DE2615072B2

DE2615072B2 - Verfahren zum justieren eines strahlungsbrechenden und strahlungsdurchlaessigen messers insbesondere aus glas in einem mikrotom und vorrichtung zur durchfuehrung dieses verfahrens

Info

Publication number: DE2615072B2
Application number: DE19762615072
Authority: DE
Inventors: Anton Vällingby; Lycke Hans Bromma; Söderkvist (Schweden)
Original assignee: Lkb-Produkter Ab, Bromma (Schweden)
Priority date: 1975-04-10
Filing date: 1976-04-07
Publication date: 1977-11-17
Also published as: US4021118A; FR2307260A1; GB1479423A; FR2307260B3; JPS51126888A; SE382501B; DE2615072C3; DE2615072A1; JPS5934969B2

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Justieren eines strahlungsbrechenden und strahlungsdurchlässigen prismatischen Messers insbesondere aus Glas in einem Mikrotom, bei dem eine Probe vor dem Beginn des Schneidens am Messer vorbeigeführt wird und bei dem das Messer und die Probe vor dem Beginn des Schneidens nahe aneinander herangebracht werden, wobei das Messer an der der Probe abgekehrten Oberfläche angestrahlt wird sowie eine Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens mit einem Probenblock, einem lichtdurchlässigen und lichtbrechenden prismatischen Messer insbesondere aus Glas in einem Mikrotom sowie einer Einrichtung zum Beobachten des Abstandes des aneinander herangeführten Probe und Messer unter Verwendung einer Lichtquelle, deren Lichtstrahl auf die Probe abgekehrte Oberfläche des Messers gerichtet ist. Ein derartiges Verfahren und eine derartige Vorrichtung sind bekannt (OE-PS 2 67 217).

In der Mikrotomie, insbesondere Ultramikrotomie, ist es erwünscht, das Heranführen des Schneidmessers an die Probenoberfläche, von der Probenteile abgeschnitten werden sollen, zu überwachen und zu steuern. Hierzu ist es bekannt, das Messer und die Probe von unten her mit einer Lampe zu beleuchten, welche im Messerhalter unter der Probe und dem Messer angeordnet ist. Der Abstand zwischen dem Messer und der Probe wird hierbei als beleuchteter Schlitz beobachtet, wenn man von oben auf die Anordnung blickt. Insbesondere bei kleinen Probenflächen besteht ίο die Gefahr, daß der Lichtstrom die Bedienungsperson blendet, so daß es schwierig ist, den Abstand zwischen der Messerschneide und der Probe, insbesondere dann, wenn dieser Abstand klein ist, zu bestimmen. Außerdem gelangt Licht durch die Probe, wodurch die Kontraste zwischen Messer und Probe beeinträchtigt werden und somit die Bestimmung des Abstandes des Messers von der Probenoberfläche erschwert wird. Ein weiterer Nachteil ergibt sich, wenn der Spalt äußerst klein ist (etwa 1 Mikron), da das Licht, welches durch diesen schmalen Spalt hindurchtritt, Streifen hervorruft, was die Bestimmung der Spaltbreite erschwert.

Aus der eingangs genannten österreichischen Patentschrift 2 67 217 ist es bekannt, zum Justieren des Flüssigkeitsspiegels eines Schnittsammelbeckens an der der Probe abgekehrten Oberfläche des Messers eine Lichtquelle in Richtung auf diese Oberfläche hin zu richten, so daß ihr Licht von der Flüssigkeitsoberfläche direkt in das Objektiv eines Mikroskops reflektiert wird. Aufgrund von Helligkeits- und Farbunterschieden gewinnt man eine Abschätzung der Schnittdicke. Das bedeutet, daß auch bei diesem bekannten Verfahren und dieser bekannten Vorrichtung die Bestimmung der Spaltbreite zwischen dem Messer und der Probenoberfläche schwierig ist.

Aufgabe der Erfindung ist es daher, ein Verfahren und eine Vorrichtung zu zeigen, mit denen es möglich ist, eine sichere Bestimmung des Abstandes der Messerschneide von der Probenoberfläche zu ermöglichen.

Diese Aufgabe wird beim eingangs genannten Verfahren erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß durch das Messer hindurchgetretenes Licht in Richtung auf die angestrahlte Oberfläche des Messers reflektiert und von dieser Oberfläche auf die Probenoberfläche hin gebrochen wird, so daß ein durch das gebrochene Licht beleuchtete Probenoberflächentei! und daneben ein dunkler Oberflächenbereich entsteht.

Ferner wird diese Aufgabe bei der eingangs genannten Vorrichtung erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß ein Spiegel zum Messer eine derartige Lage einnimmt, daß ein Teil des auf das Messer eingestrahlten Lichts zu einer von der Beobachtungseinrichtung beobachtbaren Oberfläche des Messers zurückgebracht ist und durch Brechung an dieser Oberfläche des Messers auf einen Probenflächenoberteil gestrahlt ist.
Die Breite des dunklen Bereiches, der auf der Probenoberfläche entsteht, ist ein Maß für den Abstand zwischen Messerschneide und Probenoberfläche.

Hierbei kann ein oberer Teil der in der Nähe des Messers liegenden Probenoberfläche von dem an der bestrahlten Oberfläche des Messers gebrochenen Licht bestrahlt werden, wobei der dunkle Bereich darunter liegt. Die Begrenzungslinie zwischen dem erhellten Probenoberflächenteil und dem dunklen Bereich wird dabei durch die Messerschneide bestimmt.
Da ein Teil des von der bestrahlten Oberfläche des Messers zurückkommenden Lichts gestreut wird, können die bestrahlte Oberfläche des Messers neben dem hellen Probenoberflächenanteil und dem dunklen

Bereich der Probenoberfläche gleichzeitig beobachtet werden. Dabei wird der auf die Oberfläche des Messers gerichtete Lichtstrahl zumindest zum Teil in den Messerkörper hinein gebrochen und das gebrochene, den Messerkörper verlassende Licht wird in Richtung auf die von der Beobachtungseinrichtung beobachtbare Oberfläche des Messers durch Reflektion am Spiegel zurückgebracht und von dort in Richtung auf den Probenoberflächenteil gerichtet.

In der Figur ist schematisch ein Ausführungsbeispiel der Erfindung dargestellt. Anhand dieser Figur soll die Erfindung noch näher erläutert werden.

Von der vertikalen Oberfläche eines Probenblockes 1 soller. Probenstücke mit Hilfe eines Glasmessers 2 abgetrennt werden. Hierzu wird der Probenblock nach unten gegen die Messerschneide bewegt. Das Messer ur.d der Probenblock können von einem Mikroskop 3 aus beobachtet werden, wobei ferner die- obere Fläche des Messers mit Hilfe einer Lampe 4 beleuchtet ist. Unter dem Messer 2 ist ein konkaver Spiegel 5 angeordnet. Das von der Lampe 4 kommende Licht trifft auf die obere Oberfläche des Messers 2. Der Teil des Lichtes, der in dieser Oberfläche nicht reflektiert wird, geht durch das Messer hindurch und verläßt das Messer an seiner Bodenfläche, wobei mit dem Spiegel 5 dieser Lichtteil reflektiert wird. Der Spiegel 5 ist bezüglich der Lampe 4 in der Weise angeordnet, daß das durch den Spiegel reflektierte Licht nach dem Hindurchgehen zurück durch das Messer 2 in die Probenoberfiäche reflektiert wird. Auf diese Wehe erhält man das reflektierte Bild der oberen Oberfläche des Messers auf der Probenoberfläche, was du^rch die .,triehlierten Linien in der Figur dargestellt ist. Ein oberer Teil 6 der Probenoberfläche ist beleuchtet, wenn man durch das Mikroskop blickt. Die untere Kante dieser beleuchteten Fläche wird durch eine Linie gebildet, entlang der die Messerschneide auf der Probenoberfläche reflektiert ist. Wenn das reflektierte Licht die Oberfläche des Messers verläßt, ergibt sich ein gewisser Streuanteil, was zur Folge hat, daß von dem reflektierten Licht, welches die obere Oberfläche des Messers verläßt, ein Teil direkt in das Mikroskop gelangt, wodurch von der Messeroberfläche eine beleuchtete Abbildung wiedergegeben wird, welche im Mikroskop beobachtet werden kann. Aus dem vorstehenden ergibt sich, daß man im Mikroskop ein Bild erhält, welches aus einer oberen beleuchteten Fläche 6, einer dunklen Zwischenfläche und einer unteren beleuchteten Fläche besteht, wobei die Breite der dunklen Fläche sich verringert, wenn das Messer sich der Probenoberfläche nähert. Man erhält auf diese Weise ein dunkles Anzeigefeld, wodurch die vorstehend geschilderten Schwierigkeiten, welche im Zusammenhang mit den Streifen auftreten, beseitigt sind. Der Spiegel 5 ist in geeigneter Weise konkav ausgebildet, so daß es nicht notwendig ist, den Spiegel zu bewegen, wenn das Messer 2 um eine Achse, welche senkrecht zur Zeichenebene verläuft, geschwenkt wird.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims

Patentansprüche:

1. Verfahren zum justieren eines strahlungsbrechenden und strahlungsdurchlässigen prismatischen Messers insbesondere aus Glas in eine"· Mikrotom, bei dem eine Probe vor dem Beginn ck jhneidens am Messer vorbeigeführt wird und uci dem das Messer und die Probe vor dem Beginn des Schneidens nahe aneinander herangebracht werden, wobei das Messer an der der Probe abgelehrten Oberfläche angestrahlt wird, dadurch gekennzeichnet, daß durch das Messer hindurchgetretenes Licht, in Richtung auf die angestrahlte Oberfläche des Messers reflektiert und von dieser Oberfläche auf die Probenoberfläche hin gebrochen wird, so daß ein durch das gebrochene Licht beleuchtetes Probenoberflächenteil und daneben ein dunkler Oberflächenbereich entsteht.

2. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 mit einem Probenblock, einem lichtdurchlässigen und lichtbrechenden prismatischen Messer insbesondere aus Glas in einem Mikrotom sowie einer Einrichtung zum Beobachten des Abstandes der aneinander herangeführten Probe und Messer unter Verwendung einer Lichtquelle, deren Lichtstrahl auf die Probe abgekehrte Oberfläche des Messers gerichtet ist, dadurch gekennzeichnet, daß ein Spiegel (5) zum Messer (2) eine derartige Lage einnimmt, daß ein Teil des auf das Messer eingestrahlten Lichts zu einer von der Beobachtungseinrichtung (3) beobachtbaren Oberfläche des Messers zurückgebracht ist und durch Brechung an dieser Oberfläche des Messers auf einen Probenoberflächenteil (6) gestrahlt ist.

3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Spiegel (5) konkav ausgebildet ist.

4. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der durch das gebrochene Licht bestrahlte Probenoberflächenteil (6), der dunkle Oberflächenbereich der Probe sowie die von der Beobachtungseinrichtung (3) aus beobachtbare Oberfläche des Messers in Blickrichtung der Beobachtungseinrichtung nebeneinander oder übereinander angeordnet sind.