DE3340243A1 - Vorrichtung zum pruefen von leiterplatten - Google Patents

Vorrichtung zum pruefen von leiterplatten

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Description

  • Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
  • Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum Prüfen der Leiterbahnen von in gedruckter Schaltungstechnik hergestellten Leiterplatten auf Leitungsschluß, Belastbarkeit und/oder Stromdurchgang mit einer Grundplatte mit einer Vielzahl von federnden Kontakten, die in einem vorgegebenen, leiterplattenüblichen Rastermaß angeordnet und über Leitungen mit dem elektrischen Prüf-und Steuergerät verbunden sind, und einer Prüftischplatte mit einer der Zahl der durch dieLeiterbahnen gehenden Bohrungen entsprechenden Anzahl von Ausnehmungen, deren Anordnung in der Prüftischplatte dem Leiterplattenbohrungsmuster entspricht und in denen Kontaktstifte angeordnet sind, die mit ihrem einen Ende mit den federnden Kontakten in Wirkverbindung stehen und mit ihrem anderen Ende mit den Bohrungen in den Leiterbahnen kontaktierbar sind.
  • Zum Prüfen der Leiterbahnen von ihn gedruckter Schaltungstechnik hergestellten Leiterplatten ist eine Vorrichtung bekannt, bei der in einer Grundplatte eine Vielzahl von federnden Kontakten im Rastermaß von 2,54 mm angeordnet sind. Jeder der federnden Kontakte geht an seinem leiterplattenfernen Ende in einen Wrap-Stift über, mit dem er über eine elektrische Leitung mit dem Prüf- und Steuergerät verbunden ist. Zur Prüfung der Leiterplatten wird diese auf die federnden Kontakte der Kontaktstifte aufgelegt und durch Andrücken in gut leitende Verbindung mit diesen gebracht. Danach beginnt das Prüf- und Steuergerät die einzelnen Leiterbahnen auf Kurzschluß, Belastbarkeit und/oder Stromdurchgang abzufragen. Zur Prüfung kann hierbei in dem Prüf- und Steuergerät ein dem Muster der Leiterbahnen auf der zu prüfenden Leiterplatte komplementäres Leiterbahnmuster vorhanden sein, das in seiner Gesamtheit mit dem Leiterbahnmuster der zu prüfenden Leiterplatte verglichen wird, oder ein Prüfprogramm, das einzelne Leiterbahnen zu einem Leiterbahnenzug zusammenschaltet und diesen Leitungszug auf seine Ordnungsgemäßheit überprüft.
  • Die Handhabung dieser Prüfeinrichtung ist dann verhältnismäßig problemlos, wenn sie zur Prüfung von Leiterplatten herangezogen wird, bei der ausschließlich die durch die Leiterbahnen gehenden Bohrungen im selben Rastermaß von 2,54 mm angeordnet sind, wie die in der Grundplatte befindlichen federnden Kontakte. Umständlich und problematisch wird die Handhabung einer solchen Prüfvorrichtung jedoch dann, wenn auch Leiterplatten geprüft werden sollen, bei denen sowohl durch die Leiterbahnen gehende Bohrungen im Rastermaß von 2,54 mm als auch Bohrungen außerhalb dieses Rastermaßes vorkommen, Leiterplatten also, wie sie heutzutage nahezu ausschließlich verwendet werden. In einem solchen Fall müssen in der Grundplatte zusätzliche Bohrungen für die federnden Kontakte vorgesehen werden, was wegen des geringen Abstandes der Rastermaßbohrungen äußerst schwierig und zeitraubend ist. Ist der Versatz zwischen einer Rastermaßbohrung und einer zusätzlich außerhalb des Rastermaßes anzubringenden Bohrung zu gering, so muß auf das Einsetzen eines zusätzlichen federnden Kontaktes gänzlich verzichtet werden und der Rastermaßfederkontakt etwas beigebogen werden, damit der federnde Kontaktteil die Leiterplattenbohrung kontaktieren kann.
  • Diese Nachteile und Schwierigkeiten werden bei einer anderen bekannten Prüfvorrichtung dadurch umgangen, daß über der Grundplatte mit den im Rastermaß angeordneten federnden Kontakten eine Prüftischplatte angeordnet ist, in der sich Bohrungen nach Zahl und Konfiguration entsprechend dem Leiterplattenbohrungsmuster befinden, in denen Kontaktstifte angeordnet sind, die einerseits mit den federnden Kontakten der Grundplatte und andererseits mit den durch die Leiterbahnen gehenden Bohrungen der Leiterplatte kontaktierbar sind. Die Kontaktstifte sind an ihrem leiterplattenseitigen Ende jeweils mit einem Kontaktkopf versehen, dessen Durchmesser größer als derjenige der den Kontaktstift aufnehmenden Bohrung in der Prüftischplatte ist. An ihrem der Grundplatte zugewandten Ende sind die Kontaktstifte jeweils mit einer Vertiefung versehen, in die die federnden Kontakte der Grundplatte eingreifen können. Bei dieser Prüfvorrichtung bilden die Kontaktstifte eine elektrische Verbindung zwischen den beweglichen Teilen der federnden Kontakte und den außerhalb des Rastermaßes liegenden Bohrungen in der Leiterplatte, indem sie den Versatz von federndem Kontakt.in der Grundplatte und Bohrung in der Leiterplatte durch eine leichte Schrägstellung in der Prüftischplatte ausgleichen. Mit einer solchen Vorrichtung lassen sich zufriedenstellende Ergebnisse in der Kontaktierung der Leiterplattenbohrungen mit den Kontaktstiften dann erzielen, wenn der Versatz der außerhalb des Rastermaßes liegenden Bohrungen bezogen auf das Rastermaß lediglich wenige Zehntel Millimeter beträgt. Bei einem größeren Versatz kann es jedoch geschehen, daß der Kontaktstift aufgrund seiner Schrägstellung geringfügig neben die Leiterbahn zu liegen kommt, was bedeutet, daß die Leiterplatte, obwohl sie einwandfrei ist, als fehlerhaft geprüft und ausgeschieden wird.
  • Beid bekannten Prüfeinrichtungen ist zudem der Nachteil gemeinsam, daß sie verhältnismäßig teuer sind, was darauf zurückzuführen ist, daß sie ohne die teuren federnden Kontaktstifte der Grundplatte nicht auskommen. Da jeder dieser federnden Kontaktstifte in der Größenordnung von DM 3,-- kostet, für eine Prüfvorrichtung zur Prüfung von Leiterplatten üblicher Größe jedoch 10.000 solcher federnden Kontaktstifte benötigt werden, stellt die Grundplatte mit den Kontaktstiften ein wesentliches Kostenelement einer solchen Prüfvorrichtung dar.
  • Diese Schwierigkeiten und Nachteile der bekannten Prüfeinrichtungen sollen durch die Erfindung überwunden werden. Es ist daher Aufgabe der Erfindung, eine Prüfvorrichtung zu konzipieren, mit der die Prüfung von Leiterplatten mit beliebigen Bohrungsmustern einwandfrei durchgeführt werden kann. Zudem soll eine solche Konzeption eine kostensparende Realisierung der Prüfvorrichtung möglichst umfassend berücksichtigen.
  • Diese Aufgabe wird ausgehend von einer Vorrichtung der eingangs beschriebenen Gattung erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Kontaktstifte an ihrem grundplattenseitigen Ende in einer der Prüftischplatte zugeordneten Zwischenplatte mit einer Vielzahl von Löchern geführt sind, die im selben Rastermaß wie die federnden Kontakte angeordnet sind, daß jeder Kontaktstift im Bereich der Zwischenplatte Mittel zum Begrenzen der Axialbewegung in Richtung auf die federnden Kontakte aufweist und daß der Abstand zwischen der Prüftischplatte und der Grundplatte einerseits und die wirksame Länge der Kontaktstifte andererseits dergestalt gewählt sind, daß bei auf die Prüftischplatte.aufgelegter Leiterplatte die Kontaktstifte mit ihren leiterplattenseitigen Enden im wesentlichen mit der Prüftischplattenoberfläche abschließen.
  • Durch diese erfindungsgemäßen Maßnahmen wird erreicht, daß jeder Kontaktstift während des Prüfvorganges die ihm zugeordnete Leiterplattenbohrung zentrisch berührt, Fehlkontaktierungen also nicht auftreten können, wenn das Bohrungsmuster in der Prüftischplatte und dasjenige der Leiterplatte übereinstimmen. Dies ist darauf zurückzuführen, daß der der Leiterplatte zugewandte Kopf jedes Kontaktstiftes bei auf die Prüftischplatte aufgelegter Leiterplatte in Längsrichtung des Stiftes bis in die Oberflächenebene der Prüftischplatte gegen die Kraft der Fedewiemente zurückgedrückt wird, wodurch sich eine Schrägstellung des Kontaktstiftes im Kontaktierungsbereich der Leiterplatte nicht auswirken kann. Die zwischen der Prüftischplatte und der Grundplatte angeordnete Zwischenplatte mit den im selben Rastermaß wie die federnden Kontakte angeordneten Löcher dient ebenfalls zur Führung und zur Begrenzung der der Grundplatte zugewandten Enden der Kontaktstifte.
  • Aus diesem Grunde empfiehlt es sich auch, die Zwischenplatte in unmittelbarer Nähe der Grundplatte und von der Prüftischplatte entfernt anzuordnen. Um zu verhindern, daß die Kontaktstifte durch die in der Prüftischplatte vorhandenen Bohrungen in den Zwischenraum zwischen Prüftischplatte und Zwischenplatte gedrückt werden, sind Begrenzungsmittel vorgesehen.
  • Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung werden diese Mittel dadurch realisiert, daß jeder Kontaktstift an seinem grundplattenseitigen Ende mit einem durch die Löcher in der Zwischenplatte ragenden Zapfen versehen ist, wobei der Durchmesser jedes Lochs kleiner als der Kontaktstiftdurchmesser ist. Der Kontaktstift kann sich bei einer solchen Ausführungsform also mit seinem aus dem Zapfenquerschnitt vorspringenden Stiftquerschnitt auf der Zwischenplatte abstützen, wenn er versehentlich durch ein Werkzeug oder durch einen Vorsprung auf der Leiterplatte zu stark in longitudinaler Richtung gegen die Grundplatte gedrückt wird.
  • Um sicnerzustellen, daß auch bei einer extremen Schrägstellung eines Kontaktstiftes zwischen der Leiterplatte und dem Kontaktstift eine einwandfreie, zur Leiterplattenbohrung zentrische Kontaktierung mit der Leiterplatte erfolgt, empfiehlt es sich, jeden Kontaktstift an seinem leiterplattenseitigen Ende mit einer halbkugelförmigen Kontaktkuppe zu versehen.
  • Um auch zwischen den einzelnen federnden Kontakten und den ihnen zugeordneten Kontaktstiften in jeder Schräglage des Kontaktstiftes eine einwandfreie Kontaktierung zu erhalten, ist gemäß einer besonders vorteilhaften Ausführungsform jeder federnde Kontakt aus einem in der Grundplatte sitzenden Anschlußstift und einer dem Kontaktstift zugewandten Kontakthaube aufgebaut, die beide über eine Druckfeder elektrisch und mechanisch miteinander verbunden sind. Die gegenüber einem handelsüblichen federnden Kontakt durch die Haube vergrößerte Kontaktfläche gewährleistet in jeder möglichen Winkellage des Kontaktstiftes eine einwandfrei Kontaktierung zwischen Kontaktstift und Kontakthaube. Ein derartiger Federkontakt hat darüber hinaus den Vorteil, daß er im Vergleich zu den handelsüblichen Federkontakten äußerst einfach aufgebaut ist und um mehr als zwei Drittel billiger ist als ein herkömmlicher Federkontakt. Dadurch lassen sich die Kosten für die erfindungsgemäße Prüfvorrichtung beträchtlich senken.
  • Als vorteilhaft hat es sich erwiesen, dievKontakthaube mit einer zentrischen Vertiefung zur Führung des Kontaktstifes zu versehen.
  • Gleichzeitig kann dadurch auch die Kontaktierung zwischen Kontaktstift und Kontakthaube insofern weiter verbeSsert werden, als auch bei extremen Schräglagen des Kontaktstiftes der an den Kontaktstift angeformte Zapfen flächig und nicht punktförmig mit der Kontakthaube in Verbindung steht.
  • Ferner hat es sich als zweckmäßig erwiesen, die Anschlußstifte der Kontaktfedern als Wrap-Stifte auszubilden. Diese lassen sich schneller mit den zur Prüf- und Steuereinrichtung führenden Leitungen verbinden als dies bei Lötstiften der Fall wäre.
  • Nach einem weiteren Gedanken der Erfindung sind die Prüftischplatto unq die Zwischenplatte mittels Schrauben und Distanzstücken miteinander verbinden. Die Prüftischplatte und die Zwischenplatte sowie die zwischen den beiden Platten angeordneten Kontaktstifte bilden hierbei eine kassettenartige Einheit, die auf die Grundplatte aufgesetzt und von dieser abgenommen werden kann. Jeder zu prüfenden Leiterplatte ist eine derartige Kassetteneinheit zugeordnet, was den Vorteil mit sich bringt, daß die Prüfeinrichtung mit wenigen Handgriffen auf die Prüfung unterschiedlichster Leiterplatten umgerüstet werden kann: es ist lediglich die Kassetteneinheit für die eine Leiterplatte abzunehmen und die Kassetteneinheit für eine andere zu prüfende Leiterplatte auf die Grundplatte aufzusetzen. Da die Kassetteneinheit lediglich aus zwei Isolierstoffplatten, einer Vielzahl von Kontaktstiften, die in großen Stückzahlen billigst herstellbar sind, einigen Schrauben und Distanzstücken besteht, ist der Wert einer solchen Kassetteneinheit verhältnismäßig gering, so daß die Kosten für den Aufbau und die Lagerung einer Anzahl von Kassetteneinheiten für verschiedene zu prüfende Leiterplatten gering sind und den Vorteil einer solchen Kassetteneinheit nicht schmälern. Die sich durch diese Kassetteneinheit ergebende Erleichterung in der Handhabung der Prüfvorrichtung ist beträchtlich und stellt einen besonderen Vorteil gegenüber den handelsüblichen Prüfvorrichtungen dar, deren Umrüstung wesentlich umständlicher und zeitraubender ist.
  • Eine weitere Vereinfachung in der Handhabung der erfindungsgemäßen Kassetteneinheit kann dadurch erreicht werden, daß die Schrauben, die die Prüftischplatte.und die Zwischenplatte zusammenhalten, gleichzeitig zur Befestigung der beiden Platten an der Grundplatte benutzt werden. Um zu verhindern, daß beim Lösen dieser mehrfach genutzten Schrauben die Prüftischplatte und die Zwischenplatte versehentlich auseinanderfallen, empfiehlt es sich, mindestens zwei zusätzliche Schraubverbindungen zum Verbinden der Zwischenplatte und der Prüftischplatte bei von der Grundplatte gelösten Platten vorzusehen. Bei Abnahme der Kassetteneinheit werden also die beiden zusätzlichen Schraubverbindungen zuerst im Sinne eines festen Verbindens der beiden Platten betätigt und danach werden die die Kassetteneinheit an der Grundplatte haltenden Schrauben gelöst, so daß danach die Kassetteneinheit mit fest zueinander angeordneten Platten von der Grundplatte abgenommen und ins Prüfwerkzeuglager gegeben werden kann.
  • Nach einem weiteren Gedanken der Erfindung ist die Prüftischplatte gegen eine Federkraft höhenbeweglich an der Zwischenplatte befestigt. Die Ruhelage der Prüftischplatte ist hierbei so gewählt, daß die leiterplattenseitigen Enden der Kontaktstifte unterhalb der Oberfläche der Prüftischplatte enden, beim Auflegen der Leiterplatte auf die Prüftischplatte also keine Kontaktierung zwischen den Leiterbahnen und den Kontaktstiften entsteht. Erst beim Niederdrücken der PrüEtischplatte gelangen die Kontaktstifte in Berührung mit den Leiterbahnen der Leiterplatte. Durch die Höhenbeweglichkeit der Prüftischplatte wird somit erreicht, daß beim Auflegen und Zentrieren der Leiterplatte auf der Prüftischplatte die Kontaktstifte die feinen Leiterbahnen nicht zerkratzen oder beschädigen können. Darüber hinaus ist dadurch sichergestellt, daß auch bei dicht aneinanderliegenden Leiterplattenbohrungen und starker Schrägstellung einzelner Kontaktstifte diese einwandfrei in die ihnen zugeordneten Leiterplattenbohrungen gelangen können.
  • Als zweckmäßig hat es sich erwiesen, jeden Kontaktstift an seinem der Prüftischplatte zugeordneten Ende über eine der Höhenbewegung entsprechende Länge mit einem um bis zu drei Zehntelmillimeter verminderten Durchmesser zu versehen. Dadurch lassen sich sicher Klemmungen zwischen Kontaktstift und Prüftischplatte beim Niederdrücken derselben vermeiden. An und für sich könnte jeder Kontaktstift über seine gesamte Länge mit dem verminderten Durchmesser versehen werden, jedoch ist dann wegen des größeren Spiels des Kontaktstiftes in der Prüftischplatte nicht mehr sichergestellt, daß beim Einführen des Kontaktstiftes durch die Bohrung in der Prüftischplatte der Kontaktstift in die dieser Bohrung in vertikaler Richtung am nächsten liegende Rastermaßbohrung gelangt.
  • Die Prüftischplatte ist auf ihrer der Leiterplatte zugewandten Oberfläche am zweckmäßigsten mit Zentrierzapfen für die aufzulegende Leiterplatte versehen. Neben der genauen Lagefixierung der Leiterplatte durch die Zentrierzapfen können diese darüber hinaus als Schlüssel für die Zuordnung einer bestimmten Leiterplatte zu einer bestimmten Kassetteneinheit benutzt werden. Dies kann dadurch erreicht werden, daß jeder Kassetteneinheit eine bestimmte Zentrierzapfenkonfiguration und jeder Leiterplatte eine entsprechende Lochkonfiguration zugeordnet sind, wodurch gewährleistet ist, daß tatsächlich nur die dieser Kassetteneinheit zugeordnete Leiterplatte geprüft werden kann, andere Leiterplatten jedoch nicht.
  • Die Erfindung sei anhand der Zeichnung, die in zum Teil schematischer Darstellung ein Ausführungsbeispiel enthält, näher erläutert. Es zeigen Figur 1 eine teilgeschnittene Aufsicht auf eine Prüfvorrichtung, Figur 2 einen Schnitt durch die Prüfeinrichtung gemäß Figur 1, Figur 3 einen Schnitt durch die Grundplatte der Prüfeinrichtung gemäß Figur 1, in vergrößerter Darstellung, und Figur 4 einen Schnitt durchdie Prüfeinrichtung entlang der Linie IV-IV in vergrößerter Darstellung.
  • Wie aus den Figuren 1 und 2 ersichtlich ist, besteht der mechanische Teil der Prüfeinrichtung aus einer Grundplatte 1 mit einer Vielzahl von Federkontakten 2, die in einem leiterplattenüblichen Rastermaß von 2,54 mm in der aus Kunststoff bestehenden Grundplatte 1 angeordnet sind. Die von den Federkontakten 2 ausgefüllte Fläche entspricht in etwa der doppelten Fläche einer Leiterplatte in Europa-Format, so daß also zwei solcher Normleiterplatten gleichzeitig geprüft werden können. Die Kontaktfederfläche ist von einem Rand begrenzt, der zur Aufnahme von Befestigungsmitteln vorgesehen ist.
  • Jeder Federkontakt 2 in der Grundplatte 1 besteht, wie aus Figur 3 ersichtlich ist, aus einem Wrap-Stift 3, dessen eines Ende frei aus der Grundplatte 1 ragt und dessen anderes Ende in eine Bohrung 4 in der Grundplatte 1 hineinragt. In der Bohrung 4 befindet sich eine Druckfeder 5, die einerseits auf das in die Bohrung 4 ragende Ende des Wrap-Stiftes aufgepreßt ist und andererseits in einer Kontakthaube 6 endet, die in der Bohrung 4 verschieblich geführt ist. An ihrem einem Kontaktstift 7 zugeordneten Ende ist die Kontakthaube 6 mit einer zentralen Vertiefung 8 versehen, die unter anderem einer Zentrierung des Kontaktstiftes 7 auf der Haube 6 dient. Es ist ohne weiteres ersichtlich, daß ein solcher Federkontakt, der lediglich aus drei einfachen Bauteilen besteht, wesentlich kostengünstiger herstellbar ist als die bekannten Federkontakte, bei denen die beiden relativ zueinander beweglichen Teile teleskopartig ineinandergreifen.
  • Über der Grundplatte 1 und auf dieser aufliegend befindet sich eine Zwischenplatte 9 mit einer Anzahl von Bohrungen 10, die im selben Rastermaß wie die Federkontakte 2 in der Zwischenplatte 9 angeordnet sind. Das Muster der Löcher 10 in der Zwischenplatte 9 entspricht also demjenigen der Federkontakte 2 in der Grundplatte 1. Die Zwischenplatte 9 ist auf einen Metallrahmen 11 aufgenietet, der die Prüfeinrichtung nach außen hin mechanisch abschirmt und zu einer Erhöhung der mechanischen Stabilität der Zwischenplatte 9 beiträgt.
  • über der Zwischenplatte 9 und in Abstand zu dieser befindet sich die Prüftischplatte 12, die in ihrer wirksamen Fläche gleich groß wie die Grundplatte 1 und die Zwischenplatte 9 ist. Die Prüftischplatte 12 enthält eine Vielzahl von Bohrungen 13, die in ihrer Anordnung dem Bohrungsmuster der zu prüfenden Leiterplatte entspricht. Die Bohrungen 13 sind teilweise im gleichen Rastermaß von 2,54 mm angeordnet, wie die Bohrungen 10 in der Zwischenplatte 9 bzw. wie die Federkontakte 2 in der Grundplatte 1, teilweise jedoch auch außerhalb dieses Rastermaßes.
  • Für jede zu prüfende Leiterplatte ist also eine Prüftischplatte herzustellen, die in Anzahl und Konfiguration der Bohrungen den Bohrungen entspricht, die durch die Leiterbahnen der Leiterplatte gehen.
  • Die Prüftischplatte 12 ist mittels~mehrerer Schraubverbindungen 14 höhenverstellbar an der Zwischenplatte 9 befestigt. Jede dieser Schraubverbindungen 14 besteht aus zwei Teilen 15 und 16, von denen der Teil 15 in einer Ausnehmung in der Zwischenplatte 9 eingenietet ist und der andere Teil 16 teleskopartig im Teil 15 verschieblich gelagert ist. Beide Teil 15 und 16 sind mit einer Druckfeder 17 beaufschlagt, gegen deren Kraft der Teil 16 im Teil 15 nach unten drückbar ist. Zur unverlierbaren Festlegung des Teils 16 im Teil 15 ist letzteres an seinem freien Ende 18 eingerollt und das Teil 16 mit einer Schulter 19 versehen. Durch beide Teile 15 und 16 ragt eine Schraube 20, die eine Ausnehmung 21 in der Prüftischplatte 12 durchsetzt und in eine Schraubhülse 22 eingeschraubt ist, die in der Grundplatte 1 sitzt. Um eine plane Auflage der Zwischenplatte 9 auf der Grundplatte 1 sicherzustellen, befindet sich in der Grundplatte 1 eine die überstehenden Teile der Nietverbindung des Teils 15 mit der Zwischenplatte 9 aufnehmende Vertiefung 23.
  • Wie ersichtlich, gestattet die Schraubverbindung 14,die an mehreren Stellen des Randumfangs angeordnet ist, eine Bewegung der Prüftischplatte in vertikaler Richtung entgegen der Kraft der Feder 17. Gleichzeitig dient die Schraubverbindung 14 dazu, die durch die Zwischenplatte 9 und die Prüftischplatte 12 gebildete Kassette 24 auf der Grundplatte 1 festzulegen.
  • Beim Entfernen der Kassette 24 wird die Schraube 20 aus der Schraubhülse 22 gedreht und anschließend'kann die Zwischenplatte 9 und die über die beiden Teile 15 und 16 auf dieser Zwischenplatte ruhende Prüftischplatte von der Grundplatte 1 abgehoben werden. Da nach Lösen von Schraube 20 und Schraubhülse 22 zwischen der Prüftischplatte 12-und der Zwischenplatte 9 keine feste Verbindung mehr besteht, kann es geschehen, daß durch unsachgemäßes Behandeln der Kassette 24 aus Versehen die Prüftischplatte 12 angehoben wird und die zwischen der Prüftischplatte 12 und der Zwischenplatte 9 angeordneten Kontaktstifte 7 aus ihren Bohrungen herausfallen. Um dies zu vermeiden, sind im Bereich der Schraubverbindung 14 zusätzliche Maßnahmen vorgesehen, um nach Lösen der beiden Schrauben 20 und 21 eine feste Verbindung zwischen den beiden Platten 9 und 12 zu erhalten. Diese Maßnahmen bestehen darin, daß in der Prüftischplatte 12 eine Bohrung 25 vorgesehen ist und in der Zwischenplatte 9 eine Mutter 26 eingenietet ist, in die eine nicht dargstellte Schraube, die durch die Bohrung 25 eingeführt ist, eingeschraubt werden kann. Die Mutter 26 ragt in eine dafür vorgesehene Ausnehmung 27 in der Grundplatte 1. Vor Lösen der beiden Schrauben 20 und 21 wird eine Schraube durch die Bohrung 25 in der Prüftischplatte 12 eingeführt und in die Mutter 26 eingeschraubt. Nach Festziehen dieser Schraube kann dann die Schraubverbindung 22/20 gelöst werden und die Kassette 24 von der Grundplatte 1 abgenommen werden. Die Gefahr, daß die Kontaktstifte 7 aus ihren Bohrungen fallen, ist nicht länger akut.
  • Wie insbesondere Figur 2 zu entnehmen ist, ist jeder Kontaktstift 7 an seinem grundplattenseitigen Ende mit einem durch die Löcher 10 in der Zwischenplatte 9 ragenden Zapfen 28 versehen, dessen Durchmesser kleiner als der Kontaktstiftdurchmesser ist, so daß bei abgenommener Kassette 24 der Kontaktstift 7 nicht nach unten herausfallen kann. Ferner ist jeder Kontaktstift 7 an seinem der Prüftischplatte 12 zugeordneten Ende mit vermindertem Durchmesser ausgebildet, und zwar über eine Länge, die in etwa der Höhenbewegung der Prüftischplatte 12 entspricht. Hierdurch wird einmal ein Verklemmen des Kontaktstiftes 7 bei seiner Schrägstellung, wie sie in Figur 2 dargestellt ist, verhindert, und gleichzeitig wird durch die in der Länge begrenzte Absetzung des Durchmessers erreicht, daß der Stift beim Einführen durch die Prüftischplatte 12 so lange geführt ist, bis er mit seinem Zapfen 28 in dasjenige Loch 10 der Zwischenplatte 9 eintaucht, das in der Vertikalen dem Loch 13 am nächsten ist, durch das der Kontaktstift 1 eingeführt ist.
  • Um zu verhindern, daß beim Abnehmen der Kassette 24 die in dieser angeordneten Kontaktstifte 7 nach vorne, das heißt also über die Bohrungen 13 in der Prüftischplatte 12 herausfallen, empfiehlt es sich, nach Lösen.der Schraubverbindung 20/22 eine Haube auf die Prüftischplatte 12 aufzusetzen. Diese kann gleichzeitig als Staubschutz dienen. Jeder Kontaktstift 7 kann zur Kontaktierung der Löcher 30 in der Leiterplatte 29 mit einer halbkugelförmigen Kontaktkuppe oder auch, wie in vorliegendem Beispiel, mit einer Kanten aufweisenden Spitze 31 versehen sein.

Claims (12)

  1. Patentansprüche 1. Vorrichtung zum Prüfen der Leiterbahnen von in gedruckter Schaltungstechnik hergestellten Leiterplatten auf Leitungsschluß, Belastbarkeit und/oder Stromdurchgang mit einer Grundplatte mit einer Vielzahl von federnden Kontakten, die in einem vorgegebenen, leiterplattenüblichen Rastermaß angeordnet und über Leitungen mit dem elektrischen Prüf- und Steuergerät verbunden sind, und einer Prüftischplatte mit einer der Zahl der durch die Leiterbahnen gehenden Bohrungen entsprechenden Anzahl von Ausnehmungen, deren Anordnung in der Prüftischplatte dem Leiterplattenbohrungsmuster entspricht und in denen Kontaktstifte angeordnet sind, die mit ihrem einen Ende mit den federnden Kontakten in Wirkverbindung stehen und mit ihrem anderen Ende mit den Bohrungen in den Leiterbahnen kontaktierbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktstifte (7) an ihrem grundplattenseitigen Ende in einer der Prüftischplatte (12) zugeordneten Zwischenplatte (9) mit einer Vielzahl von Löchern (10) geführt sind, daß jeder Kontaktstift (7) im Bereich der Zwischenplatte (9) Mittel zum Begrenzen der Axialbewegung in Richtung auf die federnden Kontakte (2) aufweist und daß der Abstand zwischen der Prüftischplatte (12) und der Grundplatte (1) und die wirksame Länge der Kontakt -stifte (7) dergestalt gewählt sind, daß bei auf die Prüftischplatte (12) aufgelegter Leiterplatte (29) die Kontaktstifte(7) mit ihren leiterplattenseitigen Enden im wesentlichen mit der Prüftischplattenoberfläche abschließen.
  2. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Begrenzung der Axialbewegung jeder Kontaktstift (7) an seinem grundplattenseitigen Ende mit einem durch die Löcher (10) in der Zwischenplatte (9) ragenden Zapfen (28) versehen ist und der Durchmesser jedes Lochs (10) kleiner als der Kontaktstiftdurchmesser ist.
  3. 3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Kontaktstift (7) an seinem leiterplattenseitigen Ende mit einer halbkugelförmigen Kontaktkuppe versehen ist.
  4. 4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüftischplatte (12) gegen eine Federkraft (7) höhenbeweglich an der Zwischenplatte (9) befestigt ist.
  5. 5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Kontaktstift (7) an seinem der Prüftischplatte (12) zugeordneten Ende über eine der Höhenbewegung entsprechende Länge einen um bis zu drei Zehntelmillimeter verminderten Durchmesser aufweist.
  6. 6. Vorrichichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet,daß die Prüftischplatte (12) und die Zwischenplatte (9) mittels Schrauben (20,22) und Distanzstücken (15,16) miteinander verbunden sind.
  7. 7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Schrauben (20,22) gleichzeitig zur Befestigung der beiden Platten (12,9) an der Grundplatte (1) vorgesehen sind.
  8. 8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens zwei zusätzliche Schraubverbindungen (26) zum Verbinden der Zwischenplatte (9) und der Prüftischplatte (12) bei von der Grundplatte (1) gelösten Platten (9,12) vorhanden sind.
  9. 9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß jeder federnde Kontakt (2) aus einem in der Grundplatte (1) sitzenden Anschlußstift (3) und einer Kontakthaube (6) besteht, die beide über eine Druckfeder (5) elektrisch und mechanisch miteinander verbunden sind.
  10. 10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontakthaube (6) mit einer zentrischen Vertiefung (8) zur Führung des Kontaktstiftes (7) versehen ist.
  11. 11. Vorrichtung nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, daß der Anschlußstift (3) als Wrapstift ausgebildet ist.
  12. 12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüftischplatte (12) mit Zentrierzapfen für die aufzulegenden Leiterplatten (29) versehen ist.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3539931A1 (de) * 1985-11-11 1987-05-14 Wagner Hans Juergen Einrichtung zum pruefen von leiterplatten
US4851765A (en) * 1986-09-08 1989-07-25 Mania Elektronik Automatisation Entwicklung Und Geratebau Gmbh Apparatus for electrically testing printed circuit boards having contact pads in an extremely fine grid
DE9206126U1 (de) * 1992-05-07 1992-06-25 Hewlett-Packard GmbH, 7030 Böblingen Testvorrichtung für elektronische Leiterplatten

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4414770A1 (de) * 1994-04-27 1995-11-02 Hubert Driller Testsystem für bestückte und unbestückte Leiterplatten

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE7031416U (de) * 1970-08-21 1971-04-29 Siemens Ag Vorrichtung zur elektrischen pruefung von gedruckten schaltungsplatten.
DE2933862A1 (de) * 1979-08-21 1981-03-12 Paul Mang Vorrichtung zur elektronischen pruefung von leiterplatten.
DE8023908U1 (de) * 1980-09-08 1981-07-30 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Adapter für die Leiterplattenprüfung
DE3142817A1 (de) * 1980-10-30 1982-07-08 Everett/Charles, Inc., 91730 Rancho Cucamonga, Calif. Uebertragungseinrichtung, test-spannvorrichtung mit uebertragungseinrichtung und verfahren zur bildung einer uebertragungseinrichtung

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE7031416U (de) * 1970-08-21 1971-04-29 Siemens Ag Vorrichtung zur elektrischen pruefung von gedruckten schaltungsplatten.
DE2933862A1 (de) * 1979-08-21 1981-03-12 Paul Mang Vorrichtung zur elektronischen pruefung von leiterplatten.
DE8023908U1 (de) * 1980-09-08 1981-07-30 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Adapter für die Leiterplattenprüfung
DE3142817A1 (de) * 1980-10-30 1982-07-08 Everett/Charles, Inc., 91730 Rancho Cucamonga, Calif. Uebertragungseinrichtung, test-spannvorrichtung mit uebertragungseinrichtung und verfahren zur bildung einer uebertragungseinrichtung

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3539931A1 (de) * 1985-11-11 1987-05-14 Wagner Hans Juergen Einrichtung zum pruefen von leiterplatten
US4851765A (en) * 1986-09-08 1989-07-25 Mania Elektronik Automatisation Entwicklung Und Geratebau Gmbh Apparatus for electrically testing printed circuit boards having contact pads in an extremely fine grid
US4952872A (en) * 1986-09-08 1990-08-28 Mania Elektronik Automatisation Entwicklung Und Geratebau Gmbh Apparatus for electrically testing printed circuit boards having contact pads in an extremely fine grid
DE9206126U1 (de) * 1992-05-07 1992-06-25 Hewlett-Packard GmbH, 7030 Böblingen Testvorrichtung für elektronische Leiterplatten
US5367252A (en) * 1992-05-07 1994-11-22 Hewlett-Packard Company Test fixture for electronic circuit boards

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