DE3436117C2 - - Google Patents

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zum Prüfen von Münzen verschiedener Werte der im Oberbegriff des Patent­ anspruchs 1 genannten Gattung.The invention relates to a device for testing of coins of different values in the preamble of the patent demanding 1 genus.

Eine derartige Einrichtung ist bereits bekannt (GB-OS 20 96 812). Dabei wird die Einrichtung in bestimmten zeitlichen Abständen, das heißt zyklisch, einem Eichprogramm unterworfen, wonach der Tongenerator einen zwei Spulen aufweisenden Testdetektor mit Spannungen unterschiedlicher Frequenzen beaufschlagt und in einer Auswerteeinrichtung die übertragenen Spannungen mit in einem Speicher vorhandenen Eichwerten verglichen werden. Wei­ chen die durch dieses Eichprogramm erzielten Werte von den gespeicherten Eichwerten ab, dann werden die zuletzt festge­ stellten Werte als neue Eichwerte gespeichert. Im darauffolgen­ den eigentlichen Münzprüfprogramm, durch das nicht nur Abmessungen, sondern auch Materialeigenschaften von Münzen prüfbar sind, werden die Prüfwerte mit im Speicher vorhandenen Bezugs- und Eichwerten verglichen. Wird eine Münze als innerhalb eines durch die Bezugswerte vorgegebenen Toleranzbereiches fallend festgestellt, so werden sie als "gut" gewertet und wird ein Kassiersignal erzeugt; fällt eine Münze dagegen nicht in den Toleranzbereich hinein, sondern bleibt sie außerhalb derselben, wird ein Sperrsignal erzeugt. Es hat sich jedoch gezeigt, daß diese Einrichtung mitunter ungenaue Münzprüfungen vornimmt, wenn die zeitlichen Abstände zwischen den einzelnen "Eichpro­ grammen" zu groß sind und sich dazwischen Eigenschaften der am Prüfprogramm vorhandenen Einzelteile durch beispielsweise Temperaturveränderungen ändern. Werden die zeitlichen Abstände des zyklischen Eichprogramms dagegen zu eng gewählt, ist ein unerwünscht hoher Energiebedarf für die Durchführung des jewei­ ligen Eichprogramms erforderlich.Such a device is already known (GB-OS 20 96 812). The facility is at certain time intervals, that is, cyclically, subjected to a calibration program, after which the tone generator has a two-coil test detector with voltages of different frequencies and in an evaluation device the transmitted voltages with in existing calibration values can be compared. Wei the values achieved by this calibration program from the stored calibration values, then the most recently defined set values are saved as new calibration values. Im following the actual coin validation program, through which not only dimensions, but also material properties of coins can be checked, the test values with reference and Calibration values compared. If a coin is considered within a falling through the reference values predetermined tolerance range determined, they are rated as "good" and becomes a Cashier signal generated; a coin does not fall into the Tolerance range, but stays outside of it, a lock signal is generated. However, it has been shown that this facility sometimes makes inaccurate coin checks,  if the time intervals between the individual "Eichpro gram "are too large and the properties of the existing parts on the test program, for example Change temperature changes. The time intervals of the cyclical calibration program, on the other hand, is too narrow undesirably high energy requirements for carrying out the jewei calibration program required.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Einrichtung dieser Gattung dahingehend zu verbessern, daß trotz geringen Aufwandes eine noch genauere, das heißt noch störgroßenunabhängigere Prüfung der Münzen möglich ist.The invention has for its object the establishment of this To improve the genus so that despite little effort an even more precise test, that is, a test that is even more independent of the interference size of coins is possible.

Die Erfindung ist im Patentanspruch 1 beansprucht und in Unter­ ansprüchen sowie der folgenden Beschreibung sind weitere Aus­ bildungen der Erfindung beansprucht und beschrieben.The invention is claimed in claim 1 and in sub claims and the following description are further Aus Formations of the invention claimed and described.

Bei der Erfindung dient ein Testdetektor zum Prüfen des Materials der Münze beispielsweise daraufhin, welche Legierung für die zu prüfende Münze verwendet ist; ein weiterer Testdetketor, der insbesondere anders aufgebaut ist, dient dagegen zum Prüfen von Abmessungen der Münze, beispielsweise des Münzdurchmessers.In the invention, a test detector is used to check the material the coin, for example, which alloy for the coin to be checked is used; another test detector, which, in particular, is constructed differently, is used for testing dimensions of the coin, for example the diameter of the coin.

Eine Prüfeinrichtung unter Verwendung zweier unterschiedlicher Testdetektoren ist an sich bereits bekannt (DE-OS 27 15 403); dabei ist jedoch keine Eichung vorgesehen, so daß trotz der Verwendung unterschiedlicher Testdetektoren und daher an die zu prüfenden Werte besser angepaßter Maßnahmen nicht immer genaue Prüfungen vorgenommen werden können, sofern nicht die Umgebungseigenschaften um die Einrichtung und innerhalb der Einrichtung jeweils konstant gehalten werden, was zusätzlichen Aufwand erfordert.One test facility using two different ones Test detectors are already known per se (DE-OS 27 15 403); however, no calibration is provided, so that despite the Use of different test detectors and therefore to the values of better adapted measures are not always to be checked exact tests can be carried out, unless the Environmental characteristics around the facility and within the Furnishings are kept constant, which is additional Effort required.

Dieser Nachteil tritt auch bei einer anderen bereits bekannten Einrichtung (DE-OS 33 45 252) auf, bei der das auf einer Mittel­ wertbildung basierende Prüfergebnis vorhergehend geprüfter Münzen als Bezugswert für die Prüfung nachfolgender Münzen gewählt wird. Ändern sich die Umgebungsverhältnisse zwischen dem Prüfen der vorhergehenden und der nachfolgenden Münzen, dann ist auch hier das Prüfergebnis oft ungenau.This disadvantage also occurs with another known one Facility (DE-OS 33 45 252), in which on a medium value-based test result previously checked  Coins as a reference for testing subsequent coins is chosen. The environmental conditions change between checking the previous and subsequent coins, then the test result is often inaccurate.

Bei der Erfindung werden diese Nachteile dadurch vermieden, daß kurz vor dem jeweiligen Prüfen einer Münze, das heißt bei jeder Inbetriebsetzung vor dem Eintreffen einer eingeworfenen Münze bei dem ersten erreichten Testdetektor, ein Eichprogramm durchgeführt wird, dessen Ergebnis auf einem "Rückkopplungs­ weg" zur Steuerung des Tongenerators für das eigentliche Prüf­ programm angewendet wird. Hierdurch ist eine selbsttätige Korrek­ tur jeweils unmittelbar vor dem Münzprüfen möglich, die insbe­ sondere umweltbedingte Änderungen der Aggregatcharakteristika ausgleicht. Bei diesem azyklischen Eichen wird auch vermieden, daß unnötigerweise ein Eichprogramm initiiert, das heißt, daß nicht unnötigerweise Energie verbraucht wird.In the invention, these disadvantages are avoided by that shortly before checking a coin, that is, at every commissioning before the arrival of a thrown in Coin at the first test detector reached, a calibration program is performed, the result of which is based on a "feedback way "to control the tone generator for the actual test program is applied. This is an automatic correction possible immediately before coin testing, the esp special environmental changes in the aggregate characteristics compensates. This acyclic oak also prevents that unnecessarily initiates a calibration program, that is, that energy is not unnecessarily consumed.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird anhand der Zeichnung näher erläutert. Dabei zeigtAn embodiment of the invention is based on the drawing explained in more detail. It shows

Fig. 1 eine vereinfachte perspektivische Ansicht der Prüfeinrichtung für die Legierung und den Durch­ messer einer Münze und Fig. 1 is a simplified perspective view of the test device for the alloy and the diameter of a coin and

Fig. 2 ein Blockschema der Prüfeinrichtung. Fig. 2 is a block diagram of the test facility.

Gemäß Fig. 1 weist die Prüfeinrichtung 1 eine Abrollbahn 2 für eine Münze auf, zu der in Querrichtung zwei Stab­ kerne 4 und 5 eines ersten Testdetektors 6 zur Prüfung der Legierung angeordnet sind. Anschließend an den ersten Testdetektor 6 ist ein Stopper 7 auf der Abrollbahn 2 angebracht, der den Durchgang der Münze 3 durch den ersten Testdetektor 6 und anschließend durch einen auf den Durchmesser der eingegebenen Münze 3 empfindlichen zweiten Testdetektor 8 steuert. Dieser zweite Testdetektor 8 besteht aus zwei beidseitig der Abrollbahn 2 und spiegelbildlich zu dieser angeordne­ ten, im Querschnitt rechteckigen und zur Abrollbahn 2 hochkant stehen­ den Magnetkernen 9 und 10. Auf den Stabkernen 4 und 5 ist je eine Wicklung 11 und 12 und auf den Magnetkernen 9 und 10 je eine Wicklung 13 und 14 angebracht. Die Wicklungen 11, 12, 13 und 14 sind einseitig mit der Masse verbunden.Referring to FIG. 1 1, the testing device to a rolling path for a coin 2 to the transversely two bar-cores 4 and 5, a first test detector 6 for examining the alloy are arranged. Subsequent to the first test detector 6 , a stopper 7 is attached to the rolling path 2 , which controls the passage of the coin 3 through the first test detector 6 and then through a second test detector 8 that is sensitive to the diameter of the coin 3 entered. This second test detector 8 consists of two on both sides of the rolling path 2 and a mirror image of this angeordne th, rectangular in cross section and upright to the rolling path 2 are the magnetic cores 9 and 10th A winding 11 and 12 is attached to the rod cores 4 and 5 and a winding 13 and 14 is attached to the magnetic cores 9 and 10 . The windings 11, 12, 13 and 14 are connected on one side to the ground.

Auf dem Blockschema der Fig. 2 sind ein Tongenerator 15, ein an die Wicklungen 11 und 13 anlegbarer Umschalter 16, ein weiterer, die Wicklungen 12 und 14 schaltender Umschalter 17, ein Phasenkom­ parator 18, ein Spitzenspannungsmesser 19, ein Umschalter 20 in Verbindung mit den Ausgängen des Phasenkomparators 18 und des Spitzenspannungsmesser 19, ein in Form eines Spannungsmesser 21 dargestellter Spannungskomparator und eine Auswerteeinrich­ tung 22 dargestellt.In the block diagram of FIG. 2, a tone generator 15, a which can be applied to the windings 11 and 13, switch 16, another, the windings 12 and 14, switching switch 17, a Phasenkom are parator 18, a peak voltage meter 19, a changeover switch 20 in conjunction with the outputs of the phase comparator 18 and the peak voltmeter 19 , a voltage comparator shown in the form of a voltmeter 21 and a Auswerteinrich device 22 shown.

Der Schaltarm des Umschalters 16 ist mit einem Ausgang des Tongene­ rators 15 verbunden. Eine weitere Verbindung vom Tongenerator 15 be­ steht mit einem ersten Eingang des Phasenkomparators 18, von dem ein zweiter Eingang an den Schaltarm des Umschalters 17 angeschlossen ist, welcher zudem mit einem Eingang des Spitzenspannungsmessers 19 verbunden ist. Der Schaltarm des Schalters 20 ist an den Spannungs­ messer 21 angelegt.The switching arm of the switch 16 is connected to an output of the Tongene generator 15 . Another connection from the tone generator 15 be with a first input of the phase comparator 18 , of which a second input is connected to the switching arm of the switch 17 , which is also connected to an input of the peak voltmeter 19 . The switching arm of the switch 20 is applied to the voltage meter 21 .

Der Tongenerator 15 enthält einen Frequenz-Synthesizer mit einem nichtdargestellten Quarzoszillator für eine Wechselspannung hoher Fre­ quenz und mit einem ebenfalls nicht gezeichneten Frequenzteiler mit mehreren Abgriffen. Der Phasenkomparator 18 hat zwei Eingänge, von denen der erste mit dem Ausgang des Tongenerators 15 und der zweite mit dem Schaltarm des Umschalters 16 verbunden ist. Am Ausgang des Phasenkomparators 18 tritt eine der maximalen Phasendifferenz Δϕ entsprechende Spannung U _oC auf.The tone generator 15 contains a frequency synthesizer with a non-illustrated crystal oscillator for an AC voltage high frequency and with a frequency divider, also not shown, with several taps. The phase comparator 18 has two inputs, the first of which is connected to the output of the tone generator 15 and the second to the switching arm of the switch 16 . At the output of the phase comparator 18, a phase difference Δφ corresponding to the maximum voltage U _oC occurs.

Der Spitzenspannungsmesser 19 enthält im Ausgang einen Tiefpaß, dessen Zeitkonstante durch eine Steuerschaltung 24 verändert werden kann. Am Ausgang des Spitzenspannungsmesser 19 steht eine eben­ falls mit U _oC bezeichnete Spannung an. Im Eingang zum Spannungsmesser 21 ist ein nicht gezeichneter Tiefpaß angeordnet.The peak voltmeter 19 contains a low-pass filter in the output, the time constant of which can be changed by a control circuit 24 . At the output of the peak _voltmeter 19 there is also a voltage designated as U _oC . A low-pass filter, not shown, is arranged in the entrance to the voltmeter 21 .

Die Auswerteeinrichtung 22 enthält unter anderem drei Steuerschaltun­ gen 23, 24 und 25 und einen Speicher 26. Die erste Steuerschaltung 23 ist mit dem Tongenerator 15 verbunden. Die zweite Steuerschaltung 24 steuert nebst der Zeitkonstanten des Spitzenspannungsmesser 19 die beiden Umschalter 16 und 17. Der Umschalter 20 wird von der Steuerschaltung 25 gesteuert. Der Spannungsmesser 21 ist mit dem Speicher 26 in der Auswerteeinrichtung 22 verbunden. Die Auswerte­ einrichtung 22 besteht vorzugsweise aus einem Mikro-Prozessor.The evaluation device 22 contains, inter alia, three control circuits 23, 24 and 25 and a memory 26 . The first control circuit 23 is connected to the tone generator 15 . In addition to the time constant of the peak voltmeter 19, the second control circuit 24 controls the two changeover switches 16 and 17 . The switch 20 is controlled by the control circuit 25 . The voltmeter 21 is connected to the memory 26 in the evaluation device 22 . The evaluation device 22 preferably consists of a microprocessor.

Die Prüfeinrichtung 1 wirkt auf folgende Weise:The test device 1 acts in the following way:

Die Auswerteeinrichtung 22 und der Tongenerator 15 sind mit einem Schalter zur Inbetriebsetzung, z. B. mit einem Gabelschalter eines Telefonapparats verbunden. Bei der Inbetriebsetzung wird durch eine Umschaltung der Ablaufsteuerung in der Auswerteeinrichtung 22 eine Eichung der Prüfeinrichtung 1 vor der eigentlichen Münzprüfung in Gang gesetzt. Dies geschieht in drei Phasen:The evaluation device 22 and the tone generator 15 are equipped with a switch for commissioning, for. B. connected to a hook switch of a telephone set. During commissioning, a changeover of the sequence control in the evaluation device 22 starts a calibration of the test device 1 before the actual coin check. This happens in three phases:

In der ersten Phase steuert die Steuer­ schaltung 23 in der Auswerteeinrichtung 22 den Tongenerator 15 so, daß er nacheinander zwei Wechselspannungen U _p mit verschiedener Frequenz, z. B. 6,25 kHz und 12,5 kHz abgibt. Dabei wird im Frequenz­ teiler des Tongenerators 15 der entsprechende Abgriff mit dem Ausgang des Tongenerators 15 verbunden. Auf die erste Frequenz von 6,25 kHz spricht eine Legierung der Münze 3 mit Kupfer oder Nickel und auf die zweite Frequenz von 12,5 kHz Eisen als Legierungsbestandteil an. Die Steuerschaltung 24 in der Auswerteeinrichtung 22 stellt mittels des Schalters 16 eine Verbindung des Tongenerators 15 mit der Wicklung 11 des Stabkerns 4 im ersten Testdetektor 6 her, ferner mittels des Schalters 17 eine Verbindung der Wicklung 12 des Stabkerns 5 des ersten Testdetektors 6 mit dem Spitzenspannungsmesser 19 und mittels des Schalters 20 in Verbindung zwischen dem Spitzen­ spannungsmesser 19 und dem Spannungsmesser 21 her. Die vom Spitzenspannungsmesser 19 gemessene Spannung U _oC wird im Spannungs­ messer 21 gemessen. Die Amplitude der Wechselspannung des Tongene­ rators 15 wird nun so lange verändert, bis im Spannungsmesser 21 eine vorbestimmte Spannung (z. B. 2,5 V) erreicht wird. Der Einstell­ wert der Wechselspannung des Tongenerators 15 wird nun entsprechend den gewählten Frequenzen im Speicher 26 der Auswerteeinrichtung 22 abgespeichert.In the first phase, the control circuit 23 controls the tone generator 15 in the evaluation device 22 so that it successively has two alternating voltages U _p with different frequencies, for. B. 6.25 kHz and 12.5 kHz. Here, the respective tap is connected to the output of the tone generator 15 in the frequency divider of the tone generator 15th An alloy of coin 3 with copper or nickel responds to the first frequency of 6.25 kHz and iron as an alloy component to the second frequency of 12.5 kHz. The control circuit 24 in the evaluation device 22 uses the switch 16 to connect the tone generator 15 to the winding 11 of the rod core 4 in the first test detector 6 , and furthermore by means of the switch 17 to connect the winding 12 of the rod core 5 of the first test detector 6 to the peak voltage meter 19 and by means of the switch 20 in connection between the tip voltmeter 19 and the voltmeter 21 ago. The voltage U _oC measured by the peak _voltmeter 19 is measured in the voltmeter 21 . The amplitude of the AC voltage of the tone generator 15 is now changed until a predetermined voltage (z. B. 2.5 V) is reached in the voltmeter 21 . The setting value of the AC voltage of the tone generator 15 is now stored in accordance with the selected frequencies in the memory 26 of the evaluation device 22 .

In der zweiten Phase wird der Tongenerator 15 zur Ausgabe einer Spannung U _p mit einer Frequenz von 12,5 kHz veranlaßt. Die Schalter 16 und 17 verbleiben in dieser Phase in der gleichen Stellung wie in der ersten Phase. Der Schalter 20 verbindet jedoch den Phasen­ komparator 18 mit dem Spannungsmesser 21. Die Phasenverschiebung zwischen der Spannung U _p am Ausgang des Tongenerators 15 und einer Spannung U _s an der Wicklung 12 wird im Phasenkomparator 18 in eine entsprechende Ausgangsspannung U _oC umgewandelt. Diese erzeugt im Spannungsmesser 21 eine Ausgangsspannung U _m , welche als Eichwert im Speicher 26 der Auswerteeinrichtung 22 gespeichert wird.In the second phase, the tone generator 15 is caused to output a voltage U _p with a frequency of 12.5 kHz. Switches 16 and 17 remain in the same position in this phase as in the first phase. However, the switch 20 connects the phase comparator 18 to the voltmeter 21 . The phase shift between the voltage U _p at the output of the tone generator 15 and a voltage U _s at the winding 12 is converted in the phase _comparator 18 into a corresponding output voltage U _oC . This generates an output voltage U _m in the voltmeter 21 , which is stored as a calibration value in the memory 26 of the evaluation device 22 .

In der dritten Phase wird die Spannung U _p des Tongenerators 15 mit­ tels des Schalters 16 an die Wicklung 13 des Magnetkerns 9 des zwei­ ten Testdetektors 8 gelegt. Durch den Schalter 17 wird die Wicklung 14 des Magnetkerns 10 des zweiten Testdetektors 8 mit dem Spitzen­ spannungsmesser 19 und dieser mittels des Schalters 20 mit dem Spannungsmesser 21 verbunden. Der Einstellwert der Amplitude der Wechselspannung des Tongenerators 15 wird, wie in der ersten Phase beschrieben, abgeleitet und im Speicher 26 der Auswerteeinrichtung 22 gespeichert.In the third phase, the voltage U _{p of} the tone generator 15 is applied to the winding 13 of the magnetic core 9 of the second test detector 8 by means of the switch 16 . By the switch 17 , the winding 14 of the magnetic core 10 of the second test detector 8 with the peak voltmeter 19 and this is connected to the voltmeter 21 by means of the switch 20 . The set value of the amplitude of the AC voltage of the tone generator 15 is derived, as described in the first phase, and stored in the memory 26 of the evaluation device 22 .

Die drei Phasen der Eichung erfolgen nach der Inbetriebnahme, aber vor dem Eintreffen einer eingeworfenen Münze 3.The three phases of the verification take place after commissioning, but before the arrival of a coin 3 .

Die eingeworfene Münze 3 wird zum Prüfen auf der Abrollbahn 2 zwischen den Stabkernen 4 und 5 durch den Stopper 7 aufgehalten. Die Stabkerne 4 und 5 sind so bemessen, daß deren Querschnitt auch von den Stirnseiten der kleinsten dort stillstehenden Münze 3 voll überdeckt wird. Die gesamte Prüfung der eingeworfenen Münzen 3 geschieht wie bei der Eichung in drei Phasen. Der Tongenerator 15 wird für jede Messung mit dem in der Eichphase gefunden entsprechenden Amplitudenwert programmiert. Die einzelnen ermittelten Spannungen U _m am Ausgang des Spannungsmessers 21 werden im Speicher 26 der Auswerteeinrichtung 22 gespeichert, bis die gesamte Prüfung der Münzen 3 abgeschlossen ist.The inserted coin 3 is stopped by the stopper 7 for checking on the rolling path 2 between the rod cores 4 and 5 . The rod cores 4 and 5 are dimensioned such that their cross-section is also completely covered by the end faces of the smallest coin 3 standing there. The entire check of the inserted coins 3 takes place in three phases, as in the verification. The tone generator 15 is programmed for each measurement with the corresponding amplitude value found in the calibration phase. The individual voltages U _{m determined} at the output of the voltmeter 21 are stored in the memory 26 of the evaluation device 22 until the entire test of the coins 3 has been completed.

Nur die magnetischen Eigenschaften der Legierung der Münze 3 werden in der ersten Phase mittels der Wicklungen 11 und 12 der Stabkerne 4 und 5 des Testdetektors 6 bei stillstehender Münze 3 geprüft. Da die eingeworfene Münze 3 beim Abstoppen durch den Stopper 7 prellt, werden die Messungen der ersten Phase so lange wiederholt, bis drei aufeinanderfolgende Messungen zum gleichen Ergebnis führen. Erst dann läuft das Meßprogramm weiter.Only the magnetic properties of the alloy of the coin 3 are checked in the first phase by means of the windings 11 and 12 of the rod cores 4 and 5 of the test detector 6 with the coin 3 at a standstill. Since the inserted coin 3 bounces through the stopper 7 when stopped, the measurements of the first phase are repeated until three successive measurements lead to the same result. Only then will the measuring program continue.

In dieser ersten Phase der Münzprüfung wird wie bei der Eichung eine Wechselspannung nacheinander mit den Frequenzen von 6,25 kHz und 12,5 kHz an die Wicklung 11 des Stabkerns 4 des Testdetektors 6 angelegt. In der mit dieser nach Art eines Transformators gekoppelten Wicklung 12 des Stabkerns 5 werden durch die Legierung der Münze 3 abgeschwäch­ te Spannungen U _s induziert, die wie in der ersten Phase gemessen und gespeichert werden.In this first phase of the coin check, an AC voltage is applied to the winding 11 of the rod core 4 of the test detector 6 one after the other with the frequencies of 6.25 kHz and 12.5 kHz. In the winding 12 of the rod core 5 coupled with this in the manner of a transformer, weakened voltages U _{s are} induced by the alloy of the coin 3 , which are measured and stored as in the first phase.

Unmittelbar an die Freigabe der Rollbahn 2 der Fig. 1 durch einen nichtgezeichneten Betätigungsmagneten für den Stopper 7 erfolgt die Messung der zweiten Phase mittels des Testdetektors 6 bei einer noch kleinen Geschwindigkeit der Münze 3, sobald sich diese auf der schrägstehenden Abrollbahn 2 in Bewegung setzt. Dabei mißt der Phasenkomparator 18 analog zur Eichung die Verschiebung der Phase der Wechselspannung U _s mit der höheren der Frequenzen der ersten Phase, als z. B. 12,5 kHz, am Ausgang der Wicklung 12 gegen­ über der Ausgangsspannung U _p des Tongenerators 15. Die festgestellte phasenabhängige Spannung U _oC wird bei der zugeordneten Stellung des Umschalters 20 zu einem Eingang des Spannungsmessers 21 über­ tragen. Die der größten phasenabhängigen Spannung U _oC entsprechend Spannung U _m am Ausgang des Spannungsmessers 21 wird im Speicher 26 der Auswerteeinrichtung 22 gespeichert. Der entsprechende Wert ist von der Art der Legierung der Münze 3, von deren Dicke und deren Durchmesser abhängig.Immediately after the release of the runway 2 of FIG. 1 by an actuation magnet for the stopper 7 , which is not shown, the measurement of the second phase takes place by means of the test detector 6 at a still low speed of the coin 3 as soon as it starts to move on the inclined run-off track 2 . The phase comparator 18 measures the shift of the phase of the AC voltage U _s with the higher of the frequencies of the first phase than z. B. 12.5 kHz, at the output of the winding 12 against the output voltage U _{p of} the tone generator 15th The determined phase-dependent voltage U _oC is transmitted to an input of the voltmeter 21 at the assigned position of the switch 20 . The voltage U _m corresponding to the largest phase-dependent voltage U _oC at the output of the voltmeter 21 is stored in the memory 26 of the evaluation device 22 . The corresponding value depends on the type of alloy of the coin 3 , its thickness and its diameter.

Die Münze 3 rollt anschließend weiter durch den Zwischenraum zwi­ schen den Magnetkernen 9 und 10 der Fig. 1, wobei die Prüfung auf den Münzdurchmesser erfolgt. Die Wicklung 13 auf dem Magnetkern 9 ist dabei in dieser dritten Phase der Münzprüfung mittels des Schalters 16 mit dem Ausgang des Tongenerators 15 verbunden. Dieser liefert dabei unter dem Einfluß der Steuerschaltung 23 der Auswerte­ einrichtung 22 eine Wechselspannung U _p mit einer höheren Frequenz als in den beiden ersten Phasen, beispielsweise von 62,5 kHz, bei welcher die Art der Legierung der Münze 3 höchstens einen sehr ge­ ringen Einfluß auf die Messung des Durchmessers ausübt. Je nach dem Durchmesser der Münze 3 entsteht an der zugeordneten Wicklung 14 des Magnetkerns 10 eine mehr oder weniger große Spannung U _s , die mittels des Schalters 17 zum Spitzenspannungsmesser 19 über­ tragen wird. Diese Spannung U _s durchläuft ein Minimum, wenn das Zentrum der Münze 3 den Raum zwischen den Magnetkernen 9, 10 durch­ läuft. Diese Minimalspannung U _s stellt ein Kriterium für den Münz­ durchmesser dar. In dieser dritten Phase wird die Zeitkonstante des Spitzenspannungsmessers 19 durch die Steuerschaltung 24 in der Auswerteeinrichtung 22 erniedrigt. Dadurch vermag der Spitzen­ spannungsmesser 19 der sich schnell ändernden Eingangswechsel­ spannung U _s zu folgen. Die Ausgangsspannung U _oC des Spitzenspan­ nungsmesser 19 wird mittels des Schalters 20 auf den Spannungsmesser 21 und die Spannung U _m an dessen Ausgang zum Speicher 26 der Auswerteeinrichtung 22 übertragen.The coin 3 then rolls on through the space between the magnetic cores 9 and 10 of FIG. 1, the test being carried out on the coin diameter. The winding 13 on the magnetic core 9 is connected in this third phase of the coin check by means of the switch 16 to the output of the tone generator 15 . This provides under the influence of the control circuit 23 of the evaluation device 22 an AC voltage U _p with a higher frequency than in the first two phases, for example of 62.5 kHz, in which the type of alloy of the coin 3 at most a very low influence exercises on the measurement of the diameter. Depending on the diameter of the coin 3 , a more or less large voltage U _s arises on the associated winding 14 of the magnetic core 10 , which is transmitted by means of the switch 17 to the peak voltmeter 19 . This voltage U _s passes through a minimum when the center of the coin 3 runs through the space between the magnetic cores 9, 10 . This minimum voltage U _s represents a criterion for the coin diameter. In this third phase, the time constant of the peak voltmeter 19 is reduced by the control circuit 24 in the evaluation device 22 . As a result, the peak voltmeter 19 can follow the rapidly changing AC input voltage U _s . The output voltage U _{oC of} the peak voltage meter 19 is transmitted by means of the switch 20 to the voltmeter 21 and the voltage U _m at its output to the memory 26 of the evaluation device 22 .

Nach Ablauf aller Prüfungen für die Münze 3 mittels der Testdetekto­ ren 6 und 8 stellt ein Rechenwerk in der Auswerteschaltung 22 fest, ob die abgespeicherten Meßwerte alle innerhalb der im Speicher 26 einge­ speicherten zugeordneten Bezugs-Minimal- und Maximalwerte liegen. Bei positi­ vem Ergebnis dieser Prüfung durch die Auswerteschaltung 22 erscheint an deren Ausgang 27 ein Kassiersignal zur Kassierung der geprüften Münzen 3 und zur Freigabe der entsprechenden Dienstleistung oder aber im anderen Fall ein Sperrsignal für die Dienstleistung und ein Signal zur Umleitung der Münzen 3 in die Rückgabeschale.After all tests for the coin 3 have been completed by means of the test detectors 6 and 8 , an arithmetic unit in the evaluation circuit 22 determines whether the stored measured values are all within the assigned reference minimum and maximum values stored in the memory 26 . If the result of this test is positive by the evaluation circuit 22 , a cashier signal appears at the output 27 for collecting the coins 3 that have been checked and for releasing the corresponding service, or else in the other case a blocking signal for the service and a signal for rerouting the coins 3 into the return bowl .

Claims (4)

1. Einrichtung zum Prüfen von Münzen verschiedener Werte mit einem nacheinander mit verschiedenen Frequenzen eines Ton­ generators beaufschlagbaren Testdetektor für die Münze, gege­ benenfalls mit einem in einer Abrollbahn für die Münzen ange­ ordneten Stopper, mit mindestens einem Schalter zum Umschalten auf die verschiedenen Frequenzen, mit einer Auswerteinrichtung zum Vergleich der von den Testdetektoren ohne Münze gebildeten Eichwerte mit den von den Testdetektoren mit einer Münze gebil­ deten Prüfwerten, bei der die Auswerteeinrichtung einen Speicher zum Speichern von Bezugs- und Eichwerten sowie Steuerschaltungen zum Steuern des Tongenerators aufweist und Kassier- oder Sperr­ signale aufgrund des Ergebnisses der Auswertung der betreffen­ den Münze erzeugt, dadurch gekennzeichnet, daß ein Testdetektor (6) das Münzmaterial und ein weiterer Testdetektor (8) eine Münzabmessung testen und daß die Aus­ werteinrichtung (22) die Steuerschaltungen (23, 24, 25) derart aktiviert, daß diese bei jeder Inbetriebsetzung vor dem Eintref­ fen einer eingeworfenen Münze (3) bei dem ersten von dieser erreichten Testdetektor (6) die Eichwerte der Testdetektoren (6, 8) unter Umschalten des Schalters (16, 17) ermitteln, die­ se Eichwerte und entsprechende Einstellwerte für den Tongene­ rator (15) im Speicher (26) abspeichern und den Tongenerator (15) mit diesen Eichwerten bzw. Einstellwerten steuern. 1.Means for checking coins of different values with a test detector for the coin which can be successively loaded with different frequencies of a tone generator, optionally with a stopper arranged in a rolling path for the coins, with at least one switch for switching over to the different frequencies an evaluation device for comparing the calibration values formed by the test detectors without a coin with the test values formed by the test detectors with a coin, in which the evaluation device has a memory for storing reference and calibration values and control circuits for controlling the tone generator, and cashier or blocking signals generated on the basis of the result of the evaluation of the coin concerned, characterized in that a test detector ( 6 ) test the coin material and another test detector ( 8 ) test a coin size and that the evaluation device ( 22 ) controls the control circuits ( 23, 24, 25 ) in such a way activated that this each time the commissioning of a inserted coin ( 3 ) arrives at the first test detector ( 6 ) reached by this, determine the calibration values of the test detectors ( 6, 8 ) by switching the switch ( 16, 17 ), these calibration values and corresponding setting values for store the tone generator ( 15 ) in the memory ( 26 ) and control the tone generator ( 15 ) with these calibration values or setting values. 2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Spitzenspannungsmesser (19) die Spannungsamplituden (U _oc ) der Testdetektoren (6, 8) und ein Phasenkomparator (18) die maximale Phasendifferenz (Δϕ) zwischen der Spannungs­ amplitude des Tongenerators (15) und der Spannungsamplitude (U _s ) des das Münzmaterials testenden Testdetektors (6) fest­ stellt und daß diese bzw. davon abgeleitete Werte als Eichwerte bzw. Einstellwerte für den Tongenerator (15) dienen.2. Device according to claim 1, characterized in that a peak voltage meter ( 19 ) the voltage amplitudes (U _oc ) of the test detectors ( 6, 8 ) and a phase comparator ( 18 ) the maximum phase difference ( Δϕ ) between the voltage amplitude of the tone generator ( 15 ) and the voltage amplitude (U _s ) of the test detector ( 6 ) testing the coin material and that these or values derived therefrom serve as calibration values or setting values for the tone generator ( 15 ). 3. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Tongenerator (15) in einer ersten Phase nacheinander zwei Spannungen (U _p ) verschiedener Frequenz über den ersten Testdetektor (6) und den Spitzenspannungsmesser (19) an einen den Spannungsmesser (21), in einer zweiten Phase eine Spannung (U _p ) mit der höheren der beiden Frequenzen über den ersten Testdetektor (6) und den Phasenkomparator (18) an den Spannungs­ messer (21) und in einer dritten Phase eine Spannung (U _p ) mit einer höheren Frequenz als in den ersten beiden Phasen über den zweiten Testdetektor (8) und den Spitzenspannungsmesser (19) an den Spannungsmesser (21) zur Ermittlung der Eichwerte bzw. Einstellwerte abgibt.3. Device according to claim 1 or 2, characterized in that the tone generator ( 15 ) in a first phase successively two voltages (U _p ) of different frequency via the first test detector ( 6 ) and the peak voltmeter ( 19 ) to one of the voltmeters ( 21st ), in a second phase a voltage (U _p ) with the higher of the two frequencies via the first test detector ( 6 ) and the phase comparator ( 18 ) to the voltage meter ( 21 ) and in a third phase a voltage (U _p ) with outputs a higher frequency than in the first two phases via the second test detector ( 8 ) and the peak voltage meter ( 19 ) to the voltage meter ( 21 ) for determining the calibration values or setting values. 4. Einrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Münzprüfungen der ersten Phase mit der durch den Stop­ per (17) festgehaltenen Münze, die der zweiten und dritten Pha­ se dagegen bei sich bewegender Münze (3) erfolgen.4. Device according to claim 3, characterized in that the coin checks of the first phase with the coin held by the stop per ( 17 ), the second and third phases se against it take place with the moving coin ( 3 ).