DE3842246C2 - Verfahren zur exakten Ausfüllung einer wannenartigen Vertiefung - Google Patents
Verfahren zur exakten Ausfüllung einer wannenartigen VertiefungInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur exakten
Ausfüllung einer wannenartigen Vertiefung in einem Sub
strat mit einer dünnen Schicht bis zu einer Ebene, die
durch die Oberkante der Vertiefung festgelegt ist. Ein
solches Verfahren ist in der EP-B-0 185 289 angedeutet.
In Dünnfilm-Technik herzustellende Magnetköpfe für Magnet
speicherplatteneinrichtungen hoher Speicherdichte werden
im allgemeinen auf sie tragenden Substraten ausgebildet.
Diese Substrate können als Flugkörper gestaltet sein, so
daß sie aerodynamisch über plattenförmigen Aufzeichnungs
medien der Speichereinrichtungen hinwegzuführen sind. Bei
der Herstellung derartiger Magnetköpfe besteht vielfach
die Forderung, daß man einzelne oder mehrere Schichten des
Magnetkopfes in einer wannenartigen Vertiefung anordnen
will (vgl. z. B. die eingangs genannte EP-B). Entsprechende
Vertiefungen haben dabei im allgemeinen eine Tiefe zwi
schen 0,5 und 20 µm und sind wesentlich weiter ausgedehnt,
wobei die maximale Ausdehnung bis zu einigen 100 µm betra
gen kann. Will man jedoch eine derartige Vertiefung mit
aus der Dünnfilm-Technik bekannten Verfahren exakt bis zur
Oberkante der Vertiefung des Substrates mit einer entspre
chend dünnen Schicht ausfüllen, so tritt bei bekannten
Einebnungsverfahren das Problem auf, daß es wegen der gro
ßen Ausdehnung der Vertiefung zu einer unerwünschten Ab
senkung der Oberfläche im Bereich der Vertiefung kommen
kann.
Die JP 62-119716 A gemäß Patents Abstracts of Japan P-633,
Vol. 11, Nr. 337, 5.11.1987, beschreibt ein Verfahren zur
Herstellung eines Dünnfilm-Magnetkopfes auf einem ebenen
Substrat. Bei diesem Verfahren wird zur Erzielung eines
gleichmäßigen Ätzverhaltens ein Spalt zwischen einer
Fotolackschicht und einer Isolierschicht mit einer Hilfs
schicht ausgefüllt. Dieser Hilfsschicht kommt in erster
Linie die Aufgabe zu, eine gleichmäßige Bedeckung einer
Böschung zu gewährleisten.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es somit, das
Verfahren der eingangs genannten Art so auszugestalten,
daß die erwähnten Absenkungen zumindest weitgehend
vermieden werden.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst,
- - daß auf dem mit der Vertiefung versehenen Substrat zunächst ein schichtförmiges Vorprodukt der herzustellenden Schicht mit einer Dicke abgeschieden wird, die zumindest gleich der Tiefe der Substratvertiefung ist, wobei in dem schichtförmi gen Vorprodukt eine der Substratvertiefung entsprechende Ab senkung entsteht,
- - daß dann in der Absenkung des Vorproduktes eine diese Absen kung weitgehend ausfüllende Hilfsschicht mit einer Dicke aus gebildet wird, die zumindest annähernd gleich der Tiefe der Absenkung des Vorproduktes ist, wobei zwischen dem Vorprodukt und der Hilfsschicht an der Vertiefungsoberkante nur schmale rinnenartige Gräben verbleiben,
- - daß anschließend dieser Aufbau mit einer hinreichend dicken Einebnungsschicht versehen wird, wobei die rinnenartigen Grä ben mit ausgefüllt werden, und
- - daß schließlich die Einebnungsschicht und die Hilfsschicht vollständig sowie der aus der Substratvertiefung herausragen de Teil des Vorproduktes bis zu der Ebene der Oberkante der Substratvertiefung abgeätzt werden.
Die mit dieser Ausgestaltung des Verfahrens verbundenen Vortei
le sind insbesondere darin zu sehen, daß auch bei einer ver
hältnismäßig großen Ausdehnung der Vertiefung in dem Substrat
eine einwandfreie Einebnung und Ausfüllung dieser Vertiefung
mit dem Material der herzustellenden Schicht ermöglicht wird.
Wegen der Verwendung der Hilfsschicht sind nämlich die an den
Rändern zur Vertiefungsoberkante verbleibenden Gräben so
schmal, daß bei einer an sich bekannten Einebnung mit einer
Einebnungsschicht im Bereich dieser Gräben praktisch keine Ab
senkungen der Oberfläche der Einebnungsschicht auftreten. Mit
bekannten Abätzverfahren können deshalb die Einebnungsschicht
sowie die Hilfsschicht bis zur Ebene der Oberkante der Vertie
fung sehr gleichmäßig abgetragen werden. Auf der so erhaltenen
sehr glatten Ebene kann dann in bekannter Weise ein weiterer
Aufbau in Dünnfilm-Technik, beispielsweise von Teilen eines
Dünnfilm-Magnetkopfes, aufgebracht werden.
Vorteilhafte Ausgestaltungen des erfindungsgemäßen Verfahrens
gehen aus den Unteransprüchen hervor.
Zur weiteren Erläuterung der Erfindung wird nachfolgend auf die
Zeichnung Bezug genommen, in deren Fig. 1 als Ausführungsbei
spiel ein Magnetkopf mit einer erfindungsgemäß herzustellenden
Schicht schematisch veranschaulicht ist. In den Fig. 2 bis 8
sind einzelne Verfahrensschritte zur Herstellung dieser Schicht
angedeutet. Dabei sind in den Figuren sich entsprechende Teile
mit denselben Bezugszeichen versehen.
Bei dem in Fig. 1 als Längsschnitt nur teilweise veranschau
lichten Dünnfilm-Magnetkopf zum Schreiben und Lesen wird von an
sich bekannten ringkopfähnlichen Ausführungsformen mit schicht
weisem Aufbau für das Prinzip einer longitudinalen (horizon
talen) oder insbesondere einer senkrechten (vertikalen) Magne
tisierung ausgegangen. Der in der Figur allgemein mit 2 be
zeichnete Kopf ist in Dünnfilm-Technik auf einem Substrat 3
ausgebildet, das in bekannter weise als Flugkörper gestaltet
sein kann und in der Figur nicht weiter ausgeführt ist. Das
Substrat 3 und damit der Magnetkopf 2 sind relativ zu einem an
sich bekannten, dem vorgesehenen Magnetisierungsprinzip ent
sprechenden Aufzeichnungsmedium in geringer Flughöhe längs
einer Spur aerodynamisch zu führen. Diese bezüglich des Kopfes
relative Bewegungsrichtung des sich beispielsweise unter diesem
hinwegdrehenden Aufzeichnungsmediums ist durch eine mit v be
zeichnete gepfeilte Linie angedeutet.
Der Magnetkopf 2 weist einen den magnetischen Fluß führenden,
ringkopfähnlichen magnetischen Leitkörper 5 mit zwei Magnet
schenkel 6 und 7 auf. Diese Magnetschenkel enthalten jeweils
mindestens eine Magnetschicht 6a bzw. 7a, die an ihren dem Auf
zeichnungsmedium zugewandten Polspitzen 8 und 9 jeweils einen
Magnetpol P1 bzw. P2 ausbilden. Zwischen den beiden Polen P1
und P2 ist ein Luftspalt 10 von einer vorteilhaft geringen
longitudinalen, d. h. in Bewegungsrichtung v weisenden Weite g
von unter 1 µm ausgebildet. Jeder der Magnetschenkel 6 und 7
ist außerhalb der durch die Polspitzen 8 und 9 eingenommenen
Bereiche mit einer zusätzlichen, verhältnismäßig dicken Magnet
schicht 6b bzw. 7b verstärkt. Die beiden Verstärkungsschichten
6b und 7b sind dabei so angeordnet, daß sie an den Außenseiten
des magnetischen Leitkörpers 5 liegen.
Wie ferner aus der Figur ersichtlich, soll sich die Verstär
kungsschicht 6b, welche dem hinsichtlich der Bewegungsrichtung
v vorlaufenden Magnetschenkel 6 zugeordnet ist, in einer wan
nenartigen Vertiefung 12 befinden. Diese Vertiefung ist dabei
in das Substrat 3 so eingearbeitet und erfindungsgemäß mit der
Verstärkungsschicht 6b exakt bis zu ihrer Oberkante K so aus
gefüllt, daß die der Magnetschicht 6a zugewandte Oberfläche 13
der Verstärkungsschicht 6b zusammen mit der nicht-vertieften
Oberfläche 14 des Substrates 3 in einer gemeinsamen Ebene E
liegt.
In einem mittleren Bereich des ringkopfähnlichen magnetischen
Leitkörpers 5 ist der Abstand zwischen den beiden Magnetschen
keln 6 und 7 gegenüber der Spaltweite g erweitert, indem der
hinsichtlich der Bewegungsrichtung v rückwärtige (nachlaufende)
Magnetschenkel 7 in diesem Bereich auf einen größeren Abstand W
bezüglich des vorderen, eben ausgebildeten und dem Substrat 3
zugewandten Magnetschenkels 6 führt. Außerhalb dieses erweiter
ten Leitkörperbereiches ist auf der dem Aufzeichnungsmedium ab
gewandten Seite des Leitkörpers der Magnetschenkel 7 in be
kannter Weise an den Magnetschenkel 6 angefügt, so daß sich
dann die ringkopfähnliche Gestalt des Leitkörpers 5 ergibt.
Durch den zwischen den beiden Magnetschenkeln 6 und 7 in dem
erweiterten Leitkörperbereich somit vorhandenen Zwischenraum 16
erstreckt sich mindestens eine ein- oder mehrlagige Spulen
wicklung 17, mit der sowohl die Schreib- als auch die Lese
funktion ausgeübt werden kann. Der gesamte magnetische Leit
körper 5 ist auf seiner Außenseite mit einer harten Schutz
schicht 18 abgedeckt.
Anhand der schematischen Längsschnitte der Fig. 2 bis 8 wer
den nachfolgend einzelne Schritte zu einer erfindungsgemäßen
Herstellung der magnetischen Verstärkungsschicht 6b des in
Fig. 1 veranschaulichten Magnetkopfes näher erläutert:
Um in dem Substrat 3 die wannenartige Vertiefung 12 auszubil den, wird gemäß Fig. 2 auf der in der Ebene E liegenden Ober fläche 14 des Substrates nach bekannten photolithographischen Verfahren außerhalb des Bereichs der Vertiefung eine Schicht 20 aus einem Photolack abgeschieden. Nach Belichten und Ent wicklung der Photolackschicht 20 wird die gesamte Oberfläche des so beschichteten Substrates einem Ionenstrahlätzen unter zogen. Der Ätzprozeß wird dabei solange durchgeführt, bis die Lackschicht 20 vollständig abgetragen ist. Dabei wird auch das Substrat 3 in dem nicht-beschichteten Bereich bis zu einer Tiefe t von beispielsweise 2 µm unter Ausbildung der gewünsch ten Vertiefung 12 abgeätzt (Fig. 3).
Um in dem Substrat 3 die wannenartige Vertiefung 12 auszubil den, wird gemäß Fig. 2 auf der in der Ebene E liegenden Ober fläche 14 des Substrates nach bekannten photolithographischen Verfahren außerhalb des Bereichs der Vertiefung eine Schicht 20 aus einem Photolack abgeschieden. Nach Belichten und Ent wicklung der Photolackschicht 20 wird die gesamte Oberfläche des so beschichteten Substrates einem Ionenstrahlätzen unter zogen. Der Ätzprozeß wird dabei solange durchgeführt, bis die Lackschicht 20 vollständig abgetragen ist. Dabei wird auch das Substrat 3 in dem nicht-beschichteten Bereich bis zu einer Tiefe t von beispielsweise 2 µm unter Ausbildung der gewünsch ten Vertiefung 12 abgeätzt (Fig. 3).
Danach wird die so strukturierte Oberfläche des Substrates zu
mindest im Bereich der Vertiefung 12 und in den angrenzenden
Randbereichen der nicht-vertieften Oberfläche 14 beispielsweise
mittels eines Sputterprozesses mit einem schichtförmigen Vor
produkt 22 aus dem Material der herzustellenden Verstärkungs
schicht 6b überzogen (Fig. 4). Dieses schichtförmige Vorpro
dukt 22 erstreckt sich somit auch durch den Bereich der wannen
artigen Vertiefung 12 und weist in etwa eine der Strukturierung
des Substrates entsprechende Strukturierung auf. Die Dicke d
des schichtförmigen Vorproduktes 22 entspricht dabei im Bereich
der Vertiefung 12 zumindest annähernd der Tiefe t der Vertie
fung. Die Dicke d kann gegebenenfalls aber auch größer als die
Tiefe t sein.
In der Oberfläche 24 des schichtförmigen Vorproduktes 22 ist
demnach eine der Substratvertiefung 12 entsprechende wannen
artige Absenkung 25 vorhanden, die eine verhältnismäßig große
maximale Längs- und/oder Querausdehnung a von beispielsweise
etwa 200 µm aufweist und eine Tiefe t′ hat, die etwa gleich der
Tiefe t der Vertiefung 12 ist. Eine Einebnung einer derart
strukturierten Oberfläche nach bekannten Einebnungsverfahren
ist jedoch nicht ohne weiteres möglich. Diese Verfahren würden
nämlich wegen der Größe der Ausdehnung a zu unerwünschten Ein
buchtungen der Oberfläche im Bereich der Absenkung 25 führen.
Gemäß Fig. 5 ist deshalb vorgesehen, daß mittels Photolitho
graphie die Absenkung 25 mit einer Hilfsschicht 26 aus einem
Photolack möglichst weitgehend ausgefüllt wird. Die Dicke d′
dieser Hilfsschicht wird dabei so eingestellt, daß sie gleich
der Tiefe t′ der Absenkung 25 ist. Die Oberfläche 27 der Hilfs
schicht 26 liegt deshalb zusammen mit dem nicht-abgesenkten
Teil der Oberfläche 24 des schichtförmigen Vorproduktes 22 in
einer gemeinsamen Zwischenebene e. Beim Aufbringen der Hilfs
schicht 26 läßt sich jedoch nicht vermeiden, daß im Bereich der
Ränder der Absenkung 25 schmale rinnenartige Gräben 29 zwischen
der Hilfsschicht 26 und dem schichtförmigen Vorprodukt 22 ver
bleiben.
Derartige Gräben 29 mit einer Breite b von höchstens einigen
wenigen Mikrometern können in an sich bekannter Weise einge
ebnet werden. Gemäß Fig. 6 wird hierzu die gesamte freie Ober
fläche des schichtförmigen Vorproduktes 22 und der Hilfsschicht
26 mittels einer Polymer-Schicht 30, beispielsweise mit einem
Fotolack, hinreichender Dicke eingeebnet. Hierbei werden auch
die schmalen Gräben 29 mit dem Material der Einebnungsschicht
30 ausgefüllt, ohne daß merkliche Einbuchtungen der Oberfläche
der Schicht 30 im Bereich dieser Gräben auftreten.
Anschließend wird das Kunststoffmaterial der Einebnungsschicht
30 bis zu der gemeinsamen Zwischenebene e der Oberfläche des
schichtförmigen Vorproduktes 22 und der Hilfsschicht 26 wieder
abgeätzt, wobei die Gräben 29 mit dem Material der Einebnungs
schicht gefüllt verbleiben (Fig. 7). Als Ätzverfahren ist ins
besondere reaktives Ionenstrahlätzen mit Sauerstoffionen in
Argon oder reaktives Ionenätzen mit Sauerstoff geeignet.
Schließlich wird mittels eines weiteren Ätzprozesses sowohl das
über die Vertiefung 12 in dem Substrat 3 herausragende Material
des schichtförmigen Vorproduktes 22 als auch das Material der
Hilfsschicht 26 sowie das in den Gräben 29 befindliche Material
bis zur Oberfläche E des Substrates 3 abgetragen. Hierbei wird
vorteilhaft eine etwa gleichgroße Ätzrate für das Material des
Vorproduktes 22 sowie für das oder die Kunststoffmaterialien
der Hilfsschicht 26 und der Gräben 29 vorgesehen. Geeignet
hierfür ist insbesondere reaktives Ionenstrahlätzen mit Stick
stoffionen in Argon.
Am Ende dieses Ätzprozesses liegt dann ein Substrat 3 vor,
dessen Vertiefung 12 vollständig bis zu der gemeinsamen Ebene E
mit einem Material ausgefüllt ist, das die Verstärkungsschicht
6b bildet (Fig. 8). Auf der Ebene E kann dann in an sich be
kannter Weise der übrige Aufbau des in Fig. 1 dargestellten
Magnetkopfes in Dünnfilm-Technik komplettiert werden.
Gemäß dem in den Figuren angedeuteten Ausführungsbeispiel kann
das erfindungsgemäße Verfahren besonders vorteilhaft bei der
Herstellung einer in einem Substrat eines Dünnfilm-Magnetkopfes
versenkt angeordneten Magnetschicht angewandt werden. Das er
findungsgemäße Verfahren ist jedoch nicht auf einen derartigen
Anwendungsfall beschränkt. Es kann generell dort eingesetzt
werden, wo eine wannenartige Vertiefung mit geringer Tiefe und
vergleichsweise große Ausdehnung in einem beliebigen Körper
mit einem beliebigen Material nach Verfahren der Dünnfilm-Tech
nik ausgefüllt und eingeebnet werden soll. Besonders vorteil
haft lassen sich Vertiefungen ausfüllen und einebnen, deren
Tiefe zwischen 0,2 µm und 20 µm, insbesondere zwischen 1 µm und
10 µm, liegt und die in einer Richtung quer dazu mindestens
20 µm, insbesondere über 100 µm, ausgedehnt sind.
Claims (9)
1. Verfahren zur exakten Ausfüllung einer wannenartigen Vertie
fung in einem Substrat mit einer dünnen Schicht bis zu einer
durch die Oberkante der Vertiefung festgelegten Ebene,
dadurch gekennzeichnet,
- - daß auf dem mit der Vertiefung (12) versehenen Substrat (3) zunächst ein schichtförmiges Vorprodukt (22) der herzustel lenden Schicht (6b) mit einer Dicke (d) abgeschieden wird, die mindestens gleich der Tiefe (t) der Substratvertiefung (12) ist, wobei in dem Vorprodukt (22) eine der Substratver tiefung (12) entsprechende Absenkung (25) entsteht,
- - daß dann in der Absenkung (25) des Vorproduktes (22) eine diese Absenkung (25) weitgehend ausfüllende Hilfsschicht (26) mit einer Dicke (d′) ausgebildet wird, die zumindest an nähernd gleich der Tiefe (t′) der Absenkung (25) des Vorpro duktes (22) ist, wobei zwischen dem Vorprodukt (22) und der Hilfsschicht (26) an der Vertiefungsoberkante (K) nur schmale rinnenartige Gräben (29) verbleiben,
- - daß anschließend dieser Aufbau mit einer hinreichend dicken Einebnungsschicht (30) versehen wird, wobei die Gräben (29) mit ausgefüllt werden, und
- - daß schließlich die Einebnungsschicht (30) und die Hilfs schicht (26) vollständig sowie der aus der Substratvertiefung (12) herausragende Teil des Vorproduktes (22) bis zu der Ebene (E) der Oberkante (K) der Substratvertiefung (12) abge ätzt werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Vertiefung (12) in dem Substrat (3)
mittels Photolithographie und Ionenstrahlätzens ausgebildet
wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Hilfsschicht (26) in der
Absenkung (25) aus einem Kunststoffmaterial ausgebildet wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Hilfsschicht (26) mittels Photo
lithographie ausgebildet wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß die Einebnungsschicht (30)
aus einem Kunststoffmaterial ausgebildet wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß zunächst die Einebnungs
schicht (30) mittels eines ersten Ionenstrahlätzprozesses bis
zu einer Zwischenebene (e) abgearbeitet wird, in der die Ober
flächen (24, 27) des schichtförmigen Vorproduktes (22) und der
Hilfsschicht (26) liegen, und daß anschließend mittels eines
zweiten Ionenstrahlätzprozesses der aus der Substratvertiefung
(12) herausragende Teil des Vorproduktes (22), die Hilfsschicht
(26) sowie das die Gräben (29) ausfüllende Material der Ein
ebnungsschicht (30) bis zu der Ebene (E) der Oberkante (K) der
Substratvertiefung (12) abgearbeitet werden.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekenn
zeichnet, daß für den ersten Ätzprozeß ein reaktives
Ionenstrahlätzen mit Sauerstoffionen in Argon oder ein reakti
ves Ionenätzen mit Sauerstoff und/oder für den zweiten Ätzpro
zeß ein reaktives ionenstrahlätzen mit Stickstoffionen in Argon
vorgesehen werden/wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch
gekennzeichnet, daß zur Herstellung eines Dünn
film-Magnetkopfes (2) in der Vertiefung (12) des Substrates (3)
eine versenkte Magnetschicht (6b) ausgebildet wird.
9. Verfahren nach eine der Ansprüche 1 bis 8, dadurch
gekennzeichnet, daß die Vertiefung (12) mit
einer Tiefe (t) zwischen 0,2 µm und 20 µm, vorzugsweise zwi
schen 1 µm und 10 µm, und mit einer quer dazu zu messenden
Ausdehnung (a) von mindestens 20 µm, vorzugsweise mindestens
100 µm, mit einem Material der dünnen Schicht (6b) ausgefüllt
wird.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19883842246 DE3842246C2 (de) | 1988-12-15 | 1988-12-15 | Verfahren zur exakten Ausfüllung einer wannenartigen Vertiefung |
PCT/EP1989/001277 WO1990007177A1 (de) | 1988-12-15 | 1989-10-26 | Verfahren zur exakten ausfüllung einer wannenartigen vertiefung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19883842246 DE3842246C2 (de) | 1988-12-15 | 1988-12-15 | Verfahren zur exakten Ausfüllung einer wannenartigen Vertiefung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3842246A1 DE3842246A1 (de) | 1990-06-21 |
DE3842246C2 true DE3842246C2 (de) | 1996-02-01 |
Family
ID=6369244
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE19883842246 Expired - Fee Related DE3842246C2 (de) | 1988-12-15 | 1988-12-15 | Verfahren zur exakten Ausfüllung einer wannenartigen Vertiefung |
Country Status (2)
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WO (1) | WO1990007177A1 (de) |
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JPS6142714A (ja) * | 1984-08-02 | 1986-03-01 | Fuji Photo Film Co Ltd | 多層導体膜構造体の製造方法 |
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US4620898A (en) * | 1985-09-13 | 1986-11-04 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Ion beam sputter etching |
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- 1988-12-15 DE DE19883842246 patent/DE3842246C2/de not_active Expired - Fee Related
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1989
- 1989-10-26 WO PCT/EP1989/001277 patent/WO1990007177A1/de unknown
Also Published As
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