DE4230338B4 - Verfahren zur Herstellung von Solarzellen aus amorphem Silizium mittels Naßätzen von Löchern oder Gräben durch Rückseitenelektroden und amorphes Silizium - Google Patents
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- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 134
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 35
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 title claims description 20
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 49
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 49
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 22
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 claims abstract description 8
- 239000003513 alkali Substances 0.000 claims abstract description 7
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 165
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 49
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 42
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 claims description 33
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 26
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims description 13
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 229910003322 NiCu Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 8
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims description 7
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 5
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 4
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 3
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 2
- 150000002222 fluorine compounds Chemical class 0.000 claims 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 24
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 48
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 44
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 41
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 9
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 9
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 8
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- ZINJLDJMHCUBIP-UHFFFAOYSA-N ethametsulfuron-methyl Chemical compound CCOC1=NC(NC)=NC(NC(=O)NS(=O)(=O)C=2C(=CC=CC=2)C(=O)OC)=N1 ZINJLDJMHCUBIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 6
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 5
- 238000001612 separation test Methods 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 3
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 3
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 3
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 241001295925 Gegenes Species 0.000 description 2
- 229910018054 Ni-Cu Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910018481 Ni—Cu Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 2
- -1 for example Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 2
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 2
- 229920000298 Cellophane Polymers 0.000 description 1
- 229910003336 CuNi Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 description 1
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 description 1
- 238000012549 training Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/20—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof such devices or parts thereof comprising amorphous semiconductor materials
- H01L31/202—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof such devices or parts thereof comprising amorphous semiconductor materials including only elements of Group IV of the Periodic Table
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0224—Electrodes
- H01L31/022408—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/022425—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/042—PV modules or arrays of single PV cells
- H01L31/0445—PV modules or arrays of single PV cells including thin film solar cells, e.g. single thin film a-Si, CIS or CdTe solar cells
- H01L31/046—PV modules composed of a plurality of thin film solar cells deposited on the same substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/042—PV modules or arrays of single PV cells
- H01L31/0445—PV modules or arrays of single PV cells including thin film solar cells, e.g. single thin film a-Si, CIS or CdTe solar cells
- H01L31/046—PV modules composed of a plurality of thin film solar cells deposited on the same substrate
- H01L31/0468—PV modules composed of a plurality of thin film solar cells deposited on the same substrate comprising specific means for obtaining partial light transmission through the module, e.g. partially transparent thin film solar modules for windows
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Sustainable Energy (AREA)
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Abstract
Verfahren
zur Herstellung von Solarzellen aus amorphem Silizium mit den Schritten
der Ausbildung, auf einem transparenten Substrat (1), in dieser
Reihenfolge, von dünnen
Schichten aus
a) einer transparenten Elektrode (2);
b) amorphem Silizium (3); und
c.1) einer Rückseitenelektrode (5)
wobei
c.2) ein Alkali-beständiges Metall für die Rückseitenelektrode (5) verwendet wird;
d.1) die Rückseitenelektrode (5) naßgeätzt wird
d.2) unter Verwendung einer nicht-alkalischen Lösung; und
e.1) das amorphe Silizium (3) naßgeätzt wird
e.2) unter Verwendung einer alkalischen Lösung;
f) um Löcher (6) und/oder Gräben (7) auszubilden, welche die dünnen Schichten der Rückseitenelektrode (5) und des amorphen Siliziums (3) durchqueren.
a) einer transparenten Elektrode (2);
b) amorphem Silizium (3); und
c.1) einer Rückseitenelektrode (5)
wobei
c.2) ein Alkali-beständiges Metall für die Rückseitenelektrode (5) verwendet wird;
d.1) die Rückseitenelektrode (5) naßgeätzt wird
d.2) unter Verwendung einer nicht-alkalischen Lösung; und
e.1) das amorphe Silizium (3) naßgeätzt wird
e.2) unter Verwendung einer alkalischen Lösung;
f) um Löcher (6) und/oder Gräben (7) auszubilden, welche die dünnen Schichten der Rückseitenelektrode (5) und des amorphen Siliziums (3) durchqueren.
Description
- Die Erfindung betrifft ein Herstellungsverfahren für eine Solarzelle aus amorphem Silizium, insbesondere ein Herstellungsverfahren für eine durchsichtige Solarzelle aus amorphem Silizium oder eine Solarzelle des integrierten Typs aus amorphem Silizium.
- Eine Solarzelle aus amorphem Silizium wird dadurch hergestellt, daß dünne Schichten aus einer transparenten Elektrode, aus amorphem Silizium, und eine Rückseitenelektrode auf einem Substrat gebildet werden. Hauptsächlich wird Vakuumverdampftes Aluminium mit einer Filmdicke von 0,3 bis 1 μm für die Rückseitenelektrode verwendet. Eine Einzelzelle dieses Typs einer Solarzelle weist eine Spannung von 1V oder weniger auf. Mehrere Zellen können in Reihe geschaltet werden, um eine vorbestimmte Spannung zu erreichen. Die Solarzelle des integrierten Typs wurde entwickelt, um mehrere Zellen in Reihe zu schalten. Bei einer Solarzelle dieses Typs wird ein Musterverfahren eingesetzt, um ein Muster für die transparente Elektrode, die Schicht aus amorphem Silizium (nachstehend als a-Si-Schicht bezeichnet), und die Rückseitenelektrode auszubilden.
- Weiterhin wurde eine Solarzelle des durchlässigen Typs entwickelt, die mit Gräben und Perforationen versehen ist, durch welche ein Teil des einfallenden Lichts hindurch gelangen kann. Das Herstellungsverfahren für die Solarzelle des durchsichtigen Typs umfaßt die Ausbildung dünner Schichten aus einem transparenten Elektrodenfilm, einer Fotoelementenschicht, und einer Metallschicht-Rückseitenelektrode auf einem transparenten Substrat. Daraufhin wird ein Fotolack mit einem Muster von Öffnungen auf der metallischen Elektrodenschicht aufgebracht, und Löcher und Gräben werden durch die metallische Elektrodenschicht und dann durch die Fotoelementenschicht hindurchgeätzt. Wenn die Rückseitenelektrode aus der Metallschicht geätzt wird, erfolgt dies bei diesem Verfahren durch "Naßätzung" unter Verwendung einer Ätzlösung. Wenn allerdings die Fotoelementenschicht geätzt wird, so erfolgt dies durch "Trockenätzung", wobei normalerweise eine Plasmaentladung von CF4-Gas verwendet wird.
- Allerdings muß bei dem voranstehend beschriebenen Herstellungsverfahren nach der Naßätzung der metallischen Elektrodenschicht eine Trockenätzung der Fotoelementenschicht erfolgen. Daher müssen sehr mühsame Handhabungsvorgänge vorgenommen werden, nämlich das erneute Laden der Substrate aus der Kassette, die für das Naßätzen der metallischen Elektrodenschicht verwendet wurde, in die für das Trockenätzen verwendete Schale. Darüber hinaus ist eine lange Trocknungszeit erforderlich, da auf dem Substrat nach der Naßätzung verbleibende Feuchtigkeit in ausreichendem Maße entfernt werden muß, bevor die Einführung in die Trockenätzvorrichtung erfolgen kann. Schließlich ist die Trockenätzvorrichtung mit zugehörigem Vakuumsystem äußerst kostenaufwendig und weist nur eine begrenzte Durchsatzrate auf.
- Unglücklicherweise kann eine Solarzelle aus amorphem Silizium mit einer Rückseitenelektrode aus Aluminium nicht durch Naßätzung mit einem Muster versehen werden. Der Grund hierfür liegt darin, daß eine Rückseitenelektrode aus Aluminium durch NaOH oder andere alkalische Lösungen weggeätzt wird, die zur Ätzung der a-Si-Schicht verwendet werden. Diese Schwierigkeit wird dadurch vermieden, daß ein gegen Alkalien widerstandsfähiges Metall als Rückseitenelektrode verwendet wird. Cu (Kupfer) und Ag (Silber) sind gegen Alkalien beständige Metalle. Metalle wie Cu und Ag weisen ein hohes Lichtreflexionsvermögen auf, und reflektieren Licht, welches die a-Si-Schicht durchdringt, um so den Isc (Kurzschlußstrom) und die Pmax (maximale Ausgangsleistung) der Solarzelle zu verbessern. Allerdings besteht bei diesen Metallen die Schwierigkeit, daß sie nicht fest an der a-Si-Schicht anhaften, und daß sie in der Herstellungsumgebung bislang noch nicht in der Praxis eingesetzt wurden.
- Aus der
US 4 795 500 ist eine Solarzelle bekannt, die ein Substrat, eine vordere Elektrode, eine aktive Schicht aus amorphen Silizium, und eine metallische Rückseitenelektrode aufweist. Materialien für die Rückseitenelektrode sind beispielsweise Aluminium, Silber, Titan, Chrom, Nickel, Gold und dergleichen. Durch selektive Ätzung werden Löcher mit Hilfe eines photolitographischen Verfahrens erzeugt. Eine Musterbildung zur Unterteilung der Rückseitenelektrodenelemente wird gleichzeitig mit der Musterbildung zur Ausbildung der Löcher durchgeführt. Eine Resist-Schicht wird als Maske bei einem Ätzverfahren zur Ausbildung der Löcher verwendet. - In der
JP 2-42766 A - Aus der
EP 0 392 695 A1 ist eine Solarzelle mit einem Substrat bekannt, auf welchem eine transparente Elektrode vorgesehen ist, darauf wiederum eine aktive Schicht, und auf dieser eine zweite Elektrode, die aus einer Doppelschichtanordnung besteht, nämlich einer inneren Zwischenschicht und einer äußeren Schicht. Zur Erzeugung eines Musters kann beispielsweise ein Laser eingesetzt werden. - Aus der
US 4 872 925 ist bekannt, Löcher und/oder Gräben durch eine Rückseitenelektrode aus Kupfer und einer Halbleiterschicht aus amorphem Silizium einer Solarzelle zu ätzen. In einem siebten Schritt eines Herstellungsverfahrens, der in3A dieser Druckschrift beginnt, werden eine Rückseitenelektrode und eine Halberleiterschicht beide entfernt, und wird eine Paste mit HF und HNO3 in Öffnungen eingebracht, um eine transparente Schichtelektrode freizulegen. Das Freilegen der transparenten Schichtelektrode führt dazu, dass sowohl die Rückseitenelektrode als auch die Halbleiterschicht in diesem Schritt entfernt werden. An den siebten Schritt schließt sich ein achter Schritt an, in welchem eine NaOH-Paste in die Öffnungen eingebracht wird, um ein Glassubstrat freizulegen; daher wird in diesem achten Schritt die transparente Schichtelektrode entfernt. - Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht in der Bereitstellung eines kostengünstigen, wirksamen Verfahrens zur Massenherstellung von Solarzellen aus amorphem Silizium, bei welchem die Rückseitenelektrode fest mit der a-Si-Schicht verbunden ist.
- Das Verfahren zur Herstellung von Solarzellen aus amorphem Silizium gemäß der vorliegenden Erfindung ist im Patentanspruch 1 angegeben. Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den abhängigen Patentansprüchen angegeben.
- Die Erfindung wird nachstehend anhand zeichnerisch dargestellter Ausführungsbeispiele näher erläutert, aus welchen weitere Vorteile und Merkmale hervorgehen. Es zeigt:
-
1 eine Querschnittsansicht mit der Darstellung einer Solarzelle aus amorphem Silizium, die durch das Herstellungsverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung hergestellt wurde; -
2 eine Querschnittsansicht mit einer Darstellung einer Ausführungsform einer durchsichtigen Solarzelle aus amorphem Silizium, welche mit dem Herstellungsverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung hergestellt wurde; -
3 eine Querschnittsansicht mit einer Darstellung einer Ausführungsform einer Solarzelle des integrierten Typs aus amorphem Silizium, welche durch das Herstellungsverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung hergestellt wurde; und -
4 eine Querschnittsansicht mit einer Darstellung einer weiteren Ausführungsform einer durchsichtigen Solarzelle aus amorphem Silizium, welche mit dem Herstellungsverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung hergestellt wurde. - Da sowohl die Rückseitenelektrode als auch die Schicht aus amorphem Silizium bei dem erfindungsgemäßen Herstellungsverfahren für die Solarzelle aus amorphem Silizium naßgeätzt werden, kann – wie voranstehend erwähnt - die a-Si-Schicht nachfolgend auf das Ätzen der Rückseitenelektrode geätzt werden, ohne daß es erforderlich ist, Feuchtigkeit zu entfernen oder eine Trocknung durchzuführen. Daher kann ein stufenweiser Ätzvorgang durchgeführt werden, was die Herstellung erleichtert. Durch Verwendung eines gegen Alkalien beständigen Metalls für die Rückseitenelektrode wird das Problem gelöst, daß die Rückseitenelektrode weiter geätzt wird, wenn die a-Si-Schicht mit einer alkalischen Lösung geätzt wird.
- Weiterhin wird bei dem erfindungsgemäßen Herstellungsverfahren für die Solarzelle aus amorphem Silizium die rückseitige Elektrodenschicht oberhalb der a-Si-Schicht über eine Befestigungsschicht aus einem dünnen Metallfilm ausgebildet. Daher gibt es keine speziellen Verbindungsanforderungen, die für die Rückseitenelektrode in bezug auf die a-Si-Schicht erforderlich sein könnten. Obwohl Metalle, wie beispielsweise Ag und Cu mit hervorragenden Lichtreflexionseigenschaften nicht an der a-Si-Schicht befestigt werden können, können sie daher dennoch als Material für die Rückseitenelektrode eingesetzt werden. Da die Befestigungsschicht aus einem dünnen Metallfilm, welche die Bindung zwischen der Rückseitenelektrode und der a-Si-Schicht zur Verfügung stellt, eine dünne Schicht ist, weist sie daher einen hohen Transparenzgrad auf, und durch eine wirksame Lichtreflexion durch die Rückseitenelektrode werden Isc (Kurzschlußstrom) und Pmax (maximale Ausgangsleistung) verbessert.
- Nachstehend werden Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung zusammen mit den Zeichnungen im einzelnen besprochen
- Beispiel Nr. 1
- Wie aus
1 hervorgeht, stellt die dort gezeigte durchsichtige Solarzelle aus amorphem Silizium ein Laminat aus drei Schichten dar, nämlich einer transparenten Elektrode2 , einer a-Si-Schicht3 aus amorphem Silizium, und einer Rückseitenelektrode5 , und zwar auf einem transparenten Substrat1 , beispielsweise einer Glasplatte. Diese Solarzelle wird auf die nachstehend angegebene Weise hergestellt. - (1) Eine transparente Elektrode
2 , beispielsweise Indium-Zinnoxid (ITO) oder SnO2, wird auf der Oberfläche des transparenten Substrats1 durch ein Sprühverfahren, chemische Dampfablagerung (CVD), Verdampfen, Ionenplattieren, Sputtern oder ein anderes Filmwachstumsverfahren ausgebildet. - (2) Ag-Paste
10 wird auf die transparente Elektrode2 an vorbestimmten Orten aufgedruckt. - (3) Die a-Si-Schicht
3 wird über der gesamten Oberfläche ausgebildet. - (4) Über
der gesamten Oberfläche
der a-Si-Schicht
3 wird die Rückseitenelektrode5 ausgebildet. Metalle wie beispielsweise Cu, Nickel (Ni), oder eine NiCu-Legierung werden für die Rückseitenelektrode5 verwendet. Die Dicke des rückseitigen Elektrodenfilms5 beträgt annähernd 150 nm. - (5) Die Rückseitenelektrode
5 wird mit dem Bereich der Ag-Paste10 durch Laserschweißen verbunden. - (6) Als nächstes
wird eine Fotolackschicht
8 aufgebracht und mit einem Muster versehen. Wie in1 dargestellt ist, gestattet es die Fotolackschicht8 , daß zahlreiche Löcher6 und Gräben7 in der Rückseitenelektrode5 und der a-Si-Schicht3 ausgebildet werden, um eine durchsichtige Solarzelle herzustellen, welche einen Teil des einfallenden Lichtes durchläßt. - (7) FeCl3-Lösung wird verwendet, um eine
Naßätzung eines
Teils der Rückseitenelektrode
5 durchzuführen. - (8) HF·HNO3 wird verwendet, um die Oberfläche der
a-Si-Schicht
3 zu behandeln. - (9) Eine Alkalilösung,
beispielsweise NaOH, wird zur Naßätzung der a-Si-Schicht
3 eingesetzt. - (10) Eine nachfolgende Ätzung
der Rückseitenelektrode
5 wird mit einer FeCl3-Lösung durchgeführt. - Ein Querschnitt der Durchsichtöffnungen einer Solarzelle aus amorphem Silizium, die mit dem voranstehend beschriebenen Verfahren hergestellt wurde, ist in
1 gezeigt. Der voranstehend angegebene Verfahrensschritt (8), bei welchem die Oberfläche der a-Si-Schicht3 mit einer HF·HNO3-Lösung behandelt wird, dient dazu, daß in dem nachfolgenden Schritt (9) eine Ätzung mit der NaOH-Lösung auftritt. Hierbei wird darauf hingewiesen, daß sich ein Oxidfilm auf der Oberfläche der a-Si-Schicht3 bilden kann, der eine Ätzung mit NaOH verhindert, wenn die Oberfläche der a-Si-Schicht nicht vorher mit HF·HNO3 behandelt wird. - Hierbei könnte man sich überlegen, dieselbe Vorbehandlung mit einer Lösung von HF·HNO3 durchzuführen, um die a-Si-Schicht
3 zu ätzen. Da allerdings die Konzentration der für die Vorbehandlung benutzten Lösung von HF·HNO3 nur einige Prozent beträgt, würde die vollständige Ätzung der a-Si-Schicht3 mit derselben HF·HNO3 eine lange Ätzzeit erfordern, infolge der geringen Konzentration der Lösung. Wenn andererseits die Ätzung der a-Si-Schicht3 mit der HF·HNO3 durchgeführt wird, deren Konzentration einige zehn Prozent beträgt, so wird die Ätzzeit zwar verkürzt, jedoch ergibt sich die schädliche Wirkung einer Ätzung des Glassubstrats, in Folge der Verwendung konzentrierter HF·HNO3-Lösung. Daher kann HF·HNO3 nicht zum Ätzen der a-Si-Schicht3 verwendet werden - Zwar wird bei dem voranstehend beschriebenen Herstellungsverfahren die Oberfläche der a-Si-Schicht
3 mit HF·HNO3 behandelt, jedoch weisen HF, HBF4 oder andere wässrige Lösungen fluorhaltiger Verbindungen eine ähnliche Wirkung auf. - Als Rückseitenelektrode
5 kann Ag, Titan (Ti), oder Chrom (Cr) verwendet werden. - Ausführungsform Nr. 2
- Abgesehen von den nachfolgend angegebenen Schritten wird die Solarzelle des durchsichtigen Typs aus amorphem Silizium gemäß dieser Ausführungsform auf dieselbe Weise hergestellt wie die Ausführungsform Nr. 1: (1) anstelle der Verwendung von Cu, Ni, oder einer Ni-Cu-Legierung für die Rückseitenelektrode
5 wird eine dreischichtige Rückseitenelektrode aus Ti/Cu/Ti (Titan/Kupfer/Titan) verwendet; (2) vor dem Verfahrensschritt (7) bei der Ausführungsform Nr. 1 wird die Ti-Oberfläche der Rückseitenelektrode mit HF·HNO3 geätzt; und (3), im Schritt (8) wird die Ti-Schicht zwischen der a-Si-Schicht und der Cu-Schicht mit HF·HNO3 geätzt, während eine Vorbehandlung der Oberfläche der a-Si-Schicht3 erfolgt. - Die Filmdicken der Schichten aus Ti/Cu/Ti (von unten nach oben) betragen jeweils etwa 3, 100, bzw. 50 nm. Die Ti-Schicht mit 3 nm verbessert die Befestigungsstärke zwischen der Cu- und der a-Si-Schicht. Die Ti-Schicht mit 50 nm schützt die Cu-Schicht dagegen, korrodiert zu werden, und trägt zur Verbesserung ihrer Lebensdauer bei.
- Ausführungsform Nr. 3
- Abgesehen von den nachfolgend genannten Schritten wird die durchsichtige Solarzelle aus amorphem Silizium gemäß dieser Ausführungsform auf dieselbe Weise hergestellt wie die Ausführungsform Nr. 1: (1) anstelle der Verwendung von Cu, Ni, oder einer Ni-Cu-Legierung für die Rückseitenelektrode
5 wird eine dreischichtige Rückseitenelektrode aus Ti/Cu/Ni verwendet; und (2), in dem Verfahrensschritt (8) der Ausführungsform Nr. 1 wird die Ti-Schicht zwischen der a-Si-Schicht und der Cu-Schicht mit HF·HNO3 geätzt, während die Oberfläche der a-Si-Schicht3 vorbehandelt wird. - Die Filmdicken von Ti/Cu/Ni (von unten nach oben) betragen etwa 3, 100, bzw. 50 nm.
- Ausführungsform Nr. 4
- Die durchsichtige Solarzelle aus amorphem Silizium gemäß dieser Ausführungsform wird auf dieselbe Weise hergestellt wie die Ausführungsform Nr. 3, mit folgender Ausnahme: (1) anstelle von Ni werden 50 nm CuNi in der Rückseitenelektrode verwendet.
- Bei den voranstehend angegebenen Ausführungsformen Nr. 2, 3 und 4 wird ebenso wie bei der Ausführungsform Nr. 1 die durchsichtige Solarzelle aus amorphem Silizium vollständig mit Naßätzung-Verfahrensschritten hergestellt, und daher läßt sich eine Nassenproduktion mit einer kostengünstigen Produktionsvorrichtung erreichen.
- Bei den voranstehend geschilderten Herstellungsverfahren für eine durchsichtige Solarzelle aus amorphem Silizium werden Löcher und Gräben dadurch zur Verfügung gestellt, daß eine Naßätzung der Rückseitenelektrode und der a-Si-Schicht erfolgt. Bei diesem Herstellungsverfahren sind keine teuren Vakuumsysteme erforderlich, die bei Herstellungsverfahren nach dem Stand der Technik benötigt werden. Verglichen mit dem beim Stand der Technik eingesetzten Trockenätzen, welches die Entfernung von Feuchtigkeit sowie ein Trocknen nach dem Naßätzen erfordert, lassen sich durch reine Naßätzungsverfahren durchsichtige Solarzellen aus amorphem Silizium herstellen, wobei die Kontinuität der Herstellschritte und die Herstellbarkeit verbessert werden.
- Ausführungsform Nr. 5
- Wie aus
2 hervorgeht, ist die dort dargestellte durchsichtige Solarzelle aus amorphem Silizium ein Laminataufbau aus dünnen Schichten einer transparenten Elektrode22 , einer Schicht23 aus amorphem Silizium (a-Si), einer Befestigungs- oder Haftschicht24 aus einem dünnen Metallfilm, und einer Rückseitenelektrode25 , auf einem transparenten Substrat21 , beispielsweise einer Glasplatte. Diese Solarzelle wird auf die nachstehend angegebene Weise hergestellt. - (1) Eine transparente Elektrode
22 , beispielsweise Indium-Zinnoxid (ITO) oder SnO2, wird auf der Oberfläche des transparenten Substrats21 durch dieselben Schritte ausgebildet, die beim Ausführungsbeispiel Nr. 1 genannt sind. - (2) Die a-Si-Schicht
23 , die Haftschicht24 aus einem dünnen Metallfilm, und die Rückseitenelektrode25 werden auf der transparenten Elektrode22 ausgebildet. Die Haftschicht24 aus einem dünnen Metallfilm und die Rückseitenelektrode25 werden durch Sputtern gebildet. Die Haftschicht24 ist ein Film aus W (Wolfram) oder Cr (Chrom) mit einer Dicke von 1,2 nm. Die Rückseitenelektrode25 ist eine Cu-Schicht mit 200 nm. Eine Ti-Schicht29 mit 200 nm ist auf der Oberfläche der Rückseitenelektrode25 vorgesehen. Diese Ti-Schicht schützt die Rückseitenelektrode25 aus Cu gegen Korrosion und verbessert ihre Standzeit. - (3) Als nächstes
wird eine Fotolackschicht
28 aufgebracht und auf die erforderliche Weise mit einem Muster versehen. Wie in2 dargestellt ist, gestattet es die Fotolackschicht28 , daß zahlreiche Löcher26 in der Rückseitenelektrode25 , der Haftschicht24 aus einem dünnen Metallfilm, und der a-Si-Schicht23 ausgebildet werden, um eine durchsichtige Solarzelle herzustellen, welche einen Teil des auftreffenden Lichtes durchläßt. - (4) HF·HNO3 wird zur Naßätzung und teilweisen Entfernung
der Ti-Schicht
29 verwendet. - (5) Eine FeCl3-Lösung wird dazu benutzt, eine
Naßätzung und
teilweise Entfernung der Rückseitenelektrode
25 aus Cu durchzuführen - (6) Eine wässrige
Lösung
aus K3Fe(CN)6, und
einer NaOH-Lösung wird
verwendet, um eine Naßätzung der Haftschicht
24 aus einem dünnen Metallfilm aus W oder Cr durchzuführen. - (7) Eine alkalische Lösung
wie z.B. NaOH wird zum Naßätzen der
a-Si-Schicht
23 benutzt. - Ergebnisse elektrischer Messungen bei Prototypen von Solarzellen, die mit dem voranstehend angegebenen Verfahren hergestellt wurden, sind in Tabelle 1 gezeigt.
- Der Trennungsversuch in Tabelle 1 wurde bei getrennt hergestellten Solarzellen gemessen. Für diese Solarzellen wurde eine transparente Elektrodenschicht auf der transparenten Substratoberfläche ausgebildet, und ein Quadratzentimeter einer a-Si-Schicht, einer Haftschicht aus einem dünnen Metallfilm, und einer Rückseitenelektrode wurden auf der Oberfläche der transparenten Oberfläche ausgebildet. Für diesen Trennungsversuch wurden Solarzellen verwendet, die mit den Verfahrensschritten (1) und (2) vor der Lochätzung hergestellt wurden. Der Grund für die Verwendung von Solarzellen ohne Lochöffnungen für den Trennungsversuch bestand darin, daß praktisch kein Verlust der Haftfestigkeit der Rückseitenelektrode in Folge der Löcher auftritt. Bei dem Trennungsversuch wurde ein Zellophanband an der Oberfläche der Rückseitenelektrode von 1 cm2 befestigt, und dann abgezogen, wobei gemessen wurde, ob sich die Rückseitenelektrode abtrennte oder nicht.
- Um zu klären, inwieweit bessere Eigenschaften mit der Ausführungsform von Solarzellen gemäß Ausführungsform Nr. 5 erzielt werden, wurden darüber hinaus zum Zwecke des Vergleichs in dieser Tabelle auch Solarzellen mit einer aufgesplitterten Rückseitenelektrode aus Cu auf der a-Si-Schicht hergestellt, wobei keine Haftschicht aus einem dünnen Metallfilm verwendet wurde. Zum Zwecke des Vergleiches wurden auch Solarzellen hergestellt, die eine Rückseitenelektrode aufwiesen, die auf die a-Si-Schicht durch thermische Verdampfung aus einem W-Schiffchen aufgeschichtet wurde.
- Wie aus dieser Tabelle hervorgeht, weisen, obwohl Cu als Rückseitenelektrode verwendet wird, Solarzellen aus amorphem Silizium, die gemäß der Ausführungsform Nr. 5 hergestellt wurden, eine deutlich verringerte Abtrennung der Rückseitenelektrode von der a-Si-Schicht auf, und die erhaltenen Ics- und Pmax-Werte waren ähnlich wie bei Vorrichtungen nach den Stand der Technik, ohne eine Haftschicht aus einem dünnen Metallschicht.
- Ausführungsform Nr. 6
- Die durchsichtige Solarzelle aus amorphem Silizium gemäß dieser Ausführungsform wird auf dieselbe Weise wie die Ausführungsform Nr. 5 hergestellt, mit folgenden Ausnahmen: die Haftschicht
24 aus einem dünnen Metallfilm aus W oder Cr wurde durch Ti ersetzt, die Dicke der Haftschicht24 aus dem dünnen Metallfilm betrug 1,2 bis 30 nm, und das Ätzen der Haftschicht24 aus einem dünnen Metallfilm erfolgte durch HF·HNO3 Eigenschaften von Prototypen von Solarzellen, die mit diesem Verfahren hergestellt wurden, sind in Tabelle 2 gezeigt. Tabelle 2 - Verhältnis verglichen mit thermischer Verdampfunq in Klammern () Lichtquelle: AM-1,5 100 mW/cm2
- Wie aus Tabelle 2 hervorgeht, zeigen Solarzellen, die durch das Verfahren gemäß Ausführungsform Nr. 6 hergestellt wurden, keine Abtrennung der Rückseitenelektrode, und zeigen hervorragende Eigenschaften in bezug auf Isc, und Pmax, ähnlich wie Vorrichtungen nach dem Stand der Technik ohne eine Haftschicht mit einem dünnen Metallfilm.
- Ausführungsform Nr. 7.
- In
3 ist eine Solarzelle des integrierten Typs gezeigt. Diese Solarzelle wird durch das nachstehend angegebene Verfahren hergestellt: - (1) Eine transparente Elektrode
32 wird auf der Oberfläche eines transparenten Glassubstrats31 mit einem Muster versehen. - (2) Ag-Paste
30 wird an vorbestimmten Orten auf die transparente Elektrode32 aufgedruckt. - (3) Eine a-Si-Schicht
33 wird über der gesamten Oberfläche ausgebildet. - (4) Eine Rückseitenelektrode
35 wird über eine Haftschicht34 aus einem dünnen Metallfilm über der gesamten Oberfläche der a-Si-Schicht33 ausgebildet. Für die Haftschicht34 aus einem dünnen Metallfilm werden Ti oder W verwendet. Ag wird für die Rückseitenelektrode35 eingesetzt. Eine Ti-Schicht39 wird auf der Oberfläche der Rückseitenelektrode35 ausgebildet. - (5) Die Rückseitenelektrode
35 wird mit den Bereichen der Ag-Paste30 durch Laserschweißen verbunden. - (6) Daraufhin wird eine Fotolackschicht
38 aus einem thermisch aushärtendem Harz aufgebracht und mit einem vorbestimmten Muster versehen. Wie in3 gezeigt ist, dienen die Haftschicht34 und die a-Si-Schicht33 zur Ausbildung einer Solarzelle des integrierten Typs. - (7) HF·HNO3 wird zur Ätzung der Ti-Schicht
39 verwendet. - (8) HNO3 wird dazu verwendet, eine Naßätzung der
Rückseitenelektrode
35 aus Ag durchzuführen. - (9) Die Haftschicht
34 aus einem dünnen Metallfilm wird naßgeätzt. Eine wässrige Mischung aus K3Fe(CN)6 und einer NaOH-Lösung wird zur Ätzung einer Haftschicht34 aus einem dünnen Metallfilm aus W verwendet, und HF·HNO3 wird dazu eingesetzt, eine Haftschicht34 aus einem dünnen Metallfilm aus Ti zu ätzen. - Die Eigenschaften von Solarzellen des integrierten Typs, die durch dieses Verfahren hergestellt wurden, sind in Tabelle 3 gezeigt. In dieser Tabelle wurde der Trennungsversuch auf dieselbe Weise gemessen wie bei der Ausführungsform 5. Insbesondere wurde der Trennungsversuch unter Verwendung speziell hergestellter Solarzellen durchgeführt. Diese Solarzellen wurden so hergestellt, daß 1 cm2 einer a-Si-Schicht, einer Haftschicht aus einem dünnen Metallfilm, und einer Rückseitenelektrode auf der Oberfläche der transparenten Elektrodenschicht ausgebildet wurde, die an der transparenten Substratoberfläche befestigt ist. Es wurden Solarzellen ohne eingeätzte Gräben verwendet. Weiterhin stellen Voc und Pmax in Tabelle 3 die berechneten einzelligen Äquivalentwerte dar.
- Wie aus dieser Tabelle hervorgeht, kann durch die Ausführungsform Nr. 7 eine Solarzelle aus amorphem Silizium hergestellt werden, welche eine Rückseitenelektrode aus Ag verwendet, die eine verringerte Abtrennung von der a-Si-Schicht aufweist. Insbesondere weisen Vorrichtungen mit einer Haftschicht aus einem dünnen Metallfilm aus W bessere Eigenschaften bezüglich der Abtrennung auf als solche mit einer Haftschicht aus einem dünnen Metallfilm aus Ti. Weiterhin zeigen die mit diesem Verfahren hergestellten Solarzellen auch hervorragende Eigenschaften in bezug auf Isc und Pmax
- Ausführungsform Nr. 8
- In
4 ist eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung dargestellt. Wie in dieser Figur gezeigt, stellt die durchsichtige Solarzelle aus amorphem Silizium ein Laminat dünner Schichten einer transparenten Elektrode42 , einer a-Si-Schicht43 , einer Haftschicht44 aus einem dünnen Metallfilm, und einer Rückseitenelektrode45 auf einem transparenten Substrat41 , beispielsweise einer Glasplatte, dar. Diese Solarzelle wird auf nachstehend angegebene Weise hergestellt. - (1) Eine transparente Elektrode
42 wird auf der Oberfläche eines transparenten Substrats41 aus Glas mit einem Muster versehen. - (2) Ag-Paste
40 wird auf die transparente Elektrode42 an vorbestimmten Orten aufgedruckt. - (3) Eine a-Si-Schicht
43 wird über der gesamten Oberfläche ausgebildet. - (4) Eine Rückseitenelektrode
45 wird über eine Haftschicht44 aus einem dünnen Metallfilm über der gesamten Oberfläche der a-Si-Schicht43 ausgebildet. Die Haftschicht44 aus einem dünnen Metallfilm ist ein Ti-Film mit einer Dicke von 3 nm. Die Rückseitenelektrode45 ist eine Cu-Schicht mit 100 nm. Eine Ti-Schicht49 mit 50 nm ist auf der Oberfläche der Rückseitenelektrode45 vorgesehen. Diese Ti-Schicht schützt die Rückseitenelektrode45 aus Cu gegen Korrosion und trägt zur Erhöhung ihrer Standzeit bei. - (5) Die Rückseitenelektrode
45 wird mit den Bereichen der Ag-Paste40 durch Laserschweißen verbunden. - (6) Daraufhin wird eine Fotolackschicht
48 aus einem thermischen aushärtenden Harz aufgebracht und mit einem vorbestimmten Muster versehen. Wie aus4 hervorgeht, dient die Fotolackschicht48 dazu, Löcher46 und Gräben47 in der Rückseitenelektrode45 , der Haftschicht44 aus einem dünnen Metallfilm, und der a-Si-Schicht43 auszubilden, um eine integrierte, durchsichtige Solarzelle herzustellen. - (7) Zum Ätzen
der Ti-Schicht
49 wird HF·HNO3 verwendet. - (8) FeCl3-Lösung wird zur Naßätzung der
Rückseitenelektrode
45 aus Cu eingesetzt. - (9) HF·HNO3 wird verwendet, um die Haftschicht
44 aus einem dünnen Metallfilm aus Ti zu ätzen und die Oberfläche der a-Si-Schicht43 zu behandeln. - (10) Eine alkalische Lösung,
beispielsweise NaOH, wird zur Naßätzung der a-Si-Schicht
43 verwendet. - (11) FeC13-Lösung wird zur nachfolgenden Ätzung der
Rückseitenelektrode
45 aus Cu eingesetzt. - Bis ein Unterschneiden an der Grenzfläche zwischen a-Si und der Rückseitenelektrode auftritt, wird die Rückseitenelektrode
45 durch das Ätzen der a-Si-Schicht43 freigelegt. Hier nimmt die Folgeätzung den freigelegten Bereich der Rückseitenelektrode45 auf, und verhindert daher, daß die Rückseitenelektrode45 die transparente Elektrode42 berührt und sich mit ihr kurzschließt. -
4 zeigt einen Querschnitt von Loch- und Grabenbereichen der durch dieses Verfahren erhaltenen Solarzelle aus amorphem Silizium. Der voranstehend genannte Verfahrensschritt (9), bei welchem die Oberfläche der a-Si-Schicht43 mit der HF·HNO3-Lösung behandelt wird, dient dazu, daß sichergestellt wird, daß in dem nächsten Schritt (10) eine Ätzung mit der NaOH-Lösung erfolgt. Wenn die Oberfläche der a-Si-Schicht nicht mit HF·HNO3 vorbehandelt wird, kann sich ein Oxidfilm auf der Oberfläche der a-Si-Schicht43 bilden und ein Ätzen mit NaOH verhindern. - Versuch Nr. 1
- Nachstehend wird eine Vorbehandlung mit HF·HNO3 beschrieben. Die Probenherstellung erfolgte wie nachstehend angegeben.
- (1) Eine transparente Elektrode wurde auf der Oberfläche eines transparenten Glassubstrats mit einem Muster versehen.
- (2) Über der gesamten Oberfläche wurde eine a-Si-Schicht ausgebildet. Die Dicke der a-Si-Schicht betrug 350 nm.
- (3) Eine Rückseitenelektrode wurde über der gesamten a-Si-Oberfläche aufgeschichtet. Die Rückseitenelektrode bestand aus 100 nm Cu.
- Mit dem voranstehenden Verfahren wurden zwei unterschiedliche Probensubstrate hergestellt. Nach dem Ätzen der Rückseitenelektrode aus Cu mit einer Lösung von FeCl3 und vor dem Ätzen der a-Si-Schicht mit NaOH-Lösung unter denselben Ätzbedingungen wurde die a-Si-Oberfläche der Probe A mit einer HF·HNO3-Lösung vorbehandelt, wogegen bei der Probe B keine derartige Vorbehandlung erfolgte.
-
- Wie aus Tabelle 4 hervorgeht, wurden konsistente Dicken an allen Orten bei der Probe A mit der Vorbehandlung mit HF·HNO3 gemessen, was eine gleichförmige Ätzung der a-Si-Schicht anzeigt. Allerdings ergibt sich bei der Probe B ohne Vorbehandlung eine starke Variation der Dickenmessungen über einen Bereich von 30 bis 280 nm. Hieraus wird geschlossen, daß in dem Falle der Probe B eine ungleichmäßige Ätzung auftritt.
- Aus den voranstehenden Ergebnissen wird deutlich, daß die a-Si-Schicht gleichförmig und mit geringer Variation geätzt werden kann, nachdem eine Vorbehandlung der Oberfläche mit HF·HNO3 vorgenommen wurde.
- Wie voranstehend erwähnt, könnte man daran denken, dieselbe HF·HNO3-Lösung für die Vorbehandlung zum Ätzen der a-Si-Schicht einzusetzen. Da jedoch die Konzentration der zur Vorbehandlung verwendeten HF·HNO3-Lösung nur einige Prozent beträgt, würde eine vollständige Ätzung der a-Si-Schicht mit derselben HF·HNO3 in Folge der geringen Konzentration der Lösung eine lange Ätzzeit erfordern. Wenn andererseits ein Ätzen einer a-Si-Schicht mit HF·HNO3 erfolgt, das eine Konzentration im Bereich von einigen zehn Prozent aufweist, so wird die Ätzzeit verringert, jedoch tritt der schädliche Effekt der Ätzung des Glassubstrates auf, in Folge der Verwendung einer konzentrierten HF·HNO3-Lösung. Daher kann HF·HNO3 nicht zum Ätzen der a-Si-Schicht verwendet werden.
- Zwar wird bei der Ausführungsform Nr. 8 die Oberfläche der a-Si-Schicht mit HF·HNO3 behandelt, jedoch weisen HF, HBF4, oder andere wässrige Lösungen fluorhaltiger Verbindungen eine ähnliche Wirkung auf.
- Ausführungsform Nr. 9
- Abgesehen von den nachfolgend angegebenen Schritten wird die Solarzelle aus amorphem Silizium gemäß dieser Ausführungsform auf dieselbe Weise wie die Ausführungsform Nr. 8 hergestellt: im Schritt (4) wird eine Ni-Schicht
49' mit 50 nm auf der Oberfläche der Rückseitenelektrode45 ausgebildet; und im Schritt (11) wird FeCl3, -Lösung für eine nachfolgende Ätzung der Rückseitenelektrode45 aus Cu und der Ni-Schicht49' auf ihrer Oberfläche eingesetzt. - Ausführungsform Nr. 10
- Abgesehen von den nachstehend angegebenen Schritten wird die Solarzelle aus amorphem Silizium gemäß dieser Ausführungsform auf dieselbe Weise hergestellt wie die Ausführungsform Nr. 8: Im Schritt (4) wird eine NiCu-Schicht
49'' mit 50 nm auf der Oberfläche der Rückseitenelektrode45 ausgebildet; und im Schritt (11) wird eine FeCl3-Lösung zur nachfolgenden Ätzung der Rückseitenelektrode45 aus Cu und der NiCu-Schicht49'' auf ihrer Oberfläche verwendet. - Zwar werden bei der Ausführungsform Nr. 8 drei Schichten ausgebildet, nämlich die Haftschicht
44 aus einem dünnen Metallfilm aus Ti, die Rückseitenelektrode45 aus Cu, und die Ti-Schicht49 auf der Oberfläche der Rückseitenelektrode45 , jedoch bedeutet beim Sputtern die Verwendung gemeinsamer Materialien, daß nur zwei Sputter-Targets, nämlich Ti und Cu, verwendet werden müssen, und daher läßt sich eine kostengünstige Fertigung erreichen. - Bei der Ausführungsform Nr. 9 können, wenn die Folgeätzung der Rückseitenelektrode
45 aus Cu und der NI-Schicht49' auf ihrer Oberfläche ausgeführt wird, beide Schichten mit FeCl3-Lösung geätzt werden. Jede Ni-Schicht49' , die auf überhängende Weise auf der Rückseitenelektrode45 aus Cu verbleibt, kann daher weggeätzt werden, und hierdurch kann die Wahrscheinlichkeit des Auftretens von Kurzschlußfehlern in Folge einer Berührung der Ni-Schicht49' mit der transparenten Elektrode42 wesentlich verringert werden. - Bei der Ausführungsform Nr. 10 wird eine NiCu-Schicht
49'' auf der Oberfläche der Rückseitenelektrode ausgebildet. Wenn ein ferromagnetischer Film durch Sputtern gebildet wird, so ist ein starker Magnet erforderlich, so daß die entsprechende Vorrichtung teuer ist. Darüber hinaus ist der Target-Nutzwirkungsgrad eines ferromagnetischen Targets klein, verglichen mit einem nichtferromagnetischen Target. Zur Ausschaltung dieser Nachteile wurde die nichtferromagnetische NiCu-Legierung bei der Ausführungsform Nr. 10 zur Ausbildung des Films verwendet. Da diese NiCu-Legierung ebenfalls durch FeCl3-Lösung weggeätzt wird, kann sie gleichzeitig mit der Rückseitenelektrode45 unter Verwendung derselben Ätzlösung geätzt werden. - In bezug auf die Korrosionsfestigkeit weist die Zusammensetzung von Ni und Cu in der NiCu-Legierung vorzugsweise einen höheren Prozentsatz von Ni auf, jedoch ergibt bis zur magnetischen Transformation der Legierung jede Zusammensetzung von Ni und Cu bei der Ausführungsform Nr. 10 dieselbe Wirkung.
- Bei den Solarzellen aus amorphem Silizium gemäß den Ausführungsformen Nr. 5 bis 10 ist die Rückseitenelektrode der a-Si-Schicht über eine Haftschicht aus einem dünnen Metallfilm angebracht. Bei diesen Ausführungsformen werden für die Haftschicht aus einem dünnem Film Metalle verwendet, die eine starke Haftfähigkeit sowohl bezüglich der a-Si-Schicht als auch der Rückseitenelektrode aufweisen. Darüber hinaus werden Alkali-beständige Metalle für die Haftschicht aus einem dünnen Metallfilm und die Rückseitenelektrode verwendet. Ätzlöcher und Ätzgräben werden durch diese a-Si-Schicht, die Haftschicht aus einem dünnen Metallfilm, und durch das rückseitige Elektrodenlaminat mittels Naßätzung ausgebildet. Daher lassen sich durch diese Verfahren mit dem Einsatz der Naßätzung entweder durchsichtige oder integrierte Solarzellen aus amorphem Silizium wirksam und kostengünstig in hohen Mengen herstellen. Der Grund dafür, daß Ätzlöcher und Ätzgräben wirksam und kostengünstig durch Naßätzung ausgearbeitet werden können, liegt daran, daß Alkalibeständige Metalle für die Haftschicht aus einem dünnen Metallfilm und die Rückseitenelektrode verwendet werden, wodurch verhindert wird, daß freiliegende Kanten der Haftschicht aus einem dünnen Metallfilm und der Rückseitenelektrode durch die Ätzlösung für die a-Si-Schicht geätzt werden.
- Weiterhin kann in Folge der Vorbehandlung der Oberfläche der a-Si-Schicht unter Verwendung von HF·HNO3, die nachfolgende Ätzung der a-Si-Schicht glatt mit einer NaOH-Lösung durchgeführt werden. Dies eliminiert eine Ungleichförmigkeit der Ätzung von a-Si.
- Zusätzlich zu anderen Eigenschaften der durch die voranstehenden Verfahren hergestellten Solarzellen aus amorphem Silizium lassen sich Metalle wie beispielsweise Ag und Cu mit hervorragenden Lichtreflexionseigenschaften fest an der a-Si-Schicht befestigen und als die Rückseitenelektrode verwenden. Weiterhin kann die Haftschicht aus einem dünnen Metallfilm zwischen der a-Si-Schicht und der Rückseitenelektrode extrem dünn ausgebildet werden, so daß die Lichtabsorption durch diesen Film drastisch verringert wird. Da durch die a-Si-Schicht hindurchdringendes Licht wirksam an der Rückseitenelektrode reflektiert werden kann, wird daher auftreffendes Licht auf die a-Si-Schicht auf äußerst wirksame Weise gerichtet, wodurch die kritischen Solarzellenparameter Isc, und Pmax verbessert werden.
- Mit anderen Worten werden trotz der Tatsache, daß Solarzellen aus amorphem Silizium mit den voranstehend angegebenen Verfahren in Massen, einfach, wirksam und kostengünstig hergestellt werden können, auch hervorragende elektrische Eigenschaften erzielt.
Claims (7)
- Verfahren zur Herstellung von Solarzellen aus amorphem Silizium mit den Schritten der Ausbildung, auf einem transparenten Substrat (
1 ), in dieser Reihenfolge, von dünnen Schichten aus a) einer transparenten Elektrode (2 ); b) amorphem Silizium (3 ); und c.1) einer Rückseitenelektrode (5 ) wobei c.2) ein Alkali-beständiges Metall für die Rückseitenelektrode (5 ) verwendet wird; d.1) die Rückseitenelektrode (5 ) naßgeätzt wird d.2) unter Verwendung einer nicht-alkalischen Lösung; und e.1) das amorphe Silizium (3 ) naßgeätzt wird e.2) unter Verwendung einer alkalischen Lösung; f) um Löcher (6 ) und/oder Gräben (7 ) auszubilden, welche die dünnen Schichten der Rückseitenelektrode (5 ) und des amorphen Siliziums (3 ) durchqueren. - Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Kupfer (Cu), Nickel (Ni), eine NiCu-Legierung, Silber (Ag), Titan (Ti), oder Chrom (Cr) für die Rückseitenelektrode verwendet wird.
- Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine wässrige Lösung einer Fluorverbindung verwendet wird, um eine Behandlung der Oberfläche der Schicht aus amorphem Silizium (
3 ) nach der Naßätzung der Rückseitenelektrode (5 ) und vor der Naßätzung der Schicht aus amorphem Silizium (3 ) durchzuführen. - Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß g.1) eine metallische Dünnfilm-Haftschicht (
24 ) auf der Schicht aus amorphem Silizium (23 ) ausgebildet wird; g.2) die Rückseitenelektrode (25 ) an der dünnen Schicht aus amorphem Silizium (23 ) über die Haftschicht (24 ) befestigt wird; und h) die Rückseitenelektrode (25 ), die Haftschicht (24 ) und die dünne Schicht aus amorphem Silizium (23 ) naßgeätzt werden, um Löcher (26 ) und/oder Gräben auszubilden, welche diese Schichten (23 ,24 ,25 ) durchqueren. - Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß Wolfram (W), Titan (Ti) oder Chrom (Cr) für die metallische Dünnfilm-Haftschicht (
24 ) verwendet wird. - Verfahren nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß Kupfer (Cu) für die Rückseitenelektrode verwendet wird, und daß die Oberfläche der Kupfer-Rückseitenelektrode mit Titan (Ti), Nickel (Ni) oder NiCu beschichtet wird.
- Verfahren nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß eine wässrige Lösung einer Fluorverbindung verwendet wird, um die Oberfläche der dünnen Schicht aus amorphem Silizium (
23 ) zu behandeln, nach der Naßätzung der Rückseitenelektrode (26 ) und der metallischen Dünnfilm-Haftschicht (24 ), und vor der Naßätzung der Schicht aus amorphem Silizium (23 ).
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DE4230338B4 true DE4230338B4 (de) | 2008-05-15 |
Family
ID=27331618
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---|---|---|---|
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Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5334259A (de) |
DE (1) | DE4230338B4 (de) |
FR (1) | FR2681189B1 (de) |
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