DE2050386A1 - Verfahren und Vorrichtung zum nicht destruktiven Prüfen von Werkstoffen - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zum nicht destruktiven Prüfen von WerkstoffenInfo
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Description
DIPL-ING. ERICH SCHUBERT t.*™«^.,
Köln 106931, Essen 20362
70 112 Kü/Schm 15» Okt. 1970
2050389
United Kingdom Atomic Energy Authority
11, Charles II Street, London, S.W.I1 England
Pur diese Anmeldung wird die Priorität aus der britischen
Patentanmeldung Ur„ 50782/69 vom 15. Okt. 1970 beansprucht.
Verfahren und Vorrichtung zum nichtdestruktiven Prüfen von Werkstoffen
"Background" der Erfindung
Die Erfindung bezieht sich auf das nicht-destruktive
Prüfen von Werkstoffen bzw. Materialien.
Informationen über Defekte in Werkstoffen, die in der
Lage sind, elastische Wellen zu übertragen bzw. auszusenden, kann man durch Studium der Eigenschaften bzw. Charakteristiken
von elastischen Signalen erhalten, welche durch das Material reflektiert oder rückgestreut werden. Bei praktischen Anwendungsfällen
sind die verwendeten elastischen Signale allgemeine
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Ultraschallsignale, d.h. sie haben eine frequenz, die höher,
(gewöhnlich wesentlich höher) als die elastischen (Ton-)Signale liegt, welche man normalerweise hören kann.
Eine solche Technik "besteht darin, einen Ultraschallimpuls
in ein Material.-zu injizieren und einen Empfänger so anzu'ordnen,
daß er die zurückkehrenden Echos empfängt, deren Amplituden
und Zeiten jeweils eine Anzeige für die Größen und Stellen der Defekte liefern, von denen die Echos reflektiert werden.
Diese Technik ist jedoch nicht geeignet, eine Information
über die Art des Defektes zu geben. Beispielsweise kann ein
Defekt, der aus einem Einschluß besteht, entweder einen einzelnen Einschluß oder ein Bündel von dicht zusammenliegenden Einschlüssen
aufweisen. Bei bestimmten Anwendungsfällen ist es sehr erwünscht, wenn man beispielsweise zwischen einem Echo,
welches von einem einzelnen Einschluß herrührt, und einem Echo,
welches von einem Bündel von Einschlüssen herrührt, unterscheiden kann.
Das Echo aus einem Bündel von reflektierenden Punkten
ist die Vektorsumme einer großen Anzahl von zufälligen kleinen Yektoren. Die vorliegende Erfindung basiert darauf und berücksichtigt
die Folgeerscheinung, daß dann, wenn die Frequenz des ausgesendeten Signals verändert wird, sich auch die Amplitude
und Phase des resultierenden Echosignals weitgehend dann-ändern,
wenn die Reflexion von einem Bündel von reflektierenden Punkten ausgeht. Die Amplitude und Phase des Echosignals aus einem
einzelnen reflektierenden Punkt ändert sieh andererseits relativ
sanft mit der Veränderung der ausgesendeten Signalfrequenz.
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Durch die Erfindung wird ein Verfahren zum nicht-destruktiven
Prüfen eines Werkstoffs, welcher elastische Wellen zu übertragen bzw. auszusenden vermag, geschaffen, welches darin besteht, daß
in das Material bzw. den Werkstoff elastische, vorzugsweise Ultraschall-Signale injiziext werden, deren Frequenz man über
einen Bereich von Frequenzen streichen läßt bzw. wobbelt, und bei welchem die Signale analysiert werden, die aus dem Innern
des Materials bzw. Werkstoffs reflektiert oder gestreut werden,
um die Beziehung zwischen der Amplitude und/oder Phase der reflektierten
oder gestreuten Signale und der Frequenz der ausgesendeten Signale zu bestimmen.
Durch die Erfindung wird außerdem eine Vorrichtung zum nicht-destruktiven Prüfen eines Werkstoffs, welcher in der Lage
ist, elastische Wellen auszusenden bzw. zu übertragen, geschaffen, welche sich zusammensetzt aus einer Einrichtung zum Injizieren
von elastischen Wellen, vorzugsweise von Ultraschallsignalen, in das Material hinein, aus einer Einrichtung zum Ablenken bzw.
Kippen oder Wobbein der Frequenz der Signale über einen Bereich von Frequenzen, aus'einem Empfänger zum Empfangen der aus dem
Material reflektierten oder gestreuten Signale sowie aus einer Einrichtung, welche eine Anzeige, über die Beziehung zwischen
der Amplitude und/oder Phase der reflektierten oder gestreuten Signale und der Frequenz der ausgesendeten Signale liefert.
Vorzugsweise weist die Einrichtung zum Injizieren von Ultraschallsignalen in den Werkstoff einen Wandler auf, der
mit einem elektrischen Oszillator verbunden ist, welcher so gesteuert wird, daß er eine Aufeinanderfolge von Schwingungsstößen mit zwischenliegenden Ruheperioden liefert, während welchen
die reflektierten oder gestreuten Signale empfangen und analysiert werden.
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Bei dieser Anordnung wirkt die Einrichtung zum Überdeckungs-Ablenken
bzw. Wobbelri der Frequenz der Signale über einen Bereich von Frequenzen auf den Oszillator ein, wobei eine komplette
Frequenzänderungs-Überdeckung (Frequenzhub) über den Bereich hinweg während des Verlaufs öiner Vielzahl von aufeinanderfolgenden Schwingungsstößen erfolgt.
':■ '6
Vorzugsweise weist der Empfänger einen Wandler auf und
erzeugt einen elektrischen Signalausgang, welcher dem aus dem
Werkstoff empfangenen reflektierten oder rückgestreuten ^ignal
entsprichtj| und der Empfängerausgang wird durch eine Torschaltvorrichtung
hindurchgeschickt, welche nur denjenigen Teil des Ausganges weitergibt, der innerhalb einer vorbestimmten Zeitdauer
zu einem vorbestimmten Zeitpunkt nach jedem ausgesendeten Signalstoß empfangen wird. Auf diese Weise definiert die Torschaltvorrichtung
einen begrenzten Bereich innerhalb des Werkstoffs, aus welchem reflektierte oder gestreute Signale der
vorgenannten Einrichtung übermittelt werden^ die eine Anzeige über die Beziehung zwischen der Amplitude und/oder Phase der
reflektierten oder (rück)gestreuten Signale und der Frequenz der ausgesendeten Signale liefert.
Vorzugsweise wird der Signalausgang von der Torschaltvorrichtung
einer Integriervorrichtung eingespeist, deren Ausgang die integrierte Amplitude des Signals über die Torschaltperiode
hinweg ist, und der Signalausgang von der Integriervorrichtung · wird einer Proben- und Haltevorrichtung zugeführt, deren Ausgang
ein Gleichspannungspegel ist, welcher der integrierten Amplitude entspricht, wobei der Spannungspegel gehalten wird, bis der
nächstfolgende reflektierte oder gestreute Signalstoß durch die Torschaltvorrichtung.hindurchgelangt.
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Bei einer der Ausführungsformen der Erfindung wird ein
Blattschreiber angeschlossen, um die Änderung im Ausgang der Proben- und Haltevorrichtung mit der Änderung der frequenz
des Oszillatorausgangs aufzuzeichnen. Dies kann beispielsweise dadurch geschehen, daß das Blatt des Schreibers mit einer Geschwindigkeit angetrieben wird, welche durch die Einrichtung
zum Ablenken bzw. Kippen oder Wobbein der Frequenz des Oszillatorausgangs
gesteuert wird, und daß der Stift des Schreibers in Proportion zum Ausgang der Proben- und Haltevorrichtung bewegt
wird.
Die Erfindung wird nunmehr anhand der sie beispielsweise wiedergebenden Zeichnung ausführlicher beschrieben, und zwar
zeigt
!ig. 1 ein Blockschaltbild eines elektrischen Gerätes
der einen Ausführungsform,
Fig. 2 ein Blockschaltbild des elektrischen Gerätes einer weiteren Ausführungsform, die
Fign. 3 und 4 grafische Darstellungen zur Erleichterung
der Beschreibung der Betriebsweise des in Fig. 1 dargestellten Gerätes, während
Fig. 5 eine grafische Darstellung wiedergibt, welche die
Form des Ausgangs eines weiteren Gerätes veranschaulicht.
Bei dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 1 wird eine Ultraachallsonde
11, die akustisch mit einem zu prüfenden Gegenstand 12 gekoppelt ist, durch einen Oszillator 13 angetrieben, dessen
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Frequenz durch den Pegel einer an einer Leitung 14 angelegten
Spannung gesteuert wird. Ein Sägezahngenerator 15» welcher eine
linear ansteigende und abfallende Spannung von Sägezahn-Wellenform
erzeugt, veranlaßt somit das Ausgangssignal Ces Oszillators
13, über einen Bereich von Frequenzen hinweg zu streichen.
Ein Impulsgenerator 16 erzeugt eine Aufeinanderfolge von
Impulsen, die bei diesem Ausführungsbeispiel eine Dauer von
10 Mikrosekunden und einen Abstand von 1 Millisekunde voneinander
aufweisen. Der Ausgang des Impulsgenexators 16 wirkt auf den Oszillator 13 ein, um diesen zu sperren, außer für die Dauer
der 10-MikrοSekunden-Impulse.
Die Ausgangsimpulse des Impulsgenerators 16 werden außerdem
über eine Verzögerungsschaltung 17 einem Idneartor 18 zugeführt»
Der verzögerte Impuls Öffnet das Tor 18 für eine kurze Zeitdauer zu einem (durch entsprechende Wahl der Verzögerungszeit 17) ausgewählten
Zeitpunkt, um einen Integrator 19 das reflektierte oder rückgestreute Signal ,aus dem begrenzten. Bereich innerhalb
des Gegenstandes bzw. Prüflings 12 zuzuführen. Dieses reflektierte
Signal wird durch die Sonde. 11 übertragen bzw. umgewandelt, welche zu diesem Zeitpunkt als Empfänger wirksam ist, und durch
einen Verstärker 21 verstärkt.
Der Ausgang des Integrators gelangt nach, einer Proben-
und Haltevorrichtung 22» welche bei diesem Ausführungsbeispiel
den Stift eines Battsohreibers 32 antreibt.
Die Betriebsweise des Gerätes ist folgendet
Pig. 3 veranschaulicht in einer gr^tfischen Darstellung
der Sigalamplitude gQgtn die £@it einen AussendungsstsS 23
von 10 Mikrosekunden Dauer, welcher in den Gegenstand 12 von der
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Sonde 11 injiziert wird. Ein Echosignal von einem reflektierenden
Objekt ist bei 24 dargestellt. Die Zeitdauer, während welcher das Tor 18 geöffnet ist, wird schematisch durch die Pfeile
A und B angedeutet, so daß nur dieses Teilstück des reflektierten Signals zwischen den Punkten A und B dem Integrator 19 zugeführt
wird.
Durch den Integrator 19 wird das Signal gleichgerichtet
und integriert, so daß der Ausgang des Integrators 19 ein Signal
proportional der Fläche unter der oberen Hälfte der Wellenform
zwischen den Pfeilen A und B ist. Auf diese Weise ist dieses
Signal eine Anzeige für die Durchschnittsamplitude des reflektierten Signals über die Torschaltperiode hinweg. Das Signal
wird durch die Probe- und Haltevorrichtung 22 als Probe entnommen /sampled/ und gehalten, bis ein neuer Pegel aus dem
nächstfolgenden ausgesendeten Signalstoß und der darauffolgenden Reflexion abgeleitet wird.
Es sei darauf hingewiesen, daß die Anordnung der Pfeile A und B mit einem bestimmten bereich innerhalb des der Prüfung
unterworfenen Gegenstandes 12 übereinstimmt. Ein Signal, welches eine Anzeige für die reflektierte Amplitude aus diesem
Bereich ist, wird jedesmal abgetastet bzw. als Probe entnommen, wenn die Sonde 11 einen Signalstoß 23 aussendet.
Die Frequenz des ausgesendeten bzw. übertragenen Signals wird linear mit einer Zeitdauer von ein paar Sekunden abgelenkt,
d.h. so, daß eine große Anzahl von ausgesendeten Signalstößen innerhalb Jeder kompletten Frequenzablenkung bzw. jedes Frequenzhubs
erscheint. In dem Maße, wie sich die Frequenz ändert, ändert sich die Amplitude des aus dem der Prüfung unterworfenen.
Bereich reflektierten Signals. Wenn die Eeflexion auf ein Bündel
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von reflektierenden Punkten zurückzuführen ist, dann fluktuiert die Amplitude weitgehend mit der Änderung in der Frequenz, Stammt
die Reflexion von einer einzigen reflektierenden Stelle öder von
einem kohärenten reflektierenden Einschluß, so erfolgen die Änderungen der reflektierten Amplitude mit der Frequenz sanfter
und viel langsamer.
Dies ist. in I1Ig. 4 veranschaulicht, die den Typ von Änderung
der reflektierten Amplitude mit der Frequenz bei einer experimentellen Anordnung zeigt. Bei dem Experiment werden Reflexionen
von einer Stahlkugel in Wasser mit Reflexionen von einem kleinen Bündel Stahlwolle in Wasser verglichen. Die Kurven zeigen den
Ausgang der Proben- und Haltevorrichtung 22, aufgetragen gegen die Frequenz. Die Kurve C ist diejenige, welche durch Reflexionen
von der Stahlkugel erzeugt wird. Die Kurve D ist die durch Reflexionen
von der Stahlwolle erzeugte. Das Experiment demonstriert eindeutig, wie man durch diese Technik in die Lage versetzt wird,
die kohärente Reflexion fturch einen Einzelpunktreflektor von
der kohärenten Reflexion durch ein Bündel von reflektierenden Punkten zu unterscheiden. ■
Fig. 2 zeigt eine Abänderungsform des Gerätes zum Herausziehen
der in den reflektierten Signalen enthaltenen Information in einer anderen Weise. Ein Großteil des Gerätes ist mit der Anordnung
nach Fig. 1 identisch, und entsprechende Einzelteile wurden mit den gleichen Bezugszeichen versehen, wobei sie sich
durch den Zusatz "a" unterscheiden.
Bei der Anordnung nach Fig. 2 tastet ein zusätzliches
Lineartor 31, welches durch eine Verzögerungsschaltung 32 gesteuert wird, das empfangene Echosignal aus der Sonde.11a ab.
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Die Verzögerung 32 ist jedoch etwas länger als die Verzögerung 17a, so daß das Teilstück des Echosignals, welches dem Integrator
33 zugeführt wird, einem ^ereich des Werkstoffes 12a entspricht, der etwas weiter von der Sonde 11a wegliegt, aber
immer noch innerhall) der Grenzen der reflektierenden Gußblase oder des Sprunges oder Risses liegt. Der Bereich des durch
das Tor 31 durchgelassenen reflektierten Signals ist schematisch
durch die Pfeile E und 1 in !ig. 3 dargestellt.
Dieses Teilstück des Echosignals zwischen E und J1
wird in ähnlicher Weise verarbeitet wie das Teilstück zwischen
A und B. Das heißt, das Signal wird im Integrator 33 gleichgerichtet und integriert und der Proben- und Haltevorrichtung
zugeleitet.
Jedoch werden die Ausgänge der beiden Proben- und Haltevorrichtungen
22a und 34 dann verarbeitet, um eine Anzeige für den Grad der Korrelation zwischen den beiden Proben- und Haltevorrichtungsausgängen
vorzusehen, ^ies wird dadurch erreicht,
daß die Signale durch kapazitive Kopplung 35, 36 normalisiert und in einer Vervielfältigungsvorrichtung 37 vervielfältigt
werden und daß der Ausgang mit dem Integrator 38 integriert
wird.
Es versteht sich, daß, wenn die Teilstücke des Echosignals,
die jeweils durch die Tore 18a und 31 durchgelassen werden, von unterschiedlichen reflektierenden Punkten in einem Bündel von
Einschlüssen ihren Ursprung haben, dann nur eine geringe oder keine Korrelation !zwischen den Ausgängen der Proben- und Haltevorrichtungen
22a und 34 vorhanden sein wird. Die normalisierten
AusgangBsignale werden, wenn sie vervielfältigt und gemittelt
sind, einen Hull- oder nahezu Null-Ausgang ergeben.
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Gehen jedoch die Teilstüeke des Echosignals, welche jeweils
durch die Tore 18a und 31 durchgelassen werden, von einem einzigen reflektierenden Einschluß aus, data ist eine
Korrelation zwischen den Ausgangs signal en der Pichen*- und
Haltevorrichtungen 22a und 34 vorhanden. Me normalisierten
Ausgangssignale bilden, wenn sie vervielfältigt wenden, keinen
Mittelwert bei UuIl, und der Integrator 38 liefert einen
Ausgang·
Auf diese Weise gibt der Ausgang des Integrators 38 eine direkte Anzeige für die Art der reflektierenden fehlerstelle.
Bei dem mit Bezug auf die Fign. 1 und 2 beschriebenen Gerät wird die Amplitude der reflektierten Signale analysiert.
Es versteht sich, daß alternativ auch die Phase der reflektierten Signale, welche während der Torschaltperiode empfangen werden,
ermittelt werden kann. In diesem Falle werden die Signale, welche von einem einzigen Einschluß oder einem zusammenhängenden
Reflektor reflektiert werden, eine allmähliche Änderung in der Phase zeigen, die stetig mit steigender
Frequenz ansteigt. Die Signale, welche von einem Bündel von Einschlüssen, andererseits, reflektiert werden, zeigen dann eine
entsprechende allgemeine Änderung in der Phase, jedoch mit überlagerten, sich schnell ändernden unregelmäßigen Fluktuationen,
Dies ist in Fig. 5 dargestellt, die rein schematisch ist und
in welcher die Kurve G die allgemeine Form der Beziehung zwischen der Phase dee reflektierten Signals und der frequenz
des ausgesendeten Signals für einen einzigen Punktreflektor zeigt. Die Kurve H zeigt die entsprechende Beziehung für ein
Bündel von Punktreflektoren, welche dicht zusammen gruppiert sind.
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Während eine Analyse entweder der Phase oder der Amplitude
des reflektierten Signals die Möglichkeit bietet, eine Unterscheidung zwischen einzelnen Einschlüssen und Bündeln von
Einflüssen zu treffen, kann es für bestimmte Anwendungsgebiete erwünscht sein, sowohl die Phase als auch die Amplitude
der reflektierten Signale zu analysieren.
Bei der Auswahl des entsprechenden Bereiches von Frequenzen für den zu verwendeten Ultraschall beim Betrieb des
vorbeschriebenen Gerätes wird eine obere Grenze durch die Korngröße des der Prüfung unterworfenen Materials gesetzt. So
darf die Frequenz nicht so hoch sein, daß die Rückstreuung von den Körnern des Materials das Eindringen des Ultraschalls in das
Material begrenzt. Für Stähle und Messing liegt diese obere
Grenze im allgemeinen in der Größenordnung von 10 MHz.
Die untere Frequenzgrenze wird durch zwei Bedingungen gesetzt.
Erstens darf die Größe der individuellen Defekte nicht sehr viel kleiner sein als die Wellenlänge, denn ihre Rückstreuoder
Reflektierfähigkeit würde gering sein. Zweitens muß für die Energie der ausgesendeten Welle, um diese in einem schmalen
Band zu konzentrieren, eine annehmbare Anzahl von Zyklen im Impuls vorhanden sein, doch wenn der Impuls zu lang sein soll,
dann werden Reflexionen von der Rückwand der Probe vor dem Ende
des ausgesendeten Impulses empfangen. Diese Situation würde die Analyse äußerst schwierig gestalten.
In der Praxis bedeutet dies im allgemeinen eine untere
Grenze von 0,5 MHz. Ein weiterer Faktor, welcher die Verwendung
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von niedrigen Frequenzen begrenzt, ist die Verbreiterung des ,
Ultraschallstrahls durch Beugung.
. Es wird angenommen, daß ein Frequenzhub in der Größenordnung
von 2ÖjS der mittleren Frequenz geeignet ist, doch kann
ein Hub /eweep/ von einem Faktor "zwei" verwendet werden. Wie
in Fig. 4 angedeutet, betrug bei der experimentellen Anordnung
der Frequenzhub 4 MHz bis 7 MHz.
Die Dauer der Sohwingungsstoße, 10 Mikrosekunden bei den
vorangehenden Beispielen, wird so gewählt, daß die gewünschte
Tiefenauflösung sichergestellt wird, während sie ausreicht,
um eine Frequenz au definieren. Die Trennung der Stöße, eine Millisekunde bei den vorangehenden Ausführungsbeispielen,
wird so gewählt, daß genügend Zeit zwischen den Stößen vorfanden
ist, damit sich der Hachhall innerhalb des Materials verliert.
Die Sonde 11 oder 11a ist akustisch mit dein zu inspizierenden Material gekoppelt, beispielsweise durch ein G-ummipolater
oder mit einer Paste, wie beispielsweise derjenigen, welche unter dem eingetragenen Warenzeichen "Polycell" erhältlich ist.
Alternativ kann eine Wasserkupplung verwendet werden, und zwar unter Verwendung einer berieselten Sonde.
Die Erfindung ist nicht auf Einzelheiten der vorbeschriebenen Ausführungsbeispiele beschränkt. Beispielsweise
kann anstelle des langsamen Streichens bzw. Wobbeins der
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Frequenz über den Verlauf einer großen Anzahl von Schwingungsstößen hinweg ein einzelner gezirpter Impuls /chirped pulse/
bei einer abgeänderten Anordnung verwendet werden.
Die Erfindung betrifft auch Abänderungen der im beiliegenden
Patentanspruch 1 umrissenen Ausftihrungsform und bezieht sich vor allem auch auf sämtliche Erfindungsmerkmale,
die im einzelnen — oder in Kombination — in der gesamten
Beschreibung und Zeichnung offenbart sind.
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Claims (1)
- - 14 -PatentansprücheVerfahren zum nicht-destruktiven Prüfen eines Werkstoffs, der elastische Wellen su übertragen vermag, wobei in den Werkstoff bzw. das Material elastische Wellensignale injiziert werden, dadurch gekennzeichnet, daß die Frequenz der Signale (23) über einen Bereich von Frequenzen gewobbelt (15, 15a) wird und daß die Signale (24), welche aus dem Inneren des Werkstoffes (12; 12a) reflektiert oder rückgestreut werden, analysiert werden (in 21, 18, 19, 22; 21a, 18a, 19a, 22a, 31» 33» 34, 37» 38), um die Beziehung zwischen der Amplitude (Flg. 4) und/oder Phase (Fig. 5) der reflektierten oder rüokgestreuten Signale (24) und der Frequenz der ausgesendeten bzw. übertragenen Signale (23) zu bestimmen.2· Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die elastischen Signale (23t 24) Ultraschallsignale sind.3· Vorrichtung zum nicht-destruktiven Prüfen eines Materials bzw. Werkstoffes, der elastische Wellen zu übertragen vermag, wobei die Vorrichtung eine Einrichtung zum Injizieren elastischer Signale in den Werkstoff hinein aufweist, gekennzeichnet durch eine Einrichtung (15; 15a) zum Wobbein der Frequenz der Signale (23) über einen Bereich von Frequenzen hinweg, durch einen Smpfänger (11; 11a) zum Empfangen der Signale (24), welche aus dem Inneren des Werkstoffes (12; 12a) reflektiert oder rUokstreut werden, sowie durch «ine Einrichtung, welche eine Anzeige für die Beziehung zwischen der Amplitude (Fig. 4) und/oder der Phase (Fig. 5) der reflektierten oder rückge-■treuten Signale (24) und der Frequenz der ausgesendeten109817/U87bzw. übertragenen Signal· (23) liefert.4· Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die elastischen Signale (23t 24) Ultraschallsignale sind.5· Vorrichtung nach Anspruch 4t dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung (11; 11a) zu» Injizieren von Ultraschallsignalen in den Werkstoff einen Wandler aufweist, welcher mit einem elektrischen Oszillator (13; 13») verbunden ist, der so gesteuert wird, daß er eine Aufeinanderfolge von Schwingungsstößen mit zwischenliegenden Ruheperioden liefert, in denen die reflektierten oder rtickgestreuten Signale (24) empfangen und analysiert werden.6· Vorrichtung nach Anspruch 5» dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung (15j.15a) sum Wobbein der Frequenz der Signale (23) über einen Bereich von Frequenzen hinweg auf den Oszillator (13; 13a) einwirkt, wobei ein kompletter Frequenzhub über den Bereich hinweg während des Verlaufs einer Vielzahl von aufeinanderfolgenden Schwingungsstößen erscheint.7· Vorrichtung'nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Empfänger (11 ) einen Wandler aufweist und einen elektrischen Signalauegang (24) erzeugt, welcher dem empfangenen reflektierten oder rückgestreuten Signal aus dem Inneren dee Werkstoffe (12; 12a) entspricht, und daß der Empfängerausgang durch eine Torschaltvorrichtung (18; 18a, 31) hindurchgeschickt wird, welche nur dasjenige Teilstück des Ausgangs durchläßt, welches innerhalb einor vorbestimmten Zeitdauer zu einem vorbestimmten Zeitpunkt nach jedem ausgesendeten bzw. übertragenen Signalstoß (23) empfangen wird.109817/U67θ. Vorrichtung nach Anspruch 7> dadurch gekennzeichnet! daß der SignalauBgang von der Torschaltvorrichtung (18; 18a, 31) einer Intergriervorrichtung (19? 19a, 33) eingespeist wird, daß der Ausgang von dieser die integrierte Amplitude des Signale über die Torschaltperiode hinweg ist und daß der Signalausgang der Integriervorrichtung (19| 19a, 33) einer Proben- und Haltevorrichtung (22; 22a, 34) eingespeist wird, deren Ausgang ein Gleichspannungspegel ist, welcher der integrierten Amplitude entspricht, wobei der Spannungspegel gehalten wird, bis der nächstfolgende reflektierte oder rückgestreute Signalstoß (24) durch die Torsohaitvorriohtung (18; 18a, 31) hindurchgesohickt wird.109817/ U67η.Leerseite
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB5078269 | 1969-10-15 |
Publications (1)
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Family
ID=10457321
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| DE19702050386 Pending DE2050386A1 (de) | 1969-10-15 | 1970-10-14 | Verfahren und Vorrichtung zum nicht destruktiven Prüfen von Werkstoffen |
Country Status (3)
| Country | Link |
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| GB (1) | GB1332898A (de) |
| NL (1) | NL7015169A (de) |
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