DE3705714C2 - - Google Patents

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DE3705714C2
DE3705714C2 DE19873705714 DE3705714A DE3705714C2 DE 3705714 C2 DE3705714 C2 DE 3705714C2 DE 19873705714 DE19873705714 DE 19873705714 DE 3705714 A DE3705714 A DE 3705714A DE 3705714 C2 DE3705714 C2 DE 3705714C2
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Germany
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DE19873705714
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German (de)
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DE3705714A1 (de
Inventor
Robert Dipl.-Ing. 8000 Muenchen De Faul
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FAUL, ROBERT, 80639 MUENCHEN, DE
Original Assignee
Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV
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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/07Non contact-making probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
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