DE3529207C1 - Test device for electrical circuit boards - Google Patents

Abstract

The invention relates to a test device for electrical circuit boards comprising test pins of different heights for sequentially testing the board via different contact groups, comprising a board carrying plate which can be adjusted into test height positions defined by a lift adjustment device and corresponding to the different height positions of the test pins by means of a lowering device in a housing. In known test devices having a carry plate which can be lowered by application of underpressure, it is disadvantageous that the test height positions are defined either by variations in underpressure or by springs with a spring hardness which is variable during the spring deflection. According to the invention, a functionally reliable and simple test device is created by the fact that at least one stepped blocking slider which is adjustable transversely to the direction of lowering of the carry plate in a number of positions corresponding to the number of test height positions is provided on which the carry plate can be supported at the test height positions.

Description

Die Erfindung betrifft eine Prüfvorrichtung der im Gat­ tungsbegriff des Patentanspruchs 1 angegebenen Art.The invention relates to a test device in the Gat term of the specified claim 1 Art.

Bei einer aus einem Prospekt der Firma Augat, München, "Vacuum Controller" bekannten Prüfvorrichtung werden zwei Prüfhöhenlagen der Trag­ platte durch Steuerung der Unterdruckbeaufschlagung ei­ ner Gehäusevertiefung definiert, die durch die Tragplat­ te abgedichtet abgedeckt ist. Die korrekte Steuerung der Unterdruckbeaufschlagung ist aufwendig. Ferner ist es schwierig, die obere Prüfhöhenlage exakt reproduzier­ bar einzustellen, weil äußere Einflüsse, z. B. Undichtig­ keiten, auf die Einhaltung der Prüfhöhenlage in nicht vorhersehbarer Weise einwirken. Dazu kommt, daß insbeson­ dere in der höheren Prüfhöhenlage kaum vermeidbare Schwan­ kungen der Unterdruckbeaufschlagung, deren Kraft gegen die Tragplatte anhebende Federn wirkt, Eigenbewegungen der Tragplatte hervorrufen können, die die einwandfreie Anlage der Prüfstifte und damit das ordnungsgemäße Prü­ fen der Platinen stören.In one of a prospectus from Augat, Munich, "Vacuum Controller" known test device, two test height positions are the support plate by controlling the negative pressure ner housing recess defined by the Tragplat te is covered sealed. The correct control of the Applying negative pressure is complex. Furthermore, it is difficult to reproduce the upper test height exactly adjust bar because external influences, e.g. B. Leaking on compliance with the test height position in not act in a predictable manner. In addition, in particular the swan, which is hardly avoidable at the higher test altitude of the negative pressure, its force against springs lifting the support plate acts, own movements the support plate can cause the flawless Installation of the test pins and thus the proper test disrupt the circuit boards.

Bei einer aus einem Prospekt der Firma OB-Test Group, Inc., Warwick, GB, "Dual Level Vacuum Test Fixture" bekannten Prüfvorrichtung dieser Art sind zwei getrennte Hohlräume unterhalb der Tragplatte vorgesehen, die durch getrennte Vakuumventile mit Unterdruck beaufschlagbar sind, um zwei verschiedene Prüfhöhenlagen der Tragplatte zu definieren. Hierbei ist der bauliche Aufwand groß und besteht das Problem, die Unterdruckbeaufschlagung exakt zu steuern. In one of a prospectus from OB-Test Group, Inc., Warwick, GB, known "Dual Level Vacuum Test Fixture" Test devices of this type are two separate cavities provided below the support plate, which is separated by Vacuum valves can be pressurized to two to define different test height positions of the support plate. Here, the construction effort is great and it exists Problem of controlling the negative pressure precisely.  

Die Federn, auf denen sich die Tragplatte beim Absenken abstützt, sind zweistufig ausgebildet, so daß beim Ansen­ ken von der ersten Prüfhöhenlage auf die zweite Prüfhö­ henlage ein größerer Federwiderstand zu überwinden ist. Da die Federkräfte dynamisch wirken und auch die durch die Unterdruckbeaufschlagung an der Tragplatte angreifende Kraft von äußeren Einflüssen abhängt, ist es schwierig, die Tragplatte speziell in der höheren Prüfhöhenlage exakt und ruhig zu halten.The springs on which the support plate rests when it is lowered supports, are formed in two stages, so that when ansen from the first test level to the second test level higher spring resistance has to be overcome. Since the spring forces act dynamically and also through the Vacuum acting on the support plate Force depends on external influences, it is difficult the support plate especially in the higher test height position to keep accurate and calm.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Prüfvor­ richtung der eingangs genannten Art zu schaffen, die sich durch einen einfachen Aufbau und durch exakt repro­ duzierbare feste Prüfhöhenlagen der Tragplatte auszeich­ net, wobei problemlos auch mehr als zwei Prüfhöhenlagen für die Tragplatte realisierbar sein sollen.The invention has for its object a test to create the direction of the type mentioned through a simple structure and through exact repro distinguishable fixed test height positions of the support plate net, whereby more than two test heights are no problem should be realizable for the support plate.

Die gestellte Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmale gelöst.The object is achieved by the im characterizing part of claim 1 specified Features solved.

Mit dem quer zur Absenkrichtung der Tragplatte bewegba­ ren, abgestuften Sperrschieber wird für die Tragplatte jeweils ein starrer Anschlag in der jeweiligen Prüfhö­ henlage gebildet. Die Kraft, mit der die Tragplatte durch die Absenkvorrichtung abgesenkt wird, braucht sich nur nach dem Gegendruck der Prüfstifte und gegebenenfalls der Rückholfedern zu richten, weil der Sperrschieber un­ abhängig von der von der Absenkvorrichtung ausgeübten Kraft die Tragplatte genau reproduzierbar in der jewei­ ligen Prüfhöhenlage abfängt. Während der Prüfung steht die Tragplatte still, da sie starr auf Anschlag steht. Zum Absenken der Tragplatte in die verschiedenen Prüf­ höhenlagen kann eine einfache und ungesteuerte Absenk­ vorrichtung benutzt werden, die jeweils mit der gleichen Kraft auf die Tragplatte einwirkt. With the movable across the lowering direction of the support plate ren, graduated gate valve is for the support plate each a rigid stop in the respective test height position. The force with which the support plate is lowered by the lowering device only after the counter pressure of the test pins and if necessary to direct the return springs because the locking slide un depending on the one exerted by the lowering device Force the support plate exactly reproducible in each case intercepted test height. During the exam stands the support plate is still because it is rigidly against the stop. For lowering the support plate in the various tests high altitudes can be a simple and uncontrolled lowering device can be used, each with the same Force acts on the support plate.  

Zweckmäßig ist die Ausführungsform von Anspruch 2, weil der unterhalb der Tragplatte angeordnete Sperrschieber da­ mit im Absenkweg der Tragplatte liegt und auf einfache Weise zur Abstützung der Tragplatte in den Prüfhöhenla­ gen beiträgt, und weil dadurch an der Oberseite der Tragplatte keine vorstehenden oder zu bewegenden Elemen­ te vorliegen.The embodiment of claim 2 is useful because of locking slides arranged below the support plate with lies in the lowering path of the support plate and on simple Way to support the support plate in the test heights gene contributes, and because of this at the top of the Support plate no protruding or moving elements te available.

Eine einfache, zweckmäßige Ausführungsform geht ferner aus Anspruch 3 hervor. In der Grundstellung wird die Tragplatte von üblichen Federn in einem Abstand oberhalb des Sperrschiebers gehalten, wenn die zu prüfende Plati­ ne aufgelegt wird. Sobald die Tragplatte dann abgesenkt wird, setzt sie sich auf den Zapfen auf, der die erste Prüfhöhenlage definiert. Zum Absenken auf die zweite Prüfhöhenlage wird die Tragplatte wieder angehoben, da­ mit der Sperrschieber leichtgängig und in die weitere Stellung bewegt werden kann, ehe die Tragplatte wieder abgesenkt wird, bis der Zapfen in die Vertiefung ein­ taucht und die Tragplatte ihre zweite Prüfhöhenlage er­ reicht. Sie kann sich dabei auf dem Sperrschieber direkt oder mittels des Grundes der Vertiefung auf dem Zapfen abstützen. Der Sperrschieber braucht nur die Dicke des in der unteren Prüfhöhenlage üblichen Spalts zu haben, was es gestattet, bisher übliche Prüfvorrichtungen ohne nennenswerte Änderung im oberen Bereich umzurüsten.A simple, practical embodiment also goes from claim 3. In the basic position, the Support plate of usual springs at a distance above of the gate valve is held when the plati to be tested ne is hung up. As soon as the support plate is then lowered she sits on the cone that is the first Test height position defined. To lower to the second The support plate is raised again, because with the locking slide and into the further Position can be moved before the support plate again is lowered until the pin enters the recess dips and the support plate he second test height position enough. You can directly on the gate valve or by means of the bottom of the recess on the pin support. The gate valve only needs the thickness of the to have the usual gap in the lower test height position, which allows hitherto common test devices without change significant change in the upper area.

Eine weitere, zweckmäßig Ausführungsform geht aus An­ spruch 4 hervor. Hierbei lassen sich auf besonders ein­ fache Weise mehr als zwei Prüfhöhenlagen erreichen, wo­ bei die an der Tragplatte und am Sperrschieber angeord­ neten, aufeinander ausgerichteten Zapfen bei der höch­ sten Prüfhöhenlage aufeinander treffen, während sie in niedrigeren Prüfhöhenlage aneinander vorbeigehen bzw. in einer noch niedrigeren Prüfhöhenlage in die Vertiefun­ gen eintauchen.Another, expedient embodiment goes from An saying 4. Here you can get a special one to reach more than two test heights where at the arranged on the support plate and on the gate valve neten, aligned pins at the highest most test heights meet while in lower test heights pass each other or  in an even lower test height immerse yourself.

Besonders zweckmäßig ist ferner der Gedanke von Anspruch 5, weil der Sperrschieber die an sich üblichen Abstandsele­ mente ersetzt, was das Umrüsten bereits benutzter Prüf­ vorrichtungen auf einfache Weise ermöglicht, ohne daß das Gehäuse im oberen Bereich geändert zu werden bräuchte. Zweckmäßig liegt die Dicke des Sperrschiebers zwischen 1,5 und 2 mm. The idea of claim 5 is also particularly expedient. because the gate valve is the usual distance selector elements replaced what the retrofitting of already used test devices in a simple manner without the Housing in the upper area would need to be changed. The thickness of the locking slide is expediently between 1.5 and 2 mm.

Eine weitere, zweckmäßige Ausführungsform, bei der mehr als zwei Prüfhöhenlagen auf einfache Weise gewährleistet sind, geht aus Anspruch 6 hervor. Zumindest in den Zwi­ schenprüfhöhenlagen stützt sich die Tragplatte mit dem Grund der jeweiligen Vertiefung auf dem Stirnende des Zapfens des Sperrschiebers ab.Another convenient embodiment in which more guaranteed as two test heights in a simple manner are apparent from claim 6. At least in the twos the test plate is supported by the Reason of the respective depression on the front of the Pin of the locking slide.

Eine Alternative zur vorerwähnten Ausführungsform geht aus Anspruch 7 hervor. Auch hierbei werden mehr als zwei Prüfhöhenlagen für die Tragplatte erreicht, wobei zweck­ mäßigerweise der Zapfen in der höchsten Prüfhöhenlage an der Unterseite der Tragplatte ansteht und erst bei den niedrigeren Prüfhöhenlagen in die Vertiefung eindringt.An alternative to the aforementioned embodiment is possible from claim 7. Again, there will be more than two Test height positions for the support plate reached, whereby purpose moderately the spigot at the highest test height the underside of the support plate is present and only at the lower test height positions penetrates into the depression.

Da die Tragplatte verhältnismäßig großflächig ausgebil­ det ist, um auch größere Platinen prüfen zu können, und da in der jeweiligen Prüfhöhenlage eine plane Lage der Platine auf den Prüfstiften wichtig ist, ist die Ausfüh­ rungsform von Anspruch 8 besonders wichtig, bei der die Prüfstifte in einem Prüfstiftfeld angeordnet sind. Der als Rahmen ausgebildete Schieber mit der Vielzahl der Zapfen schafft eine Vielzahl von Auflagestellen für die Tragplatte, so daß diese grazil und dünn ausgebildet sein kann und sich trotzdem nicht verwirft, sondern eine plane Lage der Platine beim Prüfen sicherstellt.Because the support plate is relatively large det, in order to be able to test larger boards, and because a flat position of the PCB on the test pins is important is the design tion form of claim 8 particularly important, in which the Test pins are arranged in a test pin field. The slide formed as a frame with the variety of Tenon creates a variety of support points for the Support plate, so that they are delicate and thin can and still doesn't reject, but a plane Ensure the position of the board during testing.

Mit den weiteren, zweckmäßigen Merkmalen der Ansprüche 9 und 10 werden praktisch über die gesamte Fläche der Trag­ platte gleichmäßig verteilte Auflagestellen für die Trag­ platte geschaffen, so daß diese in jeder Prüfhöhenlage plan gehalten wird. Es wird auf diese Weise eine gleich­ mäßige und exakt vorherbestimmbare Anpressung aller Prüf­ stifte an die zu prüfenden Kontaktgruppen gewährleistet, was den Verschleiß der Prüftstiftenden niedrig hält und eine schonende Behandlung der gegebenenfalls empfindli­ chen Kontaktstellen der Platine sicherstellt.With the further expedient features of claims 9  and 10 are practically covering the entire area of the support plate evenly distributed support points for the support plate created so that this in any test height is kept on schedule. It becomes an equal this way moderate and precisely predictable contact pressure of all tests guaranteed to the contact groups to be checked, which keeps the wear of the test pin ends low and a gentle treatment of the possibly sensitive ensures contact points of the board.

Ein weiteres, zweckmäßiges Ausführungsbeispiel geht aus Anspruch 11 hervor. Die Bewegungsführung des Sperrschie­ bers stellt sicher, daß die Tragplatte stets an densel­ ben Auflagestellen abgestützt wird, und daß die Zapfen ordnungsgemäß in die Vertiefungen treffen.Another useful embodiment is based Claim 11 out. The movement control of the locking slide bers ensures that the support plate is always connected to the nozzle ben supports are supported, and that the pin properly in the recesses.

Wichtig ist auch das Merkmal von Anspruch 12, weil auf diese Weise die Stellbewegung des Sperrschiebers einfach zu bewerkstelligen ist. Zweckmäßigerweise ist der Antrieb mit der Steuerung der Prüfvorrichtung gekoppelt.The feature of claim 12 is also important because of this way the actuating movement of the locking slide is simple is to be accomplished. The drive is expedient coupled with the control of the test device.

Besonders einfach läßt sich das vorerwähnte Ziel mit den Maßnahmen von Anspruch 13 erreichen.The above-mentioned goal is particularly easy with the Achieve measures of claim 13.

Ein weiterer wichtiger Gedanke geht aus Anspruch 14 her­ vor. Der dünne Sperrschieber läßt sich bei Änderungen der Prüfstiftgruppierung dann leicht an die geänderten Platz­ verhältnisse anpassen, indem die Finger oder einzelne Finger umgesetzt werden. Der Rahmen kann damit weiter­ verwendet werden. Another important idea arises from claim 14 in front. The thin gate valve can be changed when the Test pin grouping then slightly to the changed place adjust conditions by fingers or individual Fingers are implemented. The frame can thus continue be used.  

Zweckmäßig ist auch die Ausführungsform von Anspruch 15, weil mit der Vielzahl der dann verhältnismäßig schwach ausgelegten Stahlrückholfedern eine über die Fläche der Tragplatte gleichmäßig verteilte Belastung erzielt wird. Zweckmäßigerweise liegen die Rückholfedern jeweils in der Nähe einer Abstützstelle der Tragplatte, so daß hier keine nennenswerten, die Tragplatte auf Biegung belastenden He­ belarme zwischen den aneinander entgegengesetzt wirkenden Kräften auftreten. Die Stahlrückholfedern arbeiten dauer­ haft gleichmäßig und werden durch die wechselnden Belastun­ gen kaum verschlissen.The embodiment of claim 15 is also expedient, because with the multitude of then relatively weak designed steel return springs over the surface of the Support plate evenly distributed load is achieved. The return springs are expediently in the Close to a support point of the support plate, so that none noteworthy He, the loading plate on bending stress pester between those acting in opposite directions Forces occur. The steel return springs work continuously adheres evenly and are affected by the changing loads hardly worn out.

Schließlich ist auch die Ausführungsform von Anspruch 16 zweckmäßig, weil mit der Unterdruckbeaufschlagung eine auf der gesamten Fläche der Tragplatte wirksame Kraft zum Absenken erzeugbar ist. Wichtig ist dabei, daß die Unter­ druckbeaufschlagung für alle Prüfhöhenlagen mit derselben Stärke wirksam sein kann, weil der Sperrschieber ohnedies für eine starre Abstützung der Tragplatte in der jeweili­ gen Prüfhöhenlage sorgt und weil die über die gesamte Flä­ che verteilten Abstützstellen des Sperrschiebers dann mit jeweils den gleichen Kraftkomponenten aus der Unterdruck­ beaufschlagung belastet werden, was der Ebenheit der Trag­ platte in den Prüfhöhenlagen zugute kommt.Finally, the embodiment of claim 16 expedient because with the application of negative pressure effective force on the entire surface of the support plate Lowering can be generated. It is important that the sub pressurization for all test height positions with the same Strength can be effective because the gate valve anyway for rigid support of the support plate in the respective test height and because it covers the entire area che distributed support points of the locking slide then with each the same force components from the negative pressure loading, which is the evenness of the support plate in the test height positions.

Anhand der Zeichnungen werden nachstehend Ausführungsfor­ men der Erfindung erläutert. Es zeigtBased on the drawings below, execution forms men of the invention explained. It shows

Fig. 1 eine perspektivische Seitenansicht einer Prüfvorrichtung, Fig. 1 is a perspective side view of a test apparatus,

Fig. 2 einen Vertikalschnitt eines Teils der Prüfvorrichtung von Fig. 1 in Blickrichtung II-II in einer Grund­ stellung der Tragplatte, Fig. 2 is a vertical section of a portion of the test apparatus of Fig. 1 viewed in the direction II-II in a basic position of the support plate,

Fig. 3 eine in der Schnittansicht von Fig. 2 entsprechende Schnittansicht bei ei­ ner ersten Prüfhöhenlage der Tragplat­ te, Fig. 3 a corresponding te in the sectional view of FIG. 2, cross-sectional view at first egg ner Prüfhöhenlage the Tragplat,

Fig. 4 die gleiche Schnittansicht bei einer zweiten Prüfhöhenlage der Tragplatte, Fig. 4 is the same sectional view at a second Prüfhöhenlage the support plate,

Fig. 5 eine Draufsicht auf die Prüfvorrich­ tung bei abgenommener Tragplatte, Fig. 5 is a plan view of the Prüfvorrich tung with removed supporting plate,

Fig. 6 ein Detail einer weiteren Ausführungs­ form, in einem Vertikalschnitt, und Fig. 6 shows a detail of a further embodiment, in a vertical section, and

Fig. 7 einen Vertikalschnitt durch ein De­ tail einer weiteren Ausführungsform. Fig. 7 is a vertical section through a De tail of another embodiment.

Eine Prüfvorrichtung 1 gemäß den Fig. 1 bis 5 dient zur sequentiellen Prüfung von elektrischen Schaltungspla­ tinen 2 über unterschiedliche Kontaktgruppen, die an der Unterseite der Platine 2 angeordnet sind. Bei jedem Prüf­ schritt werden andere oder mehr Kontakte abgetastet und auf diese Weise die Kontakte 15 (Fig. 2) und auf der Pla­ tine 2 angeordnete elektrische oder elektronische Bauele­ mente 3 überprüft. Solche Prüfvorrichtungen 1 sind han­ delsüblich, so daß sich eine Beschreibung ihrer Funktion und ihrer Einsatzbereiche erübrigt.A testing device 1 according to FIGS. 1 to 5 is used for the sequential testing of electrical circuit boards 2 via different contact groups which are arranged on the underside of the circuit board 2 . With each test step, other or more contacts are scanned and in this way the contacts 15 ( FIG. 2) and arranged on the circuit board 2 , electrical or electronic components 3 are checked. Such test devices 1 are customary, so that a description of their function and areas of use is unnecessary.

Die Prüfvorrichtung 1 (Fig. 1) besitzt ein kastenartiges Gehäuse 4 mit einem Steuer- und Betätigungsteil 5 sowie einen mit 6 angedeuteten Anschluß für eine Unterdruck­ leitung. Anstelle des Anschlusses 6 könnte im Gehäuse 4 auch eine Unterdruckquelle, z. B. eine Vakuumpumpe vorge­ sehen sein, mit der zumindest ein Teil des Innenraums des Gehäuses 4 mit Unterdruck beaufschlagbar ist. In ei­ ner Oberseite 7 des Gehäuses 4 ist ein Ausschnitt 8 aus­ gespart, in den herausnehmbar eine Tragplatte 9 einge­ legt ist, die (Fig. 2 bis 4) durch eine Elastomer- oder Gummiauflage 11 abgedeckt wird, die mit dem Ausschnitt 8 abdichtend zusammenwirkt. In der Tragplatte 9 ist ein aus Elastomer oder Gummi bestehender Rahmen 10 angebracht, der zum Einlegen der Platine 2 auf deren Größe und For­ mat abgestimmt ist. Nichtdargestellte Zentrierstifte oder Vorsprünge sichern die jeweils korrekte Position der Platine 2 in der Tragplatte 9 bzw. dem Rahmen 10.The test device 1 ( Fig. 1) has a box-like housing 4 with a control and actuation part 5 and a connection indicated by 6 for a vacuum line. Instead of the terminal 6 in the housing 4 could also be a negative pressure source such. B. a vacuum pump can be seen with which at least a part of the interior of the housing 4 can be acted upon with negative pressure. In egg ner top 7 of the housing 4 , a cutout 8 is saved, in which a support plate 9 is removably inserted, which (FIGS . 2 to 4) is covered by an elastomer or rubber pad 11 , which cooperates with the cutout 8 in a sealing manner . In the support plate 9 , an existing of elastomer or rubber frame 10 is attached, which is matched to insert the board 2 on its size and For mat. Centering pins or projections (not shown) secure the correct position of the board 2 in the support plate 9 or the frame 10 .

Auf die an der Unterseite der Platine 2 angeordneten Kon­ takte 15 sind im Gehäuse 4 untergebrachte Prüfstifte 17, 18 ausgerichtet, wobei die Prüfstifte einfedernde Enden besitzen, die in verschiedenen Höhenlagen (bei der ge­ zeigten Ausführungsform in zwei verschiedenen Höhenlagen) liegen. Die Prüfstifte 17, 18 sind in einem Prüfstiftfeld 16 angeordnet (Fig. 5), das auf die Gruppierung der Kon­ takte 15 an der Unterseite der Platine 2 abgestimmt ist. Für die Prüfstifte 17, 18 sind in der Tragplatte 9 ent­ sprechende Durchgänge 43 ausgespart.On the underside of the circuit board 2 arranged contacts 15 are in the housing 4 housed test pins 17 , 18 aligned, the test pins have spring ends that are at different heights (in the embodiment shown ge in two different heights). The test pins 17, 18 are arranged in a test pin field 16 ( FIG. 5) which is matched to the grouping of the contacts 15 on the underside of the circuit board 2 . For the test pins 17, 18 9 corresponding passages 43 are recessed in the support plate.

Im Gehäuse 4 ist ferner ein wannenförmiges Bett 12 ange­ bracht, das mit seinem Rand den Ausschnitt 8 begrenzt. Unterhalb des Bettes 12 sind die zum Prüfen erforderli­ chen Einrichtungen der Prüfvorrichtung 1 sowie die Lage­ rungen der Prüftstifte 17, 18 und deren Anschlüsse (nicht dargestellt) angeordnet.In the housing 4 , a trough-shaped bed 12 is also introduced, which limits the cutout 8 with its edge. Below the bed 12 , the equipment required for testing the test device 1 and the position of the test pins 17, 18 and their connections (not shown) are arranged.

An den Anschluß 6 ist eine Leitung 13 angeschlossen, die zur Unterseite des Bettes 12 führt und über im Boden des Bettes 12 vorgesehene Durchgänge 14 mit dem zwischen der Tragplatte 9 und dem Bett 12 begrenzten Hohlraum verbun­ den ist. Die Leitung 13 könnte auch weggelassen werden, weil die Unterdruckbeaufschlagung durch entsprechende Durchbrüche im Boden des Bettes 12 auch im Hohlraum unter­ halb der Tragplatte zur Wirkung gebracht werden könnte, z. B. durch Durchgänge 19 für die Prüfstifte 17, 18 im Bett 12.At the terminal 6 , a line 13 is connected, which leads to the underside of the bed 12 and via passages 14 provided in the bottom of the bed 12 with the cavity between the support plate 9 and the bed 12 is the verbun. The line 13 could also be omitted because the negative pressure through corresponding openings in the bottom of the bed 12 could also be brought into effect in the cavity under half of the support plate, for. B. through passages 19 for the test pins 17, 18 in bed 12 .

Im Bett 12 ist ein Sperrschieber 20 verschiebbar gelagert, der (Fig. 5) ein das Prüffeld 16 umgebender Rahmen ist, der, z. B. aus Messing besteht und eine Dicke SB hat, die der üblichen Höhe von Abstandselementen entspricht, z. B. 1,5 bis 2,0 mm. Auf der Oberseite des Sperrschiebers 20 ist eine Vielzahl von Zapfen 21 angeordnet. In der Unterseite der Tragplatte 9 sind der Anzahl der Zapfen 21 entsprechend viele Vertiefungen 22 in Form von Sackbohrungen vorgesehen, deren Tiefe annähernd der Höhe der Zapfen 21 entspricht. Im Bett 12 sind ferner Rückholfedern 23 vorgesehen, die die Tragplatte 9 in der in Fig. 2 gezeigten Grundstellung halten, in der die Unterseite der Tragplatte 9 zu den Zap­ fen 21 einen Abstand S 1 und zum Grund des Bettes einen Ab­ stand S hat. In dieser Grundstellung gemäß Fig. 2 stehen auch die Enden der höheren Prüftstifte 17 den Kontakten 15 mit einem Abstand berührungsfrei gegenüber.In the bed 12 , a gate valve 20 is slidably mounted ( FIG. 5) is a frame surrounding the test field 16 , which, for. B. is made of brass and has a thickness SB , which corresponds to the usual height of spacers, for. B. 1.5 to 2.0 mm. A multiplicity of pins 21 are arranged on the upper side of the locking slide 20 . In the underside of the support plate 9 , the number of pegs 21 is provided with a number of depressions 22 in the form of blind holes, the depth of which corresponds approximately to the height of the pegs 21 . In bed 12 return springs 23 are also provided, which hold the support plate 9 in the basic position shown in Fig. 2, in which the underside of the support plate 9 to the Zap fen 21 a distance S 1 and the bottom of the bed was from S. In this basic position according to FIG. 2, the ends of the higher test pins 17 also face the contacts 15 at a distance without contact.

An der Unterseite des Sperrschiebers 20 ragt ein Fort­ satz 24 durch das Bett 12 nach unten, an dem ein Lenker 25 eines Antriebs 26 angreift, der zweckmäßigerweise ein umsteuerbarer Elektromotor ist. Mit dem Antrieb 26 kann der Fortsatz 24 und damit der Sperrschieber 20 bei der Ausführungsform der Fig. 1 bis 5 in zwei Stellungen A, B bewegt werden. Zur Führung der Bewegung des Sperr­ schiebers 20 besitzt dieser an seiner Unterseite mehrere Führungsstife 33, die in Schlitzführungen 34 des Bettes 12 eingreifen.On the underside of the gate valve 20 , an extension 24 projects through the bed 12 downwards, on which a handlebar 25 of a drive 26 engages, which is expediently a reversible electric motor. With the drive 26 , the extension 24 and thus the locking slide 20 in the embodiment of FIGS. 1 to 5 can be moved into two positions A, B. To guide the movement of the locking slide 20 it has on its underside a plurality of guide pins 33 which engage in slot guides 34 of the bed 12 .

In der Stellung A des Sperrschiebers 20 sind die Zapfen 21 auf die Unterseite der Tragplatte 9 ausgerichtet, wäh­ rend sie in der Stellung B des Sperrschiebers 20 (Fig. 4) auf die Vertiefungen 22 ausgerichtet sind.In position A of the locking slide 20 , the pins 21 are aligned with the underside of the support plate 9 , while they are aligned with the recesses 22 in position B of the locking slide 20 ( FIG. 4).

In Fig. 2 ist ferner strichliert eine Ventileinrichtung 27 angedeutet, die dazu benutzt werden kann, die Unter­ druckbeaufschlagung zu steuern. Zweckmäßigerweise ist die Ventileinrichtung 27 wie auch der Antrieb 26 mit der Betätigungseinrichtung der Prüfvorrichtung 1 in Schalt­ verbindung, so daß die Unterdruckbeaufschlagung und die Betätigung des Antriebs 26 automatisch mit der Betätigung der Prüfvorrichtung ablaufen. Die Auflage 11 ragt über die Außenränder der Tragplatte 9 hinaus und liegt auf der Oberseite 7 auf. Dank ihrer Elastizität kann sich auch bei abgesenkter Tragplatte 9 für die Dichtfunktion sorgen.In Fig. 2, a valve device 27 is also indicated by dashed lines, which can be used to control the pressurization. Expediently, the valve device 27 and the drive 26 are connected to the actuating device of the test device 1 in a switching connection, so that the application of negative pressure and the actuation of the drive 26 run automatically when the test device is actuated. The support 11 protrudes beyond the outer edges of the support plate 9 and lies on the top 7 . Thanks to its elasticity, the sealing function can also be ensured when the support plate 9 is lowered.

Aus Fig. 5 ist erkennbar, daß an dem als Rahmen ausgebil­ deten Sperrschieber 20 ins Innere des Prüfstiftfeldes 16 ragende Finger 28, 29, 30, 31 angebracht sind, die weitere Zapfen 21 tragen, denen entsprechende Vertiefungen in der Unterseite der Tragplatte 9 zugeordnet sind. Ferner sind Zapfen 21 an nach außen vom Rahmen wegstehenden Fingern 32 angebracht. Die Zapfen 21 sollen über die Fläche der Tragplatte 9 annähernd gleichmäßig verteilte Auflagestel­ len bilden, damit sich unter der Unterdruckbeaufschlagung die Tragplatte 9 nicht verbiegt. Die Finger 28 bis 32 sind ange­ lötet und deshalb leicht umsetzbar.From Fig. 5 it can be seen that 16 protruding fingers 28, 29, 30, 31 are attached to the locking slide 20 formed as a frame slide into the interior of the test pin field, which carry further pins 21 , which corresponding depressions in the underside of the support plate 9 are assigned . Pins 21 are also attached to fingers 32 projecting outward from the frame. The pins 21 are supposed to form approximately uniformly distributed support positions over the surface of the support plate 9 , so that the support plate 9 does not bend under the application of negative pressure. The fingers 28 to 32 are soldered and therefore easy to implement.

Die Prüfvorrichtung der Fig. 1 bis 5 arbeitet wie folgt: . The test apparatus of Figures 1 to 5 operates as follows:

In der Grundstellung der Tragplatte gemäß Fig. 2 und bei in der Stellung A stehendem Sperrschieber 20 wird in den Rahmen 10 eine Platine 2 eingelegt. Daraufhin wird mit der Ventilvorrichtung 27 an der Unterseite der Tragplat­ te 9 ein Unterdruck erzeugt, der die Tragplatte 9 gegen die Kraft der Rückholfedern 23 absenkt, bis sie mit ih­ rer Unterseite auf den Zapfen 21 aufsitzt. Die Untersei­ te der Tragplatte 9 hat dann zum Grund des Bettes 12 ei­ nen Abstand SA. Die mit ihren Enden höherliegenden Prüf­ stifte 17 berühren mit Federkraft ausgewählte Kontakte 15, wobei die Unterdruckbeaufschlagung auch die Platine 2 im Rahmen 10 festhält, so daß sie sich daraus nicht lö­ sen kann. Über die berührten Kontakte 15 wird dann geprüft. In weiterer Folge wird der Unterdruck mit der Ventilvor­ richtung 27 abgebaut, so daß die Rückholfedern 23 die Tragplatte 9 zumindest geringfügig anheben, worauf der Antrieb 26 betätigt wird und den Sperrschieber 20 in die Stellung B verschiebt (Fig. 4). Danach wird die Ventilvor­ richtung 27 erneut betätigt und die Tragplatte 9 abgesenkt, bis die Zapfen 21 in die Vertiefungen 22 ein­ dringen und sich die Tragplatte 9 entweder auf den Zap­ fen 21 oder auf der Oberseite des Sperrschiebers 20 di­ rekt fest abstützt. Die Unterseite der Tragplatte 9 hat dann zum Grund des Bettes 12 den Abstand SB , wobei auch die niedriger liegenden Enden der Prüfstifte 18 Kontakte 15 an der Platine 2 berühren. Es erfolgt dann eine weite­ re Prüfung. Nach Abschluß der zweiten Prüfung wird die Unterdruckbeaufschlagung wieder beseitigt, worauf die Rückholfedern 23 die Tragplatte 9 wieder in die Grund­ stellung anheben und die geprüfte Platine entnommen und eine neue Platine eingelegt wird.In the basic position of the tray according to Fig. 2 and at a standstill in position A locking slide 20, a board 2 is inserted into the frame 10. Thereupon, a vacuum is generated with the valve device 27 on the underside of the support plate 9 , which lowers the support plate 9 against the force of the return springs 23 until it rests on the pin 21 with its underside. The Untersei te the support plate 9 then has the bottom of the bed 12 egg nen distance SA . The higher lying test pins 17 touch with spring force selected contacts 15 , the negative pressure also holds the board 2 in the frame 10 so that it can not solve it. It is then checked via the touched contacts 15 . Subsequently, the negative pressure is reduced with the Ventilvor device 27 so that the return springs 23 raise the support plate 9 at least slightly, whereupon the drive 26 is actuated and moves the gate valve 20 into position B ( Fig. 4). Then the Ventilvor device 27 is actuated again and the support plate 9 is lowered until the pin 21 penetrate into the recesses 22 and the support plate 9 is either directly on the Zap fen 21 or on the top of the gate valve 20 directly supported. The underside of the support plate 9 then has the distance SB from the base of the bed 12 , the lower ends of the test pins 18 also touching contacts 15 on the board 2 . A further test is then carried out. After completion of the second test, the negative pressure is removed again, whereupon the return springs 23 lift the support plate 9 back into the basic position and the tested board is removed and a new board is inserted.

Bei der Ausführungsform von Fig. 6 ist auf dem Sperrschie­ ber 20 ein höherer Zapfen 21′ angeordnet, dessen Höhe mit H bezeichnet ist. Die Tragplatte 9 besitzt dem Zapfen 21′ zugeordnet eine Vertiefung 22′, die aneinander angrenzen­ de Abschnitte 35, 36, 37 mit verschiedenen Tiefen T 2, T 1, T besitzt, wobei die Tiefe T annähernd der Höhe H des Zap­ fens 21′ enspricht. Bei dieser Ausführungsform sind vier verschiedene Prüfhöhenlagen für die Tragplatte 9 gegeben. In der Stellung A des Sperrschiebers 20 legt sich beim Absenken die Tragplatte 9 mit einem Bereich 41 ihrer Unterseite auf die Oberseite des Zapfens 21′. In den Prüfstellungen B, C, D ist hingegen der Zapfen 21′ auf die unterschiedlich tiefen Abschnitte 35, 36, 37 aus­ gerichtet, so daß die Tragplatte dann jeweils eine nied­ rigere Prüfhöhenlage einnimmt. Beim Eingriff des Zapfens 21′ in den Abschnitt 37 stützt sich die Tragplatte 9 entweder mit dem Grund des Abschnittes 36 auf dem Zap­ fen 21′ ab oder es liegt die Unterseite der Tragplatte 9 direkt auf der mit 42 bezeichneten Oberfläche des Sperr­ schiebers 20 auf. In the embodiment of Fig. 6, a higher pin 21 'is arranged on the locking slide 20 , the height of which is denoted by H. The support plate 9 has the pin 21 ' assigned a recess 22' , the adjoining de sections 35, 36, 37 with different depths T 2 , T 1 , T , the depth T approximately corresponds to the height H of the Zap fens 21 ' . In this embodiment, there are four different test height positions for the support plate 9 . In position A of the locking slide 20 , when lowering, the support plate 9 lies with an area 41 of its underside on the top of the pin 21 ' . In the test positions B, C, D , however, the pin 21 'is directed to the sections 35, 36, 37 of different depths, so that the support plate then assumes a lower test height position. When engaging the pin 21 ' in the section 37 , the support plate 9 is supported either with the bottom of the section 36 on the Zap fen 21' or it is the underside of the support plate 9 directly on the 42 designated surface of the locking slide 20 .

Bei der Ausführungsform von Fig. 7 sind drei Prüfhöhen­ lagen der Tragplatte 9 möglich, wofür der Sperrschieber 20′ in drei Stellungen A, B, C bringbar ist.In the embodiment of Fig. 7, three test heights were the support plate 9 possible, for which the locking slide 20 ' in three positions A, B, C can be brought.

An der Unterseite der Tragplatte 9 ist ein niedriger Zapfen 21′′ angeformt, der in der Stellung A des Sperr­ schiebers 20′ auf den höher ausgebildeten Zapfen 21 aus­ gerichtet ist. In der Unterseite der Tragplatte 9 ist ferner eine breite Vertiefung 22′′ vorgesehen, während in einem Abstand vor dem Zapfen 21 auch im Sperrschie­ ber 20′ eine Vertiefung 22′′′ vorgesehen ist.On the underside of the support plate 9 , a lower pin 21 '' is formed, which in position A of the locking slide 20 'is directed towards the higher pin 21 from. In the underside of the support plate 9 , a wide recess 22 '' is also provided, while at a distance in front of the pin 21 also in the locking slide 20 ' a recess 22''' is provided.

In der Stellung A des Sperrschiebers 20′ sitzt die Trag­ platte 9 mit dem Zapfen 21′′ auf dem Zapfen 21 des Sperr­ schiebers auf. In der Stellung B des Sperrschiebers 20 geht der Zapfen 21 am Zapfen 21′′ vorbei und dringt in die Vertiefung 22′′ ein, bis der Zapfen 21′′ auf der mit 41 bezeichneten Fläche des Sperrschiebers 20′ aufsitzt. In der Stellung C des Sperrschiebers 20′ dringt schließlich auch der Zapfen 21′′ in die Vertiefung 22′′′ ein, während der Zapfen 21 noch in der Vertiefung 22′′ liegt.In position A of the gate valve 20 ' , the support plate 9 sits with the pin 21'' on the pin 21 of the gate valve. In position B of the locking slide 20 , the pin 21 goes past the pin 21 '' and penetrates into the recess 22 '' until the pin 21 ' ' is seated on the surface of the locking slide 20 designated 41 ' . In position C of the gate valve 20 ' finally penetrates the pin 21'' into the recess 22''' , while the pin 21 is still in the recess 22 '' .

Anstelle des in den vorher beschriebenen Ausführungsfor­ men unterhalb der Tragplatte 9 angeordneten Sperrschie­ bers 20 könnte auch ein oberhalb der Tragplatte 9 liegen­ der Sperrschieber vorgesehen sein, der durch Ausnehmungen der Tragplatte unter diese greift und sich in den ver­ schiedenen Prüfhöhenlagen abstützt. Ferner könnte anstel­ le der Unterdruckbeaufschlagung zum Absenken der Tragplat­ te auch ein mechanischer Zugantrieb vorgesehen sein, der die Tragplatte jeweils bis zur Auflage auf dem Sperrschie­ ber absenkt. Denkbar ist ferner, die Tragplatte 9 von oben durch mehrere Federn zu belasten und einen mechani­ schen Hubantrieb, z. B. einen Hebelmechanismus, vorzuse­ hen, mit dem zum Verstellen des Sperrschiebers die Trag­ platte jeweils gegen die Kraft der von oben wirkenden Federn angehoben wird, ehe diese Federn die Tragplatte dann wiederum nach unten bis auf den in die jeweils ge­ wünschte Stellung verstellten Sperrschieber drückt. Denk­ bar wäre es schließlich, die Lagerung der Prüfstifte 17, 18 höhenverstellbar anzuordnen und mit einem entsprechend modifizierten Sperrschieber in unterschiedlichen Prüfhö­ henlagen abzufangen, wobei dann die Platine mit der Trag­ platte eine starre Position in der Vorrichtung einnehmen könnte.Instead of the locking slide bers 20 arranged below the support plate 9 in the embodiments described above, a lock slide could also be provided above the support plate 9 , which engages through recesses in the support plate under it and is supported in the various test height positions. Furthermore, instead of the negative pressure for lowering the support plate, a mechanical traction drive could also be provided, which lowers the support plate until it rests on the locking slide. It is also conceivable to load the support plate 9 from above by several springs and a mechanical lifting drive's, z. B. a lever mechanism, vorzuse hen, with which to adjust the locking slide, the support plate is raised against the force of the springs acting from above, before these springs then press the support plate down again to the adjusted in each ge desired position locking slide . Finally, it would be conceivable to arrange the storage of the test pins 17 , 18 in a height-adjustable manner and to intercept them with a correspondingly modified locking slide in different test height positions, in which case the board with the support plate could assume a rigid position in the device.

Claims (16)

1. Prüfvorrichtung für elektrische Schaltungsplatinen, mit Gruppen von in unterschiedlichen Höhenlagen angeord­ neten oder einstellbaren Prüfstiften zum sequentiellen Prüfen der Platine über unterschiedliche Kontaktgruppen, mit einer Platinentragplatte, die in einem die Prüfstifte enthaltenden Gehäuse mittels einer Absenkvorrichtung in den unterschiedlichen Höhenlagen der Prüfstifte entspre­ chende, durch eine Hubeinstellvorrichtung definierte Prüf­ höhenlagen einstellbar ist, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Hubeinstellvorrichtung wenigstens einen quer zur Absenkrichtung der Tragplatte (9), in eine der Anzahl der Prüfhöhenlagen entsprechende Anzahl von Stellungen (A, B, C, D) einstellbaren, abgestuf­ ten Sperrschieber (20, 20′, 20′′, 20′′′) aufweist, auf dem die Tragplatte (9) in den Prüfhöhenlagen abstützbar ist.1.Test device for electrical circuit boards, with groups of test pins arranged or adjustable at different heights for sequential testing of the board via different contact groups, with a board support plate which, in a housing containing the test pins, by means of a lowering device in the different height positions of the test pins, altitUDe by a stroke adjustment device defined test is adjustable, characterized in that the stroke adjustment device at least adjustable a transversely corresponding to the lowering of the support plate (9), in a number of Prüfhöhenlagen number of positions (a, B, C, D), ten abgestuf Locking slide ( 20, 20 ', 20'',20''' ) has, on which the support plate ( 9 ) can be supported in the test height positions. 2. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Sperrschieber (20) in Absenkrichtung der Tragplatte (9) unterhalb der Tragplatte (9) liegt.2. The test apparatus according to claim 1, characterized in that the locking slide (20) lies in the lowering of the support plate (9) below the support plate (9). 3. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß auf dem Sperrschieber (20, 20′, 20′′′) ein zur Unterseite der Tragplatte (9) weisender Zapfen (21, 21′) und in der Tragplatte (9) wenigstens eine Vertiefung (22, 22′, 22′′, 22′′′, 22′′′′) angeordnet ist, auf die der Zapfen in wenig­ stens einer Stellung (A, B, C, D) des Sperrschiebers aus­ gerichtet ist, derart, daß sich in einer Stellung (A) des Sperrschiebers die Tragplatte in einer höheren Prüf­ höhenlage auf dem Zapfen und in einer weiteren Stellung (B) des Sperrschiebers bei in die Vertiefung eingedrun­ genem Zapfen die Tragplatte in einer niedrigeren Prüf­ höhenlage auf der Oberseite des Sperrschiebers oder mit dem Grund der Vertiefung auf dem Zapfen abstützt.3. Test device according to claim 1 or 2, characterized in that on the locking slide ( 20, 20 ', 20''' ) to the underside of the support plate ( 9 ) facing pin ( 21, 21 ' ) and in the support plate ( 9 ) at least one recess ( 22, 22 ', 22'',22''', 22 '''' ) is arranged, on which the pin is directed in at least one position (A, B, C, D) of the gate valve , such that in a position (A) of the locking slide the support plate in a higher test height position on the pin and in a further position (B) of the lock slide when the pin penetrated into the recess, the support plate in a lower test height position on the top the gate valve or with the bottom of the recess on the pin. 4. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß so­ wohl an der Tragplatte (9) als auch am Sperrschieber (20′) aufeinander ausrichtbare Zapfen (21, 21′′) und ge­ gebenenfalls auch Vertiefungen (22′′, 22′′′) angeordnet sind.4. Testing device according to claim 1 or 2, characterized in that so well on the support plate ( 9 ) and on the locking slide ( 20 ' ) mutually alignable pin ( 21, 21'' ) and possibly also recesses ( 22'', 22nd ''' ) Are arranged. 5. Prüfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, bei der für die unterste Prüfhöhenlage der Tragplatte Abstandsele­ mente angeordnet sind, dadurch gekennzeichnet, daß der Sperrschieber (20, 20′) die Abstandselemente ersetzt und eine der Höhe der Abstandselemente entsprechende Dicke (SB) aufweist. 5. Test device according to one of claims 1 to 4, in which elements are arranged for the lowest test height position of the support plate, characterized in that the locking slide ( 20, 20 ' ) replaces the spacer elements and a thickness corresponding to the height of the spacer elements (SB) having. 6. Prüfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß für jeden Zapfen mehrere Vertiefungen unterschiedli­ cher Tiefe vorgesehen sind.6. Test device according to one of the claims 1 to 5, characterized in that several wells are different for each pin cher depth are provided. 7. Prüfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Vertiefung (22′) mehrere in Bewegungsrichtung des Sperrschiebers (20) nebeneinander liegende Abschnit­ te (35, 36, 37) unterschiedlicher Tiefe besitzt, daß der Sperrschieber (20) mindestens in ebenso viele Stellungen (A, B, C, D) bewegbar ist, wie Abschnitte vorgesehen sind und in jeder Stellung des Sperrschiebers jeweils auf ei­ nen anderen Abschnitt der Vertiefung (22′) ausgerichtet ist, und daß die über die Oberseite des Sperrschiebers (20) stehende Höhe (H) des Zapfens (21′) annähernd der Tiefe (T) des tiefsten Abschnitts (37) entspricht.7. Testing device according to one of claims 1 to 5, characterized in that the recess ( 22 ' ) te in the direction of movement of the locking slide ( 20 ) adjacent sections te ( 35, 36, 37 ) of different depths that the locking slide ( 20 ) is movable in at least as many positions (A, B, C, D) as sections are provided and in each position of the locking slide is aligned with each other portion of the recess ( 22 ' ), and that over the top of the locking slide ( 20 ) standing height (H) of the pin ( 21 ' ) approximately corresponds to the depth (T) of the deepest section ( 37 ). 8. Prüfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, bei der die Prüfstifte im Gehäuse in einem Prüf­ stiftfeld angeordnet sind, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Sperrschieber (20) als ein das Prüfstiftfeld ( 16) umgebender Rahmen ausgebil­ det ist, auf dem eine Vielzahl von Zapfen (21) angeord­ net ist, und daß für jeden Zapfen wenigstens eine Ver­ tiefung oder/und ein Gegenzapfen an der Tragplatte vorge­ sehen ist.8. Test device according to one of claims 1 to 7, in which the test pins in the housing are arranged in a test pin field, characterized in that the locking slide ( 20 ) is designed as a frame surrounding the test pin field ( 16 ), on which one A large number of pins ( 21 ) is angeord net, and that for each pin at least one Ver deepening and / or a counter pin on the support plate is easily seen. 9. Prüfvorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß an den Rahmenholmen in prüfstiftfreie Bereiche des Prüfstiftfeldes (16) grei­ fende Finger (28, 29, 30, 31) angebracht sind, die weitere Zapfen (21) tragen.9. Test device according to claim 8, characterized in that grai fende fingers ( 28, 29, 30, 31 ) are attached to the frame spars in test pin-free areas of the test pin field ( 16 ), which carry further pins ( 21 ). 10. Prüfvorrichtung nach Anspruch 8 oder 9, da­ durch gekennzeichnet, daß von den Rahmenholmen nach außen weisende Finger (32) abstehen, die weitere Zapfen (21) tragen.10. Testing device according to claim 8 or 9, characterized in that project from the frame bars outwardly pointing fingers ( 32 ) which carry further pins ( 21 ). 11. Prüfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß der Sperrschieber (20) geradlinig bewegbar geführt ist, vorzugsweise durch am Rahmen angeordnete und in Schlitzführungen (34) des Gehäuses (4) eingreifende Füh­ rungsstifte (33).11. Testing device according to one of claims 1 to 10, characterized in that the locking slide ( 20 ) is guided in a rectilinearly movable manner, preferably by means of guide pins ( 33 ) arranged on the frame and in slot guides ( 34 ) of the housing ( 4 ). 12. Prüfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß im Gehäuse ( 4) ein Antrieb (26) vorgesehen ist, der mit dem Sperrschieber (20) in Antriebsverbindung steht.12. Test device according to one of claims 1 to 11, characterized in that in the housing ( 4 ) a drive ( 26 ) is provided which is in drive connection with the locking slide ( 20 ). 13. Prüfvorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß der Antrieb (26) ein umkehrbarer Elektromotor ist, der über ein Getriebe und einen Lenker (25) an einen Fortsatz (24) des Sperrschie­ bers (20) angekoppelt ist.13. Test device according to claim 12, characterized in that the drive ( 26 ) is a reversible electric motor which is coupled via a gear and a link ( 25 ) to an extension ( 24 ) of the locking slide bers ( 20 ). 14. Prüfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß der Rahmen aus lötbarem Material, z. B. Messing, besteht, und daß die Finger (28, 29, 30, 31, 32) am Rahmen, vorzugswei­ se zur Umrüstung auf eine andere Prüfstiftgruppierung, um­ setzbar angelötet sind.14. Testing device according to one of claims 1 to 10, characterized in that the frame made of solderable material, for. B. brass, and that the fingers ( 28, 29, 30, 31, 32 ) on the frame, vorzugwei se to convert to another test pin grouping to be soldered. 15. Prüfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß innerhalb und außerhalb des den Sperrschieber (20) bildenden Rahmens mehrere Stahlrückholfedern (23) für die Tragplatte (9) vorgesehen sind, mit denen diese in einer vom Sperrschieber angehobenen Nichtprüf-Höhenlage abstütz­ bar ist. 15. Test device according to one of claims 1 to 14, characterized in that a plurality of steel return springs ( 23 ) for the support plate ( 9 ) are provided inside and outside the frame forming the locking slide ( 20 ), with which these are lifted in a non-test slide by the locking slide. Altitude support bar is. 16. Prüfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Absenkvorrichtung eine Unterdruckquelle aufweist, daß die Tragplatte (9) im Gehäuse (4) abgedichtet absenk­ bar gelagert ist, und daß das Gehäuse (4) zum Absenken der Tragplatte (9) aus der Unterdruckquelle beaufschlag­ bar ist.16. Testing device according to one of claims 1 to 15, characterized in that the lowering device has a vacuum source, that the support plate ( 9 ) is mounted in the housing ( 4 ) in a sealed, lowerable manner, and that the housing ( 4 ) for lowering the support plate ( 9 ) can be charged from the vacuum source.