DE2934866C2 - Self-checking keyboard - Google Patents

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Anordnung zur Prüfung einer Tastatur und deren Abfrageschaltung auf Funktionsbereitschaft, bei der die Tasten zyklisch auf ihren Zustand — gedrückt/nicht gedrückt — abgefragt werden.The invention relates to an arrangement for testing a keyboard and its query circuit Operational readiness in which the buttons are cyclically queried for their status - pressed / not pressed will.

Da im Datenverarbeitungsbereich die Kosten für die »Hardware« ständig zurückgehen, da aber, weil es sich hierbei um Dienstleistungen handelt, auf der anderen Seite die Service-Kosten ständig steigen, muß man bemüht sein, schon die »Hardware«-Komponenten eines Datenverarbeitungssystems so zu konzipieren, daß Fehler möglichst schnell gefunden werden können. Insbesondere muß es möglich sein, möglichst schnell festzustellen, welche Komponente eines Datenverarbeitungssystems nun fehlerhaft arbeitet oder ausgefallen ist.Because in the data processing area the costs for the »hardware« are constantly falling, but because it is This is about services, on the other hand, the service costs are constantly rising, you have to endeavor to design the "hardware" components of a data processing system in such a way that that errors can be found as quickly as possible. In particular, it must be possible as quickly as possible determine which components of a data processing system are now malfunctioning or have failed is.

Tastaturen als Eingabemedien eines Datenverarbeitungssystems werden heute normalerweise so konzipiert, daß sie in Modulbauweise aufgebaut sind, derart daß die Tastatur in beliebiger Weise mit den anderen Komponenten des Systems lediglich über elektrische Leitungen verbunden werden kann. Mit dem Fortschreiten der Mikroprozessortechnik ist es heute auch möglich, Tastaturen zu schaffen, die nicht mehr in sich die gewünschte Codierung enthalten, sondern bei denen nur noch eine Ja/Nein-Aussage — Taste gedrückt/Taste nicht gedrückt — abgefragt wird. Über einen Mikroprozessor und einen entsprechenden Speicher kann dann über die Adresse der gedrückten Taste dieser die entsprechende Codierung zugeordnet werden.Keyboards as input media in a data processing system are normally designed today in such a way that that they are modular, so that the keyboard in any way with the other Components of the system can only be connected via electrical lines. As you progress With microprocessor technology it is now also possible to create keyboards that are no longer intrinsic contain the desired coding, but where only a yes / no statement - key pressed / key not pressed - is queried. A microprocessor and a corresponding memory can then The corresponding coding can be assigned to the key pressed using the address.

Aufgabe der Erfindung ist es, bei einer Anordnung zur Prüfung einer Tastatur der im Oberbegriff des Patentanspruches 1 genannten Art eine Prüfung der Tastatur und der Abfrageschaltung in der Weise vorzunehmen, daß die Tastatur selbst ein Fehlersignal abgibt, wenn die Abfrageschaltung funktionsgestort ist.The object of the invention is, in an arrangement for testing a keyboard, the in the preamble of Claim 1 mentioned type a test of the keyboard and the interrogation circuit in the way make that the keyboard itself emits an error signal when the interrogation circuit is malfunctioning.

Die erfindungsgemäße Anordnung ist dadurch gekennzeichnet, daß von einem ständig nach Art einer Taste in gedrücktem Zustand gehaltenen Prüfelement, welches in die Tastatur integriert ist, ein Funktionsbereitschaftssignal abgeleitet wird, welches nach entsprc chender Verarbeitung in der Abfrageschaltung die Weiterleitung der Eingabedaten freigibt, welches jedoch bei Funktionsstörungen in der Abfrageschaltung ausbleibt, wodurch ein Fehlersignal gegeben und die Weiterleitung der Eingabedaten unterbunden wird.
In weiterer Ausbildung der erfindungsgemäßen Anordnung wird dafür Sorge getragen, daß gleichzeitig mit der Weiterleitung der Eingabedaten nach deren Freigabe durch einen kleinen akustischen Signalgeber ein Knackton erzeugt wird, der bei Vorliegen einerThe arrangement according to the invention is characterized in that a function readiness signal is derived from a test element which is constantly held in the pressed state in the manner of a key and which is integrated in the keyboard There are no malfunctions in the interrogation circuit, as a result of which an error signal is given and the forwarding of the input data is prevented.
In a further embodiment of the arrangement according to the invention, care is taken that simultaneously with the forwarding of the input data after their release by a small acoustic signal generator, a cracking tone is generated which, if a

ίο Fehlermeldung ebenfalls unterbunden wird.ίο error message is also prevented.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung soll nun anhand der Zeichnungen im einzelnen näher beschrieben werden.
Es zeigtAn embodiment of the invention will now be described in more detail with reference to the drawings.
It shows

F i g. 1 das Prüfelement,F i g. 1 the test element,

F i g. 2 eines der sonstigen Tastenelemente,
F i g. 3 ein Blockschaltbild der Abfrageschaltung für die Tastatur,
F i g. 4a und 4b das Flußdiagramm der Selbstprüfung der Tastatur.F i g. 2 one of the other key elements,
F i g. 3 a block diagram of the query circuit for the keyboard,
F i g. Figures 4a and 4b show the keyboard self-test flowchart.

Die normalen Tastenelemente T, die der Eingabe von Daten dienen, bestehen aus einem Tastenknopf 1, einem Tastenschaft 2 sowie einem Tastengehäuse 3, welches aus einem oberen Teil 4 und einem unteren Teil 5 besteht. An dem oberen Teil 4 sind verhältnismäßig lange Rastnasen 6 ausgebildet, mit deren Hilfe jeder einzelne Tastenbaustein 3 in einer U-förmig abgebogenen Halteschiene 7 derart befestigt wird, daß die Rastnasen 6 in entsprechende Ausnehmungen T in der Halteschiene 7 eingreifen, während am unteren Tästengehäuseteil 5 eine Stützfläche 8 vorgesehen ist. Eine Feder 9 stützt sich einerseits am unteren Gehäuseteil 5, andererseits am Tastenschaft 2 ab und sorgt dafür, daß die Taste nach jeder Betätigung in die obere Ruhelage zurückkehrt. Am Tastenschaft 2 ist in diesem Falle ein Ferritstift 10 befestigt, der mit Wicklungen 11 auf einer Schaltungsplatte 12 zusammenwirkt. Die Schaltungsplatte 12 trägt hierfür Primär-11' und Sekundärspulen 11", die ineinandergeschachtelt auf der Ober- und Unterseite der Schaltungsplatte 12 angeordnet sind, und die im einzelnen anhand der F i g. 3 beschrieben werden. Anstelle des Ferritstiftes 10 und der Primär- und Sekundärspulen 11 auf der Schaltungsplatte 12 können aber auf der Platte auch Kontaktbah- nen mit durch den Tastenschaft geschlossenen Kontakten angeordnet sein.The normal key elements T, which are used to input data, consist of a key button 1, a key shaft 2 and a key housing 3, which consists of an upper part 4 and a lower part 5. Relatively long latching lugs 6 are formed on the upper part 4, with the aid of which each individual key module 3 is fastened in a U-shaped bent holding rail 7 in such a way that the latching lugs 6 engage in corresponding recesses T in the holding rail 7, while on the lower button housing part 5 a support surface 8 is provided. A spring 9 is supported on the one hand on the lower housing part 5 and on the other hand on the key shaft 2 and ensures that the key returns to the upper rest position after each actuation. In this case, a ferrite pin 10 is attached to the key shaft 2 and cooperates with windings 11 on a circuit board 12. The circuit board 12 carries for this purpose primary 11 'and secondary coils 11 "which are nested one inside the other on the top and bottom of the circuit board 12 and which are described in detail with reference to FIG. 3. Instead of the ferrite pin 10 and the primary and secondary coils 11 on the circuit board 12, however, contact paths with contacts closed by the key shaft can also be arranged on the board.

Das Prüfelement gemäß F i g. 1 ist aus nahezu den gleichen Bauelementen aufgebaut, ist nur so angeordnet, daß sein Tastenschaft praktisch ständig in gedrücktemThe test element according to FIG. 1 is made up of almost the same components, is only arranged in such a way that that his key shaft is practically constantly pressed

so Zustande gehalten wird, derart, daß der Ferritstift 10 ständig in die Spulen 11 auf der Schaltungsplatte 12 eintaucht und dadurch eine ständige Ankopplung der Primärspule 11' an die Sekundärspule 11" bewirkt. Im übrigen besteht das Prüfelement aus dem oberen Tästengehäuseteil 4, welches genauso wie die Tasten an sich mit seinen verlängerten Rastnasen 6 in die Halteschiene 7 eingesetzt ist. Anstelle des Tastenschaftes 2 ist hier der Ferritstift 10 an einem Halteteil 13 befestigt, der mit einem Rastvorsprung 14 in der Halteschiene 7 liegt, also unbeweglich ist. Anstatt eines beweglichen Tastenknopfes 1 ist hier ein feststehendes Teil 15 vorgesehen, welches mittels eines Halteteiles 16 mit dem oberen Gehäuseteil 4 verbunden ist. Das Halteteil 16 dringt mit einer Nase 17 in eine Ausnehmung 30 im Teil 15 ein, derart, daß die Teile 16,4 und 15 starr miteinander verbunden sind. Das Teil 16 ist mit seiner Nase 17 durch eine Ausnehmung 31 im Teil 4 hindurchgeführt und rastet mit diesem in Ausnehmun-is maintained in such a way that the ferrite pin 10 is constantly in the coils 11 on the circuit board 12 immersed and thereby causes a constant coupling of the primary coil 11 'to the secondary coil 11 " The rest of the test element consists of the upper button housing part 4, which is just like the buttons is inserted with its extended locking lugs 6 in the holding rail 7. Instead of the key shaft 2 here the ferrite pin 10 is attached to a holding part 13, which has a locking projection 14 in the Holding rail 7 is, so is immobile. Instead of a movable key button 1 here is a fixed one Part 15 is provided, which is connected to the upper housing part 4 by means of a holding part 16. That Holding part 16 penetrates with a nose 17 in a recess 30 in part 15, such that the parts 16.4 and 15 are rigidly connected to one another. The part 16 is with its nose 17 through a recess 31 in part 4 passed through and engages with this in the recess

gen 32 der Halteschiene 7. In dem Teil 15 ist noch eine Ausnehmung 33 für eine Leuchtdiode 18 angeordnet, die ein Bereitschaftssigna] abgibt Mit anderen Worten, die Leuchtdiode 18 wird immer dann eingeschaltet sein, wenn die Maschine, in der die Tastatrj angeordnet ist, -5 sich in funktionsbereitem Zustande befindet. Natürlich kann aber dieser Leuchtdiode auch eine andere Bedeutung zugeordnet sein, da es sich im Prinzip um ein feststehendes Anzeigeelement handeltgene 32 of the support rail 7. In the part 15 is another Recess 33 is arranged for a light-emitting diode 18 which emits a ready signal] In other words, the Light-emitting diode 18 will always be switched on when the machine in which the keyboard is arranged, -5 is in a functional condition. Of course, this light-emitting diode can also be a different one Be assigned meaning, since it is in principle a fixed display element

Eine Mehrzahl von Halteschienen 7, die je mit einer horizontalen Reihe von Tasten gemäß F i g. 2 und einem Prüfelement gemäß F i g. 1 bestückt sind, werden nun nebeneinander angeordnet, so daß eine in Matrixbauweise aufgebaute Tastatur entsteht d.h. einzelne Reihen von Tastenelementen sind in je einer Halteschiene 7 zusammengefügt und mehrere Reihen von Tasten mit ihren nebeneinanderliegenden Halteschienen wirken mit einer Schaltungsplatte 12 zusammen, die die Primär- und Sekundärspulen 11' und 11" in Matrixform trägt Die Abfrageschaltung erkennt m-ji am besten aus Fig.3. Man sieht hier die Primärspulen 11', die als einfache Leiterschleifen gezeichnet sind und einerseits an einen Decoder 19, andererseits an einen Impulsgeber 20 angeschlossen sind. Dabei stellen die Primärspulen 11' in der Spulenmatrix 21 die Vertikalen dar, während die Sekundärspulen 11" in horizontaler Richtung in der Spulenmatrix verlaufen und einerseits mit einem Multiplexer 22 und andererseits mit Erdpotential verbunden sind. Jeweils am Kreuzungspunkt eines Primärleiters 11' mit einem Sekundärleiter 11" ist in der μ Schaltungsplatte 12 eine Ausnehmung 23 vorhanden, in die der Ferritstift 10 entweder bei Betätigung der Taste gemäß Fig.2 oder ständig, wie bei dem Prüfelement gemäß F i g. 1, eintaucht.A plurality of support rails 7, each with a horizontal row of keys as shown in FIG. 2 and a test element according to FIG. 1 are now placed next to each other, so that a keyboard built in matrix construction is created, that is, individual rows of key elements are each joined together in a retaining rail 7 and several rows of keys with their adjacent retaining rails cooperate with a circuit board 12, which contains the primary and The interrogation circuit recognizes m-ji best from FIG The primary coils 11 'in the coil matrix 21 represent the vertical, while the secondary coils 11 "run in the horizontal direction in the coil matrix and are connected on the one hand to a multiplexer 22 and on the other hand to earth potential. At the intersection of a primary conductor 11 'with a secondary conductor 11 "there is a recess 23 in the μ circuit board 12, into which the ferrite pin 10 either when the button is pressed according to FIG. 2 or continuously, as in the case of the test element according to FIG. 1 , immersed.

Man erkennt jeweils 22 Spalten von Primärleitern 11' und 6 Reihen von Sekundärleitern 11", wobei die Tasten durch strichpunktierte Linien an den Kreuzungspunkten angedeutet sind. An der Adresse »6/1« (Reihe 6, Spalte 1) findet man das Prüfelement gemäß Fig. 1, alle anderen Kreuzungspunkte sind mit Tastenelementen gemäß F i g. 2 besetzt. Teilweise ist es aber auch möglich, anstelle der Tastenelemente in Reihe »6« andere Anzeigeelemente ähnlich dem Prüfelement anzuordnen, wobei diese Prüfelemente ebenfalls mit Leuchtdioden 18 oder etwas Äquivalentem bestückt ti sind, und den verschiedensten Anzeigezwecken dienen können. In diesem Falle wurden sie allerdings nicht mit einem Ferritstift 10 versehen sein, da sie keine Tastaturprüf^unktion zu erfüllen haben.You can see 22 columns of primary conductors 11 ' and 6 rows of secondary conductors 11 ", the keys being indicated by dash-dotted lines at the crossing points are indicated. At address "6/1" (row 6, column 1) you will find the test element according to FIG. 1, all of them other intersection points are with key elements according to FIG. 2 occupied. But partly it is possible, instead of the button elements in row »6«, other display elements similar to the test element to be arranged, these test elements also equipped with light-emitting diodes 18 or something equivalent ti and can be used for a wide variety of display purposes. In this case, however, they were not using be provided with a ferrite pin 10, since they have no keyboard test to meet.

In diesem Zusammenhang sei noch erwähnt, daß die 5. und 6. Reihe mit beweglichen Tasten oder mit den verschiedensten Anzeigelampen für die verschiedensten Funktionen, seien dies nun Fehlfunktionen oder auch Funktionskontrollampen, ausgestattet werden kann.In this context it should be mentioned that the 5th and 6th row can be operated with movable keys or with the various indicator lights for various functions, be it malfunctions or also Function control lamps, can be equipped.

Außer dem Multiplexer 22, dem Impulsgeber 20 und dem Decoder 19 enthält die Abfrageschaltung noch einen Leseverstärker 24, eine Logikschaltung 25, den Mikroprozessor 26 sowie einen Schreib-Lese-Speicher 27. Zur Übergabe bzw. Weiterleitung der aus der Tastatur ausgelesenen Daten ist ferner ein Parallelserienwandler 28 und eire Gruppe von Leitungstreiber 29 vorgesehen, über welche die aus der Tastatur ausgelesenen Werte weitergeleitet werden an die Zentraleinheit. Die Werte aus dem Schreib-Lese-Speicher 27 können nicht nur mit dem Mikroprozessor 26 und dem Parallelserienwandler 28 ausgetauscht werden, sondern können über eine Anwahlschaltung 40 und einen weiteren Decoder 41 über Anschlüsse 42 auch einer Anzahl von Leuchtdioden — je nach der Bedeutung der anzuzeigenden Information — zugeleitet werden. Es können dies die Leuchtdioden sein, die in den übrigen in der 6. Tastenreihe angeordneten Prüfelementen vorgesehen sind. Ein kleiner akustischer Signalgeber 33 erzeugt bei jeder richtigen Tastenbetätigung einen KLnackton, um der Bedienungsperson anzuzeigen, daß die Information richtig eingegeben worden ist (Akustische Rückmeldung).In addition to the multiplexer 22, the pulse generator 20 and the decoder 19, the interrogation circuit also contains a sense amplifier 24, a logic circuit 25, the microprocessor 26 and a read / write memory 27. A parallel series converter is also used to transfer or forward the data read from the keyboard 28 and a group of line drivers 29 are provided, via which the read from the keyboard Values are forwarded to the central unit. The values from the read / write memory 27 can not only be exchanged with the microprocessor 26 and the parallel serial converter 28, but can also one via a selection circuit 40 and a further decoder 41 via connections 42 Number of light emitting diodes - depending on the meaning of the information to be displayed - are supplied. It this can be the light-emitting diodes provided in the other test elements arranged in the 6th row of keys are. A small acoustic signal generator 33 generates a key every time the key is pressed correctly KLnack to indicate to the operator that the information has been entered correctly (acoustic feedback).

Der Schreib-Lese-Speicher 27 hat im vorliegenden Falle die Aufgabe, für jede Aaresse der Tastatur (6 Reihen, 22-26 Spalten) eine Ja-Nein-Aussage darüber zu speichern, ob die Taste betätigt ist oder ob eine entsprechende Anzeigelampe leuchten soll oder nicht. Im Zusammenwirken zwischen dem Mikroprozessor 26, dem Multiplexer 22, dem Impulsgeber 20, dem Leseverstärker 24 und der Sieuerlogik 25 sowie dem Decoder 19 werden die einzelnen Adressen der Tastatur nacheinander angewählt und daraufhin abgefragt, ob hier eine gedrückte Taste vorliegt oder nicht. Mit anderen Worten, nur wenn die Taste gedrückt ist, wird ein Impuls des Impulsgebers 20 auch von der Primärspule 11' auf die Sekundärspule 11" übertragen und kann in dem Leseverstärker 24 verstärkt und über den Mikroprozessor 26 in den Schreib-Lese-Speicher 27 an der dieser Adresse zugeordneten Speicherposition abgespeichert werden. Der Mikroprozessor 26 sorgt auch dafür, daß die Daten aus dem Schreib-Lese-Speicher 27 nach Durchlaufen des Parallelserienwandlers 28 über die Leitungstreiber 29 der Zentraleinheit in Serie übertragen werden, wobei beim Feststellen einer Zustandsänderung der Tasten im Verlaufe des Abfragezyklus eine Übertragung vom Schreib-Lese-Speicher 27 zur Zentraleinheit erfolgt.In the present case, the read / write memory 27 has the task of storing each of the keys on the keyboard (6 Rows, 22-26 columns) to store a yes-no statement about whether the key is pressed or whether a corresponding indicator lamp should light up or not. In cooperation between the microprocessor 26, the multiplexer 22, the pulse generator 20, the sense amplifier 24 and the Sieuerlogik 25 as well as the Decoder 19, the individual addresses on the keyboard are selected one after the other and then asked whether there is a pressed key here or not. In other words, only when the button is pressed will a pulse of the pulse generator 20 is also transmitted from the primary coil 11 'to the secondary coil 11 " and can be amplified in the sense amplifier 24 and transferred to the read / write memory 27 via the microprocessor 26 are stored in the memory position assigned to this address. The microprocessor 26 provides also for the fact that the data from the read / write memory 27 after passing through the parallel serial converter 28 are transmitted in series via the line driver 29 of the central unit, and when a Change of state of the keys in the course of the interrogation cycle a transfer from the read / write memory 27 to the central unit.

Die Organisation ist hier so getroffen, daß in dem Schreib-Lese-Speicher 27 für jede Tastenadresse nur die Ja/Nein-Aussage »Taste gedrückt«/»Taste nicht gedrückt« gespeichert wird. Wahlweise wäre es aber auch möglich, im Zusammenwirken zwischen dem Mikroprozessor 26 und dem Schreib-Lese-Speicher 27 und/oder einem Festwertspeicher über die jeweilige Adresse auch die Tastencodierung zuzuordnen, die dann über den Paralleiserienwandler 28 der Zentraleinheit zugeleitet wird. Im vorliegenden Falle wird aber die Tastencodierung erst in der Zentraleinheit der jeweiligen Tastenadresse zugeordnet. Das hat den Vorteil, daß alle Tastaturmodelle gleichmäßig ausgebildet und programmiert sein können, da die Zuordnung der Tastenbedeutung erst in der Zentraleinheit erfolgt.The organization is made here so that in the read / write memory 27 for each key address only the yes / no statement "key pressed" / "key not pressed" is saved. Optionally it would be also possible in cooperation between the microprocessor 26 and the read / write memory 27 and / or to assign the key coding to a read-only memory via the respective address, which then is fed via the parallel converter 28 to the central unit. In the present case, however, the Key coding is only assigned to the respective key address in the central unit. This has the advantage that all keyboard models can be designed and programmed equally, since the assignment of the Key meaning only takes place in the central unit.

Unter Bezugnahme auf die F i g. 4a und 4b sei nun im einzelnen beschrieben, wie der Vorgang der Tastenabfrage und der Prüfung der Tastatur verläuft. Beim Einschalten der Maschine wird zunächst, beispielsweise ausgelöst durch einen Impuls von der Zentraleinheit, der Tastenzustandsspeicher in Form des Schreib-Lese-rSpeichers 27, gelöscht, so daß alle Adressen der Tastatur, etwa gespeicherte Tasten^ustandsbit der einzelnen Tasten, auf Null gesetzt sind. Beim nächsten Programmschritt wird dann innerhalb des Mikroprozessors das Tastenreihenregister mit »6« geladen, das Spaltenregister mit »22« entsprechend den sechs Reihen und 22 Spalten von Tasten. Das bedeutet, daß die Abfrage der Tasten auf ihren Zustand in F i g. 3 mit der Spalte »22« und der Zeile »6« beginnt, also fortlaufend von rechts rieh links in jeder Reihe. Es erfolgt dann eine Entscheidung, ob das Tastenreihenregister auf der »5« steht, mit anderen Worten, ob die fünfte Tastenreihe abgetastet wird. Ist dies nicht der Fall, so wie diesWith reference to FIGS. 4a and 4b will now be described in detail, how the key query process and the keyboard test is in progress. When the machine is switched on initially, for example triggered by an impulse from the central unit, the key status memory in the form of the read / write memory 27, deleted, so that all addresses on the keyboard, for example stored keys, status bits of the individual Buttons, are set to zero. In the next program step, the Key row register loaded with "6", the column register with "22" corresponding to the six rows and 22 Columns of buttons. This means that the query of the keys on their state in FIG. 3 with the column "22" and the line "6" begins, so continuously from the right and left in each row. A Decide whether the key row register is on the "5", in other words whether the fifth row of keys is scanned. If not, like this

beispielsweise beim Abtasten der sechsten Reihe und der 22. Spalte zutrifft, dann wird ein Vergleich durchgeführt zwischen dem Inhalt des Schreib-Lese-Speichers 27 adressiert durch das Spalten- und Reihenregister, das gleichzeitig die Spulenmatrix anwählt, und dem festgestellten Tastenzustand. Stimmen beide Informationen überein, dann ist keine Zustandsänderung eingetreten. Es erfolgt eine Verzweigung zum Programmpunkt H und beim nächsten Programmschritt wird das Tastenspaltenregister um »1« vermindert. Anschließend erfolgt die Abfrage, ob das Spaltenregister den Wert Null angenommen hat. Ist das nicht der Fall, erfolgt ein Rücklauf zum Programmpunkt C. Solange also beispielsweise in der sechsten Tastenreihe keine Taste gedrückt ist, das bedeutet am Anfang des Abfragevorganges beim Abtasten der Tasten »6/22 bis 6/1«, wird immer wieder die Programmroutine zwischen den Programmpunkten C und H durchlaufen. Ist das Tastenspaltenregister aber Null, dann wird erneut »22« in das Tastenspaltenregister eingegeben und das Tastenreihenregister um »1« vermindert. Dies spielt sich in der Mikroprozessoreinheit ab, die auch mit der entsprechenden Programmspeicherkapazität ausgestattet ist. Erst wenn das Tastenreihenregister auch Null ist, dann wird auch das Tastenreihenregister wiederum mit »6« vorgeladen, so daß ein vollständiger neuer Abfragezyklus stattfinden kann. Der bisher geschilderte Vorgang gilt für die Abfrage der gesamten Tastatur, ohne Berücksichtigung des Prüfelementes, also für eine Tastatur, bei der keine Taste ständig gedrückt ist.For example, when scanning the sixth row and the 22nd column applies, then a comparison is made between the content of the read / write memory 27 addressed by the column and row register, which simultaneously selects the coil matrix, and the determined key status. If the two pieces of information match, then there has been no change in status. A branch is made to program point H and in the next program step the key column register is reduced by »1«. You are then asked whether the column register has assumed the value zero. If this is not the case, there is a return to program point C. As long as, for example, no key is pressed in the sixth row of keys, which means at the beginning of the query process when scanning the keys »6/22 to 6/1«, the program routine is repeated run through between program points C and H. If the key column register is zero, "22" is entered again into the key column register and the key row register is decreased by "1". This takes place in the microprocessor unit, which is also equipped with the appropriate program memory capacity. Only when the key row register is also zero is the key row register again preloaded with "6" so that a complete new query cycle can take place. The process described so far applies to the query of the entire keyboard, without taking the test element into account, i.e. for a keyboard on which no key is constantly pressed.

1st aber nun das Prüfelement gemäß F i g. 1 vorhanden, dann ändert sich hinsichtlich der Abfrage der sechsten Tastenreihe nichts, da ja das Prüfelement an der Tastenadresse »6/1« angeordnet ist, so daß also v, erst ganz zum Schluß bei Abtastung der sechsten Tastenreihe hier eine Tastenzustandsändemng festgestellt werden kann. Wird jetzt also beim Abtasten der Tastaturadresse »6/1« zwischen den Programmpunkten Cund D eine Tastenzustandsändemng festgestellt, dann wird zunächst geprüft, ob die gedrückte Taste das Prüfelement ist (F i g. 4b). Ist es das Prüfelement, dann wird nach dem Programmpunkt E festgestellt, ob der Merker 2 gesetzt ist. Ist das nicht der Fall, wie das beim ersten Abfragevorgang beim ungestörten Funktionie- -n ren der Abfrageschaltung der Fall sein sollte, dann werden beide Merker 1 und 2 gesetzt, und außerdem wird im Schreib-Lese-Speicher 27 an der entsprechenden Adresse eine »1« gespeichert. Die beiden soeben erwähnten Merker 1 und 2 sind Bestandteil der Mikroprozessoreinheit, der Merker 1 hat die Funktion, die erste Abtastung der Tastenadresse »6/1« mit dem Prüfelement zu speichern. Die Funktion des Merkers 2 wird später erläutert. Jedenfalls befinden sich beide Merker beim Einschalten der Spannung am Anfang des Programmes durch den Löschvorgang im Null-Zustand.But if now the test element according to FIG. 1 exists, then nothing changes with regard to the query of the sixth row of keys, since the test element is located at key address "6/1", so that v, a key state change can only be determined at the very end when scanning the sixth row of keys. If, when scanning the keyboard address "6/1", a key status change is determined between program points C and D, a check is first made to determine whether the key pressed is the test element (FIG. 4b). If it is the test element, then after program point E it is determined whether flag 2 is set. If this is not the case, as should be the case during the first interrogation process if the interrogation circuit functions undisturbed, then both flags 1 and 2 are set and, in addition, a » 1 «saved. The two flags 1 and 2 just mentioned are part of the microprocessor unit, the flag 1 has the function of storing the first scan of the key address "6/1" with the test element. The function of the flag 2 will be explained later. In any case, both flags are in the zero state when the voltage is switched on at the beginning of the program due to the deletion process.

Wird nun im Verlaufe der weiteren Abfragung der Tastatur festgestellt daß jetzt die Tastenreihe »5« abgefragt wird, dann erfolgt in F i g. 4a ein Anlaufen des Programmpunktes B, und es wird danach gefragt ob der Merker 1 gesetzt ist Ist dieser Merker 1 gesetzt dann ist die Tastatur offensichtlich funktionsfähig, und der Prüfvorgang wird beim Programmpunkt C fortgesetzt wie dies oben bereits beschrieben wurde. Ist jedoch der Merker 1 nicht gesetzt gewesen, dann erfolgt eine Meldung, daß hier ein Gerätefehler aufgetreten ist Diese Fehlermeldung wird über die Lampenanwahlschaltung 40 und den Decoder 41 an eine dieser Bedeutung zugeordnete Leuchtdiode in der Tastenreihe »6« weitergeleitet. Es kann sich dabei um die Leuchtdiode 18 im Prüfelement der Adresse »6/22« handeln, es kann aber auch eine Leuchtdiode in irgendeinem anderen Prüf- und Anzeigebaustein der sechsten Tastenreihe sein. Die Fehleranzeige könnte aber beispielsweise auch auf dem mit der Tastatur verbundenen Monitor erfolgen.If, in the course of further interrogation of the keyboard, it is determined that the key row "5" is now being interrogated, then in FIG. 4a a start of program point B, and it is asked whether the marker 1 is set. If this marker 1 is set then the keyboard is obviously functional, and the test process is continued at program point C as already described above. If, however, marker 1 has not been set, a message is issued that a device error has occurred. This error message is forwarded via the lamp selection circuit 40 and the decoder 41 to a light-emitting diode assigned to this meaning in the key row "6". It can be the light-emitting diode 18 in the test element with address “6/22”, but it can also be a light-emitting diode in any other test and display module of the sixth row of keys. The error display could, for example, also take place on the monitor connected to the keyboard.

Ist nun im Verlaufe des weiteren Abfragezyklus beispielsweise in der Spalte 15 in Reihe 5 eine Taste gedrückt gewesen, dann verläuft der Abfragevorgang für diese spezielle Taste etwa wie folgt: Nach dem Programmpunkt A wird festgestellt, daß die Tastenreihe »5« abgefragt wird. Auch der Merker 1 ist gesetzt, da das Prüfelement ständig gedrückt ist und auch kein Fehler in der Schaltung vorhanden ist. Man kommt zurück zum Programmpunkt C. Wird bei der Anwahl die fünfte Tastenreihe und die fünfzehnte Spalte aufgerufen, so wird eine Tastenzustandsändemng festgestellt. Beim Prüfen, ob es sich hierbei um das Prüfelement handelt, ergibt es sich, daß dies nicht der Fall ist, aber da die Schaltung in Ordnung ist, ist der Merker 1 gesetzt, man kommt zum Programmpunkt G. Der Tastenzustand der Taste 15 wird im Schreib-Lese-Speicher 27 abgespeichert. Außerdem wird über Signalgeber 43 ein Knackton erzeugt und die Codierung wird zur Weitergabe über den Parallelserienwandler 28 in die Zentraleinheit bereitgestellt.If a key has now been pressed in the course of the further query cycle, for example in column 15 in row 5, the query process for this special key proceeds roughly as follows: After program point A , it is determined that key row "5" is queried. Flag 1 is also set because the test element is constantly pressed and there is also no fault in the circuit. You come back to program point C. If the fifth row of keys and the fifteenth column are called up during selection, a key status change is determined. When checking whether this is the test element, it turns out that this is not the case, but since the circuit is OK, the marker 1 is set, you come to program point G. The key status of key 15 is in Read / write memory 27 is stored. In addition, a click is generated via signal transmitter 43 and the coding is made available for transmission via the parallel serial converter 28 to the central unit.

Nun sei der Fall angenommen, daß beim Abtasten der 6. Tastenreihe die Schaltungsanordnung nicht in Ordnung gewesen ist so daß bei der Abfrage des Prüfelementes an der Adresse »6/1« die Merker 1 und 2 im Verlaufe der Routine D, E, G nicht gesetzt worden sind. Wird jetzt die 5. Tastenreihe, z. B. die Adresse »5/22« abgetastet, dann ergibt sich zwischen den Programmpunkten A und B eine Verbindung. Da der Merker 1 nicht gesetzt ist wird sofort ein Gerätefehler gemeldet. An dieser Stelle sei darauf hingewiesen, daß normalerweise nur die Tastenreihen »1 bis 4« mit beweglichen Tasten ausgestattet sind, während die Tastenreihen »5« und »6«, wie bereits oben erläutert, auch Anzeigefunktionen erfüllen können. Es wird also bei der erfindungsgemäßen Steuerungsanordnung beim Abtasten der ersten beweglichen Taste praktisch sofort festgestellt ob ein Gerätefehler vorliegt oder nicht. Die Verzweigung geht danach zurück zum Programmpunkt C. Selbst wenn jetzt die Taste »5/22« gedrückt ist, und es wird zwischen den Programmpunkten C und D eine Tastenzustandsändemng festgestellt, dann wird zwischen den Programmpunkten D und G der Merker 1 abgefragt und, da dieser nicht gesetzt ist wird auch die Weitergabe des Tastenzustandsbits, d. h. also die Weitergabe der Tastencodierung, unterbunden. Zu bemerken ist an dieser Stelle noch, daß, wenn keine Funktionsstörung vorliegt nur beim ersten Abtasten des Prüfelementes zwischen den Programmpunkten Cund Deine Tastenzustandsändemng festgestellt wird, so daß bei den nachfolgenden Abtastungen des Prüfelementes die Programmroutine D. G nicht mehr angelaufen wird.Let us now assume that the circuit arrangement was not in order when the 6th row of keys was scanned, so that flags 1 and 2 in the course of routine D, E, G were not when the test element was queried at address "6/1" have been set. If the 5th row of keys, e.g. If, for example, the address »5/22« is scanned, a connection is established between program points A and B. Since marker 1 is not set, a device error is reported immediately. At this point it should be noted that normally only the rows of keys "1 to 4" are equipped with movable keys, while the rows of keys "5" and "6", as already explained above, can also perform display functions. In the control arrangement according to the invention, when the first movable key is scanned, it is determined practically immediately whether or not there is a device error. The branch then goes back to program point C. Even if the key »5/22« is now pressed and a key status change is determined between program points C and D , marker 1 is queried between program points D and G and, there If this is not set, the forwarding of the key status bit, ie the forwarding of the key coding, is also prevented. That, when no malfunction is present only in the first scan of the test element between the program points C and your Tastenzustandsändemng is determined so that in the subsequent samples of the test element, the program routine D. G is not underway is to be noted at this point.

Der Merker 2 erfüllt im Rahmen des Prüfprogrammes eine Sicherheitsfunktion. Sollte innerhalb der verschiedenen Abfragezyklen eine Leitungsunterbrechung stattfinden, indem beispielsweise der Impulsgeber 20 ausfällt und später wiederkommt dann würde nicht nur bei der ersten Abfrage der Tastaturadresse »6/1« das Codierungsprüfelement erkannt werden — Tastenzustandsändemng Ja — sondern auch nach diesem Wiedereinschalten des Stromes. In diesem Falle würde derFlag 2 fulfills a safety function within the scope of the test program. Should be within the various Interrogation cycles a line interruption take place, for example, in that the pulse generator 20 fails and comes back later then the coding test element would not only be used the first time the keyboard address "6/1" was queried can be recognized - key status change Yes - but also after switching on again of the stream. In this case the

Programmzweig E, F, G dafür sorgen, daß der Merker 1 gelöscht wird, so daß danach folgende Tastenbetätigungen nicht mehr erkannt und weitergeleitet werden könnten, vielmehr würde dann auch ein Gerätefehler gemeldet werden über Programmzweig A, B, C. Program branch E, F, G ensure that marker 1 is deleted so that subsequent key presses can no longer be recognized and passed on; rather, a device error would then also be reported via program branch A, B, C.

Hält man eine gedrückte Taste über mehrere Abfragezyklen gedruckt, dann erfolgt nur einmal eine Übertragung einer Tastenzustandsänderung in den Schreib-Lese-Speicher und damit auch in die Zentraleinheit, weil zwischen den Programmpunkten C und D nicht auf Tastenzustandsänderung erkannt wird und infolgedessen keine Tastencodierung weitergeleitet wird.If you keep a pressed key pressed for several interrogation cycles, a key status change is only transmitted once to the read / write memory and thus also to the central unit, because between program points C and D no key status change is recognized and consequently no key coding is passed on .

Durch die Prüfroutine werden die Schaltungsteile 1Γ, 11", 19, 20, 22, 24, 25 auf Funktionsfähigkeit geprüft. Aber auch die Schaltungsteile 26 und 27 werden teilweise überprüft, insbesondere die Portleitungen zu den oben erwähnten Schaltungsteilen. Hier können Hardwarefehler, wie z. B. unterbrochene Lötstellen und unzulässige Leitungsverbindungen (Kurzschlüsse, hervorgerufen durch Heftklammern, die durch die Tastenschlitze auf die Schaltungsplatte fallen könnten) festgestellt werden.The circuit parts 1Γ, 11 ", 19, 20, 22, 24, 25 are checked for functionality. Circuit parts 26 and 27 are also checked partially checked, especially the port lines to the circuit parts mentioned above. here we can Hardware errors such as B. interrupted soldering points and impermissible line connections (short circuits, caused staples that could fall through the key slots on the circuit board) to be established.

> Ist beispielsweise ein Gerätefehler gemeldet worden durch Einschalten irgendeiner Anzeigelampe bzw. durch Ausbleiben des Knacktones, so wird die Fehlerdiagnose dadurch erleichtert, daß die Tastenzustandsänderung im Schreib-Lese-Speicher nicht mehr> For example, a device error has been reported by switching on any indicator lamp or by the absence of the clicking sound, the Fault diagnosis is made easier by the fact that the key status change in the read / write memory no longer occurs

ι ο auf den aktuellen Stand gebracht wird und hierdurch bei einer gedruckt gehaltenen Taste bei weiterlaufendem Abfragezyklus am Schaltungsteil 25 und 26 ständig der Tastenzustand angezeigt wird. Hierdurch wird eine einfache Darstellung der Impulsabläufe auf demι ο is brought up to date and thereby at a key held down while the interrogation cycle continues on the circuit part 25 and 26 constantly the Button status is displayed. This provides a simple representation of the pulse sequences on the

ι > Oszilloskop möglich.ι> Oscilloscope possible.

Des weiteren ist es möglich, im Normalfall durch Entfernen des Prüfelemeiites den Funktionsablauf zu überprüfen.In addition, it is possible, in the normal case, to stop the functional sequence by removing the test element check.

Hierzu 4 Blatt ZeichnungenFor this purpose 4 sheets of drawings

Claims (2)

Patentansprüche:Patent claims: 1. Anordnung zur Prüfung einer Tastatur und deren Abfrageschaltung auf Funktionsbereitschaft, bei der die Tasten zyklisch auf ihren Zustand — gedrückt, nicht gedrückt — abgefragt werden, dadurch gekennzeichnet, daß von einein ständig nach Art einer Taste in gedrücktem Zustand gehaltenen Prüfelement, welches in die Tastatur integriert ist, ein Funktionsbereitschaftssignal abgeleitet wird, welches nach entsprechender Verarbeitung in der Abfrageschaltung die Weiterleitung der Eingabedaten freigibt, welches jedoch Dei Funktionsstörungen in der Abfrageschaltung ausbleibt, wodurch ein Fehlersignal gegeben und die Weiterleitung der Eingabedaten unterbunden wird.1. Arrangement for testing a keyboard and its query circuit for operational readiness, in which the buttons are cyclically queried for their status - pressed, not pressed, characterized in that one is constantly pressed in the manner of a key held test element, which is integrated in the keyboard, derived a ready-to-function signal which, after appropriate processing in the interrogation circuit, will forward the Releases input data, which, however, fails to malfunction in the interrogation circuit, whereby an error signal is given and the forwarding of the input data is prevented. 2. Anordnung nach Anspruch I₁ daduroh gekennzeichnet, daß gleichzeitig mit der Weiterleitung der Eingabedaten nach deren Freigabe ein Knackton erzeugt wird, der bei Vorliegen einer Fehlermeldung ebenfalls unterbunden wird.2. Arrangement according to claim I ₁ daduroh characterized in that simultaneously with the forwarding of the input data after their release, a cracking tone is generated, which is also prevented when an error message is present.