DE3131390A1 - Verfahren und vorrichtung zur aufzeichnung eines halbtonbildes durch abtastung - Google Patents

Description

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BESCHREIBUNG

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Aufzeichnung eines Halbtonbildes durch Abtastung und richtet sich insbesondere auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Aufzeichnung eines Halbtonbildes, bei weichem jede Halbtonpunktfläche in eine Anzahl von Teilbereichen unterteilt und der Halbtonpunkt so aufgezeichnet wird, daß jeder Teilbereich sein eigenes Halbtonpunktflachenverhältnis entsprechend der zugehörigen Gradationsvariation der wiederzugebenden Bildvorlage haben kann, um so das Auflösungsvermögen für das Halbtonbild zu erhöhen.

Bei herkömmlichen Büdreproduktionsmaschinen, wie Farbscannern oder Farbfakimiles für die Plattenherstellung wird, anstatt einen Halbtonkontaktraster zu verwenden, ein Halbtonpunktsignal elektrisch erzeugt und dann unter Verwendung des Halbtonpunktsignals ein Halbtonpunkt aufgezeichnet, dessen

Halbtonpunktflächenverhältnis abhängig von einem von einer c

Bildvorlage abgenommenem Bildsignal gesteuert wird, und so '"*·■

ein Halbtonbild aufgezeichnet.

Bei dem herkömmliehen Verfahren wird das Halbtonpunktflächenverhältnis jedes Halbtonpunktes im wesentlichen durch den mittleren Dichtewert der einzelnen Bildelemente gesteuert, der als Bildsignal betrachtet wird und von der Breite einer Abtastlinie und dem Abtastschritt abhängt, wenn ein Bildsignal durch Abtasten einer Bildvorlage fotoelektrisch abgenommen wird. Das Auflösungsvermögen für das Reproduktionsbild ist in diesem Fall jedoch niedrig.

Zur Verbesserung des Auflösungsvermögens wird die Halbtonpunktfläche in eine Anzahl von Teilbereichen unterteilt und teilbereichsweise aufgezeichnet. Beispielsweise wird jeder Teilbereich bzw. jedes Bildelement gedruckt oder nicht gedruckt, je nachdem, ob sein Bildsignalwert bzw. sein mittlerer Dichtewert oberhalb oder unterhalb-einer bestimmten Schwelle liegt. Der Halbtonpunkt wird aufgezeichnet,' indem die einzelnen Teilbe- ^*-

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reiche nacheinander mittels eines einzigen Lichtstrahls oder gleichzeitig unter Verwendung mehrerer Lichtstrahlen gedruckt bzw. kopiert werden.

Fig. 1 zeigt ein in herkömmlicher Weise hergestelltes Halbtonpunktmuster mit einem Halbtonpunktflächenverhältnis von 50 %, wobei jeder Halbtonpunktbereich durch Fünftelung sowohl in X- als auch in Y-Richtung in 25 Teilbereiche unterteilt ist und A, B und P Umriß, Breite einer Abtastlinie und Abtastschritt bezeichnen.

Bei diesem herkömmlichen Verfahren wird, wie Fig. 1 zeigt, der Halbtonpunkt in Stufenform aufgezeichnet. Das Auslegen · der Druckfarbe ist daher nicht sehr gut, so daß der Umriß des Halbtonpunktes nicht immer getreu wiedergegeben wird.

Bei dieser Ausführungsform kann, wie oben dargelegt, das Halbtonpunktflächenverhältnis der Teilbereichs des Halbtonpunktes nicht kontinuierlich mit dem Eingangsbildsignalwert verändert werden. Ferner ist, wenn der Halbtonpunkt Teilbereich für Teilbereich geschrieben wird, erhebliche Zeit erforderlich, während andererseits, wenn alle Teilbereiche des HaIbtonpunktes gleichzeitig geschrieben werden, mehrere Lichtstrahlen benötigt werden, was zur Folge hat, daß weitere akustooptische Elemente und Strahlenteiler erforderlich sind.

Zur Umgehung und Beseitigung der oben beschriebenen Nachteile und Unzuträglichkeiten wird gemäß der Erfindung ein HaIb- tonmuster eines Halbtonpunktflächenverhältnisses von 50 % erzeugt, bei welchem wie in Fig. T jede Halbtonpunktfläche durch Fünftelung sowohl in X- als auch in Y-Richtung in 25 Teilbereiche unterteilt wird, bei welchem aber der Umriß des Halbtonpunktes glatt und kontinuierlich reporduziert wird.

Aufgabe der Erfindung ist die Schaffung eines Verfahrens zur Aufzeichnung eines Halbtonbildes durch Abtastung, das obige Nachteile und Unzuträglichkeiten nicht aufweist, einfach und stabil sowie in der Lage ist, ein Halbtonbild genau, getreu und schnell zu reproduzieren, und darüberhinaus das Auflösungsvermögen für das Halbtonbild erhöht.

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Eine weitere Aufgabe der Erfindung ist die Schaffung eines Geräts zur Aufzeichnung eines Halbtonbildes durch Abtastung, das frei von den vorgenannten Unzuträglichkeiten und Nachteilen ist, einfach und stabil sowie in der Lage ist, ein Halbtonbild genau, getreu und schnell zu reproduzieren, und das darüberhinaus das Auflösungsvermögen für das Halbtonbild erhöht.

Bei einem Verfahren, bei welchem, wenn das Halbtonbild auf lichtempfindlichem Material mittels eines Lichtstrahls reproduziert wird, Helligkeit und Breite des Lichtstrahls durch ein durch Abtasten einer Bildvorlage gewonnenes Bildsignal geeignet gesteuert werden, wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, daß jede Halbtönpunktflache in eine Anzahl von Teilbereichen unterteilt und in jedem Teilbereich ein Halbtonpunkt abhängig von der Gradationsvariation in dem jeweiligen Teilbereich aufgezeichnet wird.

Das Gerät zur Aufzeichnung eines Halbtonbildes durch Ab-tastung, bei welchem, wenn das Halbtonbild auf lichtempfindliehern Material mittels eines Lichtstrahls reproduziert wird, Helligkeit und Breite des Lichtstrahls mittels eines durch Abtastung einer Bildvorlage, gewonnenen Bildsignals geeignet gesteuert werden, umfaßt erfindungsgemäß eine Einrichtung zur Erzeugung eines Umrißsignals aus einer Anzahl von Teilbereichsignalen, die durch Teilung einer Halbtonpunktfläche gewonnenen Teilbereichen entsprechen, eine Einrichtung zur Erzeugung eines Aufzeichnungssignals aus dem Umrißsignal und einem Rasterwinkelsignal, eine Einrichtung zur Erzeugung eines Breitensignals des Halbtonpunktes aus dem Aufzeichnungssignal, und eine Einrichtung zur Erzeugung eines Lagesignals des Halbtonpunktes aus dem Auf-Zeichnungssignal.

Im folgenden werden bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung in Verbindung mit der beigefügten Zeichnung beschrieben. Auf dieser zeigt:
Fig. 1 ein nach einem herkömmlichen Verfahren gewonnenes Halbtonpunktmuster eines Halbtönpunktflächenverhältnisses von 50 %, wobei jede Halbton-

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punktfläche durch Fünftelung sowohl in X- als auch in Y-Richtung in 25 Teilbereiche unterteilt ist,

Fig. 2 ein weiteres Halbtonpunktmuster eines HalbtonpunktflächenVerhältnisses von 50 % wie in Fig. \ gemäß der Erfindung,

Fig. 3 eine schematische perspektivische Ansicht der Abtasteinrichtung eines herkömmlichen Plattenherstellungs-Scanners zur Aufzeichnung eines Halbtonpunktes,

Fig. 4 die Beziehung zwischen Bildsignalwerten und einem Halbtonpunkt, der horizontal in 4 Teilbereiche in Abtastrichtung unterteilt ist und Teilbereich für Teilbereich ausgebildet wird,

Fig. 5 die Beziehung zwischen Bildsignalwerten und einem Halbtonpunkt, der vertikal in 4 Teilbereiche senkrecht zur Abtastrichtung unterteilt ist und Teilbereich für Teilbereich ausgebildet wird,

Fig. 6 eine weitere Blendenplatte mit W-förmiger Blendenöffnung, die anstelle einer Blendenplatte mit V-förmiger Blendenöffnung, wie sie in Fig. 3 gezeigt ist, verwendet wird,

Fig. 7 Beispiele von Umrißdaten der 4 vertikalen Teilbereiche zur Aufzeichnung eines Halbtonpunktes mit einem Halbtonpunktflächen verhältnis von 100 % in Bezug auf Adressen eines Speichers, wenn der Rasterwinkel 0°, 45 bzw. 15° beträgt,

Fig. 8 eine schematische Ansicht der ümrißdaten zur Aufzeichnung der oberen Hälfte des Halbtonpunktes mit einem Halbtonpunktflächenverhältnis von 100 %, wie sie in einem Speicher gespeichert sind, wenn der Rasterwinkel 15° beträgt,

Fig. 9 die Beziehung zwischen einem Bildsignalwert, von dem das Halbtonpunktflächenverhältnis des zu erzeugenden Halbtonpunkts abhängt, und einem Ausgangssignal· eines Punkteilbereichszählers, durch welchen die Adresse für

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das Auslesen der Umrißdaten des Halbtonpunktes aus dem Speicher bestimmt wird, für einen Rasterwinkel von 45 , -15° bzw. 0°,

Fig. 10 adressenabhängige Variationen der Oberseite der Umrißdaten des Halbtonpunktes in Richtung der Abtastung, wenn

der Rasterwinkel 0°, 45°, 15° bzw. -15° beträgt, Fig. 11 beschnittene Halbtonpunktflächen für Rasterwinkel von

0°, 45° bzw. 15°,

Fig. 12 schraffiert Halbtonpunkte - wobei (a) einen nicht notwendigen Teil enthält -, die in einem der vier Teilbe

reiche der senkrecht zu einer Querdiagonallinie der Halbtonpunktfläche geteilten Halbtonpunktfläche aufzuzeichnen sind.

Fig. 13 ein Blockschaltbild einer Steuereinrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens unter Verwen

dung der Abtasteinrichtung der Fig. 3,

Fig. 14 Betriebsverhältnisse des Punktteilbereichszählers der ' Fig. 13,

Fig. 15 in einem Steigungsspeicher gespeicherte Daten für einen Rasterwinkel von 15 bzw. -15 ,

Fig. 16 in einem Begrenzungs- bzw. Beschneidungsspeicher gespeicherte Daten für einen Rasterwinkel von +_15 ,

0° bzw. 45°,
Fig. 17 ein Blockschaltbild einer Ausführungsform einer Adressensteuerschaltung der Fig. 13,

Fig, 18 ein Blockschaltbild einer Ausführungsform der Datenrechenschaltung der Fig. 13, und

Fig. 19 weitere Beispiele von Umrißdaten von 4 vertikalen Teilbereichen zur Aufzeichnung eines Halbtonpunktes mit einem Halbtonpunktflächenverhältnis von 100 % für einen Rasterwinkel von 0°, 45° bzw. 15°.

Fig. 3 der Zeichnung zeigt eine herkömmliche Abtastbelichtungseinrichtung für einen Plattenherstellungs-Farbscanner. Ein von einer Lichtquelle 1, die ein Laser sein kann, ausgehendes

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Lichtbündel durchläuft längs seiner Achse ein erstes akustooptisches Ablenkelement 2, eine V-förmige Blendenöffnung einer Blendenplatte 3, ein zweites akustooptisches Ablenkelement und eine Abbildungsiinse 5, wobei sich eine feine Bildlinie w ergibt.

Bei dieser Ausführungsform lenkt das erste Ablenkelement das Lichtbündel vertikal, d.h.in Z-Richtung,mit einem gewünschten Winkel, abhängig von der Frequenz einer dem Ablenkelement zugeführten Ultraschallwelle ab, so daß die Höhe des auf die Blende eingestrahlten Lichtbündels variiert werden kann, um damit die Breite des durch sie gehenden Lichtbündels zu variieren. Das zweite Ablenkelement 4 lenkt das Lichtbündel· horizon-, tal, d.h. in Y-Richtung, mit einem gewünschten Winkel, abhängig von der Frequenz einer dem Ablenkelement geführten Ultraschallwelle ab, so.daß die Lage des durch die Blendenöffnung gehenden Lichtbündels in Richtung seiner Breite verschoben werden kann. Es lassen sich also Breite und Lage der Bildlinie w des Lichtbündels durch Steuerung der Frequenzen der den beiden ■Ablenkelementen 2 und 4 zugeführten Ultraschallwellen steuern, und unter Verwendung dieser Bildlinie w kann das Halbtonbild auf einem auf einem Aufzeichnungszylinder montierten lichtempfindlichen Material reproduziert werden.

Gemäß der Erfindung wird unter Verwendung der Abtastbelichtungseinrichtung der Fig. 3 jeder Halbtonpunkt so aufgezeichnet, daß jeder Teilbereich des Halbtonpunktes sein eigenes Halbtonpunktflächenverhältnis entsprechend seiner Gradationsvariation haben kann, mit dem Ergebnis eines erhöhten Auflösungsvermögens.

In Fig. 4 ist die Beziehung zwischen Bildsignalwerten und einem Halbtonpunkt gezeigt, dessen Fläche horizontal in 4 Teilbereiche in Abtastrichtung unterteilt ist und der so aufgezeichnet wird, daß jeder Teilbereich sein eigenes Halbtonpunktf lächenverhältnis haben kann, während die Mitte des Halbtonpunktes festliegt. Das heißt, die Zeit in Abtastrichtung ist durch den Abtastschritt in 4 Zeitdauern t_Q-t₁, t.j-t₂,

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* * C- W ο Λ

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^t2~^t3' ^t3~^t4 ^unterteilt·

Im ersten, zweiten, dritten bzw. vierten Zeitbereich

tg-t.., t₁~t₂, t₂-t₃ bzw. t₃~t₄ wird der Halbtonpunkt C^, C~, C-. bzw. C. mit einem Halbtonpunktflächenverhältnxs von 75 %, 50 % 25 % bzw. 100 % entsprechend dem zugehörigen Bildsignalwert X₁^X₂, X₃ bzw. X₄ teilausgebildet, wobei die Mitte des Halbtonpunktes festliegt. Daher wird in diesem Fall jeder Halbtonpunkt in jedem Teilbereich abhängig von seinem Bildsignalwert, der sich als Funktion der Zeit verändert, aufgezeich-" net, mit anderen Worten, das Halbtonpunktflächenverhältnis läßt sich im Zuge der Ausbildung eines einzigen Halbtonpunktes frei verändern.

Fig. 5 zeigt die Beziehung zwischen Bildsignalen und einem Halbtonpunkt, dessen Fläche vertikal in vier Teilbereiche in der Richtung senkrecht zur Abtastrichtung unterteilt ist. und der abgesehen von der Teilurigsrichtung in der gleichen Weise wie bei der Ausführungsform der Fig. 4 so ausgebildet wird, daß jeder Teilbereich sein eigenes Halbtonpunktflächenverhältnis haben kann, während die Mitte des Halbtonpunktes festliegt.

Im einzelnen wird die Halbtonpunktfläche zunächst durch eine Mittellinie oder eine durch die Mitte des Halbtonpunktes verlaufende vertikale Diagonallinie in zwei Teile unterteilt, wonach jeder Teil durch eine Linie, die parallel zur Mittellinie in einem Abstand L bzw. R , der im wesentlichen gleich dem Abtastschritt bzw. der Abtastbreite der Abtastlinie ist, von dieser Mittellinie liegt, in zwei Teilbereiche unterteilt wird, womit man, bezeichnet von links nach rechts, die vier Teilbereiche LL, L, R und RR erhält.

In den Teilbereichen LL, L, R bzw. RR wird der Halbtoripunkt C₁^, C_L, C_R bzw. c_RR mit einem Halbtonpunktflächenverhältnis von 50 %, 25 %, 100 % bzw. 75 % entsprechend einem Bildsignalwert Xtt/ Xt ι ^x _r bzw. X_RR/ der einem Halbtonpunktflächenverhältnis von 50 %, 25 %, 100 %, bzw. 75 % entspricht, te.ilausgebildet, während die Mitte des Halbtonpunktes festliegt.

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Bei der oben beschriebenen Ausführungsform kann die Halbtonpunktfläche gleich oder ungleich geteilt sein. Ferner beschränkt sich die Anzahl der Teilbereiche der Halbtonpunktfläche nicht auf vier, sondern kann beliebig sein. Wenn der in Fig. 5 gezeigte Halbtonpunkt aufgezeichnet wird, kann, wenn die Mittelachsen der einzelnen Teilbereiche mit der Mitte der Bildlinie des Lichtbündels mit gleicher Breite wie der Teilbereich zusammenfallen, das Aufzeichnen des Halbtonpunktes durch Abtastung mittels der Abtastbelichtungseinrichtung der Fig. 3 unter Verwendung der Blendenplatte 3 mit V-förmiger Blendenöffnung ohne Schwierigkeiten durchgeführt werden.

Wenn jedoch die Mitte des Lichtbündels außerhalb der Mittelachse des Teilbereichs liegt oder wenn mehr als ein Teilbereich durch ein einziges Lichtbündel reproduziert wird, d.h., wenn die in Breitenrichtung getrennten Teile, etwa die Teilbereiche LL, L und R der Fig. 5, gleichzeitig aufgezeichnet werden, sollte das Abtastlichtbündel· durch Herausschneiden einer gewissen Breite des Lichtbündels geteilt werden. In einem solchen Fall werden, wenn die Abtastbelichtung unter Verwendung der Blendenplatte 3 mit V-förmiger Blendenöffnung durchgeführt wird, nicht benötigte Teile C_0n, wie sie durch

LK

Kreuzschraffierung dargestellt sind, aufgezeichnet.

Zur Beseitigung dieses Problems wird die Abtastbelichtung unter Verwendung einer Blendenplatte 3¹ mit W-förmiger Blendenöffnung, die in Fig. 6 gezeigt ist, anstelle der Blendenplatte 3 mit V-förmiger Blendenöffnung durchgeführt. Einzelheiten dieses Verfahrens sind in der japanischen Patentanmeldung, Veröffentlichungsnummer 54-21123 beschrieben, weshalb auf seine Beschreibung aus Gründen der Kürze hier verzichtet wird.

Als nächstes wird ein Verfahren zur Bildung eines Halb- . tonpunktes beschrieben. Ein Verfahren zur Erzeugung eines Halbtonpunktes ohne Unterteilung in Teilbereiche ist in der japanischen Patentanmeldung, Veröffentlichungsnummer 54-79701

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beschrieben.

Bei jener Ausführungsform ist eine Rechenschaltung vorgesehen, die Daten zur Ausbildung des Umrisses eines Halbtonpunktes mit einem Halbtonpunktflächenverhältnis von 100 % berechnet. Wenn ein Halbtonpunkt mit einem Punktflächenverhältnis von weniger als 100 % erzeugt werden soll, erhält man die Umrißdaten für einen Halbtonpunkt mit dem gewünschten Punktflächenverhältnis durch Steuerung von Adressen und Zeiten für eine Berechnungsreihenfolge, wonach Mitte und Breite des ge-

wünschten Halbtonpunktes aus den gewonnenen Umrißdaten berechnet werden, womit ein Halbtonpunkt mit dem gewünschten Punktflächenverhältnis ausgebildet wird.

Bei der vorliegenden Erfindung ist das Grundkonzept das
gleiche wie bei diesem herkömmlichen Verfahren, d.h., anstel-Ie der Rechenschaltung des herkömmlichen Verfahrens ist ein

Speicher vorgesehen, in welchem dieUmrißdaten jedes Teilbereichs zur Aufzeichnung eines Halbtonpunktes mit einem Punktflächenverhältnis von 100 % für jeden Rasterwinkel gespeichert sind. Die Daten jedes Teilbereichs werden aus dem Speicher durch

Steuerung der Adressierung des Speichers zur Gewinnung der

Umrißdaten für die Aufzeichnung eines Halbtonpunktes mit dem
gewünschten Punktfläehenverhältnis ausgelesen, wonach Mitte
und Breite des gewünschten Halbtonpunktes abhängig von den
der Reihe nach gewonnenen Umrißdaten zur Aufzeichnung des

Halbtonpunktes mit dem gewünschten Punktflächenverhältnis
berechnet werden.

In den Fig. 7a, 7b und 7c sind Beispiele von Umrißdaten der vier vertikalen Teilbereiche LL, L, R und RR eines Halbtonpunktes eines Punktflächenverhältnisses von 100 % für einen

Rasterwinkel θ von 0°, 45° bzw. 15° gezeigt.

Fig. 7a zeigt vier Umrißdaten von vier Teilbereichen LL, L, R und RR eines Halbtonpunktes mit einem Punktflächenverhältnis von 100 %, wenn der Rasterwinkel θ gleich 0° ist.
Die obere Hälfte und die untere Hälfte des Halbtonpunktes
mit dem Punktflächenverhältnis von 100 % werden durch Aus-

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wahl der größeren Umrißsignale der Teilbereiche RR oder R und LL bzw. L ausgewählt.

Fig. 7b zeigt vier Umrißdaten der vier Teilbereiche LL, L, R und RR in der gleichen Weise wie in Fig. 7a, nur daß der Rasterwinkel θ gleich 45° ist. Wenn der Rasterwinkel θ 45° beträgt, ist die Breite der Abtastlinie während des Aufzeichnens des Halbtonpunktes fest, wie dies in Fig. 9a gezeigt ist, die eine Beziehung zwischen einem Bildsignalwert, von dem das Punktflächenverhältnis des auszubildenden HaIbtonpunktes abhängt, und einem Ausgangssignal eines Punktteilbereichszählers, durch den die Adresse für das Auslesen der Umrißdaten des Halbtonpunktes aus dem Speicher bestimmt wird, für einen Rasterwinkel von 45° wiedergibt, weshalb diese Umrißdaten die Abtastlinie für das Aufzeichnen des Halbtonpunktes mit dem Punktflächenverhältnis von 100 % meinen.

Fig. 7c zeigt vier Umrißdaten für die vier Teilbereiche LL, L, R und RR- in der gleichen Weise wie Fig. 7a, nur daß der Rasterwinkel θ 15° beträgt. In einem solchen Fall sind die Spitzen der Datenlinien für die obere Hälfte und die untere Hälfte des Halbtonpunktes etwas nach links bzw. rechts verschoben. Die obere Hälfte und die untere Hälfte des Halbtonpunktes mit dem Punktflächenverhältnis von 100 % werden durch Auswahl der größeren Umrißsignale der Teilbereiche RR oder R bzw. LL oder L aufgezeichnet.

Wenn der Rasterwinkel θ -15° beträgt, erhält man Umrißdatenlinien, die spiegelverkehrt zu denjenigen der Fig. 7c • sind, weshalb sie in Fig. 7 weggelassen sind. Die in Fig. 7 gezeigten Umrißdaten der vier Teilbereiche RR, R, L und LL sind in in Fig.13 gezeigten Speichern 21 bis 24 gespeichert, wie weiter unten noch beschrieben wird.

Nun wird ein Verfahren zur Ausbildung eines Halbtonpunktes mit einem unter 100 % liegenden Punktflächenverhältnis aus den Umrißdaten zur Aufzeichnung des oben beschriebenen Halbtonpunktes mit dem Punktflächenverhältnis von 100 % in Verbindung mit Fig. 8 beschrieben.

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Zunächst wird der Teilbereich RR beschrieben. In Fig. 8a

sind die Umrißdaten zur Aufzeichnung des Halbtonpunktes mit Punktflächenverhältnis von 100 % durch eine strichpunktierte Linie DFH gezeigt. Die Adresse für das Auslesen der Umrißdaten wird abhängig vom Bildsignalwert X_n- des Teilbereichs RR

KK

und einem Ausgangssignal T eines Punktteilbereichszählers 31, der nachfolgend unter Bezugnahme auf Fig. 13 beschrieben wird, berechnet.

Durch einen Adressenpunkt (100-X _R) verläuft eine Linie parallel zur Ausgangsdatenlinie DF, wobei Schnittpunkte dieser parallelen Linie mit der Linie DH und der Diagonale FF' mit J und K bezeichnet sind. Ferner schneidet eine Linie, die durch den Punkt K und einen Adressenpunkt (99+X_Dt)) parallel

KK

zur Aüsgangsdatenlinie FH verläuft, die Linie DH in einem Punkt Li Vom Punkt K erstreckt sich eine Linie in einer zur Abtastrichtung senkrechten Richtung und schneidet die querverlaufende diagonale Adressenlinie in einem Adressenpunkt ^JRR·

Wenn das Ausgangssignal T des Punktteilbereichszahlers 31 in einem Bereich zwischen 0 und (100-X_nD) liegt, soll

KK

kein Halbtonpunkt ausgebildet werden und werden keine Daten aus einem weiter unten noch zu beschreibenden Speicher 21 ausgelesen.

Wenn das Ausgangssignal T des Punktteilbereichszahlers 31 größer als (100-X_n^) ist und der Rasterwinkel 0 oder 45°

KK

beträgt, ist die Adresse, wie im folgenden noch beschrieben, stets 99. Wenn aber der Rasterwinkel -15° ist und das Ausgangssignal T abhängig vom Bildsignalwert X_._, in einem Bereich zwischen den Adressen (100-X__) und J_or( liegt,

KK KK

werden die Daten des Teilbereichs DE aus dem Speicher 21 ausgelesen und damit die Umrißlinie JK des geünschten Halbtonpunktes ausgebildet.

Das heißt im einzelnen, daß zur Ausbildung des Umrisses JK des gewünschten Halbtonpunktes, obwohl das Ausgangssignal T des Punktteilbereichszahlers 31 direkt als Adressensignal ver-

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wendet werden kann, gemäß der Erfindung zur Vereinfachung des Verfahrens die Adresse T¹=/Τ-(100-X )J berechnet wird und dann die Umrißdaten des Teilbereichs DE der Umrißdaten DEF, die durch den Bildsignalwert X bestimmt werden, aus dem Speicher 21

KK

durch die gewonnene Adresse ausgelesen werden.

Wenn ferner das Ausgangssignal T des Datenteilbereichszählers 31 in einem Bereich zwischen den Adressen J_._ und

KK

(99+X_OTJ liegt, wird der Abschnitt EG übersprungen

KK

und dementsprechend werden die umrißdaten des Teilbereichs GH aus dem Speicher ausgelesen, womit der Teilbereich KL des gewünschten Halbtonpunktes .ausgebildet wird. Das heißt, daß die Adresse /τ+(100-Χ)_7 berechnet wird und nachfolgend die Umrißdaten des Teilbereichs GH der Umrißdaten FGH aus dem Speicher 21 durch die gewonnene Adresse ausgelesen werden. Wenn das Ausgangssignal T des Punktteilbereichszählers 31 in einem Bereich zwischen den Adressen (99+X ) und 199

KK

liegt, ist kein Halbtonpunkt auszubilden, weshalb dann keine Daten aus dem Speicher 21 ausgelesen werden.

Wenn der gewünschte Halbtonpunkt durch diese Daten ausgebildet wird, wird die obere Hälfte, die durch die Punkte (110-X₀₁₅), J, K, L und (99+X__D) definiert ist, erzeugt.

KK KK

Als nächstes wird der Teilbereich R beschrieben. In Fig. 8b sind die trapezförmigen Umrißdaten zur Aufzeichnung eines Halbtonpunktes mit einem Punktflächenverhältnis von 100 % durch eine gestrichelte Linie MNRS wiedergegeben, die die gleiche Form hat, wie das Trapez ODH199 der Fig. 8a. Die Adresse für das Auslesen der Umrißdaten wird entsprechend dem Bildsignalwert X des Teilbereichs R und dem Ausga^igssignal T des Punkt-

teilbereichszählers in der oben beschriebenen Weise berechnet. Durch einen Punkt V mit einer Adresse (100-X_.) verläuft

parallel zur Umrißdatenlinie MN eine Linie, wobei die Schnittpunkte dieser Parallellinie mit der Linie MR und der Längsdiagonale mit W und K¹ bezeichnet sind. Ferner schneidet eine Linie, die durch den Punkt K¹ und einen Punkt Z mit einer Adresse (99+X₀) parallel zur Umrißdatenlinie RS verläuft, die

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Linie NR in einem Punkt Y. Vom Punkt K¹ erstreckt sich senkrecht zur Abtastrichtung eine Linie, welche die querdiagonale Adressenlinie MS in einem Adressenpunkt J_n schneidet.

Wenn das Ausgangssignal T des Punktteilbereichszählers in einem Bereich zwischen 0 und (100-X_n) liegt, ist kein HaIb-

tonpunkt zu erzeugen und es werden keine Daten aus einem im folgenden noch zu beschreibenden Speicher 22 ausgelesen.

Wenn das Ausgangssignal T des Punktteilbereichszählers größer als (100-X_R) ist und der Rasterwinkel 0° oder 45° beträgt, ist, in der gleichen Weise wie oben beschrieben, die Adresse stets 99. Wenn aber der Rasterwinkel -15° ist und das Ausgangssignal T des Punktteilbereichszählers im Bereich zwischen den Adressen (100-X₀) und J_. abhängig vom Bildsignalwert

X liegt, wird die Adresse /T-(IOO-X )J berechnet, wonach die κ κ

Umrißdaten des Abschnitts MNP der ümrißdaten MNX, wobei der Abstand NP gleich dem Abstand WX ist durch die gewonnene Adresse aus dem Speicher 22 ausgelesen werden und so der Umriß VWX des gewünschten Halbtonpunktes gebildet wird.

Wenn das Ausgangssignal T des Punktteilbereichszählers in einem Bereich zwischen den Adressen J_n und (99+X_D) liegt,

κ κ

wird die Adresse-Τ"=/τ+(100-X)J berechnet, wonach die Umrißdaten des Abschnitts QRS der Umrißdaten XRS, wobei der Abstand QR gleich dem Abstand XY ist, durch die gewonnene Adresse aus dem Speicher 22 ausgelesen werden und damit der Umriß XYZ des gewünschten Halbtonpunktes ausgebildet wird.

Wenn dann das Ausgangssignal T in einem Bereich zwischen den Adressen (99+X_R) und 199 liegt, ist kein Halbtonpunkt auszubilden, weshalb keine Daten aus dem Speicher 22 ausgelesen werden«

Wenn der gewünschte Halbtonpunkt durch diese Daten ausgebildet wird, wird das Trapez VWYZ erzeugt.

Im vorliegenden Fall wird die obere Hälfte des gewünschten Halbtonpunkts aus den Umrißdaten der Teilbereiche RR und R und durch Auswahl der größeren Umrißdaten aufgebaut, wobei man den Halbtonpunkt erhält, der durch die Punkte V, W, J, K, L

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Y und Z definiert wird. Die untere Hälfte des gewünschten Halbtonpunkts wird aus den Umrißdaten der Teilbereiche L und LL in der gleichen Weise wie oben beschrieben ausgebildet.

Die Erläuterung bezog sich auf den Fall eines Rasterwinkels von 15 , für einen Rasterwinkel von 0 bzw. -15 laßt sich jedoch der Halbtonpunkt in der gleichen Weise wie oben beschrieben herstellen, wie sich ohne weiteres aus den Fig. 9b und 9c ergibt, welche die Beziehung zwischen einem Bildsignalwert, von welchem dasHalbtonpunktflachenverhältnis des auszubildenden Halbtonpunktes abhängt, und dem Ausgangssignal des Punktteilbereichszählers, durch das die Adresse für das Auslesen der Umrißdaten des Halbtonpunktes aus dem Speicher bestimmt wird, für einen Rasterwinkel von -15° bzw. 0° wiedergibt.

Für einen Rasterwinkel von 45° ist die Prozedur einfacher als oben beschrieben. Das heißt, es ist, wie in Fig. 9a gezeigt, ein Halbtonpunkt herzustellen, dessen Punktflächenverhältnis bzw. Breite direkt vom Bildsignalwert X abhängt, weshalb, wenn das Ausgangssignal T des Punktteilbereichszählers 31 der Beziehung (100-X)=T-(99+X) genügt, der Bildsignalwert X als Adressensignal ausgegeben wird.

Zusammenfassend läßt sich also folgendes sagen. Wenn der. Rasterwinkel θ -15 oder 0 beträgt, wird im Teilbereich RR~ die anderen Teilbereiche R, L und LL werden in der gleichen Weise wie der Teilbereich RR ausgeführt - die Adresse (AD-RR) für den Teilbereich RR, durch die die Umrißdaten aus dem Speicher 21 ausgelesen werden, abhängig vom Ausgangssignal T des Pumpteilbereichszählers 31 folgendermaßen bestimmt:

(I) 0äT<(100-X_RR) (AD^RR)=O

(II) (100-X^) ^T₌J_RR (AD-RR) =T- (100-X^)

(III) Jpj^TS (^+Xrr) (AD-RR)=T+

(IV) (99+X_OD)<T=199 ...(AD-RR)=O

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Bei dieser Ausführungsform ändert sich die Lage des Punktes J₁,,,, wie in Verbindung mit Fig. 8 beschrieben, ab-

KK

hängig vom Punktflächenverhältnis des gewünschten auszubildenden Halbtonpunktes, wobei zugehörige Beispiele in den Fig. 10a, 10b und 10c für Rasterwinkel von 0°, 45°, 15° und -15 gezeigt sind.

Für einen Rasterwinkel von 45 wird im Teilbereich RR die anderen Teilbereiche R, L und LL werden in der gleichen Weise ausgeführt wie der Teilbereich RR - die Adresse (AD-RR) abhängig vom Ausgangssignal T des Punktteilbereichzählers 31 in ähnlicher Weise zu der oben beschriebenenen folgendermaßen bestimmt:

(I) 0=T<(100-X_D_) (AD-RR)=O

(ID (¹⁰⁰^RR* =^T=^JRR (AD-RR)=X_RR

(III) J_RR<T<(99+X_RR) :..(AD-RR)=X_RR

(IV) (99+X^X T^l 9 9 (AD-RR)=O

Es sei nun angenommen, daß die Umrißdaten'der Teilbereiche RR, R, L und LL für den gewünschten Halbtonpunkt, die wie oben beschrieben, aus dem Speicher durch die gewonnenen Adressen ausgelesen werden mit (DT-RR), (DT-R), (DT-L), und (DT-LL) bezeichnet sind, dann befindet sich der gewünschte Halbtonpunkt in einem Bereich, der durch die Linien der Signale U und L definiert wird, die durch die folgende Formel (1) und (2) gewonnen werden.

U = max /"(DT-RR) , (DT-R)^ (D

L = max /(DT-L), (DT-LL)7 .(2)

Dann werden das obere Halbtonpunktumrißsignal U und ein im folgenden erwähntes Begrenzungssignal (DT-LIMIT) miteinander verglichen und das kleinere als Signal U¹ bezeichnet. Das untere Halbtonpunktumrißsignal L und das Begrenzungssignal

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(DT-LIMIT) werden ebenfalls miteinander verglichen und das kleinere als Signal L¹ bezeichnet.

U¹ = min/U, (DT-LIMIT)7 (3)

L¹ = min/L, (DT-LIMIT) 7 (4)

Wenn das Halbtonpunktflächenverhältnis mehr als 50 % beträgt, ragt im allgemeinen ein Halbtonpunkt in benachbarte Halbtonpunktflächen hinein, weshalb in den Überlagerungsbereichen eine Mehrfachbelichtung ausgeführt würde. Dies ist wegen der Lichtstreuung im Film und dergl. unerwünscht. Ferner sollte, wenn das Halbtonpunktflächenverhältnis 100% beträgt, die gesamte Fläche belichtet werden. Daher wird gemäß der Erfindung, wie in Fig. 11 gezeigt, die Halbtonpunktfläche so begrenzt, daß jeder belichtete Halbtonpunkt mit einem Punktflächenverhältnis von mehr als 50 % benachbarte Halbtonpunkte nur geringfügig überlappt. Eine solche Begrenzungssteuerung wird durch das Begrenzungssignal (DT-LIMIT) vorgenommen.

In den Fig. 11a, 11b und 11c ist der Begrenzungsbereich für Rasterwinkel von 0 , 45 bzw. 15° in gestrichelten Linien gezeigt. Nach Fig. 11c wird vorzugsweise ein durch strichpunktierte Linien wiedergegebener geänderter Begrenzungsbereich, der sich in einer Richtung senkrecht zur Abtastrichtung erstreckt, bestimmt, um die Maschine zu vereinfachen und die Überlappbereiche der Halbtonpunkte zu minimalisieren.

Wenn die Umrißdaten (DT-LL), (DT-L) und (DT-R) Null sind, enthält der von den Linien der Signale U¹ und L¹ umgebene Halbtonpunkt einen nicht benötigten Teil, wie er durch die unterbrochenen Linien in Fig. 12a gezeigt ist. Dies ergibt sich . aus der Tatsache, daß das Signal L^f zu Null angenommen ist.

Zur Beseitigung eines solchen nicht benötigten Teils wird zur Gewinnung eines korrekten Halbtonpunktes, wie er in Fig. 12b · gezeigt ist, die Bedingung gemäß der folgenden Gleichung (5) bestimmt.

L¹ = -Rmax (5)

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- 19 -

Wenn die Umrißdaten (DT-RR), (DT-R) und (DT-L) Null sind, erhält man die folgende Gleichung (6) in der gleichen Weise wie oben:

U' = -Lmax (6)

- - ■ .■

Lmax und Rmax geben den Abtastschritt wie er in Fig. 5 gezeigt ist, an.

Dann werden die Verschiebung der Mitte des auszubildenden Halbtonpunkts gegenüber der Abtastlinie parallel dazu, wenn der Rasterwinkel 0° oder 45° beträgt, und eine Steigung der Mittelachse des auszubildenden Halbtonpunktes bezüglich der Abtastlinie, wenn der Rasterwinkel -15° beträgt, bestimmt. Daten (DT-SHIFT) und (DT-SLOPE) stellen Verschiebung bzw. Steigung dar. Damit ergibt sich der Abstand S der Abtastlinie von der Mittelachse des Halbtonpunktes nach folgender Gleichung: S= (DT-SHIFT) + (DT-SLOPE) (7)

Dann werden die Umrißdaten U" und L" für die aufzeichnung der oberen Hälfte und unteren Hälfte des Halbtonpunktes, dessen Verschiebung und Steigung bestimmt sind, folgendermaßen belichtet:

U" = U¹ +S (8)

L" = L¹ + S -.(9)

Dementsprechend sind Breite und Mittellage des auszubildenden Halbtonpunkts durch folgende Gleichung gegeben: . W = U¹ + L"

In dieser Gleichung wird, wenn sich eine berechnete Breite kleiner als null ergibt, diese zu null gesetzt. Man erhält also die folgenden Gleichungen;

W = max/U"+L¹¹) ,0/.. (10)

P =

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- 20 -

Fig. 13 zeigt eine Ausführungsform einer Steuereinrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens unter Verwendung der Abtasteinrichtung der Fig. 3.

Adressensteuerschaltungen 11 bis 14 berechnen Adressen zum Auslesen der Umrißdaten für die Aufzeichnung von Teilbereichen RR, R, L und LL des Halbtonpunktes abhängig vom Bildsignalwert X aus den Speichern 21 bis 24. In den Speichern 21 bis 24 sind die Umrißdaten zur Aufzeichnung der Teilbereiche ER, R, L und LL eines Halbtonpunktes mit Punktflächenverhältnis 100 % für Rasterwinkel θ -15°, 0° und 45° gespeichert. Die ausgelesenen Daten werden einer Datenrechenschaltung 40 eingegeben.

Eine Zeitsteuerschaltung 30, die eine Halbtonpunktlageberechnungsschaltung enthält, gibt ein Startsignal (DF-START) für die Aufzeichnung der einzelnen Halbtonpunkte und ein Verschiebesignal X, das den Abstand der Mitte der einzelnen aufzuzeichnenden Halbtonpunkte von der Lage des Aufzeichnungskopfs senkrecht zur Abtastrichtung darstellt, synchron mit der Drehung des Aufzeichnungszylinders aus.

Der Punktteilbereichszähler 31 unterteilt die Halbtonpunktfläche in Zahlen, etwa 200, in Abtastrichtung und zählt die Anzahl von Taktimpulsen der entsprechenden Zahl 200 für die Abgabe des Signals T zur Aufzeichnung des gewünschten Halbtonpunkts in Abhängigkeit vom Bildsignalwert X, wie dies in Fig."14a gezeigt ist. Wenn ferner die Halbtonfläche in Richtung der Abtastrichtung begrenzt ist, kann der Punktteilbereichszähler 31 das Ausgangssignal T entsprechend nicht benötigter Teile auf null steuern, so daß die Ausgabedaten der Speicher 21 bis 24 dann null sind.

Ein Steigungsspeicher 33 speichert die Steigungsdaten (DT-SLOPE) zur Neigung des Halbtonpunktes bezüglich der Abtastrichtung, wenn der Rasterwinkel -15° beträgt. Der Steigungsspeicher 33 wird durch das Ausgangssignal T des Punktteilbereichszählers 31 adressiert und gibt Steigungsdaten (DT-SLOPE), wie sie in den Fig. 15a und 15b gezeigt sind, aus,

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die auf die Datenrechenschaltung 40 gegeben werden. Für Rasterwinkel von 0° bzw. 45° besteht keine Notwendigkeit zur Neigung, des Halbtonpunktes, weshalb die Ausgangsdaten des Steigungsspeichers 33 dann stets auf null gesteuert werden.

Ein Begrenzungsspeicher 34 speichert die Begrenzungsdaten (DT-LIMIT) zur Begrenzung der Halbtonpunktfläche in der oben beschriebenen Weise. Der Begrenzungsspeicher 34 wird durch das Aüsgangssignal T des Punktteilbereichszählers 31 adressiert und gibt Begrenzungsdaten (DT-LIMIT), wie sie in den Fig. 16a, 16b und 16c gezeigt sind aus, wenn der Rasterwinkel -15°, 0° bzw. 45° beträgt, und die so ausgelesenen Daten werden der Rechenschaltung 40 eingegeben.

Ein Verschiebungsspeicher 35 speichert die Verschiebungsdaten (DT-SHIFT), die die Verschiebung der Mitte des Halbton- punktes gegenüber der Abtastlinie senkrecht zur Abtastlinie für einen Rasterwinkel von 0° bzw. 45° darstellen. Der Verschiebungsspeicher 45 wird durch das Verschiebungssignal X der Zeitsteuerschaltung 30 adressiert und gibt Verschiebungsdaten (DT-SHIFT) aus, die auf die Datenrechenschaltung 40 gegeben werden. Die Beziehung zwischen den Verschiebungsdaten (DT-SHIFT) und dem Verschiebungsbetragssignal^x als Adressensignal wird durch folgende einfache Gleichung ausgedrückt, in der K einen Proportionalitätsfaktor bezeichnet:
(DT-SHIFT) = Κ.ΔΧ

Die Datenrechenschaltung 40 wählt die größeren der Umrißdaten (DT-RR) oder (DT-R) und (DT-L) oder (DT-LL) zur Aufzeichnung der oberen und unteren Hälfte des gewünschten Halbtonpunkts aus und wählt dann noch gegebenenfalls das kleinere von Umrißdaten und Begrenzungssignal (DT-LIMIT) aus und addiert die Steigungsdaten (DT-SLOPE)' bzw. die Verschiebungsdaten (DT-SHIFT) zu den ausgewählten kleineren Daten und berechnet damit die Mittellage und die Breite des gewünschten Halbtonpunktes.

Fig. 17 zeigt eine Ausführungsform der Adressensteuer-

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schaltung 11 für den Teilbereich RR der Fig. 13. Die anderen Adressensteuerschaltungen 12 bis 14 haben den gleichen Aufbau und arbeiten in der gleichen Weise wie die Adressensteuerschaltung 11.
Ein Subtrahierer 50 subtrahiert den Bildsignalwert X_._

des Teilbereiches RR von der festen Zahl 100, wodurch das Ausgangssignal (100-X ) gewonnen wird, das auf einen Latch-Speicher 55 gegeben und dort während der Abtastdauer gehalten wird, um den- Bildsignalwert aufrechtzuerhalten. Das Ausgangssignal des Latch-Speichers 55 wird auf die Eingänge A eines Komparators 60, eines Subtrahierers 65 und eines Addierers 66 gegeben. Das Ausgangssignal T des Punktteilbereichszählers 31 wird auf die Eingänge B des Subtrahierers 65 und des Addierers 66 gegeben. Im Subtrahierer 65 wird zur Gewinnung eines auf einen Eingang A eines Selektors 70 zu gebenden Ausgangssignals die Berechnung /t+(100-X_n )J ausgeführt. Im Addierer 66 wird zur Gewinnung eines auf einen Eingang B des Selektors 70 zu gebenden Ausgangssignals die Berechnung /τ+(100-X_0n)] ausgeführt. Im Komparator 60 werden das Signal (100-X ) und das Ausgangssignal· T des Punktteilbereichszählers 31 verglichen, wonach, wenn das Ausgangssignal T wenigstens das Signal (100-X_0n) ist, ein Signal mit ho-

KK

hem Wert auf einen Eingang A eines UND-Glieds 67 gegeben wird. Ein Addierer 51 addiert die feste Zahl 99 und den Bildsig-' nalwert X zur Gewinnung des Ausgangssignals (99+X_RR), das auf einen Latch-Speicher 56 gegeben und dort während der Abtastdauer zur Aufrechterhaltung des Bildsignalwerts gehalten wird.

Das Ausgangssignal des Latch-Speichers 56 wird auf einen Eingang A eines Komparators 61, das Ausgangssignal T auf einen Eingang B des Komparators 61 gegeben. Wenn das Signal (99+X_RR) wenigstens das Ausgangssignal· T ist, gibt der Komparator 61 ein Signal· mit hohem Wert auf einen Eingang B des UND-Giieds 67. Der Ausgang ist mit einem Steueranschiuß eines Gatters 71 verbunden, wobei, wenn das Ausgangssignal· T und der Biidsignal·-

♦ · ft P.

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. wert X_RR der Beziehung ^(100-X)=T=(99+X_RR)7 genügen, das Gatter 71 durch ein Steuersignal des UND-Glieds 67 geöffnet wird. Ein Speicher 52 speichert die Adressenvariation J_RR der Spitze des gewünschten Halbtonpunkts in Abtastrichtung in Abhängigkeit vom Punktflächenverhältnis, wenn der Rasterwinkel -15° beträgt, wie dies in Fig. 10 gezeigt ist, wobei die Adressenvariation J_RR durch den Schrittsignalwert X_RR ausgelesen und auf einen Latch-Speicher 57 gegeben wird, der in ' Aufbau und Funktion mit den Latch-Speichern 55 und 56 übereinstimmt. Das Ausgangssignal des Latch-Speichers 57 wird auf einen Eingang A eines Komparators 62 gegeben. Das Ausgangs-.signal T des Punktteilbereichszählers 31 wird auf einen Eingang B des Komparators 62 gegeben. Dör Komparator 62 gibt ein Steuersignal auf einen Steueranschluß des Selektors 70 aus. Ein Latch-Speicher 58 hält den während der Abtastdauer zugeführten Bildsignalwert X_n , um den Bildsignalwert aufrecht-

■ KK

zuerhalten. Das Ausgangssignal des Latch-Speichers 58 wird auf einen Eingang G des Selektors 70 gegeben. Ein Steuersignal für einen Rasterwinkel von 45 ist auf einen weiteren Steueran-Schluß des Selektors 70 zu geben. Das Ausgangssignal des Selektors 70 wird auf das Gatter 71 gegeben.

Wenn der Rasterwinkel θ 45° betrögt, wird das Steuersignal für einen Rasterwinkel von 45° dem Selektor 70 eingegeben, und der Selektor 70 gibt das auf den Anschluß C gegebene Signal aus. Wenn der Rasterwinkel θ nicht 45° beträgt, wird kein Steuersignal für einen Rasterwinkel von 45 dem Selektor 70 eingegeben, und der Selektor 70 vergleicht die Daten J_R und das Ausgangssignal T des Punktteilbereichszählers 31. Dann gibt der Selektor 70, wenn J_DO wenigstens das Ausgangs-

KK

signal T beträgt/ das auf den Anschluß A gegebene Signal aus, während er, wenn J__, kleiner als das Ausgangssignal T ist, das

KK

dem Anschluß B zugeführte Signal ausgibt.

Fig. 18 zeigt eine Ausführungsform der Datenrechenschaltung der Fig. 13. Einem Selektor 80 werden die Daten (DT-RR), (DT-R) und -Lmax an seinen Eingängen A, B und C eingegeben.

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Der Selektor 80 beobachtet die Daten (DT-RR), (DT-R), (DT-L). und DT-LL) und wählt eines der Eingangsdaten aus und gibt das ausgewählte Datum U auf einen Eingang A eines Minimalwertselektors 85 nach folgendem Schema aus:
5

(a) wenn (DT-RR) = (DT-R) = (DT-L) = 0, wählt der Selektor 80 -Lmax aus;

(b) wenn (DT-RR)-(DT-R), außer es gilt die Bedingung (a), wählt er (DT-RR) aus; und

(c) wenn (DT-RR)<(DT-R) , außer es gilt die Bedingung (a) , wählt er (DT-R) aus.

(DT-LIMIT) wird auf einen Eingang B des Minimalwertselektors 85 gegeben, welcher das kleinere der beiden Daten U oder

Ί5 (DT-LIMIT) auswählt und das ausgewählte Datum U¹ auf einen Eingang A eines Addierers 87 gibt.

Die Daten (DT-SLOPE) und (DT-SHIFT) werden auf die Eingänge A und B eines Addierers 81 gegeben, der die beiden Daten addiert und das Additionsdatum S auf einen Eingang des Addierers 87 gibt. Der Addierer 87 addiert dann die Daten U' und S zur Gewinnung von U" nach obiger Formel (8) und gibt U" auf die Eingänge A eines Addierers 89 und eines Kalkulators 90.

Die Daten (DT-LL), (DT-L) und -Rmax werden auf Eingänge A, B und C eines Selektors 82 gegeben, der in Aufbau und Funk— tion mit dem Selektor 80 übereinstimmt und die Daten (DT-LL), (DT-L), (DT-R) und (DT-RR) beobachtet und eines dieser Daten auswählt und das ausgewählte Datum L auf einen Eingang A eines Minimalwertselektors 86 nach folgendem Schema gibt:-

(d) wenn (DT-LL) = (DT-L) = (DT-R) = 0, wählt der Selektor 82 -Rmax aus;

(e) wenn (DT-LL)^(DT-L), außer es gilt Bedingung Cd), wählt er (DT-LL) aus; und

(f) wenn (DT-LL)<(DT-L), außer es gilt die Bedingung (d), wählt er (DT-L) aus.

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- 25 -

(DT-LIMIT) wird auch auf einen Eingang B des Minimalwertselektörs 86 gegeben, der das kleinere der Daten L und (DT-LIMIT) auswählt und das ausgewählte Datum L¹ auf einen Eingang A eines Subtrahierers 88 gibt. Die Addiergröße S wird
vom Addierer 81 auf einen Eingang B des Subtrahierers 88 gegeben. Der Sübtrahierer 88 subtrahiert S von L¹ zur Gewinnung von L" gemäß obiger Formel (9) und gibt L" auf die Eingänge B ' des Addierers 89 und des Kalkulators 90.

Der Addierer 89 addiert U" und L" und gibt das Addierdatum U"+L" auf ein Gatter 91 und einen Pegeldetektor 92. Der Pegeldetektor 92 ermittelt ob U"+L" positiv oder negativ ist und steuert das Gatter 91 so, daß es nur schließt, wenn ü"+L" negativ ist. Das Gatter 91 gibt also U"+L" als die Breite
des zu bildenden Halbtonpunktes darstellendes Breitensignal

aus, wenn U"+L" positiv ist.

U " —L "

Der Kalkulator 90 führt eine Berechnung —5— durch und gibt stets ein Lagesignal aus, das die Mittellage des zu bildenden Halbtonpunktes darstellt.Wenn U"+L" negativ ist, wird kein Breitensignal ausgegeben und daher kein Halbtonpunkt aufgezeichnet.

Fig. 19 zeigt andere Beispiele von Umrißdaten der vier
vertikalen Teilbereiche für einen Rasterwinkel θ von 0°, 45° bzw. 15 , die in einem weiteren Verfahren gemäß der Erfindung anstelle der in Fig. 7 gezeigten verwendet werden.
Bei dieser Ausführungsform werden die oben erwähnten

Gleichungen (1) und (2) zu den folgenden Gleichungen (1¹) und (2¹) modifiziert.

U= (DT-RR) + (DT-R) (T)

L= (DT-LL) + (DT-L) (2')

Der Selektor 80 wählt eines der Eingangsdaten nach folgendem Schema aus:

(g) wenn (DT-RR) = (DT-R) = (DT-L) =0,

wählt er -Lmax; und

(h) bei anderen Bedingungen wählt er /(DT-RR).+ (DT-R)/
aus. .

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- 26 -

Der Selektor 82 wählt eines der Eingangsdaten nach folgendem Schema aus:

(i) wenn (DT-LL) = (DT-L) = (DT-R) =0, wählt er -Rmax aus; und
(j) bei anderen Bedingungen wählt er

ΛDT-LL)+(DT-L)7 aus.

Bei den oben beschriebenen Ausführungsformen ist natürlich der Rasterwinkel nicht auf die Werte 0°, -15° und 45° beschränkt, sondern es ist jeder Rasterwinkel anwendbar.

Die Erfindung wurde unter Bezugnahme auf bevorzugte Ausführungsformen beschrieben, Abwandlungen sind dem Fachmann jedoch verfügbar.

Da beispielsweise das Ausgangssignal der Speicher und das zugehörige Adressensignal miteinander in einer Grundbeziehung verbunden sind, können Rechenschaltungen, die ein Signal ausgeben, das in einer Grundbeziehung zu einem Adressensignal steht, anstelle von Speichern verwendet werden. Ferner können anstelle der akustooptischen Ablenkelernente der Fig. 3 Schwenk- oder Drehspiegel zur Reflexion des Lichtbündels verwendet werden. Die vorliegende Erfindung kann in Verbindung mit der in der japanischen Patentanmeldung, Veröffentlichungsnummer 56-19056 offenbarten Erfindung effektiver angewandt werden, wenn eine Bildvorlage mit einem Bildmuster, einem Zeichen und einem Buchstaben reproduziert wird. In diesem Fall können der Farbton des gesamten Bildmusters, das Zeichen und der Buchstabe in der . gleichen Zeit ausgeführt werden.

L e eir se i t

Claims (3)

1. PATENTANSPRÜCHE

   fi\. Verfahren zur Aufzeichnung eines Halbtonbildes durch Abtastung, bei welchem, wenn das Halbtonbild auf einem lichtempfindlichein Material mittels eines Lichtstrahls reproduziert wird, Helligkeit und Breite des Lichtstrahls durch ein durch Abtastung einer Bildvorlage gewonnenes Bildsignal geeignet gesteuert werden, dadurch gekennnzeichnet , daß jeder Halbtonpunktbereich in eine Anzahl von Teilbereichen unterteilt wird und ein Halbtonpunkt in jedem Teilbereich abhängig von einer Gradationsvariation in diesem Teilbereich aufgezeichnet wird.

   Dainippon Screen .. .. , ^PH/HP,J

   3¹f⁵3⁹1390
2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbtonpunktbereich so begrenzt wird, so daß jeder belichtete Halbtonpunkt mit einem Punktflächenverhältnis von mehr als 50 % benachbarte Halbtonpunkte geringfügig überlappt.
3. 3. Vorrichtung zur Aufzeichnung eines Halbtonpunktes durch Abtastung, bei welcher, wenn das Halbtonbild auf einem lichtempfindlichen Material mittels eines Lichtstrahls aufgezeichnet wird, Helligkeit und Breite des Lichtstrahls durch ein durch Abtastung einer Bildvorlage gewonnenes Bildsignal geeignet gesteuert wird, gekennzeichnet durch eine Einrichtung zur Erzeugung eines Umrißsignals eines Halbtonpunktes aus einer Anzahl von Teilsignalen, die Teilbereichen entsprechen, die durch Teilung der Halbtonpunktfläche gewonnen sind, eine Einrichtung zur Erzeugung eines Aufzeichnungssignals aus dem Umrißsignal und einem Rasterwinkelsignal, eine Einrichtung zur Erzeugung eines Breitensignals des HaIbtonpunktes aus dem Aufzeichnungssignal, und eine Einrichtung zur Erzeugung eines Lagesignals des Halbtonpunktes aus dem Aufzeichnungssignal.