DE3318765A1 - SIGNAL PROCESSING CIRCUIT FOR A TELEVISION CAMERA WITH A MATRIX IMAGE DETECTOR - Google Patents
SIGNAL PROCESSING CIRCUIT FOR A TELEVISION CAMERA WITH A MATRIX IMAGE DETECTORInfo
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Description
75008 Paris /Frankreich75008 Paris / France
Unser Zeichen: T 3613Our reference: T 3613
Signalverarbeitungsschaltung für eine Fernsehkamera mit einem MatrixbilddetektorSignal processing circuit for a television camera with a matrix image detector
Die Erfindung betrifft allgemein das Gebiet der Fersehkamefas mit Matrixbilddetektoren, z.B. solche mit einem Festkörper-Schieberegister-LadungsVerschiebeelement (sogenanntes CCD-Register).The invention relates generally to the field of television cameras with matrix image detectors, e.g. those with a solid state shift register charge shift element (so-called CCD register).
Derartige Detektoren sind· wegen der sehr großen Feinheit der Schaltungselementmuster, aus denen sie gebildet sind, sehr schwierig herzustellen, und es kommt häufig vor, daß Punkte oder gar Linien oder ganze Spalten von Punkten · des Detektors fehlerhaft sind und bei der Wiedergabe eines durch die Kamera aufgenommenen Bildes auf einem Bildschirm zu Punkten, Zeilen oder Spalten von schwarzen oder hellen, festliegenden Punkten führen, die für das Auge unangenehm sind.Such detectors are · because of their very great fineness the circuit element patterns from which they are formed are very difficult to manufacture, and it often occurs that points or even lines or entire columns of points · of the detector are faulty and when a image captured by the camera on a screen lead to points, rows or columns of black or light, fixed points which are unpleasant to the eye are.
Wenn ein Festkörpersensor, sobald er einen oder mehrere örtliche Fehler aufweist, nicht als Ausschuß eingestuft-If a solid-state sensor, as soon as it exhibits one or more local defects, is not classified as reject-
HD/blHD / bl
werden soll, können seine Fehler durch eine Verarbeitung des von ihm abgegebenen Signals behoben werden, z.B. durch Ersetzen des Signals eines fehlerhaften Punktes durch das Signal eines (fehlerfreien). Punktes, der diesem fehlerhaften Punkt vorausgeht, oder durch den Mittelwert der Signale des vorausgehenden und dessen nachfolgenden Punktes.should be, its errors can be corrected by processing the signal it emits, e.g. by replacing the signal of a faulty point with the signal of a (faultless) one. Point that this faulty point precedes, or by the mean value of the signals of the preceding and its following Point.
Zu diesem Zweck wird für einen gegebenen Sensor die genaue Stelle jedes fehlerhaften Punktes bezeichnet. Da der Bildsensor matrixartig aufgebaut ist, sind die fotoempflindlichen Elemente gemäß einem Gitter aus Zeilen und Spalten angeordnet, und jedes fehlerhafte Element kann durch eine Zeilenadresse und eine Spaltenadresse bezeichnet werden.For this purpose, the exact location of each defective point is identified for a given sensor. There the image sensor is built up like a matrix, the photo-sensitive Elements arranged according to a grid of rows and columns, and each defective element can be designated by a row address and a column address.
Diese Adressen werden in einem nicht flüchtigen Speicher aufgezeichnet, und zwar für aufeinanderfolgende Positionen in der Reihenfolge der bei der Abtastxing der fotoempfindliehen Oberfläche angetroffenen fehlerhaften Punkte.These addresses are recorded in non-volatile memory for successive positions in the order of the defective points encountered in scanning the photosensitive surface.
Jedem Sensor, und folglich jeder Kamera, entspricht somit ein progranunierbarer nicht flüchtiger Speicher (PROM-Speicher)., der die Adressen der jeweiligen fehlerhaften Punkte dieser Kamera enthält.Every sensor, and consequently every camera, corresponds to a programmable non-volatile memory (PROM memory). Which contains the addresses of the respective defective points of this camera.
Während des Betriebs der Kamera wird das auf den Sensor projizierte Bild Zeile für Zeile und Punkt für Punkt in jeder Zeile abgetastet. Der PROM-Speicher liefert anfangs die Adresse des ersten fehlerhaften Punktes. Diese Adresse wird fortwährend mit der Adresse des laufenden abgetasteten Punktes verglichen, also mit der Adresse des Punktes, der zu einem gegebenen Zeitpunkt durch die Signalverarbeitungsschaltung der Kamera verarbeitet wird. Wenn Übereinstimmung festgestellt wird, wird ein Korrekturbefehl ausgegeben, und der Speicher wird so angesteuert, daß er die Adresse des darauffolgenden fehlerhaften Punktes liefert. Zu diesem Zweck wird die Adresse des Speichers inkrementiert,.wodurch die Spei-During the operation of the camera, the image projected onto the sensor is displayed line by line and point by point in scanned every line. The PROM memory initially supplies the address of the first faulty point. These Address is continuously compared with the address of the current scanned point, i.e. with the address of the point being processed by the signal processing circuitry of the camera at a given time will. If a match is found, a correction command is issued and the memory becomes so driven so that it supplies the address of the subsequent faulty point. For this purpose, the The address of the memory is incremented, whereby the memory
cheradresse auf die nächste Speicherposition fortgeschaltet wird. Diese Inkrementierung wird jedesmal erneuert, wenn ein fehlerhafter Punkt angetroffen wird, bis zum Ende der Bildabtastung. Der Speicher wird bei der Abtastung jedes neuen Bildes auf seine erste Position wieder initiert.Memory address advanced to the next memory position will. This incrementation is renewed every time a faulty point is encountered, until the end of the image scan. The memory is moved to its first position as each new image is scanned re-initiated.
Ein Mangel dieser Verarbeitungsweise besteht darin, daß, wenn eine ganze Spalte von Punkten fehlerhaft ist, in den Speicher nicht lediglieh eine globale Spaltenadresse geschrieben werden kann: jeder Punkt dieser Spalte muß einzeln eingeschrieben werden.A shortcoming of this manner of processing is that if an entire column of points is in error, the the memory is not just a global column address can be written: each point in this column must be written individually.
Das auf fehlerhaften Punkten beruhende Signal kann nämlieh nur Punkt für Punkt im Verlaufe der Abtastung korrigiert werden, und nicht etwa für eine Gruppe von Spaltenpunkten, denn während der Bildabtastung folgen die Spaltenpunkte nicht aufeinander. Es kann somit nicht von einem Punkt der Spalte zu einem darauffolgenden Punkt der selben Spalte übergegangen werden, ohne zuvor die anderen fehlerhaften Punkte in der Reihenfolge der Bildabtastung untersucht zu haben, die zeilenweise erfolgt.Namely, the signal based on faulty points can can only be corrected point by point in the course of the scan, and not for a group of Column points, because follow during the image scanning the column points are not on top of each other. It cannot move from one point in the column to another Item in the same column can be passed over without first removing the other incorrect items in the sequence to have examined the image scanning, which is done line by line.
Wenn der Bildsensor z.B. 500 Zeilen und 500 Spalten umfaßt (250.000 Elemente), so wird jede Punktadresse z.B. in ein 10 Bit-Zeilenadreßwort und ein 10 Bit-Spaltenadreßwort zerlegt.For example, if the image sensor comprises 500 rows and 500 columns (250,000 elements), each dot address is e.g. into a 10 bit row address word and a 10 bit column address word disassembled.
Wenn 20 isolierte Punkte fehlerhaft sind, müssen 20 Adressen zu 20 Bits (400 Bits) gespeichert werden. Wenn ferner zwei Spalten fehlerhaft sind, so müssen nicht etwa zwei Spaltenadressen (2 X 10 Bits) in dem PROM-Speicher gespeichert werden, sondern 2 X 500 Punktadressen (2 X 500 X 20 Bits), also etwa 20.000 Bits. Insgesamt müssen 2O.400 Bits in dem programmierbaren Speicher gespeichert werden, wenn 20 isolierte Punkte und zwei Spalten fehlerhaft sind. Die Kapazität desIf 20 isolated points are faulty, then 20 Addresses of 20 bits (400 bits) can be stored. Furthermore, if two columns are incorrect, then must not about two column addresses (2 X 10 bits) are stored in the PROM memory, but 2 X 500 point addresses (2 X 500 X 20 bits), so about 20,000 bits. A total of 20,400 bits must be in the programmable Memories are saved when 20 isolated points and two columns fail. The capacity of the
BAD ORIGINALBATH ORIGINAL
Speichers muß also sehr hoch sein, wenn eine Spalte fehlerhaft ist.So memory must be very high if a column is faulty.
Durch die Erfindung wird eine Verarbeitung;.;£ichaltung § geschaffen, die diesen Mangel behebt und es ermöglicht, in dem programmierbaren Speicher die Adressen von ganzen fehlerhaften Spalten zu speichern, ohne die Zeilen- und Spalten-Adressen aller Punkte dieser Spalten zu speichern.The invention enables processing § created that remedies this deficiency and makes it possible to store the addresses of all in the programmable memory to save incorrect columns without having to change the row and column addresses of all points in these columns to save.
··
Zu diesem Zweck wird dem nicht flüchtigen programmierbaren Speicher (PROM) ein flüchtiger Speicher (RAM) zugeordnet, und Fehlerkorrekturbefehle werden ausgegeben entweder aus dem PROM-Speicher, der die AdressenFor this purpose, the non-volatile programmable memory (PROM) is a volatile memory (RAM) and error correction commands are issued either from the PROM memory, which contains the addresses
jg von isolierten fehlerhaften Punkten enthält und bei jedem Bild zyklisch abgefragt wird, wobei die Adressierung dieses Speichers bei jedem Antreffen eines fehlerhaften Punktes inkrementiert wird, oder aus dem RAM-Speicher, der die Adressen von ganzen fehlerhaften Spalten ent-jg of isolated bad points and at every image is queried cyclically, the addressing of this memory each time a faulty one is encountered Point is incremented, or from the RAM memory, which contains the addresses of entire defective columns.
2Q hält und zyklisch bei jeder Zeile abgefragt wird, wobei die Adressierung dieses Speichers bei jedem Vorbeigehen an einer fehlerhaften Spalte inkrementiert wird. Die Adressen von ganzen fehlerhaften Spalten werden in den PROM-Speicher eingeschrieben und in den RAM-Speicher entweder beim Anlegen der Betriebsspannung oder wiederholt bei Beginn jedes Bildes überführt. 2Q holds and is queried cyclically for each row, the addressing of this memory being incremented each time an incorrect column is passed. The addresses of entire defective columns are written into the PROM memory and transferred to the RAM memory either when the operating voltage is applied or repeatedly at the beginning of each image.
Die zyklische zeilenweise Abtastung des RAM-Speichers bewirkt, daß in diesem Speicher (und folglich in dem QQ PROM-Speicher, aus dem die Informationen entnommen werden) keine andere Informationen aufgezeichnet werden müssen als die Adressen von fehlerhaften Spalten (1.0 Bit pro fehlerhafter Spalte).The cyclic line-by-line scanning of the RAM memory has the effect that in this memory (and consequently in the QQ PROM memory from which the information is taken) no information other than the addresses of faulty columns (1.0 bit per faulty column).
3g Auf diese Weise kann nicht nur der PROM-Speicher auf die Kapazität vermindert werden, die für das Aufzeichnen der Adressen von"fehlerhaften isolierten Punkten erforderlich ist, sondern es ist auch nicht notwendig, einen3g In this way, not only the PROM memory can the capacity required for recording the addresses of "defective isolated points" can be reduced is, but it is also not necessary to have one
zweiten PROM-Speicher vorzusehen, um die Adressen von fehlerhaften Spalten getrennt aufzuzeichnen.second PROM memory to be provided to store the addresses of record faulty columns separately.
Zu diesem Zweck umfaßt die erfindungsgemäße Schaltung:To this end, the circuit according to the invention comprises:
- einen nicht flüchtigen programmierbaren Speicher;- a non-volatile programmable memory;
- einen ersten Vergleicher zum Vergleichen des Inhalts des Speichers mit der Adresse des laufenden abge- '- a first comparator for comparing the contents of the memory with the address of the current expired '
]q tasteten Punktes und zum Ausgeben eines .Korrektursteuersignals im Fall des übereinstimmens des Speicherinhalts mit dieser Adresse;] q sampled point and for outputting a correction control signal in the case of the same memory content with this address;
- einen flüchtigen Speicher, der an den nicht flüchtigen Speicher angekoppelt ist, um die Adressen von ganzen fehlerhaften Spalten aufzuzeichnen, die in dem nicht flüchtigen Speicher enthalten sind;- a volatile memory that is attached to the non-volatile Memory is coupled to record the addresses of entire defective columns that are not in the volatile memory is included;
- einen zweiten Vergleicher zum Vergleichen des Inhalts des flüchtigen Speichers mit einer laufenden Spaltenadresse, die einem abgetasteten Punkt entspricht, zum Liefern eines Korrektursteuersignals, wenn der Speicherinhalt mit dieser Adresse übereinstimmt;- A second comparator for comparing the content of the volatile memory with a current column address, corresponding to a sampled point for providing a correction control signal when the memory contents matches this address;
- einen Steuerschaltung zur Steuerung des flüchtigen Speichers zum Inkrementieren der Adressierung dieses Speichers nach jeder durch den zweiten Vergleicher festgestellten Übereinstimmung, damit diese Adressierung ■ bei jeder abgetasteten Zeile auf einen Anfangswert zurückgesetzt wird, und zur anfänglichen Aufzeichnung der Adressen von ganzen fehlerhaften Spalten in dem flüchtigen Speicher.- A control circuit for controlling the volatile Memory for incrementing the addressing of this memory after each by the second comparator detected match, so that this addressing ■ for each scanned line to an initial value is reset, and to initially record the addresses of entire defective columns in the volatile memory.
Die anfängliche übertragung aus dem PROM-Speicher in den RAM-Speicher kann während des Teilbildrücklaufs erfolgen, am Ende einer. Bildabtastung und vor dem Beginn der darauffolgenden Abtastung. Eine Folgesteuerung bewirkt dabei die systematische Überführung der Adressen von ganzen fehlerhaften Spalten (die als solche z.B. durch einThe initial transfer from the PROM memory to the RAM memory can be done during the field reversal, at the end of a. Image sampling and before the beginning of the next Scanning. Sequential control effects the systematic transfer of addresses from whole incorrect columns (which as such are e.g.
BAD ORiGiMALBAD ORiGiMAL
spezifisches Bit bezeichnet sind) oder eine überführung einer ganzen Zone des PROM-Speichers,· die für die Speicherung der Adressen von ganzen fehlerhaften Spalten reserviert ist.specific bit) or an overpass an entire area of the PROM memory, which is used to store the addresses of entire faulty columns is reserved.
Die überführung kann auch im Verlauf der Abtastung der ersten Zeile erfolgen: unter den fehlerhaften Punkten der ersten Zeile befinden sich bestimmte Punkte, die isoliert sind. Andere Punkte, die z.B. durch ein spezifisches Bit bezeichnet sind, entsprechen Adressen von den ganzen fehlerhaften Spalten, die in dem RAM-Speicher gespeichert sind, um diese Spalten ausgehend von dem RAM-Speicher zu korrigieren, und nicht von dem PROM-Speicher ausgehend, während die darauffolgenden Zeilen . abgetastet werden.The transfer can also be carried out in the course of the scanning first line: under the incorrect points of the first line there are certain points that are isolated. Other points, for example indicated by a specific bit, correspond to addresses of all the faulty columns stored in the RAM memory to eliminate these columns based on the Correct RAM memory and not starting from PROM memory during the following lines . are scanned.
Weitere Vorteile und Merkmale der Erfindung ergeben sich aus der folgenden Beschreibung von Ausführungsbeispielen und aus der Zeichnung, auf die Beziig ge nonane η wird. Die einzige Figur der Zeichnung zeigt ein Blockschaltbild einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen Korrektursteuerschaltung. Further advantages and features of the invention result from the following description of exemplary embodiments and from the drawing to which reference becomes nonane η. The only figure in the drawing shows a block diagram an embodiment of the correction control circuit according to the invention.
Die Adressen von fehlerhaften Punkten sind in einem programmierbaren, nicht flüchtigen Speicher (PROM) 10 eingeschrieben. Dieser PROM-Speicher 10 wird durch eine Steuerschaltung 12 gesteuert, die es insbesondere ermöglicht, einen Adressenzähler 14 dieses Speichers zu inkrementieren oder auf Null zurückzusötzen. Dieser Zähler 14 bezeichnet nacheinander die Adressen des PROM-Speichers, die ausgelesen werden sollen. In der folgenden Beschreibung muß darauf geachtet werden, daß die Adressen des PROM-Speichers 10 nicht mit den Adressen von fehlerhaften Punkten oder fehlerhaften Spalten verwechselt werden, die an diesen Adressen des Speichers 10 gespeichert sind.The addresses of faulty points are in a programmable, non-volatile memory (PROM) 10 enrolled. This PROM memory 10 is controlled by a control circuit 12, which it in particular enables an address counter 14 of this memory to be incremented or reset to zero. This Counter 14 successively designates the addresses of the PROM memory which are to be read out. In the The following description must ensure that the addresses of the PROM memory 10 do not match the Addresses of bad points or bad columns are confused which are at these addresses of the Memory 10 are stored.
Im Verlaufe der Bildabtastung bezeichnet der ZählerIn the course of the image scan, the counter denotes
^ no -^ no -
zu einem gegebenen Zeitpunkt eine Adresse des PROM-Speichers 10. An dieser Adresse .ist die Bezeichnung des nächsten fehlerhaften Punktes gespeichert. Diese Bezeichnung, z.B. 10 Zeilenadreßbits und 10 Spaltenadreßbits, erscheint also am Ausgang des Speichers 10 und kann in ein Zeilenadreßregister 16 und ein Spaltenadreßregister 18 eingeschrieben werden.at a given point in time an address of the PROM memory 10. At this address. is the designation of the next faulty point saved. This designation, e.g. 10 row address bits and 10 column address bits, so appears at the output of the memory 10 and can be in a row address register 16 and a column address register 18 can be enrolled.
Auf die Wortorganisation des Speichers 10 wird hier IQ nicht näher eingegangen. Es wird angenommen, daß die Wörter 11 Bit-Wörter sind (10 Zeilen- oder Spalten-Adreßbits und' evtl. ein elftes Bit, dessen Zweck noch angegeben wird); zwei aufeinanderfolgende Wörter werden bei jeder Inkrementierung des Zählers 14 ausgelesen, wovon das erste Wort (Zeilenadresse) in das Register 16 und das zweite Wort (Spaltenadresse) in das Register 18 durch eine Entmultiplexierschaltung 20 eingegeben wird, die durch die Schaltung 12 gesteuert wird. Bei diesen Wörtern kann es sich um 8 Bit-Wörter handeln, während 1° Bit-Wörter erforderlich sind, um eine Zeile oder eine Spalte zu codieren; in einem solchen Falle müssen für jeden fehlerhaften Punkt drei Wörter ausgelesen werden, so daß die Entmultiplexierschaltung etwas umfangreicher wird.The word organization of the memory 10 is not discussed in detail here IQ. It is assumed that the words are 11 bit words (10 row or column address bits and possibly an eleventh bit, the purpose of which is to be given); two successive words are read out with each increment of the counter 14, of which the first word (row address) is input into the register 16 and the second word (column address) into the register 18 by a demultiplexing circuit 20 which is controlled by the circuit 12. These words can be 8 bit words while 1 ° bit words are required to encode a row or column; in such a case three words have to be read out for each faulty point, so that the demultiplexing circuit becomes somewhat more extensive.
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Die in den Registern 16 und 18 enthaltenen Adressen werden dauernd in Vergleichern 22 und 24 mit der laufenden (Zeilen- und Spalten-) Adresse des abgetasteten Punktes verglichen, also des Punktes, der gerade durch die Signalverarbeitungsschaltung des Festkörpersensors der Kamera verarbeitet wird. Diese Adresse wird leicht aus der Signalverarbeitunsschaltung gewonnen, da dieser Sensor vom Matrixtyp ist.The addresses contained in the registers 16 and 18 are permanently stored in comparators 22 and 24 with the current one (Row and column) address of the scanned point compared, i.e. the point that has just passed through the signal processing circuitry of the solid-state sensor of the camera is processed. This address will be easy obtained from the signal processing circuit, since this The sensor is of the matrix type.
Wenn eine Übereinstimmung zwischen der Adresse des fehlerhaften Punktes, die zu einem gegebenen Zeitpunkt durch den Speicher 10 ausgegeben wird, und der Adresse des laufenden abgetasteten- Punktes festgestellt wird,If there is a match between the address of the bad point at a given time is output by the memory 10, and the address of the current scanned point is determined,
wenn also die beiden Vergleicher 22 und 24 gleichzeitig ein Koinzidenzsignal an eine AND-Sghaltung 26 abgeben, so wird ein Korrektursteuerbefehl am Ausgang dieser Schaltung abgegeben und gelangt über eine OR-Schaltung 28 zum Ausgang S der in der Zeichnung gezeigten Schaltung, um zu dem übrigen Signalverarbeitungsteil der Schaltung (nicht dargestellt) zu gelangen, der dann die erforderliche Korrektur durchführt (Ersetzen des diesem fehlerhaften Punkt entsprechenden Signals durch das Signal des vorausgehenden Punktes oder durch den Mittelwert des vorausgehenden Punktes und des darauffolgenden Punktes). Die Anwesenheit eines Koinzidenzsignals am Ausgang der AND-Schaltung 26 steuert gleichzeitig die Inkrementierung des Zählers 14 über die Steuerschaltung 12, um in die Register 16 und 18 die Adresse des darauffolgenden fehlerhaften Punktes einzuschreiben, usw. bis zum Ende eines Bildes. Ein bildfrequentes Signal Fi ermöglicht die Nullrücksetzung des Zählers 14, um für die darauffolgende Ablenkung die Position des ersten fehlerhaften Punktes des Bildes anzugeben.So if the two comparators 22 and 24 simultaneously output a coincidence signal to an AND gate 26, a correction control command is issued at the output of this circuit and is passed through an OR circuit 28 to the output S of the circuit shown in the drawing, to the remaining signal processing part of the Circuit (not shown) to get, which then carries out the necessary correction (replacement of this signal corresponding to the faulty point by the signal of the previous point or by the mean value of the previous point and the following point). The presence of a coincidence signal at the output of the AND circuit 26 simultaneously controls the incrementation of the counter 14 via the control circuit 12 to enter the address of the following in registers 16 and 18 to write in the faulty point, etc. to the end of a picture. A frame rate signal Fi enables resetting the counter 14 to zero in order to determine the position of the first faulty one for the subsequent deflection Point of the image.
Gemäß der Erfindung enthält der PROM-Speicher 10 im wesentlichen die Adressen von isolierten fehlerhaften Punkten. Wenn eine ganze Spalte fehlerhaft ist, wird nur die Adresse dieser Spalte (oder des ersten Punktes dieser Spalte), und nicht etwa die Adressen aller Punkte dieser Spalte, in dem PROM-Speicher gespeichert, und zwar in Form einer 10 Bit-Adresse und evtl. eines elften Bits, welches angibt, ob es sich um eine ganze fehlerhafte Spalte handelt.According to the invention, the PROM memory 10 essentially contains the addresses of isolated defective ones Points. If an entire column is incorrect, only the address of this column (or the first point this column), and not the addresses of all points in this column, stored in the PROM memory, and in the form of a 10-bit address and possibly an eleventh bit, which indicates whether it is a completely faulty one Column is.
Ein flüchtiger Speicher (RAM 30) ist mit dem Ausgang des Registers 18 verbunden, um die Adressen von ganzen fehlerhaften Spalten aufzuzeichnen, die entweder durch das elfte Bit oder durch ihre Anordnung in einer besonderen Zone des PROM-Speichers 10 bezeichnet sind.A volatile memory (RAM 30) is connected to the output of the register 18 in order to store the addresses of whole erroneous Record columns by either the eleventh bit or by arranging them in a particular Zone of the PROM memory 10 are designated.
Ein Zähler 32 steuert die Adressierung des RAM-SpeichersA counter 32 controls the addressing of the RAM memory
30, sowohl beim Einschreiben als auch beim Auslesen, und eine Steuerschaltung 34 steuert die Inkrementierung und die Nullrücksetzung dieses Zählers sowie den Lese/ Schreib-Betrieb des RAM-Speichers 30. Eine Folgesteuerung 36 steuert die Steuerschaltungen 1.2 und 34 des Speichers 10 und des Speichers 30, um die Leseoder Schreib-Zeitpunkte während des Betriebs der Schaltung festzulegen.30, both for writing in and for reading out, and a control circuit 34 controls the incrementation and the resetting of this counter to zero and the read / write operation of the RAM memory 30. Sequence control 36 controls the control circuits 1.2 and 34 of the memory 10 and the memory 30 to read or Set writing times during the operation of the circuit.
Wenn die Betriebsspannung angelegt wird, oder bei einer bevorzugten Ausfuhrungsform zu Beginn oder vor dem Beginn der Abtastung jedes Feldes, legt die Folgesteuerung eine Überführungsperiode zur Überführung der Adressen von ganzen fehlerhaften Spalten, die in dem nicht flüchtigen Speicher 10 enthalten sind, in den flüchtigen Speicher 30 fest.When the operating voltage is applied, or in a preferred embodiment at the beginning or before the beginning As each field is scanned, the sequencer sets a transition period for the addresses to transition from entire defective columns contained in the non-volatile memory 10 to the volatile ones Memory 30 fixed.
Beispielsweise kann die Folgesteuerung während des Teilbildrücklaufs ein bildfrequentes Signal Fi empfangen, um eine Schreibperiode zum Einschreiben in den RAM-Speicher 30 auszulösen. Während dieser Periode werden alle Adressen, die' in einer bestimmten Zone des ROM-Speichers gespeichert sind, in den RAM-Speicher'überführt; gemäß einer anderen Ausführungsform werden alle Spaltenadressen, die durch ihr elftes Bit bezeichnet sind (dessen Lage innerhalb des Wortes im übrigen beliebig sein kann), in den RAM-Speicher 3O überführt. Die überführung erfolgt mit einer möglichst hohen Frequenz f, unter Berücksichtigung der Leistungsfähigkeit der Speicher und 30 (z.B. mit der Frequenz f = 1,1 MHz; die Zähler und 32 werden während der Überführung mit dieser Frequenz inkrementiert) .For example, the sequencer can be used during the field reversal received a frame rate signal Fi to set a write period for writing in the RAM memory 30 trigger. During this period, all addresses that are 'in a certain zone of ROM memory are stored, transferred to the RAM memory; According to another embodiment, all column addresses are which are designated by their eleventh bit (its position within the word can otherwise be arbitrary can), transferred to the RAM memory 3O. The overpass takes place with the highest possible frequency f, taking into account the capacity of the memory and 30 (e.g. with the frequency f = 1.1 MHz; the counters and 32 will be at this frequency during the transfer incremented).
Gemäß einer weiteren Ausführungsform erfolgt diese überführung nicht während des Teilbildrücklaufs, sondern während der ersten Abtastzeit des Bildes: Bei dieser Ausführungsform wird in dem ROM-Speicher die Adresse einer fehlerhaften Spalte an der Stelle angeordnet, woAccording to a further embodiment, this transfer takes place not during the field return, but during the first scanning time of the image: In this case Embodiment becomes in the ROM memory the address a faulty column arranged at the point where
die Adresse des ersten fehlerhaften Punktes dieser Spalte angeordnet werden würde/ wenn alle fehlerhaften Punkte als isolierte Punkte betrachtet würden. Die anderen Punkte der vollständig fehlerhaften Spalten werden in dem Speicher nicht abgespeichert, und der erste Punkt einer ganzen fehlerhaften Spalte wird als solcher durch ein elftes Bit in dem Adreßwort dieser Saplte bezeichnet, wobei dieses elfte Bit aus dem Register 18 zu einer Steuerschaltung 34 des RAM-Speichers über eine Verbindungsleitung 19 übertragen wird. Während der ersten Abtastzeile des Bildes werden z.B. nacheinander in dem Speicher 10 eine Adresse eines isolierten fehlerhaften Punktes und ein Punkt einer vollständig fehlerhaften Zeile angetroffen. Dieser Punkt, der als solcher durch ein elftes Bit in dem Register 18 bezeichnet ist, erzwingt das Einschreiben der entsprechenden Spaltenadresse in den RAM-Speicher 30, und gleichzeitig wird ein Korrketurbefehl durch die Koinzidenzsignale am Ausgang der Vergleicher 22 und 24 ausgegeben, während gleichzeitig ferner die Adressierung der beiden Speicher 10 und 30 durch die Zähler 14, 32 um eine Einheit unter Steuerung durch die Schaltungen 12 und 34 ausgeführt wird. Anschließend wird die Analyse der ersten Bildzeile fortgeführt, wobei z.B. der erste Punkt einer fehlerhaften Spalte angetroffen wird. Die in dem Register 18 vorhandene Adresse dieser zweiten Spalte wird an der zweiten Position des RAM-Speichers aufgezeichnet. Am Ende der ersten Zeile befinden sich die Adressen von ganzen fehlerhaften Spalten in dem RAM-Speicher. the address of the first bad point of this column would be placed / if all bad points would be considered as isolated points. The other points of the completely bad columns are in not stored in memory, and the first point of an entire faulty column is recognized as such an eleventh bit in the address word of this column denotes, this eleventh bit from register 18 to a Control circuit 34 of the RAM memory is transmitted via a connecting line 19. During the first scan line of the image, for example, successively in the memory 10 an address of an isolated defective one Period and a period of a completely faulty line encountered. This point through as such an eleventh bit is designated in the register 18, forces the writing of the corresponding column address in the RAM memory 30, and at the same time a correction command is given by the coincidence signals am Output of the comparators 22 and 24 output, while at the same time also addressing the two memories 10 and 30 are executed by the counters 14, 32 by one unit under the control of the circuits 12 and 34 will. The analysis of the first image line is then continued, whereby e.g. the first point is a bad column is encountered. The address of this second column in register 18 is recorded in the second position of the RAM memory. At the end of the first line are the Addresses of entire defective columns in the RAM memory.
Unabhängig von der Art der Aufzeichnung, die in einem flüchtigen RAM-Speicher durchgeführt wird, wird dieser Speicher anschließend mit einer zyklischen Periode ausgelesen, die der Zeilenabtastfrequenz (Fh) entspricht, d.h. der Zähler 32 wird bei jedem Zeilenbeginn auf Null zurückgesetzt, um auf die erste Position des RAM-Speichers zurückgestellt zu werden.Regardless of the type of recording that is in one volatile RAM memory is carried out, this memory is then read out with a cyclical period, which corresponds to the line scanning frequency (Fh), i.e. the counter 32 is incremented at the beginning of each line Reset to zero to be reset to the first position in RAM memory.
Der Ausgang des RAM-Speichers 30 ist mit einem Vergleicher 38 verbunden, der ferner die laufende Spaltenadresse des Punktes empfängt, der durch die Signalverarbeitungsschaltung abgetastet wird. Wenn Koinzidenz zwischen dem Speicherinhalt und dieser Spaltenadresse besteht, liefert der Vergleicher 38 einen Korrekturbefehl über die OR-Schaltung 28 zum Ausgang S der Schaltungsanordnung, und ein Inkrementierbefehl zum Hochzahlen des Zählers wird an die Schaltung 34 abgegeben.The output of the RAM memory 30 is provided with a comparator 38, which also receives the current column address of the point identified by the signal processing circuit is scanned. If there is coincidence between the memory content and this column address, returns the comparator 38 sends a correction command via the OR circuit 28 to the output S of the circuit arrangement, and an increment command for incrementing the counter is output to circuit 34.
Unmittelbar nach der zweiten Abtastzeile und bei jeder darauffolgenden Zeile bis zum Ende der Abtastung eines Bildes wird also die Spaltenadresse der ersten ganzen fehlerhaften Spalte durch den'RAM-Speicher 30 ausgegeben. Wenn diese Spalte angetroffen wird, wird ein Korrekturbefehl ausgegeben, der Zähler 32 wird inkrementiert, und die Adresse der darauffolgenden fehlerhaften Spalte wird ausgegeben. Am Ende der Zeile wird der Zähler 32 systematisch wieder initiiert.Immediately after the second scan line and on each subsequent line until the end of the scan one The column address of the first entire defective column is output by the RAM memory 30 in the image. If this column is encountered, a correction command is issued, the counter 32 is incremented, and the address of the next incorrect column is output. At the end of the line, the counter 32 becomes systematic initiated again.
..
Dieser Vorgang wird unabhängig von dem Aufsuchen isolierter fehlerhafter Punkte aus dem PROM-Speicher 10 und den Vergleichern 22, 24 fortgesetzt, wobei der PROM-Speicher seinerseits erst am Ende der Abtastung eines Bildes (Frequenz Fi) wieder initiiert wird, und nicht am Ende der Abtastung einer Zeile (Frequenz Fh).This process becomes more isolated regardless of the visit defective points from the PROM memory 10 and the comparators 22, 24 continued, the PROM memory in turn, is only initiated again at the end of the scanning of an image (frequency Fi), and not at the end of the scan of a line (frequency Fh).
Es ist zu betonen, daß die beschriebene Schaltungsanordnung gewünschtenfalls auch eine leichte Korrektur einer ganzen Zeile von fehlerhaften Punkten ermöglicht, indem in den PROM-Speicher 10 lediglich die Adresse des ersten Punktes dieser Zeile oder nur die Adresse dieser Zeile eingeschrieben wird, wobei durch ein spezifisches zusätzliches Bit angegeben wird, daß es sich um eine ganze fehlerhafte Zeile handelt. Dieses Bit kann in die Signalverarbeitungsschaltung überführt werden, um die Ersetzung des einer ganzen Zeile entsprechenden Signals durch das verzögerte Signal der vorausgehendenIt should be emphasized that the circuit arrangement described also allows a slight correction, if desired allows a whole line of defective points by only the address of the in the PROM memory 10 first point of this line or only the address of this line is written, with a specific additional bit indicates that it is a whole faulty line. This bit can be used in the signal processing circuit can be transferred to the replacement of the corresponding to an entire line Signal through the delayed signal of the previous one
1 Zeile oder durch den Mittelwert der vorausgehenden Zeile und der darauffolgenden Zeile auszulösen.1 line or by the mean value of the previous line and the following line.
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