DE3022883A1 - METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE DENSITY THICKNESS USING RADIATION - Google Patents

Description

HOEGER₁ STELLRECHT ^PARTNERHOEGER ₁ LEGAL RIGHT ^ PARTNER

PATENTANWÄLTE UHLANDSTRASSE 14 ο ■ D 7000 STUTTGART 1PATENTANWÄLTE UHLANDSTRASSE 14 ο ■ D 7000 STUTTGART 1

A 44 176 b Anmelder: Sentrol Systems Ltd.A 44 176 b Applicant: Sentrol Systems Ltd.

k - 177 4401 Steeles Avenue Westk- 177 4401 Steeles Avenue West

13. Juni 1980 Downsview, Ontario M3N254June 13, 1980 Downsview, Ontario M3N254

CanadaCanada

Verfahren und Vorrichtung für die Messung der Dichte-Dicke unter Verwendung von StrahlungMethod and apparatus for measuring density-thickness using radiation

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Messen der Dichte-Dicke, der Masse pro Flächeneinheit oder des Basisgewichts von Materialien,, wobei diese Materialien in den Strahlungsweg radioaktiver Partikel eingeführt werden, die von einer Radioisotopenquelle ausgehen und auf eine Ionisationskammer auftreffen. Eine übliche Anwendungsmöglichkeit für ein solches Verfahren bzw. eine solche Vorrichtung ergibt sich bei der Herstellung von Papierbahnen.The invention relates to a method and a device for measuring the density-thickness, the mass per unit area or the basis weight of materials, these materials being more radioactive in the radiation path Particles are introduced that emanate from a radioisotope source and onto an ionization chamber hit. A common possible application for such a method or such a device results in the manufacture of paper webs.

Der Ausgangsstrom Ϊ der Ionisationskammer gehorcht näherungsweise der folgenden Exponentialgleichung für die Absorption:The output current Ϊ of the ionization chamber corresponds approximately to the following exponential equation for the absorption:

-rw-rw

(1) I= I_oe(1) I = I _o e

wobei I der Ausgangsstrom für eine gegebene Dichte-Dicke eines Materials ist, welches zwischen die Ionisationskammer und die Strahlungsquelle eingeführt wird, wobei I der Ausgangsstrom bei Fehlen dieses Materials ist, wobei r eine Konstante ist, die sich aufgrund der verschiedenen Parameter des Systems ergibt,und wobei w die Dichte-Dicke des in den Strahlungsweg eingeschobenen Materials ist. Die Verknüpfung zwischen I und w ist also nicht-linear und kann auch durch die folgende Gleichung ausgedrückt werden:where I is the output current for a given density-thickness of a material which is between the ionization chamber and the radiation source is introduced, where I is the output current in the absence of this Materials, where r is a constant resulting from the various parameters of the system, and where w is the density-thickness of the material inserted into the radiation path. The link between I and w is therefore non-linear and can also be expressed by the following equation:

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A 44 176 b k - 177A 44 176 b k - 177

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(2) w « - (1/r) In (I/I_Q).(2) w «- (1 / r) In (I / I _Q ).

Selbst wenn ein derartiges Instrument genau geeicht ist, gibt es viele Faktoren, die dazu führen, dass die Eichung ungenau wird. Mit der Zeit fällt nämlich die Intensität der Strahlung der Radioisotopenquelle ab. Ausserdem kann sich aufgrund von Alterung und Benutzung die geometrische Form der Vorrichtung ändern, wobei sich die Länge und/oder die Ausrichtung des Strahlungsweges zwischen der Strahlungsquelle und der Ionisationskammer ändern können. Weiterhin führen Änderungen des Drucks und/oder der Temperatur in der Umgebung zu Dichteänderungen im Luftspalt. Ausserdem können die Luftspaltfenster, welche die Ionisationskammer und die Strahlungsquelle gegenüber Einflüssen aus der Umgebung schützen, abgenutzt werden, so dass die Masse im Strahlungsweg abnimmt. Andererseits können sich an den Fenstern auch Rückstände ansammeln (Pech von der Holzpumpe), so dass die Masse im Strahlungsweg erhöht wird. Wenn also das Gerät nicht in ziemlich kurzen Abständen neu geeicht wird, dann besteht die Wahrscheinlichkeit, dass die Messergebnisse Fehler enthalten, die durch den einen oder anderen der oben betrachteten Faktoren verursacht sind. Es wurden bereits Versuche unternommen, um die Faktoren zu erfassen, welche die Eichung der Messgeräte ungünstig beeinflussen. Beispielsweise beschreiben die US-PSen 2 675 483 und 2 968 729 die Möglichkeit der Verwendung einer zusätzlichen Ionisationskammer zur Messung des Abfalls der Strahlungsstärke der Radioisotopenquelle sowie die Möglichkeit der Verwendung einer Hilfsquelle mit ähnlicher zeitlicher Abhängigkeit der Strahlungsstärke, um anhand dieser Zusatz-Even when such an instrument is accurately calibrated, there are many factors that will cause it to the calibration becomes imprecise. This is because the intensity of the radiation from the radioisotope source falls over time away. In addition, the geometric shape of the device can change due to aging and use, wherein the length and / or the orientation of the radiation path between the radiation source and of the ionization chamber. Changes in pressure and / or temperature also result in the vicinity to density changes in the air gap. In addition, the air gap windows, which the Protect the ionization chamber and the radiation source against environmental influences, are worn out, so that the mass in the radiation path decreases. On the other hand, residues can also build up on the windows accumulate (pitch from the wood pump) so that the mass in the radiation path is increased. So if that Device is not recalibrated at fairly short intervals, then there is a likelihood that the Measurement results contain errors caused by one or the other of the factors considered above are. Attempts have been made to determine the factors affecting the calibration of the measuring instruments affect unfavorably. For example, U.S. Patents 2,675,483 and 2,968,729 describe the possibility the use of an additional ionization chamber to measure the drop in radiation intensity from the radioisotope source as well as the possibility of using an auxiliary source with a similar time dependency the radiation intensity in order to use this additional

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einrichtungen den Abfall der Strahlungsintensität zu kompensieren. Bei den bekannten Systemen werden jedoch die übrigen Faktoren, welche die Tendenz haben, die Eichung zu verfälschen, nicht kompensiert.facilities to compensate for the drop in radiation intensity. In the known systems, however the other factors which tend to falsify the calibration are not compensated.

Ferner beschreibt die US-PS 3 180 985 eine Schaltung zur Herstellung einer linearen Annäherung des Zusammenhangs zwischen der Ionisationsspannung der Kammer und der Dichte-Dicke mittels einer Eichung, die auf einer einzigen Messung der Kammerausgangsspannung basiert, bei der sich kein zu untersuchendes Material im Strahlungsgang befindet. Diese lineare Annäherung ist jedoch nicht geeignet, das hohe Maß an Genauigkeit zu erreichen, welches in vielen Anwendungsfällen gefordert wird.Furthermore, US Pat. No. 3,180,985 describes a circuit for producing a linear approximation of the relationship between the ionization voltage of the chamber and the density-thickness by means of a calibration based on a single measurement of the chamber output voltage, in which there is no material to be examined in the radiation path. This linear approximation however, it is not suitable for achieving the high level of accuracy that is required in many applications is required.

Änderungen der Umgebungstemperatur und des Drucks im Luftspalt treten so häufig auf, dass Sie kontinuierlich kompensiert werden müssen. In den üS-PSen 2 800 591 und 2 883 555 ist die Möglichkeit offenbart, Faltenbälge, Bimetalle oder andere mechanische Einrichtungen zu verwenden, die auf die atmosphärischen Bedingungen ansprechen und in Abhängigkeit davon die Länge des Strahlungsweges ändern oder diesen teilweise verdecken, um die Auswirkungen der ümgebungsbedingungen auf den gemessenen Ionisationsstrom zu kompensieren. Weiterhin beschreibt die US-PS 2 968 127 die Möglichkeit der Verwendung eines Thermistors, der in der Nähe des Strahlungsweges des Geräts angeordnet ist, um dort die Lufttemperatur zu messen und lineare Korrekturen des AusgangsStroms der Ionisationskammer herbeizuführen. Wegen des nicht-linearen, "exponentiellen" Zusammenhangs zwischen I und w führen die linea-Changes in ambient temperature and pressure in the air gap occur so frequently that they are continuous have to be compensated. In the US-PSs 2 800 591 and 2 883 555 the possibility is disclosed to use bellows, Use bimetals or other mechanical devices that depend on atmospheric conditions respond and, depending on this, change the length of the radiation path or partially cover it, to compensate for the effects of the ambient conditions on the measured ionization current. Furthermore, US Pat. No. 2,968,127 describes the possibility of using a thermistor which is located in the vicinity the radiation path of the device is arranged in order to measure the air temperature there and make linear corrections of the output current of the ionization chamber. Because of the non-linear, "exponential" Relationship between I and w lead the linear

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ren Änderungen des Stroms I gemäß der US-PS 2 968 127 jedoch nur zu einer ungenauen Kompensation bei der Messung von w.Ren changes in the current I according to US Pat. No. 2,968,127, however, only result in inaccurate compensation for the Measurement of w.

Ausgehend vom Stand der Technik liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und eine Vorrichtung zur genauen Eichung eines Messgeräts an der Stelle anzugeben, an der dieses zur Verwendung an einer Produktionslinie montiert ist.Starting from the prior art, the invention is based on the object of a method and a device to specify the exact calibration of a measuring device at the point where it is to be used on a Production line is assembled.

Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung durch aas Verfahren gemäß Anspruch 1 bzw. durch die Vorrichtungen gemäß Anspruch 2, 6 und 11 gelöst.This object is achieved according to the invention by aas method according to claim 1 or solved by the devices according to claim 2, 6 and 11.

Ganz allgemein kann man also sagen, dass die Erfindung darin besteht, dass ein Messgerät an Ort und Stelle unter Verwendung von drei oder mehr Eichstandards oder Eichproben geeicht wird, welche ein bekanntes Basisgewicht haben, um auf diese Weise eine Reihe von Annäherungen höherer Ordnung an den nicht-linearen Zusammenhang zwischen dem Strom I bzw. dem Ionisationskammersignal und der Größe w zu erhalten, wobei diese Annäherung zumindest Terme der zweiten Ordnung enthält. Dabei wird der Hauptteil des Strahlungsweges zwischen der Quelle und der Ionisationskammer vorzugsweise gegen atmosphärische Dichtenänderungen abgedichtet. Die verbleibenden Dichteänderungen in dem engen Arbeitsluftspalt werden ausserdem vorzugsweise durch lineare Änderungen in dem errechneten Basisgewicht kompensiert.In general, one can say that the invention consists in having a measuring device in place is calibrated using three or more calibration standards or samples which have a known basis weight have to make in this way a series of higher order approximations to the non-linear relationship between the current I or the ionization chamber signal and the quantity w, this approximation contains at least second order terms. The main part of the radiation path is between the source and the ionization chamber are preferably sealed against atmospheric density changes. the Any remaining changes in density in the narrow working air gap are also preferably linear Changes in the calculated basis weight are compensated.

Ein besonderer Vorteil der Erfindung besteht darin, dass ein Gerät zur Durchführung von Dichte-Dicke-Messungen angegeben wird, welches mit mindestens drei Proben geeicht wird, die eine bekannte Masse pro Flä-A particular advantage of the invention is that a device for performing density-thickness measurements is specified, which is calibrated with at least three samples that have a known mass per area

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cheneinheit besitzen.own a unit.

Es ist auch ein Vorteil der Erfindung, dass ein Gerät zur Messung der Masse pro Flächeneinheit angegeben wird, bei dem der lineare Zusammenhang mit dem Ionisationskammerstrom durch Messwerte höherer Ordnung angenähert wird, welche zumindest Terme der zweiten Ordnung umfassen. It is also an advantage of the invention that a device for measuring the mass per unit area is specified in which the linear relationship with the ionization chamber current is due to measured values of a higher order is approximated which comprise at least terms of the second order.

Ein weiterer Vorteil der Erfindung besteht darin, dass eine Vorrichtung zur Messung des Basisgewichts angegeben wird, bei der der Hauptteil des Strahlungsweges zwischen der Strahlungsquelle und der Ionisationskammer gegen atmosphärische Dichteänderungen abgedichtet ist.Another advantage of the invention is that a device for measuring the basis weight is specified in which the main part of the radiation path between the radiation source and the ionization chamber is sealed against atmospheric density changes.

Ein weiterer Vorteil der Erfindung besteht darin, dass eine Vorrichtung zum Messen des Basisgewichts angegeben wird, bei der atmosphärische Dichteänderungen im Arbeits-Luftspalt gemessen und zur linearen Korrektur des errechneten Basisgewichts verwendet werden.Another advantage of the invention is that a device for measuring the basis weight is specified, measured at the atmospheric density changes in the working air gap and linear Correction of the calculated basis weight can be used.

Weitere Einzelheiten und Vorteile der Erfindung werden nachstehend anhand von Zeichnungen noch näher erläutert und/oder sind Gegenstand von Unteransprüchen. In der Zeichnung, in deren einzelnen Figuren entsprechende Teile mit jeweils gleichen Bezugszeichen bezeichnet sind, zeigen:Further details and advantages of the invention are explained in more detail below with reference to drawings and / or are the subject of subclaims. Corresponding in the drawing, in the individual figures Parts are designated with the same reference numerals, show:

Fig. 1 einen Querschnitt durch eine bevorzugte Ausführungsform einer Vorrichtung gemäß der Erfindung ;1 shows a cross section through a preferred embodiment of a device according to the invention ;

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A 44 176 bA 44 176 b

Fig. 2 eine Teilansicht einer Probenscheibe der Vorrichtung gemäß Fig. 1;FIG. 2 shows a partial view of a sample disc of the device according to FIG. 1;

Fig. 3 eine Ansicht einer Binärkodierscheibe zum Positionieren der Probenscheibe gemäß Fig. 2 undFig. 3 is a view of a binary coding disk for Positioning the sample disc according to FIGS. 2 and

Fig. 4 eine graphische Darstellung zur Erläuterung des Zusammenhangs des Ionisationskammerausgangssignals und des Basisgewichts w.4 shows a graphic illustration to explain the relationship of the ionization chamber output signal and the basis weight w.

Im einzelnen zeigt Fig. 1 der Zeichnung ein Gerät gem. der Erfindung mit einem Strahlungsquellenkopf 2 und einem Detektorkopf 6, die beide derart an einem äusseren Rahmen (nicht dargestellt) befestigt sind, dass sich zwischen ihnen ein enger Arbeitsspalt 10 ergibt, durch den ein zu untersuchendes Material, wie z. B. eine Papierbahn, hindurchgeleitet werden kann. In dem Gehäuse 4 des Kopfes 2 ist eine Radioisotopenquelle vorgesehen, welche auf allen Seiten mit Ausnahme ihrer Oberseite - bezogen auf die Darstellung gemäß Fig. 1 von einem Strahlungsschild 14 umgeben ist. Die Quelle 12 und der Schild bzw. die Abschirmung 14 werden mit Hilfe einer Halterung 16 so positioniert, dass die von der nicht abgeschirmten Oberseite der Radioisotopenquelle 12 ausgehende Strahlung nach oben i_i eine Ionisationskammer 18 eindringen kann, die in einem Gehäuse 8 des Detektorkopfes 6 montiert ist. Erfindungsgemäß ist das Gerät ferner mit einem Datenprozessor 22 ausgerüstet, der in dem Gehäuse 8 angeordnet ist.In detail, Fig. 1 of the drawing shows a device according to. of the invention with a radiation source head 2 and a detector head 6, both of which are attached to an outer Frame (not shown) are attached so that there is a narrow working gap 10 between them, through which a material to be examined, such as. B. a paper web can be passed through. By doing Housing 4 of head 2 is a radioisotope source provided, which on all sides with the exception of their upper side - based on the illustration according to FIG. 1 of a radiation shield 14 is surrounded. The source 12 and the shield or shield 14 are with Using a bracket 16 positioned so that the unshielded top of the radioisotope source 12 outgoing radiation upward i_i an ionization chamber 18 can penetrate, which in a Housing 8 of the detector head 6 is mounted. According to the invention If the device is also equipped with a data processor 22 which is arranged in the housing 8.

Die von der Quelle 12 ausgehende Strahlung passiertThe radiation emanating from the source 12 happens

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zunächst eine Probenscheibe 32, dann ein Fenster 56 · des Strahlungsquellenkopfes 2, dann den Arbeitsspalt 10, dann ein Fenster 80 des Detektorkopfes 6 und anschliessend die Kammerwand 90 der Ionisationskammer 18, in die die Strahlung schließlich eintritt. Die Fenster 56 und 80 sowie die Kammerwand 90 können aus rostfreiem Stahl mit einer Dicke zwischen etwa 5,1 und 50 um hergestellt sein. Wie Fig. 2 zeigt, ist der Strahlungsweg normalerweise durch eine Blende 24 blockiert. Die Blende 24 kann jedoch im Gegenuhrzeigersinn in eine zweite Stellung verschwenkt werden, die in Fig. 2 in gestrichelten Linien eingezeichnet ist, so dass der vorstehend beschriebene Weg für die Strahlung frei ist. Die Blende 24 ist auf einer Welle 26 montiert, welche von einem Motor 28 angetrieben wird, dem die elektrische Energie über Zuleitungen 3O zuführbar ist. Wenn die Ablesungen für das Basisgewicht durchgeführt werden, und zwar entweder zum Zwecke der Eichung oder zur Messung des Basisgewichts des Materials ,wird die Blende 24 in ihre Offenstellung geschwenkt. first a sample disc 32, then a window 56 of the radiation source head 2, then the working gap 10, then a window 80 of the detector head 6 and then the chamber wall 90 of the ionization chamber 18, into which the radiation finally enters. the Windows 56 and 80 as well as chamber wall 90 can be made of stainless steel between about 5.1 and 50 µm. As FIG. 2 shows, the radiation path is normally through a diaphragm 24 blocked. The screen 24 can, however, be pivoted counterclockwise into a second position, which is shown in Fig. 2 in dashed lines, so that the route described above for the Radiation is free. The diaphragm 24 is mounted on a shaft 26 which is driven by a motor 28 is, to which the electrical energy can be fed via supply lines 3O. When the readings for the basis weight either for calibration purposes or to measure the basis weight of the material , the diaphragm 24 is pivoted into its open position.

Die Probenscheibe 32 ist in dem Gehäuse 4 des Strahlungsquellenkopfes 2 montiert und besitzt sechs öffnungen. Fünf dieser öffnungen sind mit verschiedenen Eichstandards 34A bis 34E mit bekanntem Basisgewicht versehen, welche aus einem Polyesterfilm aus PoIyäthylenterephthalatharz hergestellt sein können, beispielsweise aus dem unter dem Warenzeichen "mylar" im Handel befindlichen Kunststoff. Die Eichstandards 34A bis 34E entsprechen den Standards 1 bis 5 in Fig. 4 und können Basisgewichte von 22, 44, 66, 88 und 110 lbs. pro 3.300 ft² haben ( 1 lbs ^r 454 g, 1 ft²Ä 0,093 m²) .The sample disk 32 is mounted in the housing 4 of the radiation source head 2 and has six openings. Five of these openings are provided with different calibration standards 34A to 34E with a known basis weight, which can be produced from a polyester film made of polyethylene terephthalate resin, for example from the plastic commercially available under the trademark "mylar". Calibration standards 34A through 34E correspond to standards 1 through 5 in Figure 4 and can have base weights of 22, 44, 66, 88, and 110 lbs. per 3,300 ft ² have (1 lbs ^ r 454 g, 1 ft ² 0.093 m ² ).

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Die sechste öffnung 36, welche sich zwischen den Köpfen 2 und 6 befindet, wenn das Gerät für die Messung des Basisgewichts eines Bahnmaterials eingesetzt wird, ist leer. Folglich kann man durch Drehen der Probenscheibe 32 jedes der fünf Eichstandards bzw. jede der fünf Standardproben 34A bis 34E in den Strahlungsweg oberhalb der Radioisotopenquelle 12 bringen. Die Probenscheibe 32 ist auf einer Welle 38 montiert, welche mit Hilfe eines Schrittschaltmotors 40, dem die elektrische Energie über Zuleitungen 42 zuführbar ist, zu einer Drehbewegung antreibbar ist. Auf der Welle 38 sitzt ausserdem eine Kodierscheibe 44 mit sechs in Umfangsrichtung in gleichmäßigen Abständen angeordneten Gruppen von radial ausgerichteten öffnungen 46, die auf drei zueinander konzentrischen Spuren liegen, so dass die Zahlen 1 bis 6 im natürlichen Binärcode dargestellt werden, wobei das Bit mit der geringsten Bedeutung der innersten Spur und das Bit mit der größten Bedeutung bzw. dem höchsten Stellenwert der äussersten Spur zugeordnet ist, wie dies aus Fig. 3 deutlich wird. Ein ü-förmiger optischer Lesekopf 48 besitzt einen oberen und einen unteren Schenkel, von denen jeweils einer auf jeder Seite der Kodierscheibe 44 vorgesehen ist. Im einzelnen sind im oberen Schenkel drei in radialer Richtung miteinander fluchtende Lichtsensoren, jeveils einer für jede Spur, angeordnet, welche drei entsprechende Ausgangssignale auf Leitungen 50 liefern. Wenn sich also die Probenscheibe 32 in der in Fig. 2 gezeigten Stellung befindet, dann liegt die Standardprobe 34E in dem Strahlungsweg. In diesem Fall liefert der Lesekopf das binäre Ausgangssignal 110-6.The sixth opening 36, which is located between the heads 2 and 6, when the device is for the measurement of the basis weight of a web material is used is empty. Consequently, by turning the Sample disk 32 of each of the five calibration standards or each of the five standard samples 34A to 34E into the radiation path Bring above the radioisotope source 12. The sample disk 32 is mounted on a shaft 38, which with the aid of a stepping motor 40 to which the electrical energy can be fed via supply lines 42 is, can be driven to a rotary movement. A coding disk 44 is also seated on the shaft 38 six groups of radially aligned openings arranged at regular intervals in the circumferential direction 46, which are on three concentric tracks, so that the numbers 1 to 6 in the natural Binary code are represented, with the bit with the least significance being the innermost track and the bit with the greatest importance or the highest priority is assigned to the outermost track, how this is clear from FIG. 3. A U-shaped optical reading head 48 has an upper and a lower one Legs, one of which is provided on each side of the coding disk 44. In detail are in the upper leg three light sensors aligned with one another in the radial direction, each one for each track, arranged to provide three corresponding output signals on lines 50. if if the sample disk 32 is in the position shown in FIG. 2, then the standard sample is located 34E in the radiation path. In this case, the read head supplies the binary output signal 110-6.

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Die Ionisationskammer 18 besteht aus einer ausseren Elektrode 102, welche die Innenwand der Kammer bedeckt ,und aus einer Kollektorelektrode 104, die in die Mitte der Kammer vorsteht und gegenüber der äusseren Elektrode 102 mittels eines geeigneten Isolators 106 isoliert ist. über eine Zuleitung 21 liegt an der äusseren Elektrode 102 eine Gleichspannung aus einer Spannungsquelle 114 des Datenprozessors 22 bzw. des Moduls an. Die Ionisationskammer 18 ist mit einem normalerweise nicht-leitenden Gas gefüllt, so dass normalerweise über eine Rückleitung 20 kein Strom zu dem Datenprozessor 22 fließt. Wenn jedoch Strahlung aus der Radioisotopenquelle 12 in die Ionisationskammer 18 eintritt, dann werden in dieser Gasmoleküle ionisiert, so dass das Gas leitfähig wird und ein Stromfluß durch die Rückleitung 20 auftritt. Dieser Strom wird in einem Strom/Spannungs-Wandler in eine Spannung umgesetzt, die dem Strom aus der Ionisationskammer 18 proportional ist. Diese Spannung wird bei der Datenverarbeitung als Maß für den Strom aus der Ionisationskammer ausgewertet. Damit läßt sich die eingangs angegebene Gleichung (2) nunmehr wie folgt Schreiben:The ionization chamber 18 consists of an outer one Electrode 102, which covers the inner wall of the chamber, and a collector electrode 104, which is shown in FIG the center of the chamber protrudes and facing the outer electrode 102 by means of a suitable insulator 106 is isolated. A DC voltage is applied to the outer electrode 102 via a lead 21 from a Voltage source 114 of the data processor 22 or the Module. The ionization chamber 18 is filled with a normally non-conductive gas, so that normally no current flows to the data processor 22 via a return line 20. However, if radiation enters the ionization chamber 18 from the radioisotope source 12, then gas molecules are in this ionized, so that the gas becomes conductive and a current flow through the return line 20 occurs. This Current is converted into a voltage in a current / voltage converter, which corresponds to the current from the ionization chamber 18 is proportional. This voltage is used in data processing as a measure of the current from the Ionization chamber evaluated. The equation (2) given at the beginning can now be used as follows To write:

(3) w « - (1/r) In (V/Vo)(3) w «- (1 / r) In (V / Vo)

Der Modul oder Datenprozessor 22 wird mit Hilfe einer Temperaturfühlerschaltung 108 auf einer konstanten erhöhten Temperatur gehalten, wobei die Schaltung einen Heizwiderstand 112 im Inneren des Datenprozessors 22 über einen Verstärker 110 speist.The module or data processor 22 is with the aid of a temperature sensor circuit 108 on a constant The circuit has a heating resistor 112 inside the data processor 22 feeds through an amplifier 110.

Der zwischen der Radioisotopenquelle 12 und dem Fen-The between the radioisotope source 12 and the fen

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ster 56 liegende Teil des Strahlungsweges ist von einer luftdichten Kammer 52 umschlossen. Der Strahlungsweg ist dabei durch die Halterung 16, eine Quellenummantelung 68, eine untere Führungsplatte 64, eine Abdeckung 60 für den Strahlungsquellenkopf und das Fenster 56 begrenzt. Das Fenster 56 ist dabei in einem Gehäusering 58 angeordnet und wird von der Abdeckung 60 derart abgestützt, dass es einen elastischen Dichtungsring 62 zusammenpreßt. Ein weiterer Dichtungsring 66 ist zwischen der Abdeckung 60 und der Führungsplatte 64 vorgesehen. Weitere Dichtungen 70 und 76 sind zwischen der Quellenummantelung 68 und der Führungsplatte 64 bzw. zwischen der Halterung 60 und der Ummantelung 68 vorgesehen. Auch die Welle 26 für die Blende 24 und die Welle 38 für die Probenscheibe 32 sind mit Dichtungen 72 bzw. 74 versehen, um sicher zu stellen, dass die Kammer 52 hermetisch abgedichtet ist. Ausserdem sind auch für den Halterungsblock bzw. die Halterung 16 geeignete Schraubendichtungen vorgesehen.The part of the radiation path that is lying 56 is enclosed by an airtight chamber 52. The radiation path is through the holder 16, a source casing 68, a lower guide plate 64, a cover 60 for the radiation source head and the window 56 is limited. The window 56 is arranged in a housing ring 58 and is covered by the cover 60 supported in such a way that it compresses an elastic sealing ring 62. Another Seal ring 66 is provided between the cover 60 and the guide plate 64. More seals 70 and 76 are between the source jacket 68 and the guide plate 64 and between the bracket, respectively 60 and the jacket 68 is provided. Also the shaft 26 for the diaphragm 24 and the shaft 38 for the sample disks 32 are provided with seals 72 and 74, respectively, in order to ensure that the chamber 52 is hermetically sealed. In addition, they are also suitable for the mounting block or the mounting 16 Screw seals provided.

Eine weitere luftdichte Kammer 54 umschließt den Teil des Strahlenweges, der zwischen dem Fenster 80 und der Ionisationskammer 18liegt. Diese Kammer ist durch das Fenster 80 des Detektorkopfes 6, eine Detektorkopfabdeckung 84 und die Kammerwand 90 begrenzt. Das Fenster 80 ist dabei mit einem umlaufenden Flansch 82 versehen, der unter Zwischenschaltung einer Dichtung 86 an der Abdeckung 84 montiert ist.Another airtight chamber 54 encloses the part of the beam path which is between the window 80 and the ionization chamber 18 lies. This chamber is through the window 80 of the detector head 6, a detector head cover 84 and the chamber wall 90 limited. The window 80 is here with a circumferential Flange 82 is provided, which is mounted on the cover 84 with the interposition of a seal 86.

Sämtliche Bauteile, welche die luftdichten Kammern und 54 begrenzen, sind aus Materialien hergestellt, die ausreichend steif sind, um zu verhindern, dassAll components that delimit the airtight chambers 54 and 54 are made of materials which are sufficiently stiff to prevent that

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ORiGiNAL INSPECTEDORiGiNAL INSPECTED

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Änderungen des inneren oder des äusseren Drucks die Gasdichte in diesen Kammern verändern.Changes in the internal or external pressure change the gas density in these chambers.

Die Kammern 52 und 54 müssen nicht absolut luftdicht sein. Die gesamte Luftsäule zwischen der Quelle 12 und dem Detektor bzw. der Ionisationskammer 18 kann eine Höhe von etwa 6,4 cm besitzen, wobei die Höhe von der Dicke der Blende 24 bestimmt wird, welche verhindern muß, dass bei nicht benutztem Gerät Strahlung aus der Radioisotopenquelle 12 austritt. Diese Luftsäule entspricht einem Basisgewicht von etwa 551bs.The chambers 52 and 54 do not have to be absolutely airtight. The entire column of air between the source 12 and the detector or the ionization chamber 18 can have a height of about 6.4 cm, the height being determined by the thickness of the screen 24, which prevent must that when the device is not in use, radiation emerges from the radioisotope source 12. This column of air corresponds to a basis weight of about 551bs.

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pro 3.300 ft . Da es erwünscht ist, das Basisgewicht mit einer Genauigkeit von ± 0,01 lbs. pro 3.300 ft . zu bestimmen, ist es lediglich erforderlich, dass die Kammern 52 und 54 ausreichend dicht sind, um die Dichteänderungen zwischen den Eichintervallen von einer Stunde, beispielsweise auf einem Wert von weniger als 1/5.500 zu halten.2
per 3,300 ft. Since it is desirable to have the basis weight to within ± 0.01 lbs. per 3,300 ft. To determine, it is only necessary that the chambers 52 and 54 are sufficiently tight to keep the density changes between the calibration intervals of one hour, for example at a value of less than 1/5500.

Die Höhe des Arbeitsspalts 10 kann etwa 3 mm betragen und damit nur etwa 5 % der Gesamthöhe der Luftsäule. Im Luftspalt führt jede Druckänderung um 25,4 mm Hg zu einem Fehler im Basisgewicht, der sich wie folgt errechnet: *The height of the working gap 10 can be approximately 3 mm and thus only about 5% of the total height of the air column. In the air gap, every change in pressure results in 25.4 mm Hg to an error in the basis weight, which is calculated as follows: *

(1/29,92)(0,05) (55) =O_;O92 lb/33OO ft.² (4)(1 / 29.92) (0.05) (55) = O _; O92 lb / 33OO ft. ² (4)

In einer Papierfabrik ergeben sich zwischen den Sensoren, die sich auf der Papierbahn befinden, und denjenigen, die sich nicht auf der Papierbahn befinden, typische Temperaturänderungen von 50°C. Im Luftspalt führt eine Temperaturänderung von jeweils 1 C (unter der Voraussetzung einer ümgebungstempera-In a paper mill there are and between the sensors located on the paper web those that are not on the paper web, typical temperature changes of 50 ° C. in the The air gap results in a temperature change of 1 C each time (assuming an ambient temperature

- 17 -- 17 -

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13. Juni 1980 - 17 -June 13, 1980 - 17 -

tür von 2O°C = 293 K) zu einem Fehler im Basisgewicht, der sich gemäß folgender Gleichung errechnet:door of 20 ° C = 293 K) to an error in the basis weight, which is calculated according to the following equation:

(1/293) (0,05) (55) « 0,0094 lb/33OO ft².(1/293) (0.05) (55) «0.0094 lb / 33OO ft ² .

über einer oberen Führungsplatte 65 ist ein Druckwandler 97 montiert. Ein Druckkanal 99 in der Platte 65 sorgt für eine Verbindung zwischen dem Arbeitsspalt 10 und dem Wandler 97, welcher auf Leitungen 101 ein elektrisches Auogangssignal erzeugt. Ein Arbeitsspalt-Thermistor 96, der ein Ausgangssignal auf Leitungen 100 liefert, ist einem Isolator 98 in der unteren Führungsplatte 64 montiert. Um eine Genauigkeit von t 0,01/3300 ft² aufrecht zu erhalten, sollte der Druckwandler 97 eine Auflösung von mindestens 2,54 mm Hg besitzen. Ferner sollte der als Temperaturwandler verwendete Thermistor 96 eine Auflösung von mindestens 1°C besitzen.A pressure transducer 97 is mounted over an upper guide plate 65. A pressure channel 99 in the plate 65 provides a connection between the working gap 10 and the transducer 97, which generates an electrical output signal on lines 101. A working gap thermistor 96, which provides an output signal on leads 100, is mounted on an insulator 98 in the lower guide plate 64. To maintain an accuracy of t 0.01 / 3300 ft ² , the pressure transducer 97 should have a resolution of at least 2.54 mm Hg. Furthermore, the thermistor 96 used as a temperature converter should have a resolution of at least 1 ° C.

Beim Arbeiten nach dem erfindungsgemäßen Verfahren und mit dem erfindungsgemäßen Gerät werden zunächst die fünf Standardproben 34A bis 34E ausgewählt, die vorgegebenen Basisgewichten an im Abstand voneinander befindlichen Punkten einer Basisgewichtkurve entsprechen, wobei diese Punkte in einem Gewichtsbereich liegen, in dem das Gerät anschliessend für Messzwecke eingesetzt werden soll. Die Auswahl der Standardproben erfolgt dabei, indem zunächst eine grosse Anzahl geeichter Standardproben in den Arbeitsspalt 10 zwischen den Köpfen 2 und 6 eingebracht wird und indem die resultierenden Ausgangsspannungen gemessen werden. Beispielsweise wurden siebzehn geeichte Stan-When working according to the method according to the invention and with the device according to the invention, first the five standard samples 34A to 34E are selected, the predetermined basis weights at a distance from each other correspond to located points of a basis weight curve, these points in a weight range in which the device is then to be used for measurement purposes. The selection of the standard samples takes place by first placing a large number of calibrated standard samples in the working gap 10 between the heads 2 and 6 and by measuring the resulting output voltages. For example, seventeen calibrated standards

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dardproben verwendet, die siebzehn verschiedenen Basisgewichten zwischen 11,70 und 117,10 entsprachen. Unter Auswertung der gemessenen Spannung wurden dann nach der Fehlerquadratmethode die' Koeffizienten des nachstehend angegebenen Polynoms zweiten Grades bestimmt: Standard samples used the seventeen different base weights between 11.70 and 117.10. After evaluating the measured voltage, the 'coefficients of the The following second degree polynomial is determined:

w = C1 + C2 ν + C3 v²;w = C1 + C2 ν + C3 v ² ;

diese Funktion ist in Fig. 4 dargestellt.this function is shown in FIG.

Nach Beendigung der vorstehend beschriebenen Vorbereitungen werden so schnell wie möglich und unter möglichst identischen Bedingungen durch Messen der Spannungen und Berechnung der entsprechenden Gewichte in den gewünschten Bereichen die fünf Standardproben 34A bis 34E ausgewählt. Diese Proben werden dann die Standardproben des Geräts.After completing the above preparations will be as soon as possible and under conditions that are as identical as possible by measuring the voltages and calculating the corresponding weights the five standard samples 34A to 34E were selected in the desired areas. These samples are then the standard samples of the device.

Nachdem die Standardproben ausgewählt sind, wird der eigentliche Betrieb aufgenommen, wobei die öffnung im Arbeitsspalt 10 zwischen den Köpfen 2 und 6 liegt und wobei die Messungen des Basisgewichts nunmehr in üblicher Weise auf der Grundlage des aufgrund der Vorbereitung bekannten Zusammenhangs zwischen der gemessenen Spannung und dem zugehörigen Basisgewicht erfolgen.After the standard samples have been selected, the actual operation is started, with the opening lies in the working gap 10 between the heads 2 and 6 and with the measurements of the basis weight now in Usually on the basis of the relationship between the measured voltage and the associated basis weight.

Wenn das Gerät dann eine gewisse Zeit im Betrieb ist, ist die zunächst "bekannte" Beziehung zwischen der gemessenen Spannung und dem Gewicht nicht länger gültig, da sich verschiedene Einflussgrößen ändern, beispielsweise die Umgebungstemperatur, der Aufbau von Rückständen, ein Verschleiß der Fenster usw., so dass das Ge-If the device is then in operation for a certain time, the first "known" relationship is between the measured Voltage and weight are no longer valid because various influencing factors change, for example the ambient temperature, the build-up of residues, wear and tear on the windows, etc., so that the

030064/0701 -030064/0701 -

A 44 176 bA 44 176 b

13. Juni 1980 - 19 -June 13, 1980 - 19 -

rät geeicht werden muß. Für die erneute Eichung wird das Gerät, was die Messungen anbelangt, ausser Betrieb gesetzt, ohne jedoch aus seiner Lage bewegt zu werden. Das Gerät bleibt also in seiner Arbeitsstellung, wobei die Eichung erfolgen kann, indem man beispielsweise die Papierbahn nicht mehr durch den Arbeitsspalt laufen läßt.advises to be calibrated. For the renewed calibration, the device, as far as the measurements are concerned, is out of operation set, but without being moved out of its position. The device remains in its working position, with the calibration can take place, for example, by no longer passing the paper web through the working gap runs.

Für die eigentliche Eichung werden nunmehr nacheinander die "eingebauten" Standardproben 34A bis 34E in der Kammer 52 in den Strahlengang bewegt, wobei für den Datenprozessor 22 fünf Spannungen erhalten werden. Der Datenprozessor 22 enthält beispielsweise einen geeigneten Mikroprozessor, beispielsweise vom Typ "Jntel 8080", welcher so programmiert ist, dass er die Konstanten der Gleichung (4) gemäß dem beim Einsatz der Standardproben erhaltenen Spannungen korrigiert, wodurch das Gerät erneut geeicht wird und nunmehr wieder in Abhängigkeit von den Spannungen, die· dem Ionisationskammerstrom entsprechen, genaue Ergebnisse für das Basisgewicht liefert, wobei die Faktoren berücksichtigt werden, welche die Genauigkeit des Geräts im Lauf der Zeit beeinflussen. Dabei ist zu beachten, dass bei den Mess- und Eichvorgängen nicht nur mit der binomischen Gleichung (4) gearbeitet werden kann, sondern auch mit der Exponentialgleichung (1) oder der logarithmischen Gleichung (2), wobei der Mikroprozessor die Eichung entsprechend der jeweils verwendeten Formel in Abhängigkeit von den Spannungen durchführt, die beim Einsatz der Standardproben erhalten werden.For the actual calibration, the "built-in" standard samples 34A to 34E are now used one after the other in of the chamber 52 is moved into the beam path, five voltages being obtained for the data processor 22. The data processor 22 contains, for example, a suitable microprocessor, for example of the "Jntel" type 8080 ", which is programmed in such a way that it uses the constants of equation (4) according to when using the standard samples tensions received are corrected, whereby the device is re-calibrated and is now back in Depending on the voltages that correspond to the ionization chamber current, precise results for the Provides basis weight, taking into account the factors affecting the accuracy of the device in the run affect the time. It should be noted that during the measurement and calibration processes not only with the binomial equation (4) can be worked, but also with the exponential equation (1) or the logarithmic Equation (2) where the microprocessor calibrates according to the particular one used Formula as a function of the voltages obtained when using the standard samples.

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Aus der vorstehenden Beschreibung wird deutlich, dass die Aufgabe der Erfindung gelöst wird und dass es mit Verfahren und Gerät gemäß der Erfindung möglich ist, eine genaue Eichung bei an einer Produktionsstraße oder dergleichen eingebautem Gerät durchzuführen. Dabei werden Änderungen, wie z. B. eine Abnahme der Strahlungsintensität der Quelle, eine Abnutzung der Fenster und der Aufbau von Rückständen jeweils nach den erforderlichen Zeitintervallen berücksichtigt, wobei das Gerät ausserdem so aufgebaut ist, dass der Einfluß atmosphärischer Dichteänderungen auf ein Minimum reduziert wird.From the above description it is clear that the object of the invention is achieved and that it with the method and device according to the invention it is possible to carry out an accurate calibration with the device installed on a production line or the like. Changes such as B. a decrease in the radiation intensity of the source, wear the window and the build-up of residues according to the required time intervals taken into account, the device also being constructed in such a way that the influence of atmospheric density changes is reduced to a minimum.

Abschliessend sei noch darauf hingewiesen, dass von den vorstehend beschriebenen Merkmalen auch einzelne Merkmale und ünterkombinationen von Merkmalen nützlich sein können und dass dem Fachmann, ausgehend von dem beschriebenen Ausführungsbeispiel, zahlreiche Möglichkeiten für Änderungen und/oder Ergänzungen zu Gebote stehen, ohne dass er dabei den Grundgedanken der Erfindung verlassen müßte.Finally, it should be noted that of the features described above individual features and sub-combinations of features may be useful and that the person skilled in the art, based on the exemplary embodiment described, Numerous possibilities for changes and / or additions are available without him doing it would have to leave the basic idea of the invention.

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e ee e

Claims (12)

HOEGER, STELLREeHt a PARTNERHOEGER, POSITION A PARTNER PATENTANWÄLTE UHLANDSTRASSE 14 c · D 7000 STUTTGART 1PATENTANWÄLTE UHLANDSTRASSE 14 cD 7000 STUTTGART 1 3Ü228833Ü22883 A 44 176 b Anmelder: Sentrol Systems Ltd.A 44 176 b Applicant: Sentrol Systems Ltd. k - 177 4401 Steeles Avenue Westk- 177 4401 Steeles Avenue West 13. Juni 1980 Downsview, Ontario M3N 2S4June 13, 1980 Downsview, Ontario M3N 2S4 CanadaCanada PatentansprücheClaims Verfahren zum Eichen eines Messgeräts an dessen Messplatz, an dem es installiert ist, wobei in dem Messgerät Strahlung von einer Strahlungsquelle durch ein Medium hindurch passiert und zu einem Detektor gelangt, um dort einen Strom zu erzeugen, welcher ein Maß für eine Eigenschaft des Mediums ist, gekennzeichnet durch folgende Verfahransschritte: Method for calibrating a measuring device at the measuring station where it is installed, where in the measuring device radiation from a radiation source passes through a medium and to a Detector arrives to generate a current there, which is a measure of a property of the medium is characterized by the following steps: man wählt zunächst mehrere interne Standards aus, die verschiedenen Werten der gemessenen Größe entsprechen;one first selects several internal standards, the different values of the measured quantity correspond; man positioniert die internen Standards nacheinander zwischen der Strahlungsquelle und dem Detektor, um eine Anzahl von Spannungen zu erzeugen, die der Anzahl der internen Standards entspricht undthe internal standards are positioned one after the other between the radiation source and the detector, to generate a number of voltages corresponding to the number of internal standards and man eicht das Messgerät aufgrund der Werte der gemessenen Größe und der genannten Spannungen.the measuring device is calibrated on the basis of the values measured Size and the stated voltages. 2. Vorrichtung zum Eichen eines Messgeräts an dessen Messplatz, an dem es installiert ist insbesondere zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, wobei das Messgerät eine Strahlungsquelle und einen Detektor aufweist, die so ..montiert sind, dass sich zwischen ihnen ein Zwischenraum ergibt, durch den ein Medium hindurch passieren kann, um den Detektor zu veranlassen, einen Strom zu erzeugen, der ein Maß für eine Eigenschaft2. Device for calibrating a measuring device at the measuring station at which it is installed, in particular for performing the method according to claim 1, wherein the measuring device is a radiation source and having a detector mounted so that there is a space between them results through which a medium can pass to cause the detector to generate a Generate electricity, which is a measure of a property 030064/0701 " ² "030064/0701 " ² " ORIGINAL INSPECTEDORIGINAL INSPECTED 13. Juni 1980 - 2 -June 13, 1980 - 2 - des Mediums ist, dadurch gekennzeichnet, dass mehrere interne Standards vorgesehen sind, die vorab so ausgewählt sind, dass sie zugeordneten, verschiedenen, bekannten Werten der gemessenen Eigenschaften entspreche^ und dass Halterungseinrichtungen für die Standards vorgesehen sind, mit deren Hilfe die Standards nacheinander in den Zwischenraum zwischen der Strahlungsquelle und dem Detektor hineinbewegbar sind, um mehrere Ausgangsströme zu erzeugen, die in Verbindung mit den bekannten Werten der gemessenen Eigenschaft an Ort und Stelle eine Eichung des Messgeräts ermöglichen.of the medium is characterized in that several internal standards are provided, which in advance are selected to be associated with different, known values of the measured properties correspond ^ and that mounting devices are provided for the standards with which Help the standards one by one in the space between the radiation source and the detector can be moved in to generate multiple output currents, which in conjunction with the known values enable the measured property to be calibrated on the spot. 3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass Signalerzeugungseinrichtungen vorgesehen sind, mit deren Hilfe Positions-Ausgangssignale erzeugbar sind, die anzeigen, welcher der Standards sich jeweils in dem Zwischenraum befindet.3. Apparatus according to claim 2, characterized in that signal generating devices are provided with the help of which position output signals can be generated that indicate which of the standards is in each case in the gap. 4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Halterungseinrichtungen eine Scheibe umfassen, dass die Standards von der Scheibe an in Umfangsrichtung im Abstand voneinander befindlichen Stellen getragen werden, dass in der Scheibe zwischen einem Paar dieser Stellen eine öffnung vorgesehen ist, dass Befestigungseinrichtungen vorgesehen sind, welche die Scheibe angrenzend an das Messgerät derart haltern, dass deren die genannten Stellen bildender Teil durch den Zwischenraum hindurch passieren kann, dass Positioniereinrichtungen vorgesehen sind, mit deren Hilfe die Scheibe so positioniert werden kann, dass die genannte öffnung sich in dem Zwischenraum4. Apparatus according to claim 2 or 3, characterized in that the holding devices a Disc include that the standards from the disc on in the circumferential direction spaced from each other located places are worn that in the disc between a pair of these places a Opening is provided that fastening devices are provided which adjoin the pane on the measuring device in such a way that the part that forms the named points is supported by the Gap can pass through that positioning devices are provided with their Help, the disk can be positioned so that said opening is in the space 030 0 64/0701030 0 64/0701 A 44 176 b k - 177A 44 176 b k - 177 13. Juni 1980 - 3 -June 13, 1980 - 3 - befinde^ und dass Antriebseinrichtungen vorgesehen sind, mit deren Hilfe die Scheibe derart antreibbar ist/ dass die internen Standards nacheinander in den Zwischenraum gelangen, um den Detektor zur Erzeugung von Ausgangsströmen zu veranlassen, die in Verbindung mit den bekannten Werten eine Eichung des Messgeräts an Ort und Stelle ermöglichen. located ^ and that drive devices are provided with the help of which the disc can be driven in such a way / that the internal standards one after the other get into the gap to cause the detector to generate output currents, which, in conjunction with the known values, enable the measuring device to be calibrated on site. 5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass Signalerzeugungseinrichtungen zur Erzeugung eines die Position der Scheibe anzeigenden Ausgangssignals vorgesehen sind.5. Apparatus according to claim 4, characterized in that signal generating devices for generating an output signal indicative of the position of the disc are provided. 6. Vorrichtung zum Messen der Masse eines gegebenen Materials pro Flächeneinheit unter Verwendung des Ausgangsstromes einer Ionisationskammer zum Messen der Strahlungsmenge, die von einer Radioisotopen-Quelle ausgeht und in die Ionisationskammer eintritt, nachdem sie auf einen Bereich des Materials projiziert wurde, insbesondere zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens drei Eichstandards vorgesehen sind, von denen jedes aus einem Material mit bekannter Masse pro Flächeneinheit besteht, dass Halterungseinrichtungen vorgesehen sind, mit deren Hilfe die Eichstandards nacheinander in den Strahlengang zwischen der Radioisotopenquelle und der Ionisationskammer hineinbewegbar sind, während das gegebene Material sich nicht in diesem Zwischenraum befindet, und dass Betätigungseinrichtungen zum Herbeiführen dieser Bewegung der Halterungseinrichtungen und zum Messen des Ausgangsstromes6. Apparatus for measuring the mass of a given material per unit area using the Output current of an ionization chamber for measuring the amount of radiation emitted by a radioisotope source goes out and enters the ionization chamber after hitting an area of the material was projected, in particular for carrying out the method according to claim 1, characterized in that that at least three calibration standards are provided, each of which is made of one material With a known mass per unit area there is that holding devices are provided with whose help the calibration standards one after the other in the beam path between the radioisotope source and the ionization chamber can be moved into it, while the given material is not in this space is located, and that actuating devices for bringing about this movement of the support devices and to measure the output current 030064/0701030064/0701 k - 177k - 177 13. Juni 1980 - 4 -June 13, 1980 - 4 - der Ionisationskammer für jeden in dem Strahlungsweg befindlichen Eichstandard vorgesehen sind. the ionization chamber are provided for each calibration standard located in the radiation path. 7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Eichstandards derart ausgewählt sind, dass sie hinsichtlich der Masse pro Flächeneinheit Werte aufweisen, welche derart unterschiedlich sind, dass sie in dem zu erwartenden Bereich der Werte der Masse pro Flächeneinheit für die in der Vorrichtung zu untersuchenden Mater.⁴.alen etwa gleiche Abstände voneinander aufweisen.7. The device according to claim 6, characterized in that the calibration standards are selected such that they have values in terms of mass per unit area which are so different that they are in the expected range of values of mass per unit area for those in the device matter to be examined. ⁴ .als have approximately the same distances from one another. 8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass fünf Eichstandards vorgesehen sind.8. The device according to claim 7, characterized in that five calibration standards are provided. 9. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass für die Strahlungsquelle und die Ionisationskammer jeweils luftdichte Gehäuse vorgesehen sind, welche derart gehaltert sind, dass sich zwischen ihnen ein Spalt ergibt, durch den das zu untersuchende Material hindurchführbar ist,und dass die luftdichten Gehäuse ausreichend starr aufgebaut sind, um die Auswirkung der normalen Temperatur- und Druckänderungen in der Umgebung der Vorrichtung auf ein Minimum zu reduzieren.9. Apparatus according to claim 6, characterized in that for the radiation source and the ionization chamber each airtight housing are provided, which are held in such a way that between gives them a gap through which the material to be examined can be passed, and that the airtight housing is sufficiently rigid to withstand the effects of normal temperature and minimize pressure changes in the vicinity of the device. 10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass ein linearer Thermistor vorgesehen ist, welcher angrenzend an die Stelle, an der der Strahlungsweg den Spalt kreuzt, in Kontakt mit dem Gas in dem Spalt zwischen den beiden luftdichten Kammern steht.10. The device according to claim 9, characterized in that that a linear thermistor is provided, which is adjacent to the point where the radiation path crosses the gap, in contact with the gas in the gap between the two airtight chambers stands. 030064/0701030064/0701 A 44 176 bA 44 176 b k - 189 - 5 -k - 189 - 5 - 13. Juni 1980June 13, 1980 11. Vorrichtung zum genauen Messen der Masse eines gegebenen Materials pro Flächeneinheit unter Verwendung des Ausgangsstromes einer Ionisationskammer zum Messen der Strahlungsenergie, die von einer radioisotopen Quelle ausgeht und adsorbiert wird, wenn sie durch das genannte Material hindurchgeleitet wird, insbesondere zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens zwei luftdichte Gehäuse für die Radioisotopenquelle bzw. die Ionisationskammer vorgesehen sind, daß Halterungseinrichtungen für die Gehäuse vorgesehen sind, mit denen diese derart halterbar sind, daß sich zwischen ihnen im Strahlungsweg zwischen der Radioisotopenquelle und der Ionisationskammer ein schmaler Spalt ergibt, durch den das genannte Material hindurchführbar ist, und daß die luftdichten Kammern ausreichend starr ausgebildet sind, so daß die Wirkung normaler Temperatur- und Druckänderungen in der Umgebung auf ein Minimum reduziert wird.11. Apparatus for accurately measuring the mass of a given material per unit area under Using the output current of an ionization chamber to measure the radiant energy generated by emanates from a radioisotopic source and is adsorbed when passed through said material is, in particular for performing the method according to claim 1, characterized in, that at least two airtight housings for the radioisotope source or the ionization chamber are provided that holding devices are provided for the housing with which this can be held in such a way that there is between them in the radiation path between the radioisotope source and the ionization chamber provides a narrow gap through which said material can be passed is, and that the airtight chambers are made sufficiently rigid so that the effect normal temperature and pressure changes in the environment are reduced to a minimum. 12. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß ein linearer Thermistor vorgesehen ist, welcher angrenzend an die Stelle, an der der Strahlungsweg den.Spalt kreuzt, in Kontakt mit dem Gas in dem Spalt zwischen den beiden luftdichten Kammern steht.12. The device according to claim 11, characterized in that a linear thermistor is provided, which is adjacent to the point where the radiation path crosses the gap, in contact with the gas in the gap between the two airtight chambers. 030 0 64/0701030 0 64/0701