DE4209672C1 - Wavelength measuring device for spectrometry - has sandwich structure of optical waveguides with diffraction gratings of differing constant giving spatial separation of components - Google Patents
Wavelength measuring device for spectrometry - has sandwich structure of optical waveguides with diffraction gratings of differing constant giving spatial separation of componentsInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Bestimmung der Wellenlänge
optischer Strahlung und hat sich dabei zur Aufgabe gesetzt, eine
entsprechende Einrichtung zu schaffen, die wesentlich kompakter als
bisher bekannte Spektrometer ist und damit leichter in optoelektrische
Systeme integrierbar ist.
Die Erfindung geht von einer Einrichtung aus, wie sie in der älteren
Anmeldung P 42 06 358.2 beschrieben ist. Die dort beschriebene Anordnung
besteht aus mehreren übereinander angeordneten planaren Wellenleiter
systemen, die zum Teil über Gitterkoppler zwischen den Ebenen optisch
verbunden sind und zur Konzentration der Strahlung einer Vielzahl von
Lichtquellen dienen. Dabei ist Grundsätzlich aus der DE 39 18 726 C1
bekannt, Gitter als integrale Bestandteile von Wellenleitern zu benutzen
um Licht in diese ein- bzw. auszukoppeln.
Zur Bestimmung der Wellenlänge einer optischen Strahlung wird diese in
einen ersten planaren Wellenleiter, z. B. über dessen Stirnfläche, einge
koppelt und trifft dann auf eine Gitterstruktur mit definierter Gitter
konstante. Je nach Wellenlänge des eingekoppelten Lichtes wird dieses
unter einem entsprechenden Winkel aus der Ebene des Wellenleiters ausge
koppelt. Parallel zum ersten planaren Wellenleiter sind nun ein oder
mehrere zweite planare Wellenleiter angeordnet, die ebenfalls jeweils
eine Gitterstruktur aufweisen, wobei diese so platziert und mit ent
sprechenden Gitterkonstanten versehen sind, daß nur ein schmaler Bereich
des durch die Gitterstruktur des ersten planaren Wellenleiters spektral
zerlegten und in unterschiedliche Richtungen ausgekoppelten Lichtes auf
sie trifft und in den jeweiligen zweiten planaren Wellenleiter einge
koppelt wird. Das in den zweiten planaren Wellenleitern geführte Licht
ist somit eng spektral begrenzt, so daß bei Auswertung der so erzeugten
optischen Signale z. B. mittels an die zweiten planaren Wellenleiter
gekoppelten Fotodioden entweder die spektrale Zusammensetzung des in den
ersten Wellenleiter eingekoppelten Lichtes oder, bei monochromatischem
Licht, dessen Wellenlänge bestimmt wird.
Eine vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung besteht darin, daß
beispielsweise zur spektralen Stabilisierung einer Laserdiode das in den
ersten planaren Wellenleiter eingekoppelte Licht zumindest teilweise auf
eine Gitterstruktur geführt und entsprechend der Gitterkonstanten unter
einem vorgegebenem Winkel ausgekoppelt wird. Entspricht das einge
koppelte Licht exakt der vorgegebenen Wellenlänge, so trifft das ausge
koppelte Licht auf einen "blinden Fleck" der sich durch den Abstand
zweier unterhalb der ersten Gitterstruktur angeordneter weiterer Gitter
strukturen ergibt, die mit je einem zweiten planaren Wellenleiter ver
bunden sind. Diese zweiten Gitterstrukturen sind winkelmäßig bzgl. der
ersten Gitterstruktur so angeordnet, daß Licht einer größeren als der
vorgegebenen Wellenlänge zumindest teilweise auf die eine der beiden
zweiten Gitterstrukturen fällt und Licht einer kleineren Wellenlänge auf
die andere Gitterstruktur. Erscheint also auf einem der zweiten planaren
Wellenleiter ein Lichtsignal, so kann daraus ein Regelsignal zur Ver
schiebung der abgestrahlten Wellenlänge der Lichtquelle erzeugt werden.
Die Erfindung wird im folgenden anhand zweier schematisch dargestellter
Ausführungsbeispiele näher beschrieben. Es zeigen
Fig. 1 eine Anordnung zur spektralen Zerlegung von Licht und Bestimmung
der jeweils enthaltenen Wellenlängen und
Fig. 2 eine Anordnung zur Bestimmung der Abweichung einer monochroma
tischen Strahlung von ihrer Sollwellenlänge.
Bei dem in Fig. 1 dargestellten Ausführungsbeispiel wird in einen ersten
planaren Wellenleiter 11, der in einem ebenen Substrat 1 erzeugt wurde,
ein Frequenzgemisch einer optischen Strahlung 6 eingekoppelt. Das derart
eingekoppelte Licht trifft auf eine Gitterstruktur 12 mit definierter
Gitterkonstanten und wird dort entsprechend seiner Wellenlänge in unter
schiedliche Richtungen aus der Ebene des Wellenleiters 11 ausgekoppelt.
Unterhalb des Wellenleiters 11 befinden sich nun mehrere, im gezeigten
Fall drei parallel angeordnete zweite Wellenleiter 21, 31 und 41, die in
entsprechenden Substraten 2, 3 und 4 erzeugt wurden. Die einzelnen
Wellenleiter bzw. Substrate sind durch transparente Abstandsschichten 7,
8 und 9 voneinander getrennt und bilden einen kompakten Block, der
lediglich zur besseren Darstellung auseinandergezogen gezeichnet wurde.
Das Licht einer ersten, durch unterschiedliche Pfeile dargestellten
Wellenlänge wird nun unter einem ersten Winkel α1 aus dem Gitter 12
abgelenkt und trifft den Wellenleiter 21 an einer Stelle, an der sich
eine Gitterstruktur 22 zum Empfang dieses Lichtes und zur Einkopplung in
den Wellenleiter 21 befindet. Ähnliches geschieht mit dem Licht anderer
Wellenlängen, die unter dem Winkel α2 bzw. α3 aus dem Gitter 12
ausgekoppelt werden und auf eine Gitterstruktur 32 am Wellenleiter 31
bzw. 42 am Wellenleiter 41 treffen. Das jeweils aus den Wellenleitern
21, 31 und 41 ausgekoppelte Licht ist weitgehend monochromatisch, so daß
über dessen Intensität die spektrale Zusammensetzung des eingekoppelten
Lichtes 6 ermittelt werden bzw. festgestellt werden kann, ob die
jeweilige Wellenlänge in dem Licht 6 vorhanden ist. Insbesondere ist
eine räumliche Trennung der spektralen Anteile eines Frequenzgemisches
möglich.
Bei dem in Fig. 2 dargestellten Ausführungsbeispiel wird von dem in
einen planaren Wellenleiter 221 eingekoppelten, monochromatischen Licht
20, z. B. einer Laserdiode, ein Teil in einen, auf dem gleichen Substrat
201 befindlichen Wellenleiter 222 abgezweigt. Dieser mündet in eine
Gitterstruktur 223 mit vorgegebener Gitterkonstanten. Besitzt das einge
koppelte Licht exakt die vorgegebene Sollwellenlänge, so wird es am
Gitter 223 und einem Winkel β0 abgelenkt; weicht es davon ab, so
wird es unter entsprechend anderen Winkeln z. B. β1 bzw. β2
abgelenkt. Nur im zweitgenannten Fall trifft das derart abgelenkte Licht
auf Gitterstrukturen 231 oder 232, die zur Einkopplung des Lichtes in
jeweils zugehörige planare Wellenleiter 233 bzw. 234 auf dem Substrat
202 gehören.
Die Dicke der zwischen den Substraten 201 und 202 befindlichen Abstands
schicht 10 sowie der Abstand zwischen den beiden Gittern 231 und 232 ist
so bemessen, daß Licht der Sollwellenlänge, welches am Gitter 223 unter
dem Winkel β0 ausgekoppelt wird auf einen "blinden Fleck" 230 des
Substrates 202 trifft und somit kein oder ein nur geringes optisches
Ausgangssignal in den Wellenleitern 233 oder 234 erzeugt.
An den stirnseitigen Ausgängen der Wellenleiter 233 bzw. 234 kann
mittels Fotodioden die Intensität der austretenden Strahlung gemessen
und damit bestimmt werden, wie gut die verwendete Lichtquelle, z. B. die
Laserdiode, den geforderten Wellenlängenbereich einhält, bzw. in welcher
Richtung sie davon abweicht. Aus den Ausgangssignalen der Fotodioden
läßt sich dann ein Regelsignal zur spektralen Stabilisierung der
Strahlungsquelle ableiten.
Claims (4)
1. Einrichtung zur Bestimmung der Wellenlänge optischer Strahlung
gekennzeichnet durch einen ersten planaren Wellenleiter (11; 222), in
welchen die optische Strahlung (6; 20) eingekoppelt wird, wobei der
Wellenleiter (11; 222) eine Gitterstruktur (12; 223) aufweist, mittels
welcher zumindest ein Teil der im Wellenleiter (11; 222) geführten
Strahlung aus der Ebene des Wellenleiters (11; 222) auskoppelbar ist,
sowie durch mindestens einen zweiten planaren Wellenleiter (21, 31, 41;
233, 234) , der parallel zum ersten angeordnet ist und mindestens eine
Gitterstruktur (22, 32, 42; 231, 232) zum Empfang der aus dem ersten
Wellenleiter (11; 222) ausgekoppelten Strahlung und Einkopplung der
Strahlung in den zweiten Wellenleiter (21, 21, 41; 233, 234) aufweist.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Gitterstrukturen (22, 32, 42; 231, 232) mehrerer zweiter planarer
Wellenleiter (21, 31, 41; 233, 234) in unterschiedlichen Strahlrich
tungen (α1, α2, α3; β1, β2) bzgl. der Gitterstruktur
(12; 223) des ersten planaren Wellenleiters (11; 222) angeordnet sind.
3. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß jeder zweite planare Wellenleiter (21, 31, 41; 233, 234) eine, einer
einzigen Wellenlänge zugeordnete Gitterstruktur (22, 32, 42; 231, 232)
aufweist.
4. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß in einer parallelen Ebene zum ersten planaren Wellen
leiter (222) zwei zweite planare Wellenleiter (233, 234) mit je einer
Gitterstruktur (231, 232) angeordnet sind, wobei die Gitterstrukturen
einen vorgegebenen Abstand und unterschiedliche Einkoppelwinkel (β1,
β2) aufweisen.
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DE4209672A Expired - Fee Related DE4209672C1 (en) | 1992-03-25 | 1992-03-25 | Wavelength measuring device for spectrometry - has sandwich structure of optical waveguides with diffraction gratings of differing constant giving spatial separation of components |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19904312C2 (de) * | 1998-01-29 | 2003-09-25 | Ando Electric | Wellenlängenmeßsystem |
DE102019123468B3 (de) * | 2019-09-02 | 2021-01-07 | Fisens Gmbh | Vorrichtung für optische Anwendungen |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3918726C1 (de) * | 1989-06-08 | 1991-01-10 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut, De |
-
1992
- 1992-03-25 DE DE4209672A patent/DE4209672C1/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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