DE3705714C2 - - Google Patents
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/07—Non contact-making probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19873705714 DE3705714A1 (de) | 1987-02-23 | 1987-02-23 | Einrichtung zum ueberpruefen von integrierten schaltungen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19873705714 DE3705714A1 (de) | 1987-02-23 | 1987-02-23 | Einrichtung zum ueberpruefen von integrierten schaltungen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3705714A1 DE3705714A1 (de) | 1988-09-01 |
DE3705714C2 true DE3705714C2 (zh) | 1989-06-15 |
Family
ID=6321552
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19873705714 Granted DE3705714A1 (de) | 1987-02-23 | 1987-02-23 | Einrichtung zum ueberpruefen von integrierten schaltungen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3705714A1 (zh) |
Families Citing this family (2)
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---|---|---|---|---|
DE4012839B4 (de) * | 1989-04-26 | 2004-02-26 | Atg Test Systems Gmbh & Co.Kg | Verfahren und Prüfvorrichtung zum Prüfen von elektrischen oder elektronischen Prüflingen |
EP0640219B1 (de) * | 1992-05-15 | 1995-11-15 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Förderung Der Angewandten Forschung E.V. | Integrierbare leitfähigkeitsmessvorrichtung |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2831787C2 (de) * | 1978-07-19 | 1983-02-17 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Mit Hilfe eines Elektronen- oder Laserstrahls prüfbare integrierte Schaltungsanordnung |
US4585991A (en) * | 1982-06-03 | 1986-04-29 | Texas Instruments Incorporated | Solid state multiprobe testing apparatus |
DE8617408U1 (de) * | 1986-06-30 | 1986-08-21 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Kontaktiervorrichtung für zu prüfende Bauelemente der Mikroelektronik |
-
1987
- 1987-02-23 DE DE19873705714 patent/DE3705714A1/de active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3705714A1 (de) | 1988-09-01 |
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