DE19932870A1 - Vorrichtung zur optischen Partikel- und Partikelströmungsanalyse - Google Patents
Vorrichtung zur optischen Partikel- und PartikelströmungsanalyseInfo
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- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 95
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 15
- 238000005206 flow analysis Methods 0.000 title claims abstract description 7
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 23
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 5
- 238000011835 investigation Methods 0.000 claims description 3
- 229940000425 combination drug Drugs 0.000 claims 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims 1
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 abstract description 13
- 239000012530 fluid Substances 0.000 abstract description 8
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 abstract description 7
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 4
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 abstract description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 18
- 238000000339 bright-field microscopy Methods 0.000 description 5
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 3
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000012080 ambient air Substances 0.000 description 2
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 2
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 230000003760 hair shine Effects 0.000 description 2
- 238000000917 particle-image velocimetry Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 description 1
- 238000005054 agglomeration Methods 0.000 description 1
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000006735 deficit Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000012631 diagnostic technique Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000001093 holography Methods 0.000 description 1
- 238000004599 local-density approximation Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000003921 particle size analysis Methods 0.000 description 1
- 238000007415 particle size distribution analysis Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000000700 radioactive tracer Substances 0.000 description 1
- 238000001454 recorded image Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 238000004513 sizing Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur optischen berührungsfreien Partikel- und Partikelströmungsanalyse in einem transparenten Meßvolumen, das aus einem flüssigen oder gasförmigen Medium oder Vakuum bestehen könnte. DOLLAR A Aufgabe war es, eine Vorrichtung zu schaffen, mit der sowohl die Eigenschaften der Partikel als auch die Strömungseigenschaften dieser Partikel im fluiden oder gasförmigen Medium oder im Vakuum mit möglichst geringem apparativen Aufwand exakt sowie ohne die Einschränkungen der jeweils an sich bekannten Partikelmikroskopie und der an sich bekannten Abbildung von Partikelbewegungen durch stroboskopische Beleuchtung bestimmt werden können. DOLLAR A Erfindungsgemäß ist zur Beleuchtung des Mediums neben der bekannten Blitzlampe (8) zusätzlich ein hochfrequent modulierbarer Laser (9) vorgesehen, dessen von den Partikeln im Medium gestreutes Licht ebenfalls über das Mikroskop (3) auf die Kamera (5) abgebildet wird. Es wird eine universell anwendbare Vorrichtung geschaffen, die je nach Anwendungsfall die Bilder unter Beleuchtung der beiden Lichtquellen gemeinsam oder auch separat auswerten kann. Ein und dieselben Partikel können somit im Echtzeitbetrieb einerseits in ihrer Teilchencharakteristik als auch in ihren Bewegungs- oder Strömungseigenschaften im Medium untersucht werden, ohne das Medium zu beeinflussen oder gar Proben von diesem entnehmen zu müssen. DOLLAR A Die Vorrichtung ist sehr gut zur Meßüberwachung und Kontrolle der Partikel und der Partikelbewegung in der ...
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur optischen berührungsfreien
Partikel- und Partikelströmungsanalyse in einem transparenten Meßvolumen,
das aus einem flüssigen oder gasförmigen Medium oder Vakuum bestehen
könnte.
Es ist bekannt (z. B. Allen T.: Paticle Size Measurements, Chapman and Hall,
London, 4. Auflage oder C. Crowe et al.: In Multiphase Flows with Droplets
and Paticles, CRC Press LLC, 285-372, 1986 oder DE 297 07 013 U1), zur
Untersuchung von Partikeln in Medien Proben von diesen zu entnehmen und
durch mikroskopische Verfahren zu analysieren. Die Untersuchung von
entnommenen Proben lassen jedoch nur eine sehr eingeschränkte Aussage
über die Partikel im Originalmedium zu. Geschwindigkeitsmessungen strö
mender Partikel sind nicht möglich. Außerdem kann die Probenentnahme bei
empfindlichen Partikelstrukturen sogar zur Beeinträchtigung oder Zerstörung
des zu analysierenden Mediums oder der Probe führen.
Andere Verfahren (DE 197 26 518 A1) bringen das Meßinstrument selbst oder
Teile davon in das Meßvolumen, wodurch zwar die Probenentnahme entfällt,
jedoch eine mechanische Beeinflussung des Meßobjektes (Selektionseffekt
z. B. durch Beeinflussung der Partikelströmung oder Beschädigung bzw.
Zerstörung der Partikel durch das Meßinstrument) erfolgt, welche die
Messung verfälschen kann.
Bekannt sind auch Integralmethoden, Verfahren, die Aussagen über das
mittlere Teilchenensemble (z. B. winkelabhängige Messung von Licht nach
Intensität oder/und Polarisation, das von einem Partikelensemble gestreut
wird, Extinktions-, Reflexions- und Beugungsmessung (Swithenbank J. et al.:
A laser diagnostic technique for the measurement of droplet and particle size
distribution, Prog. in Astro. and Aero., AIAA, 1977, 421 oder Hirleman D. E.
et al. Response characteristics of laser diffraction particle size analyzers,
Optical sample volume and lense effects, Optical Engineering 23, 1984, 610
oder Weiners B. B.: Particle and droplet, sizing using Fraunhofer diffraction,
In modern Methods of Particle Size Analysis, Barth H. G. (ed.), Wiley J.,
New York, 1984, 135 oder Levasseur-Regourd A.-C. et al.: The CODAG
Light Scattering Experiment, Light Scattering Measurements by Dust
Particles and their aggregates, Adv. Space Res. 23 (7), 1271 oder
DE 197 18 875 C1 oder DE 40 25 789 A1). Mit diesen Methoden werden
allerdings Form, Abmessung, Anzahl und Ausrichtung nicht direkt sondern
nur gekoppelt bestimmbar, das heißt, die sichere Bestimmung der einen
Größe setzt eine gewisse Kenntnis der anderen voraus. Oft sind komplizierte
und von der sphärischen Form abweichende Teilchenformen nicht oder
zumindest nur bedingt bestimmbar, und dies gilt noch dazu nur dann, wenn
alle Partikel weitgehend übereinstimmende oder wenigstens ähnliche Eigen
schaften aufweisen. Die Strömungsgeschwindigkeit und -richtung eines
Einzelpartikels sowie die Stromlinien können nicht erfaßt werden.
Zur Partikelströmungsanalyse gibt es ebenfalls Integralverfahren. Ein Inte
gralverfahren ist die Kreuzkorrelationsmessung (Kipphan H., Bestimmung der
Transportkenngrößen bei Mehrphasenströmungen mit Hilfe von Korrelations
technik, Chem.-Ing.-Techn. 49, 1977, 695).
Außerdem werden auch die Laser-Doppler- und Phasen-Doppler-Anemome
trie oder Laser-Doppler-Velozimetrie angewendet (z. B. Umhauer H. et al.:
Particle size distribution analysis by scattered light measurements using an
optically defined measuring volume, J. Aerosol Sci. 14, 1983, 765 oder
Umhauer H. et al.: Pulse holography and phase-Doppler technique, A
comparison when applied to swirl pressure-jet atomizers, Particle and Particle
Systems Characterization 7, 1990, 226 oder Durst F.: Review-combined
measurements of particle velocities, size distributation and concentration, J. of
Fluids Eng. 104, 1982, 284 oder Tropea C.: Laser Doppler anemomentry,
Recent developments and future challenges, Meas. Sci. Tech. 6, 1995, 605
oder Bauckage K.: The phase-Doppler-difference-method, a new laser-
Doppler technique for simultaneous size an velocity measurements, Particle
and Particle Systems Characterization 5, 1988, 16-22, Grehen et al.:
Simultaneous measurements of velocities and size of particles in flows using
a combined system incorporating a top-hat beam technique. Appl. Opt. 25,
1986, 3527 oder DE 44 26 956 C2 oder DE 41 30 627 A1). Mit diesen
Verfahren sind jedoch keine Teilchenformen bestimmbar.
Es sind auch abbildende Verfahren bekannt (z. B. Van Dyke M.: An Album
of Fluid Motion, To Prabolic Press, Stanford CA, 1982 oder Longmire E. K.
et al.: Structure of a particle-laden round jet, J. Fluid Mech. 236, 1992, 217
oder Wen C. Y. et al.: Particle dispersion by vortex structures in plane mixing
layers, J. Fluids Engr. 114, 1992, 657 oder Huber N. et al.: Characterization of
cross-sectional particle concentration distribution in pneumatic convexing
systems, Powder Tech. 79, 1977, 695 oder Philip O. G. et al.: Development of
a high speed particle image velocimetry technique using fluorescent tracers to
study streams bubble collapse, Nuclear Eng. Design 149, 1994, 375 oder
Tokuhiro A. et al.: The effect of a single bubble on turbulence structure in
grid turbulence flow by combined shadow-image and PIV technique, Proc. of
the 8th Int. Sdymp. on Applications of Laser Techniques to Fluid Mechanics,
Lissabon, 1996). Diese Methoden bilden die in der Praxis z. B. mit Blitzlicht
beleuchtete Probe über ein Mikroskop auf eine Kamera ab. Die
Kameraaufnahmen werden hinsichtlich einer Ortsveränderung der Teilchen
ausgewertet. Durch die Beschränkung im Gesichtsfeld, in der Beleuchtungs
dauer, Blitzfrequenz und Bildauslesefrequenz ist die maximal nachweisbare
Partikelgeschwindigkeit eingeschränkt. Zum Nachweis hoher Partikelge
schwindigkeiten ist ein großes Gesichtsfeld erforderlich, das mit einer
Verminderung der räumlichen Auflösung einhergeht, so daß die Bestimmung
von Partikelgröße und Partikelform eingeschränkt wird. (Wurm G.: Experi
mentelle Untersuchungen zu Bewegung und Agglomerationsverhalten mikro
metergroßer Teilchen in protoplanetaren Scheiben, Dissertation an der
Friedrich-Schiller-Universität Jena, 1997). Zur Bestimmung von Partikel
bewegungen gibt es die Möglichkeit der Abbildung der Partikelbahnen unter
Verwendung einer stroboskopischen Beleuchtung (Poppe T.: Stoßexperi
mente zur Entstehung von Planetesimalen aus kleinen Festkörperteilchen,
Dissertation an der Friedrich-Schiller-Universität Jena, 1999). Hierbei wird
im angegebenen Beispiel das nach vorne gestreute Licht aufgenommen und
die Partikelbahn als unterbrochene Linie abgebildet. Eine Form- und Größen
bestimmung ist nicht direkt möglich.
Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zu Grunde, eine Vorrichtung zu
schaffen, mit der sowohl die Eigenschaften der Partikel als auch die
Strömungseigenschaften dieser Partikel im fluiden oder gasförmigen Medium
oder im Vakuum mit möglichst geringem apparativen Aufwand exakt sowie
ohne die Einschränkungen der jeweils an sich bekannten Partikelmikroskopie
und der an sich bekannten Abbildung von Partikelbewegungen durch strobo
skopische Beleuchtung bestimmt werden können.
Insbesondere sollen am selben Ort im Medium gleichzeitig die Partikel- und
ihre Strömungseigenschaften erfaßt werden können.
Erfindungsgemäß ist zur Beleuchtung des die zu untersuchenden Partikel
enthaltenden Mediums neben der an sich bekannten Blitzlampe zusätzlich
eine modulierbare Lichtquelle, vorzugsweise ein hochfrequent modulierbarer
Laser, vorgesehen, dessen von den Partikel im Medium gestreutes Licht zum
Zweck einer stroboskopischen Partikelströmungsanalyse ebenfalls über das
Mikroskop auf die Kamera abgebildet wird.
Auf diese Weise wird eine universell anwendbare Vorrichtung geschaffen, die
zwar je nach Anwendungsfall auch die Messung mit jeder Lichtquelle separat
ausführen kann, die aber insbesondere eine gemeinsame Aufnahme und
Auswertung von Messungen mit beiden Lichtquellen gleichzeitig, nacheinan
der oder abwechselnd ermöglicht, so daß ein und dieselben Partikel im
Echtzeitbetrieb einerseits in ihrer Partikelcharakteristik als auch in ihren
Strömungseigenschaften im Medium untersucht werden können, ohne das
Medium zu beeinflussen oder gar Proben von diesem entnehmen zu müssen.
Für die besagten Analysen müssen auch keine zwei unterschiedlichen
Meßaufbauten realisiert werden, sondern alle Meßaufgaben können grund
sätzlich mit den in Anspruch 1 genannten Mitteln der erfindungsgemäßen
Vorrichtung, d. h. mit denselben Bauteilen, erfüllt werden. In unterschiedli
chen Spektralbereichen ist das ins Mikroskop fallende Licht dabei entweder
mittels einer Farbkamera oder durch die Verwendung zweier Kameras und
eines farbempfindlichen Strahlteilers sofort unterscheidbar und kann separat
ausgewertet werden. Die Vorrichtung ist somit sehr gut zur Meßüberwachung
und Kontrolle von fluiden bzw. gasförmigen Medien oder Vakuum in ihrem
bestimmungsgemäßen Einsatz geeignet (beispielsweise in der Umgebungsluft
oder in Behältern und Rohren mit Gasen oder Flüssigkeiten sowie zur
Untersuchung von Strömungen mit Hilfe von Tracerpartikeln), wobei ein
Rechner zur Auswertung der Kameraaufnahmen sofort kritische Situationen
erkennen, bei Bedarf darauf reagieren und auch Langzeitbeobachtungen
durchführen kann.
Die Vorteile der bekannten Hellfeldmikroskopie durch Blitzlampenbeleuch
tung, die in der mittleren Bildhelligkeit die Gesamtdichte des durchstrahlten
Mediums enthält und daher neben einer lokalen Auflösung auch eine globale
Dichte widerspiegelt, werden beibehalten.
Insgesamt können mit der Erfindung gleichzeitig oder jeweils einzeln die
Form, die Struktur, die Größe, die Teilchendichte, die Stromlinien von
Partikeln, die Strömungsgeschwindigkeit sowie die Strömungsrichtung dieser
Partikel und die Strömungsgeschwindigkeit von Partikelensembles, noch dazu
im Echtzeitbetrieb, bestimmt werden. Dabei ermöglicht die kombinatorische
Anordnung der beiden Beleuchtungsmöglichkeiten u. a. auch, daß die Intensi
tät des von den Partikeln gestreuten Lichtes der zusätzlichen modulierten
Lichtquelle als eine weitere Aussage über die Partikeleigenschaften zusätzlich
zur Hellfeldmikroskopie mittels Blitzlampe herangezogen werden kann. Dies
ist insbesondere von Bedeutung, wenn die Partikel so klein sind, daß die Hell
feldmikroskopie ungeeignet ist, um Strukturen optisch aufzulösen.
In den Unteransprüchen sind weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der
Vorrichtung aufgeführt.
Die Erfindung soll nachstehend anhand eines in der Zeichnung dargestellten
Ausführungsbeispiels für einen möglichen konstruktiven Prinzipaufbau näher
erläutert werden.
In einem Raum 1 für den Gegenstand der Untersuchung zwischen einem
Gehäuse 2 und einem langreichweitigen Mikroskop 3 befinden sich die
Partikel, deren Eigenschaften und deren Bewegung von Interesse sind. Die
Partikel können zum Beispiel in der Umgebungsluft enthalten sein oder in
einem Behälter bzw. Rohr mit transparenten Wänden oder Fenstern, in dem
sich ein transparentes Medium (Gas, Flüssigkeit oder Vakuum) befindet.
Das Mikroskop 3, dessen Fokus 4 auf das Zentrum vom Raum 1 gerichtet ist,
bildet diesen Bereich des Mediums auf eine CCD-Kamera 5 ab, für welche
vorteilhaft eine Hochgeschwindigkeits-CCD-Kamera verwendet werden kann
und die mit einem Rechner 6 in Verbindung steht zur Auswertung,
Überwachung und Steuerung. An den Rechner 6 ist ein Monitor 7
angeschlossen, auf dem nicht nur die Programm-, Steuer- und Auswertedaten
des Rechners 6 visualisiert werden können, sondern auch das Bild der CCD-
Kamera 5 von dem zu untersuchenden Medium.
Die Partikel im Raum 1 werden von einer im Gehäuse 2 angeordneten
Blitzlampe 8 beleuchtet, deren Licht in das Mikroskop 3 fällt und auf dem
CCD-Chip der CCD-Kamera 5 abgebildet wird. Außerdem werden die
Partikel von einer modulierbaren Laserdiode 9 beleuchtet, deren Licht durch
Streuung an den Partikeln im Raum 1 ebenfalls in das Mikroskop 3 fällt. Um
die Bildaufnahmen der beiden Lichtquellen voneinander zu trennen, erfolgt
die Partikelbeleuchtung in unterschiedlichen Spektralbereichen, vorzugsweise
über an der Blitzlampe 8 und an der Laserdiode 9 angeordnete Spektralfilter,
so daß das Licht der beiden Lichtquellen auf separaten CCD-Chips der CCD-
(Farb-)Kamera 5 abgebildet wird (aus Übersichtsgründen nicht in der Zeich
nung dargestellt). Eine andere Möglichkeit wäre, das von den Lichtquellen
stammende Licht zur spektralgetrennten Aufnahme über einen spektral
empfindlichen Strahlteiler jeweils auf separate Kameras (ebenfalls nicht in
der Figur gezeigt) zu leiten.
Da die CCD-Kamera 5 eine räumliche Auflösung besitzt, wird die Partikel
bahn als unterbrochene Linie auf dem entsprechenden CCD-Chip abgebildet.
Dadurch, daß sowohl für die Hellfeldmikroskopie als auch für die strobosko
pische Partikelbahnabbildung das gleiche Mikroskop 5 verwendet wird, ist
gewährleistet, daß ein und dasselbe Volumen im Raum 1 mit beiden
Methoden analysiert wird und daß einer Partikelabbildung die entsprechende
Partikelbahnabbildung zugeordnet werden kann, mithin eine umfassende
Analyse eines Partikels und seines Bewegungszustands erfolgt.
Zur Beleuchtung ein und desselben Meßvolumens auf derselben optischen
Achse durch die beiden Lichtquellen (Blitzlampe 8 und Laserdiode 9) ist die
Verwendung einer Kombinationsoptik 10 vorgesehen. Diese kann beispiels
weise so funktionieren (aus Übersichtsgründen gleichfalls nicht in der
Zeichnung dargestellt), daß die Blitzlampe 8 durch ein zur optischen Achse
geneigtes Fenster leuchtet, in dessen Mitte (auf der optischen Achse) sich auf
der blitzlampenabgewandten Seite ein kleiner spiegelnder Fleck befindet. Der
spiegelnde Fleck ist so klein, daß er die Helligkeit der Blitzlampe nicht
wesentlich vermindert. Die Laserdiode 9 leuchtet auf diesen spiegelnden
Fleck, der maximal so groß sein soll, daß er den gesamten Laserstrahl in die
optische Achse reflektiert.
Um die Partikelbeleuchtung in der optischen Achse und im Fokus 4 des
Mikroskops 3 zu gewährleisten, sind das Gehäuse 2 und das Mikroskop 3
über eine biegesteife Verbindung 11 fest miteinander gekoppelt.
Bei der Messung steuert der Rechner 6 die aktiven Komponenten der
Meßeinrichtung, nämlich die Blitzlampe 8, die Laserdiode 9 und die CCD-
Kamera 5. Diese Steuerung erfolgt entweder infolge der Eingabebefehle des
Bedieners oder aufgrund einer Auswertung der Meßdaten, denen die
Steuerung automatisch angepaßt wird. Je nach Erfordernis werden so die
Blitzdauer, Blitzfrequenz und Helligkeit der Blitzlampe 8, die Auslese
frequenz und Belichtungsdauer der CCD-Kamera 5 sowie die Modulation und
Helligkeit der Laserdiode 9 geregelt. Die Modulation der Laserdiode 9 besteht
in ihrem periodischen an- und abschalten oder ihrer periodischen Helligkeits
änderung. Sie kann vorteilhafterweise so gewählt werden, daß nicht nur die
Bewegungsgeschwindigkeit erkennbar ist, wie es bei einer einfachen
Rechteck- oder Sinusmodulation der Fall wäre, sondern auch die
Bewegungsrichtung jedes einzelnen Partikels; hierzu wird eine Modulation
verwendet, welche die Beleuchtung kurz an, kurz ab-, lang an- und lang
abschaltet oder welche die Helligkeit in einer Sägezahnfunktion periodisch
steigert oder vermindert.
Der an den Rechner 6 angeschlossene Monitor 7 stellt dem Benutzer auf
Wunsch die aufgenommenen Bilder der Partikel und ihrer Bewegung direkt
dar. Durch geeignete Rechnerprogramme sind die Bilder archivierbar, und
kann es auch ermöglicht werden, die Bilder beispielsweise im Hinblick auf
Partikelgröße, -form, -ausrichtung, Geschwindigkeit, Bewegungsrichtung
statistisch auszuwerten. Ferner ist es möglich, durch eine Extinktionsmessung
bei der Hellfeldmikroskopie mit Blitzlampe Aussagen über die Partikeldichte
zu gewinnen. Darüber hinaus kann die Intensität des von den Partikeln
gestreuten Laserlichts als eine weitere Aussage über die Partikeleigenschaften
herangezogen werden. Dies ist insbesondere von Bedeutung, wenn die
Partikel so klein sind, daß die Hellfeldmikroskopie ungeeignet ist, um
Strukturen optisch aufzulösen.
1
Raum
2
Gehäuse
3
Mikroskop
4
Fokus
5
CCD-Kamera
6
Rechner
7
Monitor
8
Blitzlampe
9
Laserdiode
10
Kombinationsoptik
11
biegesteife Verbindung
Claims (16)
1. Vorrichtung zur optischen Partikel- und Partikelströmungsanalyse, bei der
zur Hellfeldmikroskopie eine Lichtquelle, vorzugsweise eine Blitzlampe, zur
Beleuchtung angeordnet deren Licht über ein Mikroskop auf eine Kamera
abgebildet wird, dadurch gekennzeichnet, daß eine zusätzliche modulierbare
Lichtquelle (9) zur Beleuchtung der Partikel vorgesehen ist, deren von den
Partikeln gestreutes Licht zum Zweck einer stroboskopischen Partikelströ
mungsanalyse ebenfalls über das Mikroskop (3) auf die Kamera (5) abgebil
det wird.
2. Vorrichtung gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als zusätz
liche Lichtquelle (9) ein hochfrequent modulierbarer Laser eingesetzt wird.
3. Vorrichtung gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die zusätz
liche Lichtquelle (9) zum Zweck einer Erkennung der Strömungsrichtung der
Partikel so moduliert ist, daß diese in wechselnden Intervallen ein- und
ausgeschaltet, beispielsweise kurz ein, kurz aus, lang ein, lang aus, oder in
ihrer Helligkeit verändert wird.
4. Vorrichtung gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß für die
Lichtquellen (8, 9) zur getrennten Bildaufnahme der beiden Lichtquel
len (8, 9) Filter mit unterschiedlichen Spektralbereichen vorgesehen sind.
5. Vorrichtung gemäß Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß zur Bildauf
nahme in den unterschiedlichen Spektralbereichen eine Farbkamera (5)
vorgesehen ist.
6. Vorrichtung gemäß Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß zur Bildauf
nahme in den unterschiedlichen Spektralbereichen ein farbempfindlicher
Strahlteiler und zwei Kameras vorgesehen sind.
7. Vorrichtung gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine Kombi
nationsoptik (10) vorgesehen ist, welche die Beleuchtung der Partikel in der
optischen Achse des Mikroskops (3) sowie in dessen Fokus (4) durch die zwei
Lichtquellen (8, 9) gestattet.
8. Vorrichtung gemäß Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Kombi
nationsoptik (10) aus einem zur optischen Achse geneigten Fenster für das
Licht der Lichtquelle (8) besteht, in dessen Mitte sich auf der blitzlampen
abgewandten Seite ein kleiner spiegelnder Fleck befindet, der das Licht der
zusätzlichen modulierbaren Lichtquelle (9) in die optische Achse reflektiert.
9. Vorrichtung gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Gewähr
leistung der durch die beiden Lichtquellen (8, 9) vorgesehenen Partikelbe
leuchtung in der optischen Achse und im Fokus (4) des Mikroskops (3) die
beiden Lichtquellen (8, 9) und das Mikroskop (3) mit der Kamera (5) über
eine biegesteife Verbindung (11) miteinander gekoppelt sind.
10. Vorrichtung gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur univer
sellen Untersuchung von Partikeln, insbesondere in größeren Meßvolumina,
ein langreichweitiges Mikroskop (3) Verwendung findet.
11. Vorrichtung gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Mittel
vorgesehen sind zur Ausblendung der direkten Strahlung der zusätzlichen
Lichtquelle aus der Kameraaufnahme.
12. Vorrichtung gemäß Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die
Mittel aus einem dunklen Fleck im Mittelpunkt des Eintrittsfensters vom
Mikroskop (3) bestehen.
13. Vorrichtung gemäß Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß Mittel
vorgesehen sind, die es gestatten, den dunklen Fleck möglichst klein zu halten
und somit die Messung möglichst wenig zu beeinträchtigen.
14. Vorrichtung gemäß Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel
aus zwei einstellbaren Optiken bestehen, die den Lichtstrahl zunächst diver
gieren und anschließend wieder konvergieren läßt, so daß gleichzeitig am
dunklen Fleck die Querschnittsfläche des Lichtstrahls als Beleuchtungsfläche
minimiert und im Fokus den Meßanforderungen angepaßt werden kann.
15. Vorrichtung gemäß Anspruch 1, gekennzeichnet durch einen Monitor (7)
zur Visualisierung der Kameraaufnahmen.
16. Vorrichtung gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein
Rechner (6) vorgesehen ist zur Steuerung der Beleuchtung, der Kamera
aufnahmen sowie der Bildauswertung der Kameraaufnahmen.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1999132870 DE19932870A1 (de) | 1999-07-09 | 1999-07-09 | Vorrichtung zur optischen Partikel- und Partikelströmungsanalyse |
PCT/EP2000/006320 WO2001004602A1 (de) | 1999-07-09 | 2000-07-05 | Vorrichtung zur optischen partikel- und partikelströmungsanalyse |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1999132870 DE19932870A1 (de) | 1999-07-09 | 1999-07-09 | Vorrichtung zur optischen Partikel- und Partikelströmungsanalyse |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19932870A1 true DE19932870A1 (de) | 2001-04-05 |
Family
ID=7914727
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1999132870 Withdrawn DE19932870A1 (de) | 1999-07-09 | 1999-07-09 | Vorrichtung zur optischen Partikel- und Partikelströmungsanalyse |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19932870A1 (de) |
WO (1) | WO2001004602A1 (de) |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
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WO2001004602A1 (de) | 2001-01-18 |
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