DE4021159A1 - Anordnung zur simultanen messung mehrerer elemente in der atomabsorptionsspektrometrie - Google Patents
Anordnung zur simultanen messung mehrerer elemente in der atomabsorptionsspektrometrieInfo
- Publication number
- DE4021159A1 DE4021159A1 DE19904021159 DE4021159A DE4021159A1 DE 4021159 A1 DE4021159 A1 DE 4021159A1 DE 19904021159 DE19904021159 DE 19904021159 DE 4021159 A DE4021159 A DE 4021159A DE 4021159 A1 DE4021159 A1 DE 4021159A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- lamp
- spectrum
- echelle
- pulse
- pulse lamp
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000004847 absorption spectroscopy Methods 0.000 title abstract 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims abstract description 20
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 15
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 22
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 17
- 238000001479 atomic absorption spectroscopy Methods 0.000 claims description 8
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims description 5
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 claims 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 claims 1
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 claims 1
- 230000009102 absorption Effects 0.000 description 21
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 102100025490 Slit homolog 1 protein Human genes 0.000 description 2
- 101710123186 Slit homolog 1 protein Proteins 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 210000002381 plasma Anatomy 0.000 description 2
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 1
- 238000003705 background correction Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000006862 quantum yield reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/3103—Atomic absorption analysis
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
- G01J2003/282—Modified CCD or like
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
- G01J3/1809—Echelle gratings
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/3103—Atomic absorption analysis
- G01N2021/3114—Multi-element AAS arrangements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/069—Supply of sources
- G01N2201/0696—Pulsed
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur simultanen
Messung mehrerer Elemente in der Flammen- und flammen
losen Atomabsorptionsspektrometrie und ist einsetzbar
bei atomabsorptionsspektrometrischen Messungen an allen
gebräuchlichen Elementen im Wellenlängenbereich von
190-860 nm.
Die Atomabsorptionsspektrometrie ist als analytische
Methode mit hoher Leistungsfähigkeit in der Praxis ein
geführt. Als Hintergrundstrahler hat sich allgemein die
Hohlkathodenlampe durchgesetzt, wohingegen als Absorber
die verschiedenen Flammen und Brennertypen und flammenlose
Anordnungen je nach Anforderung Verwendung finden. Bei der
Analyse wird das vom Hintergrundstrahler erzeugte Licht
einer für das gesuchte Element charakteristischen Spek
trallinie durch die zu untersuchende Probe auf einen Emp
fänger geleitet und die Absorption gemessen. Die gemessenen
Werte sind der gesuchten Elementkonzentration pro
portional, solange die Messung frei von Untergrundstörungen
ist.
Da für ein bestimmtes Analysenelement jeweils eine dieses
Element repräsentierende Hohlkathodenlampe verfügbar sein
muß, wurden Versuche unternommen, mehrere Hohlkathoden
lampen oder Lichtquellen, die eine kontinuierliche Strahlung
aussenden, für eine Mehrelementatomabsorptionsanalyse
einzusetzen. Die Anordnung mehrerer Hohlkathodenlampen
ist entweder mit Verlusten im Lichtleitwert der Spektro
meteranordnung und dadurch mit einer Verschlechterung des
Signal-Rausch-Verhältnisses verbunden oder kann nur für
ausgewählte Absorptionsvolumina eingesetzt werden. Die
Verwendung von Kontinua als Hintergrundstrahlung leidet
bei der notwendigen hohen Ausflösung der Spektrometer unter
zu geringer Strahlungsleistung für den Wellenlängenbereich
unter 270 nm. Auch bei der in jüngster Zeit, im wesent
lichen gestützt auf die moderne Rechentechnik und moderne
Spektrometer, entwickelten "SIMAAC"-Methode (Simultane
Multielement-Atomabsorptionsspektroskopie mit Continuum)
(T. C. O′Haver, Analyst 109 (1984) S. 211-217) sind
die Empfindlichkeiten und die Nachweisgrenzen gegenüber
der Atomabsorptionsspektrometrie mit der Hohlkathoden
lampe um einen Faktor 3-10 je nach Element verschlechtert.
Vorteilhaft ist jedoch die Möglichkeit der Erweiterung
des Konzentrationsbereiches von 2 auf 4-5
Größenordnungen in Richtung höherer Konzentrationen
durch Veränderung der Bandbreite des Spektrometers oder
durch Wobbelung über die Wellenlänge, wobei auch eine
Korrektur der unspezifischen Untergrundabsorption möglich
ist. Diese Anordnung ist mit einem hohen mechanischen und
rechentechnischen Aufwand verbunden. Weiterhin nach Nach
teil ist die bei dem angewendeten Meßprinzip auftretende
Zeitdifferenz zwischen den Messungen auf und neben den
Absorptionslinien. Neuere Arbeiten (G. R. Moulton,
T. C. O′Haver und J. M. Hornly "Continuum Source ASS with
a Pulsed Source and Photodiode Array Detector", 15th FACSS
Meeting, Boston, November 1988, paper C 03, sowie G. R.
Moulton et al. "Continuum Source . . .", Pittsburgh
Conference on Analytical Chemistry and Applied Spectro
scopy, Atlanta, Ga., March 1989, Paper 1173) zeigen auch
keine Lösungsmöglichkeiten für das Problem der ungleich
mäßigen Beleuchtungsstärke im Spektrum bei Simultanmes
sungen mit gepulstem Kontinuumstrahler in einem großen
Spektralbereich.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Anordnung
zur Erhöhung der Effektivität von atomabsorptionsspektro
metrischen Messungen anzugeben, die durch gleichzeitige
Analyse an mehreren Elementen in der Analysenprobe und
gleichzeitiger Untergrundkorrektur bei der gleichen Mes
sung wesentliche Merkmale der emissionsspektroskopischen
Analyse als Vielelementverfahren trägt und die durch hohe
Meßempfindlichkeit vergleichbar ist mit der bekannten
Einelementatomabsorptionsspektrometrie.
Die Aufgabe wird gelöst durch eine Anordnung, bei der als
Hintergrundstrahler für die Absorptionsmessung, das kon
tinuierliche Spektrum einer Impulslampe in Verbindung
mit einem hochauflösenden, lichtstarken Echellespektro
meter und mit einem in der Fokalebene des Spektrometers
angeordneten speziellen CCD-Flächensensor als Empfänger
system (auch mehrere diskret angeordnete CCD-Zeilensensoren
sind möglich) verwendet wird. Der geringen Ausdehnung
der einzelnen Pixel des CCD-Flächensensors werden die
Ordnungszeilen des Echellespektrometers angepaßt. Die
Impulslampen sind so auszuführen, daß bei einem Elektroden
abstand von 1-10 mm (1 mm entspricht größenordnungsmäßig
der Eintrittsapertur des Spektrometers) mit relativ wenig
Energie in einem kleinen Lampenvolumen bei kurzen Blitz
dauern eine hohe Strahlungsleistung erreicht wird.
Erfindungsgemäß wird der spektrale Intensitätsverlauf
des kontinuierlichen Spektrums der Strahlung der Impuls
lampe durch die Entladungstemperatur von ca. 15000 K den
Transmissionsgraden und den Meßempfindlichkeiten der ein
zelnen Teile der Anordnung so angepaßt, daß die einzelnen
Pixel des CCD-Flächensensors zur Erreichung eines optimalen
Signal-Rausch-Verhältnisses für alle Wellenlängen
von 190-860 nm bei jedem Blitz der Impulslampe immer
in der Nähe ihrer Sättigung betrieben werden.
Als Impulslampe wird vorzugsweise eine Xenon-Impulsquarz
lampe eingesetzt.
Zur Erzielung einer möglichst gleichen Anzahl von Foto
elektronen in allen Pixeln des CCD-Flächensensors im
Echellespektrometer pro Blitz der Impulslampe ist vorteil
hafterweise eine Abdeckung vorgesehen, die eine Schwächung
zu hoher spektraler Strahlungsanteile der Impulslampe be
wirkt. Die Abdeckung ist vor dem Kameraspiegel des Echelle
spektrometers mit interner Prismenquerdispersion angeordnet.
Zur Kompensierung der vom Echellegitter erzeugten
wellenlängenabhängigen Blazeeffektivität ist die Abdeckung
als eine sich senkrecht zur Richtung der Echelledispersion
durch den optischen Mittelpunkt verlaufende, streifen
förmige Abdeckung mit ungleichmäßiger Breite ausgebildet.
Mit dieser Anordnung ist es möglich, im Echellespektro
meter das kontinuierliche Spektrum des Hintergrundstrahlers
über den gesamten Wellenlängenbereich in ausgesuchten
Teilgebieten zu erfassen, und im Falle der Absorptions
messung alle interessierenden Elemente in der Probe
gleichzeitig zu analysieren. Außerdem enthält jede Einzel
messung mit jedem Lichtimpuls der Impulslampe im Gegensatz
zu den bekannten Verfahren die vollständige Information
der Absorptionsmessung. Dazu gehören die ungeschwächte
Intensität Io als Mittelwert aus den der Absorptionslinie
benachbarten nicht absorbierten Wellenlängenbereichen,
die durch Absorption geschwächte Intensität I auf der
Wellenlänge der Absorptionslinie und die Intensitätswerte
einer möglichen Untergrundstörung. Untergrundstörungen
werden nur in dem äußerst unwahrscheinlichen Fall der
direkten Koinzidenz einer Störlinie im Bereich der Halb
wertsbreite der Absorptionslinie nicht erkennbar. Dadurch,
daß alle notwendigen Informationen für die Absorptions
messung mit jedem Lichtblitz durch die Verwendung des CCD-
Flächensensors erfaßt werden, ist die Verwendung einer
Impulslampe erst möglich, da Schwankungen der Strahlungs
intensität von Blitz zu Blitz die Meßauswertung nicht
beeinflussen.
Durch die Anordnung wird der Korrelationsgrad der Meß
werterfassung so stark erhöht, daß insbesondere für ge
ringe Absorptionen eine erhebliche Verbesserung der Meß
genauigkeit erreicht wird. Für die Zahl der von einem
Blitz der Blitzlampe in einem Pixel des o. g. CCD-Flächen
sensors der beschriebenen Spektrometeranordnung generierten
Fotoelektronen N(λ) gilt:
Hierbei bedeuten:
L(λ - Spektraldichte der Blitzlampe in W/m² sr m
E(λ) - Einzelphotonenenergie = 2 · 10-25/λ in WS/Photon (Angabe der Wellenlänge λ in m)
Λ - Lichtleitwert des Echellespektrometers = 4,2 · 10-11 m² sr
η Q(λ) - Quantenausbeute des CCD-Flächensensors 0,25 El/Photon
η Ech(λ) - spektrale Effektivität des Echellespektrometers beträgt ca. 40% bei 800 nm, fallend auf ca. 10% bei 200 nm und wird annähernd 5 · 10⁵ · λ (Wellenlänge in m)
δ(λ) - spektrale Bandbreite des Echellespektrometers: 10-5 · λ in m
tB - Impulslänge des Blitzes ca. 100 µs
L(λ - Spektraldichte der Blitzlampe in W/m² sr m
E(λ) - Einzelphotonenenergie = 2 · 10-25/λ in WS/Photon (Angabe der Wellenlänge λ in m)
Λ - Lichtleitwert des Echellespektrometers = 4,2 · 10-11 m² sr
η Q(λ) - Quantenausbeute des CCD-Flächensensors 0,25 El/Photon
η Ech(λ) - spektrale Effektivität des Echellespektrometers beträgt ca. 40% bei 800 nm, fallend auf ca. 10% bei 200 nm und wird annähernd 5 · 10⁵ · λ (Wellenlänge in m)
δ(λ) - spektrale Bandbreite des Echellespektrometers: 10-5 · λ in m
tB - Impulslänge des Blitzes ca. 100 µs
Mit diesen Werten folgt:
N(λ) = 2,6 · 10¹⁰ · λ³ · L(λ)
Im Idealfall ist L(λ) gerade so groß, daß für alle Wellen
längen im Spektralbereich von 200 bis 860 nm die gleiche
Zahl von Elektronen generiert wird. Diese Zahl soll möglichst
der Sättigungskapazität von 10⁶ Elektronen/Pixel
nahekommen.
Plasmen mit Temperaturen von ca. 1,5 · 10⁴ K mit einem
spektralen Verlauf, die dem spektralen Verlauf des schwarzen
Strahlers nahekommen, sind innerhalb einer erfindungs
gemäßen Meßanordnung zur Simultan-AAS als Hintergrund
strahler anwendbar. Diese Plasmen können mit Impulslampen
realisiert werden.
Die Erfindung soll nachstehend an einem Ausführungsbei
spiel anhand der zugehörigen Zeichnungen näher erläutert
werden. Es zeigt
Fig. 1 eine erfindungsgemäße Anordnung in schematischer
Darstellung
Fig. 2 Diagramm der Spektraldichteverteilungen.
Ein Echellespektrometer in Tetraederanordnung mit Ein
trittsspalt 1 (20 · 200 µm²), sphärischem Kollimator
spiegel 2 und Kameraspiegel 3 (f=500 mm), Echellegitter
4 (75 Linien/mm, 60 · 120 mm² Gitterfläche) und in
terner Prismenquerdispersion - Quarzprisma 5, 25°-Prismen
winkel - wird als spektrometrische Anordnung benutzt.
Als Strahlungssensor dient ein CCD-Flächensensor in der
Fokalebene 6 des Spektrometers, welcher an den für die
Atomabsorptionsspektrometrie relevanten Spektralpositionen
einzelne modifizierte CCD-Sensorzeilen 7 besitzt,
deren Sensorelemente (64 Picxel mit 20 · 200 µm² Pixel
fläche, Sättigungskapazität 10⁶ Elektronen/Pixel) in
Richtung der Dispersion des Echellegitters verlaufen, so
daß die Intensität auf den Wellenlängen der jeweiligen
Absorptionslinie und deren spektrale Umgebung simultan
gemessen werden können und eine überlappungsfreie Abbildung
des Spektrums einer Lichtquelle (auch eine konti
nuierlichen Spektrums) über alle Wellenlängen von
190-860 nm möglich ist. Zur definierten Abschwächung
unerwünscht hoher Strahlungsanteile des Hintergrundstrahlers
wird eine Abdeckung 8 vor dem Kameraspiegel 3 angebracht.
Die spektrale Auflösung bei der o. g. Spaltenbreite (Spalt
breite entspricht der Pixelbreite) beträgt R=10⁵. Der
Lichtleitwert entsprechend der realisierbaren Kollimator
fläche von 50 · 53 mm² und dem Öffnungsverhältnis f/10
beträgt Λ=4,2 · 10-7 cm² sr. Wird als Lichtquelle bei
spielsweise eine Xenon-Impulsquarzlampe 9 geringer Bau
größe mit geringem Elektrodenabstand (größer gleich 1 mm)
verwendet, kann mit wenig elektrischer Energie bei kurz
zeitigen Impulsentladungen mit einer Impulsdauer von
100-1000 µs durch die umgesetzte elektrische Leistung
bei Strahlungstemperaturen von ca. 15000 K ein kontinu
ierliches Spektrum hoher Strahlungsleistung auch im UV-
Gebiet unter 270 nm erzeugt werden. Ein Vergleich des
Verlaufs des kontinuierlichen Spektrums mit der Spektral
dichte des schwarzen Strahlers bei Temperaturen zwischen
10⁴ K und 1,9 · 10⁴ K zeigt Fig. 2. Bei dem oben ange
gebenen Auflösungsvermögen des Echellespektrometers und
der vorausgesetzten geringen Spaltenbreite von 20 µm
werden spektrale Bandbreiten in der Größe der Halbwerts
breite der Absorptionslinie erreicht.
Als Absorptionsraum 10 für die zu untersuchende Analysen
substanz dienen sowohl Flammen als auch Grafitrohranordnungen,
deren Lichtleitwert wesentlich höher ist als der
Lichtleitwert des Spektrometers.
Die Impulslampe 9 wird mithin problemlos im Abbildungs
verhältnis 1 : 1 bei einem Öffnungsverhältnis f/10 durch
den Absorptionsraum 10 hindurch auf den Eintrittsspalt 1
des Echellespektrometers abgebildet.
Aufstellung der verwendeten Bezugszeichen
1 Eintrittsspalt
2 Kollimatorspiegel
3 Kameraspiegel
4 Echellegitter
5 Quarzprisma
6 Fokalebene
7 Sensorzeile
8 Abdeckung
9 Impulslampe
10 Absorptionsraum
2 Kollimatorspiegel
3 Kameraspiegel
4 Echellegitter
5 Quarzprisma
6 Fokalebene
7 Sensorzeile
8 Abdeckung
9 Impulslampe
10 Absorptionsraum
Claims (4)
1. Anordnung zur simultanen Messung mehrerer Elemente in
einem Absorptionsvolumen in der Atomabsorptionsspektro
metrie, bestehend aus einer Impulslampe (9) als Kon
tinuumstrahler, einem hochauflösenden Echellespektro
meter zur spektralen Zerlegung des entstehenden Ab
sorptionsspektrums und einem CCD-Flächensensor als dem
Spektrometer nachgeschalteter photoelektrischer Emp
fänger, der aus modifizierten CCD-Zeilen (7) mit wenigen
Pixeln besteht, die an den Orten von ausgewählten
Spektrallinien eines Echellespektrums und deren Umge
bung positioniert sind, dadurch gekennzeichnet, daß
der spektrale Intensitätsverlauf der Strahlung der
Impulslampe (9) ein kontinuierliches, dem Spektrum
eines schwarzen Strahlers mit einer Strahlungstempera
tur von ca. 15000 K ähnliches Spektrum darstellt und
der CCD-Flächensensor bei jedem Blitz der Impulslampe
(9) immer in der Nähe der Sättigung seiner Einzelpixel
für alle Wellenlängen arbeitet.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
als Impulslampe (9) eine Xenon-Impulsquarzlampe vorge
sehen ist.
3. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
zur Schwächung überproportional hoher spektraler Inten
sitätsanteile im Spektrum der Impulslampe (9) im
Echellespektrometer eine Abdeckung vorgesehen ist.
4. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
zur Schwächung überproportional hoher spektraler Inten
sitätsteile, die durch den Verlauf der Blaze-Effek
tivität des Echelle-Gitters erzeugt werden, eine Ab
deckung (8) vor dem Kameraspiegel vorgesehen ist, wobei
die Abdeckung (8) als Streifen von ungleichmäßiger Breite
ausgebildet ist und sich der bzw. die Streifen senkrecht
zur Richtung der Echelledispersion erstrecken.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD33034689A DD286668A5 (de) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | Anordnung zur simultanen messung mehrerer elemente in einem absorptionsvolumen in der atomabsorptionsspektrometrie |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4021159A1 true DE4021159A1 (de) | 1991-01-17 |
Family
ID=5610532
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19904021159 Withdrawn DE4021159A1 (de) | 1989-07-03 | 1990-07-03 | Anordnung zur simultanen messung mehrerer elemente in der atomabsorptionsspektrometrie |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DD (1) | DD286668A5 (de) |
DE (1) | DE4021159A1 (de) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4413096A1 (de) * | 1994-04-15 | 1995-10-19 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Multielement-Atomabsorptionsspektrometer sowie Meßverfahren unter Nutzung eines solchen Atomabsorptionsspektrometers |
DE10203439A1 (de) * | 2002-01-28 | 2003-08-14 | Ges Zur Foerderung Angewandter Optik Optoelektronik Quantenelektronik & Spektroskopie Ev | Vorrichtung zur Bestimmung von Element-Konzentrationen in Proben mittels hochauflösender Spektrometer |
DE102009059280A1 (de) | 2009-12-22 | 2011-06-30 | Leibniz-Institut für Analytische Wissenschaften-ISAS-e.V., 44139 | Spektrometeranordnung |
DE102012101019A1 (de) | 2012-02-08 | 2013-08-08 | Leibniz-Institut für Analytische Wissenschaften-ISAS-e.V. | Spektrometer-Anordnung für UV-VIS |
US8681329B2 (en) | 2009-01-30 | 2014-03-25 | Leibniz-Institut Fur Analytische Wissenschaften—Isas—E.V. | Echelle spectrometer arrangement using internal predispersion |
-
1989
- 1989-07-03 DD DD33034689A patent/DD286668A5/de not_active IP Right Cessation
-
1990
- 1990-07-03 DE DE19904021159 patent/DE4021159A1/de not_active Withdrawn
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4413096A1 (de) * | 1994-04-15 | 1995-10-19 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Multielement-Atomabsorptionsspektrometer sowie Meßverfahren unter Nutzung eines solchen Atomabsorptionsspektrometers |
US5594547A (en) * | 1994-04-15 | 1997-01-14 | Bodenseewerk Perkin-Elmer Gmbh | Multielement atomic absorption spectrometer and measurement method using such an atomic absorption spectrometer |
DE4413096B4 (de) * | 1994-04-15 | 2004-09-09 | Berthold Gmbh & Co. Kg | Multielement-Atomabsorptionsspektrometer sowie Meßverfahren unter Nutzung eines solchen Atomabsorptionsspektrometers |
DE10203439A1 (de) * | 2002-01-28 | 2003-08-14 | Ges Zur Foerderung Angewandter Optik Optoelektronik Quantenelektronik & Spektroskopie Ev | Vorrichtung zur Bestimmung von Element-Konzentrationen in Proben mittels hochauflösender Spektrometer |
DE10203439C2 (de) * | 2002-01-28 | 2003-12-18 | Ges Zur Foerderung Angewandter Optik Optoelektronik Quantenelektronik & Spektroskopie Ev | Vorrichtung zur Bestimmung von Element-Konzentrationen in Proben mittels hochauflösender Spektrometer |
US8681329B2 (en) | 2009-01-30 | 2014-03-25 | Leibniz-Institut Fur Analytische Wissenschaften—Isas—E.V. | Echelle spectrometer arrangement using internal predispersion |
DE102009003413B4 (de) | 2009-01-30 | 2022-01-20 | Leibniz - Institut Für Analytische Wissenschaften - Isas - E.V. | Echelle-Spektrometeranordnung mit interner Vordispersion |
DE102009059280A1 (de) | 2009-12-22 | 2011-06-30 | Leibniz-Institut für Analytische Wissenschaften-ISAS-e.V., 44139 | Spektrometeranordnung |
WO2011076598A1 (de) | 2009-12-22 | 2011-06-30 | Leibniz - Institut Für Analytische Wissenschaften - Isas - E.V. | Spektrometeranordnung |
DE102012101019A1 (de) | 2012-02-08 | 2013-08-08 | Leibniz-Institut für Analytische Wissenschaften-ISAS-e.V. | Spektrometer-Anordnung für UV-VIS |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DD286668A5 (de) | 1991-01-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69206641T2 (de) | Hochempfindlicher Multiwellenlängenspektralanalysator | |
DE69904558T2 (de) | Multi-spalt bilderzeugender spektrometer | |
DE3888925T3 (de) | Detektor für ein Spektrometer. | |
EP2156154B1 (de) | Spektrometer mit festkörpersensoren und sekundärelektronenvervielfachern | |
DE2727265A1 (de) | Optische mikroskop-laser-mikrosonde fuer raman-spektroskopie | |
DE69110207T2 (de) | Fourier-Transformationsspektroskop mit quaderförmigem Interferometer mit gemeinsamem Weg. | |
US5018856A (en) | Continuum source atomic absorption spectrometry | |
DE2408197A1 (de) | Spektrometer | |
DE3339012A1 (de) | Spektralphotometer | |
DE2363180A1 (de) | Reaktionskinetisches messgeraet | |
DE3720732C2 (de) | ||
EP0815476B1 (de) | Optisches system mit grossen messbereichen | |
DE3502059A1 (de) | Laserspektralfluorometer | |
DE2938844A1 (de) | Verfahren zur auswertung optischer spektren | |
DE4021159A1 (de) | Anordnung zur simultanen messung mehrerer elemente in der atomabsorptionsspektrometrie | |
DE4413096B4 (de) | Multielement-Atomabsorptionsspektrometer sowie Meßverfahren unter Nutzung eines solchen Atomabsorptionsspektrometers | |
DE4232371C2 (de) | Analysengerät zur Bestimmung von Gasen oder Flüssigkeiten | |
DE2727664A1 (de) | Kuevettenpositioniereinrichtung | |
DE19740210B4 (de) | Atomabsorptionsspektrometer | |
DE19708462A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur zeitaufgelösten optischen Spektralanalyse von laserinduzierten Mikroplasmen | |
Busch et al. | Multiple entrance slit vidicon spectrometer for simultaneous multielement analysis | |
Carolan et al. | Fast charged-coupled device spectrometry using zoom-wavelength optics | |
EP3660474A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur raman-spektroskopie | |
DE102012101019B4 (de) | Spektrometer-Anordnung für UV-VIS | |
WO2003085385A1 (de) | Verfahren und spektrometer zur spektroskopischen messung der extinktion, der transmission, der remission oder der reflexion von proben |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8141 | Disposal/no request for examination |