DE3006421A1 - Analysegeraet zum kennzeichnen eines besonderen bestandteils in einer probe - Google Patents

Analysegeraet zum kennzeichnen eines besonderen bestandteils in einer probe

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Description

TECHNICON INSTRUMENTS CORPORATION, Tarrytown, N.Y. VStA
Analysegerät zum Kennzeichnen eines besonderen Bestandteils in einer Probe
Die Erfindung bezieht sich auf ein Analysegerät zum Kennzeichnen oder Charakterisieren eines Bestandteils in ■ einer Probe und ist insbesondere auf ein Infrarot-Analysegerät gerichtet, das nach der Erfindung die Analyse empfindlicher, genauer und mit geringeren Kosten vornehmen soll.
Infrarot-Analysegerate arbeiten im allgemeinen derart, daß eine Lebensmittelprobe oder eine organische Probe mit Licht im Nah-Infrarotbereich des Spektrums bestrahlt wird. Der Arbeitsweise eines derartigen Analysegeräts liegt das Prinzip zugrunde, die spektralen Veränderungen im reflektierten Licht fotometrisch zu messen. Diese Veränderungen beruhen auf der spektralen selektiven Absorption von Licht durch die organischen Bestandteile in der Probe. Lichtmessungen, die bei einigen unterschiedlichen Wellenlängen im Nah-Infrarotbereich ausgeführt werden, liefern Information, die die relativen Konzentrationen der Probenbestandteile bestimmen, und zwar aufgrund der Selektivität der Probenbestandteile bei den verschiedenen Lichtwellenlängen. Eine Anordnung dieser grundsätzlichen Art ist aus der US-PS 3 776 642 bekannt.
Die Probe wird gewöhnlich gleichzeitig mit einer Bezugs- oder Referenzprobe gemessen, die im folgenden einfach mit "Referenz" bezeichnet ist, um einen geeigneten Meßpegel zu erstellen und systemeigene Störungen zu beseitigen. Probe- und Referenzmessungen werden oft gleichzeitig mit Hilfe einer Doppelstrahlanordnung ausgeführt, d.h., ein Strahl wird auf die Probe gerichtet und der andere Strahl wird auf die Referenz gerichtet. Die gleichzeitige Messung der Probe und der
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Referenz ist deshalb erforderlich, um Fehler zu vermeiden oder klein zu halten, die durch im Meßsystem auftretende Drift hervorgerufen werden.
Angesichts der extrem hohen Genauigkeit, die man von einem Analysegerät der erläuterten Art erwartet, kann man zwischen den Probe- und Referenzmessungen keine Drift tolerieren. Es muß daher eine große Sorgfalt aufgewendet werden, um die Drift zu beherrschen.
Manche Geräte verwenden zum Messen der Probe und der Referenz einen einzigen Strahl. Die Drift zwischen den Probe- und Referenzmessungen wird dadurch vermieden, daß der Lichtstrahl sehr schnell zwischen der Probe und der Referenz hin- und hergeschaltet wird. Solche Systeme oder Anordnungen bedingen jedoch angesichts der raschen Lichtstrahlumschaltung eine sehr komplexe und damit kostspielige Optik.
Die Erfindung zielt nun darauf ab, ein Einzelstrahlsystem in der Richtung zu verbessern, daß es empfindlicher arbeitet, weniger komplex aufgebaut ist und damit im Vergleich zu üblichen Analysegeräten kostengünstiger hergestellt werden kann.
Bei einem nach der Erfindung ausgebildten Analysegerät soll ein einziger Strahl abwechselnd die Probe und die Referenz bestrahlen, jedoch mit einer relativ geringen Umschaltgeschwindigkeit, um eine komplexe und kostenaufwendige Optik zu vermeiden. Selbstverständlich kann eine derartige Anordnung Probe- und Referenzmessungen nicht gleichzeitig vornehmen. Daher ist es Zweck der Erfindung, die nicht gleichzeitig ausgeführten Messungen zu verarbeiten, um Probe- und Referenzwerte bereitzustellen,, die effektiv in Übereinstimmung oder in Einklang miteinander stehen. Dies wird nach der Erfindung grundsätzlich durch synchrone Mittelung des Probesignals um das Referenzsignal oder umgekehrt erreicht.
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Die Verarbeitung der Signale vermindert oder beseitigt die Driftwirkungen und verbessert das Signal-Rausch-Verhältnis bzw. den Rauschabstand.
Da der Fehler im Signal elektronisch herabgesetzt wird, zeichnet sich das erfindungsgemäße Analysegerät durch einen weiteren Vorteil aus. Die sonst zur Vermeidung von Drift benötigten Lichtdetektoren mit engen Toleranzen und entsprechende Temperaturregeleinrichtungen können nämlich entfallen. Dadurch wird das Analysegerät einfacher und billiger.
Das erfindungsgemäße Analysegerät macht zur Kennzeichnung der Bestandteile in einer Probe von einer Reflexionstechnik Gebrauch. Das Gerät enthält einen Träger für die Probe sowie eine Referenz, die zum Vergleich mit der Probe dient. Das Licht wird abwechselnd und periodisch mit Hilfe eines schwenkbaren Spiegels auf die Probe und die Referenz gerichtet. Das von der Probe und der Referenz reflektierte Licht wird herangezogen, um eine Gruppe aufeinanderfolgender Probe- und Referenzsignale zu erzeugen. Die Signalgruppe umfaßt wenigstens drei Signale, und zwar eine Dreiergruppe aus Probe-Referenz-Probe-Signalen oder eine Dreiergruppe aus Referenz-Probe-Referenz-Signal en. Wenigstens eine Art von Signal in der Signalgruppe wird synchron gemittelt, um ein im Gleichklang stehendes Ausgangssignal zu erhalten. Die synchrone Mittelung oder Mittelwertbildung von der einen Signalart oder von beiden Signalarten liefert Probe- und Referenzmessungen, die effektiv als gleichzeitig betrachtet werden können. Dies bedeutet, daß die auf Drift zurückzuführenden Unterschiede in den Signalen durch die elektronische synchrone Mittelung der Signale effektiv vermindert oder beseitigt sind.
Grundsätzlich besteht somit die Erfindung darin, daß aufgrund des Lichts, das von der Probe und der Referenz reflektiert wird, eine Gruppe aufeinanderfolgender Signale erzeugt wird und daß wenigstens eine Signalart der Signalgruppe syn-
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-Q-
chron gemittelt wird, d.h. die Signale der Probe und bzw. oder der Referenz. Das gewonnene, synchron gemittelte Ausgangssignal wird dann mit der anderen Signalart in der Signalgruppe in Beziehung gesetzt, um in der zu analysierenden Probe die Bestandteile zu charakterisieren oder zu kennzeichnen.
Nach der Erfindung wird somit ein Infrarot-Analysegerät zum Kennzeichnen der Bestandteile einer Probe geschaffen, das sehr empfindlich arbeitet, genaue Ergebnisse liefert und kostengünstig herzustellen ist. Die erzeugten Ausgangssignale sind im wesentlichen driftfrei und haben einen hohen Rauschabstand.
Ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Erfindung wird im folgenden an Hand von Zeichnungen erläutert. Es zeigt:
F i g . 1 eine teilweise geschnittene perspektivische Ansicht eines Analysegerätes nach der Erfindung,
F i g . 2 eine schematische Ansicht des in der Fig. 1 dargestellten Gerätes,
Fig. 3a und 3b grafische Darstellungen der optischen Dichte in Abhängigkeit von der Zeit für die Proben- und Referenzsignale, die das Gerät nach der Fig. 1 erzeugt,
F i g . 4 ein elektrisches Schaltbild der elektronischen Baugruppe zum Verarbeiten der im Gerät nach der Fig. 1 erzeugten Signale und
F i g . 4a Zeitverläufe von Signalen, die an verschiedenen Punkten der in der Fig. 4 gezeigten Schaltungsanordnung auftreten.
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In den Figuren sind der Einfachheit halber gleiche oder ähnliche Teile mit denselben Bezugszahlen versehen. Die zunächst folgenden Erläuterungen betreffen die Fig. 1 und 2 gemeinsam.
In der Fig. 1 ist ein Infrarot-Analysegerät 10 gezeigt, bei dem eine zu analysierende Probe 11 in einem Becher 12 enthalten ist. Der Becher 12 wird von einem verschiebbaren Einsatz 13 getragen. Der nach Art eines Schlittens ausgebildete Einsatz 13 ist mit einem Griff ausgerüstet, mit dessen Hilfe der Einsatz 13 in der Richtung eines eingezeichneten Pfeils 15 eingeschoben werden kann. Dabei wird der Probenbecher 12 unter eine lichtintegrierende Kammer 16 gebracht, die teilweise geschnitten dargestellt ist.
Der Zweck der Kammer 16 besteht darin, von der Probe reflektiertes Licht 29 (Fig. 2) zu integrieren oder zu sammeln, um die Bestandteile der Probe 11 zu charakterisieren oder zu kennzeichnen. Das für diese Messung erforderliche Licht stammt von einer Infrarotlicht abstrahlenden Glühbirne 20. Das Licht von der Glühbirne 20 wird mit Hilfe einer Linse 21 fokussiert und passiert dann eine Zerhackerscheibe 22. Der Zweck der Zerhackerscheibe 22 besteht darin, der Probe 11 bzw. der Kammer 16 einen gepulsten oder periodischen Lichtstrahl zuzuführen. Der gepulste Lichtstrahl durchsetzt dann eine Filterscheibe 23, die in gesteuerter Weise weitergeschaltet wird, so daß ein Strahl mit aufeinanderfolgenden monochromatischen Wellenlängen entsteht. Die Filterscheibe richtet somit verschiedene Wellenlängen auf die Probe 11. Dies geschieht deswegen, weil die verschiedenen Bestandteile in der Probe das Licht bei verschiedenen Wellenlängen selektiv absorbieren. Es ist diese selektive Absorption oder das Fehlen der Reflexion von Licht durch die Probe 11 bei diesen verschiedenen Wellenlängen, die die besonderen Arten oder Typen von Bestandteilen in der Probe charakterisiert oder kennzeichnet. Die Intensität des bei den verschiedenen Wellenlängen reflektierten Lichts kennzeichnet die Menge Jedes analysierten
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Bestandteils. Hinter der Filterscheibe 23 geht das Licht durch einen Kollimator 24 und fällt dann auf einen Spiegel 25. Der Spiegel 25 ist zwischen zwei Stellungen 1 und 2 bewegbar angeordnet, wie es in der Fig. 2 durch einen eingezeichneten Pfeil 26 angedeutet ist.
In der Stellung 1 wird der Lichtstrahl vom Kollimator mittels des Spiegels 25 längs eines Strahlengangs 19 auf die Probe 11 gerichtet. Befindet sich der Spiegel 25 in der Stellung 2, wird der Lichtstrahl vom Kollimator 24 längs eines Strahlengangs 18 auf die innere Oberfläche 17 der Kammer 16 gerichtet. Die innere Oberfläche 17 der Kammer 16 ist in einer solchen Weise beschichtet, daß das einzufangende Licht zerstreut oder anderweitig integriert wird. Die lichtstreuende innere Oberfläche 17 wirkt auch als ein interner Bezug oder eine interne Referenz, gegenüber der die Probe in Vergleich gesetzt wird. Wenn das Licht mit Hilfe des Spiegels 25 auf die Probe 11 gerichtet wird, wie es durch den Strahlengang angedeutet ist, tritt von der Probe 11 reflektiertes Licht in die Kammer 16 und wird dort mittels der streuenden Oberfläche 17 integriert. Wird das Licht längs des Strahlengangs 18 vom Spiegel 19 auf die als Referenz dienende Oberfläche gerichtet, wird von der Referenz reflektiertes Licht 28 integriert. Die Referenzlichtenergie erstellt einen Referenzpegel für die gemessene Lichtenergie der Probe.
Zwei elektrisch miteinander verbundene Detektoren 30 (in der Fig. 1 ist nur einer der beiden Detektoren zu sehen), sind in der Kammer 16 symmetrisch angeordnet, um die Lichtenergie zu erfassen und diese Lichtenergie in ein der Probe zugeordnetes Probensignal und ein der Referenz zugeordnetes Referenzsignal umzusetzen. Die Schaltung 31 wird noch im einzelnen an Hand der Fig. 4 und 4a erläutert.
Der Spiegel 25 ist so gehaltert, daß der optische Abstand zwischen dem Spiegel 25 und der Referenz längs des
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Strahlengangs 18 und der optische Abstand zwischen dem Spiegel 25 und der Probe längs des Strahlengangs 19 einander gleich sind. Diese beiden optischen Strecken oder Abstände sind in der Fig. 2 mit dem Bezugszeichen d gekennzeichnet. Die gleichen optischen Abstände d beseitigen Strahlungsfehler bei der Lichtmessung. Um die genannte Bedingung gleicher optischer Abstände zu erreichen, muß der Spiegel beim Übergang zwischen den Stellungen 1 und 2 sowohl eine Translations- als auch Rotationsbewegung ausführen. Zum Bewegen des Spiegels wird eine motorgetriebene Nockensteuerung (nicht gezeigt) verwendet. Die oben erläuterte optische Anordnung wurde aus Gründen der Einfachheit ausgewählt. Für die erfindungsgemäßen Zwecke kann man auch andere optische Einrichtungen heranziehen, beispielsweise Lichtstrahlenteiler.
Die Wechselgeschwindigkeit des lichtablenkenden Spiegels wird aus Zweckmäßigkeitsgründen gering gewählt, um die optische Konstruktion einfach zu halten. Wegen dieser Konstruktion wurde allerdings die Verwendung einer internen Referenz ausgewählt, um eine schnellere Umschaltung zwischen Probe und Referenz zu gestatten. Trotzdem tritt zwischen benachbarten Proben- und Referenzsignalen eine Drift auf. Theoretisch ist es erwünscht, das durch die Probe und die Referenz reflektierte Licht gleichzeitig zu messen, um eine Drift zu vermeiden. Dies kann man aber im allgemeinen nur mit ZweiStrahlanordnungen oder noch komplizierteren Systemen erreichen.
Nach der Erfindung wird eine mehrmalige Umschaltung des Lichtstrahls zwischen der Probe und der Referenz in Betracht gezogen, und zwar um im allgemeinen von den Detektoren 30 eine ungerade Anzahl aufeinanderfolgender Proben- und Referenzsignale zu erhalten. Grundsätzlich mißt man somit wenigstens drei Signale, entweder eine Probe-Referenz-Probe-Dreiergruppe oder eine Referenz-Probe-Referenz-Dreiergruppe. Die
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einklammernden Signale werden elektronisch gemittelt, um einen ¥ert zu gewinnen, der mit dem eingeklammerten Signal in Einklang oder in Übereinstimmung steht.
Zur genaueren Erläuterung der Erfindung wird im folgenden auf die Fig. 3a und 3b Bezug genommen. Unter der Annahme, daß die Drift zwischen aufeinanderfolgenden Signalen linear ist, sind entsprechend der Darstellung nach der Fig. 3a die Probe-Referenz-Probe-Signale in Form von Werten für die optische Dichte mit linearer Versetzung gezeigt. Ein erstes Probesignal S1 tritt zu einer Zeit t^ auf. Nach einem vorbestimmten Zeitintervall Δ t erscheint zu einer Zeit tp ein Referenzsignal R. Nach einem weiteren gleich großen Zeitintervall Δ t tritt zu einer Zeit t, ein zweites Probesignal S2 auf.
Wenn man nun die beiden Signale S1 und Sp synchron mittelt, stellt der resultierende Wert SA der synchron gemittelten Probesignale denjenigen Probenwert dar, der gleichzeitig mit dem Referenzsignal R gemessen worden wäre. Die synchrone Mittelung der einklammernden Signale ergibt somit ein Signal, das zur Zeit des eingeklammerten Signals aufgetreten wäre. Wenn mehr als drei Signale , beispielsweise fünf Signale S1, R-j, S2, R2 und S-Z, als Arbeits- oder Betriebsgruppe in Betracht gezogen werden, ist es erforderlich, die Probesignale S1, S2 und S, sowie die Referenzsignale R1 und R2 jeweils für sich synchron zu mitteln, um zwei miteinander in Übereinstimmung stehende oder zeitlich zusammenfallende Werte zu gewinnen.
Wenn in einer Dreiergruppe aus R-S-R-Signalen die Referenzsignale R die einklammernden Signale sind, werden die das eingeklammerte Probesignal S einklammernden Referenzsignale synchron gemittelt.
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In der Fig. 3b zeigt eine Kurve a eine nicht lineare Drift zwischen Signalen S1, R1 und S2, und zwar im Vergleich zu einer linearen Drift gemäß einer Kurve b. Die synchron gemittelten Signale S1 und S2 liefern im Falle der nicht linearen Drift einen Wert S., der fast in zeitlichem Einklang mit dem Referenzsignal R steht.
In fast allen Fällen liefert die synchrone Mittelung der einklammernden Signale in einer Dreiergruppe eine Verbesserung des verarbeiteten Signals in Richtung einer Beseitigung oder Verminderung der Drift. Weiterhin zeigt das verarbeitete Signal ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis, also einen verbesserten Rauschabstand.
Die elektrische Verarbeitung der Signale geschieht durch die in der Fig. 4 durch Blockdarstellung gezeigte Schaltung 31. Zur Erläuterung dieser Schaltung wird auch die Fig. 4a herangezogen. Die von den Detektoren 30 gelieferten Signale gelangen zu einem Verstärker 35, dessen Ausgangssignal in der Fig. 4a durch einen Impulszug A dargestellt ist. Die gezeigten Probe-Referenz-Probe-Signale umfassen zwölf (33 ms) Abtastungen von jeder der Probe- und Referenzmessungen. Dieses Ausgangssignal tritt an Leitungen 36 und auf. Die an der Leitung 37 anliegenden Signale gelangen zu einem Taktgeber 38, der zum Synchronisieren der Verarbeitung der Signale mit einer Spiegelsteuerung 39 dient. Das am Ausgang des Taktgebers 38 auftretende Taktsignal ist in der Fig. 4a als Impulszug B dargestellt. Der Impulszug B wird in Teilerschaltungen 40 und 41 weiter verarbeitet, um zu Beginn jedes Probe- oder Referenz-Zyklus einen Impuls vorzusehen, wie es in der Fig. 4a durch einen Impulszug E dargestellt ist. Diese periodischen Impulse sind eine Rückführsteuerung, um sicherzustellen, daß der Spiegel zum geeigneten Zeitpunkt zwischen den Stellungen 1 und 2 (Fig. 2) umschaltet. Die Impulse des Impulszuges E werden noch einem UND-Glied 42 eines Zählers 43 zugeführt, der in einem Analog-
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Digital-Umsetzer 44 enthalten ist. Dieser dient zur Synchronisation der elektrischen Signale an der Leitung 36.
Der am Ausgang des Verstärkers 35 auftretende Impulszug A wird einem Synchrondemodulator 45 zugeführt, um das in der Fig. 4a mit C bezeichnete Signal zu erzeugen. Das demodulierte Signal gelangt dann zu einer Siebschaltung oder einem Brummfilter 46 und danach zu einem spannungsgesteuerten Oszillator 47. Der spannungsgesteuerte Oszillator 47 ist ein Bauteil des Analog-Digital-Umsetzers 44 und liefert an seinem Ausgang einen Impulszug, der in der Fig. 4a mit D bezeichnet ist. Der Impulszug D gelangt zum Zähler 43, wenn das UND-Glied 42 durch den Impulszug E freigegeben ist.
Der Zweck des Analog-Digital-Umsetzers 44 besteht darin, die Schwingungsimpulse in ein Einzelenergiepegelsignal für die Probe- und Referenzmessungen umzusetzen.
Ein UND-Glied 48, das von einem externen Taktgeber angesteuert wird, wird von den Impulsen des Impulszuges E freigegeben. Das UND-Glied 48 steuert einen Zähler 50 an. Sowohl der Zähler 43 als auch der Zähler 50 sind an die beiden Eingänge eines Teilers 51 angeschlossen. Der ein Einzelenergiepegelsignal für jede Probe- und Referenzmessung liefert.
Die Mittelung der Probesignale S-. und Sp» wie es in der Fig. 3a grafisch dargestellt ist, wird dadurch vorgenommen, daß die Einzelenergiepegelsignale sequentiell drei UND-Gliedern 52, 53 und 54 zugeführt werden. Die Decodierund Spiegelsteuerschaltung 39, die vom Impulszug E angesteuert wird, gibt der Reihe nach in Übereinstimmung mit der Dauer der Probe- und Referenzsignale jedes betreffende UND-Glied 52, 53 bzw. 54 periodisch frei. Die betreffenden UND-Glieder 52, 53 und 54 leiten die Einzelpegelsignale S^,
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R1 und Sp an geeignete Plätze eines Speichers weiter, der durch Blöcke 55, 56 und 57 dargestellt ist.
Eine Summierschaltung 58 summiert die beiden Probensignale S1 und S2. Eine Dividierschaltung 59 nimmt die synchrone Mittelung dieser Signale vor.
Eine Schaltung 60 liefert das Verhältnis R/SA, also das Verhältnis aus dem Referenzsignal R und dem synchron gemittelten Probesignal S.. Eine Schaltung 61 liefert dann den Zehnerlogarithmus (1Og1Q) des Verhältnisses R/Sa·
Der Wert des 1Og1Q R/S. ist gleich der optischen Dichte der Probe bei einer gegebenen Wellenlänge.
Der Prozentsatz einer bestimmten chemischen oder biologischen Komponente der Probe 11 (Fig. 1 und 2) wird dadurch bestimmt oder gekennzeichnet, daß die optischen Dichten bei den verschiedenen Lichtwellenlängen summiert werden:
x_ = F^ · OD A-1 +F9 · OdA9 + F, · ODA-z + ... usw.
Dabei ist χ eine Konzentrationscharakteristik oder ein Konzentrationskennzeichen des Bestandteils der Probe, ODA1, ODA2, OdA3, ... usw. ist die jeweilige optische Dichte bei verschiedenen Wellenlängen des Lichts und F1, F2, F3 ... usw. ist jeweils ein Eichwert, der aus standardisierten Bestandteildaten abgeleitet wurde.
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Claims (11)

  1. ..'.~ .:.-:■* Tu walte» ΧίΓ- ■'"'■''■'":■ '"·. .JI^ ^P
    TECHNICON INSTRUMENTS CORPORATION, Tarrytown, N.Y., VStA
    Patentansprüche
    Analysegerät zum Kennzeichnen eines besonderen Bestandeils in einer Probe,
    gekennzeichnet durch
    einen Träger (12, 13) für die Probe (11), eine zum Vergleich mit der Probe dienende Referenz (17), eine Einrichtung (20-25), die sich periodisch änderndes. Licht abwechselnd auf die Probe und die Referenz richtet,
    eine auf das von der Probe und der Referenz reflektierte Licht ansprechende Einrichtung (30, 35), die eine Gruppe aufeinanderfolgender Probe- und Referenzsignale erzeugt, wobei diese Gruppe eine ungerade Anzahl von Signalen, und zwar wenigstens drei Signale umfaßt,
    eine an die Signalerzeugungseinrichtung angeschlossene Einrichtung (36 bis 59), die wenigstens eine Signalart in der Signalgruppe synchron mittelt, um ein synchrones Ausgangssignal bereitzustellen, und
    eine an die synchron mittelnde Einrichtung angeschlossene Einrichtung (60, 61), die das synchron gemittelte Ausgangssignal mit der anderen Signalart in der Signalgruppe in Beziehung setzt, um den Bestandteil in der Probe zu kennzeichnen.
  2. 2. Analysegerät nach Anspruch 1 für Infrarotlicht, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalgruppe eine Probe-Referenz-Probe-Dreiergruppe umfaßt und daß die Mittelungseinrichtung (36 bis 59) wirksam ist, um von den Probesignalen ein synchron gemitteltes Signal zu erzeugen.
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  3. 3. Analysegerät nach Anspruch 1 für Infrarotlicht, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalgruppe eine Referenz-Probe-Referenz-Dreiergruppe umfaßt und daß die Mittelungseinrichtung (36 bis 59) wirksam ist, um von den Referenzsignalen ein synchron gemitteltes Signal zu erzeugen.
  4. 4. Analysegerät nach einem der vorstehenden Ansprüche für Infrarotlicht,
    dadurch gekennzeichnet, daß die auf das Licht ansprechende Einrichtung eine lichtintegrierende Kammer (16) enthält und daß die Referenz (17) ein integrales Teil dieser Kammer bildet.
  5. 5. Analysegerät nach Anspruch 4 für Infrarotlicht, dadurch gekennzeichnet, daß die Innenwände der Kammer die Referenz (17) bilden.
  6. 6. Analysegerät nach einem der vorstehenden Ansprüche für Infrarotlicht,
    dadurch gekennzeichnet, daß die das Licht periodisch abstrahlende und abwechselnd auf die Probe und die Referenz richtende Einrichtung enthält: eine Lichtquelle (20, 21) zur Abgabe eines Lichtstrahls, einen Zerhacker (22) zum Zerhacken des von der Lichtquelle kommenden Lichtstrahls, ein Filter (23) zum Filtern des zerhackten Lichtstrahls zwecks Bereitstellung eines monochromatischen Lichtstrahls und einen bewegbar gehalterten Spiegel (25), der im Strahlengang des monochromatischen Lichtstrahls liegt und ihn abwechselnd auf die Probe und die Referenz richtet.
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  7. 7. Analysegerät nach Anspruch 6 für Infrarotlicht, dadurch gekennzeichnet, daß der "bewegbar gehalterte Spiegel (25) so angeordnet ist, daß der Abstand (d) zwischen Spiegel und Probe gleich dem Abstand (d) zwischen Spiegel und Referenz ist.
  8. 8. Analysegerät nach Anspruch 6 oder 7, für Infrarotlicht, dadurch gekennzeichnet, daß das Filter (23) eine aus mehreren Filtern bestehende Filterscheibe ist, die zum Bereitstellen von monochromatischem Licht unterschiedlicher Wellenlängen weiterschaltbar ist.
  9. 9. Analysegerät nach einem der vorstehenden Ansprüche für Infrarotlicht,
    dadurch gekennzeichnet, daß die synchron mittelnde Einrichtung enthält: einen Analog-Digital-Umsetzer (44) zum Umsetzen der Signale der Signalgruppe in einzelne Energiepegelwerte, eine an den Analog-Digital-Umsetzer angeschlossene Speichereinrichtung (55, 56, 57) zum Speichern der einzelnen Energiepegelwerte und eine an die Speichereinrichtung angeschlossene Summier- und Dividierschaltung (58, 59) zum synchronen Mitteln von wenigstens zwei der Energiepegelwerte.
  10. 10. Analysegerät nach einem der vorstehenden Ansprüche für Infrarotlicht,
    dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung, die das synchron gemittelte Ausgangssignal mit der anderen Signalart in der Signalgruppe in Beziehung setzt, enthält: eine Einrichtung (60), die das Verhältnis aus dem synchron gemittelten Ausgangssignal und einem Wert der anderen Signalart liefert, und eine Einrichtung (61), die den Logarithmus dieses Verhältnisses bildet, um einen Wert lür die optische Dichte bereitzustellen, der für den betref-JV»;-Ur Bestandteil in der Probe kennzeichnend ist.
    3003ß/07/7
    BAD ORIGINAL
  11. 11. Analysegerät nach einem der vorstehenden Ansprüche für Infrarotlicht, dadurch gekennzeichnet, daß die synchron mittelnde Einrichtung beide Signalarten in der Signalgruppe synchron mittelt, wenn die Signalgruppe mehr als drei Signale enthält.
    030036/072 7
DE3006421A 1979-02-26 1980-02-21 Analysegerät zum Bestimmen eines besonderen Bestandteils in einer Probe Expired - Fee Related DE3006421C2 (de)

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