DE2261460A1 - METHOD AND DEVICE FOR INDICATING OPTICAL DEFECTIVE POINTS IN A PERMEABLE OR SEMI-PERMEABLE BODY - Google Patents

Description

Verfahren und Vorricltung zum Aufzeigen von optischen, fehlerhaften Stellen in einem durchlässigen oder halbdurchlässigen Körper Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Aufzeigen von optischen, fehlerhaften Stellen in durchlässigen oder halbdurchlässigen Körpern. Process and device for the detection of optical, defective Locations in a Permeable or Semi-Permeable Body The invention relates to a method and a device for the detection of optical, defective points in permeable or semi-permeable bodies.

Das am meisten gebräuchliche Verfahren des automatischen Aufzeigens von fehlerhaften Stellen in einer durchlässigen Platte besteht darin, daß Licht auf verschiedene Teile der durchlässigen Platte gerichtet wird, daß die Licttmengen, welche durch die entsprechenden Teile bzw. Stellen der Platte hindurchgetreten sind, gemessen werden, dazu die so gemessenen Lichtmengen in entsprechende elektrische Signale durch fotoelektrische Umwandler umgewandelt werden und daß das elektrische Signal, welches von dem Teil der Platte, das eine fehlerhafte Stelle aufweist (späterhin als "anormaler Teil der Platte" bezeichnet), mit dem elektrischen Signal verglichen wird, das von dem Teil der Platte erhalten wird, das keine fehlerhaften Stellen aufweist (späterhin als "normaler Teil der Platte" bezeichnet), so daß die Anwesenheit oder das Fehlen von derartigen fehlerhaften Stellen bestimmt werden kann. Wenn man bei einem derartigen Verfahren die Lichtmenge, welche durch den normalen Teil der Platte hindurchgetreten ist, mit "Io" und die Lichtmenge, die durch die anormalen Teil der Platte hindurchgetrebezeichnet, ten ist, mit "I1"/dann ist die Abweichung "#I" in der Lichtmenge, die bei einem Fotodetektor ankommt, gleich 1i - Io. Wenn a I groß genug ist im Vergleich zu Iot dann kann mit dem bekannten Verfahren eine Fehlerstelle mit praktisch verwendbarer hoher Präzision erzielt werden. Wenn jedoch a I klein ist im Vergleich zu 10 und zwar bis zu einem Ausmaß, daß das Verhältnis von a I zu einer extrem geringen Änderung (Rauschen) in Ios welches zwangsläufig vorhanden ist, so ist, daß das Signal-Rausch-Verhältnls sehr klein wird, ist es schwierig, einen ausreichend hohen Grad an Präzision bei der Aufzeichnung zu erhalten.The most common method of automatic display of imperfections in a permeable plate is that light is directed at different parts of the permeable plate that the amount of light, which have passed through the corresponding parts or places of the plate, are measured, for this purpose the thus measured amounts of light in corresponding electrical Signals are converted by photoelectric converters and that the electrical Signal which is transmitted from the part of the plate that has a faulty location (later referred to as the "abnormal part of the plate"), compared with the electrical signal obtained from the part of the disk that has no defective spots (hereinafter referred to as the "normal part of the plate") so that the presence or the absence of such defective locations can be determined. If in such a method, the amount of light passing through the normal part of the Plate has passed through, with "Io" and the amount of light passing through the abnormal Part of the plate is marked th, with "I1" / then the deviation "#I" in the amount of light that arrives at a photodetector is equal to 1i - Io. if a I is large enough in comparison to Iot then a Defect can be achieved with practically usable high precision. But when a I is small compared to 10, to the extent that the ratio from a I to an extremely small change (noise) in Ios which inevitably is present so that the signal-to-noise ratio becomes very small, it is difficult to obtain a sufficiently high degree of precision in recording.

Wenn man versucht ein automatisches Fehieraufzeichnungsgerät in Über einstimmung mit einem derartig bekannten Verfahren zu bilden, ist es notwendig, daß man den Erfassungsbereich eines jeden Fotodetektors kleinhält, damit die Größe von 10 bezüglich a 1 abnimmt, so daß das Signal-Rausch-Verhältnis verbessert wird. Eine andere Möglichkeit besteht darin, daß man im wesentlichen die unerwilnschte Änderung in 1 I selbst unterdrückt, wozu jedoch ein kompliziertes und kostspiellges Gerät notwendig ist. Vom industriellen und wirtschaftlichen Gesichtspunkt aus kann daher das bekannte Verfahren bei einem Aufzeichnungsapparat für Mikrofehlstellen nicht angewendet werden.If you try an automatic fault recorder in About To form agreement with such a known method, it is necessary to that one keeps the detection area of each photodetector small, so that the size decreases from 10 with respect to a 1, so that the signal-to-noise ratio is improved. Another possibility is that you get essentially the undesired Change in 1 I suppressed myself, but what a complicated one and expensive equipment is necessary. From the industrial and economic point of view Therefore, the known method in a micro-flaw recording apparatus can be deduced not be applied.

Eine weitere Schwierigkeit tritt auf, wenn man gestützt auf den oben ausgeführten Stand der Technik versucht, ht, ein Fehleraufzeichnungsgerät zu bilden, welches sowohl bei halbdurchlässigen als auch bei durchlässigen Platten verwendet werden kann. Insbesondere wenn eine Platte verschiedene Muster oder Unebenheiten an ihrer Oberfläche aufweist, beispielsweise als Mattglas oder mit Figuren versehenes Glas, ergeben sich unerwünschte Unregelmäßigkeiten in der hindurchgetretenen Lichtmenge, die sich aus den Oberflächenmustern oder Unebenheiten ergeben. Vom Fotodetektor können derartige Unregelmäßigkeiten erfaßt werden, obwohl das Licht vom normalen Teil der Platte empfangen worden ist, so daß der Fotodetektor aufgrund der Veränderungen der Lichtmenge nicht unterscheiden kann, ob diese Veränderungen bezüglich der Lichtmenge durch Unregelmäßigkeiten, die sich aus Fehlstellen ergeben haben, hervorgerufen worden sind. Diese sollen jedoch angezeigt werden. Es ist daher bisher kein Aufzeichnungsgerät für fehlerhafte Stellen bekannt geworden, welches bei einer Vielzahl von Objekten zur Anwendung kommen kann.Another difficulty arises when one is drawing on the above attempted prior art, ht to form a fault recorder, which is used in both semi-permeable and permeable panels can be. Especially if a plate has different patterns or bumps has on its surface, for example as frosted glass or provided with figures Glass, there are undesirable irregularities in the amount of light that has passed through, resulting from the surface patterns or unevenness. From the photo detector such irregularities can be detected even though the light differs from normal Part of the plate has been received, so the photodetector due to the changes the amount of light cannot distinguish whether these changes in the amount of light caused by irregularities resulting from imperfections have been. However, these should be displayed. It is therefore not yet a recorder has become known for faulty spots, which is the case with a large number of objects can be used.

Die Aufgabe der Erfindung besteht daher darin, ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Aufzeigen von fehlerhaften Stellen in einem durchlässigen oder halbdurchlässigen Körper zu zeigen, das vielseitig verwendbar ist, insbesondere bei Glaskörpern verschiedener Arten.The object of the invention is therefore to provide a method and a Device for pointing out defective areas in a permeable or semi-permeable To show bodies that can be used in many ways, especially with glass bodies of various types Species.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß das durch fehlerhafte Stellen gestreute Licht außerhalb der Llchtzone, die durch einen fehlerfreien Teil des untersuchten Körpers hervorgerufen wird, jedoch innerhalb einer Zone, in welcher eine beträchtlich hohe Intensität des durch einen fehlerhaften Teil des Körpers hindurchgetretenen Lichtes vorhanden ist, erfaßt wird.This object is achieved according to the invention in that the faulty Make scattered light outside the light zone that passes through a flawless part of the body being examined, but within a zone in which a considerably high intensity of the defective Light that has passed through part of the body is detected.

Die Erfindung beruht auf der Erkenntnis, daß beim Projizieren eines Lichtstrahles auf ein gewöhnliches Scheibenglas, auf ein Mattglas oder auf ein mit Figuren versehenes Glas die Intensität des Lichtes, das hindurchgetreten ist, eine spezifische Verteilungscharakteristik aufweist.The invention is based on the knowledge that when projecting a Light beam on an ordinary pane of glass, on a frosted glass or on a with Figurative glass reflects the intensity of the light that has passed through has specific distribution characteristics.

Diese Verteilungscharakteristik hängt hauptsächlich von der Oberflächeneigenschaft der Platte bzw. der Scheibe ab. Weiterhin wurde erkannt, daß, wenn Licht durch ein Scheibenglas, das fehlerhafte Stellen aufweist, hindurchdringt und gestreut wird, die Intensität des hlndurchgedrungenen Lichtes in Abhängigkeit vom Grad der Fehlerhaftigkeit sich ändert. Die Verteilungsc harakteristik des hindurchgetretenen und gestreuten Lichtes ist jedoch im wesentlichen geprägt in Abhängigkeit von der Art der fehlerhaften Stellen. Wenn beispielsweise ein Lichtstrahl durch eine gewöhnliche Glasscheibe hindurchtritt, ist die Verteilung des gestreuten Lichtes eingeschränkt auf einen winzigen Bereich, der in der Regel parallel zur Achse des einfallenden Lichtstrahles ist. Wenn jedoch andererseits ein Lichtstrahl durch eine Glasplatte hindurchtritt, die blasenförmige, fehlerhafte Stellen aufweist, ist der Bereich der Verteilung des durch die Fehlerstellen gestreuten Lichtes viel größer in der Breite als der Bereich des Lichtes, der durch einen normalen Teil des Scheibenglases hindurchgetreten ist. Gleichfalls ist der Bereich der Verteilung des Lichtes, das durch den normalen Teil eines mit FigMren versehenen Glases hindurchgetreten ist, in der Regel breiter als der Bereich der Verteilung des Lichtes im Falle einer gewöhnlichen Glasscheibe. Auch ist der Bereich der Verteilung des Lichtes, das durch einen Teil der Platte hindurchgetreten ist, der Bruchstellen oder Risse als fehlerhafte Stellen aufweist, breiter als der Verteilungsbereich des Lichtes, das durch den normalen Teil einer mit Figuren versehenen Glasplatte oder einer gewöhnlichen Glasplatte hindurchgetreten ist.This distribution characteristic mainly depends on the surface property the plate or the disc. It was further recognized that when light passes through one Pane glass that has flaws, penetrates and is scattered, the intensity of the penetrated light as a function of the degree of defectiveness changes. The distribution characteristics of the passed and scattered However, light is essentially shaped depending on the type of defective Place. For example, when a ray of light through an ordinary pane of glass passes through, the distribution of the scattered light is limited to one tiny area that is usually parallel to the axis of the incident light beam is. On the other hand, when a ray of light passes through a glass plate, that has bubble-shaped, defective spots is the area of distribution of the light scattered by the flaws is much larger in width than the Area of light that has passed through a normal part of the pane is. Likewise is the area of distribution of light that passes through the normal Part of a figured glass has passed through, usually wider than the area of distribution of light in the case of an ordinary pane of glass. Also is the area of distribution of light that passes through a Part of the plate has passed through the cracks or cracks as defective Has places wider than the distribution area of the light passing through the normal part of a figured glass plate or an ordinary glass plate has passed through.

Gemäß der Erfindung wird eine Lichtquelle an einer Seite einer zu untersuchenden Platte angeordnet und ein oder mehrere Fotodetektoren werden außerhalb des Bereiches der Verteilung des Lichtes angeordnet, das durch den normalen Teil der Platte hindurchgetreten ist und gestreut ist, so daß der bzw. die FotodeJektoren nur das Licht einfangen, das vom anormalen Teil der Platte gestreut wurde. Bei Anordnung von mehreren Fotodetektoren ist es möglich, genau und präzis nur das Licht, das von Fehlerstellen in Abhängigkeit von der Art der Platte und der Art der Fehlerstellen gestreut worden ist, einzufangen und zu erfasseri.According to the invention, a light source on one side becomes too examining plate and one or more photodetectors are placed outside arranged of the area of distribution of light passing through the normal part the plate has passed and is scattered, so that the or the FotodeJektoren only catch the light that has been scattered from the abnormal part of the plate. When ordered from several photo detectors it is possible to precisely and precisely only the light that of defects depending on the type of disk and the type of defect has been scattered, to capture and to capture.

Des weiteren wurde erkannt, daß, wenn das Licht auf eine flache Oberfläche der Platte projiziert wird, die Intensität des reflektierten und gestreuten Lichtes eine spezifische Verteilungscharakteristik in Abhängigkeit von der Beschaffenheit der Oberfläche aufweist.It was further recognized that when the light hits a flat surface the plate is projected, the intensity of the reflected and scattered light a specific distribution characteristic depending on the nature the surface.

Demgemäß kann die Erfindung so ausgestaltet sein, daß eine zweite Lichtquelle auf der entgegengesetzten Seite der Platte bezüglich der ersten Lichtquelle angeordnet ist und Fotodetektoren so vorgesehen sind, daß sie das Licht, welches von der zweiten Lichtquelle aus gesendet wird und von der Oberfläche der Platte reflektiert wird, empfangen, jedoch das von der zweiten Lichtquelle ausgesendete direltte Licht nicht empfangen. Dieses Verfahren bzw. diese Anordnung erweist sich von Vorteil, wenn es erwünscht ist, fehlerhafte Stellen in der Oberfläche eines mit Figuren versehenen Glases mit hoher Genauigkeit aufzuzeigen.Accordingly, the invention can be so designed that a second Light source on the opposite side of the plate with respect to the first light source is arranged and photodetectors are provided so that they the light, which from the second light source and from the surface of the plate is reflected, received, but that emitted by the second light source did not receive direct light. This method or this arrangement proves itself beneficial when it is desired to spot imperfections in the surface of a to show figured glass with high accuracy.

Außerdem wurde erkannt, daß die Intensität der Verteilungscharakteri stik des Lichtes, das durch fehlerhafte Stellen der Platten hindurchgedrungen ist oder von diesen reflektiert worden ist, sich ändert in Abhängigkeit vom Azimut oder der Richtung des einfallenden Lichtstrahles auf den fehlerhaften Bereich.It was also recognized that the intensity of the distributional characteristics stik of the light that has penetrated through defective parts of the panels or has been reflected by these changes depending on the azimuth or the direction of the incident light beam on the defective area.

Die Erfindung kann daher noch so ausgestaltet sein, daß durch Änderung des Azimut des einfallenden Lichtstrahles und durch Anordnung von Fotodetektoren derart, daß das hindurchgetretene oder reflektierte Licht empfangen wird, es möglich ist, längliche Fehlerstellen, die sich in Längsrichtung der Glasplatte erstrecken, von solchen fehlerhaften Stellen zu unterscheiden, die im wesentlichen kugelförmig ausgebildet sind.The invention can therefore still be designed so that by change the azimuth of the incident light beam and the arrangement of photo detectors so that the transmitted or reflected light is received, it is possible is, elongated flaws that extend in the longitudinal direction of the glass plate, to be distinguished from such flawed spots which are essentially spherical are trained.

Gemäß dem Verfahren und der Vorrichtung vorliegender Erfindung werden fehlerhafte Stellen in einer lichtdurchlässigen oder halbdurchlassigen Platte festgestellt. Bei der Erfindung wird die Erkenntnis ausgenützt, daß die Intensitätsverteilungscharak:teristik des Lichtes, das durch die durchlässige oder halbdurchlässige Platte hindurchgetreten ist oder von deren Oberfläche reflektiert ist, sich in Abhängigkeit davon ändert, ob das Licht durch einen normalen oder anormalen Teil der Platte hindurchgetreten ist oder von diesem reflektiert worden ist. Gleichfalls ändert sich die Intensitätsverteilungscharakter istik des hindurchgetretenen oder reflektierten Lichtes in Abhängigkeit von der Art der fehlerhaften Stellen. Es sind daher Fotodetektoren außerhalb des Bereiches der Verteilung des Lichtes, das vom normalen Teil der Platte gestreut worden ist, angeordnet, eo daß sie nur das vom anormalen Teil der Platte gestreute Licht empfangen. Das Vorhandenseln von fehlerhaften Stellen und die Art dieser fehlerhaften Stellen kann mit Hilfe des Fotodetektors bestimmt werden, der das vom anormalen Teil der Platte gestreute Licht empfängt.According to the method and apparatus of the present invention Defects found in a translucent or semi-permeable panel. The invention makes use of the knowledge that the intensity distribution characteristics of the light that has passed through the transparent or semi-transparent plate is or is reflected from the surface, changes depending on whether the light has passed through a normal or abnormal part of the plate is or has been reflected by it. The intensity distribution character also changes istics of the light which has passed or reflected depending on the Type of faulty places. There are therefore photodetectors out of range the distribution of the light that has been scattered from the normal part of the plate, arranged so that they only receive the light scattered from the abnormal part of the plate. The presence of flaws and the nature of those flaws can be determined with the help of the photodetector that the abnormal part of the Plate receives scattered light.

Die Erfindung und Vorteile der Erfindung sollen anhand der beiliegenden Figuren näher erläutert werden. Es zeigen: Fig. 1A eine schaubildliche Darstellung einer erfindungsgemäßen Anordnung eines optischen Systemes zum Aufzeigen von fehlerhaften Stellen; Fig. 1B eine vergrößerte perspektivische Ansicht dieser Anordnung; Fig. 2 die Verteilungscharakteristik von Licht, das durch einen Teil einer durchsichtigen Platte hindurchgetreten ist, der keine Fehlstellen aufweist; Fig. 3 die Verteilungscharakteristik des Lichtes, das- duch den Teil der durchlässigen Platte hindurchgetreten ist, welcher - fehlerhafte Stellen aufweist; Fig. 4 eine schaubildliche Darstellung des Falles, bei dem die Erfindung zur Aufzeichnung von fehlerhaften Stellen in einer gewöhnlichen Glasplatte dient; Fig. 5 eine schaubildliche Darstellung des Falles, bei dem die Erfindung zur Aufzeichnung von fehlerhaften Stellen in einer mit Figuren versehenen Platte dient; Fig. 6 eine schaubildliche Darstellung einer weiteren Ausführungsform der Erfindung; Fig. 7 eine schaubildliche Darstellung, die das hindurchgetretene und das reflektierte Licht eines Lichtstrahles zeigt, der auf eine glatte Oberfläche eines mit Figuren versehenen Glases gerichtet ist; Fig. 8 eine schaubildliche Darstellung einer dritten Ausführungsform der Erfindung; Fig. 9 eine schaubildliche Darstellung einer Glasplatte, die fehlerhafte Stellen aufweist; Fig. 10a eine Ansicht von oben auf eine Glasplatte, die eine durchsichtige fehlerhafte Stelle aufweist; Fig. 10b einen Schnitt entlang der Linie A-A' in der Fig. 1X; Fig. 10c einen vertikalen Schnitt durch den in der Fig. 10a gezeigten Teil der Glasplatte; Fig. 11 eine Verteilungscharakterlstlk des Lichtes, das von einer nlchtdurchlässlgen Fehlerstelle in der Glasplatte gestreut ist; Fig. 12 eine Verteilungscharakteristlk des Lichtes, das von einer durchlässigen fehlerhaften Stelle in der Glasplatte gestreut ist; Fig. 13 die Beziehung zwischen dem Winkel 9 des einfallenden Lichtstrahles und der kurzen Achse der durchlässigen Fehlerstelle in der Fig. 12 und die Intensität des gestreuten Lichtes.The invention and advantages of the invention should be based on the enclosed Figures are explained in more detail. The figures show: FIG. 1A a diagrammatic representation an inventive arrangement of an optical system for showing defective Place; Fig. 1B is an enlarged perspective view of this arrangement; Fig. 2 the distribution characteristics of light passing through part of a transparent Plate has passed through which has no defects; 3 shows the distribution characteristic of the light that has passed through the part of the permeable plate which - has faulty spots; 4 shows a diagrammatic representation of the case, in which the invention for recording defective locations in an ordinary Glass plate serves; Fig. 5 is a diagrammatic representation of the case in which the Invention for recording defective locations in a figure provided Plate serves; 6 shows a diagrammatic representation of a further embodiment the invention; Fig. 7 is a diagrammatic representation showing the passed through and shows the reflected light of a beam of light emerging from one smooth surface of figured glass is directed; Fig. 8 a diagrammatic representation of a third embodiment of the invention; Fig. 9 a diagrammatic representation of a glass plate which has defective locations; Fig. 10a is a top view of a glass plate showing a clear defective Position has; Fig. 10b is a section along the line A-A 'in Fig. 1X; Fig. 10c shows a vertical section through the part of the glass plate shown in FIG. 10a; 11 shows a distribution characteristic of the light emitted by a non-transmissive Flaw is scattered in the glass plate; Fig. 12 shows a distribution characteristic of the light that is scattered by a permeable defective point in the glass plate is; Fig. 13 shows the relationship between the angle θ of the incident light beam and the short axis of the transmissive flaw in Fig. 12 and the intensity of the scattered light.

Fig. 14 zeigt ein optisches System, welches das in der Fig. 12 dargestellte Prinzip benützt und Fig. 15 eine Ansicht von oben, die die Beziehung zwischen der Lichtquelle und der zu untersuchenden Glasplatte mit einer fehlerhaften Stelle aufzeigt.FIG. 14 shows an optical system similar to that shown in FIG Principle used and 15 is a top view showing the relationship between the light source and the glass plate to be examined with a faulty one Point.

In der Fig. 1 ist ein optisches System zum Aufzeigen von verschiedenen Arten von fehlerhaften Stellen in einer durchlässigen Platte, das gemäß vorliegender Erfindung arbeitet, dargestellt. Eine Lichtquelle 1 ist beispielsweise unterhalb einer durchlässigen Platte 2, beispielsweise einer Glasplatte, angeordnet. Diese kann fortlaufend nach Art eines Bandes geformt sein oder sie -kann durch Ausschneiden aus einer großen Glasscheibe als Teilstück hergestellt sein. Das nach rückwärts aus der Lichtquelle 1 austretende Licht wird durch eine konkave versilberte Platte 9, die an der Rückseite der Lichtquelle angeordnet ist, fokussiert. Das Licht wird durch Linsen 3, 3' und 3" hindurchgeschickt, wobei es in parallele Lichtstrahlen 8 zerlegt wird. Ein Spalt 6 ist in den Gang der parallelen Strahlen 8 so angeordnet, daß ein LicLstra mit einem bestimmten Ein fallswinkel auf die Glasplatte 2 zuuftrifR. Ein wsentlicher Teil des Licht strahles dringt durch die Glasplatte 2 hindurch hindurch weist eine Richtung auf, die durch den Pfeil in der Zeichnung bezeichnet ist. Mit dem Bezugszeichen 7 ist ein Fotodetektor bezeichnet, der so angeordnet ist daß er den Teil des Lichtes, der von einer fehlerhaften Stelle 4 In der Glasplatte 2 gestreut worden ist, einfängt. Der Fotodetektor kann. hierzu eine Kondensorlinse 5 aufweisen und einen Fotowandler, beispielsweise eine Fotozelle, einen Fototransistor odjer einen Fotovervielfacher. Die Kondensorlinse ist vorzugsweive so angeordnet, daß sie das Bild, das im Schnittbereich des einfallenden Lichtes mit der Glasplatte 2 entsteht, auf die empfindliche Oberfläche des Fotoumwandlers fokussiert. Die Lichtstrahlen 8, welche von der Lichtquelle 1 ausgesendet werden, sind normalerweise auf etwa l - 10 mm im Durchmesser begrenzt. und auf die Glasplatte 2 gerichtet. Wenn es erwünscht ist, fehlerhafte Stellen in einer Glasplatte zu ermitteln, die in einer bestimmten Richtung bewegt wird, können die parallelen Lichtstrahlen 8 in bandförmiger Anordnung auf die Glasplatte 2 und senkrecht dazu gerichtet sein. Eine Anzahl von Fotodetektoren 7 können dann in gleichem Abstand voneinan-.In Fig. 1 is an optical system for showing various Types of Defects in a Permeable Plate, According to the Present Invention works, shown. A light source 1 is below, for example a permeable plate 2, for example a glass plate, is arranged. These can be continuously shaped like a ribbon or it can be cut out be made from a large sheet of glass as a piece. That backwards Light emerging from the light source 1 is passed through a concave silver-plated plate 9, which is arranged at the rear of the light source, focused. The light will sent through lenses 3, 3 'and 3 ", turning it into parallel rays of light 8 is disassembled. A gap 6 is arranged in the passage of the parallel rays 8 so that a LicLstra with a certain angle of incidence on the glass plate 2 zuuftrifR. An essential part of the light beam penetrates through the glass plate 2 has a direction indicated by the arrow in the drawing. With denoted at 7 is a photodetector which is arranged to be the part of the light that is scattered by a defective point 4 in the glass plate 2 has been captures. The photo detector can. have a condenser lens 5 for this purpose and a photo transducer, for example a photo cell, a photo transistor or a phototransistor a photo multiplier. The condenser lens is preferably arranged so that they the image that is in the intersection of the incident light with the glass plate 2 is created, focused on the sensitive surface of the photo converter. The rays of light 8, which are emitted from the light source 1, are normally at about Limited to l - 10 mm in diameter. and directed at the glass plate 2. If so desired is, faulty places in a glass plate to determine the is moved in a certain direction, the parallel light beams 8 be directed in a band-shaped arrangement on the glass plate 2 and perpendicular to it. A number of photodetectors 7 can then be equidistant from one another.

der senkrecht zur Richtung der Bewegung der Glasplatte angeordnet sein.which is arranged perpendicular to the direction of movement of the glass plate be.

Die Fig. 1B zeigt eine Anordnung, bei der eine Lichtquelle für bandförmiges Licht parallel zur Glasplatte angeordnet ist und bei der Linsen, Fotodetektoren und ein Spalt ebenfalls parallel zur Glasplatte entsprechend vorgesehen sind.Fig. 1B shows an arrangement in which a light source for ribbon-shaped Light is arranged parallel to the glass plate and in the case of lenses, photo detectors and a gap is also provided correspondingly parallel to the glass plate.

Die Fig. 2 zeigt ein Beispiel der Verteilung der Lichtmenge bzw. Lichtintensität des hindurchgetretenen Lichtes, die erhalten wird, wenn die Glasplatte keine fehlerhaften Stellen aufweist und in den Bereich des bandförmigen Lichtes kommt. Für den Fall, daß es sich um eine polierte Glasplatte handelt, ist der Bereich der Verteilung des hnsiurchgetretenen Lichtes sehr schmal und für den Fall, daß es sich um eine gewöhnliche Glasplatte handelt, ist der Bereich der Lichtverteilung etwas breiter, jedoch gleicht in beiden Fällen die Verteilungscharakteristlk der in der Fig. 2 mit "a'l ->ereichneten. Im Falle eines mit Figuren versehenen Glases ergibt sich eine Charakteristik, die der gleicht; die mit t'b't, tctt und "dlt in Abhängigkeit von den Mustern, die auf der Oberfläche vorgesehen sind, bezeichnet sind.Fig. 2 shows an example of the distribution of the amount of light or light intensity of the transmitted light obtained when the glass plate is not defective Has places and comes into the area of the band-shaped light. In the case, that it is a polished glass plate is the area of distribution of the light that has passed through is very narrow and in the event that it is a is an ordinary glass plate, the area of the light distribution is slightly wider, however, the distribution characteristics are the same as in FIG. 2 in both cases with "a'l -> reichneten. In the case of a glass with figures, the result is a characteristic that resembles that; those with t'b't, tctt and "dlt as a function are designated by the patterns provided on the surface.

Die Fig. 3 zeigt ein Beispiel der Verteilung der Lichtmenge bzw. der Licliintensität des hindurchgetretenen Lichtes, die erhalten wird, wenn die Glasplatte verschiedene Arten von fehlerhaften Stellen aufweist und sobald diese fehlerhaften Stellen durch den Bereich des bandförmigen Lichtes hindurchtreten. Im einzelnen zeigt die Fig. 3 die Licltintensltätsverteilungscharakteristik, die durch Verbindung der Punkte erhalten wird, die den gleichen oder einen bestimmten Wert der Lichtmenge bzw.Fig. 3 shows an example of the distribution of the amount of light or the Luminous intensity of the transmitted light that is obtained when the glass plate has different types of flaws and as soon as they are flawed Pass through the area of the band-shaped light. In detail Fig. 3 shows the light intensity distribution characteristic, the is obtained by connecting the points that are the same or a particular Value of the amount of light or

Licitintensität repräsentieren und zwar des Lichtes, das in alle Richtungen vom Schnittpunkt des einfallenden Licltstrahles und der Glasplatte während der Zeitdauer vom Eintritt der fehlerhaften Stelle der Platte in das Lichtband bis zu dem Zeitpunkt, an welchem die fehlerhafte Stelle das Lichtband verläßt, gestreut wird Die Fig. 3 zeigt außerdem die btensitätsverteilungscharakteristik des Lichtes, das in alle Richtungen während des Hindurchtrittes eines Musters einer mit Figuren versehenen Glasplatte, die eine Reihe von periodischen Muster aufweist, gestreut wird, in der gleichen Art wie Fig. 2. Ween beispielsweise eine gewöhnliche Glasplatte mit einem kleinen Oberflächenfehler geprüft wird, entspricht die Intens itätsvertellungsc harakter istik des hindurc hgetretenen Lichtes etwa der durch "X" bezeichneten. Weist die Glasplatte eine kleine Blase als fehlerhafte Stelle auf, dann entspricht die intensitätsverteilungscharakterlstik des hindurchgetretenen Lichtes etwa der durch "Y" bezeichneten. Wenn die Glasplatte eine relativ große fehlerhafte Stelle aufweist, beispielsweise eine verhä.ltnisrnäßlg große Blase oder kugelförmige Blase, dann ergibt sich Bn eine Intensitätsverteilungscharakteristik des hindurchgetretenen Lichtes, wie sie durch "Z" bezeichnet ist. Wenn die Glasplatte andererseits jedoch eine undurchlässige fehlerhafte Stelle aufweist, beispielsweise ein Teilchen eines lichtbrechenden Materials oder eines unlöslichen Materials oder einer entlasten Stelle oder eines Risses, ergibt sich eine Verteilung, wie sie durch "W" dargestellt ist.Licit intensity represent the light that goes in all directions from the point of intersection of the incident light beam and the glass plate during the period of time from the entry of the defective part of the plate into the light band to the point in time at which the faulty point leaves the light band, the Fig. 3 also shows the intensity distribution characteristics of the light entering all Directions during the passage of a pattern of a figured one Glass plate, which has a series of periodic patterns, is scattered in the same kind as Fig. 2. For example, ween an ordinary glass plate with a small surface defects are checked, the intensity distribution corresponds to the character of the light that has emerged from the hindrances, for example, that indicated by "X". If the glass plate has a small bubble as a faulty point, then corresponds the intensity distribution characteristics of the light that has passed through, for example denoted by "Y". When the glass plate has a relatively large flawed point has, for example, a relatively large bladder or spherical bladder, then Bn results in an intensity distribution characteristic of what has passed Light as indicated by "Z". On the other hand, if the glass plate has an impermeable defect, for example a particle of a refractive material or an insoluble material or a discharge Place or crack, there is a distribution as shown by "W" is.

Die Fig. 4 zeigt eine erfindungsgemäße Anordnung, bei der ein Fotodetektor 5 gerade noch außerhalb des Bereiches des Winkels ea angeordnet ist. Der Winkelbereich e a bezeichnet den Bereich der Verteilung des Lichtes, das durch den normalen Teil einer polierten Glasplatte hindurchgetreten ist.4 shows an arrangement according to the invention in which a photodetector 5 is just outside the area of the angle ea. The angular range e a denotes the area of distribution of light passing through the normal part a polished glass plate has passed through.

Wenn man den Fotodetektor 5 an einer derartigen Stelle anordnet, wird das gestreute Licht, das zu den Vertellungscharakteristiken "X", "Y", "Z" und "W" gehört, vom Fotodetektor 5 eingefangen. Hierdurch wird es ermöglicht, einen Detektor vorzusehen, der alle fehlerhaften Stellen erfaßt, die von einer schmalen Verteilung des gestreuten Lichtes bis zu einer breiten Verteilung des gestreuten Lichtes umfaßt werden.If one arranges the photodetector 5 in such a place, is the scattered light resulting in the distribution characteristics "X", "Y", "Z" and "W" heard, captured by the photo detector 5. This makes it possible to use a detector provide that captures all defective spots from a narrow distribution of the scattered light to a wide distribution of the scattered light will.

Die Fig. 5 zeigt eine weitere AusfUhrungsform vorliegender Erfindung, bei der ein Fotodetektor an der Stelle D so angeordnet ist, daß die fehlerhaften Stellen, die vom praktischen Gesichtspunkt aus unbedeutend sind, akzeptiert werden. Derartige Fehlerstellen sind beispielsweise kleine Oberfläc henunebenheiten, welche der Verte ilungsc harakter Ist 1k "X" entsprechen, oder kleine Blasen in der Platte, welche der Verteilungsclsrakteristik "Y" entsprechen. Es werden jedoch keine undurchlässigen fehlerhaften Stellen akzeptiert bzw. zugelassen, welche der Verteilungsc lurakteristik "W" entsprechen.Fig. 5 shows a further embodiment of the present invention, in which a photodetector is arranged at the point D so that the defective Passages that are insignificant from a practical point of view are accepted. Such flaws are, for example, small surface irregularities, which the distribution character is 1k "X", or small bubbles in the plate, which correspond to the distribution statistics "Y". However, it does not become impermeable faulty places accepted or approved, which of the distribution characteristics "W" correspond.

Eine derartige selektive Aufzeichnung und Erfassung von Fehlerstellen kann mittels des bekannten Verfahrens kaum erreicht werden. Das selektive Erfassen von fehlerhaften Stellen wurde zuerst durch vorliegende Erfindung ermöglicht, indem die Erkenntnis ausgenützt wurde, daß das von einer fehlerhaften Stelle gestreute Licht eine Verteilungscharakteristik aufweist, die geprägt ist von der Art der fehlerhaften Stelle.Such selective recording and detection of defects can hardly be achieved by means of the known method. The selective acquisition of flaws was first made possible by present invention by the knowledge was exploited that this was scattered from a faulty place Light has a distribution characteristic that is characterized by the type of defective Job.

Im zelle eines mit Figuren versehenen Glases bzw. eines zu einer Figur geformten Glases ergibt sich eine Verteilungscharakterlstlk des gestreuten Lichtes, die der durch "c" bezeichneten gleicht. Es ist dann nicht notwendig, Unebenheiten und kleine Blasen aufzuzeigen, da diesen keine Bedeutung zukommt, da sie durch das Muster im mit den Figuren verseinen Glas überdeckt werden. Wenn das Glas jedoch relativ große Blasen aufweist, kann ein Fotodetektor bei "c" angeordnet sein. Die Empfindlichkeit des Fotodetektors kann so eingestellt sein, daß er dann ein Fehler-Signal erzeugt, wenn eine große Blase bzw. fehlerhafte Stelle vorhanden ist. Es wird jedoch kein Signal erzeugt, wenn die Größe der fehlerhaften Stelle innerhalb der erlauben Grenze liegt.In the cell of a glass with figures or one for a figure formed glass results in a distribution character of the scattered light, which is the same as indicated by "c". It is then not necessary to bumps and to show small bubbles, as these are of no importance as they are caused by the Patterns are covered in the glass mixed with the figures. If the glass, however relatively large Has bubbles, a photodetector may be placed at "c" be. The sensitivity of the photodetector can be adjusted so that it then an error signal is generated when there is a large bubble or defect is. However, no signal is generated if the size of the defective point is within the allowable limit.

Die Fig. 6 zeigt eine weitere Ausführungsform der Erfindung, bei der ein gewöhnliches Glas durch h die Vertellungscharakteristik "a" des vom normalen Teil der Platte gestreuten Lichtes repräsentiert ist. In gleicher Weise sind die Verteilungschrakteristiken "X", "Y" "Z" oder "W" des vom anormalen Teil der zu untersuchenden Platte gestreuten Lichtes dargestellt. Die Fotodetekdoren A, B, C und D sind so angeordnet, daß sie die fehlerhaften Steilen, welche den Verteilungscharakterlstiken "X", "Y", "Z" und "W" entsprechend aufzeigen können. Diese F«odetektoren können so eingestellt sein, daß sie die Arten und den Grad der Falle ler der Platten insgesamt anzeigen können.Fig. 6 shows a further embodiment of the invention in which an ordinary glass by h the distribution characteristic "a" of the normal Part of the plate of scattered light is represented. In the same way are the Distribution characteristics "X", "Y", "Z" or "W" of the abnormal part of those to be examined Plate of scattered light shown. The photo detectors A, B, C and D are like this arranged that they the defective parts, which the distribution characteristics "X", "Y", "Z" and "W" can indicate accordingly. These detectors can be set to reflect the types and degrees of trap ler of the panels as a whole can display.

Ein Beispiel einer derartigen kollektiven Untersuchung besteht darin, daß die Maximalwerte der Ausgänge der Fotodetektoren A, B, C und D durch Verstärkermittel (nicht dargestellt) mit bestimmten Verstärkungsgraden entsprechend verstärkt werden U3Rd diese verstärkten Ausgänge miteinander addiert werden, so daß ein Endausgangssignal entsteht, das den Gesamtgrad der Fehlerhaftigkelt der Platte darstellt. Auch kann man dieses Endausgangssignal mit einem vorgespeicherten Signal, das.An example of such a collective investigation is that the maximum values of the outputs of the photodetectors A, B, C and D by amplifying means (not shown) are amplified accordingly with certain degrees of amplification U3Rd these amplified outputs are added together, so that a final output signal which represents the total degree of defectiveness of the plate. Also can this final output signal with a pre-stored signal that.

einen normalen Grad von Fehlerhaftigkeit repräsentiert, vergleichen.represents a normal level of defectiveness, compare.

Es können auch andere Mittel zur Verwertung der Ausgänge der Fotodetektoren A, B, C und D zur Anwerdung kommen.Other means of processing the outputs of the photodetectors can also be used A, B, C and D come into play.

Obgleich die vorstehende Beschreibung sich auf die Durcltührung der Erfindung bei Glas bezieht, kann die Erfindung in gleicher Weise bei anderen durchlässigen und halbdurchlässigen Körpern, beispielsweise Fllmen, Platten oder Kunstharzfilmen, zur Anwendung kommen.Although the above description refers to the implementation of the Invention relates to glass, the invention can be applied in the same way others permeable and semi-permeable bodies, for example films, plates or Synthetic resin films, are used.

Im vorstehenden wurde der Fall betrachtet, daß der einfallende Lichtstrahl die Form von parallelen Strahlen aufweist, jedoch kann auch ein konvergenter oder divergenter Lichtstrahl angewendet werden.In the above, the case was considered that the incident light beam has the form of parallel rays, but can also be a convergent or divergent light beam can be applied.

Bei der in der Fig. 1B dargestellten Anordnung wird die Glasplatte relativ zum feststehenden optischen System bewegt oder die Lichtquelle und die Fotodetektoren können beztiglich der stationär angeordneten Glasplatte bewegt werden.In the arrangement shown in FIG. 1B, the glass plate moved relative to the fixed optical system or the light source and the photodetectors can only be moved with the stationary glass plate.

Die Fig. 7 zeigt, daß die Intensitätsverteilungscharakteristlk des Lichtes, das von der Oberfläche der Platte reflektiert wird, in Abhängigkeit von der Art bzw. der Beschaffenheit der Oberfläche sich ändert.Fig. 7 shows that the intensity distribution characteristics of the Light that is reflected from the surface of the plate, depending on the type or texture of the surface changes.

Lein der Fig. 7 wird der Lichtstrahl auf eine mit Figuren versehene Glas platte, deren obere Oberfläche glatt ausgebildet ist, mittels einer Lichtquelle 11 durch eine Linse 13 und einen Spalt 16 gerichtet. Der Lichtstrahl ist mit "7 gezeichnet Der Lichtstrahl wird in das reflektierte Licht I1 und in einen vorwärts weiterdringenden Lichtstrahl 13 zerlegt.In FIG. 7, the light beam is directed onto a figure provided with figures Glass plate, the upper surface of which is smooth, by means of a light source 11 directed through a lens 13 and a slit 16. The light beam is marked with "7 The light beam is drawn into the reflected light I1 and into a forward further penetrating light beam 13 is broken down.

Der Lichtstrahl 13 erreicht die untere Oberfläche der Glasplatte, wobei er teilweise von der Platte absorbiert wird. Ein Teil des Lichtes 12 wird als hindurchtretendes Licht 5 emittiert und der andere Teil wird nach oben reflektiert, so daß sich ein zweites reflektiertes Licht 14 ergibt.The light beam 13 reaches the lower surface of the glass plate, whereby it is partially absorbed by the plate. Part of the light 12 becomes emitted as passing light 5 and the other part is reflected upwards, so that a second reflected light 14 results.

Auch entsteht hierbei ein zweites vorwärts dringendes Licht G. Das Licht wird auf diese Weise wiederholten Brechlngen und Reflektionen unterworfen. Es wurde gefunden, daß II eine spezifische Verteilungscharakteristik aufweist, die von der Besclaffenheit der Oberfläche der Glasplatte abhängt. Der Bereich der Verteilung von Ip ist normalerweise sehr schmal im Falle einer glatten Oberfläche und beim Fehlen von fehlerhaften Stellen. Wenn jedoch an der Reflektlonsstelle des einfallenden Lichtes 1o an der oberen Oberfläche des mit Figuren versehenen Glases 12 eine fehlerhafte Stelle 14 vorhanden ist, ist der Bereich der Verteilung des reflektierten Lichtes p breiter als der Verteilungsbereich des reflektierten Lichtes Ii, der aus dem normalen Teil der glatten Oberfläche der Platte resultiert. Die Verteilung ändert sich ebenfalls in AbhNngigkeit von der Art der fehlerhaften Stelle Auf diese Weise ist es möglich, ein Aufzeichnungssystem zu zeigen, das fehlerhafte Stellen in der Oberfläche aufzeigt. Dieses Aufzelchnungssystem hat ein hohes Signal-zu-Rausch-Verhältnis, da ein Fotodetektor an einer Stelle angeordnet werden kanne die außerhalb des Bereiches des vom normalen Teil der Oberfläche relektierten Lichtes angeordnet werden Vnn. Der Fotodetektor befindet sich jedoch Innerhalb des Bereiches des vom anormalen Teil der Oberfläche gestreuten bzw. reflektierten Lichtes.Here, too, a second light G that urges forward arises. That In this way, light is subjected to repeated refractions and reflections. It was found that II has a specific distribution characteristic that from the openness of the surface of the Glass plate depends. Of the The range of distribution of Ip is usually very narrow in the case of a smooth one Surface and in the absence of defective areas. If, however, at the reflection point of incident light 1o on the upper surface of the figured Glass 12 has a defective point 14, is the area of distribution of the reflected light p is wider than the distribution range of the reflected Light Ii resulting from the normal part of the smooth surface of the plate. The distribution also changes depending on the type of faulty In this way it is possible to show a recording system that has failed Points in the surface. This recording system has a high signal-to-noise ratio, since a photodetector can be placed in a location that is out of range of the light reflected from the normal part of the surface can be arranged Vnn. However, the photodetector is within the range of the abnormal Part of the surface of scattered or reflected light.

Die Fig. 8 zeigt ein Beispiel einer Anordnung zum Aufzeigen von fehlerhaften Stellen, bei dem ein Fehlerdetektor, der das reflektierte Licht wie in Fig. 7 ausnützt, in Verbindung mit einem Fehlerdetektor zur Anwendung kommt, der das hindurchgetretene Licht, wie es in Fig. 1A dargestellt ist, ausnützt. Eine Lichtquelle 11 und ein Fotodetektor 27 sind über einem mit Figuren versehenen Glas 22 angeordnet und bilden ein optisches System. Ein weiteres optisches System wird von einer zweiten Lichtquelle 21, Linsen 23, 23' und 2311 23" sowie einem Spalt 26, die an der entgegengesetzten Seite des Glases bezüglich der ersten Lichtquelle 11 angeordnet sind, gebildet.Fig. 8 shows an example of an arrangement for indicating defective Places in which an error detector which uses the reflected light as in Fig. 7, in conjunction with an error detector that detects the Light, as shown in Fig. 1A, utilizes. A light source 11 and a Photodetectors 27 are arranged over a figured glass 22 and form an optical system. Another optical system is powered by a second light source 21, lenses 23, 23 'and 2311 23 "as well as a gap 26, which at the opposite Side of the glass with respect to the first light source 11 are arranged.

In der Fig. 8 ist die Verteilungscharakteristlk des Lichtes der Lichtquelle 21, das durch den normalen Teil der Platte hindurchgedrungen und gestreut worden ist, mit "a" bezeichnet. Die Verteilungscharakteristiken des reflektierten Lichtes, das aus dem Lichtstrahl der Lichtquelle 11 herrührt und auf den normalen Teil der Platte gerichtet ist, werden durch ''bl It und "b2" bezeichnet . Der Grad von Unebenheiten auf der oberen Oberfläche des mit Figuren versehenen Glases 22 ist vernachlässigbar klein im Vergleich zu dem Unebenheitsgrad auf der unteren Oberfläche, in welche das Muster eingeformt ist. Das von der Lichtquelle 21 kommende, hindurchgetretene Licht wird durch eine fehlerhafte Stelle 14 in der Oberfläche nicht in dem Maße gestreut, daß diese Art von fehlerhaften Stellen 14 in der Oberfläche wirksam aufgezeigt wird.In Fig. 8, the distribution characteristic of the light from the light source is shown 21 which has penetrated and scattered through the normal part of the plate is denoted by "a". The distribution characteristics of the reflected light, which comes from the light beam of the light source 11 and on the normal part of the Plate facing are denoted by '' bl It and "b2". The degree of bumps on the top surface of the figured glass 22 is negligible small compared to the degree of unevenness on the lower surface into which the pattern is molded. That coming from the light source 21 and passed through Light is not produced to the same extent by a defective point 14 in the surface scattered that this type of defective points 14 effectively pointed out in the surface will.

Andererseits wird der einfallende Lichtstrahl 16 durch eine derartige fehlerhafte Stelle 14 in der Oberfläche so gestreut, daß eine Verteilungscharakteristik des Lichtes sich ergibt, wie sie durch "bl' tut angezeigt ist. Da die untere Oberfläche des mit Figuren versehenen Glases 22 eine gemusterte Oberfläche ist und die obere Oberfläche des Glases einen bedeutend höheren Grad von Glätte als die untere Oberfläche aufweist, ist der Bereich der Lichtverteilung von "b1" schmaler als der von "a".On the other hand, the incident light beam 16 is through such defective point 14 in the surface so scattered that a distribution characteristic of light arises as indicated by "bl 'tut. As the lower surface of figured glass 22 is a patterned surface and the upper one The surface of the glass has a significantly higher degree of smoothness than the lower surface , the range of light distribution of "b1" is narrower than that of "a".

Der Bereich der Lichtverteilung von "b2" ist so breit wie der von "a".The area of light distribution of "b2" is as wide as that of "a".

Wenn der Winkel e2, unter welchem die Lichtquelle angeordnet ist, beträchtlich kleiner ist als der Winkel e0, unter welchem die Lichtquelle 21 angeordnet ist, erfaßt der Fotodetektor niemals das Licht "bs " und "b2", das von der oberen Oberfläche der Platte, die keine fehlerhafte Stelle aufweist, reflektiert wird.If the angle e2 at which the light source is arranged, is considerably smaller than the angle e0 at which the light source 21 is arranged is, the photodetector never detects the light "bs" and "b2" emitted from the upper Surface of the plate, which has no defective point, is reflected.

Wie in den Fig. 9 und 10 dargestellt, enthält eine Glasplatte 31 durchsichtige, fehlerhafte Stellen 32 in Blasenform und undurchsichtige fehlerhafte Stellen 33, beispielsweise Bruchsteine. Die durchlässigen Blasen besitzen elliptische Form und haben eine lange und eine kurze Achse, wie es in der Fig. 10 dargestellt ist. Diese Form ergibt sich bei der Formung der Glasplatte, da in der Zugrichtung der Glasplatte eine Zugspannung angewendet wird. Diese Richtung ist in der Figur durch einen Pfeil angedeutet. Kleine durchlässige Blasen im Glaskörper sind aufgrund des bestimmungsgemäßen Gebrauchs zulässig, jedoch sind nichtdurchlässige fehlerhafte Stellen, wie beispielsweise Bruchsteine, unzulässig und müssen daher genau aufgezeigt werden.As shown in FIGS. 9 and 10, a glass plate 31 contains transparent, defective areas 32 in the form of bubbles and opaque defective areas 33, for example rubble stones. The permeable bubbles are elliptical in shape and have a long and a short axis, as shown in FIG. These Shape results from the shaping of the glass plate, since it is in the pulling direction of the glass plate tension is applied. This direction is indicated by an arrow in the figure indicated. Small permeable bubbles in the vitreous are due to the intended use Usage is permitted, but impermeable defective areas such as Quarry stones, not permitted and must therefore be pointed out precisely.

In Verbindung mit den Fig. 11 - 15 soll an einem Ausführungsbeispiel erläutert werden, wie dies erreicht werden kann. Wie sich herausgestellt hat, ändert sich die Intensitätsverteilungscharakteristik des hindurchgetretenen oder reflektierten Lichtes in Abhängigkeit vom Az imut bzw. der Einfallsrichtung des Lichtes auf die fehlerhafte Stelle. Wenn der Lichtstrahl auf eine undurchlässige fehlerhafte Stelle gerichtet ist, wird das Licht in alle Richtungen mit einer relativ gleichtörmigen Intensitätsverteilung gestreut.In connection with FIGS. 11-15, one embodiment example explain how this can be achieved. As it turns out, changes the intensity distribution characteristics of what has passed or reflected Light depending on the azimuth or the direction of incidence of the light on the faulty place. When the light beam hits an opaque faulty place is directed, the light is in all directions with a relatively uniform shape Scattered intensity distribution.

Die Fig. 11 zeigt ein Beispiel einer Verteilungscharakteristik des gestreuten Lichtes, wobei angenommen ist, daß im Nullpunkt der X-, Y-und Z -Koordinaten eine undurchlässige fehlerhafte Stelle 33 angeordnet ist. Ein Lichtstrahl 1 wird hierbei in der Z - X-Ebene auf die undurch.-lässige fehlerhafte Stelle 33 gerichtet. Wie aus der Figur zu erkennen ist, ergibt sich aus dem Lichtstrahl I nicht nur eine Intensitätsverteilung des gestreuten Lichtes, welche durch "A B C" in der Z-X-Ebene dargestellt, sondern auch eine lntensltätsverteilung des gestreuten Lichtes, welche durch "D B E" in der Y-Z-Ebene dargestellt ist. Das bedeutet, daß, wenn der Lichtstrahl I auf eine undurchlässige fehlerhafte Stelle mit einem beliebigen Azimut gerichtet wird, der Lichtstrahl in der Z-X-Ebene mit einer merklichen Intensität gestreut wird.Fig. 11 shows an example of a distribution characteristic of the scattered light, it being assumed that the X, Y and Z coordinates are in the zero point an impermeable defective point 33 is arranged. A light beam 1 becomes directed at the impermeable defective point 33 in the Z - X plane. As can be seen from the figure, the light beam I does not result in just one Intensity distribution of the scattered light, which is indicated by "A B C" in the Z-X plane shown, but also an intensity distribution of the scattered light, which is represented by "D B E" in the Y-Z plane. That means, that, when the light beam I hits an opaque defective point with any Azimuth is directed, the light beam in the Z-X plane with a noticeable intensity is scattered.

Die Fig. 12 zeigt ein Beispiel einer Verteilungscharakteristik des gestreuten Lichtes, das aus einer durchlässigen,elliptischen, blasenförmigen, fehlerhaften Stelle 32 resultiert. Diese fehlerhafte Stelle liegt im Nullpunkt der X-Y- und Z-Koordinaten, wobei die lange Achse in der Y-Koordinate und die kurze Achse in der X-Koordinate liegt. Ein Lichtstrahl list auf die durchsichtige elliptische fehlerhafte Stelle 32 gerichtet. Aus dem Lichtstrahl I ergibt sich eine Intensitätsverteilung des gestreuten Lichtes, die in der Z-X-Ebene durch "F G Ht' bezeichnet ist. Es ergibt sich jedoch keine merkliche Intensitätsverteilung des gestreuten Lichtes in den anderen Ebenen, außer, wie schon gesagt, in der Z-X-Ebene.Fig. 12 shows an example of a distribution characteristic of the scattered light emanating from a permeable, elliptical, bubble-shaped, faulty Digit 32 results. This faulty point is at the zero point of the X-Y and Z coordinates, where the long axis in the Y coordinate and the short axis in the X coordinate lies. A ray of light hits the translucent elliptical defect 32 directed. An intensity distribution of the scattered one results from the light beam I Light, which is designated in the Z-X plane by "F G Ht '. However, it results no noticeable intensity distribution of the scattered light in the other levels, except, as I said, in the Z-X plane.

Es sei ein zweites Koordinatensystem mit X' -, Y' - Urkl Z' -Koordinaten mgenommen, durch Verdrehen der X-, Y- und Z -Koordinaten um einen Winkel w um die Z-Achse entstanden ist. Wenn der einfallende Lichtstrahl in der X' - Z' -Ebene projiziert wird, ergibt sich eine maximale 1ntensitätsverteilun les gestreuten Lichtes in der Z-Y' -Ebene, welche durch "J K LIV bezeichnet ist und deren Bereich kleiner ist als der von "F G '. Die Beziehung zwischen dem Drehwinkel ç und der Intensität des gestreuten Lichtes in der X-Z-Ebene ist in Fig. 13 dargestellt. Wie aus der Fig. 13 ersichtlich ist, nimmt die Intensität des gestreuten Lichtes in der X-Z -Ebene für den Winkelwert T = O° ein Maximum an. Let it be a second coordinate system with X ', Y' - Urkl Z 'coordinates m taken by rotating the X, Y and Z coordinates by an angle w around the Z-axis was created. When the incident light beam projects in the X'-Z 'plane there is a maximum intensity distribution of scattered light in the Z-Y 'plane, which is denoted by "J K LIV and the area of which is smaller than that of 'F G'. The relationship between the angle of rotation ç and the intensity of the scattered light in the X-Z plane is shown in FIG. As shown in Fig. 13, the intensity of the scattered light increases in the X-Z plane for the angle value T = 0 ° a maximum.

Mit wachsendem Winkel ç nimmt der Intensitätswert ab und erreicht ein Minimum beim Winkelwert von w = 900.With increasing angle ç the intensity value decreases and reaches a minimum at the angle value of w = 900.

Wenn ein Fotodetektor so angeordnet ist, daß er das Licht, das in der Z-X-Ebene gestreut wurde, erfassen kann und der einfallende Lichtstrahl in einer geeigneten Ebene zwischen der X-Z-Ebene und der Y-Z-Ebene projiziert ist, ist es möglich, eine undurchlässige fehlerhafte Stelle von einer elliptischen durchsichtigen fehlerhaften Stelle zu unterscheiden. Es wird hierbei der Umstand ausgenützt, daß im Falle einer undurchlässigen fehlerhaften Stelle die Intensität des gestreuten Lichtes in der X-Z-Ebene im wesentlichen die gleiche ist wie die Intensität des Lichtes, das in die X' -Z-Ebene gestreut ist. Im Falle einer elliptischen undurchlässigen fehlerhaften Stelle ist die Intensität des Lichtes, das in die X-Z-Ebene gestreut ist, unterschiedlich zu der des Lichtes, das in die X' -Z-Ebene gestreut ist. When a photodetector is arranged to detect the light entering the Z-X plane was scattered, can capture and the incident light beam in one appropriate plane projected between the X-Z plane and the Y-Z plane is it possible to see-through an opaque flaw from an elliptical to distinguish faulty place. The fact that in the case of an impermeable faulty point, the intensity of the scattered Light in the X-Z plane is essentially the same as the intensity of the Light that is scattered in the X'-Z plane. In the case of an elliptical impermeable flawed spot is the intensity of the light that scatters into the X-Z plane is different from that of the light scattered in the X'-Z plane.

Durch Auswählen eines geeigneten Winkels 9 bezüglich der Beziehung zwischenWinkel ;p und der Intensität des gestreuten Lichtes ist es möglich, elliptische durchsichtige fehlerhafte Stellen, welche durch den bestimmungsgemäßen Gebrauch noch zulässig sind, von unzulässigen fehler -haften Stellen in der Glasplatte zu unterscheiden. By choosing an appropriate angle 9 with respect to the relationship between angle; p and the intensity of the scattered light it is possible to be elliptical transparent defective areas, which are caused by the intended use are still permissible from impermissible faulty areas in the glass plate differentiate.

Obgleich das im vorstehenden beschriebene Prinzip sowohl für hindurchtretendes Licht als auch für reflektiertes Licht verwendet werden kann, soll anhand der Figuren 14 und 15 eine Einrichtung beschrieben werden, die hindurchtretendes Licht verwendet. Bezugnehmend auf die Fig. 14 enthält das System beispielsweise eine stabförmige Lichtquelle 34, nicht dargestellte Linsen und einen nicht dargestellten Spalt, so daß parallele Lichtstrahlen erzeugt werden, welche alle parallel zur Linie 1-1' verlaufen. Es sei angemerkt, daß die Länge der Lichtquelle 34 gleich ist mit der Breite der Glasplatte, die untersucht werden soll, daß sie jedoch gegeneinander um einen Betrag "d", wie es in der Fig. 15 dargestellt ist, versetzt sind. Der bandförmige Lichtstrahl wird auf einen Teil des bewegten Glasbandes 31 gerichtet, der durch "m-m"' bezeichllet ist. Although the principle described above for both penetrating Light can be used as well as for reflected light, should be based on the figures 14 and 15, a device using transmitted light will be described. Referring to Fig. 14, for example, the system includes a rod-shaped one Light source 34, lenses (not shown) and a gap (not shown), see above that parallel rays of light are generated, which are all parallel to the line 1-1 ' get lost. It should be noted that the length of the light source 34 is the same as that Width of the glass plate that is to be examined, but that they are against each other by an amount "d" as shown in FIG is offset are. The ribbon-shaped light beam is directed onto a part of the moving glass ribbon 31 directed, which is designated by "m-m" '.

Fotodetektoren 35 sind ständig in einer senkrechten Richtung zur Bewegungsrichtung des Glasbandes aufgestellt und gehalten.Photodetectors 35 are always in a direction perpendicular to the direction of movement of the glass ribbon set up and held.

Es sei angenommen, daß das Glasband 31 eine elliptische durchsichtige fehlerhafte Stelle 32 aufweist, deren Längsachse in Richtung von m-m' liegt und daß der Winkel w von 0° bis 90° verändert wird. Wenn # = 0 dann ist die Intensität des Lichtes, welches vom Fotodetektor 35 eingefangen wird, sehr stark, obgleich die fehlerhafte Stelle lediglich eine sehr kleine Blase ist. Dies ergibt sich aus dem oben beschriebenen Prinzip. Wenn andererseits # = 90°, dann empfängt der Fotodetektor nur eine vernachlässigbar kleine Lichtmenge. Zwischen 0° und 900 des Winkels ç ändert sich die Intensität bzw. die Lichtmenge, die vom Fotodetektor 35 empfangen wird, mit Änderung des Winkelwertes cp . Wenn im Gegensatz dazu das Glasband eine undurchlässige fehlerhafte Stelle aufweist, ändert sich die Intensität oder die Lichtmenge, die vom Fotodetektor empfangen wird, nicht wesentlich bei Änderung des Winkels q: .It is assumed that the glass ribbon 31 is an elliptical transparent one has faulty location 32, the longitudinal axis of which lies in the direction of m-m 'and that the angle w is changed from 0 ° to 90 °. If # = 0 then the intensity of the light captured by the photodetector 35 is very strong, although the defect is just a very small bubble. This follows from the principle described above. On the other hand, if # = 90 °, then the photodetector receives only a negligibly small amount of light. Changes between 0 ° and 900 of the angle ç the intensity or the amount of light that is received by the photodetector 35, with change of the angle value cp. If, on the contrary, the glass ribbon is impermeable If there is a defective spot, the intensity or amount of light that is received by the photodetector, not significantly when changing the angle q:.

Durch Ändern des Winkels cp inner halb von zulässigen Grenzen, die für lichtdurchlässige fehlerhafte Stellen gesetzt sind, ist es möglich, zulässige fehlerhafte Stellen von unzulässigen undurchlässigen fehlerhaften Stellen zu untersc heiden.By changing the angle cp within permissible limits, the for translucent faulty spots are set, it is possible to allow permissible to subdivide defective areas from impermissible impermeable defective areas c heathen.

Falls es erwünscht ist, nur undurchlässige fehlerhafte Stellen aufzuzeigen ohne daß durchlässige fehlerhafte Stellen aufgezeigt werden, kann der Winkel # auf 90° festgesetzt werden.If it is desired to show only impermeable defective areas without showing any permeable flaws, the angle # can be 90 °.

Im vorstehenden wurde die Erfindung an plattenförmigen zu untersuchenden Körpern dargestellt. Die Erfindung kann jedoch auch bei anderen zu untersuchenden Körpern, beispielsweise bei Gefäßen, zur Anwendung kommen. Es sind alle Körper geeignet, bei denen der Fotodetektor so angeordnet werden kann, daß das von fehlerhaften Stellen gestreute Licht eingefangen werden kann.In the foregoing, the invention has been examined on plate-shaped Bodies represented. However, the invention can also be investigated with others Bodies, for example in vessels, for use come. There are all bodies suitable in which the photodetector can be arranged so that the light scattered by defective areas can be captured.

Claims (8)

Patentansprüche Claims 14 Verfahren zum Aufzeigen von fehlerhaften Stellen in einem durchlässigen oder halbdurchlässigen Körper, bei dem ein paralleler,konvergierender oder divergierender Lichtstrahl von einer Seite des Körpers her auf den Körper projiziert wird und das gestreute Licht, das aufgrund von Brechung und Reflektion von einem Fehler Im Körper hervorgerufen wird, erfaßt wird, dadurch gekennzeichnet, daß das durch fehlerhafte Stellen gestreute Licht außerhalb der Lichtzone, die durch einen fehlerfreien Teil des untersuchten Körpers hervorgerufen wird, jedoch innerhalb einer Zone, In welcher eine beträchtlich hohe Intensität des durch einen fehlerhaften Teil des Körpers hindurchgetretenen Lichtes vorhanden ist, erfaßt wird.14 Procedures for identifying flaws in a permeable or semi-permeable body in which a parallel, converging or diverging Beam of light is projected onto the body from one side of the body and that Scattered light that is due to refraction and reflection from a flaw in the body is caused, is detected, characterized in that the faulty Make scattered light outside the light zone caused by a defect-free part of the examined body is caused, but within a zone in which a considerably high intensity of being caused by a faulty part of the body light that has passed through is detected. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das durch fehlerhafte Stellen gestreute Licht außerhalb einer Lichtzone erfaßt wird, in welcher das durch Teile des Körpers mit zulässigen fehlerhaften Stellen hindurchgetretene Licht vorhanden ist, so daß nur unzulässige Fehlerstellen erfaßt werden.2. The method according to claim 1, characterized in that the by Defective spots scattered light is detected outside a light zone in which that which has passed through parts of the body with permissible defective places Light is present, so that only impermissible defects are detected. 3. Verfahren nac,. in;spruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mittels mehrfacher Erfassung des durch fehlerhafte Stellen gestreuten Lichtes verschiedene Intens itätsverteilungsc lurakterist iken, die aus versc hie -denen Arten von fehlerhaften Stellen resultieren, erfaßt werden, so daß sowohl der Grad der Fehlerhaftigkeit als auch die Art der fehlerhaften Stellen dahingehend ermittelt werden können, ob es sich um zulässige oder unzulässige fehlerhafte Stellen handelt.3. Procedure nac ,. in; claim 1, characterized in that by means of multiple detection of the light scattered by faulty points different Intensity distribution characteristics resulting from different types of defective Bodies result to be detected, so that both the degree of defectiveness as well as the type of faulty locations can be determined whether it concerns admissible or impermissible faulty places. 4. Verfahren nach Anspruch 1 bei einem Körper, der durchlässige Einschlüsse in Form von Blasen elliptischer Form mit einer langen und einer kurzen Achse sowie undurchlässigen fehlerhaften Stellen aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß der Lichtstrahl, der auf den zu untersuchenden Körper gerichtet wird, innerhalb eines bestimmten Winkelbereiches geändert wird, so daß die durchlässigen fehlerhaften Stellen mit einer geringeren Präzision erfaßt werden als die undurchlässigen fehlerhaften Stellen.4. The method of claim 1 in a body that is permeable Inclusions in the form of bubbles elliptical in shape with a long and a short axis as well has impermeable defective areas, characterized in that the light beam, which is aimed at the body to be examined, within a certain Angular range is changed, so that the permeable defective areas with can be detected with a lower precision than the impermeable defective areas. 5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß von entgegengesetzten Seiten her auf dem zu untersuchenden Körper Lichtstrahlen aufprojiziert werden, und daß sowohl das gestreute Licht, das vom Licht der einen Seite herrührt und durch den. zu untersuchenden Körper hindurchgetreten ist, als auch das Licht, das vom Licht der anderen Seite herrührt und vom zu untersuchenden Körper reflektiert wird, erfaßt wird, so daß nicht nur fehlerhafte Stellen innerhalb des Körpers, sondern auch solche auf der Oberfläche des zu untersüchenden Körpers mit hoher Präzision erfaßt werden.5. The method according to claim 1, characterized in that of opposite Light beams are projected from the sides on the body to be examined, and that both the scattered light that comes from the light on one side and passes through it the. body to be examined has passed through, as well as the light emitted by the Light comes from the other side and is reflected by the body to be examined, is detected, so that not only defective areas within the body, but even those on the surface of the body to be examined with high precision can be detected. 6. Vorrichtung zum Aufzeigen von fehlerhaften Stellen in einem durchlässigen oder halbdurchlässigen Körper mit Mitteln zum Projizieren eines rallelen,diver gierenden oder konvergierenden Lichtstrahles und Fotodetektoren zum Erfassen des durch Breclung oder Reflektion infolge von fehlerhaften Stellen gestreuten Licltes"tem Abstand seitlich vom zu untersuchenden Körper angeordnet sind,zur Durchführung eines Verfahrens nach Anspruch 1 dadurch gekennzeichnet, daß der bzw. die F otodetektoren außerhalb des Lichtbereiches, der durch einen fehler -freien Teil des zu untersuchenden Körpers hervorgerufen wird, jedoch innerhalb eines Bereiches, in welchem eine beträchtlich hohe Intensität des durch einen fehlerhaften Teil des Körpers hindurchgetretenen Lichtes vorhanden ist, angeordnet ist bzw. sind.6. Device for pointing out defective areas in a permeable or semi-permeable body with means for projecting a parallel, diverging one or converging light beam and photodetectors for detecting the Breclung or reflection due to light spacing scattered by faulty locations are arranged to the side of the body to be examined, for carrying out a method according to claim 1, characterized in that the photo detector or detectors outside the area of light that is caused by a fault-free part of the body to be examined is caused, but within a range in which a considerable high intensity of having passed through a defective part of the body Light is present, is or are arranged. 7. Vorrichtung nach Anspruch 6 zur Untersuchung eines Körpers, der durchlässige Einschlüsse in Form von Blasen elliptischer Form mit langen und kurzen Achsen sowie undurchlässigen fehlerhaften Stellen aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel zum Projizieren eines Lichtstrahles auf den zu untersuchenden Körper beweglich angeordnet sind, so daß der Azimut bzw. die Richtung des einfallenden Ltchtstrahles innerhalb eines bestimmten Winkelbereiches änderbar ist, so daß die durchsichtigen blasenförmigen fehlerhaften Stellen mit einer geringeren Präzision als die lichtundurchlässigen fehlerhaften Stellen aufzeigbar sind.7. The device according to claim 6 for examining a body which permeable inclusions in the form of bubbles elliptical in shape with long and short Has axes as well as impermeable faulty areas, characterized in that, that the means for projecting a beam of light onto the body to be examined are movably arranged so that the azimuth or the direction of the incident Ltchtstrahles is changeable within a certain angular range, so that the clear bubble-shaped defective areas with a lower precision than the opaque defective areas can be shown. 8. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß a.f einer Seite des zu untersuchenden Körpers im Abstand davon eine erste Lichtquelle und ein Fotodetektor zum Erfassen des reflektierten Lichtes angeordnet sind, wobei der Fotodetektor außerhalb des Bereiches des von dem fehlerfreien Teil der Oberfläche reflektierten Lichtes, jedoch innerhalb des Bereiches, in welchem das von dem mit fehlerhaften Stellen behafteten Teil der Oberfläche reflektierte Licht eine beträchtliche Intensität aufweist, angeordnet ist, daß eine weitere Lichtquelle an der bezüglich der ersten Lichtquelle entgegengesetzten Seite des zu untersuchenden Körpers angeordnet ist und daß das Licht, das von der ersten Lichtquelle ausgestrahlt und von dem zu untersuchenden Körper reflektiert wird und das Licht, das von der zweiten Lichtquelle kommt und durch den zu untersuchenden Körper hindurchtritt, vom Fotodetektor erfaßt werden, so daß nicht nur fehlerhafte Stellen inner halb des zu untersuchenden Körpers, sondern auch fehlerhafte Stellen auf seiner Oberfläche mit hoher Präzision erfaßt werden.8. Apparatus according to claim 6, characterized in that a.f one Side of the body to be examined at a distance therefrom a first light source and a photodetector for detecting the reflected light are arranged, wherein the Photodetector outside the range of the defect-free part of the surface reflected light, but within the range in which that of the with defective areas affected part of the surface reflected a considerable amount of light Has intensity, is arranged that a further light source on the relative the first light source opposite side of the body to be examined arranged is and that the light emitted by the first light source and from which to examining body is reflected and the light emitted by the second light source comes and passes through the body to be examined, detected by the photodetector so that not only defective areas within the body to be examined, but also detects flaws on its surface with high precision will.