DE19906757B4 - Mikroskop - Google Patents

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Abstract

Mikroskop mit einer zur Fluoreszenzanregung geeigneten Lichtquelle (2), mit einer spektral selektiven Einrichtung zum Einkoppeln des Anregungslichts (3) in das Mikroskop und zum Ausblenden des am Objekt (10) gestreuten und/oder reflektierten Anregungslichts (9) aus dem Detektionsstrahlengang (12), dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei der spektral selektiven Einrichtung um ein einzelnes, passives Bauteil handelt, dass das Anregungslicht (3) unterschiedliche Wellenlängen umfasst, die aus unterschiedlichen Richtungen auf das Bauteil einfallen und von diesem koaxial zu einem Anregungslichtstrahl vereinigbar sind, und dass das Anregungslicht (3) durch das Bauteil aus dem Detektionsstrahlengang (9) ausblendbar ist.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Mikroskop mit einer zur Fluoreszenzanregung geeigneten Lichtquelle, mit einer spektral selektiven Einrichtung zum Einkoppeln des Anregungslichts in das Mikroskop und zum Ausblenden des am Objekt gestreuten und/oder reflektierten Anregungslichts aus dem Detektionsstrahlengang.
  • Sowohl bei der konventionellen wie auch bei der konfokalen Laser-Scanning-Mikroskopie werden in den Strahlengang einer für Fluoreszenzanregung geeigneten Lichtquelle Farbstrahlteiler mit einer ganz besonderen Transmissions- und Reflexionscharakteristik verwendet. Dabei handelt es sich ganz überwiegend um dichroitische Strahlteiler. Mit einem solchen Element wird die Fluoreszenzanregungswellenlänge λill1 (bzw. λill2 , λill3 ..., λilln bei der Verwendung von mehreren Lasern) in den Beleuchtungsstrahlengang reflektiert, um die Fluoreszenzverteilung im Objekt anzuregen und dann zusammen mit dem am Objekt gestreuten und reflektierten Anregungslicht den Strahlengang bis hin zum Farbstrahlteiler zu durchlaufen. Das Anregungslicht mit den Wellenlängen λill1 , λill2 , λill3 ,...., λilln wird am Farbstrahlteiler zurück in den Laser reflektiert, nämlich aus dem Detektionsstrahlengang heraus. Das Fluoreszenzlicht mit den Wellenlängen λfluo1 , λfluo2 , λfluo3 ,..., λfluon passiert den Farbstrahlteiler und wird – gegebenenfalls nach weiterer spektraler Aufteilung – detektiert.
  • Farbstrahlteiler sind üblicherweise durch ein Interferenzfilter realisiert und werden je nach den verwendeten Wellenlängen für die Anregung bzw. für die Detektion gezielt bedampft. An dieser Stelle sei angemerkt, dass gemäß voranstehender Beschreibung des Standes der Technik unter einem Dichroit ein Wellenlängen-separierbares Element verstanden wird, welches das Licht unterschiedlicher Wellenlänge aufgrund der Wellenlänge und nicht aufgrund der Polarisation trennt.
  • In der Praxis ist die Verwendung von Farbstrahlteilern zunächst einmal insoweit nachteilig, als es sich hierbei um in der Herstellung aufwendige und daher teure optische Bausteine handelt. Des Weiteren ist nachteilig, dass Farbstrahlteiler eine feste Wellenlängencharakteristik aufweisen und daher nicht mit beliebiger Flexibilität hinsichtlich der Wellenlänge des Anregungslichts verwendet werden können. Bei einem Wechsel der Wellenlänge des Anregungslichts müssen auch die Farbstrahlteiler ausgewechselt werden, so beispielsweise bei einer Anordnung mehrerer Farbstrahlteiler in einem Filterrad. Dies ist abermals aufwendig und daher teuer und erfordert im Übrigen eine ganz besondere Justage der einzelnen Farbstrahlteiler.
  • Die Verwendung eines Farbstrahlteilers bringt den weiteren Nachteil mit sich, dass durch Reflexion bedingte Lichtverluste auftreten, insbesondere Lichtverluste von Fluoreszenzlicht, welches gerade detektiert werden soll. Der spektrale Transmissions-/Reflexionsbereich ist bei Farbstrahlteilern recht breit (λill ± 20 nm) und keineswegs ideal „steil". Folglich lässt sich das Fluoreszenzlicht aus diesem spektralen Bereich nicht ideal detektieren.
  • Bei Verwendung von Farbstrahlteilern ist die Anzahl der gleichzeitig einkoppelbaren Laser begrenzt, nämlich beispielsweise auf die Anzahl der in einem Filterrad angeordneten und kombinierbaren Farbstrahlteiler. Üblicherweise werden maximal drei Laser in den Strahlengang eingekoppelt. Wie bereits zuvor ausgeführt, müssen sämtliche Farbstrahlteiler, also auch die in einem Filterrad angeordneten Farbstrahlteiler, exakt justiert werden, was einen ganz erheblichen Aufwand in der Handhabung mit sich bringt. Alternativ können geeignete Neutralstrahlteiler eingesetzt werden, die das Fluoreszenzlicht gemeinsam mit dem am Objekt gestreuten/reflektierten Anregungslicht effizient zum Detektor leiten. Die Verluste bei der Lasereinkopplung sind dabei jedoch erheblich.
  • Zur Dokumentation des Standes der Technik wird lediglich beispielhaft auf die DE 196 27 568 A1 verwiesen, die eine optische Anordnung zur konfokalen Mikroskopie zeigt. Dabei handelt es sich im Konkreten um eine Anordnung zur zeitgleichen konfokalen Beleuchtung einer Objektebene mit einer Vielzahl geeignet divergierender Leuchtpunkte sowie zugehörigen Abbildungsgliedern und einer Vielzahl von Pinholes zur konfokalen kontrastreichen Abbildung in einem Beobachtungsgerät, wobei es sich dabei um ein Mikroskop handeln kann. Die Einkopplung mehrerer Lichtquellen erfolgt dort über ein diffraktives Element. Mehrere optische Teilerelemente bzw. Farbstrahlteiler sind im Detektionsstrahlengang angeordnet, wodurch sich ein ganz erheblicher apparativer Aufwand ergibt.
  • Hinsichtlich der Verwendung aktiver optischer Elemente im Strahlengang eines Laser-Scanning-Mikroskops wird ergänzend auf die US 4,827,125 und die US 5,410,371 verwiesen, wobei diese Druckschriften die grundsätzliche Verwendung eines AOD (Acousto-Optical-Deflector) und eines AOTF (Acousto-Optical-Tunable-Filter) zeigen, und zwar stets mit dem Zweck, einen Strahl abzulenken oder abzuschwächen.
  • Aus der DE 195 10 102 C1 ist ein gattungsbildendes Mikroskop bekannt, bei dem im Beleuchtungsstrahlengang zwei identische Prismenspektrometer, zwei Streifenblenden sowie eine Selektionsblende angeordnet sind. Hierbei ist der monochromatischen Lichtquelle ein erste Streifenblende und ein erstes Prismenspektrometer nachgeordnet, wobei das erste Prismenspektrometer das aus der ersten Streifenblende austretende Anregungslicht spektral auffächert und in eine Zwischenbildebene fokussiert, in der die Selektionsblende angeordnet ist. Die Selektionsblende ist in der Zwischenbildebene beweglich angeordnet und kann einzelne Lichtkomponenten des spektral aufgefächerten Lichts passieren lassen oder reflektieren. Das zur Objektbeleucht dienende Licht kann sodann das zweiten Prismenspektro– meter passieren, das aufgefächerte Anregungslicht spektral zusammenführt und auf die zweite Streifenblende fokussiert. Die zweite Streifenblende wirkt sowohl als Anregungslicht- als auch als Detektionsstreifenblende für das konfokale Fluoreszenzmikroskop. Das Anregungslicht, das die zweite Streifenblende passieren kann, wird über einen Scanspiegel zum Objekt geleitet, das hierdurch zur Fluoreszenz angeregt werden kann.
  • Das zu detektierende Fluoreszenzlicht durchläuft den optischen Strahlengang in umgekehrter Richtung, bis es die zweite Streifenblende erreicht. Lediglich Licht aus der Fokalebene des Mikroskopobjektivs kann die zweite Streifenblende passieren. Das zweite Prismenspektrometer fächert das Fluoreszenzlicht spektral auf und fokussiert das aufgefächerte Fluoreszenzlicht auf die in der Zwischenbildebene angeordnete Selektionsblende. Das am Objekt gestreute bzw. reflektierte Licht wird in gleicher Weise wie das Anregungslicht von dem zweiten Prismenspektrometer spektral aufgefächert und ebenfalls auf die Selektionsblende fokussiert. Aufgrund der Umkehrbarkeit des Lichtwegs wird das am Objekt reflektierte bzw. gestreute Anregungslicht von der Selektionsblende in Richtung der Lichtquelle geleitet. Das Fluoreszenzlicht hingegen wird in Richtung des Detektors geleitet. Das spektral aufgefächerte Fluoreszenzlicht wird von einem dritten, der Selektionsblende nachgeordneten Prismenspektrometer zusammengeführt und auf den Detektor fokussiert.
  • Durch die Verschiebung der Selektionsblende kann Fluoreszenzlicht einer gewünschten Fluoreszenzwellenlänge dem Detektor zugeleitet werden, wodurch in vorteilhafter Weise mit ein und denselben Komponenten dieses optischen Strahlengangs Licht unterschiedlicher Wellenlängenbereiche detektiert werden kann. Zur Fluoreszenzanregung des Objekts können auch mehrere monochromatische Lichtquellen dienen, so dass das aus dieser Entgegenhaltung bekannte konfokale Fluoreszenzmikroskop. mit Anregungslicht mehrerer Anregungswellenlängen betrieben werden kann.
  • Das aus der DE 195 10 102 C1 bekannte konfokale Fluoreszenzmikroskop ist jedoch in der Praxis problematisch. So müssen die beiden Streifenblenden sowie die Selektionsblende exakt aufeinander justiert sein. Auch die drei Prismenspektrometer nebst dazugehöriger Anpassungsoptik müssen exakt zueinander positioniert und kalibriert sein. Schließlich erfordert ein stabiler Langzeitbetrieb aufgrund der Vielzahl der rotwendigen optischen Komponenten einen ganz erheblichen apperativen Aufwand.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, ein gattungsbildendes Mikroskop derart auszugestalten und weiterzubilden, dass die bislang auftretenden Justierprobleme vermindert sind.
  • Das erfindungsgemäße Mikroskop löst die voranstehende Aufgabe sowohl durch die Merkmale des Patentanspruchs 1 als auch durch die Merkmale des Patentanspruchs 2. Danach ist das gattungsbildende Mikroskop gemäß Patentanspruch 1 dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei der spektral selektiven Einrichtung um ein einzelnes, passives Bauteil handelt, dass das Anregungslicht unterschiedliche Wellenlängen umfasst, die aus unterschiedlichen Richtungen auf das Bauteil einfallen und von diesem koaxial zu einem Anregungslichtstrahl vereinigbar sind, und dass das Anregungslicht durch das Bauteil aus dem Detektionsstrahlengang ausblendbar ist.
  • Gemäß Patentanspruch 2 ist das erfindungsgemäße Mikroskop dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei der spektral selektiven Einrichtung um ein einzelnes, aktives Bauteil handelt, welches auf die aus dem Detektionsstrahlengang auszublen dende Anregungswellenlänge einstellbar ist.
  • Das Wesen der Erfindung liegt in der Ausbildung der spektral selektiven Einrichtung als einzelnes Bauteil, das in seiner Ausbildung als passives Bauteil Anregungslicht unterschiedlicher Wellenlängen koaxial vereinigt und das Anregungslicht aus dem Detektionsstrahlengang das in seiner Ausbildung als aktives Bauteil zwecks aus dem Detektionsstrahlengang auszublendenen (monochromatischen) Anregungslichts auf die Anregungswellenlänge einstellbar ist.
  • Erfindungsgemäß ist erkannt worden, dass man im Strahlengang einer zur Fluoreszenzanregung geeigneten Lichtquelle, insbesondere im Strahlengang eines konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops, den dort bislang verwendeten Farbstrahlteiler durch ein ganz besonderes spektral selektives Element ersetzen kann, nämlich durch ein spektral selektives Element, welches geeignet ist, Anregungslicht unterschiedlicher Wellenlängen auszublenden oder einzublenden bzw. einzukoppeln. Dieses spektral selektive Element dient einerseits zum Einkoppeln des Anregungslichts mindestens einer Lichtquelle in das Mikroskop und andererseits zum Ausblenden des am Objekt gestreuten und reflektierten Anregungslichts bzw. der entsprechenden Anregungswellenlänge aus dem über den Detektionsstrahlengang vom Objekt kommenden Licht. Insoweit kommt dem spektral selektiven Element eine Doppelfunktion zu, wobei beide Funktionen quasi zwangsgekoppelt sind.
  • Alternativ zu der Fähigkeit des spektral selektiven Elements, Anregungslicht unterschiedlicher Wellenlängen ausblenden zu können, ist das spektral selektive Element auf die jeweils einzublendende oder auszublendende Anregungswellenlänge einstellbar ist. Auch insoweit ist aufgrund der voranstehend geschilderten Doppelfunktion eine Zwangskopplung auf einfache Weise gewährleistet, nämlich dadurch, dass mit Hilfe des spektral selektiven Elements das Anregungslicht in den Beleuchtungsstrahlengang einkoppelbar und dass exakt die Wellenlänge des Anregungslichts, nämlich die Anregungswellenlänge, aufgrund der hier vorgesehenen Einstellbarkeit aus dem über den Detektionsstrahlengang vom Objekt kommenden Licht ausblendbar ist, so dass zur Detektion das vom Objekt kommende Detektionslicht (=Fluoreszenzlicht) verbleibt.
  • So kann es sich bei dem spektral selektiven Element – zur Begünstigung der vo ranstehend erörterten Doppelfunktion – um ein passives Element bzw. Bauteil handeln. Dazu könnte das spektral selektive Element als transparentes optisches Gitter oder als holographisches Element ausgeführt sein. Ebenso ist es denkbar, das spektral selektive Element als passiven AOD (Acousto-Optical-Deflector) oder als passiven AOTF (Acousto-Optical-Tunable-Filter) auszuführen.
  • Insbesondere zur Realisierung der Einstellbarkeit des spektral selektiven Elements auf die auszublendende Anregungswellenlänge kann es sich bei dem spektral selektiven Element um ein aktives Bauteil handeln, so bspw. um ein akustooptisch und/oder elektrooptisch arbeitendes Element. Im Konkreten kommt hier als spektral selektives Element ein AOD (Acousto-Optical-Deflector) oder ein AOTF (Acousto-Optical-Tunable-Filter) in Frage.
  • Anstelle des im Stand der Technik üblichen Farbstrahlteilers wird hier ein aktives spektral selektives Element verwendet, so beispielsweise ein AOD oder ein AOTF. Die Aufgabe dieser aktiven Bauteile besteht darin, das Anregungslicht der Lichtquelle bzw. des Lasers oder der Laser λill1 , λill2 , λill3 ,...., λilln in den Beleuchtsstrahlengang und somit in das Mikroskop einzukoppeln, um danach per Beam-Scanning die Fluoreszenzverteilung im Objekt anzuregen. Bei der Detektion kann das vom Objekt kommende Fluoreszenzlicht nahezu ungestört das aktive spektral selektive Element passieren. Dabei wird das vom Objekt gestreute oder reflektierte Licht mit den Anregungswellenlängen der Lichtquelle bzw. des Lasers oder der Laser aus dem Detektionsstrahlengang weitgehend herausreflektiert.
  • Zur Einkopplung einer Lichtquelle bzw. eines Lasers oder mehrerer Laser mit verschiedenen Wellenlängen λill1 , λill2 ,..., λilln kann ein AOD mit entsprechenden Frequenzen ν1 , ν2 ,..., νn vorzugsweise simultan beschaltet werden, so dass die verschiedenen Laserstrahlen nach dem Durchgang durch den AOD koaxial mit der optischen Achse verlaufen. Hinsichtlich der Verwendung des AOD ist wesentlich, dass dort eine Frequenz νn eine Wellenlänge λilln, selektiert, die aus dem eigentlichen Strahlengang abgelenkt wird. Der Ablenkungswinkel ϕ ist dabei durch die Formel ϕ = λilln νn/2f definiert, wobei f die Ausbreitungsgeschwindigkeit der Schallwelle im AOD ist. Das zu detektierende Fluoreszenzlicht mit einer spektralen Verteilung um die Wellenlängen λfluo1 , λfluo2 ,..., λfluon zusammen mit dem am Objekt gestreuten bzw. reflektierten Anregungslicht mit den Wellenlängen λill1 , λill2 ,..., λilln durchläuft nun den AOD in umgekehrter Richtung. Jedoch wird gemäß der Umkehrbarkeit des Lichtwegs das Anregungslicht mit den Wellenlängen λill1 , λill2 ,..., λilln wegen der spezifischen Einstellung des AOD aus dem Detektionsstrahlengang in Richtung des Lasers abgelenkt (1. Ordnung). Somit kann das „spektral verbleibende" Fluoreszenzlicht um die Wellenlängen λfluo1 , λfluo2 ,..., λfluon – verglichen mit einem herkömmlichen Farbstrahlteiler – auf verbesserte Weise detektiert werden (0. Ordnung). Dadurch lässt sich jedenfalls die Justage der Einkopplung unterschiedlicher Laser einfacher als im Stand der Technik (dort unter Anwendung herkömmlicher Farbstrahlteiler in einem Filterrad) vornehmen.
  • In weiter vorteilhafter Weise könnte ein Nachschalten weiterer AOTF die einzelnen Wellenlängen in ihrer Leistung nach der Strahlzusammenführung selektiv regeln.
  • Zur Einkopplung einer Laserlichtquelle mit verschiedenen Wellenlängen λfill1 , λfill2 ,..., λfilln kann ein AOTF mit entsprechenden Frequenzen ν1 , ν2 ,..., νn simultan geschaltet sein, so dass die verschiedenen Wellenlängen in ihrer Anregungsleistung variieren und auf die Anwendung hin optimierbar sind. Die Zuführung des Laserlichts kann mittels Lichtleitfaser erfolgen.
  • Jedenfalls wird die Lichtquelle bzw. der Laser koaxial aus der Richtung der 1. Ordnung des Kristalls eingekoppelt. Das zu detektierende Fluoreszenzlicht mit einer spektralen Verteilung um die Wellenlängen λfluo1 , λfluo2 ,..., λfluon gemeinsam mit dem am Objekt gestreuten bzw. reflektierten Anregungslicht mit den Wellenlängen λfill1 , λfill2 ,..., λfilln durchlaufen nun den AOTF in umgekehrte Richtung. Gemäß der Umkehrbarkeit des Lichtwegs wird das Anregungslicht mit den Wellenlängen λfill1 , λfill2 ,..., λfilln wegen der spezifischen Einstellung des AOTF aus dem Detektionsstrahlengang in Richtung der Lichtquelle bzw. des Lasers abgelenkt. Somit kann auch hierbei das „spektral verbleibende" Fluoreszenzlicht um die Wellenlängen λfluo1 , λfluo2 ,..., λfluon in einer – verglichen zum herkömmlichen Farbstrahlteiler – verbesserten Weise detektiert werden (0. Ordnung).
  • Sowohl unter Verwendung eines AOD oder AOTF als auch unter Verwendung eines transparenten Gitters wird sich das Fluoreszenzlicht nach dem Duchgang durch das jeweilige aktive Element aufgrund der auftretenden Dispersion spektral auffächern. Insoweit ist es von Vorteil, ein oder mehrere entsprechende „inverse" Elemente nachzuschalten, so dass die ungewünschte spektrale Auffächerung wieder rückgängig gemacht wird. Auch ist es denkbar, weitere optische Elemente zur Fokussierung oder zum Ausblenden unerwünschter Strahlanteile dem jeweiligen Element (AOD, AOTF oder transparentes Gitter) vor- bzw. nachzuschalten. Der dadurch wiedervereinigte Detektionsstrahl kann dann in herkömmlicher Weise durch nachgeschaltete Farbstrahlteiler spektral zerlegt und auf die verschiedenen Detektoren abgebildet werden.
  • Grundsätzlich ist eine Anordnung im Sinne eines „Multibanddetektor" denkbar. Hierzu wird auf die Patentanmeldung DE 43 30 347.1 A1 verwiesen, deren Inhalt hier ausdrücklich hinzugezogen und insoweit als bekannt vorausgesetzt wird. Zwischen der Scan-Einheit und dem AOD bzw. dem transparenten Gitter (bei mehreren Lichtquellen bzw. Lasern mehrerer Wellenlängen) bzw. dem AOTF (bei einer Lichtquelle bzw. einem Laser mit verschiedenen Wellenlängen) ist das Anregungs-Pinhole angeordnet, wobei dieses identisch mit dem Detektions-Pinhole ist. In vorteilhafter Weise wird dabei die Eigenschaft des Kristalls, den Lichtstrahl der 0. Ordnung durch den Prismeneffekt spektral aufzufächern, zur Detektion genutzt. Das dispersive Element des Multibanddetektors ist dabei mit dem Farbstrahlteiler zu einem Bauteil vereinigt, wodurch alle weiteren, dem herkömmlichen Detektionsstrahlengang nachgeordneten und mit weiteren Verlusten in der Fluoreszenzintensität behafteten Farbstrahlteiler entfallen.
  • In ganz besonders vorteilhafter Weise kann die voranstehend erörterte Technik in Kombination mit einer in der Wellenlänge variabel durchstimmbaren Laserlichtquelle – z.B. Farbstofflaser, OPO (optisch parametrisierter Oszillator), Elektronenstrahlkollisionslichtquelle – äußerst flexible Fluoreszenzmikroskopie-Anwendungen ermöglichen. Die Einstellung bzw. Kontrolle der Anregungswellenlänge kann direkt mit der Ansteuereinheit eines der zuvor beschriebenen spektral selektiven Elemente gekoppelt sein, so dass nur diese Anregungswellenlänge koaxial in den Anregungsstrahlengang des Mikroskops eingekoppelt und wiederum nur diese Wellenlänge aus dem Detektionsstrahlengang. ausgeblendet wird. Die Kopplung bzw.
  • Zwangskopplung der Lichtquelle mit dem strahlteilenden Element kann entweder manuell oder automatisch oder gar nach einer vorgebbaren Vorschrift erfolgen, wobei diese Möglichkeit dem jeweiligen Anforderungsprofil anzupassen ist. Beispielsweise kann nach jeder gescannten Bildebene die Anregungswellenlänge sowie der Strahlteiler in geeigneter Weise verändert werden. Somit lassen sich Mehrfarbenfluoreszenzobjekte detektieren. Eine zeilenweise Umschaltung ist ebenso denkbar.
  • Zusammenfassend lassen sich die Vorteile der erfindungsgemäßen Lehre nebst vorteilhafter Ausgestaltung wie folgt zusammenfassen:
    Die spektral selektiven Elemente sind für alle Wellenlängen außer für die selektierten Anregungswellenlängen λill1 , λill2 ,... λilln „transparent". Der „spektrale Verlust" ist minimal, da vom spektral selektiven Element nur der selektierte spektrale Bereich von typischerweise λilln ± 2 nm abgelenkt wird. Dadurch wird der spektrale Bereich für die Detektion vergrößert. Somit können nahezu beliebig viele unterschiedliche Wellenlängenbereiche simultan eingekoppelt und genutzt werden. Die spektral „verlorene Fluoreszenzintensität", die durch die spektral selektiven Elemente bedingt ist, ist geringer als bei herkömmlichen Farbstrahlteilern. Mit anderen Worten liegen hier reduzierte Intensitätsverluste im interessierenden Bereich vor. Die aktiven spektral selektiven Elemente sind flexibel einstellbar, so dass prinzipiell beliebig viele Lichtquellen bzw. Laser mit unterschiedlichen Wellenlängen auch simultan in das Mikroskop einkoppelbar sind. Dies ermöglicht die verbesserte Anwendung bei Multi-Color FISH (Fluoreszenz-in-situ-Hybridisierung). Folglich ist dann nur noch eine Limitierung der spektralen Aufspaltung des Fluoreszenzlichts, bspw. durch „Cross-Talk", gegeben. Herkömmliche Sperrfilter können komplett entfallen, so dass weitere Verluste von Fluoreszenzlicht in der Detektion vermieden sind.
  • Schließlich ist es auch denkbar, dass ein anderes aktives holographisches Element dem spektral selektiven Element nachgeschaltet ist und dabei die Aufgabe des Strahlscanners ausübt. Beide Elemente können zu einem einzigen Bauteil zusammengefasst sein.
  • Grundsätzlich lassen sich unterschiedliche Lichtquellen verwenden, solange sie zur Fluoreszenzanregung geeignet sind. So kommt bspw. eine Weißlichtquelle, eine Lichtquelle zur Verwendung eines optisch parametrisierten Oszillators, eine Elektro nenstrahlkollisionslichtquelle oder eine Laserlichtquelle in Frage, wobei die Laserlichtquelle in der Wellenlänge variabel durchstimmbar sein kann. Laserlichtquellen mit verschiedenen Wellenlängen oder eine mehrere Laser umfassende Lichtquelle ist bzw. sind verwendbar.
  • Es gibt nun verschiedene Möglichkeiten, die Lehre der vorliegenden Erfindung in vorteilhafter Weise auszugestalten und weiterzwbilden. Dazu ist einerseits auf die den Patentansprüchen 1 und 2 nachgeordneten Patentansprüche, andererseits auf die nachfolgende Erläuterung bevorzugter Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung zu verweisen. In Verbindung mit der Erläuterung der bevorzugten Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung werden auch im Allgemeinen bevorzugte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Lehre erläutert. In der Zeichnung zeigen
  • 1 in einer schematischen Darstellung eine gattungsbildende optische Anorndung im Strahlengang eines konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops zur Dokumentation des der Erfindung zugrunde liegenden Standes der Technik,
  • 2 in einer schematischen Darstellung ein erstes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen optischen Anordnung im Strahlengang eines konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops, wobei dort ein Laser mit unterschiedlichen Anregungswellenlängen einkoppelbar ist,
  • 3 in einer schematischen Darstellung ein zweites Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen optischen Anordnung im Strahlengang eines konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops, wobei dort drei Laser mit unterschiedlichen Anregungswellenlängen einkoppelbar sind,
  • 4 in einer schematischen Darstellung ein drittes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen optischen Anordnung im Strahlengang eines konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops, wobei dort die Einkopplung von drei Laserlichtquellen über ein transpa rentes Gitter erfolgt,
  • 5 in schematischer Darstellung, vergrößert und teilweise, den Beleuchtungsstrahlengang und Detektionsstrahlengang, wobei dem aktiven spektral selektiven Element zur Strahlzusammenführung dienende Mittel nachgeschaltet sind,
  • 6 in schematischer Darstellung, vergrößert und teilweise, den Beleuchtungsstrahlengang und Detektionsstrahlengang, wobei dort eine Dispersionskorrektur erfolgt,
  • 7 in einer schematischen Darstellung die prinzipielle Funktionsweise eines AOD oder AOTF,
  • 8 in einer schematischen Darstellung ein weiteres Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen optischen Anordnung, wobei dort eine zusätzliche spektrale Auffächerung vor einem Multibanddetektor stattfindet und
  • 9 in einer schematischen Darstellung das Ausführungsbeispiel aus 8, wobei dort im Detektionsstrahlengang vor dem Multibanddetektor ein variables Spaltfilter angeordnet ist.
  • 1 dokumentiert den Stand der Technik und zeigt dabei eine herkömmliche optische Anordnung im Strahlengang einer zur Fluoreszenzanregung geeigneten Lichtquelle, wobei es sich hier um eine optische Anordnung im Strahlengang eines konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops handelt. Der Laserscanner 1 ist dabei lediglich symbolisch dargestellt. Bei der den Stand der Technik betreffenden Darstellung sind als Lichtquellen insgesamt drei Laser 2 vorgesehen, die mit ihrem Anregungslicht 3 über spektral selektive Elemente 4 in den Beleuchtungsstrahlengang 5 des Mikroskops einkoppeln. Bei den spektral selektiven Elementen 4 handelt es sich im Konkreten um einen Spiegel 6 sowie um Farbstrahlteiler 7. Jedenfalls wird das Anregungslicht 3 in den Beleuchtungsstrahlengang 5 eingekoppelt und gelangt über einen weiteren Spiegel 8 als Anregungslicht 9 zum Laserscanner 1.
  • Das von dem ebenfalls lediglich symbolisch dargestellten Objekt 10 zurückkommende Licht – hier handelt es sich um das am Objekt gestreute und reflektierte Anregungslicht 9 einerseits und um das vom Objekt 10 ausgesandte Fluoreszenzlicht 11 – gelangt über den Spiegel 8 zu dem spektral selektiven Element 4, wobei es sich hier um den Farbstrahlteiler 7 handelt. Von dort aus wird das Anregungslicht 9 bzw. die Anregungswellenlänge aus dem über den Detektionsstrahlengang 12 vom Objekt 10 kommenden Licht 13 ausgeblendet und gelangt als zurückkommendes Anregungslicht 9 zurück zu den Lasern 2. Das durch den Farbstrahlteiler 7 nicht abgelenkte Detektionslicht 14 gelangt unmittelbar zu dem Detektor 15.
  • Erfindungsgemäß ist durch das spektral selektive Element 4 zurückkommendes Anregungslicht 3 unterschiedlicher Wellenlängen ausblendbar. Dies ist insbesondere in 4 dargestellt.
  • Alternativ – in ebenfalls erfindungsgemäßer Weise – ist das spektral selektive Element 4 auf die auszublendende Anregungswellenlänge einstellbar. Dies lässt sich den Ausführungsbeispielen aus den 2, 3 und 8, 9 besonders gut entnehmen.
  • Bei dem in 2 gezeigten Ausführungsbeispiel ist lediglich ein Laser 2 vorgesehen, dessen Anregungslicht 3 unterschiedliche Wellenlängen aufweisen kann. Jedenfalls gelangt das Anregungslicht 3 über einen Spiegel 6 und über ein zusätzliches optisches Element, nämlich über eine Linse 16 zu einem AOTF 17, der als spektral selektives Element arbeitet. Von dort aus gelangt das Anregungslicht 3 wiederum über ein zusätzliches optisches Element – im hier gewählten Ausführungsbeispiel eine Linse 18 – und über einen Spiegel 8 zum Laserscanner 1. Vom Objekt 10 reflektiert, gelangt das zurückkommende Licht – reflektiertes Anregungslicht 9 und Detektionslicht 11 – über den Spiegel 8 und die Linse 18 zurück in den AOTF 17 und wird dort entsprechend der Beschattung des AOTF 17 teilweise ausgeblendet. Im Konkreten wird nämlich das Detektionslicht bzw. Fluoreszenzlicht 11 über den Detektionsstrahlengang 12 zum Detektor 15 geführt (0. Ordnung). Das zurückkommende Anregungslicht 9 wird dagegen über die Linse 16 und den Spiegel 6 zurück zum Laser 2 geführt und ist somit aus dem Detektionsstrahlengang 12 ausgeblendet. Ähnlich verhält es sich bei dem in 3 gezeigten Ausführungsbeispiel, wobei dort gleichzeitig drei Laser 2 über zusätzliche optische Elemente, hier Linsen 16, ihr Anregungslicht 3 über ein AOD 19, eine weitere nachgeschaltete Linse 18 und einen Spiegel 8 in den Beleuchtungsstrahlengang 5 einkoppeln. Von dort aus gelangt das Anregungslicht 3 zum Laserscanner 1 und zum Objekt 10.
  • Das vom Objekt kommende Licht 13 umfasst bei dem voranstehend genannten Ausführungsbeispiel Fluoreszenzlicht 11 und zurückkommendes Anregungslicht 9, wobei dort der AOD 19 das zurückkommende Fluoreszenzlicht als Detektionslicht 14 zu dem Detektor 15 führt. Das zurückkommende Anregungslicht 9 wird ausgeblendet und gelangt über Linsen 16 zu den jeweiligen Lasern 2.
  • Das in 4 gezeigte Ausführungsbeispiel umfasst als spektral selektives Element 4 ein transparentes Gitter 20, wobei über das transparente Gitter 20 gleichzeitig drei Laser 2 ihr Anregungslicht 3 in den Beleuchtungsstrahlengang 5 des Mikroskops einkoppeln. Wesentlich ist hier jedenfalls, dass das transparente Gitter 20 das vom Objekt 10 zurückkommende Anregungslicht 9 aus dem Detektionsstrahlengang ausblendet, so dass dieses Licht zurück zu den Lasern 2 gelangt. Das zu detektierende Fluoreszenzlicht 11 gelangt über den Detektionsstrahlengang 12 zum Detektor 15.
  • 5 zeigt die Möglichkeit einer Dispersionskorrektur, wobei das vom Objekt zurückkomende Licht 13 in den AOTF 17 oder AOD 19 gelangt. Dort wird das zurückkommende Detektionslicht 14 – zwangsweise – spektral aufgefächert und über nachgeschaltete Elemente – AOD/AOTF – parallelisiert und schließlich konvergiert. Das spektral vereinigte Detektionslicht 14 gelangt von dort zu dem in 5 nicht gezeigten Detektor 15.
  • Bei der in 6 gezeigten Dispersionskorrektur wird das vom Objekt kommende Licht 13 mittels AOD 17/AOTF 19 aufgefächert, wobei das aufgefächerte Detektionslicht 14 über ein weiteres passives spektral selektives Element 4 – AOTF 17 oder AOD 19 – über eine Linse 21 mit Feldkorrektur konvertiert und durch ein Detektionspinhole 22 oder durch einen Detektionsspalt zum Detektor 15 gelangt.
  • Gemäß der Darstellung in 7 handelt es sich bei dem spektral selektiven Element 4 um ein AOTF 17 oder ein AOD 19, wobei diese Elemente einen speziellen Kristall mit dispersionsfreier 0. Ordnung umfassen. Dieser Kristall bzw. dieses spektral selektive Element wird über ein Piezoelement 23 angeregt bzw. beaufschlagt. 7 zeigt besonders deutlich, dass das vom Objekt kommende Licht 13 in dem AOTF 17 bzw. AOD 19 aufgespalten wird, wobei das Detektionslicht 14 als dispersionsfreies Licht 0. Ordnung ungehindert durch den Kristall läuft. Das vom Objekt zurückkommende Anregungslicht 9 wird dagegen als Licht 1. Ordnung abgelenkt und zurück zu den hier nicht gezeigten Lasern geführt.
  • 8 zeigt eine spezielle Detektion unter Ausnutzung der spektralen Auffächerung des spektral selektiven Elements 4, wobei hier im Konkreten ein AOTF 17 verwendet ist. Das vom Objekt 10 kommende Licht 13 wird im AOTF 17 spektral aufgespalten, wobei das Detektionslicht 14 über eine Linse 16 und einen Spiegel 6 zu einem Multibanddetektor 24 bzw. Spektrometer gelangt. Der Spiegel 6 führt zu einer Verlängerung der Strecke, so dass eine Auffächerung des zurückkomenden Detektionslichts 14 bis hin zum Multibanddetektor 24 begünstigt wird.
  • Das im AOTF 17 ausgeblendete Anregungslicht 9 gelangt über die Linse 16 und den Spiegel 8 zurück zum Laser 2.
  • Schließlich zeigt 9 in einer schematischen Darstellung das Ausführungsbeispiel aus 8, wobei dort – in Ergänzung – im Detektionsstrahlengang vor dem Multibanddetektor 24 ein variables Spaltfilter 25 angeordnet ist. Dieses Spaltfilter 25 ist im Detektionsstrahlengang 12 unmittelbar vor dem Detektor 15 angeordnet und im Detektionsstrahlengang positionierbar. Des Weiteren ist der Spalt 26 des Spaltfilters 25 variabel, so dass auch insoweit eine spektrale Selektion des Detektionslichts 14 möglich ist.
  • Hinsichtlich weiterer Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Lehre, die den Figuren nicht zu entnehmen sind, wird zur Vermeidung von Wiederholungen auf den allgemeinen Teil der Beschreibung und die dort geschilderte Funktionsweise der Lehre und der vorteilhaften Ausgestaltungen verwiesen.

Claims (46)

  1. Mikroskop mit einer zur Fluoreszenzanregung geeigneten Lichtquelle (2), mit einer spektral selektiven Einrichtung zum Einkoppeln des Anregungslichts (3) in das Mikroskop und zum Ausblenden des am Objekt (10) gestreuten und/oder reflektierten Anregungslichts (9) aus dem Detektionsstrahlengang (12), dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei der spektral selektiven Einrichtung um ein einzelnes, passives Bauteil handelt, dass das Anregungslicht (3) unterschiedliche Wellenlängen umfasst, die aus unterschiedlichen Richtungen auf das Bauteil einfallen und von diesem koaxial zu einem Anregungslichtstrahl vereinigbar sind, und dass das Anregungslicht (3) durch das Bauteil aus dem Detektionsstrahlengang (9) ausblendbar ist.
  2. Mikroskop, mit einer zur Fluoreszenzanregung geeigneten Lichtquelle (2), mit einer spektral selektiven Einrichtung zum Einkoppeln des Anregungslichts (3) in das Mikroskop und zum Ausblenden des am Objekt (10) gestreuten und/oder reflektierten Anregungslichts (3) aus dem Detektionsstrahlengang (9), dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei der spektral selektiven Einrichtung um ein einzelnes, aktives Bauteil handelt, welches auf die aus dem Detektionsstrahlengang (9) auszublendende Anregungswellenlänge einstellbar ist.
  3. Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das spektral selektive Element (4) als transparentes optisches Gitter (20) ausgeführt ist.
  4. Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das spektral selektive Element (4) als holographisches Element ausgeführt ist.
  5. Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das spektral selektive Element (4) als passives AOD (Acousto-Optical-Deflector) (19) oder passives AOTF (Acousto-Optical-Tunable-Filter) (17) ausgeführt ist.
  6. Mikroskop nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass das spektral selektive Element (4) akustooptisch und/oder elektrooptisch arbeitet.
  7. Mikroskop nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass das spektral selektive Element (4) als AOD (Acousto-Optical-Deflector) (19) ausgeführt ist.
  8. Mikroskop nach Anspruch 7, wobei mehrere Lichtquellen mit unterschiedlichen Wellenlängen einkoppelbar sind, dadurch gekennzeichnet, dass das AOD (19) mit entsprechenden Frequenzen simultan beschaltet ist, so dass die verschiedenen Lichtstrahlen nach dem Durchgang des AOD (19) koaxial mit der optischen Achse des Beleuchtungsstrahlengangs (5) sind.
  9. Mikroskop nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass das spektral selektive Element (4) als AOTF (Acousto-Optical-Tunable-Filter) (17) ausgeführt ist.
  10. Mikroskop nach Anspruch 9, wobei eine Lichtquelle mit unterschiedlichen Wellenlängen einkoppelbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass das AOTF (17) mit entsprechenden Frequenzen simultan beschaltbar ist.
  11. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass das spektral selektive Element (4) derart konstruiert ist, dass eine spektrale Auffächerung des Detektionslichts (11) zumindest weitgehend vermieden ist.
  12. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass zur leistungsspezifischen Regelung einzelner Wellenlängen dem spektral selektiven Element (4) mindestens ein weiteres aktives bzw. spektral selektives Element nachgeschaltet ist.
  13. Mikroskop nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei dem weiteren spektral selektiven Element um ein AOD (19) handelt.
  14. Mikroskop nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei dem weiteren spektral selektiven Element um ein AOTF (17) handelt.
  15. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 14, wobei das spektral selektive Element (4) eine Ansteuereinheit umfasst, dadurch gekennzeichnet, dass die Einstellung/Kontrolle der Anregungswellenlänge mit der Ansteuereinheit zwangsge koppelt ist, so dass nur diese Anregungswellenlänge vorzugsweise koaxial in den Beleuchtungsstrahlengang (5) des Mikroskops einkoppelbar ist und ausschließlich diese Wellenlänge aus dem Detektionsstrahlengang (12) ausblendbar ist.
  16. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass die Ansteuerung der Lichtquelle (2) mit dem spektral selektiven Element (4) manuell oder automatisch erfolgt.
  17. Mikroskop nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass die Ansteuerung der Lichtquelle (2) mit dem spektral selektiven Element (4) nach einer frei definierbaren Vorschrift erfolgt.
  18. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 17, dadurch gekennzeichnet, dass dem spektral selektiven Element (4) mindestens ein weiteres optisches Element vor- und/oder nachgeschaltet ist.
  19. Mikroskop nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, dass ein im Beleuchtungsstrahlengang (5) dem spektral selektiven Element (4) nachgeschaltetes aktives holographisches Element als Strahlscanner dient.
  20. Mikroskop nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass das spektral selektive Element (4) und das nachgeschaltete holographische Element zu einem funktionalen Baustein vereint sind.
  21. Mikroskop nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei dem weiteren optischen Element um ein Strahlanpassungsmittel bzw. um ein Mittel zur Kompensation, der durch das spektral selektive Element (4) verursachten spektralen Auffächerung handelt.
  22. Mikroskop nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, dass das Strahlanpassungsmittel als Linse (16) ausgeführt ist.
  23. Mikroskop nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, dass das Strahlanpassungsmittel als Prisma ausgeführt ist.
  24. Mikroskop nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, dass das Strahlanpassungsmittel als Blende, vorzugsweise als Lochblende oder Schlitzblende, ausgeführt ist.
  25. Mikroskop nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, dass das Strahlanpassungsmittel als Filter, vorzugsweise als Sperrfilter, ausgeführt ist.
  26. Mikroskop nach Anspruch 25, dadurch gekennzeichnet, dass das Filter unmittelbar vor dem Detektor (15) angeordnet ist.
  27. Mikroskop nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, dass das Strahlanpassungsmittel als Fokussiermittel ausgeführt ist.
  28. Mikroskop nach einem der Ansprüche 18 bis 27, dadurch gekennzeichnet, dass als weiteres optisches Element ein Farbstrahlteiler zur weiteren spektralen Zerlegung vorgesehen ist.
  29. Mikroskop nach einem der Ansprüche 18 bis 28, dadurch gekennzeichnet, dass als weiteres optisches Element mindestens ein AOTF (17) vorgesehen ist.
  30. Mikroskop nach Anspruch 29, dadurch gekennzeichnet, dass das AOTF (17) als passives Element verwendbar ist.
  31. Mikroskop nach einem der Ansprüche 18 bis 30, dadurch gekennzeichnet, dass Kombinationen weiterer optischer Elemente vorgesehen sind.
  32. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 31, dadurch gekennzeichnet, dass im Detektionsstrahlengang (12) Mittel zur Mehrfachreflexion angeordnet sind, die eine Winkelvergrößerung der Auffächerung des Detektionsstrahls herbeiführen.
  33. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 32, dadurch gekennzeichnet, dass im Detektionsstrahlengang (12), vorzugsweise unmittelbar vor dem Detektor (15), ein Spaltfilter (25) angeordnet ist.
  34. Mikroskop nach Anspruch 33, dadurch gekennzeichnet, dass das Spaltfilter (25) im Detektionsstrahlengang (12) positionierbar ist.
  35. Mikroskop nach Anspruch 33 oder 34, dadurch gekennzeichnet, dass der Spalt (26) des Spaltfilters (25) variabel ist.
  36. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 35, dadurch gekennzeichnet, dass im Detektionsstrahlengang (12) nach dem spektral selektiven Element (4) ein Spektrometer zur Detektion der spektralen Auffächerung angeordnet ist.
  37. Mikroskop nach Anspruch 36, dadurch gekennzeichnet, dass den Spektrometer als Multibanddetektor (24) ausgeführt ist.
  38. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 37, dadurch gekennzeichnet, dass die ausgeblendeten Anregungswellenlängen in Richtung der Lichtquellen (2) aus dem Detektionsstrahlengang (12) abgelenkt werden.
  39. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 38, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle (2) als Weißlichtquelle ausgeführt ist.
  40. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 38, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle (2) als optisch parametrisierter Oszillator (OPO) ausgeführt ist.
  41. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 38, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle (2) als Elektronenstrahlkollisionslichtquelle ausgeführt ist.
  42. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 38, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle (2) als Laserlichtquelle ausgeführt ist.
  43. Mikroskop nach Anspruch 42, dadurch gekennzeichnet, dass die Laserlichtquelle in der Wellenlänge variabel durchstimmbar ist.
  44. Mikroskop nach Anspruch 42 oder 43, dadurch gekennzeichnet, dass die Laserlichtquelle einen Laser mit verschiedenen Wellenlängen umfasst.
  45. Mikroskop nach Anspruch 42, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle mehrere Laser (2) mit unterschiedlichen Wellenlängen umfasst.
  46. Mikroskop nach einem der Ansprüche 42 bis 45, dadurch gekennzeichnet, dass der Laser (2) als Farbstofflaser ausgeführt ist.
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