung
mit einem bekannten Referenzwiderstand durchgeführt. Zu
diesem Zwecke wird die oben beschriebene Meßprozedur
wiederholt, wobei an Stelle des dritten Schaltanschlusses
der zweite Schaltanschluß des Microcontrollers aktiviert
wird, an den der genannte Referenzwiderstand angeschlossen
ist. Als Ergebnis der mit dem Referenzwiderstand
durchgeführten Meßprozedur liegt dann ein dem
Referenzwiderstand entsprechender Zählerstand vor.
Die beiden Zählerstände genügen idealerweise den
Gleichungen:
(1) Zx = K·Rx·C
(2) Zref = K·Rref·C.
Aus den Formeln (1) und (2) kann dann der zu messende
elektrische Widerstand zu
berechnet werden mit
Zx = dem zu messenden elektrischen Widerstand
entsprechender Zählerstand
Zref = dem Referenzwiderstand entsprechender Zählerstand
C = Kapazität des elektrischen Kondensators
K = Konstante
Rx = Widerstandswert des zu messenden elektrischen Widerstandes,
Rref = Widerstandswert des Referenzwiderstandes.
Zref = dem Referenzwiderstand entsprechender Zählerstand
C = Kapazität des elektrischen Kondensators
K = Konstante
Rx = Widerstandswert des zu messenden elektrischen Widerstandes,
Rref = Widerstandswert des Referenzwiderstandes.
Die oben angegebene Formel (3) berücksichtigt jedoch noch
nicht, daß der zweite und der dritte Schaltanschluß
Innenwiderstände Ron aufweisen. Unter Berücksichtigung
dieser Innenwiderstände Ron, die für den zweiten und den
dritten Schaltanschluß als gleich groß angenommen werden
können, ergeben sich für die Zählerstände entsprechend den
oben angegebenen Formeln (1) und (2) die folgenden
Gleichungen:
(4) Zx = K·(Rx + Ron)·C
(5) Zref = K·(Rref + Ron)·C.
Ohne genaue Kenntnis der Innenwiderstände Ron ist es
folglich nicht möglich, den Wert des zu messenden
elektrischen Widerstandes zu berechnen bzw. zu bestimmen.
Die Innenwiderstände Ron sind von verschiedenen Parametern
abhängig. Im Falle einer Realisierung einer solchen
Schaltungseinrichtung in CMOS-Technologie hängen die
Innenwiderstände Ron von der Temperatur, von der
Versorgungsspannung und von der Prozeßsteuerung ab.
Zur Abschätzung der genannten Innenwiderstände Ron sind die
folgenden Verfahren bekannt:
Die Innenwiderstände Ron werden in der Produktion
individuell gemessen und dem Microcontroller mitgeteilt.
Damit wird die Prozeßsteuerung erfaßt. Wenn die Temperatur
der Schaltungseinrichtung und die Temperaturabhängigkeit
der Innenwiderstände Ron bekannt sind, kann der
entsprechende Widerstandswert jedes Innenwiderstandes Ron
abgeschätzt werden. Gleiches gilt für die Abhängigkeit der
Innenwiderstände Ron von der Versorgungsspannung. Falls
diese und die Funktionsabhängigkeit jedes Innenwiderstandes
Ron von der Versorgungsspannung bekannt sind, kann der
entsprechende Innenwiderstand Ron bestimmt werden. Werden
diese drei Parameter berücksichtigt, so ergibt sich neben
den entsprechenden individuellen Messungen für jeden
Innenwiderstand Ron ein dreidimensionales Korrektur-
Kennfeld, aus welchem ein entsprechend hoher Speicher- und
Rechenaufwand resultiert.
Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde, eine
Schaltungseinrichtung der eingangs genannten Art zu
schaffen, die mit relativ einfachen Mitteln eine präzise
Messung eines elektrischen Widerstandes ermöglicht, wobei
im Zusammenspiel mit geeigneten Temperatursensoren exakte
Messungen bspw. im Temperaturbereich von
größenordnungsmäßig +15°C bis +100°C mit einer
Temperaturauflösung von < 0,1 K und einem Meßfehler von <
0,1 K möglich sein sollen.
Diese Aufgabe wird bei einer Schaltungseinrichtung der
eingangs genannten Art erfindungsgemäß durch die Merkmale
des Kennzeichenteiles des Anspruchs 1 gelöst. Bevorzugte
Aus- und Weiterbildungen der erfindungsgemäßen
Schaltungseinrichtung sind in den Unteransprüchen
gekennzeichnet.
Dadurch, daß der Microcontroller einen vierten
Schaltanschluß aufweist, an den ein zweiter
Referenzwiderstand angeschlossen ist, ist es möglich, zu
jeder Messung des unbekannten elektrischen Widerstandes den
aktuellen Wert des Innenwiderstandes des zugehörigen
Schaltanschlusses zu bestimmen.
Zusätzlich zu den oben in Verbindung mit der bekannten
Schaltungseinrichtung der gattungsgemäßen Art beschriebenen
Messungen des nicht bekannten elektrischen Widerstandes und
des ersten Referenzwiderstandes wird mit der
erfindungsgemäßen Schaltungseinrichtung also mittels des
zweiten Referenzwiderstandes eine dritte Messung
durchgeführt. Entsprechend den weiter oben angegebenen
mathematischen Formeln (4) und (5) ergibt sich für den
zweiten Referenzwiderstand
(6) Zref2 = K · (Rref2 + Ron)·C.
Mit Rref1 = Widerstandswert des zweiten
Referenzwiderstandes.
Aus den Gleichungen (4), (5) und (6) ist es folglich
möglich, die Innenwiderstände Ron der zugehörigen
Schaltanschlüsse zu eliminieren und den unbekannten
Widerstand Rx wie folgt zu bestimmen:
Aus der Gleichung (7) wird ersichtlich, daß eine Bestimmung
des unbekannten Widerstandes möglich ist, wenn sich die
Widerstandswerte des ersten und des zweiten
Referenzwiderstandes voneinander unterscheiden. Besonders
zweckmäßig ist es, wenn sich die Werte des ersten und des
zweiten Referenzwiderstandes um einen möglichst großen Wert
unterscheiden. Dabei ist außerdem zu beachten, daß die
Innenwiderstände der entsprechenden Schaltanschlüsse nur
einen begrenzt linearen, d. h. ohmschen Bereich aufweisen.
Oberhalb eines bestimmten elektrischen Stromes wird der
entsprechende Innenwiderstand zunehmend größer, d. h. er
geht in einen nicht linearen Bereich über. Damit die oben
angegebenen mathematischen Gleichungen Gültigkeit besitzen,
müssen der erste und der zweite Referenzwiderstand derartig
dimensioniert sein, daß die Schaltanschlüsse des
Microcontrollers stets im Ohmschen, d. h. linearen, Bereich
betrieben werden.
Weitere Einzelheiten, Merkmale und Vorteile ergeben sich
aus der nachfolgenden Beschreibung eines in der Zeichnung
dargestellten Schaltungsbeispieles der erfindungsgemäßen
Schalteinrichtung.
Die Zeichnung zeigt in einer Blockdarstellung eine
Ausführungsform der Schaltungseinrichtung 10 mit einem als
Block angedeuteten Microcontroller 12, der einen ersten
Schaltanschluß 14, einen zweiten Schaltanschluß 16, einen
dritten Schaltanschluß 18, einen vierten Schaltanschluß 20
sowie einen Unterbrecheranschluß 22 aufweist. Jedem der
Schaltanschlüsse 14, 16, 18 und 20 ist ein Schalter 24, 26,
28 bzw. 30 zugeordnet. Der Schalter 24 ist zwischen dem
ersten Schaltanschluß 14 und einem Spannungsanschluß 32 des
Microcontrollers 12 vorgesehen. Die Schalter 26, 28, 30
sind zwischen dem zugehörigen Schaltanschluß 16, 18 bzw. 20
und Masse 34 angeordnet.
An den Spannungsanschluß 32 ist eine Versorgungs-
Gleichspannungsquelle 36 angeschlossen, deren
Innenwiderstand mit der Bezugsziffer 38 bezeichnet ist. Die
Versorgungs-Gleichspannungsquelle 36 ist mit ihrem einen
Pol an den Spannungsanschluß 32 angeschlossen und mit ihrem
zweiten Pol mit Masse 34 verbunden.
Ein elektrischer Kondensator 40 ist einerseits an den
ersten Schaltanschluß 14 und andererseits an Masse 34
angeschlossen. Zwischen dem mit der Bezugsziffer 42
bezeichneten ersten Anschluß des Kondensators 40 und dem
zweiten Schaltanschluß 16 ist ein erster Referenzwiderstand
44, zwischen dem dritten Schaltanschluß 18 und dem ersten
Anschluß 42 des elektrischen Kondensators 40 ist der zu
messende elektrische Widerstand 46 und zwischen dem vierten
Schaltanschluß 20 des Microcontrollers 12 und dem ersten
Anschluß 42 des Kondensators 40 ist ein zweiter
Referenzwiderstand 48 eingeschaltet. Ein Komparator 50 ist
zwischen dem ersten Anschluß 42 des Kondensators 40 und dem
Unterbrecheranschluß 22 des Microcontrollers 12
eingeschaltet.
Die Schalter 24, 26, 28 bzw. 30 werden mittels einer
Steuerung 52 geschaltet, die in der Zeichnungsfigur
ebenfalls nur als Block angedeutet ist. Dem
Unterbrecheranschluß 22 ist ein ebenfalls nur als Block
angedeuteter Zähler 54 zugeordnet.
Zur weiteren Verdeutlichung der Funktionsweise der
erfindungsgemäßen Schaltungseinrichtung 10 mag das
nachfolgende Dimensionierungsbeispiel dienen: Zunächst wird
die maximale Frequenz des Zählers 54 ermittelt. Diese
beträgt bei einem technisch und wirtschaftlich in Frage
kommenden 4-bit Microcontroller 12 maximal 250 kHz bei einem
2 MHz Oszillator. Wird die Kapazität des Kondensators 40 aus
Platz- und Kostengründen z. B. auf 0,68 µF festgelegt, so
ist es möglich, einen leckstromarmen Folienkondensator
anzuwenden. Wird die Schwellenspannung des Komparators 50
auf 40% der Spannung der Versorgungs-Gleichspannungsquelle
36 festgelegt, so ist es vorteilhaft möglich, auf der
Entladekennlinie des Kondensators 40 noch im Bereich großer
Steigung zu sein. Bei dieser Schwellenspannung liegt
zwischen dem Beginn der Kondensatorentladung und dem
Erreichen der genannten Spannungsschwelle die Zeit
0,915·τ mit
τ = R · C.
Aus der Gleichung
d. h.
1 : 250 kHz = 0,915 · R · C
ergibt sich mit C = 0,68 µF für den Widerstand R:
R = 6,4 Ohm.
Der verwendete, zu messende Widerstand 46, welcher einen
Temperatursensor zur Messung einer Temperatur bspw. im
Bereich zwischen +15°C und +100°C vorgesehen sein soll,
sollte seinen elektrischen Widerstand also um mindestens
ungefähr 6 Ohm/0,1 K ändern. Diese Bedingung ist von
handelsüblichen PTC-Widerständen bzw. von einem PT1000-
Widerstand nicht erfüllbar, weil diese wegen ihrer
niedrigen Absolutwiderstände eine Größenordnung zu niedrig
liegen. NTC-Widerstände sind jedoch zur Verwendung bei der
erfindungsgemäßen Schaltungseinrichtung geeignet.
Der zweite Referenzwiderstand 44 wird bei der
erfindungsgemäßen Schaltungseinrichtung 10 z. B. derartig
gewählt, daß der Maximalstrom durch den vierten
Schaltanschluß 20 noch - wie bereits weiter oben erwähnt
worden ist - im ohmschen Bereich liegt. Der ohmsche
Bereich endet bei einem handelsüblichen 4-bit
Microcontroller 12 der oben genannten Art bspw. bei etwa
3 mA. Bei einer Versorgungs-Gleichspannung von z. B. 3 V
errechnet sich somit für den zweiten Referenzwiderstand 44
ein Widerstandswert von
Rref2 = 3 V : 3 mA = 1 k Ohm.
Der erste Referenzwiderstand 44 sollte auf der
logarithmischen Achse des Funktionszusammenhanges zwischen
Widerstandswert und Temperatur wenigstens annähernd in der
Mitte des gegebenen Widerstandswertebereiches liegen, was
im konkreten Ausführungsbeispiel für den ersten
Referenzwiderstand bspw.
Rref = 15 k Ohm
ergibt.
Der Komparator 50 ist erforderlich, um die
Reproduzierbarkeit der Schaltschwelle sicherzustellen.
Würde man bspw. direkt dem Unterbrecheranschluß 22 des
Microcontrollers 12 benutzen, so müßte wegen der möglichen
internen Verseuchung der Versorgungsspannung mit einem
nicht reproduzierbaren Verhalten der Schaltschwelle
gerechnet werden. Ist auch die externe Versorgungsspannung
verseucht, ist es zweckmäßig, die Versorgungsleitung des
Komparators 50 zu filtern. Besonderes Augenmerk ist auf die
Leckstromarmut des Komparatoreingangs zu richten.
Die erfindungsgemäße Schaltungseinrichtung 10 weist die
Vorteile auf, daß bei Anwendung entsprechender
Temperatursensoren bspw. im Temperaturbereich zwischen
+15°C und +100°C eine Temperaturauflösung von < 0,1 K und
ein Meßfehler von <0,1 K realisierbar ist. Im
Temperaturbereich von -15°C bis +130°C kann eine etwas
geringere Meßgenauigkeit zulässig sein. Ein weiterer
Vorteil besteht darin, daß ein maskenprogrammierbarer
Standard-Microcontroller 12 verwendbar ist, der
vergleichsweise preisgünstig zur Verfügung steht. Bei
entsprechender Dimensionierung unter Verwendung geeigneter
Bauelemente ergibt sich der weitere Vorteil einer äußerst
geringen mittleren Stromaufnahme von z. B.
größenordnungsmäßig 10 µA, so daß nicht auswechselbare, fest
installierte Langzeitbatterien z. B. während einer
Zeitspanne von ca. 11 Jahren die Energiequelle bilden
können. Weitere Vorteile der erfindungsgemäßen
Schaltungseinrichtung bestehen im minimierten Kostenaufwand
für die zur Anwendung gelangenden Komponenten, in den
geringen Herstellungskosten sowie im geringen Platzbedarf,
so daß sich die erfindungsgemäße Schaltungseinrichtung
bspw. bei der Konzeptionierung eines elektrischen
Heizkostenverteilers anwenden läßt.
Claims (6)
1. Schaltungsanordnung zum genauen Messen eines
elektrischen Widerstandes (46) mit einem
Microcontroller (12), wobei an einen ersten
Schaltanschluß (14) des Microcontrollers (12) ein
elektrischer Kondensator (40) angeschlossen ist, der
mit einer Versorgungs-Gleichspannungsquelle (36)
verbindbar ist, an einem zweiten Schaltanschluß (16)
des Microcontrollers (12) ein Referenzwiderstand
(44), an einen dritten Schaltanschluß (18) des
Microcontrollers (12) der zu messende Widerstand
(46), und an einen Unterbrecheranschluß (22) des
Microcontrollers (12) ein Komparator (50)
angeschlossen ist, wobei der Microcontroller (12) zum
Schalten des jeweiligen Schaltanschlusses (14, 16,
18) eine Steuerung (52) sowie einen mit dem
Unterbrecheranschluß (22) verbundenen Zähler (54)
aufweist,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Microcontroller (12) einen vierten
Schaltanschluß (20) aufweist, an den ein zweiter
Referenzwiderstand (48) angeschlossen ist, wobei der
erste und der zweite Referenzwiderstand (44, 48)
voneinander verschiedene Nennwiderstandswerte
besitzen.
2. Schaltungseinrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Microcontroller (12) in CMOS-Technologie
ausgebildet ist.
3. Schaltungseinrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Komparator (50) ein digitaler Schmitt-Trigger
ist.
4. Schaltungseinrichtung nach Anspruch 1 oder 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Komparator (50) eine definierte
Schwellenspannung aufweist.
5. Schaltungseinrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Kondensator (40) ein leckstromarmer
Folienkondensator ist.
6. Schaltungseinrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die beiden Referenzwiderstände (44, 48) als NTC-
Widerstände ausgebildet sind.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944420998 DE4420998C2 (de) | 1994-06-17 | 1994-06-17 | Schaltungseinrichtung zum genauen Messen eines elektrischen Widerstandes |
FR9506562A FR2721406B3 (fr) | 1994-06-17 | 1995-06-02 | Circuit pour la mesure précise d'une résistance électrique. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944420998 DE4420998C2 (de) | 1994-06-17 | 1994-06-17 | Schaltungseinrichtung zum genauen Messen eines elektrischen Widerstandes |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4420998A1 true DE4420998A1 (de) | 1995-12-21 |
DE4420998C2 DE4420998C2 (de) | 1999-03-25 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19944420998 Expired - Fee Related DE4420998C2 (de) | 1994-06-17 | 1994-06-17 | Schaltungseinrichtung zum genauen Messen eines elektrischen Widerstandes |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4420998C2 (de) |
FR (1) | FR2721406B3 (de) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19641648C1 (de) * | 1996-10-09 | 1998-01-02 | Ziegler Horst | Widerstandsmeßschaltung und Widerstandsmeßverfahren |
DE10028671A1 (de) * | 2000-03-29 | 2001-10-11 | Datron Electronic Gmbh | Dreiachsig sensierender Präzisionsabtaster |
US6690183B2 (en) | 2001-04-19 | 2004-02-10 | Acam-Messelectronic Gmbh | Resistance measurement |
WO2006111231A1 (de) * | 2005-04-20 | 2006-10-26 | Braun Gmbh | Verfahren zum erzeugen einer zeitbasis für einen mikrokontroller und schaltungsanordnung hierfür |
WO2010049298A1 (de) * | 2008-10-30 | 2010-05-06 | Endress+Hauser Conducta Gesellschaft Für Mess- Und Regeltechnik Mbh+Co. Kg | Widerstandsmessung eines von einer messgrösse abhängigen widerstandselements |
WO2014093426A1 (en) * | 2012-12-11 | 2014-06-19 | B3 Systems, Inc. | Methods and circuits for measuring a high impedance element based on time constant measurements |
EP3553538A1 (de) * | 2018-04-13 | 2019-10-16 | Nokia Technologies Oy | Vorrichtung, elektronische vorrichtung und verfahren zur impedanzschätzung |
EP3936875A1 (de) | 2020-07-07 | 2022-01-12 | Diehl Metering GmbH | Widerstandsmessschaltung, messeinrichtung und widerstandsmessverfahren |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10024716C2 (de) * | 2000-05-19 | 2002-08-14 | Asm Automation Sensorik Messte | Meßumformer für potentiometrische Positionssensoren und Verfahren zur Parametrisierung |
DE10134635C1 (de) * | 2001-07-17 | 2003-01-16 | Texas Instruments Deutschland | Widerstandsmessschaltung |
DE10157529B4 (de) * | 2001-11-23 | 2005-03-31 | Insta Elektro Gmbh | Verfahren zur Bestimmung von Widerstands- und/oder Kapazitätswerten |
DE102010048677B4 (de) * | 2010-10-16 | 2014-10-02 | Acam-Messelectronic Gmbh | Schaltung und Verfahren zum Messen der Entladezeit eines Kondensators über mindestens einen Messwiderstand |
CN112212908B (zh) * | 2020-10-10 | 2022-04-26 | 北京航空航天大学 | 一种智能传感器及其智能化方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3900782A1 (de) * | 1988-01-13 | 1989-07-27 | Ciapem | Vorrichtung zur eingabe von daten in einen mikroprozessor, insbesondere fuer die steuerung eines haushaltsgeraetes |
-
1994
- 1994-06-17 DE DE19944420998 patent/DE4420998C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-06-02 FR FR9506562A patent/FR2721406B3/fr not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3900782A1 (de) * | 1988-01-13 | 1989-07-27 | Ciapem | Vorrichtung zur eingabe von daten in einen mikroprozessor, insbesondere fuer die steuerung eines haushaltsgeraetes |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19641648C1 (de) * | 1996-10-09 | 1998-01-02 | Ziegler Horst | Widerstandsmeßschaltung und Widerstandsmeßverfahren |
DE10028671A1 (de) * | 2000-03-29 | 2001-10-11 | Datron Electronic Gmbh | Dreiachsig sensierender Präzisionsabtaster |
DE10028671B4 (de) * | 2000-03-29 | 2006-02-02 | Datron-Electronic Gmbh | Werkzeugmaschine |
US6690183B2 (en) | 2001-04-19 | 2004-02-10 | Acam-Messelectronic Gmbh | Resistance measurement |
CN101164234B (zh) * | 2005-04-20 | 2010-09-29 | 布劳恩股份有限公司 | 用于产生微控制器的时基的方法和为此使用的电路 |
US7620512B2 (en) | 2005-04-20 | 2009-11-17 | Braun Gmbh | Determining a time base for a microcontroller |
WO2006111231A1 (de) * | 2005-04-20 | 2006-10-26 | Braun Gmbh | Verfahren zum erzeugen einer zeitbasis für einen mikrokontroller und schaltungsanordnung hierfür |
WO2010049298A1 (de) * | 2008-10-30 | 2010-05-06 | Endress+Hauser Conducta Gesellschaft Für Mess- Und Regeltechnik Mbh+Co. Kg | Widerstandsmessung eines von einer messgrösse abhängigen widerstandselements |
DE102008043326A1 (de) | 2008-10-30 | 2010-05-06 | Endress + Hauser Conducta Gesellschaft für Mess- und Regeltechnik mbH + Co. KG | Verfahren und Vorrichtung zur Widerstandsmessung eines von einer chemischen und/oder physikalischen Messgröße abhängigen Widerstandselements |
DE102008043326B4 (de) | 2008-10-30 | 2018-03-15 | Endress+Hauser Conducta Gmbh+Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Widerstandsmessung eines von einer chemischen und/oder physikalischen Messgröße abhängigen Widerstandselements |
WO2014093426A1 (en) * | 2012-12-11 | 2014-06-19 | B3 Systems, Inc. | Methods and circuits for measuring a high impedance element based on time constant measurements |
US9482706B2 (en) | 2012-12-11 | 2016-11-01 | Dust Company, Inc. | Methods and circuits for measuring a high impedance element based on time constant measurements |
EP3553538A1 (de) * | 2018-04-13 | 2019-10-16 | Nokia Technologies Oy | Vorrichtung, elektronische vorrichtung und verfahren zur impedanzschätzung |
WO2019197517A1 (en) * | 2018-04-13 | 2019-10-17 | Nokia Technologies Oy | An apparatus, electronic device and method for estimating impedance |
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