DE3517044C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine
Vorrichtung zur berührungslosen optischen Messung von
Entfernungsänderungen mit den in den Oberbegriffen der
Ansprüche 1 und 3 angegebenen Merkmalen.
Die DE-OS 33 22 712 zeigt zunächst ein Verfahren zum
berührungslosen optischen Messen von Entfernungsänderungen,
bei dem ein Lichtstrahl mit einer Optik im Bereich der
Oberfläche des zu messenden Gegenstands fokussiert wird.
Durch Anlegen einer Spannung an der Optik oder durch
Verschieben des Meßgeräts zur Oberfläche wandert der Fokus in
Richtung der optischen Achse. Wenn der Fokus die Oberfläche
des Gegenstands trifft, ergibt sich ein Intensitätsmaximum
des reflektierten Lichts. Es wird auch ein Verfahren der
eingangs beschriebenen Art aufgezeigt, bei dem zwei
Lichtstrahlen zeitlich nacheinander mit unterschiedlicher
Polarisation durch eine doppelt brechende Linse geschickt und
damit zwei gegenläufig schwingende Fokusse geschaffen werden.
Aus der Gleichheit der Amplituden der reflektierten
Teilstrahlen wird auf die Entfernung des Gegenstands von dem
Meßgerät geschlossen. Störeinflüsse, insbesondere durch
Fremdlicht, gehen in das Meßergebnis ein.
Aus der Druckschrift Pat. Abstr. of Japan, P. 131, July 30,
1982, Vol. 6/No. 141 ist es bekannt, zwei Lichtquellen mit je
einem Lichtstrahl so im Winkel zueinander anzuordnen, daß
sich die Lichtstrahlen in einem Kreuzungspunkt auf der
Oberfläche des Gegenstands kreuzen. Eine Verwendung von zwei
Lichtstrahlen mit unterschiedlicher Frequenz wird auch hier
nicht aufgezeigt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und
eine Vorrichtung zu schaffen, mit welcher Messungen von
Entfernungsänderungen unabhängig von äußeren Störeinflüssen
und damit mit vergleichsweise höherer Genauigkeit möglich
sind.
Erfindungsgemäß wird dies dadurch erreicht, daß für die zwei
Lichtstrahlen Licht unterschiedlicher Frequenz gewählt wird,
daß die optischen Achsen der zwei Lichtstrahlen derart
ausgerichtet werden, daß sie einen Winkel miteinander bilden
und sich am Ort ihrer Fokusse in einem Kreuzungspunkt
kreuzen, daß dieser Kreuzungspunkt genau auf die Oberfläche
des Gegenstands eingestellt wird, und daß von dem Lichtsensor
ein frequenzmoduliertes Streulichtmaximum registriert wird.
Das Streulichtmaximum ist dann erreicht, wenn der
Kreuzungspunkt und damit die maximale Intensität der beiden
sich kreuzenden Lichtstrahlen genau auf der Oberfläche des
Gegenstands liegt. Ändert sich der Abstand des Gegenstands
von dem Meßtisch oder dem Meßgerät, so ist auf der Oberfläche
des Gegenstands nicht mehr ein einziges Streuzentrum
vorhanden, sondern zwei, was zur Folge hat, daß ein scharf
ausgebildetes und demnach einfach festzustellendes
Streulichtmaximum nicht auftritt. Es wird mit zwei
Lichtstrahlen unterschiedlicher Frequenz gearbeitet, d. h.
die Frequenz des Lichts des einen Lichtstrahls ist
unterschiedlich zur Frequenz des Lichts des anderen
Lichtstrahls. Mit dem Lichtsensor wird ein
frequenzmoduliertes Streulichtmaximum registriert, welches
sich sehr leicht mittels frequenzselektiver Verstärker von
Rauschen und damit von etwa vorhandenen Fremdlichteinflussen
trennen läßt, wobei zugleich das Auftreten der Modulation das
Streulichtmaximum kennzeichnet, da die Modulation nur
auftritt, wenn sich die Oberfläche im Kreuzungspunkt der
fokussierten Lichtstrahlen befindet. Die Messungen lassen
sich damit sehr genau bei hoher Störsicherheit durchführen.
Dabei können auch dynamische Vorgänge erfaßt werden, wenn die
Modulationsfrequenz genügend hoch, d. h. etwa im MHz-Bereich,
gewählt wird.
Vorzugsweise wird Licht einer einzigen kohärenten Lichtquelle
verwendet, welches in die zwei Lichtstrahlen aufgeteilt wird;
das Licht des einen Lichtstrahls wird dabei in seiner
Frequenz verändert, während die Frequenz des anderen
Lichtstrahls beibehalten bleiben kann. Als kohärente
Lichtquelle kann insbesondere ein Laser eingesetzt werden.
Die Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens kennzeichnet
sich erfindungsgemäß dadurch, daß zum Zerlegen des Lichts der
Lichtquelle in die zwei Lichtstrahlen ein Strahlteiler
vorgesehen ist, daß für die Frequenzverschiebung des einen
Lichtstrahls ein akusto-optischer Wandler vorgesehen ist, daß
eine erste Optik zum Kreuzen der beiden Lichtstrahlen in
einem Kreuzungspunk und eine zweite Optik zum Abbilden des Gegenstand reflektierem Streulichts auf dem Lichtsensor vorgesehen ist, und daß der Lichtsensor
frequenzselektiv betrieben wird. Damit entsteht ein
moduliertes Lichtsignal, wenn sich die Oberfläche des
Gegenstands genau im Kreuzungspunkt der beiden fokussierten
Lichtstrahlen befindet. Befindet sich die Oberfläche des
Gegenstands außerhalb des Kreuzungspunkts der beiden
Lichtstrahlen, so tritt das modulierte Streulichtsignal nicht
auf.
Weitere Merkmale der Vorrichtung sind Gegenstand von
Unteransprüchen.
Eine Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist
schematisch in der beiliegenden Zeichnung dargestellt und
wird im folgenden näher erläutert.
Auf einem Meßtisch 1 ist eine Lichtquelle 2 vorgesehen, die
aus einem Laser besteht. Der abgegebene Lichtstrahl 3 trifft
auf einen auf dem Meßtisch 1 vorgesehenen Strahlteiler 4,
welcher den Lichtstrahl 3 in zwei Teilstrahlen 5 und 6
zerlegt. Der Teilstrahl 5 durchläuft dabei einen akusto
optischen Wandler 7, welcher für eine Frequenzverschiebung
des Teilstrahls sorgt. Der Teilstrahl 6 durchläuft einen
optischen Wegausgleich 8, so daß sichergestellt ist, daß
beide Teilstrahlen die gleiche Wegstrecke zurücklegen. Die
Teilstrahlen 5 und 6 werden dann durch eine Optik 9 geleitet,
welche die Teilstrahlen in einer vorbestimmten Entfernung X
zur Kreuzung bringt. Im Kreuzungspunkt 10 der Teilstrahlen 5
und 6, d. h. in der Entfernung X ist die Oberfläche des
Gegenstands 11 angeordnet. Der Kreuzungspunkt 10 bildet daher
das Streulichtzentrum, welches von der Neigung oder Krümmung
der Oberfläche unabhängig ist. Das Streulicht vom
Streulichtzentrum wird durch die Optik 9 über einen
Umlenkspiegel 12 auf eine Linsen-Blendenanordnung 13 geworfen
und auf eine Fotodiode 14 gelenkt. Die Fotodiode 14 ist an
eine elektronische Schaltung 15 angeschlossen.
Die Funktionsweise der Einrichtung ist wie folgt:
Der Laserstrahl 3 wird im Strahlteiler 4 in zwei Teilstrahlen 5 und 6 zerlegt, die mit Hilfe der Optik 9 in einer vorbestimmten Entfernung X zur Kreuzung gebracht werden. Im Kreuzungspunkt 10 ist die Oberfläche des Gegenstands angeordnet. Auf der Fotodiode ergibt sich ein Streulichtmaximum, was mit der Elektronik 15 meßbar ist. Da der eine Teilstrahl 5 gegenüber dem anderen Teilstrahl 6 frequenzverschoben ist, tritt im Kreuzungspunkt 10 eine Überlagerung auf, falls auch die Oberfläche 11 durch den Kreuzungspunkt verläuft. Durch die Überlagerung ergibt sich eine Modulation des Streulichts, welche mit Hilfe der Fotodiode 14 und der Elektronik 15 erfaßbar ist. Zweckmäßigerweise kann die Elektronik Filtereinrichtungen aufweisen, so daß eine frequenzselektive Verstärkung möglich ist. Der besondere Vorteil hierbei ist, daß die Messungen nicht mehr vom Rauschen, welches durch Fremdlicht verursacht wird, beeinflußt werden können. Tritt nunmehr eine Entfernungsänderung des Gegenstands 11 auf, so liegt der Kreuzungspunkt 10 der Teilstrahlen 5 und 6 nicht mehr auf der Oberfläche des Gegenstands. Vielmehr treffen die Teilstrahlen an unterschiedlichen Stellen auf die Oberfläche auf, was einerseits dazu führt, daß das von der Optik 9 empfangene Streulicht sehr gering ist, was deutlich meßbar ist, und andererseits dazu, daß eine Überlagerung der Frequenzen der beiden Teilstrahlen nicht mehr stattfinden kann, was ebenfalls deutlich meßbar ist. Um nun die Entfernungsänderung zu bestimmen, wird der Meßtisch 1 soweit verschoben, bis der Kreuzungspunkt 10 der Lichtstrahlen erneut auf der Oberfläche des Gegenstands liegt. Dies ist erkennbar am erneut auftretenden Streulichtmaximum auf der Fotodiode und am ebenfalls auftretenden Maximum des frequenzselektiv verstärkten Signals, wegen der jetzt wieder einsetzenden Modulation des Streulichts. Die Verschiebung des Meßtischs 1 stellt dabei ein Maß für die Entfernungsänderung dar.
Der Laserstrahl 3 wird im Strahlteiler 4 in zwei Teilstrahlen 5 und 6 zerlegt, die mit Hilfe der Optik 9 in einer vorbestimmten Entfernung X zur Kreuzung gebracht werden. Im Kreuzungspunkt 10 ist die Oberfläche des Gegenstands angeordnet. Auf der Fotodiode ergibt sich ein Streulichtmaximum, was mit der Elektronik 15 meßbar ist. Da der eine Teilstrahl 5 gegenüber dem anderen Teilstrahl 6 frequenzverschoben ist, tritt im Kreuzungspunkt 10 eine Überlagerung auf, falls auch die Oberfläche 11 durch den Kreuzungspunkt verläuft. Durch die Überlagerung ergibt sich eine Modulation des Streulichts, welche mit Hilfe der Fotodiode 14 und der Elektronik 15 erfaßbar ist. Zweckmäßigerweise kann die Elektronik Filtereinrichtungen aufweisen, so daß eine frequenzselektive Verstärkung möglich ist. Der besondere Vorteil hierbei ist, daß die Messungen nicht mehr vom Rauschen, welches durch Fremdlicht verursacht wird, beeinflußt werden können. Tritt nunmehr eine Entfernungsänderung des Gegenstands 11 auf, so liegt der Kreuzungspunkt 10 der Teilstrahlen 5 und 6 nicht mehr auf der Oberfläche des Gegenstands. Vielmehr treffen die Teilstrahlen an unterschiedlichen Stellen auf die Oberfläche auf, was einerseits dazu führt, daß das von der Optik 9 empfangene Streulicht sehr gering ist, was deutlich meßbar ist, und andererseits dazu, daß eine Überlagerung der Frequenzen der beiden Teilstrahlen nicht mehr stattfinden kann, was ebenfalls deutlich meßbar ist. Um nun die Entfernungsänderung zu bestimmen, wird der Meßtisch 1 soweit verschoben, bis der Kreuzungspunkt 10 der Lichtstrahlen erneut auf der Oberfläche des Gegenstands liegt. Dies ist erkennbar am erneut auftretenden Streulichtmaximum auf der Fotodiode und am ebenfalls auftretenden Maximum des frequenzselektiv verstärkten Signals, wegen der jetzt wieder einsetzenden Modulation des Streulichts. Die Verschiebung des Meßtischs 1 stellt dabei ein Maß für die Entfernungsänderung dar.
Der Erfindungsgedanke läßt die verschiedensten Abwandlungen
zu. So kann insbesondere die Nachstellung des Meßtischs
mittels nicht weiter erläuterter, von der Elektronik
anzusteuernder Servoeinrichtungen erfolgen. Außerdem läßt
sich auch anstelle einer Verschiebung des Meßtischs eine
Brennweitenveränderung der Optik 9 vornehmen, welche
ebenfalls ein Maß für die Entfernungsänderung darstellt.
Andererseits können auch dynamische Messungen vorgenommen
werden, insbesondere, wenn die Modulationsfrequenz des
Streulichts hoch, d. h. im MHz-Bereich liegt. Wird für die
Aufnahme des Streulichts eine zweite Optik unter einem Winkel
zur ersten Optik auf demselben Meßtisch angebracht, so kann
eine größere Genauigkeit erreicht werden, da dann das
Schnittvolumen der beiden endlich dicken Teilstrahlen am
Kreuzungspunkt 10 von der Seite beobachtet wird.
Claims (10)
1. Verfahren zur berührungslosen optischen Messung von
Entfernungsänderungen, bei welchem zwei Lichtstrahlen von
einem Meßtisch aus über eine fokussierende erste Optik auf
einen Gegenstand mit unbekannter Entfernung zu dem Meßtisch
geworfen werden, von dem Gegenstand reflektiertes Streulicht
von einer zweiten Optik auf einen Lichtsensor gelenkt wird,
der Abstand der Fokusse der Lichtstrahlen zu dem Gegenstand
durch Verschieben des Meßtischs oder Änderung der Brennweite
der ersten Optik solange verändert wird, bis der Gegenstand
im Bereich der Fokusse liegt und aus der Meßtischverschiebung
oder der Brennweitenänderung die Entfernungsänderung des
Gegenstands bestimmt wird, dadurch gekennzeichnet, daß für
die zwei Lichtstrahlen Licht unterschiedlicher Frequenz
gewählt wird, daß die optischen Achsen der zwei Lichtstrahlen
derart ausgerichtet werden, daß sie einen Winkel miteinander
bilden und sich am Ort ihrer Fokusse in einem Kreuzungspunkt
kreuzen, daß dieser Kreuzungspunkt genau auf die Oberfläche
des Gegenstands eingestellt wird, und daß von dem Lichtsensor
ein frequenzmoduliertes Streulichtmaximum registriert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
Licht einer einzigen kohärenten Lichtquelle Verwendung
findet, welches in die zwei Lichtstrahlen aufgeteilt wird,
und daß das Licht des einen Lichtstrahls in seiner Frequenz
verändert wird.
3. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens gemäß Anspruch
1, mit einer Lichtquelle, einem Meßtisch und einer Optik zum
Fokussieren der Lichtstrahlen und zum Abbilden des
reflektierten Lichts auf einen Lichtsensor, dadurch
gekennzeichnet, daß zum Zerlegen des Lichts der Lichtquelle
(2) in die zwei Lichtstrahlen (5, 6) ein Strahlteiler (4)
vorgesehen ist, daß für die Frequenzverschiebung des einen
Lichtstrahls (5) ein akusto-optischer Wandler (7) vorgesehen
ist, daß eine erste Optik (9) zum Kreuzen der beiden
Lichtstrahlen in einem Kreuzungspunkt und eine zweite Optik
(13) zum Abbilden des vom Gegenstand (11) reflektierten
Streulichts auf den Lichtsensor (14) vorgesehen ist, und daß
der Lichtsensor (14) frequenzselektiv betreibbar ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
der Meßtisch (1) verfahrbar ist, wobei sich die zu messende
Entfernungsänderung aus der Verfahrstrecke ergibt.
5. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
der Meßtisch (1) fest angeordnet ist und die erste Optik (9)
eine veränderbare Brennweite aufweist, wobei sich die zu
messende Entfernungsänderung aus der Brennweitenänderung
ergibt.
6. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
für den anderen Teilstrahl (6) ein optischer Wegausgleich (8)
vorgesehen ist.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß ein der ersten Optik (9) zugeordneter
Umlenkspiegel (12) vorgesehen ist, welcher das vom Gegenstand
(11) stammende Streulicht auf den Lichtsensor (14) lenkt.
8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß als Lichtsensor eine lichtempfindliche
Diode (14) vorgesehen ist, welche mit einer nachgeschalteten
Elektronik (15) verbunden ist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
die Elektronik (15) so ausgelegt ist, daß sie bei
Entfernungsänderungen den Meßtisch (1) bzw. die
Brennweitenverstellung der ersten Optik (9) selbsttätig
nachführt.
10. Vorrichtung nach Anspruch 3 bis 9, dadurch
gekennzeichnet, daß die erste Optik (9) und die zweite Optik
(13) in einem Winkel zueinander auf dem Meßtisch (1)
angeordnet sind.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19853517044 DE3517044A1 (de) | 1985-05-11 | 1985-05-11 | Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen optischen messung von entfernungsaenderungen |
US07/860,548 US4884888A (en) | 1985-05-11 | 1986-05-07 | Method and device for contactless optical measurement of distance changes |
DK215086A DK215086A (da) | 1985-05-11 | 1986-05-09 | Fremgangsmaade og apparat til beraeringsfri optisk maaling af afstandsaendringer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
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DE3517044A1 DE3517044A1 (de) | 1986-11-13 |
DE3517044C2 true DE3517044C2 (de) | 1990-07-05 |
Family
ID=6270500
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE19853517044 Granted DE3517044A1 (de) | 1985-05-11 | 1985-05-11 | Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen optischen messung von entfernungsaenderungen |
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DE19606453C2 (de) * | 1996-02-21 | 1998-07-16 | Wagner Int | Verfahren und Vorrichtung zum photothermischen Prüfen von Werkstücken |
Family Cites Families (9)
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JPS61905A (ja) * | 1985-05-30 | 1986-01-06 | Hitachi Ltd | 磁気ヘツド |
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1985
- 1985-05-11 DE DE19853517044 patent/DE3517044A1/de active Granted
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1986
- 1986-05-07 US US07/860,548 patent/US4884888A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-05-09 DK DK215086A patent/DK215086A/da not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DK215086D0 (da) | 1986-05-09 |
DK215086A (da) | 1986-11-12 |
US4884888A (en) | 1989-12-05 |
DE3517044A1 (de) | 1986-11-13 |
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Legal Events
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D2 | Grant after examination | ||
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