DE4025073C2 - Verfahren zum Prüfen von zwei oder mehr Münzen unterschiedlichen Wertes - Google Patents
Verfahren zum Prüfen von zwei oder mehr Münzen unterschiedlichen WertesInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Prüfen
von zwei oder mehr Münzen unterschiedlichen Wertes nach
dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Aus der EP 0 164 110 ist bekannt, in einem Münzprüfgerät
mehrere Sensoren, vorzugsweise induktive Sensoren, ein
zusetzen und die von den Sensoren erzeugten analogen Aus
gangssignale mit Hilfe eines A/D-Wandlers in digitale
Signale umzuwandeln. Die digitalen Signale werden einem
Mikroprozessor zugeführt, der sie mit in einem program
mierbaren Speicherbereich gespeicherten Referenzsignalen
vergleicht und ein Echtheitssignal erzeugt, wenn Prüf- und
Referenzsignal eine vorgegebene Beziehung zueinander haben.
Bei dem bekannten Münzprüfgerät können mehrere Münzwerte
angenommen werden, wobei mehrere Sensoren für eine Prüfung
auf unterschiedliche Kriterien vorgesehen sind, welche die
Echtheitsprüfung genauer machen. Sensoren zur Messung
physikalischer Größen einer Münze unterliegen über einen
Temperaturbereich einer sogenannten Drift. Diese Drift
ergibt sich aus dem Temperaturverhalten der elektronischen
und mechanischen Bauteile. Aus der genannten Schrift ist
ferner bekannt, einen einzigen Temperatursensor vorzusehen
und die digitalisierten Werte der Ausgangssignale des Tem
peratursensors dazu zu verwenden, Korrekturdaten für die
Ausgangssignale der Sensoren zu erzeugen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
zum Prüfen von zwei oder mehr Münzen unterschiedlichen
Wertes in einer mindestens einen Sensor enthaltenden Prüf
vorrichtung anzugeben, bei dem auf einfache Weise eine
münzenabhängige Temperaturkompensation vorgenommen werden
kann.
Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Patentanspruchs
1 gelöst.
Es wurde festgestellt, daß das Temperaturverhalten eines
Sensors nicht nur von seiner eigenen Beschaffenheit ab
hängt, sondern auch von der Beschaffenheit der zu prüfen
den Münze, insbesondere ihres Werkstoffs, Werkstoffvertei
lung usw. Je nachdem, ob die Münze eine Eisenscheibe, eine
Kupfernickelscheibe, eine Kupferscheibe oder dergleichen
ist, fällt die Drift bei verschiedenen Temperaturen unter
schiedlich aus.
Bei der Erfindung wurde erkannt, daß zu jedem Münzwert und
Sensor (Münzwert-Sensor-Kombination) eine spezifische
Kompensationskurve existiert. Bei einem gegebenen elektro
nischen Münzprüfer kann sie durch Labormessung ermittelt
werden. Daher sieht das erfindungsgemäße Verfahren vor,
daß für Münzwert-Sensor-Kombinationen Reihen von tempera
turabhängigen Kompensationswerten gespeichert werden und
vor dem Vergleich die Referenzwerte oder das Prüfsignal
mit demjenigen Kompensationswert modifiziert werden, der
nach der Temperatur aus der dem Münz- bzw. Referenzwert
zugeordneten Kompensationswertreihe ausgewählt wurde.
Theoretisch ist denkbar, die komplette Kompensationskurve
zu speichern; für den praktischen Anwendungsfall reicht es
aus, einzelne Kompensationswerte zu speichern, die be
stimmten Temperaturen bzw. Temperaturbereichen entsprechen.
Bei der Fertigung werden dann in die jeweiligen Münzprüfer
die zugehörigen Kompensationswertreihen, zum Beispiel über
ein externes Programmiergerät (PC), eingespeichert.
Theoretisch könnte für jede Münzwert-Sensor-Kombination
eine Kompensationswertreihe erforderlich sein. In der
Praxis gleichen sich manche Kurven für bestimmte Kombina
tionen, so daß für mehrere Vergleichsvorgänge auf dieselbe
Kurve zurückgegriffen werden kann. Für manche Kombinatio
nen ist wiederum eine Kompensation unter Umständen gar
nicht erforderlich.
Das erfindungsgemäße Verfahren ist mit einigen Vorteilen
verbunden. Zum einen ermöglicht es für beliebige Münzwert
sensorkombinationen, eine individuelle Temperaturkompensa
tion vorzunehmen. Dadurch läßt sich auch eine feinere
Münzwertmessung vornehmen, weil zum Beispiel bei einem so
genannten Referenzfenster dessen Breite kleiner gemacht
werden kann.
Ein baulicher Aufwand ist für die erfindungsgemäße Tempe
raturkompensation nicht erforderlich. Die Einstellung des
elektronischen Münzprüfers in der Fertigung zu Kompensa
tionszwecken ist äußerst einfach. Mit Hilfe einer ohnehin
zu verwendenden Programmiereinheit können die notwendigen
Werte eingespeichert werden, wobei zuvor durch Labormes
sungen das Temperaturverhalten des Münzprüfers für die
unterschiedlichen anzunehmenden Münzen ermittelt werden
kann.
Je nach Land muß ein Münzprüfer unterschiedliche Münzen
akzeptieren. Diesem kann durch entsprechende Einprogram
mierung der Referenzwerte Rechnung getragen werden. Damit
insoweit auch die erfindungsgemäße Temperaturkompensation
Berücksichtigung findet, können in den zuständigen Spei
cherbereichen auch Kompensationswertreihen gespeichert
werden für Münzwerte, die im jeweiligen Einsatzfall nicht
angenommen werden sollen. Beispielsweise ist es möglich,
für eine Anzahl von Ländern mit unterschiedlichen Münzen
die Kompensationswertreihen einzuspeichern und je nach
Einsatzland die anwendbaren zu aktivieren. Ein zusätzli
cher Aufwand bei der Programmierung der Münzprüfer ent
steht dadurch nicht. Es ist lediglich erforderlich, durch
Labormessungen zuvor für sämtliche zu berücksichtigenden
Münzwerte die Kompensationswertreihen zu ermitteln.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den
Unteransprüchen angegeben.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand von Zeichnungen
näher erläutert.
Fig. 1 zeigt ein Blockschaltbild für einen Münzprüfer zur
Durchführung des Verfahrens nach der Erfindung.
Fig. 2 zeigt verschiedene Kompensationskurven.
Fig. 3 zeigt eine einzelne Kompensationskurve.
Fig. 4 zeigt eine Matrix für die Zuordnung von Münzwerten
zu Münzsensoren zur Durchführung des Verfahrens
nach der Erfindung.
Fig. 5 zeigt eine Matrix für die Zuordnung von Münzwerten
zu Münzimpulsausgängen, Sortiermagnetausgängen und
Münzsperreingängen zur Durchführung des Verfahrens
nach der Erfindung.
Fig. 6 zeigt schematisch einen Münzprüfer mit einzelnen
Sensoren und zugehörigen Prüfsignalverlaufskurven
zur Erläuterung des Verfahrens nach der Erfindung.
Fig. 7 zeigt einen Programmablaufplan für das Verfahren
nach der Erfindung.
Ein elektronischer Münzprüfer 10 gemäß Fig. 1 weist eine
Prüfstrecke 12 auf, entlang der Münzen, wie die Münze 14
laufen können. Der Prüfstrecke 12 sind Sensoren 16 1 bis n
zugeordnet. Sie können von herkömmlichem Aufbau sein und
induktiv, optisch, kapazitiv und dergleichen arbeiten. Die
Sensoren 16 sind über einen Multiplexer 18 an einen Mikro
prozessor 20 angeschlossen, wobei der Multiplexer 18 auch
Bestandteil des Prozessors 10 sein kann. Ein Temperatur
sensor 22 ist ebenfalls über den Multiplexer 18 an den
Mikroprozessor 20 angeschlossen. Die Daten der Sensoren 16
und des Temperatursensors 22 sind Analogdaten, die im Pro
zessor mittels eines Analog-Digitalwandlers in Binärdaten
umgewandelt werden.
Der Mikroprozessor enthält eine Reihe von Funktionsein
heiten, auch von vorzugsweise programmierbaren Speicherbe
reichen. So ist etwa für jeden zu prüfenden Münzwert je
Sensor mindestens ein Referenzwert einzuspeichern, mit dem
die von den Sensoren 16 erzeugten Prüfsignale zu verglei
chen sind. Vorzugsweise werden zwei Referenzwerte je Sensor
und Münzwert vorgesehen zur Erstellung eines sogenannten
Referenzfensters, in das das Prüfsignal fallen muß, damit
im Hinblick auf den spezifischen Sensor und den Münzwert
eine Annahme bzw. die Erzeugung eines Echtheitssignals
erfolgen kann.
Wird beim Durchlauf eines Münzwertes die Echtheit der
Münze festgestellt, wird ein entsprechender Ausgangsimpuls
für die Ausgänge 22a im Mikroprozessor 20 erzeugt, wobei
die Ausgänge 1 bis n jeweils einzelnen Münzwerten oder
Münzkanälen zugeordnet sind. Außerdem sind drei Ausgänge
24 für Sortiermagneten G1 bis G3 vorgesehen. Mit 28 sind
Sperreingänge 1 bis n bezeichnet, über die beispielsweise
Sperrdaten in den Mikroprozessor 20 eingegeben werden, die
bestimmen, ob die Ausgabe eines Echtheitsimpulses über die
Ausgänge 22 stattfinden soll. Mit Y ist ein weiterer Ein
gang bezeichnet, der eine Eingangsfunktion darstellen kann.
Mit X ist eine Ausgabefunktion des Mikroprozessors 20 be
zeichnet.
Mit dem Mikroprozessor 20 ist eine Programmiereinheit 30
verbunden. Über die Programmiereinheit (PC) können alle
variablen Daten in den Mikroprozessor transferiert und so
mit programmiert werden.
Das analoge Ausgangssignal eines Sensors ist temperatur
abhängig. Diese Temperaturabhängigkeit ist jedoch auch
abhängig von der jeweils geprüften Münze. Für jede Sensor-
Münzwertkombination existiert mithin ein charakteristi
scher Zusammenhang mit der Temperatur. Dieser ist in Fig.
2 dargestellt. Auf der Y-Achse ist die Temperatur von 0
bis 60°C dargestellt. Dieser Temperaturbereich ist in
sechs Bereiche von 0 bis 5 aufgeteilt. In Fig. 2 sind 0
bis n Kurven dargestellt, wobei n größer, gleich oder
kleiner sein kann als die Anzahl der Münzwert-Sensorkombi
nationen. Sind beispielsweise drei Münzwerte vom Münzprüfer
anzunehmen und beträgt die Anzahl der Sensoren bzw. Prüf
signale 5, dann kann die Gesamtzahl der Kombination 15 be
tragen. Es wären dann 15 Kombinationskurven zu ermitteln.
Die Ermittlung der Kombinationskurven erfolgt für alle
Münzprüfer eines Typs durch Labormessungen. Wie erkennbar,
ist der Verlauf der Kompensationskurven sehr unterschied
lich. Die Kompensationskurven werden nun in einen Spei
cherbereich des Mikroprozessors 20 eingespeichert. Dies
geschieht jedoch nicht durch Einspeicherung des kontinuier
lichen Verlaufes, sondern durch Einspeicherung von Kurven
punkten, die den Temperaturbereichen 0 bis 5 zum Beispiel
entsprechen. Dies ist in Fig. 3 näher dargestellt.
In Fig. 3 sind auf der X-Achse Kompensationswerte darge
stellt und mit Step bezeichnet. Ein Step entspricht zum
Beispiel einem Analogwert von 10 mV. Man erkennt aus dem
Verlauf der Kurve nach Fig. 3, daß in dem Temperaturbereich
von 1 und 2 von 10 bis 30°C sich der Kompensationswert 0
ergibt. In dem Temperaturbereich 0, also von 0 bis 10°C,
ergibt sich ein Kompensationswert von -1, analog im Tempe
raturbereich 3 der Kompensationswert +1, im Temperatur
bereich 4 der Kompensationswert +2, im Temperaturbereich 5
der Kompensationswert +3 usw. Es versteht sich, daß bei
Verwendung eines A/D-Wandlers mit höherer Auflösung auch
eine feinere Stufung der Kompensationswerte ermöglicht
werden kann.
Fig. 4 zeigt eine Zuordnungsmatrix der Kompensationswert
reihen (nachfolgend wird anstelle von Kompensationskurve
von Kompensationswertreihe gesprochen wegen der punktwei
sen Annäherung an die Kompensationskurve) zu einzelnen
Münzkanälen oder Münzwerten. Hier sind beispielsweise die
Münzwerte 5, 10 und 50 Pfennige und DM 1,--, DM 2,-- und
DM 5,-- dargestellt. Ferner sind n Sensoren berücksichtigt,
zum Beispiel Münzsensor "niedrige Frequenz; Phasenmessung",
Münzsensor "niedrige Frequenz; Amplitudenmessung", "Sen
sorgrößenmessung oben", "Sensorgrößenmessung unten" und
Sensor "hohe Frequenz". Diese Sensoren sind in Fig. 6 des
Münzprüfgerätes 40 schematisch dargestellt. Münzsensor a
erzeugt zwei Prüfsignale, nämlich ein phasenabhängiges
Signal bei niedriger Frequenz sowie ein amplitudenabhän
giges Signal. Sensor b gilt für die Größenmessung größerer
Münzen im Durchmesser größer als 24 mm. Münzsensor c dient
für die Durchmessermessung von Münzen unterhalb 24 mm.
Münzsensor d dient zur Materialmessung mit hoher Frequenz.
Auf die anderen Teile des Prüfgerätes 40 wird weiter unten
noch eingegangen. In Fig. 4 ist nun zu erkennen, daß in
der Matrix oder Tabelle jeder Kombination aus Münzwert und
Sensor eine spezifische Münzwertreihe zugeordnet ist. Bei
spielsweise ist der 50-Pfenning-Münze für das Prüfsignal
"niedrige Frequenz; Phasenmessung" und auch dem Amplitu
densignal die Reihe 1 zugeordnet. Den Sensoren zur Größen
messung ist die Münzwertreihe 0 zugeordnet. Dem Münzsensor
n-1 ist die Münzwertreihe 2 und dem Sensor für die Messung
mit hoher Frequenz die Münzwertreihe 1 zugeordnet. Die
Zahlen der Matrix geben mithin an, mit welcher "Kurve"
eine Kompensation stattfinden muß, wenn eine bestimmte
Münze eingeworfen wird.
Die Zuordnungstabelle nach Fig. 4 wird in einem programmier
baren Speicherbereich abgespeichert, beispielsweise in
einem RAM, einem OTPROM, einem EEPROM, einem EPROM usw.
Die Kompensationswertreihen nach Fig. 2 können auch in
einem festen Speicherbereich abgelegt werden (ROM).
Der Betrieb des beschriebenen Münzprüfers wird nachfolgend
anhand von Fig. 7 erläutert. Der vom Temperatursensor 22
gemessene Temperaturwert wird erfaßt und im Mikroprozessor
20 digitalisiert. Die Temperaturbereiche gemäß Fig. 2 sind
in einem Speicherbereich abgelegt. Der gemessene Tempera
turwert wird einem Speicherbereich 0 bis 6 zugeordnet.
Dieser Vorgang erfolgt unabhängig davon, ob eine Münze
geprüft wird oder nicht. Wird eine Münze eingeworfen, zum
Beispiel Münze 14, erzeugen die einzelnen Sensoren 1 bis n
nacheinander analoge Prüfsignale, die in einem Speicher
bereich des Mikroprozessors 20 vorübergehend gespeichert
werden. Nachdem das letzte Prüfsignal gespeichert worden
ist, beginnt der Vergleich mit den Referenzwerten. Da der
Münzprüfer nicht weiß, welcher Münzwert eingeworfen wurde,
muß er sämtliche anzunehmenden Münzwerte "durchspielen",
um eine einwandfreie Münzprüfung vornehmen zu können. Er
beginnt zum Beispiel mit dem Münzwert oder Münzkanal 1
gemäß Matrix nach Fig. 4 und vergleicht das Prüfsignal mit
den Referenzwerten für die einzelnen Sensoren 1 bis n. Vor
diesem Vergleich wird jedoch das Prüfsignal temperaturkom
pensiert. Für den Münzsensor 1 gemäß Fig. 4 ist die Münz
wertreihe 0 maßgeblich. Bei der Münzwertreihe 0 ergibt
sich für den vorher ermittelten Temperaturbereich ein vor
gegebener Kompensationswert. Dieser modifiziert das Prüf
signal, bevor es mit dem Referenzwert für den Sensor 1
verglichen wird. Es sei unterstellt, daß ein Referenz
fenster vorgesehen ist. Liegt das kompensierte Prüfsignal
innerhalb der Bandbreite des Fensters, wird ein Merker ge
setzt. Liegt es nicht innerhalb der Bandbreite, wird der
Merker gelöscht. Der beschriebene Vorgang wird nun für
alle weiteren Sensoren 2 bis n wiederholt. Falls das kom
pensierte Prüfsignal für sämtliche Sensoren innerhalb der
Bandbreite liegt, handelt es sich um eine echte 5-Pfennig-
Münze und der Prüfvorgang kann abgebrochen werden. Liegen
alle oder die meisten Prüfsignale außerhalb der Bandbreite,
wird der Vergleich mit den Referenzwerten für einen weite
ren Münzwert fortgesetzt, bis eine Entscheidung getroffen
werden kann, um welche Münze es sich handelt und ob diese
echt ist.
Wie bereits erwähnt, kann statt der Kompensierung des
Prüfsignals auch eine jeweilige Kompensation des Referenz
wertes vorgenommen werden.
In Fig. 6 sind außerdem spannungsabhängige Meßsignale der
einzelnen Sensoren a bis d zeitabhängig dargestellt, zum
Beispiel beim Einwurf einer 5-DM-Münze. Das zweite Meß
signal des Sensors a, die Amplitude betreffend, wurde
nicht dargestellt. Der mit a gekennzeichnete Sensor MNF
stellt gleichzeitig einen Startsensor CP1 dar. Der Schalt
pegel U1 ist der Pegel, der bei Überschreiten die gesamte
Meßroutine des Münzprüfers ablaufen läßt. Für Münzen mit
sehr kleiner Amplitude muß dieser Wert sehr niedrig ge
halten werden. Jedoch führt ein sehr niedriger Schaltpegel
häufig zu einer Überempfindlichkeit des Startsensors. Daher
ist man bestrebt, für größere Münzen die Schaltschwelle
höherzulegen. Daher ist es vorteilhaft, wenn die U1-Schalt
schwelle über dem Mikroprozessor individuell programmier
bar ist.
Der Sensor d dient als Stoppsensor (CP2). Mit Verlassen
der Münze dieses Sensors ist die komplette Münzwerter
fassung abgeschlossen. Es schließt sich die oben bereits
beschriebene Vergleichsroutine an, um zu ermitteln, welche
Münze eingeworfen ist und ob diese echt ist. Hier bedarf
es einer schnellen Reaktion der Steuerung zu erkennen, ob
die Münze angenommen werden kann oder nicht, damit die
Annahmeweiche 42 angesteuert werden kann. In Abhängigkeit
von der Anzahl der Münzwerte und der Größe der Münzen muß
mehr oder weniger schnell reagiert werden. Auch hier ist
es sinnvoll, die Schaltschwelle U2 individuell programmier
bar zu gestalten, um während der Fertigung eingreifen und
einstellen zu können. Auf der anderen Seite soll der Pegel
natürlich möglichst tief liegen, um mehr Informationen aus
dem Verlauf der Kurve ziehen zu können. Falls die Anzahl
der Verarbeitungsvorgänge im Mikroprozessor groß und/oder
die Überdeckung von CP2 groß ist, können die einzelnen
Prüfzeiten auch dadurch verringert werden, daß die Schalt
schwelle deutlich höher gesetzt wird.
Aus der obigen Ausführung ergibt sich mithin, daß die
Schaltschwellen U1 und U2 ebenfalls in einem programmier
baren Speicher abgelegt werden, um sie nach Bedarf zu ver
legen. Der Annahmeweiche 42 ist ein Annahmesensor CP3
nachgeordnet, dessen Ansprache ebenfalls programmierbar
gestaltet werden kann.
In Fig. 5 ist eine weitere Zuordnungsmatrix dargestellt,
die in weiteren programmierbaren Speicherbereichen des
Mikroprozessors 20 abgelegt werden kann. Auf der Y-Achse
befinden sich die Münzwerte und am ersten Teil der X-Achse
eine Anzahl von Münzimpulsausgängen 1 bis 6 (siehe hierzu
Fig. 1). Im vorliegenden Fall ist die Anzahl der Münzwerte
größer als die Anzahl der Ausgänge. Es ist daher erforder
lich, für bestimmte Münzen eine bestimmte Zuordnung der
Impulsausgänge 22 vorzusehen, die dem Münzprüfer 10 nach
geordnete Funktionseinheiten steuern, beispielsweise Aus
lieferung einer Ware, Abgabe einer Fahrkarte, Steuerung
des Kreditwerks usw. Die Zuordnung von Münzwert und Münz
impulsausgang ist über die Matrix, die im Speicher abge
legt ist, festgelegt. Sie kann jedoch beliebig programmiert
oder zu einem späteren Zeitpunkt umprogrammiert werden.
Eine entsprechende Zuordnung zwischen den Münzwerten oder
Münzkanälen und den Sortiermagneten 26 findet auf gleiche
Weise statt. Schließlich existiert diese Zuordnung auch
für Münzsperreingänge 28 in Abhängigkeit von den Münz
werten.
Claims (3)
1. Verfahren zum Prüfen von zwei oder mehr Münzen unter
schiedlichen Wertes in einer mindestens einen Sensor
enthaltenden Prüfvorrichtung, mit folgenden Verfahrens
schritten:
Erzeugen mindestens eines für den Wert einer eingegebe nen Münze charakteristischen Prüfsignals durch den Sen sor, Speichern des Prüfsignals, Messen der Temperatur im Bereich des Sensors, Auswählen eines Kompensations wertes aus einer Reihe von dem Sensor zugeordneten, ge speicherten, temperaturabhängigen Kompensationswerten nach Maßgabe des gemessenen Temperaturwertes, Modifi zieren der für die echten annehmbaren Münzen charakte ristischen gespeicherten Referenzwerte oder des Prüf signals mit dem jeweiligen Kompensationswert, Verglei chen des Prüfsignals mit den gespeicherten Referenzwer ten, Erzeugen eines Echtheitssignals, wenn die zu ver gleichenden Werte eine vorgegebene Beziehung zueinander haben, dadurch gekennzeichnet, daß für Münzwert-Sensor- Kombinationen Reihen von temperaturabhängigen Kompensa tionswerten gespeichert werden und daß vor dem Ver gleich die Referenzwerte oder das Prüfsignal mit demje nigen Kompensationswert modifiziert werden, der nach der Temperatur aus der dem Münz- bzw. Referenzwert zu geordneten Kompensationswertreihe ausgewählt wurde.
Erzeugen mindestens eines für den Wert einer eingegebe nen Münze charakteristischen Prüfsignals durch den Sen sor, Speichern des Prüfsignals, Messen der Temperatur im Bereich des Sensors, Auswählen eines Kompensations wertes aus einer Reihe von dem Sensor zugeordneten, ge speicherten, temperaturabhängigen Kompensationswerten nach Maßgabe des gemessenen Temperaturwertes, Modifi zieren der für die echten annehmbaren Münzen charakte ristischen gespeicherten Referenzwerte oder des Prüf signals mit dem jeweiligen Kompensationswert, Verglei chen des Prüfsignals mit den gespeicherten Referenzwer ten, Erzeugen eines Echtheitssignals, wenn die zu ver gleichenden Werte eine vorgegebene Beziehung zueinander haben, dadurch gekennzeichnet, daß für Münzwert-Sensor- Kombinationen Reihen von temperaturabhängigen Kompensa tionswerten gespeichert werden und daß vor dem Ver gleich die Referenzwerte oder das Prüfsignal mit demje nigen Kompensationswert modifiziert werden, der nach der Temperatur aus der dem Münz- bzw. Referenzwert zu geordneten Kompensationswertreihe ausgewählt wurde.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
ein Temperaturbereich in einer Anzahl von Temperatur
stufen unterteilt wird, wobei jeder Stufe ein Kompensa
tionswert der Reihen von Kompensationswerten zugeordnet
wird, jeder Kompensationswertreihe eine Nummer zugeord
net wird und vor einem Vergleich zunächst die Nummer
der Kompensationswertreihe und anschließend der der
Temperaturstufe entsprechende Kompensationswert aus der
Reihe ausgewählt wird.
3. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die Kompensationswerte bzw. die
Temperaturbereiche und die Kompensationswertreihen in
Form einer Matrix zugeordnet und gespeichert werden.
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D2 | Grant after examination | ||
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8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |