DE4109586A1 - Industrial insulation monitor for unearthed AC low voltage mains - has DC mains voltage with single pole DC voltage source connected in series to coupling resistance arranged between AC voltage mains and earth - Google Patents

Abstract

The insulation resistance values cna be determined by a comparator from a measurement voltage. The circuit arrangement has a first voltage divider, formed by the coupling resistance (R1) and the resistances (R2, R3) for producing a first measurement voltage (UM1). A second voltage divider is connected in parallel with the first voltage divider, and is formed from a series resistance (RV) and a measurement resistance (RM), for producing a second measurement voltage (UM2). The respective measurement voltages (UM1, UM2) are transmitted to an ADC of a microprocessor (ME) and from the respective measurement voltages and a reference voltage (UR) derived from a feed voltage (US), the insulation resistance values are determined by the microprocessor (ME). ADVANTAGE - Insulation defects are identified as faults in all circumstances and unreliable measurements due to very different voltage sizes are eliminated.

Description

Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zur Isola­ tionsüberwachung ungeerdeter ein- oder mehrphasiger Wechsel­ spannungsnetze und aus diesen gespeister Gleichspannungsnetze mit einer einpolig zwischen dem Wechselspannungsnetz und Erdpotential angeordneten Gleichspannungsquelle mit einem in Reihe geschalteten Ankoppelwiderstand, wobei die Isolations­ widerstandswerte mittels einer Vergleichereinrichtung aus einer Meßspannung ermittelbar sind.The invention relates to a circuit arrangement for Isola tion monitoring of unearthed single or multi-phase change voltage networks and DC voltage networks fed from these with a single pole between the AC network and Earth potential arranged with a DC voltage source in Series connected coupling resistor, the insulation resistance values using a comparator device a measuring voltage can be determined.

Eine derartig definierte Schaltungsanordnung ist aus der DE-PS-25 15 121 bekannt. Zur Messung des Isolationswiderstan­ des ist im Meßkreis eine ständig einwirkende Gleichspannungs­ quelle vorgesehen, mit der über ein Meßwiderstand im Falle von fehlerhaften Isolationswiderstandswerten innerhalb der zu überwachenden Wechselspannungsnetze entsprechende Spannungsver­ änderungen durch eine Vergleichereinrichtung feststellbar sind. Ein fehlerhafter Isolationswiderstandswert innerhalb des zu überwachenden Wechselspannungsnetzes, beispielsweise verursacht durch einen Erdschluß über einen Leiter des Wechselspannungsnetzes bzw. des Gleichspannungsnetzes, bewirkt eine Stromveränderung, die sich gegenüber den fehlerfreien Isolationswerten der Leiter als eine Spannungserhöhung am Meßwiderstand auswirkt. Tritt allerdings ein Erdschluß im aus dem Wechselspannungsnetz gespeisten Gleichspannungsnetz auf, also Erdschluß mit der Plus- oder Minusleitung der Gleichspan­ nung, so überlagert die Gleichspannungsquelle je nach Größe des Erdschlußwiderstandes die Gleichspannung ganz oder teil­ weise. Diese Überlagerungsvorgänge sind wegen der sehr unter­ schiedlichen Größen der Spannungswerte nur sehr ungenau zu erfassen. Such a defined circuit arrangement is from the DE-PS-25 15 121 known. For measuring the insulation resistance that is a constant DC voltage in the measuring circuit source provided with a measuring resistor in the case of faulty insulation resistance values within the monitoring AC voltage networks corresponding voltage ver Changes can be determined by a comparator device are. A faulty insulation resistance value within of the AC network to be monitored, for example caused by an earth fault over a conductor of the AC voltage network or the DC voltage network a current change that is different from the flawless Insulation values of the conductors as a voltage increase on the Measuring resistance affects. However, an earth fault occurs in the the DC voltage grid fed to the AC voltage grid, So earth fault with the positive or negative line of the DC chip voltage, the DC voltage source is superimposed depending on the size all or part of the earth fault resistance wise. These overlays are very under because of the different sizes of the voltage values only very imprecise to capture.  

Darüber hinaus können auch Fehlaussagen über die Isolations­ widerstandswerte entstehen, wenn der Ankoppelwiderstand defekt bzw. sein Wert gegen unendlich steigt. In diesem Zustand ist ein gegebenenfalls vorhandener Isolationsfehler im Netz - Wechselspannung oder Gleichspannung - nicht erkennbar.In addition, false statements about the insulation resistance values arise when the coupling resistor is defective or its value increases towards infinity. Is in this state a possible insulation fault in the network - AC voltage or DC voltage - not recognizable.

Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe besteht darin, eine Schaltungsanordnung zur Verwirklichung eines Meßprinzips anzu­ geben, bei dem durch Isolationsfehler auftretende Mängel unter allen Umständen als Fehler im Netz erkannt und darüber hinaus Meßunsicherheiten durch sehr unterschiedliche Spannungsgrößen weitestgehend eliminiert sind.The object underlying the invention is a Circuit arrangement to implement a measurement principle in the case of defects arising from insulation faults recognized in all circumstances as a fault in the network and beyond Measurement uncertainties due to very different voltage sizes are largely eliminated.

Erfindungsgemäß wird dies dadurch erreicht, daß die Schaltungs­ anordnung einen aus dem Ankoppelwiderstand und den Widerstän­ den gebildeten ersten Spannungsteiler zur Erzeugung einer ersten Meßspannung und einen dem ersten Spannungsteiler paral­ lel geschalteten, aus einem Vorwiderstand und einem Meßwider­ stand gebildeten, zweiten Spannungsteiler zur Erzeugung einer zweiten Meßspannung enthält, daß die jeweiligen Meßspannungen einem Analog/Digital-Wandler einer Mikroprozessoreinrichtung übertragbar sind, und daß aus den jeweiligen Meßspannungen und einer aus einer Speisespannung abgeleiteten Referenzspannung die Isolationswiderstandswerte von der Mikroprozessoreinrichtung ermittelbar sind.According to the invention this is achieved in that the circuit arrange one from the coupling resistor and the resistors the first voltage divider formed to generate a first measuring voltage and one parallel to the first voltage divider lel switched, from a series resistor and a measuring resistor stood formed, second voltage divider to generate a second measuring voltage contains that the respective measuring voltages an analog / digital converter of a microprocessor device are transferable, and that from the respective measuring voltages and a reference voltage derived from a supply voltage the insulation resistance values from the Microprocessor device can be determined.

Mit dem Vorsehen von zwei Spannungsteilern innerhalb des Meßkreises können sämtliche nur denkbare Fehlerfälle auch als Fehler ermittelt werden, unabhängig davon, ob ein Isolations­ fehler im Gleichspannungs- oder im Wechselspannungsnetz auf­ tritt, oder die im Meßkreis liegenden Widerstände - Ankoppel­ widerstand, Vorwiderstand - defekt sind. Das bedeutet, daß sowohl die Widerstände als auch die jeweiligen Meßspannungen praktisch selbsttätig überwacht sind, so daß beispielsweise durch Entfernen des Ankoppelwiderstandes und dem damit verbundenen Erreichen des Widerstandswertes unendlich statt einer Nichtbewertung durch Einwirken der Gleichspannungs­ quelle auf die Mikroprozessoreinrichtung der sog. Kurzschluß­ fall signalisiert werden kann.With the provision of two voltage dividers within the Measuring circuit can also be used as all conceivable errors Errors are determined regardless of whether an insulation errors in the DC or AC network occurs, or the resistances in the measuring circuit - coupling resistance, series resistor - are defective. It means that both the resistances and the respective measuring voltages are monitored practically automatically, so that for example by removing the coupling resistor and so on connected reaching the resistance value instead of infinite a non-assessment by the action of the DC voltage source on the microprocessor device the so-called short circuit  case can be signaled.

Mit der zur Ermittlung der Isolationswiderstandswerte heran­ gezogenen Referenzspannung, die ebenfalls durch einen ent­ sprechend definierten Spannungsteiler aus der vom Wechselspan­ nungsnetz gespeisten Speisespannung gebildet ist, läßt sich darüber hinaus die Temperaturabhängigkeit der Meßwerte voll­ ständig eliminieren, da die Meßspannungen und die Referenzspan­ nung den gleichen Störbeeinflussungen ausgesetzt sind.Use the to determine the insulation resistance values drawn reference voltage, which is also by an ent accordingly defined voltage divider from the one of the alternating chip supply voltage is formed, can in addition, the temperature dependence of the measured values is full Eliminate constantly because the measuring voltages and the reference voltage are exposed to the same interference.

Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, daß der Meßwiderstand durch einen Meßbereichsum­ schalter veränderbar ist, so daß ein universeller Gebrauch dieser Schaltungsanordnung im gesamten Meßspannungsbereich gewährleistet ist.According to an advantageous embodiment of the invention provided that the measuring resistor by a measuring range switch is changeable, so that universal use this circuit arrangement in the entire measuring voltage range is guaranteed.

Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, daß die Gleichspannungsquelle durch Kurzschluß über­ brückbar ist. Mit dieser Maßnahme ist in einfacher Weise festzustellen, ob trotz des Kurzschließens der Gleichspan­ nungsquelle noch ein Gleichstrom über den Meßwiderstand fließt und gegebenenfalls welche Polarität die sich dementsprechend am Meßwiderstand einstellende Meßspannung aufweist. Mit diesem Meßvorgang sind die Isolationswiderstände der Leitungen der Gleichspannungsnetze erfaßt, ohne daß diese beim Meßvorgang durch die Gleichspannungsqelle überlagert werden.A further advantageous embodiment of the invention provides before that the DC voltage source by short circuit over can be bridged. This measure is simple determine whether, despite short-circuiting the DC voltage source still a direct current flows across the measuring resistor and where appropriate, which polarity accordingly measuring voltage at the measuring resistor. With this Measuring process are the insulation resistances of the lines of the DC voltage networks detected without this during the measuring process are superimposed by the DC voltage source.

Die Meßumschaltung und die Überbrückung der Gleichspannungs­ quelle erfolgen gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestal­ tung der Erfindung durch Steuerbefehle der Mikroprozessor­ einrichtung, die sich aus den durchzuführenden Meßfolgen anhand der sich einstellenden Betriebszustände ergeben.The measurement switchover and the bridging of the DC voltage Source take place according to a further advantageous embodiment device of the invention by control commands of the microprocessor device resulting from the measurement sequences to be carried out based on the operating conditions that arise.

Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, die von der Mikroprozessoreinrichtung ermittelten Isola­ tionswiderstandswerte durch eine Anzeigeeinrichtung numerisch anzuzeigen und bei Unterschreitung eines einstellbaren Grenz­ wertes durch ein zusätzliches Signal zu markieren. Mit dieser Maßnahme kann auf besonders gravierende Fehler, insbesondere bei Unterschreitung von kritischen Grenzwerten, schnell reagiert und durch entsprechende Abschaltvorgänge um Abhilfe gesorgt werden.A further advantageous embodiment of the invention provides before, the Isola determined by the microprocessor device tion resistance values numerically by a display device display and if the value falls below an adjustable limit  to mark values with an additional signal. With this Measure can be particularly serious errors, in particular if critical limits are undershot, quickly reacts and by appropriate shutdowns for remedial action be taken care of.

Die Ausgestaltung der Mikroprozessoreinrichtung mit einer Fernanzeige ist gemäß einer zusätzlichen vorteilhaften Aus­ gestaltung der Erfindung vorgesehen, um ein den ermittelten Isolationswiderstandswert proportionales Signal zur Ansteuerung eines Analoganzeigegerätes zu übertragen.The design of the microprocessor device with a Remote display is off according to an additional advantageous Design of the invention provided to the determined Insulation resistance value proportional signal for Control of an analog display device to transmit.

Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung sieht vor, daß die Netzparameter, wie Netzart, Nennspannung, Isolationswiderstand und die Geräte­ parameter, wie Referenzspannung, Prüfspannung, Innenwiderstand der Meßanordnung, durch eine Permanent-Speichereinrichtung speicherbar sind. Damit können die Toleranzen der in der Meßanordnung verwendeten Bauelemente weitestgehend vernach­ lässigt werden, da die Netzparameter und die Geräteparameter mit ihren tatsächlich vorhandenen Ist-Werten erfaßt und zur Berechnung der jeweiligen Isolationswiderstände in den einzelnen Meßphasen stets herangezogen werden können.Another advantageous embodiment of the invention Circuit arrangement provides that the network parameters, such as Type of network, nominal voltage, insulation resistance and the devices parameters such as reference voltage, test voltage, internal resistance the measuring arrangement, by a permanent storage device are storable. This allows the tolerances in the Measuring arrangement used components as far as possible be relaxed because the network parameters and the device parameters recorded with their actually existing actual values and for Calculation of the respective insulation resistances in the individual measurement phases can always be used.

In diesem Zusammenhang sind als weitere vorteilhafte Ausge­ staltungen der Erfindung vorgesehen, daß mit der Gleich­ spannungsquelle in Reihe mit einem zwei unterschiedliche Werte annehmenden Prüfwiderstand die Geräteparameter als Eichmaß vorgebbar sind und daß das Eichmaß vor jeder Messung durch eine Ist-Vergleichsmessung überprüfbar ist.In this context, as a further advantageous Ausge Events of the invention provided that with the same voltage source in series with a two different values assuming test resistance the device parameters as a calibration measure are specifiable and that the calibration measure before each measurement an actual comparison measurement can be checked.

Zur Fernüberwachung und Fernsteuerung dieser Netze kann die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung zusätzlich noch mit einer UART-Schnittstelle ausgestattet sein, so daß sowohl die Messung selbst als auch die dazu notwendigen Steuervorgänge von übergeordneten Schaltwerten veranlaßt werden können. For remote monitoring and remote control of these networks, the Circuit arrangement according to the invention additionally with a UART interface, so that both the Measurement itself as well as the necessary control processes can be caused by higher switching values.  

Um die ständige Funktionsfähigkeit der Schaltungsanordnung, insbesondere vor jeder Messung, sicherzustellen, ist gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung vorgesehen, einen - hochohmigen mit Erdpotential verbundenen - Prüfwiderstand bekannter Größe an einen Leiter des Wechsel­ spannungsnetzes mittels der Mikroprozessoreinrichtung anzu­ schalten. Fließt der dem Prüfwiderstand entsprechende Strom, so können keine Stromkreisuntersuchungsergebnisse innerhalb der Meßanordnung vorliegen, die fälschlicherweise korrekte Isolationswiderstände angeben.To ensure the permanent functionality of the circuit arrangement, especially before each measurement, is to be ensured according to a further advantageous embodiment of the invention provided a - high-resistance connected to earth potential - Test resistor of known size to a conductor of the change voltage network using the microprocessor device switch. If the current corresponding to the test resistor flows, so no circuit test results inside the measuring arrangement is present, which is incorrectly correct Specify insulation resistances.

Die Erfindung wird in einem durch zwei Figuren dargestellten Ausführungsbeispiel näher erläutert, wobei die Fig. 1 den prinzipiellen Schaltungsaufbau erkennen läßt, während die Fig. 2 nähere Einzelheiten der Meßkreise und deren Ver­ knüpfung untereinander zeigt.The invention is explained in more detail in an embodiment represented by two figures, with FIG. 1 showing the basic circuit structure, while FIG. 2 shows more details of the measuring circuits and their linkage to one another.

In der Fig. 1 ist das mehrphasige Wechselspannungsnetz NSP mit den Leitungen L1 bis L3 dargestellt, das ohne einen Schutzleiter ausgestattet ist. Die Leiter L1 bis L3 sind in bekannter Weise mit den nicht näher bezeichneten Gleichrich­ tern verbunden, die die Gleichspannung US erzeugen. Weiter­ hin ist angedeutet, daß die Leitung L1 mit der Meßschaltung MS in Verbindung steht, und daß die Meßschaltung MS mit der ein­ polig an Erde angeschalteten Gleichspannungsquelle UZ eine Reihenschaltung bildet. Die Meßschaltung MS ist mit ihrem Ausgang, an dem sich die Meßspannung UM einstellt, mit dem Analog/Digital-Wandler AD verbunden, um die Meßspannung UM als Digitalwert der Mikroprozessoreinrichtung ME zuzuführen. Die Mikroprozessoreinrichtung ME ist u. a. mit der Anzeigeein­ richtung AZ ausgestattet, auf der die mit der Meßschaltung ermittelten Isolationswiderstandswerte zur Anzeige gebracht werden. Des weiteren ist angedeutet, daß die Gleichspannungs­ quelle UZ unter dem Steuereinfluß der Mikroprozessoreinrich­ tung ME steht, mit der der Kurzschluß K innerhalb eines Meßvorganges gesteuert wird. Weiterhin sind mit den unter­ brochenen Linien bestimmte Fehlerzustände innerhalb der zu überwachenden Wechselspannungs- und Gleichspannungsnetze ange­ deutet, wobei mit dem Fehlerwiderstand RF1 Erdschlüsse auf den Leitungen L1 bis L3 des Wechselspannungsnetzes NSP gemeint sind, während die Fehlerwiderstände RF2 und RF3 den Erdschlüs­ se an der Plus- und Minusleitung der Gleichspannungs UB entsprechen.In FIG. 1, the multi-phase alternating voltage network NSP is shown connected to the lines L 1 to L 3, which is not equipped with a protective conductor. The conductors L 1 to L 3 are connected in a known manner with the rectifier unspecified, which generate the DC voltage US. Furthermore, it is indicated that the line L 1 is connected to the measuring circuit MS, and that the measuring circuit MS forms a series circuit with the DC voltage source UZ connected to ground. The measuring circuit MS is connected with its output, at which the measuring voltage UM is established, to the analog / digital converter AD in order to supply the measuring voltage UM as a digital value to the microprocessor device ME. The microprocessor device ME is equipped, inter alia, with the display device AZ, on which the insulation resistance values determined with the measuring circuit are displayed. Furthermore, it is indicated that the DC voltage source UZ is under the control of the microprocessor device ME, with which the short circuit K is controlled within a measuring process. Furthermore, the broken lines indicate certain error states within the AC and DC voltage networks to be monitored, whereby the fault resistor RF1 means earth faults on the lines L 1 to L 3 of the AC voltage network NSP, while the fault resistors RF2 and RF3 indicate the earth faults the plus and minus line of the DC voltage UB correspond.

Die Fig. 2 läßt nähere Einzelheiten der Meßschaltung erkennen, wobei lediglich die zum Verständnis wichtigsten Schaltmittel dargestellt sind. Die Meßschaltung zeigt den an die Leitung L . . . des Wechselspannungsnetzes angeschalteten Ankoppelwiderstand R1, der mit den Widerständen R2 und R3 den ersten Spannungsteiler zur Erzeugung der ersten Meßspannung UM1 bildet. Weiterhin ist in der Meßschaltung der Vorwider­ stand RV ebenfalls mit der Leitung L . . . des Wechselspannungs­ netzes verbunden, und bildet mit dem Meßwiderstand RM den zweiten Spannungsteiler zur Erzeugung der zweiten Meßspannung UM2. Parallel zu den Widerständen R2, R3 ist in Reihe mit dem Ankoppelwiderstand R1 die Gleichspannungsquelle UZ mit dem nicht näher bezeichneten Begrenzungswiderstand geschaltet, wobei der Minuspol der Gleichspannungsquelle UZ auf das Erd­ potential bezogen den gemeinsamen Anschluß der beiden Span­ nungsteiler bildet. Weiterhin ist ersichtlich, daß die erste Meßspannung UM1 und die zweite Meßspannung UM2 dem Analog/Digi­ tal-Wandler AD übertragen werden, der die Werte dieser beiden Meßspannungen UM1, UM2 in bekannter Weise in Digitalwerte um­ wandelt und zur Weiterverarbeitung der Mikroprozessoreinrich­ tung überträgt. Des weiteren ist ersichtlich, daß der Analog/ Digital-Wandler AD durch die Speisespannung US versorgt wird und die Referenzspannung UR durch einen nicht näher bezeich­ neten Spannungsteiler erzeugt wird, wobei die Speisespannung US mit ihrem Minusanschluß ebenfalls mit dem Erdpotential verbunden ist. FIG. 2 reveals further details of the measuring circuit, only the switching means that are most important for understanding being shown. The measuring circuit shows the line L. . . of the AC voltage connected coupling resistor R1, which forms the first voltage divider with the resistors R2 and R3 for generating the first measuring voltage UM1. Furthermore, the series resistor RV was also in the measuring circuit with line L. . . of the AC voltage network, and forms with the measuring resistor RM, the second voltage divider for generating the second measuring voltage UM2. Parallel to the resistors R2, R3, the DC voltage source UZ is connected in series with the coupling resistor R1 with the limiting resistor, which is not described in greater detail, the negative pole of the DC voltage source UZ forming the common connection of the two voltage dividers to the earth potential. It can also be seen that the first measuring voltage UM1 and the second measuring voltage UM2 are transmitted to the analog / digital converter AD, which converts the values of these two measuring voltages UM1, UM2 into digital values in a known manner and transmits them for further processing of the microprocessor device. Furthermore, it can be seen that the analog / digital converter AD is supplied by the supply voltage US and the reference voltage UR is generated by a voltage divider, the supply voltage US is also connected to the ground potential with its negative connection.

Der Meßwiderstand RM kann mit dem Meßbereichsumschalter U durch Parallelschalten eines nicht bezeichneten weiteren Widerstandes verändert werden. Mit der unterbrochenen Linie ist angedeutet, daß zwischen der Leitung L . . . und dem Erd­ potential der Prüfwiderstand RF wahlweise zuschaltbar ist, um damit die Prüffunktionsfähigkeit der Meßschaltung im Bedarfs­ falle zu überprüfen bzw. die Eichung der Meßschaltung - und damit die Festlegung der Meßgeräteparameter - festzulegen.The measuring resistor RM can with the range switch U by connecting another, not designated, in parallel  Resistance can be changed. With the broken line is indicated that between the line L. . . and the earth potential the test resistor RF can be optionally switched to thus the test functionality of the measuring circuit when required trap to check or the calibration of the measuring circuit - and thus the determination of the measuring device parameters.

Claims (11)

1. Schaltungsanordnung zur Isolationsüberwachung ungeerdeter ein- oder mehrphasiger Wechselspannungsnetze und aus diesen gespeister Gleichspannungsnetze mit einer einpolig zwischen dem Wechselspannungsnetz und Erdpotential angeordneten Gleich­ spannungsquelle mit einem in Reihe geschalteten Ankoppelwider­ stand, wobei die Isolationswiderstandswerte mittels einer Vergleichereinrichtung aus einer Meßspannung ermittelbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Schaltungsanordnung einen aus dem Ankoppelwiderstand (R1) und den Widerständen (R2 und R3) gebildeten ersten Spannungsteiler zur Erzeugung einer ersten Meßspannung (UM1) und einen dem ersten Spannungsteiler parallel geschalteten, aus einem Vorwiderstand (RV) und einem Meßwiderstand (RM) gebildeten, zweiten Spannungsteiler zur Erzeugung einer zweiten Meßspan­ nung (UM2) enthält, daß die jeweiligen Meßspannungen (UM1, UM2) einem Analog/Digital-Wandler (A/D) einer Mikroprozessor­ einrichtung (ME) übertragbar sind, und daß aus den jeweiligen Meßspannungen (UM1, UM2) und einer aus einer Speisespannung (US) abgeleiteten Referenzspannung (UR) die Isolationswider­ standswerte von der Mikroprozessoreinrichtung (ME) ermittelbar sind.1. A circuit arrangement for insulation monitoring of unearthed single-phase or multi-phase AC voltage networks and DC voltage networks fed from them with a single-pole DC voltage source arranged between the AC voltage network and ground potential with a series-connected coupling resistor, the insulation resistance values being able to be determined from a measuring voltage by means of a comparator device, characterized in that that the circuit arrangement has a first voltage divider formed from the coupling resistor (R1) and the resistors (R2 and R3) for generating a first measuring voltage (UM1) and a parallel connected to the first voltage divider, formed from a series resistor (RV) and a measuring resistor (RM) , Second voltage divider for generating a second measuring voltage (UM2) contains that the respective measuring voltages (UM1, UM2) an analog / digital converter (A / D) of a microprocessor device (ME) are transferable, and that from the respective measuring voltages (UM1, UM2) and a reference voltage (UR) derived from a supply voltage (US), the insulation resistance values can be determined by the microprocessor device (ME). 2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Meßwiderstand (RM) durch einen Meßbereichsumschalter (U) veränderbar ist.2. Circuit arrangement according to claim 1, characterized in that the Measuring resistor (RM) through a measuring range switch (U) is changeable. 3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Gleichsspannungsquelle (UZ) durch Kurzschluß (K) überbrückbar ist. 3. Circuit arrangement according to claim 1, characterized in that the DC voltage source (UZ) can be bridged by short circuit (K) is.   4. Schaltungsanordnung nach den Ansprüchen 2 und 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Meßbereichsumschalter (U) und der Kurzschluß (K) durch netzzustandsabhängige Steuerbefehle der Mikroprozessor­ einrichtung (ME) schaltbar sind.4. Circuit arrangement according to claims 2 and 3, characterized in that the Measuring range switch (U) and the short circuit (K) through network-dependent control commands from the microprocessor device (ME) are switchable. 5. Schaltungsanordnung nach den Ansprüchen 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die von der Mikroprozessoreinrichtung (ME) ermittelten Isolations­ widerstandswerte durch eine Anzeigeeinrichtung (A2) numerisch angezeigt und bei Unterschreitung eines einstellbaren Grenzwertes durch ein zusätzliches Signal markiert sind.5. Circuit arrangement according to claims 1 to 4, characterized in that the insulation resistance values determined by the microprocessor device (ME) are numerically displayed by a display device (A 2 ) and are marked by an additional signal when the value falls below an adjustable limit. 6. Schaltungsanordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Mikroprozessoreinrichtung (ME) einen Signalausgang zur Fern­ anzeige aufweist, der ein dem ermittelten Isolationswider­ standswert proportionales pulsdauermoduliertes Signal zur Ansteuerung eines Analoganzeigegerätes überträgt.6. Circuit arrangement according to claim 5, characterized in that the Microprocessor device (ME) a signal output for remote display that has an insulation resistance determined value proportional pulse duration modulated signal for Control of an analog display device transmits. 7. Schaltungsanordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Netz­ parameter, wie Netzart, Nennspannung, Isolationswiderstand und die Geräteparameter, wie Referenzspannung, Prüfspannung, Innen­ widerstand der Meßanordnung, durch eine Permanent-Speicher­ einrichtung speicherbar sind.7. Circuit arrangement according to claim 5, characterized in that the network parameters such as type of network, nominal voltage, insulation resistance and the device parameters, such as reference voltage, test voltage, inside resisted the measuring arrangement, through a permanent memory are storable. 8. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß mit der Gleichspannungsquelle (UZ) in Reihe mit einem zwei unterschied­ liche Werte annehmenden bekannten Fehlerwiderstand (RF) die Geräteparameter als Eichmaß vorgebbar sind.8. Circuit arrangement according to claim 7, characterized in that with the DC voltage source (UZ) in series with a two difference known error resistance (RF) assuming values Device parameters can be specified as a calibration dimension. 9. Schaltungsanordnung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß das Eichmaß vor jeder Messung durch eine Ist-Vergleichsmessung überprüfbar ist. 9. Circuit arrangement according to claim 8, characterized characterized that the gauge before each Measurement can be checked by an actual comparison measurement.   10. Schaltungsanordnung nach einem der vorangegangenen Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Schaltungsanordnung mit einer UART-Schnittstelle zur Fern­ überwachung der Stromnetze ausgestattet ist.10. Circuit arrangement according to one of the preceding Claims 1 to 9, characterized in that the Circuit arrangement with a UART interface for remote Monitoring of the power grids is equipped. 11. Schaltungsanordnung nach einem der vorangegangenen Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß im Betriebszustand durch einen von der Mikroprozessoreinrichtung (ME) wirksam schaltbaren Prüfwiderstand (RF) bekannter Größe die Schaltungsanordnung ständig auf ihre Funktionsfähigkeit überprüfbar ist.11. Circuit arrangement according to one of the preceding Claims 1 to 10, characterized in that in Operating state by one of the microprocessor device (ME) effectively switchable test resistor (RF) of known size the circuit arrangement constantly on its functionality is verifiable.