DE3603548A1 - Verfahren zur bestimmung und regelung der temperatur von laserdioden und schaltungsanordnung zur durchfuehrung des verfahrens - Google Patents
Verfahren zur bestimmung und regelung der temperatur von laserdioden und schaltungsanordnung zur durchfuehrung des verfahrensInfo
- Publication number
- DE3603548A1 DE3603548A1 DE19863603548 DE3603548A DE3603548A1 DE 3603548 A1 DE3603548 A1 DE 3603548A1 DE 19863603548 DE19863603548 DE 19863603548 DE 3603548 A DE3603548 A DE 3603548A DE 3603548 A1 DE3603548 A1 DE 3603548A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- laser
- laser diode
- unit
- circuit arrangement
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/06808—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the electrical laser parameters, e.g. voltage or current
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
- H01S5/024—Arrangements for thermal management
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/06825—Protecting the laser, e.g. during switch-on/off, detection of malfunctioning or degradation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Laser Beam Printer (AREA)
Description
-
- Verfahren zur Bestimmung und Regelung der Temperatur
- von Laserdioden und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung und Regelung der Temperatur von Haibleiterlaserdioden, insbesondere von in Laser-Xerographischen Druckern verwendeten GaAsA1/P-Laserdioden, wobei die Laserdiode impulsartig betrieben wird.
- Die Erfindung betrifft weiterhin eine Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens.
- Wie aus der Fachliteratur bekannt ist, hängt die Lebensdauer der Laserdioden im wesentlichen von Temperatur des aktiven Bereiches, des Diodenüberganges der Laserdiode ab. Wie 3wanne S. Manning bereits in 7.
- Appl.Phys. 52/5 Ausgabe 1981, Mai feststellte, verringert sich die Lebensdauer der Laserdiode bei Obererwärmung des Diodenüberganges mit Erhöhung der Temperatur exponentiell. Bei Unterkühlung des Überganges dagegen zerstört die sich erhöhende Laserausstrahlungsleistung den Laser und führt zum Abbruch des Laserbetriebes. In der Praxis wurden zahlreiche Lösungen entwickelt, die zur Verhinderung des Auftauchens der obigen Probleme dienen. So schlägt zum Beispiel die Firma Hitachi vor, die Laserdioden nur bis zu Hälfte oder bis zu zwei Dritteln ihrer maximalen Ausstrahlungsleistung zu betrieben (Hitachi laser diode application manuell HLP 1000-3000). Diese Lösung führt zu einer Verringerung der Leistungsausnutzung und einer Erhöhung des Kostenaufwandes der zu verwendenden Laserdiode.
- Das Überschreiten der maximalen Ausstrahlungsleistung kann durch die unmittelbare Messung der abgegebenen Strahlungsleistung verhindert werden.
- Diese Möglichkeit nutzen die Lösungen der GB 2 045 516 und der GB 2 054 949, bei denen die abgegebene Strahlungsleistung mittels Photodioden gemessen wird, wobei die Photodiode über eine Steuerschaltung die abgegebene Strahlungsleistung in zugelassenen Grenzen hält.
- Diese Lösung ist zur Verwendung bei einem schnellen impulsartigen Betrieb der Laserdiode nicht geeignet und gibt keine eindeutige Information über die Temperatur der Laserdiode, erhöht jedoch die Kompliziertheit und die Kosten der Konstruktion. Eine ähnliche Lösungsmöglichkeit stellt die Temperaturmessung mittels Thermistor dar. Ein Beispiel dafür bilden die Dioden der Firma RCA, SCW, LCW, bei denen mittels Thermistor jedoch nur die Außentemperatur des Gehäuses der Laserdiode gemessen werden kann. Eine vorteilhafte Lösung ist die in den Laserdioden TXBD 8500 der Firma Telefunken oder der Firma Canon verwendete Lösung, bei der der Thermistor an der Wärmesenke der Laserdiode angeordnet ist und somit von außen die Temperatur des Laserchips mißt. Die Verwendung des Thermistors erhöht jedoch bei der Montage die Kompliziertheit der Konstruktion, sowie den Kostenaufwand, darüber hinaus sind zwei Anschlüsse erforderlich.
- Ein weiterer Nachteil besteht darin, daß der Thermistor die Temperatur des Diodenüberganges ungenau und mit einer Zeitverzögerung mißt.
- Die Aufgabe der Erfindung besteht in der Ausarbeitung eines Verfahrens und einer Schaltungsanordnung, zur Bestimmung und Regelung der Temperatur von Laserdioden, welche von den obenerwähnten Mängeln frei sind, d.h.
- keinen gesonderten Thermistor und keine komplizierte Haltekonstruktion beanspruchen, zur unmittelbaren Bestimmung und Regelung der Temperatur des Diodenüberganges von Laserdioden geeignet sind, dadurch die Anwendung von Laserdioden mit geringerem Kostenaufwand und die Ausnutzung der maximalen A usstrahlungsleistung ermöglichen.
- Die Erfindung beruht auf der Erkenntnis, daß die Spannung der Laserdiode bei konstantem Strom von der Temperatur des Diodenüberganges der Chipdiode abhängt, und zwar sich in Abhängigkeit vom Typ der Diode um -2 bis -5 mV/OC ändert.
- Zur Lösung der gestellten Aufgabe wurde ein Verfahren zur Bestimmung und Regelung der Temperatur von Laserdioden entwickelt, bei welchem die Laserdiode im Impulsbetrieb betrieben wird und gemäß der Erfindung während der Aussetzdauer der Laserausstrahlung durch die Laserdiode ein ge- gen über dem zur Laserausstrahlung erforderlichen minimalen Strom geringerer, konstanter Strom geleitet wird, währenddessen mindestens einmal die Spannung der Laserdiode abgetastet wird, der abgetastete Wert gespeichert und ausgewertet wird, der erhaltene Wert gegebenenfalls angezeigt wird, und in Abhängigkeit von dem erhaltenen Resultat der die Laserdiode speisende Strom gesteuert wird.
- Es ist vorteilhaft, wenn zur Steuerung der Abtastung den Betrieb der Laserdiode steuernde Logiksignale verwendet werden. Es ist weiterhin von Vorteil, wenn die die Abtastung steuernden Signale nach der Aussetzung der Laserausstrahlung um 200-300 nsec verzögert werden.
- Gemäß der Erfindung wurde weiterhin zur Durchführung des Verfahrens eine Schaltungsanordnung ausgebildet, welche mit einer die Laserdiode speisenden Stromquelle, einer Logikeinheit und gegebenenfalls einer Heiz-Kühl-Einheit versehen ist. Gemäß der Erfindung sind die Anschlüsse der Laserdiode über einen Spannungsfolger mit großem Eingangswiderstand an eine Abtast-und Halteeinheit (sample and hold circuit) angeschlossen. Der Ausgang der Abtast- und Halteeinheit ist mit einer Auswerteeinheit verbunden, während ein Ausgang der Auswerteeinheit mit einem Steuereingang der die Laserdiode speisenden Stromquelle und/oder der Heiz-Kühl-Efnheit verbunden ist.
- Bei einer vorteilhaften Ausführungsform der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung wird die Stromquelle durch einen steuerbaren Stromgenerator mit einer Genauigkeit von + 0,1 mA gebildet. Bei einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung ist ein Steuereingang der Abtast- und Halteeinheit über eine Verzögerungseinheit mit einer die Laserdiode steuernden Logikeinheit verbunden.
- Es ist weiterhin vorteilhaft, wenn die Auswerteeinheit eine Anzeigeeinheit enthält.
- Nachstehend wird die Erfindung anhand von bevorzugten Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die beigefügte Zeichnung näher erläutert.
- In der Zeichnung zeigen Fig. 1 ein allgemeines Blockschema einer erfindungsgemäß ausgebildeten Schaltungsanordnung zur Bestimmung und Regelung der Temperatur von Laserdioden und Fig. 2 einen Ausschnitt eines anhand der Erfindung aufgebauten Laserdruckers.
- In Fig. 1 ist ein Blockschema einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung veranschaulicht.
- Eine Laserdiode 1 wird von einer Stromquelle 2 gespeist. Die Stromquelle 2 ist als steuerbarer Stromgenerator mit einer Genauigkeit von + 0,1 mA ausgebildet.
- Die Anschlüsse der Laserdiode 1 sind an einen mit großem Eingangswiderstand ausgebildeten Spannungsfolger 3 geführt. Ein Ausgang des Spannungsfolgers 3 ist mit einer Abtast- und Halteeinheit 4 verbunden, deren Ausgang an einen Eingang einer Auswerteinheit 5 angeschlossen ist. Ein Ausgang der Auswerteeinheit 5 ist mit Steuereingängen der die Laserdiode 1 speisenden Stromquelle 2 und einer Heiz-Kühl-Einheit 8 verbunden. Ein Steuereingang der Abtast- und Halteeinheit 4 ist über eine Verzögerungseinheit 6 an eine Logikeinheit 7 - die auf bekannte Weise als eine bei den handelsüblichen Laserdrucken übliche Logikeinheit ausgebildet sein kann - geführt.
- Ein weiterer Ausgang der Logik einheit 7 ist mit einem weiteren Steuereingang der Stromquelle 2 verbunden. Die Eingänge der Logikeinheit 7 sind an weitere Einheiten eines Zeilendruckers (in der Zeichnung nicht dargestellt) angeschlossen.
- Der Laserbetriebsstrom beträgt in Abhängigkeit vom Typ der Laserdiode 50-200 mA, die Modulationstiefe (zur Ein- und Ausschaltung der Laserstrahlung) beträgt im allgemeinen 10-30 %.
- Gemäß der Erfindung fließt auch außerhalb des Laserbetriebszustandes der Laserdiode über die Laserdiode ein Grundstrom, dessen Wert gerade unter dem Laserschwellenstrom liegt und vom Typ der jeweiligen Laserdiode 1 abhängt.
- Die Genauigkeit der verwendeten Stromquelle 1 beträgt sowohl in Hinsicht auf den G?undstrom als auch in Hinsicht auf den Laserbetriebsstrom + 0,1 mA. Die Verwendung des Crundstromes verbessert die Schalteigenschaften der Laserdiode 1, und trägt darüber hinaus dazu bei, die Temperatur der Laserdiode 1 zu stabilisieren, da dadurch die durch den Strom, welcher durch die Laserdiode fließt, hervorgerufene joule-Wärme einen annähernd konstanten Wert annimmt. Die jeweilige Spannung der Laserdiode 1 erscheint über den mit einem großen Eingangswiderstand ausgebildeten Spannungsfolger 3 an der Abtast- und Halteeinheit 4. Der mit einem großen Eingangswiderstand ausgebildete Spannungsfolger 3 dient dazu, die Einwirkung der Abtast- und Halteeinheit 4 auf die Funktion der Laserdiode 1 zu verhindern.
- Die Einstellung des Zeitpunktes der Abtastung wird anhand des in Fig. 2 dargestellten Ausschnittes eines Laserdruckers veranschaulicht. Wie aus Fig.
- 2 ersichtlich ist, gelangt die Laserstrahlung der Laserdiode 1 über einen Drehspiegel 9 bis zum Papier. In dem vom Zeilenranddetektor 10 bis zum Zeilenbeginn 11 anhanitenden Abstand erfolgt die Aussetzung des Laserbetriebes. Die Zeitdauer der Aussetzung des Zeilenlaufes beträgt im allgemeinen 1-3 msec, meistens 1,7 msec. In dieser Zeitspanne wird die Abtastung mindestens einmal vorgenommen. Zur Steuerung dieser Abtastung werden die Signale der die Laserdiode 1 steuernden Logikeinheit 7 verwendet.
- Zwischen der Logikeinheit 7 und der Abtast- und Halteeinheit 4 ist eine Verzögerungseinheit 6 eingefügt. Dieses ist deshalb erforderlich, um zu vermeiden, daß die Spannungsschwankungen, welche infolge der bei der Ein-und Ausschaltung des Laserbetriebes gegebenenfalls auftretenden Stromtransienten entstehen, die zur Bestimmung der Temperatur bei Grundstrom gemessenen Spannungspegel beeinflussen, und somit zu Meßfehletn führen würden. Die Verzögerungzeit beträgt 200-300 nsec. Der Ausgang der Abtast- und Halteeinheit 4 ist an die Auswerteeinheit 5 angeschlossen, welche bei einer für die Laserdiode gefährlichen Temperatur durch Steuerung der Stromquelle 2 und der Heiz-Kühl-Einheit 8 den Strom der Laserdiode 1 auf einen Grundwert einstellt.
- Mit Hilfe des erfindungsgemäßen Verfahrens kann die Temperatur der Laserdiode ohne Verwendung eines Temperaturmeßelementes unmittelbar überwacht werden, somit kann bei Erreichen einer schädlich auf die Laserdiode einwirkenden Temperatur durch die Steuerung des Laserbetriebs abgeschaltet (auf den Pegel des Grundstromes) werden, wodurch die hochwertige Laserdiode vor einer schädlichen Übererwärmung oder vor einer noch schädlicher wirkenden Laserleistungserhöhung bei Unterkühlung geschützt werden kann.
- Ein weiterer Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens besteht darin, daß die Temperatur des Laserbetriebsbereiches beim Einschalten (d.h. ohne Laserbetriebsstrom, bei Einstellen der Temperatur) ebenfalls unmittelbar meßbar ist, des weiteren ist die bei Ein- und Ausschalten und während des Betriebes erfolgende Temperaturänderung (in der Laserbetriebspause) im aktiven Bereich der Laserdiode genau überprüfbar.
- - Leerseite -
Claims (7)
- Verfahren zur Bestimmung und Regelung der Temperatur von Laserdioden und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens PA TENTANSPRÜCHE Verfahren zur Bestimmung und Regelung der Temperatur von Laserdioden, insbesondere von in Zeilendruckern verwendeten Laserdioden, wobei die Laserdiode impulsartig mit einander folgenden Laserausstrahlungs- und Aussetzungsperioden betrieben wird, dadurch gekennzeichnet, daß in dem Zeitintervall der Aussetzung der Laserausstrahlung über die Laserdiode ein konstanter Grundstrom geleitet wird, dessen Größe kleiner als die Größe des zur Laserausstrahlung erforderlichen minimalen Stromes gewählt wird, in diesem Zeitintervall mindestens einmal die Spannung der Laserdiode abgetastet wird, der abgetastete Wert gespeichert und ausgewertet wird, danach gegebenfalls der erhaltene Wert angezeigt wird, und in Abhängigkeit von dem erhaltenen Resultat der die Laserdiode speisende Strom gesteuert wird.
- 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Steuerung der Abtasung die Steuersignale der Laserdiode verwendet werden.
- 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtastung mit einer Verzögerung von 200-300 nsec nach der Aussetzung der Laserausstrahlung durchgeführt wird.
- 4. Schaltungsanordnung zur Bestimmung und Regelung der Temperatur von Laserdioden, welche eine Stromquelle zur Speisung der Laserdiode, eine Logikeinheit und gegebenen falls eine Heiz-Kühl-Einheit enthält, dadurch gekennzeichnet, daß die Anschlüsse der Laserdiode (1) über einen Spannungsfolger (3) mit großem Eingangswiderstand an eine Abtast- und Halteeinheit (4) angeschlossen sind, ein Ausgang der Abtast- und Halteeinheit (4) an eine Auswerteeinheit (5) geführt ist, des weiteren ein Ausgang der Auswerteeinheit (5) mit einem Steuereingang der die Laserdiode (1) speisenden Stromquelle (2) und/oder der Heiz-Kühl-Einheit (8) verbunden ist.
- 5. Schaltungsanordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Stromquelle (2) zur Speisung der Laserdiode (1) durch einen steuerbaren Stromgenerator mit einer Genauigkeit von + 0,1 mA gebildet ist.
- 6. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß ein Steuereingang der Abtast- und Halteeinheit (4) über eine Verzögerungseinheit (6) an die Logikeinheit (7) zur Steuerung der Laserdiode (1) geführt ist.
- 7. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswerteeinheit (5) eine Anzeigeeinheit enthält.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
HU59785A HUT39871A (en) | 1985-02-19 | 1985-02-19 | Method for measuring the temperature of semiconductor laser diode and circuit arrangement for carrying out thereof |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3603548A1 true DE3603548A1 (de) | 1986-10-02 |
Family
ID=10950352
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19863603548 Ceased DE3603548A1 (de) | 1985-02-19 | 1986-02-05 | Verfahren zur bestimmung und regelung der temperatur von laserdioden und schaltungsanordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
BG (1) | BG46010A3 (de) |
DD (1) | DD243147A5 (de) |
DE (1) | DE3603548A1 (de) |
HU (1) | HUT39871A (de) |
PL (1) | PL258005A1 (de) |
SU (1) | SU1530104A3 (de) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4025497A1 (de) * | 1990-08-11 | 1992-02-13 | Hell Rudolf Dr Ing Gmbh | Verfahren und schaltungsanordnung zur korrektur der lichtleistungs-abgabe einer laserdiode |
EP0805021A2 (de) * | 1996-05-02 | 1997-11-05 | Heidelberger Druckmaschinen Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Regelung der Temperatur in einer mit Laserlicht arbeitenden Druckplatten-Beschriftungseinheit, insbesondere einer Offset-Druckmaschine |
DE19828427A1 (de) * | 1998-06-25 | 2000-02-10 | Litef Gmbh | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Regelung der Wellenlänge eines Strahlung emittierenden Halbleiterbauelements |
DE19839088A1 (de) * | 1998-08-27 | 2000-03-09 | Suisse Electronique Microtech | Temperaturstabilisierte Halbleiter-Lichtemissionsvorrichtung |
WO2002013340A2 (de) * | 2000-08-08 | 2002-02-14 | Infineon Technologies Ag | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der ausgangsleistung einer halbleiterlaserdiode |
DE10244700A1 (de) * | 2002-09-24 | 2004-04-01 | Bktel Communications Gmbh | Arbeitspunktstabilisator einer Laser-Aussendeeinrichtung H01S3/13 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2546080B2 (ja) * | 1991-05-10 | 1996-10-23 | 富士通株式会社 | 半導体レーザー制御装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4215577A (en) * | 1978-08-28 | 1980-08-05 | Purdue Research Foundation | Utilization of diodes as wide range responsive thermometers |
GB2045516A (en) * | 1979-03-26 | 1980-10-29 | Bosch Gmbh Robert | Limiter circuit for a semiconductor laser |
GB2054949A (en) * | 1979-07-26 | 1981-02-18 | Standard Telephones Cables Ltd | Cooling arrangement for laser diode |
DE3102185A1 (de) * | 1980-01-25 | 1981-11-26 | Canon K.K., Tokyo | Steuereinrichtung zur strahlungsmengensteuerung |
JPS57188894A (en) * | 1981-05-18 | 1982-11-19 | Hitachi Ltd | Semiconductor laser device |
DE3342111A1 (de) * | 1982-11-24 | 1984-05-24 | Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo | Halbleiterlasereinrichtung |
-
1985
- 1985-02-19 HU HU59785A patent/HUT39871A/hu unknown
-
1986
- 1986-02-05 DE DE19863603548 patent/DE3603548A1/de not_active Ceased
- 1986-02-13 DD DD28701486A patent/DD243147A5/de unknown
- 1986-02-18 BG BG7363786A patent/BG46010A3/xx unknown
- 1986-02-18 PL PL25800586A patent/PL258005A1/xx unknown
- 1986-02-19 SU SU864023034A patent/SU1530104A3/ru active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4215577A (en) * | 1978-08-28 | 1980-08-05 | Purdue Research Foundation | Utilization of diodes as wide range responsive thermometers |
GB2045516A (en) * | 1979-03-26 | 1980-10-29 | Bosch Gmbh Robert | Limiter circuit for a semiconductor laser |
GB2054949A (en) * | 1979-07-26 | 1981-02-18 | Standard Telephones Cables Ltd | Cooling arrangement for laser diode |
DE3102185A1 (de) * | 1980-01-25 | 1981-11-26 | Canon K.K., Tokyo | Steuereinrichtung zur strahlungsmengensteuerung |
JPS57188894A (en) * | 1981-05-18 | 1982-11-19 | Hitachi Ltd | Semiconductor laser device |
DE3342111A1 (de) * | 1982-11-24 | 1984-05-24 | Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo | Halbleiterlasereinrichtung |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Manning, J.S.: Thermal impedance of diode lasers: Comparsions of experimental methods and a theoretical model, In: J. Appl. Phys. Bd.52, 1981, S.3179-3184 * |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4025497A1 (de) * | 1990-08-11 | 1992-02-13 | Hell Rudolf Dr Ing Gmbh | Verfahren und schaltungsanordnung zur korrektur der lichtleistungs-abgabe einer laserdiode |
US5313482A (en) * | 1990-08-11 | 1994-05-17 | Linotype-Hell Ag | Method and circuit arrangement for correcting the light power output of a laser diode |
US6043456A (en) * | 1996-05-02 | 2000-03-28 | Heidelberger Druchmaschinen Aktiengesellschaft | Method and device for regulating the temperature in a laser-operated printing plate imaging unit of a printing press, particularly of an offset printing press |
EP0805021A3 (de) * | 1996-05-02 | 1998-01-07 | Heidelberger Druckmaschinen Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Regelung der Temperatur in einer mit Laserlicht arbeitenden Druckplatten-Beschriftungseinheit, insbesondere einer Offset-Druckmaschine |
EP0805021A2 (de) * | 1996-05-02 | 1997-11-05 | Heidelberger Druckmaschinen Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Regelung der Temperatur in einer mit Laserlicht arbeitenden Druckplatten-Beschriftungseinheit, insbesondere einer Offset-Druckmaschine |
DE19828427A1 (de) * | 1998-06-25 | 2000-02-10 | Litef Gmbh | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Regelung der Wellenlänge eines Strahlung emittierenden Halbleiterbauelements |
DE19839088A1 (de) * | 1998-08-27 | 2000-03-09 | Suisse Electronique Microtech | Temperaturstabilisierte Halbleiter-Lichtemissionsvorrichtung |
DE19839088B4 (de) * | 1998-08-27 | 2006-08-03 | Avalon Photonics Ltd. | Vorrichtung und Verfahren zur Temperaturstabilisierung einer Halbleiter-Lichtemissionsvorrichtung |
WO2002013340A2 (de) * | 2000-08-08 | 2002-02-14 | Infineon Technologies Ag | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der ausgangsleistung einer halbleiterlaserdiode |
DE10042022A1 (de) * | 2000-08-08 | 2002-03-07 | Infineon Technologies Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Temperatur des laseraktiven Bereiches einer Halbleiterlaserdiode |
WO2002013340A3 (de) * | 2000-08-08 | 2003-01-09 | Infineon Technologies Ag | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der ausgangsleistung einer halbleiterlaserdiode |
US6853657B2 (en) | 2000-08-08 | 2005-02-08 | Infineon Technologies Ag | Method and device for determining the output power of a semiconductor laser diode |
DE10244700A1 (de) * | 2002-09-24 | 2004-04-01 | Bktel Communications Gmbh | Arbeitspunktstabilisator einer Laser-Aussendeeinrichtung H01S3/13 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
PL258005A1 (en) | 1986-10-21 |
BG46010A3 (en) | 1989-09-15 |
HUT39871A (en) | 1986-10-29 |
SU1530104A3 (ru) | 1989-12-15 |
DD243147A5 (de) | 1987-02-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3038538C2 (de) | Batterieladevorrichtung | |
DE2327091C3 (de) | ||
DE3855292T2 (de) | Steuerungsvorrichtung für Halbleiterlaser zur Stabilisierung der optischen Ausstrahlung desselben | |
DE60021988T2 (de) | Verfahren und Gerät zur Steuerung der Aktivierungsenergie in einem Tintenstrahldrucker | |
DE3434217A1 (de) | Schaltungsanordnung zum ein- und ausschalten einer lichtemissionsdiode | |
DE4338462B4 (de) | Kontrollsystem für elektrische Verbraucher in Kraftfahrzeugen | |
DE2121744A1 (de) | Optoelektronische Einrichtung zur Messung und Regelung der Konzentration von Lösungen | |
DE69019281T2 (de) | Apparat zur Steuerung der Lichtmenge. | |
DE3832273A1 (de) | Verfahren und anordnung zur bestimmung des waermewiderstandes von igbt-bauelementen | |
DE3603548A1 (de) | Verfahren zur bestimmung und regelung der temperatur von laserdioden und schaltungsanordnung zur durchfuehrung des verfahrens | |
DE1926250A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Messung durch Ermittlung der Temperatur eines durch Joule-Effekt geheizten thermosensiblen Elements | |
DE2022716A1 (de) | Photoelektrisches Steuersystem | |
DE3107994C2 (de) | Vorglühsteuereinrichtung für Dieselmotoren | |
DE2825390C2 (de) | Treiberschaltung für eine elektrochrome Anzeigevorrichtung | |
DE1473244B1 (de) | Vorrichtung zur periodischen Schmelzpunktbestimmung | |
DE3433817A1 (de) | Konstantspannung-schaltkreis | |
WO1999021251A1 (de) | Halbleiterlaserchip | |
DE3513857A1 (de) | Heizelement | |
DE2822292A1 (de) | Vorrichtung zum selbsttaetigen umschalten der polaritaet einer gleichstromquelle einer kataphoreseeinrichtung | |
DE1548574A1 (de) | Waermeschreiber | |
CH668741A5 (en) | Precise welding process for plastics - by heating work using resistance element up supplying heat in pulses according to set curve | |
DE2738558A1 (de) | Schaltungsanordnung zur messung von stroemen auf hohem potential | |
DE2939355A1 (de) | Verfahren zur niveauerkennung | |
DE3425561C2 (de) | Vorrichtung zur Messung von wärmetechnischen Kenngrössen einer Stoffprobe | |
DE2835750C2 (de) | Verfahren zum elektrischen Widerstands-Schweißen oder - Löten mit Messung der Elektrodentemperatur |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: H01S 3/103 |
|
8131 | Rejection |