DE2511923C3 - Schaltungsanordnung zur Funktionsprüfung und Fehlerlokalisierung von Flachbangruppen - Google Patents
Schaltungsanordnung zur Funktionsprüfung und Fehlerlokalisierung von FlachbangruppenInfo
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- DE2511923C3 DE2511923C3 DE19752511923 DE2511923A DE2511923C3 DE 2511923 C3 DE2511923 C3 DE 2511923C3 DE 19752511923 DE19752511923 DE 19752511923 DE 2511923 A DE2511923 A DE 2511923A DE 2511923 C3 DE2511923 C3 DE 2511923C3
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Description
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zur Funktionsprüfung und Fehlerlokalisierung auf fehlerhaften
Flachbaugruppen in vorwiegend binärer Logik in einer Anlage.
In der Vermittlungstechnik geht man immer stärker dazu über, dezentral gesteuerte Vermittlungsanlagen
durch zentral gesteuerte, elektronisch arbeitende Anlagen zu ersetzen. Während bei älteren Vermittlungsanlagen
die Steuerung im wesentlichen durch eine Vielzahl von Relais übernommen wurde, wird dies nun
durch eine zentrale Steuerung bewirkt
Bei allen Vorteilen, die eine derartige zentrale elektronisch arbeitende Steuerung bringt ist sie doch in
ihrer Arbeitsweise recht komplex und die Funktion einzelner Schaltelemente ist für einen Revisor oft nicht
mehr ohne weiteres zu erkennen. Hinzu kommt daß zum einen die Schaltung elektronisch arbeitender
Vermittlungsanlagen recht umfangreich ist, während zum anderen eine derartige Schaltung während eines
Arbeitsablaufs unzählige Zustände einnehmen kann, die sich grafisch auf Schaltplänen nicht mehr sinnvoll
aufzeichnen lassen. Es besteht daher das grundlegende Problem, einem Revisor für Vermittlungsanlagen ein
Mittel an die Hand zu geben, mit welchem er auch bei den oben geschilderten neuartigen Vermittlungsanlagen
in die Lage versetzt wird, in relativ einfacher Weise direkt an einer zu prüfenden Anlage eine Funktionsprüfung
vornehmen zu können oder bestimmte Fehler zu lokalisieren.
Die Vermittlungsanlagen sind regelmäßig aus einzelnen steckbaren Flachbaugruppen aufgebaut, die durch
mit elektronischen Bauelementen bestückte Leiterplatten gebildet sind. Aus der DE-AS 15 37 848 ist es
bekannt zur Überwachung der ordnungsgemäßen Arbeitsweise und Ansteuerung einer Einrichtung zu
dieser eine gleiche Einrichtung zusätzlich parallel zu betreiben und die Ausgangssignale der beiden parallelarbeitenden Einrichtungen miteinander zu vergleichen.
Weichen die beiden Ausgangssignale voneinander ab, so muß entweder das Eingangssignal einer der beiden
Einrichtungen oder deren Funktionsweise gestört sein. FJne derartige Verdopplung der einzelnen Einrichtungen
ist aber in der Regel in großen Schaltungsanordnungen aus Kosten- und Platzgründen nicht möglich.
Außerdem läßt wegen der möglicherweise verschiedenen
Eingangssignale der beiden Einrichtungen die Abweichung ihrer Ausgangssignale nur einen bedingten
Rückschluß auf ihre Funktionstüchtigkeit zu. Ganz abgesehen davon, läßt sich in diesem Falle auch nicht
sagen, welche der beiden Einrichtungen fehlerhaft arbeitet
Aus der DE-AS 11 91 437 ist es bekannt, elektronische
Bauelemente auf ihre Funktionstüchtigkeit dadurch zu überprüfen, daß dem zu überprüfenden
Bauelement ein als Normal dienendes Bauelement parallel geschaltet wird und beide an einen Sender
angeschlossen sind. Die Ausgangssignale der beiden Bauelemente werden dann zueinander ins Verhältnis
gesetzt, wobei aus dem sich ergebenden Verhältnis ein Rückschluß auf die Qualität des zu prüfenden Bauelementes
möglich ist
Nachteilig bei dieser bekannten Schaltungsanordnung ist es, daß mittels dieser Schaltungsanordnung
immer nur ein einziges Bauelement geprüft werden kann, welches zudem nicht rückwirkungsfrei mit dem als
Normal dienenden Bauelement gekoppelt ist Dieses Prüfungsverfahren ist somit im wesentlichen nur für
passive Bauelemente geeignet Auch werden in diesem Falle an den verwendeten Sender erhebliche Anforderungen
gestellt, damit nicht durch einen Kurzschluß am Eingang des Prüflings der Sender zerstört wird oder
trotz dieses offensichtlichen Fehlers am Prüfling an beiden Bauelementen das gleiche (vernachlässigbar
kleine) Ausgangssignal erscheint
Das in der DE-AS 11 91 437 beschriebene Verfahren
ist insbesondere dann nicht geeignet, wenn statt eines Bauelements eine aktiv wirkende Flachbaugruppe
verwendet wird und wenn zusätzlich noch verlangt wird, daß während des Prüfvorganges die Anlage ordnungsgemäß
weiterarbeiten soll, zu der die fehlerhafte Flachbaugruppe gehört
Aus der DE-AS 11 62 427 ist es bekannt mehrere
Bauelemente nacheinander mit einem geeigneten Signal zu beaufschlagen und das sich ergebende Ausgangssignal
mit einem Sollwert zu vergleichen. Dieses bekannte Verfahren arbeitet selbsttätig und ist damit relativ
schnell, bedingt aber einen recht hohen Aufwand, da sämtliche Meßwerte in gespeicherter Form vorliegen
müssen. Das gleiche gilt für die Toleranzwerte. Soweit mit dem bekannten Verfahren ständig immer wieder
eine relativ kleine Anzahl von Meßwerten gemessen wird, bringt dieses Verfahren sicherlich erhebliche
Vorteile. Sollen aber eine oder mehrere fehlerhafte Flachbaugruppen einer großen elektronisch arbeiten- so
den Anlage überprüft werden, so bringt dieses bekannte Verfahren eine Reihe von Nachteilen.
Zum einen sind die Sollwerte schwer festzulegen, da die Anlagen vielfach unter unterschiedlichen Bedingungen
betrieben werden. Zum anderen variieren die Werte an den einzelnen Meßpunkten während des Betriebes
der Anlage ständig, so daß deren Vergleich mit einem statischen Sollwert keine sinnvollen Rückschlüsse mehr
zuläßt. ' .
Aus der DE-OS 22 62 504 ist eine Schaltungsanordnung
zum Prüfen von im Betrieb befindlichen logischen Schaltungen bekannt, bei der einer zu prüfenden
logischen Schaltung eine ordnungsgemäß arbeitende Bezugsschaltung parallel geschaltet wird. Die zuletzt
genannte Offenlegungsschrift beschäftigt sich mit dem Problem, wie die noch im steuernden Betrieb befindliche
zu prüfende logische Schaltung auch dann mit der Bezugsschaltung verglichen werden kann, wenn die mit
den Ausgangssignalen der Bezugsschaltung zu vergleichenden Ausgangssignale der zu prüfenden Schaltung
durch außerhalb der zu prüfenden Schaltung liegende Einflüsse abgeändert werden. Die bekannte Schaltungsanordnung
weist insofern Nachteile auf, als für den Fall, daß die zu prüfende Schaltung tatsächlich Fehler besitzt
diese weiterhin auch während des Prüfverfahrens auf die Gesamtanlage einwirken können.
Aus der Literaturstelle »h ρ Meßtechnik News« Heft Mai/Juni 1972, S. 7, rechte Spalte, ist es bekannt
innerhalb einer Schaltungsanordnung einzelne ICs auf ihre Arbeitsfähigkeit dadurch zu untersuchen, daß das
zu bewertende IC zusammen mit einem Bezugs-IC auf einen sogenannten Komparator aufgesteckt und dieser
dann dem zu prüfenden IC parallel geschaltet wird. Abgesehen davon, daß auch hier wieder das möglicherweise
fehlerhafte, zu prüfende IC auch während des Prüfungsvorgangs weiterhin auf die Gesamtanlage
einwirkt muß der Komparator mit einer relativ aufwendigen Steuereinrichtung versehen sein, welche
aufgrund eines vorgegebenen Ablaufdiagramms die einzelnen Meßpunkte der beiden ICs miteinander
vergleicht
Aus der DE-OS 20 43 139 ist es schließlich bekannt, mittels eines anstelle einer zu prüfenden Baugruppe
einsteckbaren Prüfadapters einzelne Meßpunkte einer zu prüfenden Baugruppe zugängig zu machen, indem die
Baugruppe auf den eingesteckten Prüfadapter selbst aufgesteckt wird. Ein Vergleich mit einer zweiten
Baugruppe findet hier allerdings nicht statt
Die Erfindung geht daher aus von einer Schaltungsanordnung zur Bestimmung von fehlerhaften Einheiten
(z. B. ICs oder auch Leiterplatten) in einer eine Vielzahl solcher Einheiten aufweisenden Anlage, wobei die
elektrischen Werte einer als Normal dienenden Einheit mit elektrischen Werten der zu prüfenden
Einheit verglichen werden und bei abweichendem Ergebnis eine Anzeige gegeben wird.
Aufgabe der Erfindung ist es, Revisoren der bezeichneten Anlage eine Schaltungsanordnung der
genannten Art an die Hand zu geben, durch welche steckbare Leiterplatten auf fehlerhaft arbeitende
Anschlüsse überprüft werden können und dabei die Anlage mit der ordnungsgemäß arbeitenden Leiterplatte
zusammenarbeitet.
Die Aufgabe wird durch die in dem Hauptanspruch angegebene Merkmalskombination gelöst Die Erfindung
besteht also im Prinzip darin, die ordnungsgemäße Leiterplatte direkt mit den entsprechenden Anschlüssen
der Anlage zu verbinden und gleichzeitig die zu prüfende Leiterplatte von der Anlage in geeigneter
Weise zu entkoppeln. Dabei gehen dann Prüfleitungen von einer Vergleichseinrichtung ab, die die paarweise
Abtastung miteinander zu vergleichender Meßstellen auf den beiden Leiterplatten gestatten.
Der Vorteil der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung liegt u. a darin, daß die möglicherweise
fehlerhafte, gerade zu prüfende Leiterplatte nicht durch ihre Ausgangssignale auf die Anlage während des
Prüfvorganges zurückwirken kann und somit den Schaltungsablauf innerhalb der Anlage verfälscht, was
nicht nur eine fehlerhafte Wirkungsweise der Anlage selbst sondern auch u. U. des Prüfablaufs zur Folge
haben kann.
Hinsichtlich der gestörten Leiterplatte wirkt die Anlage somit wie ein Prüfsender. Dies ist insofern
zulässig, als die Anlage wegen des Einsatzes der ordnungsgemäß arbeitenden Flachbaugruppe (Leiter-
platte), wieder in der vorgeschriebenen Weise arbeitet Die beiden parallel betriebenen und in ihrem Aufbau
übereinstimmenden Flachbaugruppen werden nun miteinander verglichen. Dabei werden jeweils zwei
einander entsprechende Meßstellen auf den Flachbaugruppen abgetastet und die anliegenden Signale auf eine
Vergleichseinrkhtung gegeben. Soweit diese Signale, die sich durchaus zeitabhängig ändern können, miteinander,
zumindest in bestimmten Grenzen übereinstimmen, läßt sich sagen, daß wenigstens an dieser Meßstelle
die gestörte Flachbaugruppe ordnungsgemäß arbeitet Durch eine sinnvolle Auswahl der Meßstellen kann
somit der Revisor relativ schnell das gestörte Bauelement auf der Flachbaugruppe ausfindig machen.
Vorteilhafterweise ist die Wirkungsweise der erfindungsgernäBen
Schaltungsanordnung auch dann noch sinnvoll, wenn außer der gerade geprüften Flachbaugruppe
noch weitere Flachbaugruppen in der Anlage gestört sind In diesem Fall muß damit gerechnet
werden, daß von der Anlage zu den beiden miteinander zu vergleichenden Flachbaugruppen abgegebene Ausgangssignale
nicht vorschriftsmäßig sind. Da aber diese möglicherweise unvorschriftsmäßigen Signale auf beide
Flachbaugruppen gleichzeitig einwirken, sollten sie auch auf beiden Flachbaugruppen, soweit sie störungsfrei
sind, die gleichen Meßwerte bedingen. Es lassen sich aber auch mehrere erfindungsgemäße Schaltungsanordnungen
gleichzeitig einsetzen, so daß möglicherweise unerlaubte, fehlerhafte Messungen bedingende Zustände
der Anlage von vornherein ausgeschlossen werden können.
Um die Arbeitsweise der Vergleichseinrichtung zu verbessern, welche die einander entsprechenden elektrischen
Werte auf den beiden Leiterplatten miteinander vergleicht empfiehlt es sich in Weiterbildung der
Erfindung eine sich aus Anspruch 2 ergebende Merkmalskombination anzuwenden. Hierdurch wird
zum einen nur dann eine Meldung gegeben, wenn eine Ungleichheit zwischen den betreffenden Meßwerten
auftritt wobei die Meldung auch noch davon abhängig gemacht wird, daß die Unterschiede zwischen den
Meßwerten bestimmte Toleranzen überschreiten, da die zu der Vergleichseinrichtung übertragenen, miteinander
zu vergleichenden Meßwerte zueinander verzögert dort eintreffen können und da geringfügige Amplitudenabweichungen
der Meßwerte einer Leiterplatte diese nicht unbedingt funktionsuntüchtig machen müssen.
Der Toleranzprüfer kann dabei in vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung derart ausgestattet sein,
daß der Vergleicher bei Ungleichheit der verglichenen Signale ein Steuersignal abgibt, dessen Dauer der
Größe der Ungleichheit entspricht Die Dauer des Signals wird über ein UND-Glied mit der einstellbaren
Verzögerungseinheit einer monostabilen Kippstufe verglichen. Die Verzögerungszeit entspricht also der
vorgebbaren Toleranz. Überschreitet die Dauer des Steuersignals die Verzögerungszeit so wird Alarm
ausgelöst
Wie weiter unten noch erläutert wird, kann das Zwischenglied derart ausgestaltet sein, daß es in seinem
mit den beiden Flachbaugruppen versehenen Zustand so breit ist daß es sich nicht mehr in die Anlage
einstecken läßt da der vorgesehene Raum nur für eine
einzige Flachbaugruppe bemessen ist Hier kann in vorteilhafter Ausgestaltung der Erfindung Abhilfe
dadurch geschaffen werden, daß zwischen die Anlage und das Zwischenglied ein im wesentlichen die
Abmessungen der Flachbaugruppe aufweisendes Verlängerungsglied geschaltet ist
Hinsichtlich der Entkoppler ist es besonders vorteilhaft
wenn sowohl erste als auch zweite Entkopplungsmittel vorgesehen sind. Wie weiter oben schon erläutert,
werden diese Entkoppler nur in die Verbindungen zwischen den Steckerkontakten des Zwischengliedes
und die Leistenkontakte geschaltet, die der gestörten Flachbaugruppe zugeordnet sind. Dabei wird vorzugsweise
in jeder der zueinander parallel laufenden
ίο Verbindungen ein Verstärker geschaltet, dessen Eingang
zu dem zugehörigen Steckkontakt und dessen Ausgang zu dem zugehörigen Leistenkontakt gerichtet
ist Auf diese Weise wird verhindert, daß die Eingänge der gestörten Flachbaugruppe auf die Anlage und die
is Eingänge der Normflachbaugruppe zurückwirken können.
Diese Entkopplung reicht aber für die Ausgänge der gestörten Flachbaugruppe nicht aus. Bei zu den
Ausgängen dieser Baugruppe führenden Verbindungen ist zusätzlich jeweils ein zweites Entkopplungsmittel
vorgesehen, das in einfacher Weise in einer Unterbrechung der Verbindung besteht Die ersten und ggf.
zweiten Entkopplungsmittel liegen in jeder Verbindung in Reihe, wobei vorzugsweise die Unterbrechung
zwischen dem Verstärker und dem Leistenkontakt angeordnet ist Es sind somit die Ausgänge der
fehlerhaft arbeitenden Baugruppe durch die zweiten Entkopplungsmittel vollkommen von der Anlage
abgetrennt Die zweiten Entkopplungsmittel lassen sich günstig durch ein Rangierfeld darstellen, welches
beispielsweise mit abziehbaren Kurzschlußsteckern oder mit einsteckbaren Schnüren gebildet sein kann.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnung erläutert. Darin zeigt
F i g. 1 in stark vereinfachter Darstellung ein Zwischenglied, ein Verlängerungsglied sowie zwei miteinander zu vergleichende Flachbaugruppen,
F i g. 1 in stark vereinfachter Darstellung ein Zwischenglied, ein Verlängerungsglied sowie zwei miteinander zu vergleichende Flachbaugruppen,
Fig.2 in vereinfachter räumlicher Darstellung ein Zwischenglied mit Flachbaugruppen, Entkopplungsmitteln,
Vergleichseinrichtung und Verlängerungsglied,
F i g. 3 in vereinfachter symbolischer Darstellung die Vergleichseinrichtung,
F i g. 4 ein Beispiel für eine Fehlersuchstrategie und
F i g. 5 ein Schema für die Festlegung der Toleranzen. In Fig.1 ist ganz links ein Teil der Anlage A dargestellt, von der im wesentlichen nur die Steckerleiste L 3 mit den Leistenkontakten L3Kl,L3K2,L3K3 usw. bis L3Kn zu sehen ist Diese Leistenkontakte der Steckerleiste L 3 sind fiber ein Verbindungsglied VG mit den Steckkontakten S3K1, S3K2,S3K3 des Steckers
F i g. 5 ein Schema für die Festlegung der Toleranzen. In Fig.1 ist ganz links ein Teil der Anlage A dargestellt, von der im wesentlichen nur die Steckerleiste L 3 mit den Leistenkontakten L3Kl,L3K2,L3K3 usw. bis L3Kn zu sehen ist Diese Leistenkontakte der Steckerleiste L 3 sind fiber ein Verbindungsglied VG mit den Steckkontakten S3K1, S3K2,S3K3 des Steckers
so 53 von einem Zwischenglied ZG durchverbunden. Die
Verbindung erfolgt über Verbindungsleitungen VLi, VL2, VL3usw.bis yLüindemVerlängenjnpglied VG,
wobei die Verbindungsleitungen von den Steckkontakten des Stecken 54 zueinander parallel zu den
entsprechenden Leistenkontakten der Kontaktleiste L 4 verlaufen. Jede der einzelnen Steckkontakte S3Ki,
S3K2, S3K3 usw. bis S3Kn ist einmal mit einem
entsprechenden Leistenkontakt L2K\, L2K2, L2K3 usw. bis LIKn der Leiste L2 und zum anderen jeweils
mit einem Leistenkontakt LiKi, LiK2, LIK3 usw.
bis LiKn der Leiste Li auf dem Zwischenglied ZG verbunden. Die Verbindung zu den Kontakten der
Leiste L1 erfolgt über Entkoppkr VS1, VS2, VS3 usw.
bis KSn sowie weitere Entkoppler Ui, 1/2, U3 usw. bis
Un, so daß diese Verbindungen Vl, V2, V3 bis Vn zur
Leiste Li stark entkoppelt sind. Aus Gründen der
beseren Übersichtfichkert sind die einzelnen Stecker
51 bis 54 nicht in die gemäß der Fig. 1 zugehörigen
Steckerleisten Li bis L 4 eingesteckt. Alle Stecker 51
bis 54 sind gleichartig ausgestaltet: das gleiche gilt auch für die Kontaktleisten L 1 bis L 4, so daß jeder Stecker
zu jeder Kontaktleiste paßt.
In der Steckerleiste L 2 steckt ein entsprechender Stecker 52 mit den Steckerkontakten 52/Cl, S2K2,
S2K3 usw. bis S 2Kn. Dieser Stecker ist mit einer
ordnungsgemäß arbeitenden Flachbaugruppe OAF verbunden, die als Norm-Flachbaugruppe dient und
voraussetzungsgemäß über das Zwischenglied ZC und das Verlängerungsglied VG ordnungsgemäß mit der
Anlage A zusammenarbeitet. Mit der Steckerleiste L1
ist ein Stecker 51 mit seinen Steckkontakten SiKi,
SiK2, SiK3 usw. bis SiKn befestigt, der die zu
prüfende Flachbaugruppe ZPF trägt, welche Ursprunglieh
mittels ihres Steckers 51 und der Kontaktleiste L 3 direkt mit der Anlage verbunden war, wobei allerdings
die Anlage A einen gestörten Betrieb aufwies. Dieser gestörte Betrieb ist nun, nachdem die Norm-Flachbaugruppe
OAF direkt mit der Anlage, die zu prüfende Flachbaugruppe ZPF aber nur über die Entkoppler mit
der Anlage A zusammenarbeitet, nicht mehr gegeben, da wegen der Entkoppler die Störungen auf der
Flachbaugruppe ZPF nicht mehr auf die Anlage einwirken können. Die Entkoppler bestehen zum einen
aus ersten Entkopplungsmitteln VSI, V52, V53 usw. bis VSn, die durch Verstärker gebildet sind und zum
anderen aus zweiten Entkopplungsmitteln Ui, LJ2 usw.
bis Un, die durch Unterbrechungen der Verbindungen Vl, V2, V3 usw. bis Vn dargestellt sind. Soweit die
Kontakte SiKi, SiK2, SiK3 usw. bis SiKn Eingänge der zu prüfenden Flachbaugruppe bilden, sind
diese nur durch die Verstärker VS1, VS2, VS3 usw. bis
VSn entkoppelt. Die entsprechenden Ausgänge an der Kontaktleiste L 3 der Anlage A können also über die
Verstärker VS auf die Eingänge der zu prüfenden Flachbaugruppe einwirken, da bei den zu diesen
Eingängen gehörenden Verbindungen V die zweiten Entkopplungsmittel l/nicht eingeschaltet sind.
Dies gilt aber nicht für die Ausgänge der zu prüfenden
Flachbaugruppe ZPF, die von den entsprechenden Eingängen an der Kontaktleiste L 3 der Anlage A durch
zweite Entkopplungsmittel U abgetrennt sind, welche aus Unterbrechungen bestehen.
In F i g. 1 ist angenommen, daß an den Steckerkontakten
SiKi und SiKn sich Eingänge und an den
Steckerkontakten SiK2, SiK3 Ausgänge der zu
prüfenden Flachbaugruppe ZPFbefinden. Dementsprechend sind auf den Verbindungen Vl und Vn die
Unterbrechungen Ui und Un durch Überbrückung
ausgeschaltet, während sie in den Verbindungen V2 und V3 beispielsweise durch Ziehen eines Kurzschlußstekkers
eingeschaltet sind. Wegen der Unterbrechung i/2 und 1/3 können also die genannten Ausgänge der zu
prüfenden Flachbaugruppe nicht auf die Eingänge L3K2 und L3K3 einwirken, während dies nicht für die
Ausgänge S2K2, S2K3 oder ordnungsgemäß arbeitenden
Flachbaugruppe gilt, die direkt mit diesen Eingängen verbunden sind. Auf diese Weise läuft die zu
prüfende Flachbaugruppe mit der ordnungsgemäßen Flachbaugruppe mit, ohne durch Fehler den Arbeitsablauf der Anlage A zu stören.
In Fig.2 sind noch wesentliche Teile der Fig. 1
perspektivisch dargestellt Stecker und Kontaktleisten sind in verbundenem Zustand gezeigt, wobei allerdings
der Stecker S4 des Verbindungsgliedes VG ohne die zugehörige Leiste L 3 der Anlage gezeigt ist Die weiter
oben beschriebenen entkoppelnden Verstärker VS1 bis VSn sind mittels Karten ebenfalls auf das Zwischenglied
aufgesteckt. Weiterhin ist ein Rangierfeld gezeigt, welches es ermöglicht, die Anschaltung der zweiten
Entkopplungsmittel an die jeweilige Ausgestaltung der gerade zu prüfenden Flachbaugruppen anzupassen,
indem auf dem Rangierfeld RF entsprechend der Lage der Ausgänge auf der zu prüfenden Flachbaugruppe
Kurzschlußstecker gezogen oder gesteckt werden.
Weiter oben wurde schon erläutert, daß während des Prüfvorgangs die beiden Flachbaugruppen OAF und
ZPFmiteinander parallel arbeiten, so daß es möglich ist, durch Vergleich der Signalverläufe an einander
entsprechenden Meßstellen AiS auf den beiden Flachbaugruppen
Fehlerstellen auf der Flachbaugruppe ZPF zu finden. Hierzu werden vorzugsweise durch Anklemmen
zweier Prüfspitzen an miteinander vergleichbare Meßstellen die zu vergleichenden Signale auf eine
Vergleichseinrichtung VE gegeben, die in Fig.2
ebenfalls in Form einer auf das Zwischenglied ZG aufgesteckten Karte dargestellt ist Die Vergleichseinrichtung
VE selbst ist mit einem Vergleicher V sowie einem Alarmgerät AG versehen, welches wiederum
einen Toleranzprüfer TP enthält. Einzelheiten der Vergleichseinrichtung VE werden weiter unten beschrieben.
Bei den miteinander zu vergleichenden Signalen, die über die Meßleitungen ML zu der Vergleichseinrichtung
VE gelangen, handelt es sich nicht um statische sondern im wesentlichen um dynamische Signale, die durch den
Arbeitsablauf der störungsfrei arbeitenden Anlage bedingt sind.
Die beiden beispielsweise durch eine Kette von Impulsen gebildeten Signale kommen (siehe Fig.3)
über die Meßleitungen zu den beiden getrennten Eingängen des Vergleichers V. Dieser Vergleicher ist
nicht Gegenstand der Erfindung und soll hier nicht näher erläutert werden. Er kann beispielsweise aus
einem TTL-Baustein bestehen, wie er unter der Nummer SN 74 86 im Handel erhältlich ist Der
Vergleicher V gibt an seinem Ausgang ein Steuersignal SS ab, dessen Dauer im wesentlichen proportional dem
zeitlichen Abstand zweier vergleichbarer Impulsflanken der beiden miteinander zu vergleichenden Signale ist
Dabei wird ein Steuersignal SS ausgesendet unabhängig davon, ob die Impulsflanke des Signals der OAFder
entsprechenden Impulsflanke der ZPFfolgt oder dieser vorangeht In dem vorliegenden Ausführungsbeispiel ist
somit die Dauer des Steuersignals ein Maß für den Abstand zweier miteinander vergleichbarer Impulsflanken
der beiden Signale. Wie aus Fig.3 ersichtlich,
schaltet das Steuersignal SS eine monstabile Kippstufe MK, deren invertierter Ausgang mit einem UND-Glied
UG verbunden ist während der zweite Eingang dieses Gliedes ebenfalls von dem Steuersignal beaufschlagt
wird. An dem Ausgang dieses UND-Gliedes UG erscheint nur dann ein Signal, wenn das Steuersignal SS
noch wirksam ist die Verzögerungszeit der monostabilen Kippstufe MK aber bereits abgelaufen ist Dabei
muß dafür gesorgt werden, daß die monostabile Kippstufe nur durch die Anstiegsflanke des Steuersignals
SS eingeschaltet werden kann. Das Ausgangssignal UG gelangt auf einen Eingang einer bistabilen
Kippstufe BK, welche eine mit einer Spannungsquelle SQ verbundenen Lampe L einschaltet Die Einschaltung
der Lampe zeigt also an, daß die Dauer des Steuersignals SS einen die Verzögerungszeit MK
überschreitenden Wert aufweist Durch diese Verzögerungszeit ist also ein Toleranzwert festgelegt bei dessen
Unterschreitung kein Alarm erfolgt. Die Überprüfung auf Toleranzwerte erfolgt unabhängig von der Form
und der Periodizität der vorzugsweise impulsförmigen, miteinander zu vergleichenden Signale.
Ist durch Aufleuchten der Lampe L oder irgendeines anderen Anzeigers eine Abweichung der beiden Signale
festgestellt worden, so kann der Fehler durch eine geeignete Strategie eingekreist werden, wie weiter
unten noch beschrieben wird. Nach Registrierung der Störungsanzeige durch die Lampe L kann diese mittels
eines Rückstellkontaktes R über die bistabile Kippstufe BK wieder gelöscht werden, woraufhin ein weiterer
Vergleich gegebenenfalls zwischen anderen Meßstellen erfolgen kann.
In Fi g. 4 ist eine günstige Strategie zur Lokalisierung
von Fehlern unter Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens dargestellt Fig.4 zeigt einen Auszug aus
einem Schaltplan, in dem die Gatter G1 bis G14 mit
ihren Verbindungsleitungen dargestellt sind. Bei der Oberprüfung der Flachbaugruppe muß nun der Revisor
bestrebt sein, als erstes einen gestörten Ausgang Ag zu Finden und dann von diesem aus die Meßstellen MS
allmählich zu den zugeordneten Eingängen E hin zu verlegen. In Fig.4 sind einzelne Meßpunkte (MS\ bis
MS13) dargestellt, wie sie bei dem angenommenen
Fehler von dem Revisor in vorteilhafter Reihenfolge abgetastet werden würden. Es versteht sich von selbst,
daß die Abtastung der einzelnen Meßpunkte MS1 bis
MS13 auf den beiden miteinander zu vergleichenden
Rachbaugruppen gleichzeitig geschieht, wobei ein Meßstellenpaar nach dem anderen angetastet wird.
Ausgehend von dem gestörten Ausgang Ag, der beispielsweise durch den Steckkontakt 51 K 2 des
Steckers 51 gebildet sein kann, wird erst die Meßstelle
MS 1 überprüft, die wie durch eine dick herausgezeichnete Leitungslinie angedeutet ist, als fehlerhaft befunden
wird, während angenommen werden soll, daß bei den dünn herausgezeichneten Leitungen der Revisor
mittels der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung keinen Fehler Findet Nach der Meßstelle MS1 tastet
der Revisor nacheinander die Eingänge der vorangegangenen Bauelemente (hier der Gatter Gt, G 2, G 3)
ab bis er schließlich zu dem Meßpunkt MS12 (Eingang
des Gatters GIl) kommt. Da beide Eingangssignale des
Gatters G11 keine Fehler aufweisen, das Ausgangssignal von G11 aber falsch ist, muß entweder das Gatter
GIl selbst oder dessen Ausgangsleitung fehlerhaft beschaltet sein, wobei — wie hier angenommen werden
soll — der Fehler in einem Kurzschluß der Ausgangsleitung liegt
In Fig.5 ist noch schematisch die Wirkung des
Toleranzprüfers anhand eines SOLL-Signals dargestellt,
das mit unterschiedlichen IST-Signalen /57" 1 bis IST4
verglichen wird. Die in ihrer Länge ständig gleichbleibende Verzögerungszeit der monostabilen Kippstufe
nach Fig.3 ist jeweils durch einen Pfeil gleichbleibender
Länge angedeutet, wobei dieser Pfeil jeweils mit der zuerst ansteigenden oder zuerst abfallenden Flanke
beginnt Hinsichtlich des Signals ISTt beginnt die
Verzögerungszeit mit der Anstiegsflanke dieses Signals, (da die Flanke des Signals SOLL erst später kommt) und
mit der Abstiegsflanke des Signals SOLL· Umgekehrtes
gilt für das Signal ISTZ Da der Abstand der Anstiegsflanken bzw. Abstiegsflanken voneinander
kleiner als die Länge des Pfeils VZ ist, wird bei diesen beiden ersten IST-Signalen kein Alarm ausgelöst.
Was anderes gilt allerdings für die beiden Signale IST3, IST4, bei denen der Abstand ihrer Anstiegs- bzw. Abstiegsflanken gegenüber den entsprechenden Flanken des Signals SOLL größer als die Dauer der Verzögerungszeit ist. Bei diesen beiden Signalen wird also Alarm ausgelöst. Dabei ist es nicht nötig, daß sowohl die Anstiegs- als auch die Abstiegsflanke einen zu großen Abstand von der entsprechenden Flanke des SOLL-Signals hat. Es genügt allein ein zu großer Abstand auf der Anstiegs- oder Abstiegsseite, um schon Alarm auszulösen. Wie weiter oben schon erläutert, werden die Eingangssignale ES von der Anlage abgegeben.
Was anderes gilt allerdings für die beiden Signale IST3, IST4, bei denen der Abstand ihrer Anstiegs- bzw. Abstiegsflanken gegenüber den entsprechenden Flanken des Signals SOLL größer als die Dauer der Verzögerungszeit ist. Bei diesen beiden Signalen wird also Alarm ausgelöst. Dabei ist es nicht nötig, daß sowohl die Anstiegs- als auch die Abstiegsflanke einen zu großen Abstand von der entsprechenden Flanke des SOLL-Signals hat. Es genügt allein ein zu großer Abstand auf der Anstiegs- oder Abstiegsseite, um schon Alarm auszulösen. Wie weiter oben schon erläutert, werden die Eingangssignale ES von der Anlage abgegeben.
Es ist nicht unbedingt notwendig, daß immer nur einzelne Meßpunkte manuell abgegriffen werden. Im
Rahmen der Erfindung können auch gleichzeitig mehrere Meßpunkte, gegebenenfalls auch automatisch
miteinander verglichen werden. Die Toleranz sollte bei elektronisch gesteuerten Vermittlungsanlagen nicht
kleiner als 100 ns (Nanosekunden) gewählt werden, so daß in Systemen mit Grundtaktfrequenzen bis 10 MHz
eine optimale Fehlereingrenzung durchgeführt werden kann. Auch Amplitudenunterschiede können bei den
beiden miteinander zu vergleichenden Signalen ausgewertet werden, etv/a indem die Amplitude des
Steuersignals proportional der Spannungsdifferenz der beiden miteinander zu vergleichenden Signale gewählt
wird. In diesem Fall kann beispielsweise die Ansprechschwelle eines TTL-Bausteins zur Auswertung dieses
Amplitudenunterschiedes und zur entsprechenden Alarmgebung eingesetzt werden.
Die Signalverfolgung erfolgt zweckmäßigerweise rückwärts, also entgegen der Signalrichtung des zu
prüfenden Signals in der Schaltung. Dabei werden vorteilhafterweise zunächst die Ausgänge nacheinander
getestet, bis mindestens ein Ausgang einen Fehler anzeigt. Als nächstes sind, ausgehend von diesem
Ausgang die Eingänge des Bauelementes zu testen, an dem der Fehler erstmals gemessen wurde. Sind die
Eingänge fehlerfrei, so kann nur das Bauelement selbst bzw. die am gestörten Ausgang liegende Leitung der
Fehlerort sein. Zeigt mindestens ein Eingang einen Fehler, so ist dieser »Zweig« weiter zu verfolgen und in
gleicher Weise wie oben zu verfahren, bis der Fehlerort ermittelt ist
Sind mehrere Ausgänge fehlerhaft, so ist noch nicht bewiesen, daß auch mehrere Fehlerorte auf der zu
prüfenden Flachbaugruppe existieren, denn es kann ein einziger Fehler auf dieser Baugruppe auf mehrere
Ausgänge ausstrahlen.
Es sind daher nach Beseitigung des Fehlers alle Ausgänge zu überprüfen, da hierdurch mehrere anfangs
gestörte Ausgänge fehlerfrei geworden sein können. Es ist auch darauf zu achten, daß bei dynamischen Messungen
nach jeder Vergleichsmessung mindestens die vorher gestörte Funktion erneut vollkommen abläuft
Anstatt durch manuelle Rückstellung mittels einer Rückstelltaste kann das Alarmgerät auch gegebenenfalls
automatisch zurückgestellt werden.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (7)
1. Schaltungsanordnung zur Bestimmung fehlerhafter
Einheiten in einer eine Vielzahl von Einheiten aufweisenden Anlage, wobei die elektrischen Werte
einer als Normal dienenden Einheit mit den elektrischen Werten der zu prüfenden Einheit
verglichen werden und bei abweichendem Ergebnis eine Anzeige gegeben wird, dadurch gekennzeichnet,
daß in an sich bekannter Weise in der Anlage (A) anstelle der zu prüfenden, durch eine steckbare
Leiterplatte gebildeten Einheit (ZPF), ein an sich bekanntes Zwischenglied (ZG), das eine Steckerleiste
(Li) zur Aufnahme der zu prüfenden Leiterplatte (Zf79besitzt, gesteckt ist,
daß das Zwischenglied (ZG) außerdem noch eine Steckerleiste (Li) zur Aufnahme der als Normal
dienenden Leiterplatte (OAF)besitzt,
daß einander entsprechende Steckerpunkte (L XK 1, L2K2 bzw. LXK2, L2K2 usw.) der Leisten (Li,
L 2) paarweise ggf. über eine Entkopplungseinrichtung (VSi bis VSn, Ui bis Un) zu den elektrischen
Anschlußpunkten (S3K 1 bis 53ATn; des Zwischengliedes
(ZG) in der Anlage (A) geführt sind und
daß von einer mit dem Zwischenglied (ZG) verbundenen Vergleichseinrichtung (VE) zwei Prüfleitungen (ML) zur paarweisen Abtastung einander entsprechender Meßstellen (MS) auf den miteinander zu vergleichenden Leiterplatten (OAF, ZPF) abgehen.
daß von einer mit dem Zwischenglied (ZG) verbundenen Vergleichseinrichtung (VE) zwei Prüfleitungen (ML) zur paarweisen Abtastung einander entsprechender Meßstellen (MS) auf den miteinander zu vergleichenden Leiterplatten (OAF, ZPF) abgehen.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein der Vergleichseinrichtung
(VE) zugeordnetes Alarmgerät (A G) mit einem Toleranzprüfer (TP) versehen ist, der die Aussendung
eines durch das Steuersignal der Vergleichseinrichtung (VE) bedingten Alarms solange verhindert,
wie dieses Steuersignal nicht einen einer vorgegebenen Abweichung der Meßwerte entsprechenden
bestimmten Größenwert überschreitet.
3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Toleranzprüfer (TP) mit
einer monostabilen Kippstufe (MK) versehen ist, deren Verzögerungszeit mittels eines UND-Gliedes
(UG) mit der den Größenwert bildenden Dauer des Steuersignals (SS) verglichen wird, wobei das
UND-Glied (UG) ein Alarmsignal (AS) in dem Alarmgerät abgibt, wenn die Dauer des Steuersignals
(SS)Ak Verzögerungszeit überschreitet
4. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen
die Anlage (A) und das Zwischenglied (ZG) ein im wesentlichen die Abmessungen einer Leiterplatte
aufweisendes Verlängerungsglied (VG) geschaltet ist.
5. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die
Entkopplungseinrichtung CVS1 - VSn, U1 - Un)
durch erste und zweite Entkopplungsmittel (VS 1 - VSn, U1 bis Un) gebildet ist, daß die ersten
Entkopplungsmittel Verstärker (VS X - VSn) sind, welche in die einzelnen Verbindungen (Vi-Vn)
zwischen den Steckkontakten (S3K X-S3Kn)und die der zu prüfenden Flachbaugruppe (ZPF)
zugeordneten Leistenkontakten (LiKi-LXKn)
geschaltet sind, wobei die Verstärkereingänge an die Steckkontakte (S3K X-S3Kn) angeschlossen sind,
daß die zweiten Entkopplungsmittel Unterbrechungen (Ui-Un) der Verbindungen (VX-Vn) sind
und daß jedem für die zu prüfenden Leiterplatten (ZPF) vorgesehenen Leistenkontakt
(LtKi-LXKn) ein erstes Entkopplungsmittel (VSi-VSn) zugeordnet ist und dabei den zu
Ausgängen der zu prüfenden Flachbaugruppe gehörenden Leistenkontakten (LiKi-LiKn)zusätzlich
ein zweites Entkopplungsmittel (Ui-Un) zugeordnet ist, welches jeweils einem ersten
Entkopplungsmittel (VSi und VSn) in Reihe geschaltet ist
6. Schaltungsanordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß zur Schaffung der Unterbrechungen
(Ui-Un) das Zwischenglied (ZG) mit
einem Rangierfeld (RF) versehen ist
7. Schaltungsanordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet daß das Rangierfeld (RF) durch
abziehbare Kurzschlußstecker oder durch Schnüre gebildet ist
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752511923 DE2511923C3 (de) | 1975-03-19 | 1975-03-19 | Schaltungsanordnung zur Funktionsprüfung und Fehlerlokalisierung von Flachbangruppen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752511923 DE2511923C3 (de) | 1975-03-19 | 1975-03-19 | Schaltungsanordnung zur Funktionsprüfung und Fehlerlokalisierung von Flachbangruppen |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2511923A1 DE2511923A1 (de) | 1976-09-30 |
DE2511923B2 DE2511923B2 (de) | 1981-02-26 |
DE2511923C3 true DE2511923C3 (de) | 1981-11-12 |
Family
ID=5941744
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19752511923 Expired DE2511923C3 (de) | 1975-03-19 | 1975-03-19 | Schaltungsanordnung zur Funktionsprüfung und Fehlerlokalisierung von Flachbangruppen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2511923C3 (de) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2738833A1 (de) * | 1977-08-29 | 1979-03-15 | Siemens Ag | Pruefeinrichtung fuer baugruppen in digitalen elektrischen schaltungen |
DE3313449C2 (de) * | 1983-04-13 | 1987-01-02 | Computer Gesellschaft Konstanz Mbh, 7750 Konstanz | Vorrichtung zum Prüfen von Flachbaugruppen |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1162427B (de) * | 1961-07-26 | 1964-02-06 | Dr Oskar Vierling | Selbsttaetige Pruefeinrichtung fuer Fernmeldeleitungen, insbesondere in Fernsprechvermittlungsanlagen, zur Erfassung der an einer grossen Zahl von Leitungen auftretendengleichartigen elektrischen Groessen |
DE1191437B (de) * | 1963-05-09 | 1965-04-22 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zur Daempfungsmessung fuer Fernmelde-, insbesondere Fernsprech-vermittlungsanlagen |
FR2165733B3 (de) * | 1971-12-28 | 1974-08-30 | Itt France |
-
1975
- 1975-03-19 DE DE19752511923 patent/DE2511923C3/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2511923B2 (de) | 1981-02-26 |
DE2511923A1 (de) | 1976-09-30 |
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8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |