DE3445694A1 - Fotoelektrische detektor-vorrichtung - Google Patents
Fotoelektrische detektor-vorrichtungInfo
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Fotoelektrische Detektor-Vorrichtung
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Dipi.-Phys. Dr. rex. nat.
A. v. "-jELLFELD. München
Rechtsanwalt
Dipl.-Ing. Dipi.-Oek.
JAN C-. -C\TN*5S. K:s!
Die Erfindung betrifft ein fotoelektrisches Detektorgerät
zur Erfassung von Veränderungen, insbesondere von Strecken- oder Vorschubveränderungen, gemäß Oberbegriff
des Anspruches 1 .
Speziell betrifft die Erfindung ein fotoelektrisches Detektor-Gerät, das die Erfassung von Veränderungen
mit verbesserter Stabilität und Konstanz und verbesserter Frequenz-Ansprechempfindlichkeit ermöglicht.
Zur Zeit werden verschiedene fotoelektrisch arbeitende
Detektor-Systeme zur Erfassung von Veränderungen und Verschiebungen verwendet, die ausgezeichnete Meßgenauigkeit
und Haltbarkeit bzw. Lebensdauer aufweisen, wofür beispielsweise digital anzeigende Mikrometer-Meßgeräte oder
Meßuhren, Meßsysteme zur dreidimensionalen Längenerfassung, Tischvorschubsysteme von Laser-Mikroskopen oder
NC-Werkzeugmaschinen zur Messung des Abstandes bzw. der
Distanz oder anderer Abmessungen,bei denen Laserstrahlen
verwendet werden oder dergleichen, erwähnt seien.
In Fig. 1 ist der wesentliche Teil eines derartigen Detektor-Systems
zur Erfassung von Veränderungen, insbesondere Abstandsveränderungen oder Verschiebeveränderungen,
dargestellt. Bei diesem Detektor-System ist eine Hauptskala 10 aus einer Glasplatte vorgesehen. Weiterhin ist eine Platte
10' aus rostfreiem Stahl oder eine ähnliche Einrichtung vorhanden, die eine Vielzahl von Schlitzen 10a zur Längenmessung
aufweist und Schlitze 10b zur Anzeige des absoluten Wertes darin ausgebildet aufweist, wobei diese Schlitze
voneinander beabstandet sind. Bei diesem Detektor-System kann die gewünschte Längenmessung oder Positionsermittlung
längs der Hauptskala 10 festgestellt und durchgeführt werden .
Im Nahbereich der Hauptskale 10 sind eine Indexskala 12 und eine Skala 13 für den Absolutwert angeordnet. Die
Indexskala 12 weist Indexschlitze 12a und 12b auf, die
den Schlitzen 10a zur Längenmessung entsprechen oder entsprechend angepaßt sind. Die Skala 13 für den Absolutwert
weist Indexschlitze 13a auf, die den Schlitzen 10b zur
Anzeige der Absolutwerte angepaßt sind. Bei einer Relativbewegung zwischen den Skalen 10,12 und 13, die nachstehend
auch als optische Linienraster- oder Gitterraster-Einrichtung bezeichnet wird, wird die Bewegung der Schlitze elektrisch
detektiert, um ein Signal für die Relativbewegung zu erhalten, mittels dem eine Längenmessung oder Positionserfassung
durchgeführt werden kann.
Um die Relativbewegung der Skalen 10,12 und 13 in ein fotoelektrisches
Signal umzuwandeln, sind lichtemittierende und lichtempfangende bzw. lichtempfindliche Elemente im
Nahbereich der entsprechenden Skalen 10,12 und 13 angeordnet. Bei dem dargestellten System handelt es sich um ein Meßgerät,
das auf der Basis der Lichtübertragung bzw. Lichtdurchlässigkeit arbeitet, indem lichtemittierende Elemente
14a, 14b und 14c im Nahbereich der Hauptskala angeordnet
sind. Des weiteren sind lichtempfindliche Elemente 16a und
16b in der Nähe der Indexscala 12 und ein weiteres lichtempfindliches
Element 16c im Nahbereich der Skala 13 für den Absolutwert vorgesehen. Die Elemente 14a, b und c und
die Elemente 16a.b.c sind auf entqeqenqesetzten Seiten
gegenüber den Indexschlitzen 12a, 12b und 13 a angeordnet.
Wie es hinreichend bekannt ist, sind die Gruppen der Indexschlitze
12a und 12b relativ zueinander um eine halbe Teilung
bzw. einen Halbabstand versetzt, so daß Lichtstrahlen,
die durch jede der Skalen 10 und 12 hindurchgelassen werden, als Signale mit Sinus- oder Kosinuswellenform
detektiert werden. Diese, nicht in Phase zueinander liegenden Signale können dazu verwendet werden, um eine
gewünschte Teilung zu realisieren.
Die Absolutwert-Skala 13 kann ein Ausgangssignal für den
Absolutwert erzeugen, der die absolute Position der bewegten Hauptskala 10 im Zusammenwirken mit den Schlitzen
10b anzeigt, die auf der Hauptskala 10 beabstandet voneinander vorgesehen sind. Auf diese Weise kann eine Bedienungsperson
die absolute Position der Skala 13 reiativ zur Hauptskala 10 feststellen.
Das in der vorbeschriebenen Art bekannte Detektor-System wird mit einer Schaltung, wie sie in Fig.2 gezeigt ist.
betrieben, um die fotoelektrische Umwandlung der Verschiebung anhand des aus der Relativbewegung resultierenden
Signals durchzuführen, wobei letzteres dem Schaltungsablauf
einer Schaltung nach Fig.2 unterzogen wird.
Die Fig.2 zeigt ein Ausführungsbeispiel eines Detektorsystems
zur Verschiebungserfassung, das im Rahmen eines Längenmeßgerätes einsetzbar ist. Das von jedem der lichtempfindlichen
Elemente 16 stammende Verschiebungssignal aufgrund der Relativbewegung, wird durch einen entsprechend
zugeordneten Vorverstärker 18a, 18b oder 18c verstärkt
und anschließend einer Detektorschaltung 20 zugeführt. Die Detektorschaltung 20 weist eine Schaltung 22 zur Formung
einer Wellenform und eine Dividierschaltung 24 auf. Die
3U5694
Dividier- bzw. Divisionsschaltung 24 kann die Sinus- und Kosinussignale miteinander kombinieren und das kombinierte
Signal in Signale unterteilen, die einen Meßabstand bzw. eine Meßteilung haben, der bzw. die kleiner ist als
die Schlitzbreite der Skalen 10 und 12.
Das Ausgangssignal der Detektorschaltung 20 ist einer Digitalanzeige 28 über eine Zähleinrichtung 26 zugeführt,
so daß die gemessene Länge digital angezeigt werden kann» Die gemessene Länge kann auch mittels eines Druckers 30,
sofern dies erforderlich ist, aufgezeichent werden.
Die lichtemittierenden Elemente 14a,14b und 14c sind mit
einer Spannungs- bzw. Stromversorgungsquelle über Widerstände 31a,31b und 31c verbunden.
In dem vorbeschriebenen Detektor-System zur Ermittlung der Verschiebung muß die von den lichtemittierenden Elementen
14 abgegebene Lichtmenge in jedem Zeitpunkt konstant sein, wobei diese Forderung aus einer daraus resultierenden verstärkten
Beeinflussung der Eigenschaften des fotoelektrischen
Umwandlungsabschnittes resultiert. In einem wie in der Fig.2 dargestellten System werden die mit den entsprechenden
lichtemittierenden Elementen 14 verbundenen Widerstände 31 abschließend so justiert und eingestellt,
daß die von den lichtemittierenden Elementen 14 abgegebene Lichtmenge gleich ist. Gleichzeitig kann auch der entsprechende
Vorverstärker 18, falls dies erforderlich ist., justiert bzw. kalibriert werden, um die Anfangseinstellung
der der Detektorschaltung 20 zugeführten Ausgangs-
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signale zu ermöglichen.
Trotz der Anfangseinstellung vor den vorausgehend erwähnten
Messungen, wird sich die Lichtmenge bei den bekannten Detektorsystemen jedoch entsprechend einer Veränderung
der Spannung in der Versorgungsquelie ändern, so daß sich hierdurch häufig Fehler in den festgestellten
Werten ergeben.
Die bekannten Detektorsysteme zur Feststellung der Veränderung bzw. des Vorschubes wurden im allgemeinen zur
Steuerung und Kontrolle des Tischvorschubs in herkömmlichen NC-Werkzeugmaschinen verwendet, in denen ein Sensor
für jede der NC-Antriebswellen vorgesehen war. Diese Sensoren wurden gemeinsam durch die Versorgungsquelle, durch
Betätigungsschalter oder Anzeigeeinheiten, die im stationären Teil der Maschine untergebracht waren, gesteuert
bzw. beeinflußt.
In Fig. 3 ist beispielsweise ein derartiges NC-gesteuertes System dargestellt. Jede X-,Y- und Z-Sektion der NC-Werkzeugmaschine
weist ein fotoelektrisches Detektorsystem zur Ermittlung der Veränderung auf, wie es in den Figuren 1
und 2 dargestellt ist. Jedes der axial beweglichen Teile umfaßt ein lichtemittierendes Element 14a,14b oder 14c
sowie ein lichtempfangendes Element 16a,16b oder 16c und
einen Vorverstärker 18a,18b oder 18c. Diese Bestandteile
sind innerhalb eines beweglichen Gehäuses 32 aufgenommen. Andererseits ist ein stationäres Gehäuse 34 vorgesehen,
das die Energieversorgung 36, eine Detektorschaltung 20 und Anzeigeeinrichtungen 38,40 und 42 für die entsprechenden
Wellen aufweist.
Das beweglichen Gehäuse 32 ist jeweils auf oder an der entsprechenden X-,Y- und Z-Sektion vorgesehen und auf der
entsprechenden NC-Vorschubwelle angebracht. Hierbei ist
das verschiebbare Gehäuse 32 elektrisch mit dem stationären Gehäuse 34 durch eine kabelartige Leitung 44 verbunden.
Ein derartiges getrenntes Detektor-System kann eine gemeinsame Energieversorgung, eine gemeinsame Gruppe von Betätigungsschaltern
und eine gemeinsame Anzeigeeinrichtung aufweisen, wobei dies zu einer Verkleinerung der Abmessungen
des Systems führt. Anstelle der Vorschubwelle kann die Anbringung z.B. auch an der Zugspindel erfolgen.
In diesem getrennten Detektorsystem sind jedoch Leitungen 44 mit unterschiedlichen Längen zur Verbindung des stationären
und der beweglichen Gehäuse 34 bzw. 32 vorhanden. Darüber hinaus wird während des Betriebes z.B. einer
NC-Maschine, die Länge der Leitungen für jede Welle sich verändern, sofern eine Vielzahl von bewegbaren X-,Y- und
Z-Sektionen, wie es in Fig.3 gezeigt ist, vorhanden sind.
Auch für den Fall, daß die Spannung auf der stationären Seite konstant gehalten wird, wird die von den lichtemittierenden
Elementen der entsprechenden bewegbaren Sektion uneinheitlich werden bzw. sich verändern, wenn ein Spannungsabfall
in der entsprechenden Leitung 44 entsteht. Aufgrund dieser Umstände sind Fehler in der Messung nicht geringfügig
und nicht vernachlässigbar.
Um derartige Probleme und Nachteile zu beseitigen, wurde vorgeschlagen, einen Spannungsdetektor und eine separate
Steuerung der Versorgungsspannung oder eine Konstanzspannungsquelle vorzusehen, wobei all diese Einrichtungen in
einer bewegbaren Gleiteinheit untergebracht sein sollten.
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Dies würde jedoch eine Vielzahl von ähnlichen Kabeln und Leitungen zur Weiterleitung der detektierten Spannungen
erfordern und andere komplizierte Strukturen und Maßnahmen einschließlich des Spannungsdetektors erforderlich
machen, wobei dadurch eine Erzeugung von Störungen in den Steuer- und Spannungsdetektorleitungen zu erwarten
ist. Darüber hinaus wird eine separate Energieversorgung die Bewegung der Gleiteinheit oder der Verschiebeeinrichtungen
nachteilig beeinträchtigen und
eine unerwünschte Vergrößerung in den Abmessungen des
Systems mit sich bringen.
eine unerwünschte Vergrößerung in den Abmessungen des
Systems mit sich bringen.
Bei der vorausgehend beschriebenen Konstruktion mit einer Vielzahl von bewegbaren Detektorsektionen würde z.B. bei einer
Spannung von 5 Volt auf der stationären Seite der Spannungsversorgung, die tatsächliche Spannung in der bewegbaren
Gleiteinheit um 4% bis 5% aufgrund von Leitungsverlusten reduziert werden. Hieraus würde eine Reduzierung der von
den lichtemittierenden Elementen abgestrahlten Lichtmenge von etwa 10% bis 15% resultieren. Zusätzlich könnte die
Lichtmenge um etwa 20% verringert werden, wenn berücksichtigt wird, daß die Schwankungen in der Spannung auf der
stationären Energieversorgungsseite im Bereich von etwa 5% liegen. Dies führt zu einer beachtenswerten Verminderung
des Signal/Rausch-Verhältnisses bzw. Störabstandes (SN-Verhältnis) bei den Licht-Meßsignalen, so daß folglich die
Genauigkeit der Messung negativ beeinträchtigt wird.
Obwohl Detektor-Systeme nach dem Stand der Technik für bestimmte Anwendungszwecke elektrische Ausgangssignale verwenden,
die die Längen- oder Positionsangaben anzeigen,
die aufgrund der fotoelektrischen Umwandlung der Relativbewegung
zwischen der Hauptskala und der Indexskala 12 erhalten werden, kann dies im Hinblick auf die Empfindlichkeit
in neuerdings entwickelten Detektions-Systemen mit höchster Präzision, zu schwierigen anderen Problemen
führen.
Darüber hinaus ist die Reduzierung des Energieverbrauches in immer stärkerem Maße gefordert, insbesondere in tragbaren
Systemen wie batteriebetriebenen Längenmeßgeräten und anderen Geräten. Systeme auf der Basis der fotoelektrischen
Umwandlung bewirken normalerweise einen erhöhten Energieverbrauch bei den lichtemittierenden Elementen,
was jedoch gerade verringert werden soll.
Bei einer Anordnung der Skalen, wie sie in Fig.1 gezeigt
ist, wird gefordert, daß der Zwischenraum bzw. Abstand zwischen den relativ zueinander bewegbaren benachbarten
Skalen vergrößert wird, um den Zusammenbau und die Herstellung und Bearbeitung der einzelnen Komponenten zu
erleichtern.
Aufgrund der vorausgehend aufgezeigten verschiedenen Faktoren neigen bekannte Detektor-Systeme dazu, die von
den lichtempfindlichen Elementen aufgenommene Lichtmenge
zu reduzieren. Für eine positive und ausreichende Phasendetektion,auch
bei sehr kleinen empfangenen Signalen, wurden verschiedene Ideen in die Detektorschaltung 20,
die mit den lichtempfindlichen Elementen verbunden ist, eingebracht und integriert.
Zu diesem Zweck wird normalerweise, wie dies in Fig.4
gezeigt ist, ein Lastwiderstand 46 mit relativ hohem Widerstandswert R mit dem Emitter eines lichtempfind-
Lj
liehen Elementes 16 verbunden. Im Beispiel kann dieses
lichtempfindliche bzw. empfangende Element ein Fototransistor
sein. Zwischen dem Emitter und dem Lastwiderstand 46 wird eine Spannung V„ abgegriffen. Diese
Spannung Vn stellt eine detektierte Spannung mit einem
Wert dar, der relativ einfach weiterverarbeitet werden kann.
Der Lastwiderstand 46 mit seinem großen Widerstandswert R. wirft jedoch insofern ein Problem auf, als seine Ansprechfrequenz
bzw. Betriebsfrequenz gravierend eingeschränkt ist, falls als lichtempfangendes Element 16 ein
Foto-Transistor verwendet wird. Bei einem Beispiel nach Fig.4 ist die Ansprechfrequenz f des Foto-Transistors
durch die folgende Gleichung bestimmt:
f = 1 / (27T . C- . R. ) ;
J L
wobei C die elektrische Kapazität des Foto-Transistors
ist. Wie aus der vorgenannten Formel hervorgeht, bewirkt eine Erhöhung des Lastwiderstandes R. eine Reduzierung und
Verringerung der Ansprechfrequenz f. In den Detektorsystemen
nach dem Stand der Technik ist die Reduktion beim Leistungsverbrauch nicht mit den Verbesserungen bzw.
Änderungen in der Ansprechfrequenz in Einklang zu bringen bzw. vereinbar. C ist die beim Fototransistor zwischen
Kollektor und Emitter vorhandene Kapazität. Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein verbessertes
fotoelektrisches Detektorgerät zur Erfassung von
Veränderungen vorzusehen, die eine verbesserte Frequenzcharakteristik,
insbesondere Ansprechempfindlichkeit aufweist, ohne einen erhöhten Leistungsverbrauch zu erfordern
und bei dem die von den lichtemittierenden Elementen abgegebene Lichtmenge kostant gehalten werden
kann, wobei trotz eventuell vorhandener Änderungen in der Spannungsversorgung oder Spannungsverlusten auf den
Leitungen die Detektorgeschwindigkeit erhöht werden kann.
Zur Lösung dieser Aufgabe weist das erfindungsgemäße Gerät
eine Lichtemittierungseinrichtung auf, die über einen Transistor und Widerstand zur Bildung einer lichtemittierenden
Schaltung mit der Energieversorgung verbunden ist. Die lichtemittierende Schaltung ist dabei mit einer Konstantspannungsschaltung
verbunden, die einen Nebenschlußregler aufweist, dessen Kathodeneingang mit der Basis des Transistors
verbunden ist und dessen Konstantsoannungsseite
mit dem Emitter des Transistors in Verbindung steht. Weiterhin ist eine Einrichtung zum Empfang des emittierten
Lichtes vorgesehen, die einen Fototransistor aufweist, der in Kaskade mit einem weiteren Transistor verbunden ist,
dessen Basis zum Bezugspotential liegt und dessen Kollektor über einen Lastwiderstand mit Bezugspotential verbunden
ist. Die Schaltung erzeugt dabei ein die relative Bewegung anzeigendes Signal, wobei die Frequenzcharakteristik
des Fototransistors von der Eingangsimpedanz des in Basisschaltung bzw. mit Basis gegen Bezugspotential liegenden
Transistors abhängen kann, um den der lichtemittierenden
Einheit zugeführten Strom konstant zu halten und den Frequenzgang bzw. die Ansprechfrequenz zu verbessern.
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Unter Bezugnahem auf den Stand der Technik wird die Erfindung nachstehend noch beispielhaft näher erläuterte
Es zeigen:
Figur 1 eine perspektivische Ansicht der wesentlichen Baugruppe einer Verschiebe- bzw. Gleitsektion
eines fotoelektrischen Detektorssystems nach dem Stand der Technik zur Erfassung einer Verschiebungsbewegung
;
Figur 2 ein Blockdiagramm einer zur Verwendung im System nach Fig.1 geeigneten Verarbeitungsschaltung;
Figur 3 ein Beispiel eines in stationäre und bewegliche Baugruppen unterteilten Detektorgerätes, wie es
in einer herkömmlichen NC-Werkzeugmaschine verwendbar ist;
Figur 4 eine Schaltungsdarstellung für ein Element zur Aufnahme von Licht nach dem Stand der Technik
und für einen Teil der Detektorschaltung;
Figur 5 eine schematische Darstellung teilweise in Blockform, teilweise als vereinfachte Schaltung eines
erfindungsgemäßen Detektorgerätes zur Erfassung einer Änderung, insbesondere einer Verschiebeänderung,
wie es in einer NC-Werkzeugmaschine verwendbar ist und
Figur 6 eine Schaltungsdarstellung des wesentlichen Teiles des fotoelektrischen Detektor-Gerätes gemäß der
Erfindung zur Erfassung einer Veränderung.
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In Fig. 5 ist eine NC-Werkzeugmaschine schematisiert
mit drei Wellen dargestellt, wobei die NC-Werkzeugmaschine mit getrennten Baugruppen sozusagen vom "Split"-Typ ist.
In einer derartigen NC-Werkzeugmaschine ist die Erfindung angewandt dargestellt. Im Beispiel nach Fig.5 sind Teile
und Baugruppen, die ähnlich oder gleich denen aus Fig. 3 sind, mit gleichen Bezugszeichen versehen und nachstehend
nicht weiter beschrieben.
Das erfindungsgemäße Detektor-Gerät weist lichtemittierende
Elemente 14a,14b,14c auf, die über eine Konstantstromschaltung
mit Energie versorgt werden. Die Konstantstromschaltung weist Transistoren 48a,48b und 48c sowie
Widerstände 50a,50b und 50c auf, die in Reihe zu den entsprechenden
lichtemittierenden Elementen 14a,14b und 14c liegen. Die lichtemittierende Schaltung erhält somit von
der stationären Seite her eine instabil variable Spannungs- und/oder Stromversorgung.
Erfindungsgemäß ist die lichtemittierende Schaltung mit
einer Konstantspannungsschaltung verbunden, die einen Nebenschlußregler 52 derart aufweist, daß die lichtemittierende
Schaltung einschließlich der vorausgehend erwähnten Transistoren 48 bzw. des einzelnen entsprechenden
Transistors 4ba bis 48c, bei konstanter Stromaufnahme stabilisiert werden kann. Im dargestellten Beispiel ist
der Nebenschlußregler 52 eine handelsüblich von T.I. (Texas Instruments) erhältliche Baugruppe mit der Bezeichnung
TL 431 C. Am Anschluß R des Nebenschlußreglers 52 (shunt regurator) wird dabei eine Konstantspannung erzeugt. Die
Kathode K des Nebenschlußreglers 52 ist mit dem positiven Anschluß der Spannungsversorgung direkt oder indirekt
verbunden. Die Kathode K liegt dabei zweckmäßigerweise über einem weiteren Widerstand 54 gegen das positive
Potential der Spannungsversorgungsquelle. Der Anodenanschluß A ist dementsprechend mit dem negativen Anschluß
der gleichen Spannungsversorgungsquelle verbunden.
Des weiteren ist erfindungsgemäß die Kathode K des Nebenschlußreglers
52 auch mit der Basis des entsprechenden Transistors 48a, 48b oder 48c verbunden, der wiederum mit dem
entsprechenden Emitter mit dem erwähnten Anschluß R verbunden ist. Die in Fig. 5 gezeiqten lichtempfindlichen
bzw. lichtaufnehmenden Elemente 16a,16b und 16c
sind Fototransistoren, z.B. Fototransistoren mit der Kennzeichnung PT 501 der Sharp Corporation. Der Kollektor
jedes der Fototransistoren 16a,b,c liegt an einer Klemme,
insbesondere der positiven Klemme, der Spannungsversorgung, während der Emitter der Fototransistoren mit einem entsprechenden
Lastwiderstand 46 über einen mit der Basis gegen Bezugspotential liegenden Transistor 56 verbunden ist,
wie es in Fig. 6 dargestellt ist. Mit anderen Worten, jeder der Fototransistoren 16 ist mit dem entsprechenden Lastwiderstand
46 nach Impedanzumwandlung durch den in Basisschaltung vorgesehenen Transistor 56 gekoppelt, wobei der
Transistor 56 mit dem entsprechenden Fototransistor 16 kaskadenverbunden ist. Im Beispiel ist daher der Emitter
des Fototransistors 16a mit dem Emitter des als Impedanzwandler zugeordneten Transistors 56a verbunden.
Gemäß den Figuren 5 und 6 ist daher der Emitter jedes Fototransistors
16 mit dem Emitter des entsprechenden Transistors 56, dessen Basis auf Bezugspotential bzw. Masse geführt ist,
verbunden.
Ebenfalls ist der Kollektor dieses Transistors 56 über den entsprechenden Lastwiderstand 46 auf Bezugspotential
gelegt. Zwischen dem Kollektor des mit Basis gegen Bezugspotential liegenden Transistors 56 und dem entsprechenden
Lastwiderstand 46 kann daher eine Detektorspannung abgegriffen werden.
Nachstehend wird die Betriebsweise des erfindungsgemäßen
Gerätes betrachtet.
Der Strom i, der dem lichtemittierenden Element 14c, das z.B. eine LED-Diode ist, unter Berücksichtigung der Konstantspannungswirkung
des Nebenschlußreglers 52 zugeführt wird, kann entsprechend der nachstehenden Formel berechnet werden:
i = VR/r;
in dieser Formel ist r der Wert des Widerstandes 50c und
Vn die Spannung am Anschluß R des Nebenschlußreglers 52
κ
als Konstantspannung.
Aus diesem Grund kann der Nebenschlußregler 52 eine Konstantspannung
V am Anschluß R trotz Schwankungen in der Länge der Leitungen oder der Spannungsversorgung erzeugen, wobei
dies durch die Verbindung der Konstantspannungs-Schaltung,
die den Nebenschlußregler 52 aufweist, mit der lichtemittierenden
Schaltung, die einen Konstantstrom zieht, realisierbar ist. Auf diese Weise kann der für die Lichtemission maßgebende
Strom i zu jedem Zeitpunkt konstant gehalten werden.
Sogar wenn sich die Transistorkenndaten der Transistoren aufgrund von Temperaturschwankungen oder anderen Einflüssen
in geringem Maße veränderen, kann sich an der Kathode K des
- UP -
Nebenschlußreglers 52 vorhandene Potential in Abhängigkeit
von den vorausgehend erwähnten Schwankungen derart ändern, daß die Spannung V_ am Anschluß R konstant gehalten wird.
Im dargestellten Ausführungsbeispiel ist der Anschluß K des Nebenschlußreglers 52, der den Kathodeneingang darstellt,
mit dem bzw„ den Basisanschlüssen des bzw. der entsprechenden
Transistoren 48 verbunden. Dementsprechend kann die Referenzspannung am Konstantspannungsanschluß R mit einer
einzelnen lichtemittierenden Schaltung gekoppelt werden. Diese einzelne lichtemittierende Schaltung ist das lichtemittierende
Element 14c, wobei die anderen lichtemittierenden Schaltungen den gewünschten Konstantstrom über die Basiseingänge
der Transistoren 48a und 48b, die an der Kathode K des Nebenschlußreglers anliegen, erhalten. Auf diese Weise
ist es möglich, alle lichtemittierenden Elemente 14 mit konstantem Strom zu versorgen.
Es liegt im Rahmen der Erfindung, daß ein Nebenschlußregler 52 für die lichtemittierende Schaltung jedes der lichtemittierenden
Elemente 14a,14b und 14c vorgesehen wird.
In der Praxis wird es bevorzugt, daß die Transistoren 48a, 48b und 48c im wesentlichen gleiche Kenndaten aufweisen
und daß die Widerstände 50a,50b und 50c anfangs auf den gleichen Wert einjustiert werden.
Da die den Nebenschlußregler aufweisende Konstantspannungsschaltung
zur Stromsteuerung für die lichtemittierenden Elemente verwendet wird, ist es erfindungsgemäß möglich,
sogar bei Spannungsschwankungen aufgrund von Schwankungen in
der Leitungslänge oder anderer Faktoren, daß die Lichtmenge jederzeit unverändert, also konstant bleibt, so
daß eine hohe Meßgenauigkeit erreichbar ist.
Obwohl jeder der in Fig.5 dargestellten Widerstände 46
am Ausgang im Vergleich zum Stand der Technik einen relativ hohen Widerstandswert R hat, kann die Eingangs-
impedanz hib des in Basischaltung betriebenen Transistors ausreichend und zufriedenstellend kleiner sein als der
Widerstandswert R , wobei dies aus der Impedanzwandlung
Lj
aufgrund der Transistorschaltung resultiert. Dementsprechend ergibt sich die Frequenzcharakteristik bzw.
Kennungsfrequenz f jedes der lichtempfindlichen Fototransistoren
16 als:
f = 1/(27TC. . hib) .
Dies bedeutet, daß die Kennungs- bzw. Ansprechfrequenz, da
die Eingangsimpedanz hib hinreichend kleiner als der Widerstandswert R ist, beachtlich verbessert werden kann.
Für einen Vergleich des Systems nach dem Stand der Technik gemäß Fig.4 mit der Erfindung, wie sie in der Fig.6 dargestellt
ist, wurden folgende Werte ausgewählt: Als Spannungsversorgung wurden 5 V an der Klemme V gewählt.
Des weiteren wurden Fototransistoren vom Typ PT501 als lichtempfindliche Elemente und 5 kOhm Lastwiderstände R
genommen. Bei diesen Werten wies das System nach dem Stand der Technik eine Kennungsfrequenz von 25 kHz auf.
Im Gegensatz dazu erreichte das erfindungsgemäße Gerät bzw. das entsprechende System eine Kennungs- oder Grenzfrequenz
von 100 kHz, wobei als kaskadenverbundene Transistoren
3U5694
Transistoren des Type 2SA1048 von Toshiba corporation verwendet
wurden und eine Basisbezugsspannung von 2,5 Volt angelegt wurde.
Diese verbesserte Kennungsfrequenz ermöglicht es, die
Relativbewegung der benachbarten Teile des Gerätes mit höherer Geschwindigkeit ausführen zu können. Wenn bei
einem System nach dem Stand der Technik z.B. jeder Schlitz in der Hauptskala und der Index- Skala eine Länge für den
Lichtdurchlaß von 10 um (microns) und eine Länge zur Lichtblockierung
von 10 um aufweist, ist die Geschwindigkeit für die Relativbewegung in einem System nach dem Stand der
Technik auf 500 mm/s begrenzt. Demgegenüber kann bei einem erfindungsgemäßen Gerät die Geschwindigkeit der Relativbewegung
bis zu 2000 mm/s erhöht werden. Derartige Anforderungen und Verbesserungen werden von neueren Hochgeschwindigkeits-NC-Werkzeugmaschinen
mit automatischen Bearbeitungstischen oder Zuführeinrichtungen erreicht.
Wenn die Konstantspannungsschaltung einschließlich des Nebenschlußreglers im Gehäuse 32 in der verschiebbaren
Gleiteinheit untergebracht ist, können die entsprechenden lichtemittierenden Schaltungen in nächster Nähe mit einem
Konstantstrom versorgt werden. Dies wird besonders bei Detektor-Geräten und Systemen bevorzugt, in denen eine Aufteilung
in stationäre und bewegliche Sektionen getroffen ist
In ähnlicher Weise kann die Erfindung selbstverständlich auch auf jegliches System mit einer Hologramm-Skala ohne
Index-Skala angewandt werden.
Aus der vorausgehenden Beschreibung wird deutlich, daß die Erfindung die Möglichkeit schafft,jegliche Schwankungen
in der Stromversorgung für die lichtemittierenden Elemente aufgrund verschiedener Einflußfaktoren, wie einer Veränderung
der Spannungsversorgung oder dergleichen, zu eliminieren. Parallel dazu wird die Frequenzempfindlichkeit
bzw. Kennungsfrequenz ohne Erhöhung der vom Gerät aufgenommenen
Leistung verbessert, so daß dadurch die Meßgeschwindigkeit als Ergebnis der Tatsache erhöht werden kann,
daß die lichtemittierenden Elemente mit der Konstantstromschaltung und den kaskadenverbundenen,in Basisschaltung
vorgesehenen Transistoren verbunden sind.
Bei einer Benutzung der optischen Gittereinrichtung mit einer Vorschub- bzw. Zuführgeschwindigkeit unterhalb
eines vorgegebenen Niveaus, kann die Dividierschaltung im Vergleich mit den Geräten nach dem Stand der Technik dadurch
vereinfacht werden, daß die Schlitzbreite der optischen Gittereinrichtung verkleinert wird.
- Leerseite -
Claims (3)
- Weber, Hellfeld & Tönnies d-sooo München ?iPATENTANWÄLTE Hofbrunnstrasse3U5694
Telefon: (0 89) 791 791 50 50 Telex: 5-21 're 28 77 Telefax; (0 89) 52 56 M 1359 Hm/ Ansprüche. Fotoelektrische Detektor-Vorrichtung zur Erfassung einer Veränderung, insbesondere einer Verschiebebewegung, mit einer optischen Gittereinrichtung, einer Einrichtung zur Emittierung von Licht zur Bestrahlung der optischen Gittereinrichtung mit einem Meßlicht, einer Empfängereinrichtung für die Aufnahme des von der optischen Gittereinrichtung übertragenen oder reflektierten Lichtes und einer Detektorschaltung zur Erzeugung eines Ausgangssignales, das die Relativveränderung zwischen relativ zueinander bewegten Teilen entsprechend einem Ausgangssignal von der Empfängereinrichtung für das Licht anzeigt,
dadurch gekennzeichnet ,daß die lichtemittierende Einrichtung (14a,14b,14c) mit einer Spannungsquelle über einen Transistor (48a,48br48c) und einen Widerstand (50a,50b,50c) zur Bildung einer lichtemittierenden Schaltung verbunden ist, daß die lichtemittierende Schaltung mit einer Kostantspannungsschaltung verbunden ist, die einen Nebenschlußregler (52) aufweist, dessen Kathoden-Eingangsanschluß (K) mit der Basis des Transistors (48c) verbunden ist und dessen Konstantspannungsanschluß (Vn) mit dem Emitter des gleichen Transistors (48c) verbunden ist, daß die Empfängereinrichtung einen Fototransistor (16a,16b,16c) in Kaskaden- · verbindung mit einem in Basisschaltung vorgesehenenEuropean Patent A':tompv ReciUsarwai*.C'pL-Phvs. D:pJ.-f5.v3. üt. :s-.- ..:2t. Dipl.-Ing. Uipi.-Cek.*? ~ 'VKBES. Mü"!"1·?· A.ν->'.ΞίΛ?Εΐ,Ο,ΜντΛβΓ. J4^GTransistor (56a,56b,56c) aufweist, wobei der Kollektor des in Basisschaltung vorgesehenen Transistors(56a, 56b, 56c) über einen Lastwiderstand (46a,46b,46c) gegen Bezugspotential liegt, so daß das am Kollektoranschluß des in Basisschaltung betriebenen Transistors (56a,56b,56c) erhältliche Ausgangssignal die Relativveränderung anzeigt, und wobei die Frequenzcharakteristik des Fototransistors (16a,16b,16c) von der Eingangsimpedanz des in Basisschaltung betriebenen Transistors (56a,56b,56c) abhängt, um eine konstante Stromversorgung für die lichtemittierende Einrichtung aufrechtzuerhalten und die Erfassungsfrequenz der Vorrichtung zu verbessern. - 2. Vorrichtung nach Anspruch 1,dadurch gekennzeichnet ,daß die optische Gittereinrichtung (10,10',1Oa,12,12a,12b, 13, 13a,1 Ob), die lichtemittierende Schaltung (14a,14b,14c) und die Empfängereinrichtung (16a,16b,16c) für das Licht in einem ersten Gehäuse (32) auf einer bewegbaren Gerätegruppe angebracht sind und daß die Detektorschaltung und die Spannungsversorgung für die lichtemittierende Einrichtung innerhalb eines zweiten Gehäuses (34) auf einer stationären Baugruppe vorgesehen sind und daß das erste und das zweite Gehäuse miteinander so über Leitungseinrichtungen verbunden sind, daß das erste Gehäuse (32) bewegbar ist und die Konstantspannungsschaltung innerhalb des ersten Gehäuses vorgesehen ist.
- 3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet ,daß das bewegbare Gehäuse eine Vielzahl von lichtemittierenden Schaltungen (14a,14b,1Ac) aufweist und daß der Kathoden-eingang (K) des Nebenschlußreglers (52) in einer einzelnen Konstantspannungsschaltung mit der Basis eines Transistors (48a,48b,48c) in jeder der lichtemittierenden Schaltungen verbunden ist, und daß der Anschluß (V ) des Nebenschlußreglers (52) für konstante Spannung mit dem Emitter einer der lichtemittierenden Schaltungen verbunden ist.
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DE (1) | DE3445694A1 (de) |
GB (1) | GB2151779B (de) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3536653C1 (de) * | 1985-10-15 | 1986-06-26 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Elektrische Längen- oder Winkelmeßeinrichtung |
AT389388B (de) * | 1987-12-18 | 1989-11-27 | Rsf Elektronik Gmbh | Inkrementales messsystem |
EP0395374A1 (de) * | 1989-04-28 | 1990-10-31 | Renishaw plc | Optische metrologische Skala |
US5007177A (en) * | 1989-02-03 | 1991-04-16 | Rsf-Elektronik Gesellschaft M.B.H. | Incremental measuring system |
US5010655A (en) * | 1989-02-09 | 1991-04-30 | Sentop Rieder Und Schwaiger Gesellschaft M.B.H. | Incremental measuring system |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3931939A1 (de) * | 1989-09-28 | 1991-04-04 | Mitsubishi Electric Corp | Winkelmessvorrichtung |
US6229616B1 (en) | 1999-04-01 | 2001-05-08 | Trw Inc. | Heterodyne wavefront sensor |
US6279248B1 (en) | 1999-09-22 | 2001-08-28 | Central Purchasing, Inc. | Digital measuring system having a multi-row encoder disk |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2414366B2 (de) * | 1974-03-26 | 1976-02-26 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Kompensationsschaltung |
DE2249823B2 (de) * | 1971-10-13 | 1977-06-23 | Societe D'optique, Precision, Electronique & Mecanique - Sopelem, Paris | Verfahren zur bildung des ist-signals der von einem energiesender ueber eine messkala auf mehrere relativ dazu bewegliche detektoren fallenden energie in einer vorrichtung zum messen von lageaenderungen |
US4078173A (en) * | 1976-06-24 | 1978-03-07 | Pertec Computer Corporation | Light amplitude control system for position and motion transducers |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4310755A (en) * | 1979-12-26 | 1982-01-12 | Pitney Bowes Inc. | Electronic postage meter radiant energy device circuit |
-
1984
- 1984-12-13 US US06/681,225 patent/US4636630A/en not_active Expired - Lifetime
- 1984-12-14 DE DE19843445694 patent/DE3445694A1/de not_active Ceased
- 1984-12-14 GB GB08431666A patent/GB2151779B/en not_active Expired
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2249823B2 (de) * | 1971-10-13 | 1977-06-23 | Societe D'optique, Precision, Electronique & Mecanique - Sopelem, Paris | Verfahren zur bildung des ist-signals der von einem energiesender ueber eine messkala auf mehrere relativ dazu bewegliche detektoren fallenden energie in einer vorrichtung zum messen von lageaenderungen |
DE2414366B2 (de) * | 1974-03-26 | 1976-02-26 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Kompensationsschaltung |
US4078173A (en) * | 1976-06-24 | 1978-03-07 | Pertec Computer Corporation | Light amplitude control system for position and motion transducers |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3536653C1 (de) * | 1985-10-15 | 1986-06-26 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Elektrische Längen- oder Winkelmeßeinrichtung |
AT389388B (de) * | 1987-12-18 | 1989-11-27 | Rsf Elektronik Gmbh | Inkrementales messsystem |
US5007177A (en) * | 1989-02-03 | 1991-04-16 | Rsf-Elektronik Gesellschaft M.B.H. | Incremental measuring system |
US5010655A (en) * | 1989-02-09 | 1991-04-30 | Sentop Rieder Und Schwaiger Gesellschaft M.B.H. | Incremental measuring system |
EP0395374A1 (de) * | 1989-04-28 | 1990-10-31 | Renishaw plc | Optische metrologische Skala |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2151779A (en) | 1985-07-24 |
GB8431666D0 (en) | 1985-01-30 |
US4636630A (en) | 1987-01-13 |
GB2151779B (en) | 1986-12-17 |
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