DE3804955A1 - Geraet und verfahren zur optischen reflexionsmessung an farbigen objekten - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Gerät und Verfahren zur optischen Refle­ xionsmessung an farbigen Objekten, wobei das Gerät in Form eines in einem eine Stromquelle enthaltenden und mit Meßwertanzeigefeld versehenen Gehäuses gemäß Oberbegriff des Hauptanspruches ausgebil­ det ist.

Geräte der eingangs genannten Art sind bspw. nach der DE-PS 34 21 577 bekannt.

Solche Auflichtdensitometer und Auflichtphotometer werden insbesonde­ re in der graphischen Industrie und verwandten Anwendungsbereichen für Messungen an Farben und Farbschichten eingesetzt.

Mit den Auflichtdensitometern wird hauptsächlich an Druckkontroll­ streifen gemessen, die am Rand von Druckbögen mitgedruckt werden. Die farbigen Meßfelder der Druckkontrollstreifen geben Auskunft über die Dicke des Farbauftrags. Die in den Meßfeldern mit dem Auflicht­ densitometer gemessenen Dichtewerte sind die Grundlage für die richtige Einstellung der Farbwerke einer Druckmaschine.

Auflichtphotometer messen Farbmaßzahlen, die es erlauben, den optischen Eindruck einer Farbe durch Zahlenwerte eindeutig zu kenn­ zeichnen. Die Farbmaßzahlen sind wichtig, wenn ein Farbton in be­ stimmten Toleranzen gemischt, gedruckt oder nach irgendeiner anderen Verfahrensweise hergestellt werden soll.

Die meßtechnischen Grundlagen und die wichtigen gerätetechnischen Details von Auflichtdensitometern und Auflichtphotometern sind Gegenstand zahlreicher Normen, was die Bedeutung solcher Geräte unterstreicht. Auflichtdensitometer werden heute dank der Leistungs­ dichte elektronischer Bauelemente fast ausnahmslos als leicht bedienba­ re Handmeßgeräte hergestellt. Ein gleicher Trend ist bei Auflichtpho­ tometern festzustellen, insbesondere bei den Dreibereichs-Farbmeßgerä­ ten und solchen Geräten, die zur Messung spektraler Reflexionswerte mit einer diskreten Zahl von Spektralfiltern bestückt sind.

Das Meßprinzip von Auflichtdensitometern und Auflichtphotometern ist identisch. Das von einer Lichtquelle auf die Meßfläche gestrahlte Meßlicht wird reflektiert und durch Photoelemente in adäquate elektri­ sche Signale umgesetzt, die von einer nachgeschalteten Elektronik ausgewertet und zur Anzeige gebracht werden. Die Anforderungen an die Meßgenauigkeit sind dabei erheblich. Die auf einen Weißstandard bezogenen prozentualen Reflexionswerte werden in der Regel auf zwei Stellen hinter dem Komma genau ermittelt, das heißt, die Meßgenauig­ keit beträgt 0,1 Promille vom größten Reflexionswert.

Es ist verständlich, daß die geforderte Meßgenauigkeit hohe Anforde­ rungen an die Güte der Mechanik und Optik von Densitometern und Photometern stellt. Darüber hinaus gibt es noch eine Reihe anderer Einflüsse auf die Meßgenauigkeit, wobei grundsätzlich unterschieden werden muß zwischen Lang- und Kurzzeiteinflüssen. Langzeiteinflüsse sind insbesondere alterungsbedingte Veränderungen am Meßgerät, wie das Nachlassen der Lampenhelligkeit, die Trübung der optischen Komponenten und die allmähliche Veränderung der spektralen Empfind­ lichkeit der Photoelemente. Derartige Langzeiteinflüsse sind mit Hilfe eines Weißstandards oder eines bestimmten Grau- oder Farbstandards leicht korrigierbar. Dabei wird ein Standard mit bekannten Reflexions­ werten gemessen, und die vom Meßgerät angezeigten Werte werden mit den Reflexionswerten des Standards in Übereinstimmung gebracht.

Dieser Kalibriervorgang ist allgemein üblich und kann so lange durchge­ führt werden, bis die Langzeitveränderungen ein Ausmaß erreicht haben, die ein Nachstellen der Meßwerte nicht mehr zulassen.

Während Langzeiteinflüsse durch das wiederholte Kalibrieren mit einer Standardprobe leicht zu beherrschen sind, bereitet die Korrektur der Kurzzeiteinflüsse erhebliche Schwierigkeiten. Kurzzeiteinflüsse werden verursacht durch Anwärmeffekte nach dem Einschalten des Geräts, durch den Einfluß der Umgebungstemperatur auf Elektronik und Optik und durch Schwankungen der Lampenhelligkeit aufgrund der Wechsel­ wirkung zwischen emittierter Strahlung von Licht und Wärme und der Absorption der Umgebung.

Die stärksten Kurzzeiteinflüsse gehen dabei von den Schwankungen des Meßlichts aus. Dabei ist zu beachten, daß Helligkeitsschwankungen die Reflexionswerte in den verschiedenen spektralen Bereichen unterschied­ lich stark beeinflussen, weil sich mit den Helligkeitsschwankungen die Farbtemperatur und mit ihr die spektrale Zusammensetzung des Meßlichts ändert. Deshalb war man in der Vergangenheit hauptsächlich bemüht, die vom Meßlicht verursachten Kurzzeiteinflüsse zu kompensie­ ren.

Eine dafür übliche Maßnahme besteht darin, die Helligkeit des Meß­ lichts mit einer oder mehreren Photoelementen zu kontrollieren und mit dem Signal der Photoelemente durch eine geeignete Regelelektronik die Helligkeit des Meßlichts in engen Grenzen konstant zu halten. Werden statt eines Photoelements mehrere mit Filtern bestückte Photoelemente eingesetzt, dann können auch Schwankungen in der spektralen Zusam­ mensetzung des Meßlichts erfaßt werden. Hierbei entsprechen in der Regel die Referenzphotoelemente hinsichtlich Anzahl und Filterbestüc­ kung exakt den eigentlichen Meßphotoelementen. Während die Meßpho­ toelemente das von der Meßfläche der Probe reflektierte Licht analysie­ ren, sind die Referenzphotoelemente entweder direkt auf die Meßlicht­ lampe oder auf eine von ihr beleuchtete Referenzfläche gerichtet. Die Signale der Referenzphotoelemente können auf zweierlei Art verwertet werden. Zum ersten kann man das Signal eines oder mehrerer Refe­ renzphotoelemente dazu verwenden, die Lampenhelligkeit in engen Grenzen auf einen möglichst konstanten Wert einzuregeln. Zweitens kann man die Signale der Referenzphotoelemente auf vorher festgelegte Pegel verstärken und mit dem momentan notwendigen Verstärkungs­ faktor auch das Signal des entsprechenden Meßphotoelements verstär­ ken. Damit gelingt es, Schwankungen des Meßlichts weitgehend auszu­ gleichen und bei geeigneter Auslegung der Schaltung auch Kurzzeitein­ flüsse, die von den elektronischen Bauteilen ausgehen, wenigstens teilweise zu kompensieren.

Nachteilig an der beschriebenen Methode ist vor allem der große Aufwand. So sind zwei komplette Sätze an Photoelementen und Filtern erforderlich, ein Satz für die eigentliche Messung und der zweite Satz allein für die Referenzmessung. Hinzu kommt, daß die Meßphotoele­ mente und die Referenzphotoelemente einzeln über eine entsprechend aufwendige Schaltung miteinander verknüpft werden müssen. Der notwendige zusätzliche Schaltungsaufwand steht aber dem Ziel entge­ gen, solche Geräte möglichst leicht und kompakt zu bauen. Die Unterbringung eines zweiten Satzes an Photoelementen und Filtern im Meßkopf der Geräte bereitet ebenfalls aus Platzgründen erhebliche konstruktive Probleme. Neben diesen Nachteilen ist die beschriebene bekannte Lösung auch mit grundsätzlichen Mängeln behaftet. lm Strahlengang von der Meßlichtlampe zur Meßfläche der Probe kann nämlich keine Stelle gefunden werden, deren Helligkeit nicht vom Reflexionsverhalten der Meßfläche der Probe beeinflußt wird, was bedeutet, daß die Helligkeit der Referenzfläche, die zwangsläufig im Strahlengang von Lampe und Probe liegen muß, mit von der Helligkeit der Probe abhängt. Eine helle Probe wird die Referenzfläche geringfü­ gig mehr aufhellen als eine dunkle Probe. Es bedarf also weiterer optischer und meßtechnischer Maßnahmen, wenn ein vom Reflexionswert der Probe weitgehend unbeeinflußtes Referenzsignal gewonnen werden soll. Dabei zeigt sich, daß die scheinbar einfache Methode, auf eine Referenzfläche ganz zu verzichten und die Referenzphotoelemente direkt auf die Meßlichtlampe zu richten, praktisch undurchführbar ist, weil eine größere homogen beleuchtete Fläche unerläßlich ist.

Der Erfindung liegt demgemäß die Aufgabe zugrunde, Geräte der gattungsgemäßen Art dahingehend zu verbessern, daß die im Gerät vorhandenen Photoelemente und die Elektronik sowohl für die Refe­ renzmessungen als auch die eigentlichen Messungen genutzt werden können, und zwar mit der Maßgabe, dabei nicht ständig den bisher üblichen Kalibrierstandard verwenden zu müssen.

Diese Aufgabe ist mit einem Gerät der eingangs genannten Art nach der Erfindung durch die im Kennzeichen des Hauptanspruches angeführ­ ten Merkmale gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen ergeben sich nach den Unteransprüchen.

Dieser gerätespezifischen Lösung liegt verfahrensmäßig und im Gegen­ satz zum bisher Üblichen die Überlegung zugrunde, Referenzmessungen ständig durchzuführen und diese für die eigentlichen Messungen jeweils kurz zu unterbrechen, um aus dem Trend der gegf. auftretenden Verän­ derungen verfeinerte Korrekturfaktoren für die aus den eigentlichen Messungen resultierenden Signale zu gewinnen, was mit dem wesentli­ chen Vorteil verbunden ist, daß die Referenzfläche keine definierten Reflexionswerte aufweisen muß.

Durch die erfindungsgemäße Ausbildung des Gerätes werden die genannten Nachteile behoben, weil nur ein Satz an Photoelementen erforderlich ist, der abwechselnd für Referenzmessungen und für die eigentliche Messung verwendet wird. Vor und nach der eigentlichen Messung, und das ist wesentlich, sitzt vor der Meßöffnung des Meßkop­ fes die schwenkbare Verschlußplatte, die auf ihrer dem Meßlicht und den Photoelementen zugekehrten Seite gleichmäßig weiß, grau oder auch farbig belegt ist und als Referenzfläche dient. Vor und nach der eigentlichen Messung der Probe wird die Referenzfläche der Verschluß­ platte ständig gemessen. Das Signal eines oder mehrerer Photoelemente wird erstens dazu benutzt, um die Helligkeit des Meßlichts durch eine Regelschaltung in engen Grenzen konstant zu halten. Zweitens werden die Signale der Photoelemente einzeln auf vorgegebene Pegel verstärkt. Für den kurzen Augenblick der eigentlichen Messung der Probe wird die Verschlußplatte mit der Referenzfläche von der Meßöffnung wegge­ schwenkt, womit gleichzeitig die Referenzmessungen unterbrochen werden. Unmittelbar nach der eigentlichen Messung werden die Refe­ renzmessungen wieder fortgesetzt. Die kurze Unterbrechung der Referenzmessungen ist unbedenklich, weil innerhalb der Periode der eigentlichen Messung, die in der Regel nur den Bruchteil einer Sekunde beträgt, keine Veränderungen der Meßbedingungen zu erwarten sind. Während der eigentlichen Messung wird die Leistungsaufnahme der Meßlichtlampe konstant gehalten, und zwar auf jenen Wert, der bei der letzten Referenzmessung eingeregelt worden ist. Weiterhin werden die Signale der Photoelemente mit den Verstärkungsfaktoren multipliziert, die zuletzt für die Referenzsignale notwendig waren, um die vorgegebe­ nen Signalpegel einzustellen.

Die erfindungsgemäße Lösung reduziert vorteilhaft den technischen Aufwand auf einen Satz Photoelemente und beschränkt den Schaltungs­ aufwand der Elektronik auf den Umfang, der für den Betrieb von einem Satz Photoelemente notwendig ist. Ein zusätzlicher Vorteil besteht darin, daß Kurzzeiteinflüsse, die von den elektronischen Bauteilen der Schaltung ausgehen im Gegensatz zu anderen Referenzverfahren voll­ ständig erfaßt und kompensiert werden können, weil während der Referenzmessung und der eigentlichen Messung dieselbe Schaltung zum Einsatz kommt.

Das erfindungsgemäße Meßverfahren kann weiter verfeinert werden, wenn die Ergebnisse der Referenzmessung vor und nach der eigentlichen Messung miteinander verglichen werden. Weichen die Ergebnisse nur geringfügig voneinander ab, kann für die Korrektur der eigentlichen Meßsignale der Mittelwert aus den Korrekturfaktoren der Referenzmes­ sung gebildet werden, die unmittelbar vor und nach der eigentlichen Messung festgestellt werden. Treten wider Erwarten Abweichungen auf, die ein vorgegebenes tolerierbares Maß überschreiten, können die Ergebnisse der Messung verworfen und die Notwendigkeit einer Wieder­ holung der eigentlichen Messung angezeigt werden.

Eine andere Verfeinerung des erfindungsgemäßen Meßverfahrens besteht darin, daß die Signale der Referenzmessungen vor der eigentlichen Messung während einer bestimmten Dauer bestimmte vorher festgelegte Schwankungen nicht überschreiten dürfen, bevor die eigentliche Messung beginnen kann. Weiterhin können die Referenzsignale nach der eigentli­ chen Messung ebenfalls über eine bestimmte Dauer registriert werden. Aus dem Trend der Veränderungen der Referenzmessungen vor und nach der eigentlichen Messung können nach bekannten mathematischen Algorithmen verfeinerte Korrekturfaktoren für die Signale der eigentli­ chen Messung gewonnen werden.

Ein wesentlicher Vorzug der erfindungsgemäßen Lösung besteht darin, daß die Referenzfläche der Verschlußplatte keine definierten Refle­ xionswerte aufweisen muß. Die Reflexionswerte der Referenzfläche werden beim Kalibrieren mit dem Weißstandard immer wieder aufs neue geräteintern ermittelt und für die darauffolgenden Referenzmes­ sungen gespeichert. Die Referenzfläche der Verschlußplatte hat damit auf keinen Fall die Funktion eines Kalibrierstandards und muß deshalb auch nicht die Anforderungen eines Kalibrierstandards erfüllen. So beeinträchtigen allmählich alterungsabhängige Veränderungen der Reflexionswerte der Referenzfläche deren Funktion in keiner Weise, weil beim Kalibrieren der Bezug zu den exakten Reflexionswerten des Weißstandards immer wieder hergestellt wird.

Das Öffnen und Schließen der Verschlußplatte erfolgt vorteilhaft automatisch. Nach dem Start des Meßvorgangs durch Drücken einer Taste wird zuerst mit den Referenzmessungen begonnen. Nach kurzer Zeit - in der Regel sind es wenige Sekunden - ist die Lampenhelligkeit stabilisiert, und die Verstärkerschaltung ist auf den vorgeschriebenen Signalpegel eingeregelt, der bei der vorausgegangenen Kalibrierung mit dem Weißstandard festgelegt worden ist. Nach Erreichen dieses Regelzustandes wird die Verschlußplatte geöffnet, was am besten mit einem Elektromagneten erfolgt, und der eigentliche Meßvorgang läuft ab. Danach wird die Verschlußplatte wieder in die Ausgangsposition zurückbewegt, und es folgt die Fortsetzung der Referenzmessungen.

Eine bekannte Konstruktionsart von Handdensitometern sieht vor, daß der die Meßeinheit tragende Geräteteil schwenkbar auf einer Grund­ platte angeordnet ist. Zur Durchführung der eigentlichen Messung wird der bewegliche Geräteteil mit der Meßeinheit über der zu messenden Fläche abgesenkt. Sobald mit dem Absenken des beweglichen Geräte­ teils begonnen wird, was von Hand oder auch motorisch erfolgen kann, wird ein Schalter mitbetätigt, der automatisch die Referenzmessung einleitet. lst der Absenkvorgang abgeschlossen, werden über einen zweiten Schalter automatisch die Referenzmessungen beendet, die Verschlußplatte wird geöffnet und die eigentliche Messung wird gestartet. Nach Ablauf der eigentlichen Messung werden nach dem Schließen der Verschlußplatte die Referenzmessungen fortgesetzt.

Das erfindungsgemäße Gerät wird nachfolgend anhand der zeichneri­ schen Darstellung von Ausführungsbeispielen näher erläutert.

Es zeigt

Fig. 1 einen vergrößerten Schnitt durch den Meßkopf des Gerätes mit angedeutetem Gehäuse;

Fig. 2 in Draufsicht eine besondere Ausführungsform der Verschlußplat­ te und

Fig. 3 stark schematisiert ein Blockschaltbild der im Gehäuse unterge­ brachten Geräteelektronik.

ln den Fig. 1 bis 3 ist auf die Darstellung an sich bekannter Einzelhei­ ten solcher Geräte, wie Drucktaster, Schalter, Anzeigefelder für Meßwerte, spezifischer Gehäusegestaltungen, schwenkbar dem Gehäuse 1 zugeordneter Grundplatte u. dgl. verzichtet. Die speziell dargestellte Anordnung der Photozellen 4 und deren Anzahl ist nur beispielhaft zu verstehen, wesentlich ist nur, daß die wirksamen Flächen 4 der Photozellen 4, abgeschirmt gegen direkten Einfall von der Meßlichtquel­ le 14 ausgehenden Meßlicht, gegen die Meßöffnung 2 mittels der Verschlußplatte 6 für die Durchführung der Referenzmessungen ver­ schlossen und für den kurzen Moment der eigentlichen Messung am Objekt (Probe) geöffnet werden kann. Dafür ist die Verschlußplatte 6 in geeigneter Weise unter der Meßöffnung 2 angeordnet, wobei die Verschlußplatte 6 nicht nur, wie bspw. dargestellt, schwenkbar ange­ ordnet, sondern auch bspw. als Schieber ausgebildet sein kann. Vorteil­ haft ist für die Betätigung der Verschlußplatte 6 diese mit einem geeigneten Stellantrieb 8 bspw. in Form eines Elektromagneten verse­ hen, der gegf. auch im Gehäuse 1 angeordnet sein kann, sofern dort ausreichend Platz vorhanden ist.

Beim gezeigten Ausführungsbeispiel ist die Verschlußplatte 6 mit einer Öffnung 9 versehen, die durch deren Verschwenkung mit der Meßöff­ nung 2 für den Vorgang der eigentlichen Messung in fluchtende Stellung gebracht wird.

Wie aus der stark schematisierten Darstellung gemäß Fig. 3 ersichtlich, stehen die Photozellen 4 mit der im Gehäuse 1 untergebrachten Umsetz- und Auswertschaltung 5 in Verbindung.

Vor und nach der eigentlichen Messung sitzt vor der Meßöffnung 2 des Meßkopfes 3 die Verschlußplatte 6, die auf ihrer dem Meßlicht und den Photozellen 4 zugekehrten Fläche 7 mindestens im Bereich unter der Meßöffnung 2 gleichmäßig weiß, grau oder auch farbig belegt ist und als Referenzfläche dient. Vor und nach der eigentlichen Messung der Probe wird die Referenzfläche der Verschlußplatte ständig gemessen. Das Signal einer oder mehrerer Photozellen 4 wird dazu benutzt, um die Helligkeit der Meßlichtquelle 14 durch eine Regelschaltung in engen Grenzen konstant zu halten. Ferner werden die Signale der Photozellen 4 einzeln auf vorgegebene Pegel verstärkt. Für den kurzen Augenblick der eigentlichen Messung der Probe wird die Verschlußplatte 6 mit der Referenzfläche von der Meßöffnung 2 weggeschwenkt, und die Referenzmessungen werden unterbrochen. Unmittelbar nach der eigentlichen Messung werden die Referenzmessungen wieder fortgesetzt.

Während der eigentlichen Messung wird die Leistungsaufnahme der Meßlichtquelle 14 konstant gehalten, und zwar auf jenen Wert, der bei der letzten Referenzmessung eingeregelt worden ist. Weiterhin werden die Signale der Photozellen 4 mit den Verstärkungsfaktoren multipli­ ziert, die zuletzt für die Referenzsignale notwendig waren, um die vorgegebenen Signalpegel einzustellen.

Ferner werden die Ergebnisse der Referenzmessung vor und nach der eigentlichen Messung verglichen, wofür in der Schaltung 5 eine Ver­ gleichsschaltung 12 integriert ist. Weichen die Ergebnisse nur geringfü­ gig voneinander ab, wird für die Korrektur der eigentlichen Meßsignale der Mittelwert aus den Korrekturfaktoren der Referenzmessungen gebildet, die unmittelbar vor und nach der eigentlichen Messung festgestellt werden. Treten wider Erwarten Abweichungen auf, die ein vorgegebenes tolerierbares Maß überschreiten, werden die Ergebnisse der Messung verworfen, und es wird die Notwendigkeit einer Wiederho­ lung der eigentlichen Messung am Gerät angezeigt, wofür dieses mit einer Wiederholungsanzeige 13 versehen ist.

Ferner ist es vorteilhaft, dafür zu sorgen, daß die Signale der Refe­ renzmessungen vor der eigentlichen Messung während einer bestimmten Dauer bestimmte vorher festgelegte Schwankungen nicht überschreiten dürfen, bevor die eigentliche Messung beginnen kann. Weiterhin können die Referenzsignale nach der eigentlichen Messung ebenfalls über eine bestimmte Dauer registriert werden. Aus dem Trend der Veränderungen der Referenzmessungen vor und nach der eigentlichen Messung können nach bekannten mathematischen Algorithmen verfeinerte Korrekturfak­ toren für die Signale der eigentlichen Messung gewonnen werden. Dafür ist die Schaltung 5 mit einem Referenzmeßwertspeicher 11 ausgestat­ tet. Für diese Elemente, nämlich Vergleichsschaltung und Speicher stehen ohne weiteres geeignete elektronische Bauteile zur Verfügung, die insoweit keiner speziellen Beschreibung bedürfen.

Nach dem Start des Meßvorgangs durch Drücken einer Taste (nicht dargestellt), wird zuerst mit den Referenzmessungen begonnen. Nach kurzer Zeit ist die Lampenhelligkeit stabilisiert, und der Verstärkerteil der Schaltung 5 ist auf den vorgeschriebenen Signalpegel eingeregelt, der bei der vorausgegangenen Kalibrierung mit dem Weißstandard festgelegt worden ist. Nach Erreichen dieses Regelzustandes wird die Verschlußplatte 6 geöffnet, was mit dem Stellantrieb 8 erfolgt, und der eigentliche Meßvorgang läuft ab. Danach wird die Verschlußplatte 6 wieder in die Ausgangsposition zurückbewegt, und es folgt die Fortset­ zung der Referenzmessung.

Sofern das Gehäuse 1, wie vorerwähnt, mit einer beweglichen Grund­ platte ausgestattet ist, können die Schaltvorgänge mit dieser Grund­ platte gekoppelt sein, gegen die das Gehäuse bzw. das ganze Gerät nach unten in Meßstellung gedrückt wird, um den Meßkopf 3 mit seiner Meßöffnung 2 auf den kleinen Flächenbereich der zu messenden Probe dicht aufzusetzen.

Claims (9)

1. Gerät zur optischen Reflexionsmessung an farbigen Objekten in Form eines eine Stromquelle enthaltenden und mit Meßwertean­ zeigenfeld versehenen Gehäuses (1) mit eine Meßöffnung (2) aufweisendem Meßkopf (3), in dem über der mit Meßlicht beschickbaren Meßöffnung (2), abgeschirmt gegen direkten Meßlichteinfall, auf die Meßöffnung (2) gerichtete Fotozellen (4) angeordnet und diese mit einer elektronischen Meßwertumset­ zungs- und Auswertschaltung (5) verbunden sind, dadurch gekennzeichnet, daß am Gehäuse (1) eine vor die Meßöffnung (2) des Meßkopfs (3) stellbare und wieder rückstellbare Verschlußplatte (6) angeordnet und deren meßöffnungsseitige Fläche (7) als gleichmä­ ßig weiß, grau oder auch farbig angelegte Referenzfläche für die sowohl für den Meßvorgang am Objekt als auch für Referenz­ messungen wirksamen Fotozellen (4) ausgebildet ist.

2. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Verschlußplatte (6) in Form eines schwenk- oder gerade verstellbaren Schiebers ausgebildet ist.

3. Gerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Verschlußplatte (6) mittels eines am oder im Gehäuse (1) angeordneten Stellantriebes (8) betätigbar ausgebildet ist.

4. Gerät nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Verschlußplatte (6) mit einer mit der Meßöffnung (2) zur Deckung bringbaren Öffnung (9) versehen ist und die auflagenseitige Fläche (10) die Gerätemeßflächenebene bildet.

5. Gerät nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß in der Meßwertumsetzungs- und Auswertschaltung ein Referenzmeßwertspeicher (11), gekoppelt mit einer Referenz- Meßwert-Vergleichsschaltung (12), enthalten und am Gerät eine Meßvorgangs-Wiederholungsanzeige (13) angeordnet ist.

6. Verfahren zur optischen Reflexionsmessung an farbigen Objekten, insbesondere unter Verwendung des Gerätes nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß bei eingeschaltetem Meßlicht an einer vor die Meßöffnung gehaltenen Referenzfläche ständig Referenzmessungen durchge­ führt und für die eigentliche Messung die Referenzfläche entfernt und bei unterbrochenen Referenzmessungen die eigentli­ che Messung unter Konstanthaltung der Referenzbedingungen durchgeführt wird.

7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die eigentliche Messung am Objekt begonnen wird, wenn die Signale der vorausgehenden Referenzmessung vorgegebene Schwankungsgrenzen nicht mehr überschreiten.

8. Verfahren nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Ergebnisse der Referenzmessungen vor und nach der eigentlichen Messung miteinander verglichen werden und bei Abweichungen der Ergebnisse der Mittelwert aus den Korrektur­ faktoren für die Korrektur der Signale der eigentlichen Messung verwendet wird.

9. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Überschreitung vorgegebener Grenzwerte bei den Refe­ renzmessungen angezeigt und die eigentliche Messung am Objekt wiederholt wird.