DE202004006019U1 - Testvorrichtung für lichtemittierende Dioden - Google Patents
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Abstract
Testvorrichtung für lichtemittierende Dioden (1, 2), die auf einer Platine (3) in einem gewählten Muster angeordnet und an eine Spannung (8) gelegt sind, zur Ermittlung der funktionellen Beschaffenheit, insbesondere Helligkeit und Farbe der Dioden, dadurch gekennzeichnet, daß die Helligkeits- und Farbsignale jeder Leuchtdiode (1, 2) von wenigstens einer Videokamera (5) erfaßt und von dieser in einen PC eingespeist und programmmäßig dahingehend bearbeitet werden, dass an Hand der für jedes Diodensignal gemessenen bzw. erfaßten Pixelzahl die Funktionstüchtigkeit jeder Diode (1, 2) des gewählten Diodenmusters erkennbar ist.
Description
- Die Erfindung betrifft eine Testvorrichtung für lichtemittierende Dioden, die auf einer Platine in einem gewählten Muster angeordnet und an eine Spannung gelegt sind, zur Ermittlung der funktionellen Beschaffenheit, insbesondere Helligkeit und Farbe der Dioden.
- Die
EP 0 285 493 beschreibt bereits eine Vorrichtung zum optischen Testen einer Vielzahl von lichtemittierenden Dioden, die an einer sich im Test befindlichen Vorrichtung in einem vorbestimmten Muster angeordnet sind, wobei die Vorrichtung eine Halteeinrichtung aufweist zum Sichern einer Vielzahl von Prüfeinrichtungen in vorbestimmten Stellen, entsprechend dem vorbestimmten Muster, so daß jede der Prüfeinrichtungen eine der lichtemittierenden Dioden optisch testen kann. Jede der Prüfeinrichtungen weist eine lichtleitende Faser auf, die in einem Gehäuse angeordnet ist, und sie ist mit einer Detektoreinrichtung versehen, wobei die Faser ein erstes Ende zum Empfangen von Licht und ein zweites, mit der Detektoreinrichtung verbundenes Ende aufweist. Mehrere der Prüfeinrichtungen haben einen selektiv variablen Akzeptanzwinkel, wodurch das Sichtfeld jeder Prüfeinrichtung individuell eingestellt wird, um Licht von einer vorbestimmten lichtemittierenden Diode der Vielzahl vorhandener Dioden zu empfangen und um im wesentlichen Licht auszuschließen, das von anderen lichtemittierenden Dioden emittiert wird. - Die bekannte Vorrichtung ist so angepaßt, daß sie an eine automatische Testausrüstung angeschlossen werden kann, die so programmierbar ist, daß sie die optischen Funktionen der lichtemittierenden Dioden automatisch testet.
- Diese bekannte Vorrichtung ist durch die Tatsache, daß das Sichtfeld jeder Prüfeinrichtung individuell einstellbar ist und jede Prüfeinrichtung einen selektiv variablen Akzeptanzwinkel hat, kompliziert aufgebaut und dementsprechend kostspielig herzustellen und zu betreiben.
- Die Aufgabe der Erfindung besteht deshalb darin, eine Testvorrichtung für lichtemittierende Dioden zu entwickeln, die auf einfachere Weise auf einer Platine in einem gewählten Muster angeordnete Dioden im Hinblick auf Helligkeit und Farbe zu testen in der Lage ist.
- Zu diesem Zweck wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, daß die Helligkeits- und Farbsignale jeder Leuchtdiode von wenigstens einer Videokamera erfaßt und von dieser in einen PC eingespeist und programmmäßig dahingehend bearbeitet werden, daß anhand der für jedes Diodensignal gemessenen bzw. erfaßten Pixelzahl die Funktionstüchtigkeit dieser Diode des gebildeten Diodenmusters erkennbar ist.
- Die gemessene Pixelzahl gibt somit über Helligkeit und Farbe der jeweiligen Leuchtdiode Auskunft, wobei an sich beliebige Grenzwertpixelzahlen festgesetzt werden können, bis zu denen die beurteilte Diode als brauchbar eingestuft wird. Letzteres gilt auch für die gesamte Platine, auf der die Dioden in einem gewählten Muster angeordnet sind, wobei eine Masterplatine als Bemessungsgrundlage dient, die sich dadurch kennzeichnet, daß ein bestimmter Prozentsatz der Anzahl der auf dieser Platine angeordneten Dioden als funktionstüchtig gilt.
- Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
- Die Erfindung wird anhand der schematischen Darstellung in der Zeichnung beispielshalber näher erläutert, wobei
-
1 eine erfindungsgemäße Testvorrichtung mit Videokamera und zwei in einem Winkel zueinander angeordneten Lochplatten ist und -
2 eine der1 vergleichbare Testvorrichtung, die jedoch ohne Lochplatten und lichtleitende Fasern auskommt. - Bei den in den
1 und2 schematisch dargestellten Testvorrichtungen sind die lichtemittierenden Dioden1 ,2 auf einer Platine3 angeordnet, die eine Vielzahl solcher Dioden trägt, welche auf ihre Funktionstüchtigkeit im Hinblick auf ihre Helligkeit und Farbe geprüft werden sollen. - Hierzu wird bei der Vorrichtung von
1 das von den Dioden1 ,2 abgestrahlte Licht von lichtleitenden Fasern4 erfaßt und in das Objektiv10 einer Videokamera5 übertragen. Die Enden der lichtleitenden Fasern4 sind in Lochplatten6 ,7 angeordnet, die in Bezug aufeinander einen Winkel einschließen und beweglich sein können. Die Lochplatte6 ist unmittelbar über den Köpfen der Dioden1 ,2 angeordnet, so daß die Lichtleiterenden das von den Dioden ausgehende Licht erfassen. Die lichtleitenden Fasern oder Lichtleiter4 werden um etwa 90° in Richtung auf die hinter der zweiten Lochplatte7 angeordnete Videokamera geführt, wobei die Enden9 der Lichtleiter in einem relativ geringen Abstand vom Objektiv10 der Videokamera5 angeordnet sind. - Die Krümmung der Lichtleiter zwischen den Lochplatten
6 ,7 ist an sich beliebig und letztlich nur von der Lage der Lochplatten in Bezug aufeinander abhängig. - Bei der Ausführungsform der Testvorrichtung von
2 werden keine Lichtleiter und keine Lochplatten verwendet. Statt dessen ist die Videokamera5 mit ihrem Objektiv10 direkt über den lichtemittierenden Dioden1 ,2 angeordnet, so daß das von den Dioden abgestrahlte Licht von dem Objektiv erfaßt wird und mit Hilfe eines PC, der sowohl bei der Ausführungsform von1 als auch bei der von2 an die Videokamera5 angeschlossen, jedoch nicht dargestellt ist, hinsichtlich Helligkeit und Farbe der einzelnen Dioden programmmäßig dahingehend bearbeitet wird, daß anhand der für jedes Diodensignal gemessenen bzw. erfaßten Pixelzahl die Funktionstüchtigkeit jeder Diode des gewählten Diodenmusters erkennbar ist. - Somit ist die Videokamera
5 ein hinreichendes Mittel zur Unterscheidung der Dioden bezüglich ihrer Funktionstüchtigkeit bzw. ihrer wesentlichen Eigenschaften.
Claims (5)
- Testvorrichtung für lichtemittierende Dioden (
1 ,2 ), die auf einer Platine (3 ) in einem gewählten Muster angeordnet und an eine Spannung (8 ) gelegt sind, zur Ermittlung der funktionellen Beschaffenheit, insbesondere Helligkeit und Farbe der Dioden, dadurch gekennzeichnet, daß die Helligkeits- und Farbsignale jeder Leuchtdiode (1 ,2 ) von wenigstens einer Videokamera (5 ) erfaßt und von dieser in einen PC eingespeist und programmmäßig dahingehend bearbeitet werden, dass an Hand der für jedes Diodensignal gemessenen bzw. erfaßten Pixelzahl die Funktionstüchtigkeit jeder Diode (1 ,2 ) des gewählten Diodenmusters erkennbar ist. - Testvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Helligkeits- und Farbsignale der Leuchtdiode (
1 ,2 ) über lichtleitende Fasern (4 ) an die Videokamera (5 ) gelangen. - Testvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der aus lichtleitenden Fasern (
4 ) bestehende Lichtleiter für jede Diode oberhalb derselben durch eine Lochplatte (6 ) hindurchgeführt und in einer weiteren Lochplatte (7 ) vor der Videokamera (5 ) festgelegt ist, wobei der Lichtleiterverlauf jede gewünschte Krümmung haben kann, die im wesentlichen durch die Lage der beiden Lochplatten (6 ,7 ) in Bezug aufeinander bestimmt ist. - Testvorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Lochplatten (
6 ,7 ) in Bezug aufeinander beweglich angeordnet sind. - Testvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Objektiv (
10 ) der Videokamera (5 ) so bemessen ist, daß es die aus der vor dem Objektiv befindlichen Enden (9 ) der den einzelnen Dioden zugeordneten Lichtleiter (4 ) austretenden Lichtstrahlen erfaßt.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE200420006019 DE202004006019U1 (de) | 2004-04-16 | 2004-04-16 | Testvorrichtung für lichtemittierende Dioden |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE200420006019 DE202004006019U1 (de) | 2004-04-16 | 2004-04-16 | Testvorrichtung für lichtemittierende Dioden |
Publications (1)
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---|---|
DE202004006019U1 true DE202004006019U1 (de) | 2004-06-09 |
Family
ID=32520761
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE200420006019 Expired - Lifetime DE202004006019U1 (de) | 2004-04-16 | 2004-04-16 | Testvorrichtung für lichtemittierende Dioden |
Country Status (1)
Country | Link |
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DE (1) | DE202004006019U1 (de) |
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|
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|
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