DE3737632A1 - Optische oberflaechenwelligkeitsmessvorrichtung - Google Patents

Optische oberflaechenwelligkeitsmessvorrichtung

Info

Publication number
DE3737632A1
DE3737632A1 DE19873737632 DE3737632A DE3737632A1 DE 3737632 A1 DE3737632 A1 DE 3737632A1 DE 19873737632 DE19873737632 DE 19873737632 DE 3737632 A DE3737632 A DE 3737632A DE 3737632 A1 DE3737632 A1 DE 3737632A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
concave mirror
light spot
curvature
center
measuring device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19873737632
Other languages
English (en)
Other versions
DE3737632C2 (de
Inventor
Klaus Dr Weber
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Erwin Sick GmbH Optik Elektronik
Original Assignee
Erwin Sick GmbH Optik Elektronik
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Erwin Sick GmbH Optik Elektronik filed Critical Erwin Sick GmbH Optik Elektronik
Priority to DE19873737632 priority Critical patent/DE3737632A1/de
Priority to US07/264,101 priority patent/US4866287A/en
Priority to GB8825241A priority patent/GB2211933B/en
Publication of DE3737632A1 publication Critical patent/DE3737632A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3737632C2 publication Critical patent/DE3737632C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/306Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft eine optische Oberflächenwellig­ keitsmeßvorrichtung für spiegelnd reflektierende Ober­ flächen mit einer Lichtquelle und einer Optik, die unter einem von 90° abweichenden Winkel schräg auf die Ober­ fläche einen Lichtstrahl lenkt, der dort einen kleinen Lichtfleck erzeugt.
Vorrichtungen zur Messung der Welligkeit von Oberflächen sind bekannt (DE-OS 34 28 718.3).
Das Ziel der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine optische Oberflächenwelligkeitsmeßvorrichtung zu schaffen, die nicht nur die Welligkeit in einer bestimmten Richtung zu bestimmen gestattet, sondern darüber hinaus etwaige Verkippungen der Materialbahn insgesamt kompensiert.
Zur Lösung dieser Aufgabe sieht die Erfindung vor, daß unter dem Reflexionswinkel ein sphärischer Hohlspiegel angeordnet ist, dessen Krümmungsmittelpunkt dicht neben dem kleinen primären Lichtfleck auf der reflektierenden Oberfläche angeordnet ist und daß unter dem Reflexions­ winkel des von dem Hohlspiegel reflektierten Lichtstrahls eine Photoempfangsanordnung mit zumindest zwei Einzel­ photoempfängern angeordnet ist.
Erfindungsgemäß wird also der schräg auf die im wesentlichen ebene Oberfläche auftreffende Lichtstrahl mittels des erfin­ dungsgemäß vorgesehenen abbildenden Retroreflektors in Form des sphärischen Hohlspiegels zweimal an der im wesentlichen bis auf die Welligkeit ebenen Oberfläche reflektiert. Auf­ grund der Versetzung des Krümmungsmittelpunktes des Hohl­ spiegels und des kleinen primären Lichtflecks entsteht auf der entgegengesetzten Seite des Krümmungsmittelpunkts ein sekundärer Lichtfleck, wobei der Abstand der beiden Licht­ flecke bzw. des Krümmungsmittelpunkts vom primären Licht­ fleck vorzugsweise veränderbar ist. Die Photoempfangsanord­ nung kann im einfachsten Falle aus einer Differenzdiode oder einem positionsempfindlichen Empfänger bestehen. Für genauere Messungen wird zweckmäßig eine Diodenzeile verwendet.
Die Abstandsänderung zwischen dem primären Lichtfleck und dem Krümmungsmittelpunkt kann nach einer praktischen Aus­ führungsform dadurch realisiert werden, daß der Hohlspiegel um eine senkrecht auf der Reflexionsebene von Eintritts­ strahl und Austrittsstrahl stehende Achse begrenzt kippbar ist.
Die Erfindung wird im folgenden beispielsweise anhand der Zeichnung beschrieben, deren einzige Figur eine schematische Seitenansicht einer erfindungsgemäßen optischen Oberflächen­ welligkeitsmeßvorrichtung zeigt.
Nach der Zeichnung schickt ein Laser 22 über eine Strahlauf­ weitungsoptik 23 einen scharf gebündelten Sendelichtstrahl 24 unter einem Winkel α von etwa 30 bis 45° zur Senkrechten auf die im wesentlichen ebene Oberfläche eines Gegenstandes 25. Gegebenenfalls kann der Gegenstand in Richtung des Pfeiles unter der Oberflächenwelligkeitsmeßvorrichtung hin­ durchbewegt werden.
Der scharf gebündelte Sendelichtstrahl 24 erzeugt auf der Oberfläche 14 einen kleinen primären Licht­ fleck 12, dessen Durchmesser etwa 1 bis 3 mm betragen kann. Da die Oberfläche 14 spiegelnd reflektierend ist, wird unter dem Reflexionswinkel α ein Reflexionsstrahl 21 reflektiert, der auf einen sphäri­ schen Hohlspiegel 11 auftrifft, welcher im wesentlichen im Abstand seines Radius vom primären Lichtfleck 12 angeord­ net ist. Genaugenommen befindet sich aber der Krümmungs­ mittelpunkt 13 des sphärischen Hohlspiegels 12 in einem geringen Abstand neben dem primären Lichtfleck 12, so daß der vom Hohlspiegel 11 reflektierte Austrittsstrahl 15 zum Eintrittsstrahl 21 einen geringen Winkel einschließt und jenseits des Krümmungsmittelpunktes 13 auf die Ober­ fläche 14 auftrifft und dort einen Sekundärlichtfleck 26 erzeugt. Der Auftreffwinkel β des Austrittsstrahls 15 auf die Oberfläche 14 ist etwas größer als der Winkel α. Unter dem Reflexionswinkel β wird dann ein Sekundär- Reflexionslichtstrahl 27 zu einer linearen Photoempfangs­ anordnung 16 gelenkt, deren Längserstreckung im wesent­ lichen senkrecht zum Sekundär-Reflexionsstrahl 27 und in der Zeichnungsebene verläuft. Die Photoempfangsanordnung 16 besteht im Ausführungsbeispiel aus drei in Reihe angeordneten Photoempfängern 17, 18 und 19.
Der Hohlspiegel 11 ist um eine senkrecht auf der Zeichnungs­ ebene stehende Achse 20 geringfügig verschwenkbar, wodurch der Abstand des Krümmungsmittelpunktes 13 vom Primärlicht­ fleck 12 und damit der Abstand der beiden Lichtflecke 12, 26 in einer gewünschten Weise verändert werden kann. Diese Ab­ standsänderung ist zweckmäßig, um bestimmte Welligkeiten optimal messen zu können.
Die Wirkungsweise der beschriebenen Oberflächenwellig­ keitsmeßvorrichtung ist wie folgt:
Der Hohlspiegel 11 erzeugt neben dem Krümmungsmittelpunkt 13 das Spiegelbild des primären Lichtflecks 12 als Sekundär­ lichtfleck 26. Wird die im wesentlichen ebene Oberfläche 14 insgesamt etwas in der einen oder anderen Richtung insbe­ sondere um eine senkrecht auf der Zeichnungsebene Achse ge­ kippt, so verändert sich der Auftreffpunkt des Sekundär- Reflexionslichtstrahls 27 auf der Photoempfangsanordnung 16 nicht. Bestehen jedoch an den Orten des primären Lichtflecks 12 und des sekundären Lichtflecks 26 unterschiedliche Ober­ flächenneigungen um senkrecht auf der Zeichnungsebene stehende Achsen, so fällt der Sekundär-Reflexionsstrahl 27 je nach dieser Neigungsdifferenz entweder auf den Photoempfänger 17 oder den Photoempfänger 19. Neigungsunterschiede im Bereich der Lichtflecke 12, 26 können so mit der Photoempfangsanord­ nung 16 erfaßt werden. Liegen keine Neigungsunterschiede vor, so fällt der Sekundär-Reflexionsstrahl 27 auf den mittleren Photoempfänger 18.
Zur Erläuterung der Erfindung ist die Oberfläche 14 des Gegenstandes 25 unterhalb der dargestellten Oberflächen- Welligkeitsmeßvorrichtung genau eben dargestellt. Eine Welligkeit, wie sie mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung erfaßt werden soll, ist links im Anschluß an die Oberfläche 14 gestrichelt bei 14′ angedeutet. Durch Vorgabe eines geeig­ neten Abstandes zwischen den Lichtflecken 12, 26 können etwa vorhandene Welligkeiten optimal erfaßt und durch die an die Photoempfangsanordnung 16 angeschlossene Auswerte­ elektronik zur Anzeige gebracht werden.
Angezeigt wird in jedem Fall die Differenz der Neigungen, also der zweite Differenzenquotient.

Claims (3)

1. Optische Oberflächenwelligkeitsmeßvorrichtung für spiegelnd reflektierende Oberflächen mit einer Lichtquelle und einer Optik, die unter einem von 90° abweichenden Winkel schräg auf die Oberfläche einen Lichtstrahl lenkt, der dort einen ruhenden kleinen Lichtfleck erzeugt, dadurch ge­ kennzeichnet, daß unter dem Reflexionswinkel (α) die optische Achse eines sphärischen Hohlspiegels (11) an­ geordnet ist, dessen Krümmungsmittelpunkt (13) dicht neben dem kleinen primären Lichtfleck (12) auf der reflektieren­ den Oberfläche (14) angeordnet ist und daß unter dem Reflexionswinkel (β) des von dem Hohlspiegel (11) und abermals von der Oberfläche (14) reflektierten Licht­ strahls (15) eine Photoempfangsanordnung (16) mit zumindest zwei Einzelphotoempfängern (17, 18, 19) angeordnet ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Abstand des Krümmungsmittel­ punktes (13) von dem kleinen primären Lichtfleck (12) einstellbar ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Hohlspiegel (20) um eine senk­ recht auf der Reflexionsebene von Eintrittsstrahl (21) und Austrittsstrahl (15) stehende Achse (20) begrenzt kippbar ist.
DE19873737632 1987-11-05 1987-11-05 Optische oberflaechenwelligkeitsmessvorrichtung Granted DE3737632A1 (de)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19873737632 DE3737632A1 (de) 1987-11-05 1987-11-05 Optische oberflaechenwelligkeitsmessvorrichtung
US07/264,101 US4866287A (en) 1987-11-05 1988-10-28 Optical surface waviness measuring apparatus
GB8825241A GB2211933B (en) 1987-11-05 1988-10-28 Optical surface waviness measuring apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19873737632 DE3737632A1 (de) 1987-11-05 1987-11-05 Optische oberflaechenwelligkeitsmessvorrichtung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3737632A1 true DE3737632A1 (de) 1989-05-24
DE3737632C2 DE3737632C2 (de) 1991-01-24

Family

ID=6339883

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19873737632 Granted DE3737632A1 (de) 1987-11-05 1987-11-05 Optische oberflaechenwelligkeitsmessvorrichtung

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4866287A (de)
DE (1) DE3737632A1 (de)
GB (1) GB2211933B (de)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5453841A (en) * 1993-05-03 1995-09-26 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce Method for the dynamic measurement of the progress of a chemical reaction of an electrochemical interface
JP3183046B2 (ja) * 1994-06-06 2001-07-03 キヤノン株式会社 異物検査装置及びそれを用いた半導体デバイスの製造方法
WO2000022377A1 (de) * 1998-10-08 2000-04-20 Daimlerchrysler Ag Vermessen kleiner, periodischer welligkeiten in oberflächen
US6208412B1 (en) 1999-06-14 2001-03-27 Visteon Global Technologies, Inc. Method and apparatus for determining optical quality
US6100990A (en) * 1999-06-14 2000-08-08 Ford Motor Company Method and apparatus for determining reflective optical quality using gray-scale patterns
US6457801B1 (en) 2001-06-27 2002-10-01 Lexmark International, Inc. Method and apparatus for measuring ink dry time

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3406066A1 (de) * 1984-02-20 1985-08-22 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Anordnung zur optischen erfassung raeumlicher unebenheiten in der struktur eines zu untersuchenden objekts
DE3427838A1 (de) * 1984-07-27 1986-02-06 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Rauheitssonde
DE3428718A1 (de) * 1984-08-03 1986-02-06 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Optisches geraet zur bestimmung der welligkeit von materialoberflaechen

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2256736C3 (de) * 1972-11-18 1979-01-25 Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart Meßanordnung zur automatischen Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit und Ebenheit einer Werkstückoberfläche
LU86194A1 (fr) * 1985-12-05 1987-07-24 Centre Rech Metallurgique Procede de mesure en continu de la rugosite de la surface d'un produit lamine a froid

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3406066A1 (de) * 1984-02-20 1985-08-22 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Anordnung zur optischen erfassung raeumlicher unebenheiten in der struktur eines zu untersuchenden objekts
DE3427838A1 (de) * 1984-07-27 1986-02-06 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Rauheitssonde
DE3428718A1 (de) * 1984-08-03 1986-02-06 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Optisches geraet zur bestimmung der welligkeit von materialoberflaechen

Also Published As

Publication number Publication date
GB2211933B (en) 1991-07-03
US4866287A (en) 1989-09-12
GB2211933A (en) 1989-07-12
DE3737632C2 (de) 1991-01-24
GB8825241D0 (en) 1988-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3216053C2 (de)
DE2256736C3 (de) Meßanordnung zur automatischen Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit und Ebenheit einer Werkstückoberfläche
DE19717488C2 (de) Vorrichtung zur Inspektion der Oberfläche von Objekten
DE2622113C3 (de) Optische Vorrichtung zur Korrektur der sphärischen Aberration eines sphärischen Hohlspiegels
DE3007125A1 (de) Vorrichtung und verfahren zur bestimmung der brechungseigenschaften einer testlinse
DE4211875A1 (de) Optischer Abstandssensor
DE4018005C2 (de) Optische Prüfvorrichtung zum Prüfen eines optischen Systems
DE3304780C2 (de)
DE2532603A1 (de) Optische vorrichtung zur bestimmung des lichtaustrittswinkel
DE3737632A1 (de) Optische oberflaechenwelligkeitsmessvorrichtung
DE2550814A1 (de) Zeilentastvorrichtung fuer materialbahnen zur fehlstellenermittlung
DE3315576A1 (de) Einrichtung zur optischen abstandsmessung, insbesondere zur messung von profilen von werkstuecken oder schneidkanten von werkzeugen
DE3518832C2 (de)
EP0169444A2 (de) Rauheitssonde
WO2016071078A2 (de) Vermessen der topographie und/oder des gradienten und/oder der krümmung einer das licht reflektierenden fläche eines brillenglases
CH668322A5 (de) Vorrichtung mit einem telezentrischen, f-theta-korrigierten objektiv fuer kontaktloses messen und verwendung dieser vorrichtung.
DE69010318T2 (de) Abtastanordnung zum Abtasten einer Oberfläche entlang einer Linie mittels optischer Strahlung.
DE2200092C3 (de) Optische Lesevorrichtung zur Abtastung von Codemarken auf Gegenständen
DE3919893A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen messung von gestaltsabweichungen an oberflaechen
DE3938848A1 (de) Neigungssensor
DE3408106C2 (de)
DE3703504C2 (de)
WO1989011630A1 (en) Process and device for measuring surfaces
DE3623318C2 (de)
DE3426332C2 (de)

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee