DE2511923C3 - Schaltungsanordnung zur Funktionsprüfung und Fehlerlokalisierung von Flachbangruppen - Google Patents

Schaltungsanordnung zur Funktionsprüfung und Fehlerlokalisierung von Flachbangruppen

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DE2511923C3
DE2511923C3 DE19752511923 DE2511923A DE2511923C3 DE 2511923 C3 DE2511923 C3 DE 2511923C3 DE 19752511923 DE19752511923 DE 19752511923 DE 2511923 A DE2511923 A DE 2511923A DE 2511923 C3 DE2511923 C3 DE 2511923C3
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Helmut 6454 Bruchkoebel Neumann
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    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors

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Description

Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zur Funktionsprüfung und Fehlerlokalisierung auf fehlerhaften Flachbaugruppen in vorwiegend binärer Logik in einer Anlage.
In der Vermittlungstechnik geht man immer stärker dazu über, dezentral gesteuerte Vermittlungsanlagen durch zentral gesteuerte, elektronisch arbeitende Anlagen zu ersetzen. Während bei älteren Vermittlungsanlagen die Steuerung im wesentlichen durch eine Vielzahl von Relais übernommen wurde, wird dies nun durch eine zentrale Steuerung bewirkt
Bei allen Vorteilen, die eine derartige zentrale elektronisch arbeitende Steuerung bringt ist sie doch in ihrer Arbeitsweise recht komplex und die Funktion einzelner Schaltelemente ist für einen Revisor oft nicht mehr ohne weiteres zu erkennen. Hinzu kommt daß zum einen die Schaltung elektronisch arbeitender Vermittlungsanlagen recht umfangreich ist, während zum anderen eine derartige Schaltung während eines Arbeitsablaufs unzählige Zustände einnehmen kann, die sich grafisch auf Schaltplänen nicht mehr sinnvoll aufzeichnen lassen. Es besteht daher das grundlegende Problem, einem Revisor für Vermittlungsanlagen ein Mittel an die Hand zu geben, mit welchem er auch bei den oben geschilderten neuartigen Vermittlungsanlagen in die Lage versetzt wird, in relativ einfacher Weise direkt an einer zu prüfenden Anlage eine Funktionsprüfung vornehmen zu können oder bestimmte Fehler zu lokalisieren.
Die Vermittlungsanlagen sind regelmäßig aus einzelnen steckbaren Flachbaugruppen aufgebaut, die durch mit elektronischen Bauelementen bestückte Leiterplatten gebildet sind. Aus der DE-AS 15 37 848 ist es bekannt zur Überwachung der ordnungsgemäßen Arbeitsweise und Ansteuerung einer Einrichtung zu dieser eine gleiche Einrichtung zusätzlich parallel zu betreiben und die Ausgangssignale der beiden parallelarbeitenden Einrichtungen miteinander zu vergleichen. Weichen die beiden Ausgangssignale voneinander ab, so muß entweder das Eingangssignal einer der beiden Einrichtungen oder deren Funktionsweise gestört sein. FJne derartige Verdopplung der einzelnen Einrichtungen ist aber in der Regel in großen Schaltungsanordnungen aus Kosten- und Platzgründen nicht möglich.
Außerdem läßt wegen der möglicherweise verschiedenen Eingangssignale der beiden Einrichtungen die Abweichung ihrer Ausgangssignale nur einen bedingten Rückschluß auf ihre Funktionstüchtigkeit zu. Ganz abgesehen davon, läßt sich in diesem Falle auch nicht sagen, welche der beiden Einrichtungen fehlerhaft arbeitet
Aus der DE-AS 11 91 437 ist es bekannt, elektronische Bauelemente auf ihre Funktionstüchtigkeit dadurch zu überprüfen, daß dem zu überprüfenden Bauelement ein als Normal dienendes Bauelement parallel geschaltet wird und beide an einen Sender angeschlossen sind. Die Ausgangssignale der beiden Bauelemente werden dann zueinander ins Verhältnis gesetzt, wobei aus dem sich ergebenden Verhältnis ein Rückschluß auf die Qualität des zu prüfenden Bauelementes möglich ist
Nachteilig bei dieser bekannten Schaltungsanordnung ist es, daß mittels dieser Schaltungsanordnung immer nur ein einziges Bauelement geprüft werden kann, welches zudem nicht rückwirkungsfrei mit dem als Normal dienenden Bauelement gekoppelt ist Dieses Prüfungsverfahren ist somit im wesentlichen nur für passive Bauelemente geeignet Auch werden in diesem Falle an den verwendeten Sender erhebliche Anforderungen gestellt, damit nicht durch einen Kurzschluß am Eingang des Prüflings der Sender zerstört wird oder trotz dieses offensichtlichen Fehlers am Prüfling an beiden Bauelementen das gleiche (vernachlässigbar kleine) Ausgangssignal erscheint
Das in der DE-AS 11 91 437 beschriebene Verfahren ist insbesondere dann nicht geeignet, wenn statt eines Bauelements eine aktiv wirkende Flachbaugruppe verwendet wird und wenn zusätzlich noch verlangt wird, daß während des Prüfvorganges die Anlage ordnungsgemäß weiterarbeiten soll, zu der die fehlerhafte Flachbaugruppe gehört
Aus der DE-AS 11 62 427 ist es bekannt mehrere Bauelemente nacheinander mit einem geeigneten Signal zu beaufschlagen und das sich ergebende Ausgangssignal mit einem Sollwert zu vergleichen. Dieses bekannte Verfahren arbeitet selbsttätig und ist damit relativ schnell, bedingt aber einen recht hohen Aufwand, da sämtliche Meßwerte in gespeicherter Form vorliegen müssen. Das gleiche gilt für die Toleranzwerte. Soweit mit dem bekannten Verfahren ständig immer wieder eine relativ kleine Anzahl von Meßwerten gemessen wird, bringt dieses Verfahren sicherlich erhebliche Vorteile. Sollen aber eine oder mehrere fehlerhafte Flachbaugruppen einer großen elektronisch arbeiten- so den Anlage überprüft werden, so bringt dieses bekannte Verfahren eine Reihe von Nachteilen.
Zum einen sind die Sollwerte schwer festzulegen, da die Anlagen vielfach unter unterschiedlichen Bedingungen betrieben werden. Zum anderen variieren die Werte an den einzelnen Meßpunkten während des Betriebes der Anlage ständig, so daß deren Vergleich mit einem statischen Sollwert keine sinnvollen Rückschlüsse mehr zuläßt. ' .
Aus der DE-OS 22 62 504 ist eine Schaltungsanordnung zum Prüfen von im Betrieb befindlichen logischen Schaltungen bekannt, bei der einer zu prüfenden logischen Schaltung eine ordnungsgemäß arbeitende Bezugsschaltung parallel geschaltet wird. Die zuletzt genannte Offenlegungsschrift beschäftigt sich mit dem Problem, wie die noch im steuernden Betrieb befindliche zu prüfende logische Schaltung auch dann mit der Bezugsschaltung verglichen werden kann, wenn die mit den Ausgangssignalen der Bezugsschaltung zu vergleichenden Ausgangssignale der zu prüfenden Schaltung durch außerhalb der zu prüfenden Schaltung liegende Einflüsse abgeändert werden. Die bekannte Schaltungsanordnung weist insofern Nachteile auf, als für den Fall, daß die zu prüfende Schaltung tatsächlich Fehler besitzt diese weiterhin auch während des Prüfverfahrens auf die Gesamtanlage einwirken können.
Aus der Literaturstelle »h ρ Meßtechnik News« Heft Mai/Juni 1972, S. 7, rechte Spalte, ist es bekannt innerhalb einer Schaltungsanordnung einzelne ICs auf ihre Arbeitsfähigkeit dadurch zu untersuchen, daß das zu bewertende IC zusammen mit einem Bezugs-IC auf einen sogenannten Komparator aufgesteckt und dieser dann dem zu prüfenden IC parallel geschaltet wird. Abgesehen davon, daß auch hier wieder das möglicherweise fehlerhafte, zu prüfende IC auch während des Prüfungsvorgangs weiterhin auf die Gesamtanlage einwirkt muß der Komparator mit einer relativ aufwendigen Steuereinrichtung versehen sein, welche aufgrund eines vorgegebenen Ablaufdiagramms die einzelnen Meßpunkte der beiden ICs miteinander vergleicht
Aus der DE-OS 20 43 139 ist es schließlich bekannt, mittels eines anstelle einer zu prüfenden Baugruppe einsteckbaren Prüfadapters einzelne Meßpunkte einer zu prüfenden Baugruppe zugängig zu machen, indem die Baugruppe auf den eingesteckten Prüfadapter selbst aufgesteckt wird. Ein Vergleich mit einer zweiten Baugruppe findet hier allerdings nicht statt
Die Erfindung geht daher aus von einer Schaltungsanordnung zur Bestimmung von fehlerhaften Einheiten (z. B. ICs oder auch Leiterplatten) in einer eine Vielzahl solcher Einheiten aufweisenden Anlage, wobei die elektrischen Werte einer als Normal dienenden Einheit mit elektrischen Werten der zu prüfenden Einheit verglichen werden und bei abweichendem Ergebnis eine Anzeige gegeben wird.
Aufgabe der Erfindung ist es, Revisoren der bezeichneten Anlage eine Schaltungsanordnung der genannten Art an die Hand zu geben, durch welche steckbare Leiterplatten auf fehlerhaft arbeitende Anschlüsse überprüft werden können und dabei die Anlage mit der ordnungsgemäß arbeitenden Leiterplatte zusammenarbeitet.
Die Aufgabe wird durch die in dem Hauptanspruch angegebene Merkmalskombination gelöst Die Erfindung besteht also im Prinzip darin, die ordnungsgemäße Leiterplatte direkt mit den entsprechenden Anschlüssen der Anlage zu verbinden und gleichzeitig die zu prüfende Leiterplatte von der Anlage in geeigneter Weise zu entkoppeln. Dabei gehen dann Prüfleitungen von einer Vergleichseinrichtung ab, die die paarweise Abtastung miteinander zu vergleichender Meßstellen auf den beiden Leiterplatten gestatten.
Der Vorteil der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung liegt u. a darin, daß die möglicherweise fehlerhafte, gerade zu prüfende Leiterplatte nicht durch ihre Ausgangssignale auf die Anlage während des Prüfvorganges zurückwirken kann und somit den Schaltungsablauf innerhalb der Anlage verfälscht, was nicht nur eine fehlerhafte Wirkungsweise der Anlage selbst sondern auch u. U. des Prüfablaufs zur Folge haben kann.
Hinsichtlich der gestörten Leiterplatte wirkt die Anlage somit wie ein Prüfsender. Dies ist insofern zulässig, als die Anlage wegen des Einsatzes der ordnungsgemäß arbeitenden Flachbaugruppe (Leiter-
platte), wieder in der vorgeschriebenen Weise arbeitet Die beiden parallel betriebenen und in ihrem Aufbau übereinstimmenden Flachbaugruppen werden nun miteinander verglichen. Dabei werden jeweils zwei einander entsprechende Meßstellen auf den Flachbaugruppen abgetastet und die anliegenden Signale auf eine Vergleichseinrkhtung gegeben. Soweit diese Signale, die sich durchaus zeitabhängig ändern können, miteinander, zumindest in bestimmten Grenzen übereinstimmen, läßt sich sagen, daß wenigstens an dieser Meßstelle die gestörte Flachbaugruppe ordnungsgemäß arbeitet Durch eine sinnvolle Auswahl der Meßstellen kann somit der Revisor relativ schnell das gestörte Bauelement auf der Flachbaugruppe ausfindig machen.
Vorteilhafterweise ist die Wirkungsweise der erfindungsgernäBen Schaltungsanordnung auch dann noch sinnvoll, wenn außer der gerade geprüften Flachbaugruppe noch weitere Flachbaugruppen in der Anlage gestört sind In diesem Fall muß damit gerechnet werden, daß von der Anlage zu den beiden miteinander zu vergleichenden Flachbaugruppen abgegebene Ausgangssignale nicht vorschriftsmäßig sind. Da aber diese möglicherweise unvorschriftsmäßigen Signale auf beide Flachbaugruppen gleichzeitig einwirken, sollten sie auch auf beiden Flachbaugruppen, soweit sie störungsfrei sind, die gleichen Meßwerte bedingen. Es lassen sich aber auch mehrere erfindungsgemäße Schaltungsanordnungen gleichzeitig einsetzen, so daß möglicherweise unerlaubte, fehlerhafte Messungen bedingende Zustände der Anlage von vornherein ausgeschlossen werden können.
Um die Arbeitsweise der Vergleichseinrichtung zu verbessern, welche die einander entsprechenden elektrischen Werte auf den beiden Leiterplatten miteinander vergleicht empfiehlt es sich in Weiterbildung der Erfindung eine sich aus Anspruch 2 ergebende Merkmalskombination anzuwenden. Hierdurch wird zum einen nur dann eine Meldung gegeben, wenn eine Ungleichheit zwischen den betreffenden Meßwerten auftritt wobei die Meldung auch noch davon abhängig gemacht wird, daß die Unterschiede zwischen den Meßwerten bestimmte Toleranzen überschreiten, da die zu der Vergleichseinrichtung übertragenen, miteinander zu vergleichenden Meßwerte zueinander verzögert dort eintreffen können und da geringfügige Amplitudenabweichungen der Meßwerte einer Leiterplatte diese nicht unbedingt funktionsuntüchtig machen müssen.
Der Toleranzprüfer kann dabei in vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung derart ausgestattet sein, daß der Vergleicher bei Ungleichheit der verglichenen Signale ein Steuersignal abgibt, dessen Dauer der Größe der Ungleichheit entspricht Die Dauer des Signals wird über ein UND-Glied mit der einstellbaren Verzögerungseinheit einer monostabilen Kippstufe verglichen. Die Verzögerungszeit entspricht also der vorgebbaren Toleranz. Überschreitet die Dauer des Steuersignals die Verzögerungszeit so wird Alarm ausgelöst
Wie weiter unten noch erläutert wird, kann das Zwischenglied derart ausgestaltet sein, daß es in seinem mit den beiden Flachbaugruppen versehenen Zustand so breit ist daß es sich nicht mehr in die Anlage einstecken läßt da der vorgesehene Raum nur für eine einzige Flachbaugruppe bemessen ist Hier kann in vorteilhafter Ausgestaltung der Erfindung Abhilfe dadurch geschaffen werden, daß zwischen die Anlage und das Zwischenglied ein im wesentlichen die Abmessungen der Flachbaugruppe aufweisendes Verlängerungsglied geschaltet ist
Hinsichtlich der Entkoppler ist es besonders vorteilhaft wenn sowohl erste als auch zweite Entkopplungsmittel vorgesehen sind. Wie weiter oben schon erläutert, werden diese Entkoppler nur in die Verbindungen zwischen den Steckerkontakten des Zwischengliedes und die Leistenkontakte geschaltet, die der gestörten Flachbaugruppe zugeordnet sind. Dabei wird vorzugsweise in jeder der zueinander parallel laufenden
ίο Verbindungen ein Verstärker geschaltet, dessen Eingang zu dem zugehörigen Steckkontakt und dessen Ausgang zu dem zugehörigen Leistenkontakt gerichtet ist Auf diese Weise wird verhindert, daß die Eingänge der gestörten Flachbaugruppe auf die Anlage und die
is Eingänge der Normflachbaugruppe zurückwirken können. Diese Entkopplung reicht aber für die Ausgänge der gestörten Flachbaugruppe nicht aus. Bei zu den Ausgängen dieser Baugruppe führenden Verbindungen ist zusätzlich jeweils ein zweites Entkopplungsmittel vorgesehen, das in einfacher Weise in einer Unterbrechung der Verbindung besteht Die ersten und ggf. zweiten Entkopplungsmittel liegen in jeder Verbindung in Reihe, wobei vorzugsweise die Unterbrechung zwischen dem Verstärker und dem Leistenkontakt angeordnet ist Es sind somit die Ausgänge der fehlerhaft arbeitenden Baugruppe durch die zweiten Entkopplungsmittel vollkommen von der Anlage abgetrennt Die zweiten Entkopplungsmittel lassen sich günstig durch ein Rangierfeld darstellen, welches beispielsweise mit abziehbaren Kurzschlußsteckern oder mit einsteckbaren Schnüren gebildet sein kann.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnung erläutert. Darin zeigt
F i g. 1 in stark vereinfachter Darstellung ein Zwischenglied, ein Verlängerungsglied sowie zwei miteinander zu vergleichende Flachbaugruppen,
Fig.2 in vereinfachter räumlicher Darstellung ein Zwischenglied mit Flachbaugruppen, Entkopplungsmitteln, Vergleichseinrichtung und Verlängerungsglied,
F i g. 3 in vereinfachter symbolischer Darstellung die Vergleichseinrichtung,
F i g. 4 ein Beispiel für eine Fehlersuchstrategie und
F i g. 5 ein Schema für die Festlegung der Toleranzen. In Fig.1 ist ganz links ein Teil der Anlage A dargestellt, von der im wesentlichen nur die Steckerleiste L 3 mit den Leistenkontakten L3Kl,L3K2,L3K3 usw. bis L3Kn zu sehen ist Diese Leistenkontakte der Steckerleiste L 3 sind fiber ein Verbindungsglied VG mit den Steckkontakten S3K1, S3K2,S3K3 des Steckers
so 53 von einem Zwischenglied ZG durchverbunden. Die Verbindung erfolgt über Verbindungsleitungen VLi, VL2, VL3usw.bis yLüindemVerlängenjnpglied VG, wobei die Verbindungsleitungen von den Steckkontakten des Stecken 54 zueinander parallel zu den entsprechenden Leistenkontakten der Kontaktleiste L 4 verlaufen. Jede der einzelnen Steckkontakte S3Ki, S3K2, S3K3 usw. bis S3Kn ist einmal mit einem entsprechenden Leistenkontakt L2K\, L2K2, L2K3 usw. bis LIKn der Leiste L2 und zum anderen jeweils mit einem Leistenkontakt LiKi, LiK2, LIK3 usw. bis LiKn der Leiste Li auf dem Zwischenglied ZG verbunden. Die Verbindung zu den Kontakten der Leiste L1 erfolgt über Entkoppkr VS1, VS2, VS3 usw. bis KSn sowie weitere Entkoppler Ui, 1/2, U3 usw. bis Un, so daß diese Verbindungen Vl, V2, V3 bis Vn zur Leiste Li stark entkoppelt sind. Aus Gründen der beseren Übersichtfichkert sind die einzelnen Stecker 51 bis 54 nicht in die gemäß der Fig. 1 zugehörigen
Steckerleisten Li bis L 4 eingesteckt. Alle Stecker 51 bis 54 sind gleichartig ausgestaltet: das gleiche gilt auch für die Kontaktleisten L 1 bis L 4, so daß jeder Stecker zu jeder Kontaktleiste paßt.
In der Steckerleiste L 2 steckt ein entsprechender Stecker 52 mit den Steckerkontakten 52/Cl, S2K2, S2K3 usw. bis S 2Kn. Dieser Stecker ist mit einer ordnungsgemäß arbeitenden Flachbaugruppe OAF verbunden, die als Norm-Flachbaugruppe dient und voraussetzungsgemäß über das Zwischenglied ZC und das Verlängerungsglied VG ordnungsgemäß mit der Anlage A zusammenarbeitet. Mit der Steckerleiste L1 ist ein Stecker 51 mit seinen Steckkontakten SiKi, SiK2, SiK3 usw. bis SiKn befestigt, der die zu prüfende Flachbaugruppe ZPF trägt, welche Ursprunglieh mittels ihres Steckers 51 und der Kontaktleiste L 3 direkt mit der Anlage verbunden war, wobei allerdings die Anlage A einen gestörten Betrieb aufwies. Dieser gestörte Betrieb ist nun, nachdem die Norm-Flachbaugruppe OAF direkt mit der Anlage, die zu prüfende Flachbaugruppe ZPF aber nur über die Entkoppler mit der Anlage A zusammenarbeitet, nicht mehr gegeben, da wegen der Entkoppler die Störungen auf der Flachbaugruppe ZPF nicht mehr auf die Anlage einwirken können. Die Entkoppler bestehen zum einen aus ersten Entkopplungsmitteln VSI, V52, V53 usw. bis VSn, die durch Verstärker gebildet sind und zum anderen aus zweiten Entkopplungsmitteln Ui, LJ2 usw. bis Un, die durch Unterbrechungen der Verbindungen Vl, V2, V3 usw. bis Vn dargestellt sind. Soweit die Kontakte SiKi, SiK2, SiK3 usw. bis SiKn Eingänge der zu prüfenden Flachbaugruppe bilden, sind diese nur durch die Verstärker VS1, VS2, VS3 usw. bis VSn entkoppelt. Die entsprechenden Ausgänge an der Kontaktleiste L 3 der Anlage A können also über die Verstärker VS auf die Eingänge der zu prüfenden Flachbaugruppe einwirken, da bei den zu diesen Eingängen gehörenden Verbindungen V die zweiten Entkopplungsmittel l/nicht eingeschaltet sind.
Dies gilt aber nicht für die Ausgänge der zu prüfenden Flachbaugruppe ZPF, die von den entsprechenden Eingängen an der Kontaktleiste L 3 der Anlage A durch zweite Entkopplungsmittel U abgetrennt sind, welche aus Unterbrechungen bestehen.
In F i g. 1 ist angenommen, daß an den Steckerkontakten SiKi und SiKn sich Eingänge und an den Steckerkontakten SiK2, SiK3 Ausgänge der zu prüfenden Flachbaugruppe ZPFbefinden. Dementsprechend sind auf den Verbindungen Vl und Vn die Unterbrechungen Ui und Un durch Überbrückung ausgeschaltet, während sie in den Verbindungen V2 und V3 beispielsweise durch Ziehen eines Kurzschlußstekkers eingeschaltet sind. Wegen der Unterbrechung i/2 und 1/3 können also die genannten Ausgänge der zu prüfenden Flachbaugruppe nicht auf die Eingänge L3K2 und L3K3 einwirken, während dies nicht für die Ausgänge S2K2, S2K3 oder ordnungsgemäß arbeitenden Flachbaugruppe gilt, die direkt mit diesen Eingängen verbunden sind. Auf diese Weise läuft die zu prüfende Flachbaugruppe mit der ordnungsgemäßen Flachbaugruppe mit, ohne durch Fehler den Arbeitsablauf der Anlage A zu stören.
In Fig.2 sind noch wesentliche Teile der Fig. 1 perspektivisch dargestellt Stecker und Kontaktleisten sind in verbundenem Zustand gezeigt, wobei allerdings der Stecker S4 des Verbindungsgliedes VG ohne die zugehörige Leiste L 3 der Anlage gezeigt ist Die weiter oben beschriebenen entkoppelnden Verstärker VS1 bis VSn sind mittels Karten ebenfalls auf das Zwischenglied aufgesteckt. Weiterhin ist ein Rangierfeld gezeigt, welches es ermöglicht, die Anschaltung der zweiten Entkopplungsmittel an die jeweilige Ausgestaltung der gerade zu prüfenden Flachbaugruppen anzupassen, indem auf dem Rangierfeld RF entsprechend der Lage der Ausgänge auf der zu prüfenden Flachbaugruppe Kurzschlußstecker gezogen oder gesteckt werden.
Weiter oben wurde schon erläutert, daß während des Prüfvorgangs die beiden Flachbaugruppen OAF und ZPFmiteinander parallel arbeiten, so daß es möglich ist, durch Vergleich der Signalverläufe an einander entsprechenden Meßstellen AiS auf den beiden Flachbaugruppen Fehlerstellen auf der Flachbaugruppe ZPF zu finden. Hierzu werden vorzugsweise durch Anklemmen zweier Prüfspitzen an miteinander vergleichbare Meßstellen die zu vergleichenden Signale auf eine Vergleichseinrichtung VE gegeben, die in Fig.2 ebenfalls in Form einer auf das Zwischenglied ZG aufgesteckten Karte dargestellt ist Die Vergleichseinrichtung VE selbst ist mit einem Vergleicher V sowie einem Alarmgerät AG versehen, welches wiederum einen Toleranzprüfer TP enthält. Einzelheiten der Vergleichseinrichtung VE werden weiter unten beschrieben.
Bei den miteinander zu vergleichenden Signalen, die über die Meßleitungen ML zu der Vergleichseinrichtung VE gelangen, handelt es sich nicht um statische sondern im wesentlichen um dynamische Signale, die durch den Arbeitsablauf der störungsfrei arbeitenden Anlage bedingt sind.
Die beiden beispielsweise durch eine Kette von Impulsen gebildeten Signale kommen (siehe Fig.3) über die Meßleitungen zu den beiden getrennten Eingängen des Vergleichers V. Dieser Vergleicher ist nicht Gegenstand der Erfindung und soll hier nicht näher erläutert werden. Er kann beispielsweise aus einem TTL-Baustein bestehen, wie er unter der Nummer SN 74 86 im Handel erhältlich ist Der Vergleicher V gibt an seinem Ausgang ein Steuersignal SS ab, dessen Dauer im wesentlichen proportional dem zeitlichen Abstand zweier vergleichbarer Impulsflanken der beiden miteinander zu vergleichenden Signale ist Dabei wird ein Steuersignal SS ausgesendet unabhängig davon, ob die Impulsflanke des Signals der OAFder entsprechenden Impulsflanke der ZPFfolgt oder dieser vorangeht In dem vorliegenden Ausführungsbeispiel ist somit die Dauer des Steuersignals ein Maß für den Abstand zweier miteinander vergleichbarer Impulsflanken der beiden Signale. Wie aus Fig.3 ersichtlich, schaltet das Steuersignal SS eine monstabile Kippstufe MK, deren invertierter Ausgang mit einem UND-Glied UG verbunden ist während der zweite Eingang dieses Gliedes ebenfalls von dem Steuersignal beaufschlagt wird. An dem Ausgang dieses UND-Gliedes UG erscheint nur dann ein Signal, wenn das Steuersignal SS noch wirksam ist die Verzögerungszeit der monostabilen Kippstufe MK aber bereits abgelaufen ist Dabei muß dafür gesorgt werden, daß die monostabile Kippstufe nur durch die Anstiegsflanke des Steuersignals SS eingeschaltet werden kann. Das Ausgangssignal UG gelangt auf einen Eingang einer bistabilen Kippstufe BK, welche eine mit einer Spannungsquelle SQ verbundenen Lampe L einschaltet Die Einschaltung der Lampe zeigt also an, daß die Dauer des Steuersignals SS einen die Verzögerungszeit MK überschreitenden Wert aufweist Durch diese Verzögerungszeit ist also ein Toleranzwert festgelegt bei dessen
Unterschreitung kein Alarm erfolgt. Die Überprüfung auf Toleranzwerte erfolgt unabhängig von der Form und der Periodizität der vorzugsweise impulsförmigen, miteinander zu vergleichenden Signale.
Ist durch Aufleuchten der Lampe L oder irgendeines anderen Anzeigers eine Abweichung der beiden Signale festgestellt worden, so kann der Fehler durch eine geeignete Strategie eingekreist werden, wie weiter unten noch beschrieben wird. Nach Registrierung der Störungsanzeige durch die Lampe L kann diese mittels eines Rückstellkontaktes R über die bistabile Kippstufe BK wieder gelöscht werden, woraufhin ein weiterer Vergleich gegebenenfalls zwischen anderen Meßstellen erfolgen kann.
In Fi g. 4 ist eine günstige Strategie zur Lokalisierung von Fehlern unter Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens dargestellt Fig.4 zeigt einen Auszug aus einem Schaltplan, in dem die Gatter G1 bis G14 mit ihren Verbindungsleitungen dargestellt sind. Bei der Oberprüfung der Flachbaugruppe muß nun der Revisor bestrebt sein, als erstes einen gestörten Ausgang Ag zu Finden und dann von diesem aus die Meßstellen MS allmählich zu den zugeordneten Eingängen E hin zu verlegen. In Fig.4 sind einzelne Meßpunkte (MS\ bis MS13) dargestellt, wie sie bei dem angenommenen Fehler von dem Revisor in vorteilhafter Reihenfolge abgetastet werden würden. Es versteht sich von selbst, daß die Abtastung der einzelnen Meßpunkte MS1 bis MS13 auf den beiden miteinander zu vergleichenden Rachbaugruppen gleichzeitig geschieht, wobei ein Meßstellenpaar nach dem anderen angetastet wird. Ausgehend von dem gestörten Ausgang Ag, der beispielsweise durch den Steckkontakt 51 K 2 des Steckers 51 gebildet sein kann, wird erst die Meßstelle MS 1 überprüft, die wie durch eine dick herausgezeichnete Leitungslinie angedeutet ist, als fehlerhaft befunden wird, während angenommen werden soll, daß bei den dünn herausgezeichneten Leitungen der Revisor mittels der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung keinen Fehler Findet Nach der Meßstelle MS1 tastet der Revisor nacheinander die Eingänge der vorangegangenen Bauelemente (hier der Gatter Gt, G 2, G 3) ab bis er schließlich zu dem Meßpunkt MS12 (Eingang des Gatters GIl) kommt. Da beide Eingangssignale des Gatters G11 keine Fehler aufweisen, das Ausgangssignal von G11 aber falsch ist, muß entweder das Gatter GIl selbst oder dessen Ausgangsleitung fehlerhaft beschaltet sein, wobei — wie hier angenommen werden soll — der Fehler in einem Kurzschluß der Ausgangsleitung liegt
In Fig.5 ist noch schematisch die Wirkung des Toleranzprüfers anhand eines SOLL-Signals dargestellt, das mit unterschiedlichen IST-Signalen /57" 1 bis IST4 verglichen wird. Die in ihrer Länge ständig gleichbleibende Verzögerungszeit der monostabilen Kippstufe nach Fig.3 ist jeweils durch einen Pfeil gleichbleibender Länge angedeutet, wobei dieser Pfeil jeweils mit der zuerst ansteigenden oder zuerst abfallenden Flanke beginnt Hinsichtlich des Signals ISTt beginnt die Verzögerungszeit mit der Anstiegsflanke dieses Signals, (da die Flanke des Signals SOLL erst später kommt) und mit der Abstiegsflanke des Signals SOLL· Umgekehrtes gilt für das Signal ISTZ Da der Abstand der Anstiegsflanken bzw. Abstiegsflanken voneinander kleiner als die Länge des Pfeils VZ ist, wird bei diesen beiden ersten IST-Signalen kein Alarm ausgelöst.
Was anderes gilt allerdings für die beiden Signale IST3, IST4, bei denen der Abstand ihrer Anstiegs- bzw. Abstiegsflanken gegenüber den entsprechenden Flanken des Signals SOLL größer als die Dauer der Verzögerungszeit ist. Bei diesen beiden Signalen wird also Alarm ausgelöst. Dabei ist es nicht nötig, daß sowohl die Anstiegs- als auch die Abstiegsflanke einen zu großen Abstand von der entsprechenden Flanke des SOLL-Signals hat. Es genügt allein ein zu großer Abstand auf der Anstiegs- oder Abstiegsseite, um schon Alarm auszulösen. Wie weiter oben schon erläutert, werden die Eingangssignale ES von der Anlage abgegeben.
Es ist nicht unbedingt notwendig, daß immer nur einzelne Meßpunkte manuell abgegriffen werden. Im Rahmen der Erfindung können auch gleichzeitig mehrere Meßpunkte, gegebenenfalls auch automatisch miteinander verglichen werden. Die Toleranz sollte bei elektronisch gesteuerten Vermittlungsanlagen nicht kleiner als 100 ns (Nanosekunden) gewählt werden, so daß in Systemen mit Grundtaktfrequenzen bis 10 MHz eine optimale Fehlereingrenzung durchgeführt werden kann. Auch Amplitudenunterschiede können bei den beiden miteinander zu vergleichenden Signalen ausgewertet werden, etv/a indem die Amplitude des Steuersignals proportional der Spannungsdifferenz der beiden miteinander zu vergleichenden Signale gewählt wird. In diesem Fall kann beispielsweise die Ansprechschwelle eines TTL-Bausteins zur Auswertung dieses Amplitudenunterschiedes und zur entsprechenden Alarmgebung eingesetzt werden.
Die Signalverfolgung erfolgt zweckmäßigerweise rückwärts, also entgegen der Signalrichtung des zu prüfenden Signals in der Schaltung. Dabei werden vorteilhafterweise zunächst die Ausgänge nacheinander getestet, bis mindestens ein Ausgang einen Fehler anzeigt. Als nächstes sind, ausgehend von diesem Ausgang die Eingänge des Bauelementes zu testen, an dem der Fehler erstmals gemessen wurde. Sind die Eingänge fehlerfrei, so kann nur das Bauelement selbst bzw. die am gestörten Ausgang liegende Leitung der Fehlerort sein. Zeigt mindestens ein Eingang einen Fehler, so ist dieser »Zweig« weiter zu verfolgen und in gleicher Weise wie oben zu verfahren, bis der Fehlerort ermittelt ist
Sind mehrere Ausgänge fehlerhaft, so ist noch nicht bewiesen, daß auch mehrere Fehlerorte auf der zu prüfenden Flachbaugruppe existieren, denn es kann ein einziger Fehler auf dieser Baugruppe auf mehrere Ausgänge ausstrahlen.
Es sind daher nach Beseitigung des Fehlers alle Ausgänge zu überprüfen, da hierdurch mehrere anfangs gestörte Ausgänge fehlerfrei geworden sein können. Es ist auch darauf zu achten, daß bei dynamischen Messungen nach jeder Vergleichsmessung mindestens die vorher gestörte Funktion erneut vollkommen abläuft
Anstatt durch manuelle Rückstellung mittels einer Rückstelltaste kann das Alarmgerät auch gegebenenfalls automatisch zurückgestellt werden.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims (7)

Patentansprüche:
1. Schaltungsanordnung zur Bestimmung fehlerhafter Einheiten in einer eine Vielzahl von Einheiten aufweisenden Anlage, wobei die elektrischen Werte einer als Normal dienenden Einheit mit den elektrischen Werten der zu prüfenden Einheit verglichen werden und bei abweichendem Ergebnis eine Anzeige gegeben wird, dadurch gekennzeichnet,
daß in an sich bekannter Weise in der Anlage (A) anstelle der zu prüfenden, durch eine steckbare Leiterplatte gebildeten Einheit (ZPF), ein an sich bekanntes Zwischenglied (ZG), das eine Steckerleiste (Li) zur Aufnahme der zu prüfenden Leiterplatte (Zf79besitzt, gesteckt ist,
daß das Zwischenglied (ZG) außerdem noch eine Steckerleiste (Li) zur Aufnahme der als Normal dienenden Leiterplatte (OAF)besitzt, daß einander entsprechende Steckerpunkte (L XK 1, L2K2 bzw. LXK2, L2K2 usw.) der Leisten (Li, L 2) paarweise ggf. über eine Entkopplungseinrichtung (VSi bis VSn, Ui bis Un) zu den elektrischen Anschlußpunkten (S3K 1 bis 53ATn; des Zwischengliedes (ZG) in der Anlage (A) geführt sind und
daß von einer mit dem Zwischenglied (ZG) verbundenen Vergleichseinrichtung (VE) zwei Prüfleitungen (ML) zur paarweisen Abtastung einander entsprechender Meßstellen (MS) auf den miteinander zu vergleichenden Leiterplatten (OAF, ZPF) abgehen.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein der Vergleichseinrichtung (VE) zugeordnetes Alarmgerät (A G) mit einem Toleranzprüfer (TP) versehen ist, der die Aussendung eines durch das Steuersignal der Vergleichseinrichtung (VE) bedingten Alarms solange verhindert, wie dieses Steuersignal nicht einen einer vorgegebenen Abweichung der Meßwerte entsprechenden bestimmten Größenwert überschreitet.
3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Toleranzprüfer (TP) mit einer monostabilen Kippstufe (MK) versehen ist, deren Verzögerungszeit mittels eines UND-Gliedes (UG) mit der den Größenwert bildenden Dauer des Steuersignals (SS) verglichen wird, wobei das UND-Glied (UG) ein Alarmsignal (AS) in dem Alarmgerät abgibt, wenn die Dauer des Steuersignals (SS)Ak Verzögerungszeit überschreitet
4. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen die Anlage (A) und das Zwischenglied (ZG) ein im wesentlichen die Abmessungen einer Leiterplatte aufweisendes Verlängerungsglied (VG) geschaltet ist.
5. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Entkopplungseinrichtung CVS1 - VSn, U1 - Un) durch erste und zweite Entkopplungsmittel (VS 1 - VSn, U1 bis Un) gebildet ist, daß die ersten Entkopplungsmittel Verstärker (VS X - VSn) sind, welche in die einzelnen Verbindungen (Vi-Vn) zwischen den Steckkontakten (S3K X-S3Kn)und die der zu prüfenden Flachbaugruppe (ZPF) zugeordneten Leistenkontakten (LiKi-LXKn) geschaltet sind, wobei die Verstärkereingänge an die Steckkontakte (S3K X-S3Kn) angeschlossen sind, daß die zweiten Entkopplungsmittel Unterbrechungen (Ui-Un) der Verbindungen (VX-Vn) sind und daß jedem für die zu prüfenden Leiterplatten (ZPF) vorgesehenen Leistenkontakt
(LtKi-LXKn) ein erstes Entkopplungsmittel (VSi-VSn) zugeordnet ist und dabei den zu Ausgängen der zu prüfenden Flachbaugruppe gehörenden Leistenkontakten (LiKi-LiKn)zusätzlich ein zweites Entkopplungsmittel (Ui-Un) zugeordnet ist, welches jeweils einem ersten Entkopplungsmittel (VSi und VSn) in Reihe geschaltet ist
6. Schaltungsanordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß zur Schaffung der Unterbrechungen (Ui-Un) das Zwischenglied (ZG) mit einem Rangierfeld (RF) versehen ist
7. Schaltungsanordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet daß das Rangierfeld (RF) durch abziehbare Kurzschlußstecker oder durch Schnüre gebildet ist
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DE3313449C2 (de) * 1983-04-13 1987-01-02 Computer Gesellschaft Konstanz Mbh, 7750 Konstanz Vorrichtung zum Prüfen von Flachbaugruppen

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1162427B (de) * 1961-07-26 1964-02-06 Dr Oskar Vierling Selbsttaetige Pruefeinrichtung fuer Fernmeldeleitungen, insbesondere in Fernsprechvermittlungsanlagen, zur Erfassung der an einer grossen Zahl von Leitungen auftretendengleichartigen elektrischen Groessen
DE1191437B (de) * 1963-05-09 1965-04-22 Siemens Ag Schaltungsanordnung zur Daempfungsmessung fuer Fernmelde-, insbesondere Fernsprech-vermittlungsanlagen
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