DE3844036A1 - System zur definition von pruefvektoren unter verwendung eines maskenkonzepts - Google Patents
System zur definition von pruefvektoren unter verwendung eines maskenkonzeptsInfo
- Publication number
- DE3844036A1 DE3844036A1 DE3844036A DE3844036A DE3844036A1 DE 3844036 A1 DE3844036 A1 DE 3844036A1 DE 3844036 A DE3844036 A DE 3844036A DE 3844036 A DE3844036 A DE 3844036A DE 3844036 A1 DE3844036 A1 DE 3844036A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- channel
- test
- mask
- masks
- menu
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31912—Tester/user interface
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft allgemein Systeme zur Definition von
Prüfvektoren, und insbesondere die Verwendung eines Vektormaskenkonzepts
in der Anwenderschnittstelle einer IC-Prüfvorrichtung. Diese Erfindung
läßt sich auch bei logischen Simulatoren verwenden, bei denen dieselbe
Art von Datenverwaltungsproblemen besteht.
Eine Prüfvorrichtung für integrierte Schaltkreise (IC) ermöglicht das
Anlegen einer Signalfolge an ein zu prüfendes Gerät und die Überwachung
der Signalantworten des Gerätes durch Vergleich der Signalantworten mit
den erwarteten Antworten. Für jeden Prüfzyklus werden die an die
Eingangsstifte anzulegenden Signale und die an den Ausgangsstiften
abzugreifenden Signale durch einen "Vektor" von Prüfdaten beschrieben.
Ein Test besteht aus einer Folge derartiger Prüfvektoren. Die Ergebnisse
eines abgeschlossenen Tests beinhalten normalerweise eine Art Aufstellung
der Abweichungen zwischen den gemessenen und den erwarteten Daten.
Zum Betrieb einer Prüfvorrichtung muß der Anwender die Kanäle der
Prüfvorrichtung mit den Anschlußstiften des Gerätes verbinden. Beim
ersten Prüfvorgang eines bestimmten Gerätes ergibt sich ein erheblicher
Zeitaufwand durch das Zuordnen und das Verbinden der Prüfkanäle mit den
Anschlußstiften des Gerätes.
Nach dem ersten Mal geht das Verbinden und die Kanalzuordnung weitaus
leichter von statten, insbesondere, wenn die Prüfvorrichtung die gesamten
beim ersten Mal vorgenommenen Einstellungen speichert.
Zusätzlich zur Verbindung der Prüfkanäle mit den Anschlußstiften des
Gerätes wird der Anwender üblicherweise eine logische Gruppierung der
Kanäle und Kennzeichnung der Kanäle und Kanalgruppen mit logischen
Bezeichnungen wünschen. Nach der logischen Organisierung und Bezeichnung
der Kanäle besteht einer der schwierigsten Teile des Verfahrens beim
Initialisieren der Prüfvorrichtung darin, die gesamten Einstellungen
über Kanalfunktionen und Vermaskung, und die Wahl der Zeittakte vorzu
nehmen.
Die gesamten vom Anwender vorgenommenen Einstellungen ergeben eine
Programmierung der Prüfvorrichtung mit einer Serie von Vektoren, die in
einer vorgegebenen Folge ausgeführt werden sollen. Die mit einem
Datenvektor verbundenen Informationen umfassen, entweder explizit oder
implizit, mindestens folgendes:
Stiftrichtung - Soll dieser Kanal während dieses Zyklusses des Prüf
betriebs als Eingang oder Ausgang benutzt werden?
Dateninhalt - Soll dieser Kanal während des vorliegendes Prüfzyklusses
eine "1" oder eine "0" senden (oder empfangen)?
Maske - Soll der Dateninhalt dieses Kanals während dieses Zyklusses
unbeachtet bleiben?
Spannungsbereiche - Welche Spannungen sollen verwendet werden, um jeweils
einen hohen Datenwert und einen niedrigen Datenwert darzustellen?
Taktinformation - Wann beginnt und endet das Signal relativ zum Zeittakt
der Prüfvorrichtung? Wie breit ist das Signal?
Formatinformation - Wie wird die Taktinformation zur Formatierung oder
"Modulierung" des Signales am Anschlußstift der Prüfvorrichtung ver
wendet? (Hinsichtlich des gesamten Zeitablaufs und der logischen Ebene,
auf die das Signal zwischen den aktiven Signalen zurückkehrt.)
Bei einer Prüfvorrichtung, die bis zu 65 000 Vektoren speichern und
erstellen kann, von denen ein jeder eine Breite von bis zu 256 Kanälen
aufweist, ist die Eingabe all dieser Daten eine beachtliche Leistung.
Hinzu kommt, daß in komplexeren Prüfvorrichtungen der Betrieb der
Vorrichtung von der Rückkopplung des im Test befindlichen Gerätes
abhängen kann, das heißt, daß bedingte Verzweigung oder Schleifenbildung
durch Auftreten oder Fehlen eines Ausgangssignals des im Test befind
lichen Gerätes gesteuert werden können.
Da die Erstellung einer derartigen Vielzahl von Vektoren von Hand nicht
sinnvoll ist, nimmt die Bedeutung von anderen Verfahren zu ihrer
Erstellung stetig zu. Vektoren können algorithmisch erzeugt werden durch
die Steuerung von Verschachtelung, Schleifenbildung und Verzweigung unter
Verwendung einer beliebigen Programmiersprache, so daß mittels einer
relativ geringen Anzahl von Befehlen eine weitaus höhere Zahl von
Vektoren beschrieben werden kann. Überdies lassen sich viele der Daten
für Eingänge und Ausgänge durch Simulationen des Gerätes auf irgendeinen
anderen Teil des Systems ableiten und zur Überprüfung der Ist-Leistung
nach den Vorherberechnungen des Simulators an die Prüfvorrichtung
weitergeben. Eine derartige automatische oder halbautomatische Erzeugung
von Prüfvektoren gewinnt mit steigender Komplexität der Geräte zunehmend
an Bedeutung und es werden Prüfvorrichtungen mit sehr umfangreichen
Speichern zur Aufnahme dieser gestiegenen Komplexität entwickelt.
Bei den Prüfvorrichtungen gemäß dem Stand der Technik steuert ein
Anwender den Betrieb der Prüfvorrichtung auf eine von zwei möglichen
Arten: entweder durch eine menügesteuerte Auswahl oder durch direkte
Programmierung der Prüfvorrichtung mittels einer speziellen Programmier
sprache. Die ASIX-1 Prüfvorrichtung der ASIX Systems Corporation ist ein
Beispiel für eine Prüfvorrichtung, die eine menügesteuerte Anwender
schnittstelle aufweist, wohingegen die Sentry Series von Fairchild ein
Beispiel für eine mittels einer speziellen Programmiersprache gesteuerte
Prüfvorrichtung darstellt.
Bei Systemen, in denen eine Programmiersprache zur direkten Steuerung des
Systems durch den Anwender verwendet wird, wie es zum Beispiel bei der
Sentry Series ATE der Fairchild Corporation der Fall ist, bei der eine
Sprache (FACTOR von der TSSI Corporation) verwendet wird, die speziell
zur Steuerung von Prüfvorrichtungen konzipiert ist, muß der Anwender
zunächst die Sprache erlernen und dann während der Programmierung der
Hardwareregister der Prüfvorrichtung den Überblick über eine große
Datenmenge und seine eigenen früheren Einstellungen behalten. In einem
derartigen System, kann ein typischer Befehl wie folgt aussehen:
SET F 0011001100 1100110011 0011001100
1100110011; oder
SET F (5 : 00110011);
1100110011; oder
SET F (5 : 00110011);
von denen ein jeder die ersten 40 Bit eines Registers (des Registers F)
auf einen sich wiederholenden Binärwert setzt. Hierbei ist zu beachten,
daß dieser Befehl nur den Zustand von 40 Datenbits für ein Register
erstellt, das einen der zahlreichen Parameter steuert, die für jeden
Prüfzyklus (Vektor) erstellt werden müssen.
Die Aufgabe der Steuerung eines jeden Kanals einer leistungsfähigen
Prüfvorrichtung durch direkte programmierte Steuerung über jedes
einzelne Bit eine jeden Registers für jede Funktion mit jeweils einem
Vektor ist eine höchst komplizierte Aufgabe. Sie setzt voraus, daß der
Anwender sehr gute Kenntnisse sowohl der Hardware der Prüfvorrichtung als
auch der benutzten Programmiersprache hat.
Bei den menügesteuerten Anwenderschnittstellen gemäß dem Stand der
Technik, wie zum Beispiel bei der ASIX-1 Prüfvorrichtung der ASIX Systems
Corporation, ermöglicht das Stift-Definitions-Menü es dem Anwender,
Funktionen, Formate und einen Taktgenerator für jeden Stift zu wählen;
diese Definitionen lassen sich jedoch während der Ausführung eines
bestimmten Tests nicht mehr ändern.
Es ist daher wünschenswert, die Steuerung einer maximalen Anzahl von
Funktionen für jeden Kanal kanal- und vektorweise durchführen zu können,
mit einer anwenderfreundlichen "Bedienungsschnittstelle", die eine
visuelle Kontrollmöglichkeit bietet, bei der es nicht erforderlich ist,
eine Programmiersprache zu erlernen, und die die Erstellung von
Prüfvektoren einfach gestaltet.
Die vorliegende Erfindung stellt eine Anwenderschnittstelle für eine
Prüfvorrichtung oder einen Simulator zur Verfügung, die ein Menü zur
Erstellung von "Masken" umfaßt. Diese Masken organisieren einen Satz der
Einstellungen des Anwenders hinsichtlich des zeitlichen Ablaufs, der
Richtung und Maskierung aller Signale, die während eines Prüfzyklusses
auftreten, und zur Vereinfachung dieser Aufgabe bieten sie eine visuelle
Rückkopplung. In einem weiteren Menü, in dem die Vektoren eigentlich
definiert werden, dienen diese Masken zur kurzen Beschreibung der
Funktion eines jeden Kanals und seiner Zeitcharakteristika während eines
Prüfzyklusses. Daher organisieren und vereinfachen diese Masken die
Einstellungen des Anwenders, da viele Einstellungen, die andernfalls
wiederholt vorgenommen werden müßten, in diesem Fall nur noch einmal
vorgenommen werden und dann durch einen Bezug einer entsprechenden Maske
zugeordnet werden.
Es ist Aufgabe der Erfindung, die Verwaltbarkeit und leichte Benutzbar
keit einer IC-Gerätprüfvorrichtung oder eines logischen Simulators
dadurch zu erhöhen, daß dem Anwender eine einfachere Denkweise über die
zahlreichen Einstellungen, die im Verlauf der Definition einer großen
Vielzahl von Prüfvektoren vorgenommen werden müssen, zur Verfügung
gestellt wird.
Es ist weiterhin Aufgabe der vorliegenden Erfindung, durch einmalige
Abspeicherung einer geringen Anzahl von Masken Speicherplatz zu sparen
und dann nur vektorweise Zeiger auf die Masken abzuspeichern, anstelle
einer vektorweisen Speicherung der gesamten Informationen in den Masken
durchzuführen.
Es ist ebenfalls Ziel der vorliegenden Erfindung, einem Anwender beim
Vornehmen der Einstellungen des Formates und des zeitlichen Ablaufes eine
visuelle Rückkopplung seiner Auswahl zur Verfügung zu stellen, wodurch
sich die Leistungsfähigkeit und das Vertrauen des Anwenders bei der
Erstellung der Masken und ihrer Verwendung zur Vektordefinition erhöhen.
Weitere Einzelheiten, Vorteile und Merkmale der Erfindung ergeben sich
aus der Beschreibung von in den Zeichnungen dargestellten
Ausführungsformen des Erfindungsgegenstandes.
Es zeigen
Fig. 1 ein Blockdiagramm eines einzelnen Zwei-Richtungs-Prüf
kanales.
Fig. 2 ein Zeitdiagramm, welches die Unterschiede zwischen den
verschiedenen eingeprägten Formaten aufzeigt.
Fig. 3 eine Bildschirmanzeige, die das Kanalmenü enthält.
Fig. 4 eine Bildschirmanzeige des Maskenmenüs bei geöffnetem
"Resolution"-Feld ("Auflösung"-Feld).
Fig. 5 eine Bildschirmanzeige des Maskenmenüs mit geöffnetem
"Length"-Feld ("Länge"-Feld).
Fig. 6 eine Bildschirmanzeige des Maskenmenüs mit geöffnetem
"Format"-Feld bei Wahl der COMPARE-Funktion (VERGLEICH-
Funktion).
Fig. 7 eine Bildschirmanzeige des Maskenmenüs mit geöffnetem
"Delay"-Feld ("Verzögerung"-Feld).
Fig. 8 eine Bildschirmanzeige des Maskenmenüs mit innerhalb des
"Clock Phase"-Feldes ("Taktphase"-Feldes) offenem
Taktphasenfenster.
Fig. 9 eine Bildschirmanzeige des Maskenmenüs mit geöffnetem
"Format"-Feld bei Wahl der FORCE-Funktion (EINPRÄGUNG-
Funktion).
Fig. 10 eine Bildschirmanzeige des Mustermenüs.
Fig. 1 ist ein Blockdiagramm, welches die mit einem einzelnen Kanal einer
Prüfvorrichtung von IC-Geräten verbundenen Schaltungen zeigt, wobei die
Prüfvorrichtung von einer Art ist, welche eine vollständige und separate
Steuerung eines jeden Kanales vektorweise ermöglicht.
Diese Hardware ermöglicht kanalweise und vektorweise Steuerung von
Inhibit Data (Sperrdaten), Force Data (eingeprägten Daten), Force Timing
(eingeprägtes Zeitraster), Expected Data (Soll-Daten), Mask Data
(Maskendaten), und Compare Timing Functions (Taktvergleichsfunktionen).
Sie ermöglicht gleichfalls die kanalweise, jedoch nicht vektorweise
Steuerung des Force Format (eingeprägten Formates), des Compare Format
(Vergleichsformats) und Clock Phase Select-Funktionen
(Taktphasenselektionsfunktionen).
Fig. 2 zeigt ein Zeitdiagramm der verschiedenen Formate, die bei der
Prüfvorrichtung der bevorzugten Ausführungsform zur Verfügung stehen.
Diese umfassen return-to-zero (Zurück-auf-Null), non-return-to-zero
(Nicht-Zurück-auf-Null), delayed-non-return-to-zero (Verzögert-Nicht-
Zurück-auf-Null), return-to-one (Zurück-auf-Eins) und return-to-inhibit
(Zurück-zu-Sperrung) Formate. Wie aus nachfolgender Beschreibung
hervorgeht, werden diese Formate vom Anwender im "Pin Format"-Feld
("Stiftformat"-Feld) 52 des Maskenmenüs, Fig. 6 und 9, gewählt.
Das im Test befindliche Gerät 10 (device under test, DUT) weist
zahlreiche Anschlußstifte zur Kommunikation mit seiner Umgebung auf.
Einer dieser Stifte 12 wird gezeigt in seiner Verbindung mit den
Gerätetreiber-Schaltkreisen 14 und den Vergleichsschaltkreisen 16 eines
Prüfkanals. Diese Verbindung kann durch eine Sonde oder Halterkarte
(nicht dargestellt) hergestellt werden.
Fig. 1 zeigt die Schaltungen der Prüfvorrichtung bei der Steuerung der
Signale, die an einen Stift 12 des im Test befindlichen Gerätes 10
angelegt werden oder von dort kommen. Der Gerätetreiber 14 legt ein
Signal, data to (Datenanlegung), an den Stift 12 des Geräts an gemäß den
Force (eingeprägte Signale) und Tri-state-Signalen des
Treiberlogikschaltkreises 18. Die hohen und niedrigen Pegel dieser
Signale werden durch analoge hochpegelige und niederpegelige
Spannungssignale von analogen Bezugsgeneratorschaltungen 29 gesteuert.
Bei data in (Dateneingabe) wird der Ausgang des
Gerätetreibersschaltkreises 14 in einen Zustand hoher Impedanz versetzt,
wenn ein Tri-State-Signal vorliegt.
Die Treiberlogikschaltkreise 18 erzeugen Tri-State-Signale gemäß des
logischen Inhalts des Inhibit Data (Sperrdaten) Signals des Inhibit
Register (Sperregisters) 21, wobei der genaue Zeitablauf des Eintretens
in und des Verlassens des Tri-State-Zustands über Force Format Signale
(eingeprägtes-Format-Signale) (4 Bits) von den Statusregistern 28 und vom
Drive Clock (treibenden Taktgeber) der Force Timing Schaltung
(eingeprägtes-Zeitraster-Schaltung) 20 gesteuert wird. Wenn das Tri-State
Signal vorliegt, bewirkt es, daß die Treiberschaltung 14 des Gerätes in
einen Zustand hoher Impedanz versetzt wird, wodurch die Steuerung des
Stifts 12 durch das im Test befindliche Gerät (DUT) 10 ermöglicht wird.
Die logischen Schaltungen 18 des Antriebs erzeugen auch das Force-Signal
(eingeprägtes Signal). Dieses Signal enthält den logischen Inhalt des
Force/Expected Data-Signales (eingeprägte Daten/erwartete Daten-Signal),
wobei der genaue Zeitverlauf der Kanten dieses Signals durch die in den
Force Format Signalen (eingeprägtes-Format-Signalen) (4 Bits) enthaltene
Information und den drive clock (Treibertakt) der Force Timing Schaltung
(eingeprägtes-Zeitraster-Schaltung) 20 gesteuert wird. Zusätzliche
Information vom Statusregister, die zwei Bit der Clock Select-Information
(Taktwahlinformation), steuern jeweils diejenige der vier Phasen von
verfügbaren Systemtaktgebern A-D, die von den Force Timing Schaltungen
(eingeprägtes-Zeitraster-Schaltung) 20 an die Treiberlogikschaltkreise 18
als Drive Clock (Treibertakt) gesendet wird.
Wenn auf das Vorliegen eines Inhibit Data Signales (Sperrdatensignales)
von dem Inhibit Register (Sperregister) 21 hin ein Kanal von dem im Test
befindlichen Gerät 10 gesteuert werden soll und Daten von dem Gerät,
Data from (Datenabgabe), mit den Bezugsdaten verglichen werden sollen,
informiert das Signal Force/Expected Data (eingeprägte/erwartete Daten)
den Vergleichslogikschaltkreis 22 darüber, mit welchen logischen Daten
dieses Signal verglichen werden soll. Der Gerätevergleichsschaltkreis 16
spricht an, wenn das vom zu testenden Gerät 10 abgegebene Signal logisch
"1" ist, oder wenn es logisch "0" ist bei einem Vergleich des
Datenausgangssignals mit einem analogen Schwellwertsignal, Compare Level
(Pegelvergleich), des analogen Bezugsgeneratorschaltkreises 29, um ein
DUT Data Signal (Datensignal des zu testenden Gerätes) zu erzeugen.
Der genaue Zeitablauf des Vergleiches zwischen den Ist- und Solldaten,
der Stroboskoppunkt oder das Vergleichsfenster, wird durch eine Auswahl
von Compare Clock (Vergleichstakten) von den Vergleichszeitschaltungen 24
und von der in den Compare Format-Signalen (Vergleichsformatsignalen) (2
Bit) aus den Statusregistern 28 enthaltenen Information gesteuert. Bei
Vorgabe eines Fenstervergleiches muß das empfangene Signal während der
Dauer des Fensters in dem angegebenen Zustand bleiben, andernfalls wird
eine Errormeldung (Fehlermeldung) an die Fehlerbearbeitungsschaltungen 26
gesendet. Das Signal Error (Fehler) wird ebenfalls an die
Fehlerbearbeitungsschaltungen 26 gesendet, wenn ein Vergleich des
Stroboskoppunktes nicht stattfinden kann.
Wenn bestimmte beliebige Datenkanäle bei der Vermaskung des Vergleichs
ignoriert werden sollen, zeigt das Signal Mask Data (Maskendaten) vom
Maskenregister 27 solche Kanäle auf. Das Signal Compare Clock
(Taktvergleich) wird von den vier Phasen der Systemtaktgeber A-D von den
zwei Bit der Clock Select-Information (Taktwahlinformation) aus den
Statusregistern 28 gewählt.
Die vier Phasen der Systemtaktgeber A-D werden von den Taktgenerator
schaltungen 25 als Reaktion auf die Zeitablaufsteuerungssignale von
Zeitablaufregister 23 erzeugt.
Maskenzeigersignale (4 Bit) wählen für jeden Prüfzyklus bereits im
Sperregister 21, im Zeitablaufregister 23, und im Maskenregister 27
gespeicherte Information. Dies ermöglicht die Variierung der Sperrdaten,
Maskendaten und der Zeitablaufsinformation der Systemtaktgeber A-D in
jedem Prüfzyklus durch Verwendung einer Auswahl von Masken, wodurch eine
gleichzeitige Steuerung dieser Prüfvektorcharakteristika im Betrieb
möglich wird, wie nachstehend näher erklärt ist.
Bis jetzt hat sich die Beschreibung der bevorzugten Ausführungsform
vorrangig mit der zur Steuerung der an die Stifte des im Test befind
lichen Gerätes angelegten und empfangenen Signale verwendeten elektroni
schen Hardware beschäftigt. Im folgenden wird nun die Anwender
schnittstelle besprochen, an der die Information eigentlich anliegt. Die
an dieser Anwenderschnittstelle vorgenommenen Einstellungen bewirken im
Grunde die eigentliche Steuerung der voranstehend beschriebenen elektri
schen Signale. Der Teil der Steuerung, der den Kern der Erfindung
darstellt, findet in einem Maskenmenü statt, das nachstehend im Detail
beschrieben wird. Die in diesem Menü vorgenommenen Einstellungen steuern
die Datenrichtung, vergleichen die Maskierung und steuern den zeitlichen
Ablauf der Flanken der vier Taktgeber, die zur zeitlichen Positionierung
der Daten bezogen auf den gesamten Prüfzyklus verwendet werden.
Die Software und ein Mikroprozessor erzeugen die Anwenderschnittstelle
und laden die vom Anwender an dieser Schnittstelle eingegebene Informa
tion in die oben beschriebenen Hardwareregister. In der Hardware wird
diese Information zur Steuerung der eigentlichen elektrischen Signale
während der Durchführung des Tests verwendet. Auf die Details der
Softwareausführung soll hier nicht eingegangen werden, da sie für die
eigentliche Erfindung unerheblich sind. Jede beliebige Programmier
sprache und jedes Verfahren zur Steuerung einer Anwenderschnittstelle
könnte verwendet werden. Der Erfindung zugrunde liegt das Konzept der
Organisierung der Information, welche einen Satz von Prüfsignalen in
Masken umwandelt, zur Erleichterung der Arbeit des Anwenders, zur
Einsparung von Speicherplatz und zur Ermöglichung einer leichteren
Steuerung einiger Prüfparameter ohne Unterbrechung des Prüfdurchgangs.
Im Grunde genommen ist sogar die gesamte voranstehend besprochene
Hardware unerheblich für die vorliegende Erfindung. Die Erfindung könnte
in einem logischen Simulator verwendet werden, in dem die gesamte
voranstehend beschriebene Hardware nicht vorhanden ist - der Simulator
müßte bei seiner Simulation immer noch alle dieselben Funktionen
erfüllen, die die Hardware in einer richtigen Prüfvorrichtung erfüllt.
Dennoch ist das Verständnis der Steuerung von Prüfsignalen in einer
richtigen Umgebung dem Verständnis der vorliegenden Erfindung sehr
förderlich, wenn letztere dann in der eigentlichen Umgebung eines
logischen Simulators verwendet werden soll. Sogar in einer virtuellen
Umgebung müssen alle dieselben Einstellungen vorgenommen werden und der
Anwender ist konfrontiert mit derselben Komplexität und der Notwendigkeit
der Verwendung der Masken gemäß vorliegender Erfindung zur Organisierung
und Vereinfachung all dieser Entscheidungen.
Fig. 3 zeigt eine Bildschirmanzeige des Kanalmenüs. Dieses Menü wird zur
Organisation der Kanäle in logische Gruppen, zur Bezeichnung dieser
Gruppen, zur Zuordnung einer Darstellung und eines Zeittakts an die
Gruppe, und zum Treffen von Spaltenmaskenentscheidungen verwendet.
Bestimmte Kanäle der Prüfvorrichtung werden mit bestimmten Stiften des im
Test befindlichen Gerätes in einem zusätzlichen Menü assoziiert, dem
Verdrahtungsmenü des im Test befindlichen Gerätes (nicht dargestellt, es
ist jedoch über die programmierbare Funktionstaste F 2 36 im unteren Teil
des Kanalmenüs zugänglich).
Die Fig. 4-9 zeigen Bildschirmanzeigen des Maskenmenüs mit
verschiedenen zur detaillierteren Darstellung geöffneten Feldern. Dieses
Menü wird mit dem Begriff "Maske" in einem Bereich im oberen Teil des
Bildschirmes 40 bezeichnet. Dieses Menü wird zur Erzeugung der "Masken"
verwendet, welche den Kern dieser Erfindung bilden. Diese Masken werden
zur Vereinfachung und leichteren Durchführung der übrigen
Programmierarbeit verwendet. Die Maske stellt eine Anzahl von Takt-,
Richtungs- und Vermaskungseinstellungen für die gesamten während eines
Daten-Vektors (Daten-Prüfzyklus) verwendeten Kanäle zur Verfügung.
Üblicherweise lassen sich alle die verschiedenen Arten von erwarteten
Transaktionen mit einer begrenzten Anzahl von Masken beschreiben.
In der bevorzugten Ausführungsform werden insgesamt 64 Masken zur
Verfügung gestellt, von denen 16 in die Hardware geladen werden können
und dann zur sofortigen Benutzung jederzeit bereitstehen. (Die anderen
können während des Programmablaufs umgespeichert werden, dies jedoch
macht Wartezustände im Betrieb der Prüfvorrichtung erforderlich.) Nach
ihrer einmaligen Definierung lassen sich diese Masken immer wieder
verwenden, wodurch die ansonsten äußerst aufwendige Eingabe einer
Datenmenge geordnet und vereinfacht wird.
Die Verwendung von Masken fördert auch die Einsparung von Speicher
plätzen, da das Aufrufen einer einmal gespeicherten geeigneten Maske
weitaus weniger Speicherplatz erfordert als das wiederholte Abspeichern
der Information in der Maske für jeden neuen Prüfzyklus.
Von links oben ausgehend ist das erste anwendergesteuerte Feld im
Maskenmenü das "Template"-Feld ("Masken"-Feld) 42. Dieses Feld wird zur
Eingabe einer Identifikationsbezeichnung, in diesem Fall "Cycle 6"
("Zyklus 6"), für die zu erstellende Maske oder zum Zugriff in eine
bereits bezeichnete Maske verwendet.
Das nächste Feld, das "Lock"-Feld ("Sperr"-Feld) 44, wird zur
Verhinderung der Umspeicherung einer bestimmten Maske aus den
Hardwareregistern während des Programmablaufs verwendet. Im vorliegenden
Fall steht es auf "Off" ("Aus"). Sechzehn der vierundsechzig insgesamt
verfügbaren Masken werden in den Hardwareregistern zur sofortigen
Benutzung bereitgehalten. Werden zusätzliche Masken benötigt, geht die
Prüfvorrichtung in einen Wartezustand, während die benötigten Masken in
diese Register geladen werden. Wenn in das Sperrfeld "On" ("Ein")
eingegeben wird, ermöglicht dies dem Anwender eine bestimmte Maske als
zeitkritisch zu bezeichnen, wodurch einerseits verhindert wird, daß diese
Maske umgespeichert wird, um Platz für andere zu schaffen, und
andererseits die derart bezeichnete Maske immer zur sofortigen
Verwendung bereitgehalten wird. Dies ist erforderlich in denjenigen
Teilen des Prüfprogrammes, bei denen Echtzeitablauf stattfindet.
Das "Resolution"-Feld ("Auflösung"-Feld) 46, hier dargestellt mit der
Eingabe "500 ps", steuert die Einstellung des Prüftaktgebers, und bestimmt
dadurch die zeitliche Auflösung der einstellbaren Kantenpositionen und
der maximalen Länge eines Prüftaktzyklus. Das "Resolution"-Feld
("Auflösung"-Feld) wählt aus einem der zwei Prüftaktgeber, 500ps oder
20ns, einem externen Taktgeber, oder dem 500ps-Taktgeber, der extern
synchronisiert wird, eine Zeitbasis für den Hardwarebetrieb, wodurch die
maximale verfügbare Kantenpositionsauflösung bestimmt wird.
Das "Length"-Feld ("Länge"-Feld) 48, hier dargestellt mit der Eingabe
"20ns", bestimmt die Länge eines jeden von dieser Maske gesteuerten
Prüfzyklusses. Die Wahlmöglichkeiten des "Length"-Feldes stellen ein
Vielfaches des im "Resolution"-Feld gewählten Wertes dar.
Das in Fig. 5 dargestellte "Pin Function"-Feld ("Stiftfunktion"-Feld) 50
bestimmt, wie ein einzelner Kanal oder eine Kanalgruppe während eines
bestimmten Vektors verwendet werden soll. In der bevorzugten
Ausführungsform der vorliegenden Erfindung sind die Wahlmöglichkeiten wie
folgt: COMPARE (Vergleich), FORCE (Einprägung) und MASK (Maske). Die in
diesen Feld gewählten Möglichkeiten betreffen nur die aktuelle Maske.
Dies bedeutet, daß die Funktionen vektorweise gewählt werden können. Im
Gegensatz dazu betreffen die nächsten beiden Felder, bezeichnet als "Pin
Format" ("Stiftformat") 52 und "Clock Phase" ("Taktphase") 54, alle
Masken. Das bedeutet, daß sie nicht vektorweise gewählt werden können.
Wenn in diesen Feldern Veränderungen vorgenommen werden, warnt eine
Nachricht den Anwender: "VORSICHT: Vergleichsformatzuordnung betrifft
alle Masken". (Diese Beschränkung ist im Rahmen der Erfindung wahlfrei.
Das heißt, diese Möglichkeiten können vektorweise gewählt werden; es
wurde jedoch aus Konstruktionsgründen, die für die vorliegende Erfindung
irrelevant sind, die Entscheidung getroffen, diese Wahlmöglichkeiten
innerhalb der bevorzugten Ausführungsform nicht zuzulassen.)
In Fig. 6, nachdem der Feldcursor auf das "Clock Phase"-Feld
("Taktphasen"-Feld) 54 einer bestimmten waagrechten Zeile bewegt wird,
wie er auch auf die mit der "Group 5" ("Gruppe 5") 55 in dieser Figur
assoziierten Zeile bewegt wurde, erscheinen auf dieser Zeile zwei
zusätzliche Felder rechts kurz unterhalb vom "Clock Phase"-Feld
("Taktphase"-Feld) 54. Diese Felder bleiben auch nach der hier gezeigten
Rückbewegung des Feldcursors auf das "Pin Format"-Feld ("Stiftformat"-
Feld) 68 sichtbar. Diese beiden Felder, das "Delay"-Feld ("Verzögerung"-
Feld) 56 und das "Width"-Feld ("Breite"-Feld) 58, ermöglichen es dem
Anwender, die Verzögerung und die Breite des im "Clock Phase"-Feld
("Taktphase"-Feld) 54 gewählten Taktsignales zu verändern. Die
verfügbaren Anpassungswerte sind Vielfache des im "Resolution"-Feld
("Auflösung"-Feld) 46 gewählten Wertes. Ein im "Delay"-Feld
("Verzögerung"-Feld) 56 eingegebener Wert verzögert die Vorderflanke des
damit verbundenen Taktsignales und somit wird der Anfang des aktiven
Teiles eines jeglichen Signales durch jede der beiden Flanken dieses
Taktsignales zeitlich eingestellt. Mit dem "Width"-Feld ("Breite"-Feld)
58 verhält es sich ähnlich, wodurch eine Anpassung der Taktsignalbreite
ermöglicht wird und es daher zur Verzögerung der Hinterflanke dieses
Taktsignales bezüglich seiner Vorderflanke dient.
Die vom Anwender vorgenommenen Einstellungen im "Pin Function"-Feld
("Stiftfunktion"-Feld) 50, im "Width"-Feld ("Breite"-Feld) 56 und im
"Delay"-Feld ("Verzögerung"-Feld) 58 steuern den Inhalt der voranstehend
beschriebenen Sperr-, Masken- und Taktregister 21, 27, 23. In diesen
Registern ist eine Auswahl von 16 Masken vorgespeichert, so daß diese
Wahlmöglichkeiten ohne Verzögerung im Prüfoutput zur Verfügung stehen.
Sie sind im Betrieb zugänglich über den Maskenzeiger, der Teil eines
jeden Datenvektors im (nicht dargestellten) Musterspeicher ist. Da
jeweils nur ein Maskenzeiger (4 Bit) eine weitaus größere Menge von
vorgespeicherten Informationen für zahlreiche Kanäle gleichzeitig
auswählt, verringert sich hierdurch der gesamte Speicherplatzbedarf
erheblich.
Bei Betätigung der "Open"-Taste ("Öffnen"-Taste) der Tastatur des (nicht
dargestellten) Instruments erscheint ein "pull-down" Mini-Menü von
Auswahlmöglichkeiten für das jeweilige Feld, in dem sich der Feldcursor
zu diesem Zeitpunkt befindet. Fig. 7 zeigt das Maskenmenü mit geöffnetem
"Delay"-Feld ("Verzögerung"-Feld) 56, in dem eine Liste von
Wahlmöglichkeiten 60 der Verzögerungseinstellung aufgezeigt wird. Es ist
zu beachten, daß jede der Wahlmöglichkeiten ein Vielfaches des Wertes im
"Resolution"-Feld ("Auflösung"-Feld) 46 darstellt.
Wenn, wie aus Fig. 8 ersichtlich, die "Open"-Taste betätigt wird und der
Feldcursor sich im "Clock Phase"-Feld ("Taktphase"-Feld) 54 befindet,
zeigt das sich öffnende Fenster 62 den aktuellen Verzögerungswert und die
Breiteeinstellung für alle Taktsignale. Dies ermöglicht es dem Anwender,
die aktuellen Einstellwerte für die anderen Taktphasen zu überprüfen,
während er Einstellungen für eine der Taktphasen vornimmt. Da an beiden
Flanken eines jeden Taktsignals mehrere verschiedene Vorgänge ausgelöst
werden, wird der Anwender Veränderungen nur vorsichtig vornehmen und nur
unter Berücksichtigung aller Auswirkungen, die diese Veränderungen an
anderen Stellen, an denen diese Einstellwerte verwendet werden, haben
können.
Eine visuelle Kontrollmöglichkeit des vom Anwender gewählten Taktes
bietet sich in dem großen offenen Bereich unter dem "Length"-Feld
("Länge"-Feld) 48 und rechts vom "Clock Phase"-Feld ("Taktphase"-Feld)
54. In diesem Bereich erscheint für eingeprägte Kanäle eine Darstellung
der Wellenform, die am Ausgang der Prüfvorrichtung erscheint, und für
Vergleichskanäle eine Anzeige darüber, zu welchem Zeitpunkt die
Vergleiche stattfinden werden. Die jeweilige Auswahl wird im "Pin
Format"-Feld ("Stiftformat"-Feld) 52, im "Clock Phase"-Feld
("Taktphase"-Feld) 54, im "Resolution"-Feld ("Auflösung"-Feld) 46, im
"Length"-Feld ("Länge"-Feld) 48 und in den "Delay"- ("Verzögerung"-) und
"Width"- ("Breite"-)Feldern 56, 58 getroffen, die Auswirkungen auf die
Prüfvorrichtung werden in diesem visuellen Kontrollbereich sichtbar
gemacht. Die relativen Zeitzusammenhänge werden auf einen Blick
erkennbar. Eine farbliche Darstellung ermöglicht die Unterscheidung von
Force- und Compare-Daten (eingeprägten Daten und Vergleichsdaten) .
Graphische Symbole dienen zur Unterscheidung zwischen Fenstervergleichen
und Flankenvergleichen, wobei die Flanken mit minimaler Breite und die
Fenster mit einer zu ihrer tatsächlichen Breite proportionalen Breite
aufgezeigt werden. Ebenso werden einzelne Kanäle und Kanalgruppen durch
einzelne bzw. doppelte Linien dargestellt, während Tri-State-Kanäle in
ihren passiven Phasen durch Leerstellen und in Vergleichsphasen durch
kleine Dreiecke dargestellt werden.
Wie bereits voranstehend dargestellt zeigt Fig. 2 ein Zeitdiagramm der in
der Prüfvorrichtung gemäß der bevorzugten Ausführungsform zur Verfügung
stehenden Formate. Fig. 6 zeigt eine zur Auswahl geöffnete Liste von
Compare-Formaten (Vergleichsformaten) 64. Um diese Liste aufzurufen,
betätigt der Anwender die "Open"-Taste ("Öffnen"-Taste) auf der (nicht
dargestellten) Tastatur, während der Feldcursor 68 in eine Zeile 55
bewegt wurde, in der dadurch COMPARE (VERGLEICH) 70 in der "Pin
Function"-Spalte ("Stiftfunktion"-Spalte) 50 gewählt wurde. In Fig. 9
befindet sich der Feldcursor in einer Zeile 65, in der FORCE 72 angewählt
ist, woraufhin sich stattdessen eine Liste von Force-Formaten 66 öffnet.
Hierbei ist zu beachten, daß die gekennzeichnete Auswahl in der offenen
Liste 64, 66 der Eingabe in das "Pin Format"-Feld ("Stiftformat"-Feld) 52
in der entsprechenden Zeile 55, 65 entspricht. Siehe auch die
Darstellungen der für die verschiedenen Formatwahlmöglichkeiten
vorgesehenen visuellen Rückkopplungen in den Fig. 4-9.
In Fig. 7 ermöglichen es die Tastenidentifiziereinrichtungen 96 im
unteren Teil des Maskenmenüs dem Anwender, sich zwischen den Masken hin
und herzubewegen F 2 und F 3, oder Masken umzubenennen F 6, oder Masken
hinzuzufügen oder zu löschen F 8, F 7, oder alle in eine Maske eingegebenen
Informationen durch Verwendung der Tasten auf der Tastatur, die F #
entsprechen zu löschen F 4.
Fig. 10 stellt eine Bildschirmanzeige des Mustermenüs dar. Dies ist das
eigentliche zur Organisierung des Hin- und Herflusses von
Prüfvektordaten des zu prüfenden Gerätes verwendete Menü. Die linke
Spalte, "Line Number" ("Zeilennummer") 80, enthält eine sequentielle
Bezugsziffer, die den entsprechenden Vektor im Speicher aufruft. Das Feld
im oberen Teil dieser Spalte 82 enthält die Datenauffindungsziffer, auf
der der Cursor 84 steht, und es kann zum Hin- und Herspringen im Speicher
verwendet werden, indem die Ziffer einer auf dem Bildschirm nicht
dargestellten Zeile eingegeben wird, wodurch sich die Anzeige zu dem
entsprechenden Teil des Speichers bewegt.
Die nächste Spalte im Mustermenü ist mit "Select" ("Wahl") 86 bezeichnet
und sie enthält ein Feld 88, in das die Bezeichnungen der Masken
eingegeben werden. Durch die Eingabe einer Maskenbezeichnung ruft der
Anwender sämtliche Einstellungen bezüglich der Stiftfunktion, der
Vermaskung und des Zeitablaufs auf, die in den Maskenmenüs vorgenommen
wurden. Die übrigen Spalten sind zur Eingabe von eigentlichen Daten
vorgesehen und sie tragen in ihrem oberen Teil die Bezeichnungen der
Kanalgruppen, die im Kanalmenü definiert wurden. Dateneingabe erfolgt
über die Felder 90 im oberen Teil einer jeden Spalte in einer im
Kanalmenü gewählten Darstellung.
Claims (9)
1. Anwenderschnittstellensystem zur Definition von Prüfvektoren, wobei
die Prüfvektoren aus digitalen Signalen auf einer Vielzahl von
Kanälen gebildet werden, wobei ein jeder Kanal veränderbare Zeit
charakteristika hat und in zwei Richtungen betrieben werden kann, als
Eingangs- oder Ausgangskanal, oder während eines Vektors maskiert
werden kann,
gekennzeichnet durch
eine Vorrichtung zur Erzeugung von Masken, wobei die Masken eine Anzahl von Einstellungen des Anwenders hinsichtlich des Zeitablaufs, der Richtung und der Maskierung eines jeden Kanals während eines Prüf vektors darstellen,
und eine Vorrichtung zur Verbindung der derart erzeugten Masken mit Prüfvektoren zur erheblichen Vereinfachung der Definition einer großen Vielzahl von Prüfvektoren.
eine Vorrichtung zur Erzeugung von Masken, wobei die Masken eine Anzahl von Einstellungen des Anwenders hinsichtlich des Zeitablaufs, der Richtung und der Maskierung eines jeden Kanals während eines Prüf vektors darstellen,
und eine Vorrichtung zur Verbindung der derart erzeugten Masken mit Prüfvektoren zur erheblichen Vereinfachung der Definition einer großen Vielzahl von Prüfvektoren.
2. System zur Definition von Prüfvektoren gemäß Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Vorrichtung zur Maskenerzeugung eine visuelle Rückkopplung der
vom Anwender vorgenommenen Einstellung in Form von graphischen
Darstellungen der zeitlichen Zusammenhänge zur Verfügung stellt.
3. Prüfvorrichtung für IC-Geräte mit einer Vielzahl von Taktquellen und
einer Vielzahl von Kanälen und der Fähigkeit, eine Vielzahl von
Vektoren zur Ansteuerung eines zu prüfenden Gerätes mit Force-Daten
(eingeprägte Daten) zu verwenden und die Ausgangsdaten des zu
prüfenden Gerätes mit Vergleichsdaten zu vergleichen,
gekennzeichnet durch
eine Hardware, in der eine Vielzahl von Prüfkanalfunktionen einzeln kanalweise und vektorweise steuerbar sind, und
eine Anwenderschnittstelle mit einem Menüaufbau, der folgendes umfaßt:
eine Hardware, in der eine Vielzahl von Prüfkanalfunktionen einzeln kanalweise und vektorweise steuerbar sind, und
eine Anwenderschnittstelle mit einem Menüaufbau, der folgendes umfaßt:
- - ein Kanalmenü zur Einteilung von Kanälen in Gruppen und zur Be zeichnung dieser Kanalgruppen,
- - ein Maskenmenü zur Erstellung von Masken, wobei jede Maske eine Kanalwahl mit Kanälen und Kanalgruppen wiedergibt, wobei das Maskenmenü eine visuelle Rückkopplung der gewählten Einstellungen bietet, und
- - ein Mustermenü zur Wahl einer Maske für einen jeden Vektor und zur Eingabe von Force-Daten (eingeprägten Daten) und erwarteten Daten in jeden Vektor.
4. Prüfvorrichtung für IC-Geräte gemäß Anspruch 3
dadurch gekennzeichnet,
daß die Kanaleinstellung die Kanalfunktion, die Taktwahl und die
Maskierung des Kanals umfaßt.
5. Prüfvorrichtung für IC-Geräte gemäß Anspruch 3
dadurch gekennzeichnet,
daß das Maskenmenü sich zusammensetzt aus:
- - einer Vorrichtung zur Einstellung der Funktion, für die ein Kanal oder eine Kanalgruppe verwendet werden wird,
- - eine Vorrichtung zur Einstellung der Breite einer Taktquelle und des zeitlichen Zusammenhangs zwischen der Taktquelle und dem Systemtaktgeber,
- - eine Vorrichtung zur Maskierung eines Kanals oder einer Kanal gruppe, und
- - eine Vorrichtung zur Erzeugung einer visuellen Rückkopplung mit Zeitdiagrammen zum Aufzeigen der vorgenommenen Einstellungen.
6. Prüfvorrichtung für IC-Geräte gemäß Anspruch 3
dadurch gekennzeichnet,
daß die Hardware ein Register aufweist zur Speicherung der Verbindung
der im Maskenmenü getroffenen Kanalwahl mit den Kanälen und Kanal
gruppen zur sofortigen Verwendung, damit die Masken ausgewählt werden
können, ohne daß Unterbrechungen im Betrieb der Prüfvorrichtungen
erforderlich werden.
7. Prüfvorrichtung für IC-Geräte gemäß Anspruch 6
dadurch gekennzeichnet,
daß ein Speicher zur Speicherung der Prüfvektoren auch Maskenzeiger
für den Zugriff in das Register während eines jeden Prüfvektors
aufweist.
8. Verfahren zur Erzeugung von Prüfvektoren zur Verwendung in einem
echten oder simulierten IC-Gerät in einem System mit einer Taktquelle
und einer Vielzahl von Signalkanälen, von denen jeder eine Vielzahl
von Funktionen erfüllt, und Kanäle maskiert, und veränderliche
zeitliche Zusammenhänge zwischen der Taktquelle und einem System
taktgeber aufweist,
gekennzeichnet durch
die Vorbereitung einer Anzahl von Masken, die die vektorweise Wahl
von Kanalfunktion, Kanalmaskierung und Taktquelleneinstellung
enthalten, und die Verwendung der derart erstellten Masken zur
vereinfachten Erzeugung von Prüfvektoren.
9. Verfahren nach Anspruch 8
dadurch gekennzeichnet,
daß die Vorbereitung der Anzahl von Masken auch die Verwendung von
Zeitdiagrammen beinhaltet zur Ermöglichung einer visuellen Rück
kopplung vom System an den Anwender, um den Anwender bei der Wahl der
Funktionen und der Einstellung der zeitlichen Zusammenhänge zu
unterstützen.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/138,269 US4860291A (en) | 1987-12-28 | 1987-12-28 | Test vector definition system employing template concept |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3844036A1 true DE3844036A1 (de) | 1989-07-27 |
DE3844036C2 DE3844036C2 (de) | 1991-08-29 |
Family
ID=22481259
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3844036A Granted DE3844036A1 (de) | 1987-12-28 | 1988-12-27 | System zur definition von pruefvektoren unter verwendung eines maskenkonzepts |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4860291A (de) |
JP (1) | JP2540069B2 (de) |
DE (1) | DE3844036A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998057187A1 (en) * | 1997-06-13 | 1998-12-17 | Teradyne, Inc. | Low cost, easy to use automatic test system software |
US6476828B1 (en) | 1999-05-28 | 2002-11-05 | International Business Machines Corporation | Systems, methods and computer program products for building and displaying dynamic graphical user interfaces |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2583949B2 (ja) * | 1988-03-10 | 1997-02-19 | 松下電器産業株式会社 | 論理シミュレーション方法と論理シミュレーション装置 |
JP2563451B2 (ja) * | 1988-03-10 | 1996-12-11 | 松下電器産業株式会社 | 論理シミュレーション方法と論理シミュレーション装置 |
US5357523A (en) * | 1991-12-18 | 1994-10-18 | International Business Machines Corporation | Memory testing system with algorithmic test data generation |
KR0137630B1 (ko) * | 1992-03-31 | 1998-06-15 | 오오우라 히로시 | Ic시험장치 |
US5694578A (en) * | 1992-12-18 | 1997-12-02 | Silicon Graphics, Inc. | Computer-implemented method and apparatus for converting data according to a selected data transformation |
US5809340A (en) * | 1993-04-30 | 1998-09-15 | Packard Bell Nec | Adaptively generating timing signals for access to various memory devices based on stored profiles |
US5778004A (en) * | 1995-06-02 | 1998-07-07 | Unisys Corporation | Vector translator |
US5754755A (en) * | 1996-10-10 | 1998-05-19 | Microsoft Corporation | Method and system for generating test scripts |
US5920490A (en) * | 1996-12-26 | 1999-07-06 | Adaptec, Inc. | Integrated circuit test stimulus verification and vector extraction system |
US6718534B1 (en) | 1997-07-14 | 2004-04-06 | Microsoft Corporation | System for application independent programming of controls |
US6449659B1 (en) | 1997-07-14 | 2002-09-10 | Microsoft Corporation | System for instance customization with application independent programming of controls |
US6052809A (en) * | 1997-10-16 | 2000-04-18 | Teradyne, Inc. | Method for generating test patterns |
US5825787A (en) * | 1997-11-25 | 1998-10-20 | Xilinx, Inc. | System and method for accessing a test vector memory |
US8677272B2 (en) * | 2005-12-13 | 2014-03-18 | International Business Machines Corporation | Graphical user interface design utility |
US7496876B1 (en) | 2008-05-21 | 2009-02-24 | International Business Machines Corporation | Method for generating integrated functional testcases for multiple boolean algorithms from a single generic testcase template |
JPWO2010026765A1 (ja) * | 2008-09-05 | 2012-02-02 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置、及び試験方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4550406A (en) * | 1983-06-14 | 1985-10-29 | Everett/Charles Test Equipment, Inc. | Automatic test program list generation using programmed digital computer |
US4606025A (en) * | 1983-09-28 | 1986-08-12 | International Business Machines Corp. | Automatically testing a plurality of memory arrays on selected memory array testers |
GB8327753D0 (en) * | 1983-10-17 | 1983-11-16 | Robinson G D | Test generation system |
JPS60252278A (ja) * | 1984-05-28 | 1985-12-12 | Advantest Corp | ロジツクアナライザ |
DE3587620T2 (de) * | 1984-05-28 | 1994-03-24 | Advantest Corp | Logikanalysator. |
US4677620A (en) * | 1985-02-28 | 1987-06-30 | Tektronix, Inc. | Graphical input of timing relationships |
US4713815A (en) * | 1986-03-12 | 1987-12-15 | International Business Machines Corp. | Automatic fault location system for electronic devices |
-
1987
- 1987-12-28 US US07/138,269 patent/US4860291A/en not_active Expired - Fee Related
-
1988
- 1988-12-15 JP JP63317605A patent/JP2540069B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1988-12-27 DE DE3844036A patent/DE3844036A1/de active Granted
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
Elektronik Informationen Nr. 3-1982, S. 54 * |
Palmquist Steve und Hoeren Gerd, Logic analyzer delivers test patterns, too, in: Electronics 8. Sept. 1981, S. 113-119 * |
Schmitz, Wolfgang, Benutzerführung erleichtert Logikanalyse, in: Der Elektroniker 3-1983, S. 58-60 * |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998057187A1 (en) * | 1997-06-13 | 1998-12-17 | Teradyne, Inc. | Low cost, easy to use automatic test system software |
US5910895A (en) * | 1997-06-13 | 1999-06-08 | Teradyne, Inc. | Low cost, easy to use automatic test system software |
US6476828B1 (en) | 1999-05-28 | 2002-11-05 | International Business Machines Corporation | Systems, methods and computer program products for building and displaying dynamic graphical user interfaces |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3844036C2 (de) | 1991-08-29 |
JP2540069B2 (ja) | 1996-10-02 |
JPH026762A (ja) | 1990-01-10 |
US4860291A (en) | 1989-08-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3844036C2 (de) | ||
DE3751192T2 (de) | Grafiksystem zum Modellieren eines Prozesses und dazugehöriges Verfahren. | |
DE2654050C3 (de) | Taktsignalsteuersystem eines Mikrocomputersystems | |
DE2812396C2 (de) | ||
DE69514047T2 (de) | Vorrichtung zur Anzeige von Messwerten | |
DE69230095T2 (de) | Bildfensterverwaltung von verbundenen Anwendungen | |
DE3727856C2 (de) | Vielfachmeßgerät | |
DE2658611A1 (de) | Vorrichtung zur erzeugung und zum empfang von digitalwoertern | |
DE2648596A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur darstellung eines signalverlaufes auf einem aufzeichnungstraeger | |
DE2607842C2 (de) | ||
EP0063650A1 (de) | Prüfsystem | |
DE69225527T2 (de) | Verfahren und System zur automatischen Bestimmung der logischen Funktion einer Schaltung | |
DE2411329A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur durchfuehrung raeumlicher transformationen | |
DE69430413T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Lösung von Termen einer numerischen Folge | |
DE3587620T2 (de) | Logikanalysator. | |
DE2726537A1 (de) | Programmierbares steuergeraet mit einem speicher | |
DE68919107T2 (de) | Verfahren und Gerät zur Testsequenzbestimmung für ein Signalmesssystem. | |
DE69109703T2 (de) | Sequentielle Endlichautomatenschaltung sowie integrierte Schaltung mit einer derartigen Schaltung. | |
DE10250183A1 (de) | Kontextinterne Erzeugung und Editierung von Masken und Wellenformen | |
DE2433885C3 (de) | Vorrichtung zum Synchronisieren der Eingansschaltung eines elektronischen Testinstruments auf zu prüfende Signalfolgen | |
DE4100899A1 (de) | System fuer die steuerung des ablaufs von testsequenzen in einer informationsverarbeitungsvorrichtung | |
DE10213582B4 (de) | Datenberechnungsvorrichtung und Verfahren zur Anwendung der Datenberechnungsvorrichtung zur Einstellung einer elektronischen Steuereinrichtung | |
DE1938248C3 (de) | Bilddarstellungsanlage | |
DE2342127A1 (de) | Digitale logische anzeigevorrichtung | |
DE2714070A1 (de) | Steuergeraet fuer eine fertigungsstrasse oder dergleichen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: STRASSE, J., DIPL.-ING., PAT.-ANW., 8000 MUENCHEN |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |