DE4129259A1 - Einrichtung zur ermittlung der materialbeschaffenheit elektrisch leitfaehiger koerper - Google Patents

Einrichtung zur ermittlung der materialbeschaffenheit elektrisch leitfaehiger koerper

Info

Publication number
DE4129259A1
DE4129259A1 DE19914129259 DE4129259A DE4129259A1 DE 4129259 A1 DE4129259 A1 DE 4129259A1 DE 19914129259 DE19914129259 DE 19914129259 DE 4129259 A DE4129259 A DE 4129259A DE 4129259 A1 DE4129259 A1 DE 4129259A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
magnetic field
substrate
measuring device
resistive element
coil
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19914129259
Other languages
English (en)
Other versions
DE4129259C2 (de
Inventor
Bernd Schneider
Conrad Kauffeldt
Artur Dr Blueschke
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to DE19914129259 priority Critical patent/DE4129259C2/de
Publication of DE4129259A1 publication Critical patent/DE4129259A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE4129259C2 publication Critical patent/DE4129259C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/09Magnetoresistive devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/9013Arrangements for scanning
    • G01N27/902Arrangements for scanning by moving the sensors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/904Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents with two or more sensors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/12Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
    • G01R33/1215Measuring magnetisation; Particular magnetometers therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Ermittlung der Materialbeschaffenheit elektrisch leitfähiger Körper sowie wahl­ weise des Abstandes der Einrichtung zur Oberfläche der Körper nach dem Wirbelstromverfahren.
Bei Annäherung der Einrichtung an den elektrisch leitfähigen Körper erzeugt die senkrecht zur Oberfläche liegende Komponente des erzeugten Feldvektors Wirbelströme im leitenden Material, die dann selbst Quelle eines Wechselfeldes sind, welches das erregende Feld zum Teil kompensiert. Der summarische Feld wird registriert und in ein elektrisches Signal gewandelt. Beim Abtasten des Körpers machen sich mechanische Defekte oder Materialunterschiede durch Signalveränderungen (in Amplitude und Phase) bemerkbar, deren Art Rückschlüsse auf die Art und die Abmessungen der Veränderungen (u. a. Defekte) erlauben. Moderne Wirbelstromprüfgeräte dienen der Prüfung von Konstruktions­ elementen und Halbzeugen auf Fehler (u. a. Korrosionsprüfung, Rißprüfung, Bestimmung von Überhitzungsschäden und Material­ zusammensetzungen).
Bekannt sind entsprechende Sonden, die auf dem induktiven Prinzip (parametrische, transformatorische und Brückensonden) basieren. Dabei wird das resultierende Feld mittels Spulenanordnungen über die Ermittlung der Impedanzänderungen gemessen (E8-8S 2 75 255, E8- 8S 33 802).
Wegen der Induktionsableitung der Signale und der notwendigen hohen Empfindlichkeit muß eine hohe Arbeitsfrequenz gewählt werden. Das wiederum hat eine geringe Eindringtiefe und Tiefenauflösung zur Folge. Ein weiterer Nachteil ist die begrenzte örtliche Auflösung wegen der minimal möglichen Spulenabmessungen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Einrichtung zu schaffen, die auch bei niedrigen Arbeitsfrequenzen und damit bei hoher Tiefenauflösung die notwendige hohe Empfindlichkeit aufweist und deren örtliche Auflösung durch Verkleinerung des feldaufnehmenden Elementes erhöht wird.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß innerhalb des induzierten Magnetfeldes zur direkten Messung der Feldverteilung mindestens ein magnetoresistives Element angeordnet ist.
Zur Miniaturisierung weist in einer vorteilhaften Ausbildung der Erfindung die Einrichtung ein flächenförmiges Substrat auf, welches das als Dünnschichtelement ausgebildete magnetoresistive Element trägt. Das Magnetfelderregersystem ist dabei als Spule ausgebildet, welche das Substrat umgibt.
Das Dünnschichtsystem enthält ein oder mehrere in bekannter Weise hergestellte Elemente einer metallischen Schicht (z. B. Permalloy in Verbindung mit einer vormagnetisierenden Schicht und/oder Schirm), deren Widerstand sich unter dem Einfluß eines äußeren Magnetfeldes ändert, und die Leitungsstruktur, die die Verbindung der Elemente zu äußeren oder inneren (d. h. auf dem gleichen Substrat befindlichen) aktiven und passiven Bauelementen einer Signalverarbeitungselektronik herstellt.
Das Magnetfelderregersystem besteht aus einer Spule und der zuge­ hörigen Stromversorgung. Die Spule kann in verschiedenartiger Form aus Draht gewickelt werden oder durch Strukturierung einer Leitschicht (z. B. Gold) auf einem Substrat oder auch direkt auf dem Substrat des Sensors erzeugt werden. Die Spulenachse liegt vorzugsweise parallel zur schweren Achse der Magnetisierung des bzw. der magnetoresistiven Elemente (Tastsonden für die normale Feldkomponente der Prüflingsoberfläche) oder senkrecht auf der Elementfläche (Tastsonden für die tangentiale Komponente).
Damit das magnetoresistive Element möglichst dicht an den zu untersuchenden Körper gelangt, liegen in einer weiteren vorteilhaften Auskleidung der Erfindung die Stirnseite der Spule und die Kante des magnetoresistiven Elementes in einer Ebene und bilden die Aufsatzfläche der Einrichtung.
Durch die Nutzung des flußproportionalen magnetoresistiven Effektes gelingt es erstens, ein frequenzunabhängiges Meßsignal zu erzeugen und zweitens, die Frequenz als variablen Parameter zur Ermittlung der Defekttiefe verfügbar zu machen. Ein weiterer Vorteil bei der Nutzung des magnetoresistiven Effektes findet seinen Niederschlag in der hohen Empfindlichkeit der erfindungs­ gemäßen Einrichtung. Sie ist zum einen bedingt durch die hohe Empfindlichkeit des magnetoresistiven Elementes, zum anderen durch seine geometrische Gestalt, die es erlaubt, den feld­ empfindlichen Teil in unmittelbare Nähe zur Oberfläche des Prüflings zu bringen und ihn damit der für die Beschaffenheits­ prüfung maßgeblichen Feldkomponente optimal auszusetzen.
Aufgrund dieser Eigenschaften kann die Einrichtung mit einer sehr geringen Anregungsleistung (Anregungsfeldstärke) betrieben wer­ den, was die Miniaturisierung durch den Einsatz mikroelektro­ nischer und mikromechanischer Herstellungsverfahren ermöglicht und den mobilen Einsatz in batteriebetriebenen Geräten unter­ stützt.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und im folgenden näher beschrieben:
Es zeigen
Fig. 1 eine erfindungsgemäße Einrichtung auf dem Substrat mit einer umgebenden Spule
Fig. 2 eine Einrichtung mit mehreren magnetoresistiven Elementen in einer Zeile
Fig. 3 eine Einrichtung mit einer planaren Spulanordnung Fig. 4 eine Einrichtung mit einem Kernkreis als Magnetfeld­ erregersystem
Gemäß Fig. 1 befindet sich auf einem elektrisch nicht leitenden Substrat 1 ein mittels spezieller, bekannter Verfahren /1/ hergestelltes magne­ toresistives Element 2 mit entsprechenden Anschlußleitern 3, wobei durch geeignete Bearbeitung des Substrats gewährleistet ist, daß das magnetoresistive Element 2 möglichst nahe und parallel zur Substratkante liegt. Das Substrat trägt außerdem ein Magnetfelderregersystem als gewickelte Spule 5, die das magneto­ resistive Element umschließt. Die eine Stirnseite 6 der Spule und die Substratkante 4 liegen in einer Ebene und bilden die Aufsatz­ fläche der Sonde.
Die Einrichtung wird in der Weise betrieben, daß z. B. vermittels einer Spule, die mit einem Wechselstrom gespeist wird, Wirbel­ ströme im Prüfling 7 induziert werden, die ihrerseits ein Sekundärfeld ausbilden, daß sich dem Primärfeld überlagert. Das Signal des magnetoresistiven Elementes 2 wird in bekannter Weise nach Amplitude und Phase ausgewertet, und der aus beiden Größen gewonnene Meßwert wird in geeigneter Form zur Anzeige gebracht. Ein Gleichfeld zur Einstellung des Arbeitspunktes des magneto­ resistiven Elementes kann durch Einkopplung eines Gleichstromes in die Felderregerspule oder durch ein separates Element erzeugt werden.
Fig. 2 zeigt abweichend zu Fig. 1 eine Anordnung mit mehreren Elementen, die in einer Zeile 8 angeordnet sind. Die Anordnung erlaubt bei mehrkanaliger Signalauswertung eine genaue Lokalisierung des Fehlers, wobei die Auflösung in Längsrichtung der Zeile durch ihre Periode bestimmt ist.
Zusätzlich enthält die Anordnung mindestens ein weiteres magneto­ resistives Element 9, das in Differenzschaltung als Kompen­ sationselement zur Unterdrückung von Temperaturdriftfehlern und äußerer Störfelder eingesetzt wird. Desweiteren kann die Anord­ nung in ähnlicher Weise Elemente zur Lift-off-Kompensation erhalten.
Zusätzlich zum magnetoresistiven Signal kann auch die Impe­ danzänderung der Spule ausgewertet werden. Das gewonnene Signal kann als additive Komponente zur Vergrößerung des Grundsignals oder als separate Komponente zur Ableitung von Informationen über die großflächige Beschaffenheit des Prüflings genutzt werden.
Fig. 3 gibt eine planare Spulenanordnung wieder, die mit bekannten Ver­ fahren der Schichtstrukturierung hergestellt wird. Durch den ebenen Aufbau des magnetoresistiven Elementarrays (Elementfläche senkrecht zur Spulenachse) ist diese Einrichtung für die Aufnahme des Tangetialfeldes an der Oberfläche des Prüflings geeignet.
Fig. 4 zeigt eine Ausführung, in der als Magnetfelderregersystem ein Kernkreis 10 vergleichbar einem Magnetkopf verwendet wird. Das magnetoresistive Element ist im Spalt des Kernkreises angeordnet.

Claims (3)

1. Einrichtung zur Ermittlung der Materialbeschaffenheit elektrisch leitfähiger Körper sowie wahlweise des Abstandes der Einrichtung zur Oberfläche der Körper nach dem Wirbelstromverfahren mit einem Magnetfelderregersystem, dadurch gekennzeichnet, daß innerhalb des induzierten Magnetfeldes zur direkten Messung der Feldver­ teilung mindestens ein magnetoresistives Element 2 angeordnet ist.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung ein flächenförmiges Substrat 1 aufweist, welches das als Dünnschichtelement ausgebildete magnetoresistive Element 2 trägt und daß das Magnetfelderregersystem als Spule 5 ausgebildet ist, welche das Substrat 1 umgibt.
3. Einrichtung nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Stirnseite der Spule 5 und die Kante des magnetorestiven Elementes 2 in einer Ebene liegen und die Aufsetzfläche der Ein­ richtung bilden.
DE19914129259 1991-08-30 1991-08-30 Einrichtung zur Ermittlung der Materialbeschaffenheit elektrisch leitfähiger Körper Expired - Fee Related DE4129259C2 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19914129259 DE4129259C2 (de) 1991-08-30 1991-08-30 Einrichtung zur Ermittlung der Materialbeschaffenheit elektrisch leitfähiger Körper

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19914129259 DE4129259C2 (de) 1991-08-30 1991-08-30 Einrichtung zur Ermittlung der Materialbeschaffenheit elektrisch leitfähiger Körper

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE4129259A1 true DE4129259A1 (de) 1993-03-04
DE4129259C2 DE4129259C2 (de) 1995-06-22

Family

ID=6439754

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19914129259 Expired - Fee Related DE4129259C2 (de) 1991-08-30 1991-08-30 Einrichtung zur Ermittlung der Materialbeschaffenheit elektrisch leitfähiger Körper

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE4129259C2 (de)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19504307A1 (de) * 1995-02-09 1996-08-14 Siemens Ag Einrichtung zur Erfassung von Position und/oder Geschwindigkeit eines beweglichen Geräteteils
DE19523853A1 (de) * 1995-06-30 1997-01-02 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Abtasteinheit
FR2753281A1 (fr) * 1996-09-06 1998-03-13 Magsys Detecteur magnetique
WO2007095971A1 (en) * 2006-02-24 2007-08-30 Commissariat A L'energie Atomique Method and device for non destructive evaluation of defects in a metallic object

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3449664A (en) * 1966-05-16 1969-06-10 Bell Inc F W Magnetic reaction testing apparatus and method of testing utilizing semiconductor means for magnetic field sensing of an eddy-current-reaction magnetic field
DD263345A1 (de) * 1987-07-29 1988-12-28 Stadtilm Gelenkwellenwerk Anordnung zur beruehrungslosen messung der geometrischen groesse eines gegenstandes
DE3929452A1 (de) * 1989-09-05 1991-03-07 Asea Brown Boveri Strom-messeinrichtung

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3449664A (en) * 1966-05-16 1969-06-10 Bell Inc F W Magnetic reaction testing apparatus and method of testing utilizing semiconductor means for magnetic field sensing of an eddy-current-reaction magnetic field
DD263345A1 (de) * 1987-07-29 1988-12-28 Stadtilm Gelenkwellenwerk Anordnung zur beruehrungslosen messung der geometrischen groesse eines gegenstandes
DE3929452A1 (de) * 1989-09-05 1991-03-07 Asea Brown Boveri Strom-messeinrichtung

Non-Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Bd. 17, H. 10, 1965, S. 289-293 *
DE-Z.: ETZ-B *
internationaler Fach- kongress Berlin 10.-13. Sept. 1990, Tagungsband/ Organisation *
MICROSYSTEMS TECHNOLOGIES *
VDI/VDE-Technologie, Informations- technik GmbH - Berlin *

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19504307A1 (de) * 1995-02-09 1996-08-14 Siemens Ag Einrichtung zur Erfassung von Position und/oder Geschwindigkeit eines beweglichen Geräteteils
DE19523853A1 (de) * 1995-06-30 1997-01-02 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Abtasteinheit
DE19523853C2 (de) * 1995-06-30 2000-02-24 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Abtasteinheit
FR2753281A1 (fr) * 1996-09-06 1998-03-13 Magsys Detecteur magnetique
WO2007095971A1 (en) * 2006-02-24 2007-08-30 Commissariat A L'energie Atomique Method and device for non destructive evaluation of defects in a metallic object
US8063631B2 (en) 2006-02-24 2011-11-22 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Method and device for non destructive evaluation of defects in a metallic object

Also Published As

Publication number Publication date
DE4129259C2 (de) 1995-06-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1996928B1 (de) Anordnung und verfahren zur zerstörungsfreien prüfung von langgestreckten körpern sowie deren schweiss- und bondverbindungen
DE4026295C2 (de)
EP1723409B1 (de) Vorrichtung zur zerstörungsfreien erfassung von tiefen-defekten in elektrisch leitenden materialien
DE602004003681T2 (de) Messung der rest- und thermischverursachten belastung in einer schiene
DE19529630B4 (de) Elektromagnetisches Induktionsprüfgerät
DE1473696A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur statischen und dynamischen Materialpruefung mittels magnetischer Rueckkopplung
DE3022078A1 (de) Wirbelstrom-pruefgeraet
EP0175257A2 (de) Verfahren zur Strukturüberwachung durch Messen elektrischer Grössen und Vorrichtung sowie Messkopf zur Durchfürung der Verfahrens
DE4129259C2 (de) Einrichtung zur Ermittlung der Materialbeschaffenheit elektrisch leitfähiger Körper
EP0372112A1 (de) Verfahren und Einrichtung zur Messung mechanischer Eigenspannungen eines ferromagnetischen Körpers
DE4437436C2 (de) Vorrichtung zur zerstörungsfreien Materialprüfung
DE102008059032B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung ob eine Veränderung eines Substrats unter einer das Substrat bedeckenden Schicht vorliegt
DE7017823U (de) Geraet zur messung des ferritgehaltes mit einer pruefsonde.
DE19638776A1 (de) Verfahren zum zerstörungsfreien Prüfen eines Prüflings mit einer Schweißnaht aus magnetisierbarem Material
DE2641798A1 (de) Verfahren und einrichtung zum beruehrungslosen ermitteln physikalischer oder geometrischer eigenschaften
EP3146324A1 (de) Sensoranordnung zur wirbelstromprüfung von elektrisch leitfähigen messobjekten
DE102005041089B3 (de) Vorrichtung zum Erfassen von Wirbelströmen in einem elektrisch leitfähigen Prüfgegenstand
EP0677742B1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung der Prüfkopfabhebung bei der zerstörungsfreien Untersuchung von metallischen Werkstoffen mit elektromagnetischen Ultraschallwandlern
DE102017129150B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Dicke von nicht magnetisierbaren Schichten auf einem magnetisierbaren Grundwerkstoff
DE3032717A1 (de) Verfahren und feldspule zur messung der hysteresekurven von magnetischen werkstoffen
DE19846025C2 (de) Prüfvorrichtung für Material-Inhomogenitäten
AT289248B (de) Anordnung zur Messung der magnetischen Eigenschaften ferromagnetischer Werkstoffe
WO1994018575A1 (de) Horizontal-wirbelstromsensor
DE3234328C2 (de)
DE19954968C2 (de) Anordnung zur Bestimmung der Eigenschaften magnetoresistiver Prüflinge

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee