DE4330345C1 - Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung und Bewertung des EMV-Verhaltens eines elektrischen Gerätes - Google Patents

Description

Die Erfindung geht aus von einem Verfahren zur Erfassung und Bewertung des EMV-Verhaltens eines elektrischen Gerätes oder einer elektrischen Schaltung nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 sowie einer Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens.

Unter EMV-Verhalten soll dabei die geräteinterne Wandlung einer elektromagnetischen Störgröße in einen Funktions­ fehler verstanden werden.

Mit dem neuen Meßsystem soll überwacht werden, ob eine elektromagnetische Störgröße das Gerät, die Schaltung beeinflussen kann oder nicht, ob eine evtl. Störgröße kritische Werte erreicht oder erreichen kann.

Der für die Störgröße ursächliche Störstrom wird meist über Leitungen an das Gerät herangeführt und dringt über die Geräteschnittstellen ein. Am leichtesten gelangt er über galvanische Verbindungen ins Geräteinnere. Ausrei­ chend sind auch wenige Pikofarad parasitäre Koppelkapa­ zität galvanisch trennender Schnittstellen (Relais, Über­ trager, Optokoppler). Über parasitäre Gehäusekapazitäten kann der Störstrom ebenso fließen, wie über Kabelschirm­ kapazitäten.

Nur schwer zu beherrschende Verhältnisse liegen vor, wenn der Störstrom i_st die Schaltungsmasse (GND) durchfließt und an ihrer verteilten Induktivität eine Längsspannung erzeugt. Diese wird von den Masseanschlüssen integrierter Schaltungen abgegriffen, gelangt an Schaltkreiseingänge E und wird, wenn die statische beziehungsweise dynamische Schaltschwelle eines IC überschritten wird, in ein Störsignal gewandelt. Das Störsignal kann über logische Wege zur Fehlfunktion des Gerätes führen.

Die Empfindlichkeit eines ICs ist von der Charakteristik seiner dynamischen Schaltschwelle abhängig.

Aus dem Stand der Technik bekannte Meßvorrichtungen, wie Oszilloskope und Spektrumanalysatoren messen den Zeit­ verlauf oder das exakte Amplitudendichtespektrum der Stör­ vorgänge. Die dabei auftretenden Probleme können wie folgt zusammengefaßt werden.

Falls im Geräteinneren gemessen wird, werden die elektromagnetischen Geräteeigenschaften berücksichtigt, was zur Folge hat, daß über die Meßleitungen zusätzlich ein Störstrom fließt, der die Verhältnisse im Gerät verfälscht. Das elektromagnetische Verhalten des Gerätes verändert sich durch diese zusätzliche (metallische) Verbindung total, was zu nicht zu vernachlässigenden Meßfehlern führt.

Übliche, analogarbeitende Meßgeräte, wie selektive Nahfeld-Prüfsonden zur Lokalisierung dominanter Störstrahlungsquellen messen zwar die Störgrößen von außerhalb, eine Umrechnung auf die für logische Schaltfehler ausschlaggebende innere Störspannung ΔU_i am Eingang des ICs ist aber nur schwer und mit hohem Auf­ wand möglich.

Aus der Druckschrift von LANGER, G: Hochgenaue EMV- Modellierung. In Elektronik-Journal 1992, Heft 11, S. 44 ff. ist ein Verfahren zur Erfassung und Bewertung des EMV- Verhaltens eines elektrischen Gerätes bzw. einer elektri­ schen Schaltung bekannt.

Der hier vorgestellte EMV-Sensor ermöglicht die Bewertung und den Vergleich von EMV-Maßnahmen an digitalen Geräten. Er arbeitet auf der Basis des geräteinternen Wandlungs­ mechanismus von Störgrößen in logische Veränderungen, d. h. das Störsignal erzeugt bei Überschreiten einer Schalt­ schwelle, die auf die Empfindlichkeit der in der Schaltung verwendeten IC′s abgestimmt ist, ein logisches Signal.

Eine Berücksichtigung der elektromagnetischen Geräteeigen­ schaften erfolgt durch die bekannte Meßtechnik nicht. Aus dem Zeitverlauf von Meßwerten läßt sich erfahrungs­ gemäß nur schwer die Entscheidung ableiten, ob ein Gerät gestört ist oder nicht.

Abgeleitet von diesem Stand der der Technik ist es Aufgabe der Erfindung, ein Meßverfahren und ein direkt anzeigendes Meßsystem zu entwickeln, daß in seinen Meßparametern das EMV-Verhalten des Meßobjektes berücksichtigt und dadurch die Störgröße bzw. die Gerätestörschwelle möglichst exakt und ohne Rückwir­ kungen erfaßt und den Fehlerfall, ggf. mit einer vorheri­ gen Warnphase zuverlässig anzeigt.

Mit dem neuen Meßsystem sollen also zu hohe, den ordnungs­ gemäßen Betrieb des Gerätes, der Schaltung beeinflussende Störgrößen signalisiert und die Wirkung von Entstörmit­ teln, wie Filter, Trennrelais, Trennübertrager, Stoßspan­ nungsbegrenzer und Schirmungsmaßnahmen oder auch anderer EMV-Maßnahmen in ihrer Betriebszuverlässigkeit überwacht werden.

Eine erfindungsgemäße Lösung dieser Aufgabe für das Verfahren ist im Patentanspruch 1 und für die Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens ist im Patent­ anspruch 3 angegeben. Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.

Die Störgrößen können leitungsgebunden als Störstrom oder über das im Raum vorhandene elektromagnetische Feld in das Gerät eindringen.

Das leitungsgebundene Eindringen ist für die Entstehung von Störgrößen und Funktionsfehlern dominierend. Bei den meisten Geräten ist nur ein leitungsgebundenes Eindringen möglich. Selbst wenn Störgrößen über das im Raum wirkende Feld eindringen, fließen sie als Störstrom über Leitungs­ verbindungen ab und können an den Zuführungs-Leitungen erfaßt werden. Daraus folgt für die Umsetzung des erfindungsgemäßen Lösungskonzepts, daß der Überwachung der Geräteleitungen, bis auf spezielle Anwendungen, der Vorgang einzuräumen ist.

Das erfindungsgemäße Meßsystem besteht im wesentlichen aus einem Meßsensor, der durch variable Einstellparameter dem EMV-Verhalten des Gerätes bzw. der Schaltung angepaßt wird. Bei Annäherung des Wertes der Störgröße an den Wert, der einem Funktionsfehler entspricht, oder bei Erreichen dieses kritischen Wertes wird vom Meßsystem ein Signal erzeugt. Damit verbunden signalisiert das Meßsystem das Überschreiten seiner durch Einstellparameter festge­ legten Störschwelle, wonach weitere erforderliche Aktivi­ täten zum Schutz des betreffenden Gerätes bzw. spezieller Baugruppen initiiert werden können.

Diese Störschwelle kann gleich oder i.a. mit einem defi­ nierten Abstand unter die Gerätestörschwelle eingestellt werden. Das vom Meßsystem erzeugte Signal kann eine War­ nung auslösen oder in einem entsprechenden informations­ verarbeitenden System weiter verarbeitet werden.

Das Meßsystem ist außerhalb des zu überwachenden Gerätes angeordnet und besteht aus einer kompakten abgeschlossenen Einheit.

Die Erfassung der Störgröße durch das Meßsystem kann über das vom Störstrom i_st beeinflußte Magnetfeld des zum Gerät führenden Kabels und/oder durch Auswertung des vorhandenen elektrischen Feldes erfolgen.

Auch eine induktive Erfassung der Störgröße ist über die Induktivität des mit dem Störstrom i_st beaufschlagten Kabels, das zum zu schützenden Gerät führt, möglich.

Mit einer bevorzugten Ausführungsform des Meßsystems erfolgt die Erfassung der leitungsgebundenen Störgröße auf magnetischem Wege. Dabei ist der Sensor des Meßsystems mit einer Induktionsschleife spezieller Geometrie verbunden.

Diese mit Sensor bzw. Meßsystem gekoppelte Induktions­ schleife wird in das um das Zuführungskabel zum Gerät beim Stromfluß aufgebaute Magnetfeld eingebracht.

Bei Ausbildung der Induktionsschleife in Form einer Acht wird das Wirksamwerden von nicht zum Kabel gehörenden Magnetfeldern verhindert. Das beide Teilschleifen glei­ chermaßen durchdringende Magnetfeld induziert Spannungen, die sich in ihrer Größe aufheben.

Das erfindungsgemäße Meßsystem verarbeitet hauptsächlich impulsförmige Störgrößen, die einen besonders steilen Anstieg (ns) und kurze Impulsbreiten (ns) besitzen; dazu gehören Burstimpulse, die durch Schaltvorgänge entstehen, und ESD-Impulse, die durch elektrostatische Entladungen hervorgerufen werden.

Diese Impulse können ohne Probleme über galvanische Trennstellen an die Geräteschnittstelle gelangen und in das Gerät eindringen. Sie fließen über die parasitären Kapazitäten (einige pF) der galvanischen Trennstellen und weiter über induktivitätsarme Leitungen der Geräteschal­ tung.

Auf diesem Weg kann der Störstrom an den parasitären Induktivitäten der Masseleitung (GND) einen Störspannungs­ abfall ΔU_i erzeugen, der vom IC abgegriffen wird. Diese Spannung wird als induktive Komponente bezeichnet. Weiter­ hin kann der Störstrom ein Magnetfeld erzeugen, das in Schleifen, die von Signalleiterzügen und Masseleitungen bzw. der Massefläche (GND) gebildet werden, Spannungen induziert. Diese Spannungen stehen ebenfalls an IC-Ein­ gängen an.

Darüber hinaus kann noch eine elektrische Komponente ent­ stehen.

Alle drei Komponenten erzeugen an den IC-Eingängen eine Störspannung und können vom gleichen Störstrom oder Störvorgang herrühren.

Bei allen drei Komponenten erzeugt letzlich ein Störstrom eine Spannung ΔU_i am IC-Eingang.

Diese Geräteeigenschaft ist bedingt durch die Gerätegeome­ trie, die wiederum durch die Gerätekonstruktion vorgegeben wird. Sie wird zusammengefaßt unter der Bezeichnung geome­ trische Komponente der physischen Robustheit und muß vom Sensor des Meßsystems nachgebildet werden.

Diese geometrische Komponente der physischen Robustheit stellt dabei den 1. Parameter des Meßsystems dar, der vom Sensor nachzubilden ist.

Die Ursache für die unterschiedliche physische Robustheit liegt zum einen in der verschiedenen IC-Empfindlichkeit, die herstellerabhängig beziehungsweise schaltkreisfami­ lienabhängig (HC, ALS) ist, zum anderen und zum größeren Teil aber an den geometrischen Verhältnissen auf den Pla­ tinen.

Die Störspannung ΔU_i besitzt Impulsformen, die Exponen­ tialimpulsen oder Einschwingvorgängen ähneln. Die An­ stiegszeiten und Impulsbreiten können im ns-Bereich liegen.

Derartige Impulsbreiten werden vom IC mit der dynamischen Schaltschwelle bewertet.

Wenn die dynamische Schaltschwelle überschritten wird, entsteht im IC eine Änderung des logischen Zustandes und damit Signals d. h., die Schaltsicherheit wird beeinflußt und es kann zu Funktionsfehlern kommen.

Je kürzer und steiler die äußere Störspannung ist, um so besser dringt sie in das Gerät ein und erzeugt ΔU_i.

Hohe dynamische Schaltschwellen können dabei u. U. leichter überschritten werden, weil die Eindringfähigkeit über die Schnittstellen des Gerätes bzw. der Schaltung für schmale, steile Impulse besser ist.

Langsame, breite Impulse mit geringem Anstieg können nicht wirksam über die Geräteschnittstellen und die geometrische Struktur bis an die IC-Eingänge vordringen.

So ergibt sich ein Verträglichkeitsloch im Anfangsbereich der dynamischen Schaltwelle.

Dieser Zusammenhang ist nichtlinear. Von einer im Schal­ tungsinneren gemessenen Störspannungsamplitude läßt sich demnach nicht auf eine Beeinflussung schließen.

Die Bewertung der Störspannung mit der dynamischen Schalt­ schwelle des IC wird als zweite Sensorkomponente des er­ findungsgemäßen Meßsystems genutzt. Daraus folgt, daß die IC-Empfindlichkeit im Sinne der Auswertung ihrer dynami­ schen Schaltschwelle als zweiter Parameter für die Be­ schreibung der physischen Robustheit mit dem erfindungsge­ mäßen Meßsystem zu erfassen ist.

Der Sensor des Meßsystems weist also zwei einstellbare Meßparameter auf. Der erste Sensorparameter wird technisch realisiert durch eine Erfassungseinheit der leitungsgebun­ denen Störgröße, die die Geometrie der Schaltung bzw. die elektromagnetischen Geräteeigenschaften nachbildet. Diese Erfassungseinheit wirkt zusammen mit einer Baugruppe, die die Verstellbarkeit der elektromagnetischen Eigenschaften gewährleistet.

Die Erfassungseinheit besteht aus der o.g. speziell ge­ formten Induktionsschleife, die vorzugsweise die Form einer Acht aufweist. Dabei wirkt die Schleife wie ein Signallei­ terzug einer Schaltung.

Als Baugruppe zur Verstellung der elektromagnetischen Geräteeigenschaften dient ein Spannungsteiler R1.

Sollen beide Störpulspolaritäten erfaßt werden, so wird einmal an die Induktionsschleife ein schneller Gleich­ richter angeschlossen. Zum anderen werden zwei Induktions­ schleifen und zwei Meßsensoren eingesetzt, deren Ausgangs­ signale logisch miteinander verknüpft werden. Dabei ist eine Induktionsschleife für den positiven Impuls und die andere gegensinnig betriebene Schleife für die Verarbei­ tung des negativen Impulses vorgesehen.

Der zweite Sensorparameter wird realisiert durch eine Einheit zur Berücksichtigung bzw. Nachbildung der IC- Empfindlichkeit. Diese Einheit weist ebenfalls eine Ver­ stellfunktion auf.

Die technische Ausführung der Einheit zur Berücksichtigung und Verstellung der IC-Empfindlichkeit erfolgt durch einen Vorwiderstand R_v, der dem Eingang E eines IC vorgeschaltet ist. Anstelle des Vorwiderstandes kann die IC-Empfindlich­ keitsverstellung auch durch solche Maßnahmen, wie Poten­ tialanhebung oder Tiefpaßeinsatz erfolgen.

Im Meßverlauf entsteht - verursacht durch den leitungsge­ bundenen Störstrom i_st - die Spannung ΔU_i, die auf die dynamische Schaltschwelle des IC-Eingangs im Meßsensor einwirkt.

In einer anderen Ausführungsform kann der Meßsensor auch nur mit einer Verstellmöglichkeit ausgebildet sein. In diesem Fall besitzt der Sensor eine konstante IC-Empfind­ lichkeit; wenn eine andere Empfindlichkeit benötigt wird, muß ein zweiter Sensor mit anderer Auslegung zur IC- Empfindlichkeit, d. h. anderer IC-Bestückung benutzt werden.

Die Empfindlichkeit des Meßsensors kann beispielsweise durch IC-Steckmodule in diskreten Schritten variiert werden.

Eine gewisse Empfindlichkeitsverstellung ist auch durch die Abweichungen bzw. Toleranzen der IC-Kennwerte unter­ schiedlicher IC-Familien gegeben.

Zur besseren Auswertung der gemessenen Sensorparameter wird der Einheit für den zweiten Sensorparameter, die mit der Erfassungseinheit für den ersten Sensorparameter in Reihe geschaltet ist und ein logisches Signal S abgibt, eine Impulsformer-/Treiberstufe sowie eine Anzeige­ und/oder Ausgabeeinheit nachgeschaltet.

Der Aufbau der Impulsformerstufe kann beispielsweise nach DE 42 12 751 A1 erfolgen. In dieser Schrift wurde eine Schaltungsanordnung zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit digitaler Baugruppen beschrieben.

Als Anzeige- und/oder Ausgabeinheit werden alternativ eingesetzt eine LED-Anzeige, ein potentialfreier Ausgang (Relais) für langsame Anzeigevorgänge, Einkopplung in einen LWL mit Optokoppler, Transistorausgang sowie spezi­ fische Datentreiber für schnelle, synchrone Anzeigevor­ gänge.

Bei Überwachung des zu schützenden Gerätes über längere Zeiträume kann das als kompaktes geschlossenes Gerät ausgeführte Meßsystem mit integriertem Meßsensor am Kabelbaum der Leitungszuführung befestigt werden. Zur Befestigung selbst sind handelsübliche Kabelbinder, Clipse und ähnliches einsetzbar.

Als Anwendungsgebiete für das erfindungsgemäße Meßsystem, den Meßsensor seien beispielhaft genannt:

• - die Überwachung bestimmter Kabel in einem Kabelschrank,
• - die Überwachung eines kompletten Kabelbaumes innerhalb und außerhalb eines Kabelkanals,
• - die Überwachung ausgewählter Leitungsadern,
• - Überwachungsmaßnahmen direkt am Geräteeingang im Gleich­ takt oder auch im Gegentakt.

Aus den vielfältigen Anwendungsvorteilen seien hervorge­ hoben.

Der erfindungsgemäße Meßsensor kann, ohne daß das Gerät geöffnet werden muß, von außerhalb angeschlossen werden. Damit verbunden ist die Unabhängigkeit des Meßsystems vom Meßobjekt und eine einfache Handhabung.

Die EMV-Geräteeigenschaften können mittels der beiden Sensorparameter am Meßsystem eingestellt werden.

Es läßt sich durch diese Einstellparameter ein definierter Abstand zur Gerätestörschwelle einstellen.

Der erfindungsgemäße Meßsensor liefert die Entscheidung "eingestellte Störschwelle überschritten" sofort, ohne daß langwierige Auswertungen vorgenommen werden müssen.

Das Ausgangssignal ist ein Binärsignal und läßt sich ein­ fach mit bekannten Mitteln weiterverarbeiten.

Die Erfindung wird nachstehend ohne Beschränkung des all­ gemeinen Erfindungsgedankens anhand von Ausführungsbei­ spielen unter Bezugnahme auf die Zeichnung exemplarisch beschrieben, auf die im übrigen bezüglich der Offenbarung aller im Text nicht näher erläuterten erfindungsgemäßen Einzelheiten ausdrücklich verwiesen wird. Es zeigen:

Fig. 1 Blockschaltbild des Meßsystems mit einem Meßsensor, der zwei Verstellmöglichkeiten aufweist;

Fig. 2 Blockschaltbild des Meßsystems mit einem Meßsensor für nur eine Verstellmöglichkeit;

Fig. 3 Blockschaltbild des Meßsystems mit Angabe aller Baugruppen für einen Meßsensor mit zwei Verstell­ möglichkeiten;

Fig. 4 ausgeführte Schaltung auf der Grundlage des Block­ schaltbildes nach Fig. 3;

Fig. 5 Befestigung eines kompakt ausgeführten Meßsystems/ Meßsensors an einer Leitungszuführung.

In Fig. 1 wird das Meßsystem mit zwei Verstellmöglichkeiten für den Meßsensor anhand eines Blockschaltbildes dargestellt.

Die leitungsgebundene Störgröße 11 wird von einer Erfas­ sungseinheit 4 aufgenommen und kann in ihrer Größe durch eine Baugruppe 5 zur Verstellung der elektromagnetischen Eigenschaften verändert werden. Diese Veränderung bzw. Verstellung entspricht dabei dem ersten Sensorparameter, der die geometerische Komponente der physischen Robustheit des zu überwachenden Gerätes nachbildet.

Mit der Einheit für den zweiten Sensorparameter 6 wird die IC-Empfindlichkeit des zu überwachenden Gerätes berück­ sichtigt und damit die zugehörige dynamische Schaltschwel­ le nachgebildet. Die Impulsformer-/Treiberstufe 9 und die nachgeschaltete Anzeigeeinheit 10 komplettieren das Meß­ system bzw. den Meßsensor.

Alle Bauelemente bzw. Baugruppen sind in Reihe geschaltet.

Fig. 2 zeigt das Blockschaltbild für ein erfindungsgemäßes Meßsystem, wobei der integrierte Meßsensor nur eine Ver­ stellmöglichkeit für die Nachbildung der elektromagneti­ schen Geräteeigenschaften aufweist.

Die Einheit 6 für den zweiten Sensorparameter besitzt eine feste IC-Empfindlichkeit. Die IC-Empfindlichkeit dieses Meßsystems kann nur durch Austausch des verwendeten ICs erfolgen, was beispielsweise über Aufsteckmodule möglich ist.

Fig. 3 veranschaulicht das erfindungsgemäße Meßsystem mit zwei verstellbaren Sensorparametern anhand eines Blockschaltbildes, in das alle für die Ausführung eines derartigen Meßsensors erforderlichen Baugruppen bzw. Bauelemente eingezeichnet sind.

Eine ausgeführte Schaltung auf der Grundlage dieses Block­ schaltbildes nach Fig. 3 ist in Fig. 4 dargestellt.

Die in Form einer Acht ausgeführte Induktionsschleife 4 erfaßt das durch den über die Anschlußleitung 3 für das zu überwachende Gerät 2 fließenden Störstrom ist verursachte Magnetfeld.

In der Induktionsschleife 4 wird eine Spannung ΔU_io indu­ ziert. Mit der Induktionsschleife werden die elektromagne­ tischen Geräteeigenschaften nachgebildet. Die Schleife verhält sich ähnlich wie ein Signalleiterzug in einer Geräteschaltung. Die Stärke der Kopplung läßt sich durch einen Spannungsteiler R1 (Bauelement 5) variieren.

Es entsteht die Spannung ΔU_i, die auf die dynamische Schaltschwelle eines IC-Eingangs (Bauelement 7) wirkt.

Durch den Vorwiderstand R_v (Bauelement 8) wird die IC- Empfindlichkeit verändert.

Der Eingang E stellt den Eingang eines IC dar, der eine definierte dynamische Schaltschwelle besitzt und zu einer bestimmten IC-Familie gehört. Am Eingang E wird ΔU_i in ein logisches Signal S umgewandelt. Durch den Impulsformer 9.1 wird das logische Signal in ein Signal L definierter Länge umgewandelt. Das logische Signal S hat die Dauer von einigen ns und wird von der Impulsformerstufe 9.1 verlängert, so daß es weiter verarbeitbar ist.

Das Ausgangssignal des Treibers 9.2 kann z. B. ein Relais 10.2 ansteuern.

Weiterhin kann als Anzeige- oder Ausgabeeinheit 10 dem Treiber 9.2 eine LED 10.1 nachgeschaltet werden, mit der das Signal direkt am kompakten Meßsystem/Meßsensor sicht­ bar gemacht werden kann. Dazu ist die LED-Anzeige auf der Frontseite in das Gehäuse des Meßsystems/Meßsensors inte­ griert, s. auch Fig. 5.

Eine andere Anzeigemöglichkeit ist mit Optokoppler und Lichtwellenleiter LWL (Baugruppe 10.3) gegeben. Alternative Bauelemente 8 zur Verstellung der IC-Empfind­ lichkeit sind in Fig. 4 mittels einer IC-Empfindlichkeits­ verstellung durch Potentialanhebung 8.1 sowie durch Tief­ paß 8.2 dargestellt.

Fig. 5 zeigt eine Ausführungsvariante für die Befestigung des kompakt ausgeführten Meßsystems/Meßsensors 1 an einer Kabelzuführung 3.

Sichtbar wird die Kabelbefestigung mittels Kabelbinder 12 am Gehäuseboden des Meßsystems/Meßsensors 1, s. Darstel­ lung der Rückseite in Fig. 5.1. Hier ist auch das Sensor­ kabel 13 eingezeichnet, daß an 24 V Hilfsenergie ange­ schlossen wird.

Fig. 5.2 ist ein Blick auf die Frontseite des an der Kabelzuführung 3 montierten Meßsystems/Meßsensors 1 mit der im Gehäuse integrierten LED-Anzeige 10.1.

Claims (11)

1. Verfahren zur Erfassung und Bewertung des EMV-Verhal­ tens eines elektrischen Gerätes oder einer elektrischen Schaltung auf der Basis des geräteinternen Wandlungsmecha­ nismus von Störgrößen in logische Veränderungen, wobei das erzeugte Störsignal bei Überschreiten einer Schaltschwel­ le, die auf die Empfindlichkeit der in der Schaltung ver­ wendeten integrierten Schaltkreise (IC′s) abgestimmt ist, ein logisches Signal erzeugt, dadurch gekennzeichnet, daß ein Meßsystem (1) eingesetzt wird, das die Empfindlichkeit des elektrischen Gerätes (2) und/oder spezieller Gerätebaugruppen im Sinne der vorhan­ denen physischen Robustheit des Gerätes (2) oder der elek­ tronischen Schaltung nachbildet, wobei eine Sensorkom­ ponente des Meßsystems (1) als 1. Parameter die geometri­ sche Komponente der physischen Robustheit und eine weitere Sensorkomponente als 2. Parameter die IC-Empfindlichkeit nachbildet und die Erfassung der Störgröße (11) durch das Meßsystem (1) kontinuierlich oder in diskreten Schritten während einer vorgegebenen Meßzeit mittels des vom Stör­ strom i_st erzeugten Magnetfeldes des zum Gerät (2) führenden Kabels (3) und/oder über das vorhandene elektri­ sche Feld und/oder auf induktivem weg durch Auswertung des an der Induktivität des Kabels oder der Leitung (3) erzeugten Spannungsabfalls erfolgt.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der 1. Sensorparameter, der die Geometrie der Schaltung, des elektrischen Gerätes (2) nachbildet, durch eine Erfassungseinheit (4) für die leitungsgebundene Störgröße (11) und eine Baugruppe (5) zur Verstellung der elektromagnetischen Eigenschaften und der 2. Sensorparameter durch eine Einheit (6) zur Nachbildung und Verstellung der IC-Empfindlichkeit reali­ siert wird.

3. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Meßsystem (1) einen Meß­ sensor mit zwei Verstellmöglichkeiten für die geometrische Komponente der physischen Robustheit des zu bewertenden Gerätes (2) und die IC-Empfindlichkeit besitzt und der Reihenschaltung von Erfassungseinheit (4) für die Stör­ größe, der Baugruppe (5) für die Verstellung der elektro­ magnetischen Eigenschaften sowie der Einheit (6) für die Nachbildung der IC-Empfindlichkeit eine Impulsformer-/Trei­ berstufe (9) sowie eine Anzeige- und/oder Ausgabeeinheit (10) nachgeschaltet ist.

4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Meßsystem (1) einen Meßsensor mit lediglich einer Verstellmöglichkeit für die Nachbildung der elektromagnetischen Geräteeigenschaften (Geometrie der Schaltung) aufweist, wobei die IC-Empfind­ lichkeit mit einem bestimmten IC nachgebildet ist.

5. Vorrichtung nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß bei Erfassung der leitungs­ gebundenen Störgröße (11) auf magnetischem Wege das Meß­ system (1) mit dem integrierten Meßsensor mit einer Induk­ tionsschleife (4) als Erfassungseinheit gekoppelt ist.

6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Induktionsschleife (4) die geometrische Form einer Acht aufweist.

7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß als Baugruppe (6) zur Verstel­ lung der elektromagnetischen Geräteeigenschaften ein Span­ nungsteiler R1 vorgesehen ist, der der Induktionsschleife (4) nachgeschaltet ist.

8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 5 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Einheit (6) zur Berücksichtigung bzw. Verstellung der IC-Empfindlichkeit durch einen IC (7) und einen Vorwiderstand R_v (8) realisiert ist, wobei der Vorwiderstand R_v dem Eingang E des IC (7) vorgeschaltet ist.

9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die IC-Empfindlichkeitsver­ stellung mittels Potentialanhebung (8.1) oder Tiefpaß (8.2) ausgeführt ist.

10. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die IC-Empfindlichkeit in diskreten Schritten durch Austausch der IC-Module (7) einstellbar ist.

11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß das Meßsystem (1) mit dem Meßsensor als kompaktes geschlossenes Gerät aufgebaut ist.