DE2500714C3 - Einrichtung zur Kontrastmessung eines Bildes - Google Patents
Einrichtung zur Kontrastmessung eines BildesInfo
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- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 claims description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 238000007630 basic procedure Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 210000001328 optic nerve Anatomy 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zur «
Messung des Kontrastes an möglichst vielen Bildpunkten eines Bildes oder eines Bildausschnittes mit Hilfe
eines opto-elektronischen Sensors aus paarweise angeordneten Elementen.
Bei Abbildungen einer Szene mit Hilfe eines so Objektivs kann es vorkommen, daß bei falscher
Entfernungseinstellung unscharfe Bilder entstehen. Dies hat zur Folge, daß die Beleuchtungsstärkeunterschiede
benachbarter Bildpunkte im allgemeinen kleiner als bei scharfen Bildern sind. Dieser differentielle Beleuchtungsstärkeunterschied
wird im folgenden als (differentieller)
Kontrast bezeichnet. Er ist mathematisch ausdrückbar durch
K(X,y)=\,-T*aB(x,y)\,
b0
wobei B(x,y) die Lichtintensitätsverteilung eines Objekts
bzw. die Beleuchtungsstärkeverteilung seiner Abbildung ist.
Es ist bekannt, daß im Auge bzw. Sehnerv Prozesse ablaufen, die zu einer Überhöhung des tatsächlichen f>r>
Kontrastes einer Szene führen, um beispielsweise Konturen stärker herauszuheben. Derartige Prozesse
werden heute bei der Bildverarbeitung auf Großrechnern simuliert, um beispielsweise Satellitenaufnahmen
aufzubereiten. Dabei wird u.a. die Größe K(x#)
berechnet und dem ursprünglichen Bild überlagert.
Die gegebene Definition des ortsabhlngigen oder differentiellen Kontrastes erfüllt die Bedingung, unabhängig
von der Wahl des Koordinatensystems und damit invariant gegen Drehungen der Szene zu sein.
Weiterhin ist die Größe K(Xj) wie auch B(xy) positiv
definiert Schließlich kann man als integralen Kontrast eines Bildes die Größe
lK(x,y)· df
definieren, wobei d/ ein möglichst klein zu wählendes
Flächenelement bedeutet und häufig einfach Bildpunkt genannt wird.
Aus der DE-AS 21 05 288 ist eine automatische
Scharfeinstellung für Kameras bekannt, bei denen das Verschieben bzw. Einstellen des Kameraobjektivs über
eine mechanische Einrichtung erfolgt, die von einer Ortsfrequenzerfassungsvorrichtung gesteuert wird. Diese
Methode geht von der Erkenntnis aus, daß bei unscharfen Bildern hohe Ortsfrequenzen mit im
allgemeinen wesentlich kleineren Amplituden in Erscheinung treten als bei scharfen Bildern. Der Aufbau
dieser Ortsfrequenzerfassungsvorrichtung ist eine zweidimensionale
Matrix von jeweils zwei antiparallel geschalteten Fotodioden (sogenannten Fühlelementen).
Diese Pärchen sind derart angeordnet, daß abwechselnd Spalten der einen und der anderen dazu antiparallel
geschalteten Fotodiode entstehen, so daß die Funktion eines optischen Gitters simuliert wird, wie es normalerweise
bei Ortsfrequenzerfassungsvorrichtungen verwendet wird. Dabei sind alle Fühlelemente parallel
geschaltet
Ein prinzipieller Nachteil dieser Vorrichtung ist, daß
das abgegebene Signal, welches als Maß für den integralen Kontrast anzusehen ist nicht invariant gegen
Drehungen der Szene ist Dies resultiert daraus, daß das einzelne Fühlelement nur ein mathematisch durch die
gegebenes Signal liefert, welches im Gegensatz zu
\grad B(x,y)\
\grad B(x,y)\
nicht drehungsinvariant ist Die Größe des abgegebenen Signals hängt also von dem Winkel zwischen der
Richtung des Beleuchtungsstärkegradienten und der Richtung der positiven x-Achse ab.
Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe ist darin zu sehen. Einrichtungen zu schaffen, mit denen
direkt der differentielle oder der integrale Kontrast eines Bildes, d. h. ohne Umweg über einen Rechner,
gemessen werden können.
Zur Lösung dieser Aufgabe, soweit'sie den integralen
Kontrast betrifft, wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, daß für jeden Bildpunkt ein Kontrastmeßelement
vorgesehen ist das aus mehreren paarweise zusammengeschalteten fotoernpfindlichen Elementen mit derart
zugeschalteten Hilfsdioden besteht, daß das Ausgangssignal eines jeden Kontrastmeßelements unabhängig
von der Richtung und nur abhängig von der Größe des Beleuchlungsstärkegfädienten am Ort des Kontfastmeßelements
ist, und daß eine Serienschaltung, d. h. eine Summation aller elektrischen Signale der einzelnen
Kontrastmeßelemente, den Gesamtkontrast des Bildes liefert.
Als weitere Lösung der gestellten Aufgabe, soweit sie den differentiellen Kontrast betrifft wird, vorgeschla-
gen, jedes Kontrastmeßelement, das grundsätzlich
denselben vorbeschriebenen Aufbau besitzt, getrennt anzusteuern und auszulesen.
Hiermit wird also eine zweidimensional Anordnung
von möglichst eng gepackten Kontrastmeßelementen bereitgestellt Je nach Anwendungszweck können die
Signale dieser Kontrastmeßelemente gespeichert und sequentiell ausgelesen werden, um die Punktion K(xy)
zu erhalten oder durch eine geeignete Verschaltung direkt summiert werden, um ein dem integralen
Kontrast entsprechendes Signal zu erhalten.
Mit der Einrichtung nach der Erfindung kann zur
Bestimmung des Ortes höchster Bildschärfe bei der Abbildung einer Szene mit Hilfe eines Objektivs eine
Messung des integralen Kontrastes herangezogen werden. Besteht die Aufgabe jedoch darin, durch
räumliche Differentiation Konturen oder Silhouetten bei kontrastarmen Bildern anzuheben, wird die Ausführungsform,
die die Auswertung des differentiellen Kontrastes ermöglicht, heranzuziehen sein.
Ein weiterer Vorteil der Erfindung ist darin zu sehen, daß erstens ein zweidimensionales »Kontrastbild«
K(x.y) gewonnen werden kann und zweitens dLis Signal
für den integralen Kontrast unabhängig von der zufälligen Stellung des Sensors ist
Mit den nachfolgend beschriebenen Einrichtungen, welche die geforderten Eigenschaften eines Kontrastmeßelements
besitzen, wird prinzipiell so vorgegangen, daß zunächst an mehreren Punkten jedes einzelnen
Kontrastmeßelements mit den Koordinaten (x.y) Lichtmessungen
vorgenommen werden, anschließend werden die dabei erhaltenen Signale durch eine geeignete
Verschaltung in den gewünschten Kontrastwert des jeweiligen Kontrastmeßelements verwandelt
In der Zeichnung sind Einrichtungen nach der
Erfindung schematisch dargestellt
F i g. 1 bis 3 zeigen je ein sogenanntes Differenzelement;
F i g. 4 bis 6 zeigen die geometrische Anordnung und Verschaltung mehrerer Differenzelemente zu einem
Kontrastmeßelement und
Fig.7 ein Beispiel einer Ausführungsform in Planartechnik nach F i g. 1.
Einen möglichen Zugang bilden die an sich bekannten Differenzelemente, Paare von fotoempfindlichen Zellen,
die die Beleuchtungsstärkedifferenz zweier fester Bildpunkte im Kontrastelement zu Tiessen gestatten.
Auch das sogenannte Fühlelement nach der DE-AS 2105 288 stellt eine mögliche Ausführungsform dar.
Zum Aufbau von Differenzelemenlen können im Prinzip alle lichtempfindlichen Bauelemente, wie Fotoelemente,
Fotodioden, Fototransistoren etc, herangezogen werden
Ist die abzubildende Szene nur schwach beleuchtet, so
empfiehlt es sich gemäß Fig. 1, eine stromlose Messung
durchzuführen. Hierzu werden Fotoelemente 1 und 2 verwendet und die Differenz der Fotospannungen
entsprechend
U= W - U?
gemessen. Bei diesem Meßverfahren entfällt der Untergründstföm und damit der Rauschanteil.
1st dagegen der Untergrundstrom weniger kritisch, so bieten sich gemäß Fi g. 2a und 2b die Möglichkeilen an,
Strommessungen entsprechend
vorzunehmen. Im Beispiel nach F i g. 2a sind Fotodioden
3 und 4 an eine sußenliegende Spannungsversorgung
angeschlossen, im Beispiel nach Pig,2b sind dagegen
Fototransistoren eingesetzt worden. Wird angenommen, daß die Fotodiode 3 in Fig,2a durch den
entsprechenden Bildpunkt eines Bildausschnittes einer höheren Beleuchtungsstärke ausgesetzt ist als die
Fotodiode 4, so wird durch die Diode 3 ein höherer Strom fließen als in der Diode 4 und die Stromdifferenzen
4/in einem Meßgerät nachweisbar sein.
ίο Um nun zu gewährleisten, daß die Kontrastmessung
weitgehend unabhängig von der zufälligen richtungsmäßigen Lage der Differenzelemente, d.h. möglichst
invariant gegen Drehungen in der Bildebene ist, werden mehrere Differenzelemente zu einem Kontrastmeßelement
zusammengeschaltet Derartige Anordnungen, die ein von der Richtung des Intensitätsgradienten weitgehend
unabhängiges Signal liefern, zeigen die Fig.4 bis 6.
so nach Fig.3 parallelgeschaltete Differenzelemente,
geometrisch dargestellt so zu einem Kontrastmeßelement vereinigt, daß mindestens ein /Jifferenzelement
einen Beitrag zum Signal liefert
parallel angeordneten Hilfsdioden zu einer quadratischen
Anordnung (Kontrastmeßelement) zusammengeschaltet Wird angenommen, daß die Beleuchtungsstärke
des Bildausschnittes von unten nach oben der F i g. 4 abnimmt so weist die Fotodiode Bb eine höhere
jo Spannung auf als die Fotodiode Sa im Differenzelement 8. Die außenliegende Hilfsdiode dieses Differenzelements
verhindert den Spannungsausgleich. Auch im Differenzelement 10 besitzt die Fotodiode 10a den
höheren Spannungswert gegenüber der Fotodiode 106.
Die resultierende Spannungsdifferenz ist aber durch die Hilfsdiode kurzgeschlossen. Damit trägt dieses Differenzelement
10 nicht zur meßbaren Spannung an den Anschlüssen dieses Kontrastmeßelements bei. Ebensowenig
kann bei der angenommenen Richtung des Beleuchtungsstärkegradienten eine Spannungierhöhung
durch die Differenzelemente 9 und 11 erfolgen, da ihre empfindlichen Bereiche keine Beleuchtungsstärkeunterschiede
feststellen können. Damit wird allein vom Differenzelement 8 die an den Anschlüssen des
Kontrastmeßelements liegende Spannungsdifferenz geliefert Bei einer Drehung des Kontrastmeßelements
werden, je nach Größe des Drehwinkels, die Differenzelemente 9, 10 oder 11 ganz oder teilweise die
Signalspannung liefern.
Die fotoempfindlichen Bauelemente können, von der Fertigung her gesehen, nicht beliebig klein gemacht
werden. Im Verhältnis zu den Hilfsdioden beanspruchen die fotoempfindlichen Bauelemente eine verhältnismäßig
große Fläche. Um mit weniger fotoempfindlichen
V) Bauelementen und damit feinmaschiger den Bildausschnitt
abtasten zu können, sind nach dem Beispiel der Fig.5 vier fotoempfindliche Elemente 12 bis 15 so
zusammengeschaltet, daß auch hier das an den äußeren Anschlüssen abgenommene Signal unabhängig von der
Mt Richtung des Beleuchtungsstärkegradienten ist Um dieses zu erreichen, sind die leitenden Verbindungen
zwischen den einzelnen empfindlichen Elementen bei 16
miteinander verbunden und in der dargestellter. Weise über Hilfsdioden an die äußeren Anschlüsse gelegt
hi Eine weitere Möglichkeit mit nur drei fotoempfindlichen
Elementen >7 bis 19 mit entsprechenden Hilfsdiodenschaltungen zeigt F i g. 6.
Schließlich zeigt Fig. 7 einen Schnitt durch eine
Schließlich zeigt Fig. 7 einen Schnitt durch eine
mögliche Ausführungsform eines fotoempfindlichen Halbleiter-Differenzelements. In ein p-Substrat ist eine
η-leitende Schicht diffundiert. Durch weitere Diffusion zweier oder mehrerer p-Bereiche entstehen zwei oder
mehr gegeneinander geschaltete Dioden gemäß den Fig. 1, 5 oder 6. Mit den p-Dotierungen sind
Metallisierungen zur Herstellung der nach außen führenden elektrischen Leiterbahnen verbunden.
Alle in den Ausführungsbeispielen (F i g. 4 -6) dargestellten Kontrastmeßelemente können gemäß F i g. 7 in
dieser Differenz-Fotoelement-Planartechnik hergestellt werden. Bei der Matrixbildung aus Kon'rastmeßelementen
können die verschiedenen Anwendungsmöglichkeiten berücksichtigt werden. Diese reichen von der
totalen Summation über alle Kontrastelemente (Serienschaltung) bis zur getrennten Ansteuerungsmöglichkeit
jedes einzelnen Kontrastmeßelements. Entsprechende Schaltungen sind von normalen Fotodioden-Arrays mit
integrierten MOS-Schieberegistern oder nach dem Prinzip der Charge-Coupled Devices (CCD) gelänfig.
Claims (3)
- Patentansprüche?t. Einrichtung zur Messung des Kontrastes an möglichst vielen Bildpunkten eines Bildes oder eines Bildausschnittes mit Hilfe eines opto-elektronischen Sensors aus paarweise angeordneten fotoernpfindlichen Elementen, dadurch gekennzeichnet, daß für jeden Bildpunkt ein Kontrastmeßelement (8—11, 12—15, 17—19) vorgesehen ist, das aus to mehreren paarweise zusammengeschalteten fotoempfindlichen Elementen (8a, 6b, 10a, 106 ...) mit derart zugeschalteten Hilfsdioden besteht, daß das Ausgangssignal eines jeden Kontrastmeßelements unabhängig von der Richtung und nur abhängig von is der Größe des Beleuchtungsstärkegradienten am Ort des Kontrastmeßelements ist, und daß eine Serienschaltung, d. h. eine Summation aller elektrischen Signale der einzelnen Kontrastmeßelemente, den Gesamtkontrast des Bildes liefert.
- 2. EinricitUing zur Messung des Kontrastes an möglichst vielen Bildpunkten eines Bildes oder eines Bildausschnittes mit Hilfe eines opto-elektronischen Sensors aus paarweise angeordneten fotoempfindlichen Elementen, dadurch gekennzeichnet, daß für jeden Bildpunkt ein Kontrastnießelement (8—11, 12—15, 17—19) vorgesehen ist, das aus mehreren paarweise zusammengeschalteten fotoempfindlichen Elementen (8a, Sb, 10a, XOb ...) mit derart zugeschalteten Hilfsdioden besteht, daß das Aus- Jo gangssignal eines jeden Kontrastmeßelements unabhängig von dir Richtung und nur abhängig von der Größe des Beleuchtungsstärkegradienten am Ort des Kontrastmeßelenients -.st und daß jedes Kontrastmeßelement bei getrennter Ansteuerung und Auslesung zu einem differeiuellen Kontrast des Bildes führt
- 3. Einrichtung nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß alle fotoempfindlichen Elemente und die Hilfsdioden in integrierter Halbleitertechnik realisierbar sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752500714 DE2500714C3 (de) | 1975-01-09 | 1975-01-09 | Einrichtung zur Kontrastmessung eines Bildes |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752500714 DE2500714C3 (de) | 1975-01-09 | 1975-01-09 | Einrichtung zur Kontrastmessung eines Bildes |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2500714A1 DE2500714A1 (de) | 1976-07-15 |
DE2500714B2 DE2500714B2 (de) | 1978-11-02 |
DE2500714C3 true DE2500714C3 (de) | 1979-07-05 |
Family
ID=5936175
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19752500714 Expired DE2500714C3 (de) | 1975-01-09 | 1975-01-09 | Einrichtung zur Kontrastmessung eines Bildes |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2500714C3 (de) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2386832A1 (fr) * | 1977-04-05 | 1978-11-03 | Commissariat Energie Atomique | Procede de correction automatique de mise au point d'un microscope et un dispositif mettant en oeuvre ledit procede |
NL7803969A (nl) * | 1978-04-14 | 1979-10-16 | Philips Nv | Opto-elektronisch fokusfout-detektiestelsel. |
-
1975
- 1975-01-09 DE DE19752500714 patent/DE2500714C3/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2500714B2 (de) | 1978-11-02 |
DE2500714A1 (de) | 1976-07-15 |
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