DE19955986A1 - Verfahren zur Beobachtung von dünnen Benetzungsfilmen auf beliebigen Oberflächen und Vorrichtung zur Ausführung dieses Verfahrens - Google Patents
Verfahren zur Beobachtung von dünnen Benetzungsfilmen auf beliebigen Oberflächen und Vorrichtung zur Ausführung dieses VerfahrensInfo
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Abstract
Offenbart wird ein Verfahren zur direkten Beobachtung von Bentzungsfilmen auf festen Oberflächen mit einer optischen Vergrößerungsvorrichtung, wobei die Beobachtung des Benetzungsfilms ohne Einbauten im Strahlengang zwischen dem Film und der optischen Vergrößerungsvorrichtung durch eine auf ein Substrat aufgedrückte Gasblase erfolgt. Gegenstand der Erfindung ist außerdem eine Vorrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Beobachtung von dünnen Benetzungsfilmen auf beliebigen
Oberflächen und eine Vorrichtung zur Ausführung dieses Verfahrens.
Benetzungsfilme sind dünne Filme von Flüssigkeiten, die eine feste Oberfläche bedecken (benetzen). Ihre Dicke
wird von den sogenannten Grenzflächenkräften bestimmt, die sich hauptsächlich aus van-der-Waals- und
elektrostatischen Wechselwirkungen ergeben (DLVO-Theorie). Im Falle einer anziehenden Wechselwirkung
entsteht kein stabiler Benetzungsfilm, da der Film infolge o. g. Kräfte bei einer kritischen Dicke (hkrit) zerreißt.
Die Dicke und die Eigenschaften solcher Benetzungsfilme werden seit langem untersucht.
- 1. Die Benetzbarkeit einer gegebenen Oberfläche ist von allgemeinem technologischen Interesse (Waschmittel, Klebstoffe, Flotation etc.)
- 2. Die Messung des Oberflächenpotentials der festen Oberfläche (bei bekanntem Potential der Luft-Fluid- Grenzfläche) ist von grundsätzlicher wissenschaftlicher und technologischer Bedeutung.
Die Beobachtung der Kinetik eines Zerreißvorganges ist von Bedeutung für den Erfolg eines flotativen
Trennverfahrens, da damit die Induktionszeit der Blase-Teilchen-Wechselwirkung in der Flotation anhand eines
Modellsystems (Blase-Platte) studiert werden kann.
Bisher wurden die Eigenschaften von Benetzungsfilmen auf verschiedene Weisen bestimmt. Im Fall von zwei
Festkörper-Oberflächen wurden Dicke und Eigenschaften (insbesondere Zerreißdicke) von Benetzungsfilinen
mittels des sog. Surface-Force-Apparatus (Tabor and Winterton 1969, Proc. R. Soc. Lond. A312, 435-450) oder
mittels AFM (atomic force microscopy) bestimmt. Im Fall von symmetrischen Schaumfilmen (fluid-gas) konnte
deren Dicke mittels der sog. Scheludko-Zelle mikrointerferometrisch bestimmt werden. Um die Dicke von
unsymmetrischen Benetzungsfilmen (gas - flüssig - fest) zu ermitteln, wurde bisher die sog. Derjaguin-
Scheludko-Filmwaage herangezogen, bei der eine Gasblase in einer fluiden Phase auf ein festes Substrat
gedruckt wird. Die interferometrische Messung der Filmdicke war allerdings nur bei optisch transparenten
Substraten möglich. Um auch Filme auf optisch opaken Medien messen zu können, schlugen Derjaguin und
Kussakov 1939 eine Meßzelle vor (Acta Physicochimica URSS Vol. X No. 1, 25-44), bei der eine an einem Ring
aus Wachs fixierte Luftblase auf einer dünnen transparenten Platte gegen einen Festkörper gedrückt wurde. Die
Beobachtung des Benetzungsfilms erfolgte in diesem Falle mit einem Mikroskop durch die transparente Platte
hindurch. Allerdings wurden experimentelle Arbeiten mit dieser Zelle nicht veröffentlicht, und die praktische
Anwendbarkeit dieser Zelle ist fraglich.
Gegenüber diesem Stand der Technik zielt die vorliegende Erfindung auf eine Verbesserung in den folgenden
Eigenschaften ab:
- 1. Direkte Beobachtbarkeit des Benetzungsfilms
- 2. Verbesserte Beobachtungsschärfe
- 3. Keine Einschränkung bezgl. der optischen Eigenschaften des zu untersuchenden Substrates.
Erfindungsgemäß wird ein Verfahren zur direkten Beobachtung von Benetzungsfilmen auf festen Oberflächen
bereitgestellt, wobei die Beobachtung des Benetzungsfilms ohne Einbauten im Strahlengang zwischen dem Film
und der optischen Vergrößerungsvorrichtung durch eine auf ein Substrat aufgedrückte Gasblase erfolgt. Die
Beobachtung des Benetzungsfilms erlaubt erfindungsgemäß insbesondere die Messung der Dicke und/oder
Zerreißdicke dieses Films.
Das erfindungsgemäße Verfahren ist vorzugsweise dadurch gekennzeichnet, daß der Druck in der aufgedrückten
Blase regelbar ist. Besonders bevorzugt wird der Benetzungsfilm mit einem Mikroskop beobachtet.
Erfindungsgemäß wird weiterhin eine Vorrichtung zur Beobachtung, insbesondere zur Messung der Dicke
und/oder Zerreißdicke von Benetzungsfilmen auf festen Oberflächen durch direkte Beobachtung des Films ohne
Einbauten im Strahlengang zwischen dem Film und einer optischen Vergrößerungsvorrichtung zur Verfügung
gestellt, die nach einer bevorzugten Ausführungsform insbesondere dadurch gekennzeichnet ist, daß sie ein
Mikroskop mit einem gasdichten Aufsatz ist, der einen gasgefüllten Hohlraum umschließt,
- a) wobei der Innendruck im Aufsatz regelbar ist,
- b) wobei sich an dem Aufsatz eine Kapillare befindet, durch die durch Druckerhöhung im gasgefüllten Hohlraum eine Blase in einer Meßflüssigkeit gebildet werden kann,
- c) wobei die Kapillare so angeordnet und konstruiert ist, daß durch sie hindurch der zu untersuchende Benetzungsfilm mit dem Mikroskop beobachtet werden kann.
Fig. 1 zeigt einen Querschnitt durch ein Ausführungsbeispiel für die erfindungsgemäße Vorrichtung.
Die Vorrichtung besteht in einer beispielhaften, besonders bevorzugten Ausführung aus einem Aufsatz aus
Metall oder Kunststoff auf ein Mikroskopobjektiv (1) oder dessen Halterung (2). Neben gewöhnlichen optischen
Mikroskopen sind alle optischen Vergrößerungsvorrichtungen geeignet, in denen sich ein Benetzungsflm stabil
beobachten läßt. Der bevorzugte Mikroskop-Aufsatz wird z. B. mittels einer O-Ring-Dichtung (3) gasdicht
abgeschlossen. Ein Anschlußstutzen (4) ermöglicht den Anschluß einer externen Druckregelung. Durch
Anlegung eines geringen Überdrucks wird durch eine Glaskapillare (5) eine Gasblase auf eine von Flüssigkeit
(6) bedeckte Feststoffoberfläche (7) aufgedrückt. Es bildet sich zwischen der Gasblase und der Oberfläche des
Feststoffes ein dünner Flüssigkeitsfilm aus, der durch das Mikroskop mikrointerferometrisch vermessen werden
kann. Die Kapillare ist hierbei in einer speziellen Halterung (8) mit O-Ring-Dichtung auswechselbar angebracht,
um Kapillaren verschiedener Innendurchmesser einsetzen zu können, was wegen der Realisierbarkeit
verschiedener Kapillardrücke eine Erweiterung des nutzbaren Druckbereiches ermöglicht. Die Kapillare (5) ist
außerdem so gestaltet, daß der Lichtweg des Auflichtmikroskops nicht abgeschattet wird, was vorzugsweise
durch eine konische Ausfräsung der Innenbohrung bewerkstelligt wird. Die gesamte Vorrichtung ist
vorteilhafterweise in ihrer Länge justierbar, um einen von der Fokussierung des Mikroskops unabhängig
einstellbaren Kapillar-Substrat-Abstand zu gewährleisten. Diese Längenverstellung wird in dieser beispielhaften
Ausführung dadurch realisiert, daß die Vorrichtung aus zwei ineinander geschobenen Teilen (10, 11) besteht,
welche mit einem O-Ring (12) gasdicht abgedichtet sind, und die mittels eines Drehrings mit zwei gegenläufigen
Gewinden (13) gegeneinander verschoben werden können. Eine laterale Verstellmöglichkeit zum Zentrieren der
Vorrichtung kann z. B. mit den zwei um 90° versetzten Mikrometerschrauben (14) ermöglicht werden, die den
gesamten Mikroskopaufsatz verkippen. Zum Rückstellen dienen zwei Federstifte (15), die gegenüber den
Mikrometerschrauben angebracht sind.
Es versteht sich, daß der Grundgedanke dieser Erfindung, nämlich die direkte Beobachtung eines
Benetzungsfilms ohne Einbauten zwischen der optischen Vergrößerungsvorrichtung und dem Film, insbesondere
direkt durch die Kapillare hindurch, auch durch andere Mittel als die oben beschriebenen ebenso realisiert
werden kann. Die obige Beschreibung ist daher nur als beispielhafte und besonders preiswert realisierbare und
flexible Ausführungsform zu verstehen.
Claims (6)
1. Verfahren zur direkten Beobachtung von Benetzungsfilmen auf festen Oberflächen mit einer optischen
Vergrößerungsvorrichtung, wobei die Beobachtung des Benetzungsfilms ohne Einbauten im
Strahlengang zwischen dem Film und der optischen Vergrößerungsvorrichtung durch eine auf ein
Substrat aufgedrückte Gasblase erfolgt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Beobachtung des Benetzungsfilms die Messung der Dicke
und/oder Zerreißdicke dieses Films erlaubt.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Druck in der aufgedrückten Blase
regelbar ist.
4. Verfahren nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Vergrößerungsvorrichtung
ein Mikroskop ist.
5. Vorrichtung zur direkten Beobachtung von Benetzungsfilmen auf festen Oberflächen, umfassend eine
optische Vergrößerungsvorrichtung, Mittel zur Fixierung eines Benetzungsfilms und keine Einbauten
im Strahlengang zwischen dem Film und der optischen Vergrößerungsvorrichtung.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß sie ein Mikroskop mit einem gasdichten
Aufsatz ist, der einen gasgefüllten Hohlraum umschließt, wobei der Innendruck im Aufsatz regelbar ist,
sich an dem Aufsatz eine Kapillare befindet, durch die durch Druckerhöhung im gasgefüllten Hohlraum
eine Blase in einer Meßflüssigkeit gebildet werden kann und wobei die Kapillare so angeordnet und
konstruiert ist, daß durch sie hindurch der zu untersuchende Benetzungsfilm mit dem Mikroskop
beobachtet werden kann.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1999155986 DE19955986A1 (de) | 1999-11-20 | 1999-11-20 | Verfahren zur Beobachtung von dünnen Benetzungsfilmen auf beliebigen Oberflächen und Vorrichtung zur Ausführung dieses Verfahrens |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE1999155986 DE19955986A1 (de) | 1999-11-20 | 1999-11-20 | Verfahren zur Beobachtung von dünnen Benetzungsfilmen auf beliebigen Oberflächen und Vorrichtung zur Ausführung dieses Verfahrens |
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Publication Number | Publication Date |
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DE19955986A1 true DE19955986A1 (de) | 2001-05-31 |
Family
ID=7929812
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE1999155986 Withdrawn DE19955986A1 (de) | 1999-11-20 | 1999-11-20 | Verfahren zur Beobachtung von dünnen Benetzungsfilmen auf beliebigen Oberflächen und Vorrichtung zur Ausführung dieses Verfahrens |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19955986A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10356992A1 (de) * | 2003-12-03 | 2005-06-30 | Henkel Loctite Deutschland Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Dicke von dünnen Klebstoffschichten und Dichtungen |
DE10233696B4 (de) * | 2002-07-24 | 2006-11-30 | Sita Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Benetzungseigenschaften der Oberfläche eines Materials |
CN108895971A (zh) * | 2018-07-05 | 2018-11-27 | 北京科技大学 | 一种高精度控制薄液膜厚度形成装置及使用方法 |
-
1999
- 1999-11-20 DE DE1999155986 patent/DE19955986A1/de not_active Withdrawn
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CN108895971A (zh) * | 2018-07-05 | 2018-11-27 | 北京科技大学 | 一种高精度控制薄液膜厚度形成装置及使用方法 |
CN108895971B (zh) * | 2018-07-05 | 2024-01-23 | 北京科技大学 | 一种高精度控制薄液膜厚度形成装置及使用方法 |
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