DE19902519C2 - Hybrid-Leistungs-MOSFET für hohe Stromtragfähigkeit - Google Patents
Hybrid-Leistungs-MOSFET für hohe StromtragfähigkeitInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen Hybrid-Leistungs-MOSFET,
der einen niedersperrenden MOSFET und einen hochsperrenden
Sperrschicht-FET aufweist.
Ein Hybrid-Leistungs-MOSFET mit einem niedersperrenden MOSFET
und einem hochsperrenden Sperrschicht-FET ist aus der
DE 196 10 135 C1 bekannt. Anhand der Fig. 1 wird dieser be
kannte Hybrid-Leistungs-MOSFET näher beschrieben:
Dieser Hybrid-Leistungs-MOSFET weist einen selbstsperrenden n-Kanal-MOSFET 2, insbesondere einen Niedervolt-Leistungs- MOSFET, und einen selbstleitenden n-Kanal-Sperrschicht-FET 4 auf. Dieser hochsperrende Sperrschicht-FET 4 wird auch als Junction-Field-Effect-Transistor (JFET) bezeichnet. Diese beiden FET sind derart elektrisch in Reihe geschaltet, daß der Source-Anschluß S des Sperrschicht-FET 4 mit dem Drain- Anschluß D' des MOSFET 2 und daß der Gate-Anschluß G des Sperrschicht-FET 4 mit dem Source-Anschluß S' des MOSFET 2 elektrisch leitend verbunden sind. Diese elektrische Zusam menschaltung zweier Halbleiterbauelemente wird bekanntlich auch als Kaskodenschaltung bezeichnet. Der niedersperrende MOSFET 2 dieser Kaskodenschaltung weist eine interne bipolare Diode DIN auf, die antiparallel zum MOSFET 2 geschaltet ist und allgemein als Inversdiode bzw. interne Freilaufdiode bezeichnet wird. Der selbstsperrende n-Kanal-MOSFET 2 ist aus Silizium, wogegen der selbstsperrende n-Kanal-JFET 4 aus Siliziumcarbid besteht. Dieser Hybrid-Leistungs-MOSFET ist für eine hohe Sperrspannung von über 600 Volt ausgelegt und weist dennoch nur geringe Verluste im Durchlaßbereich auf.
Dieser Hybrid-Leistungs-MOSFET weist einen selbstsperrenden n-Kanal-MOSFET 2, insbesondere einen Niedervolt-Leistungs- MOSFET, und einen selbstleitenden n-Kanal-Sperrschicht-FET 4 auf. Dieser hochsperrende Sperrschicht-FET 4 wird auch als Junction-Field-Effect-Transistor (JFET) bezeichnet. Diese beiden FET sind derart elektrisch in Reihe geschaltet, daß der Source-Anschluß S des Sperrschicht-FET 4 mit dem Drain- Anschluß D' des MOSFET 2 und daß der Gate-Anschluß G des Sperrschicht-FET 4 mit dem Source-Anschluß S' des MOSFET 2 elektrisch leitend verbunden sind. Diese elektrische Zusam menschaltung zweier Halbleiterbauelemente wird bekanntlich auch als Kaskodenschaltung bezeichnet. Der niedersperrende MOSFET 2 dieser Kaskodenschaltung weist eine interne bipolare Diode DIN auf, die antiparallel zum MOSFET 2 geschaltet ist und allgemein als Inversdiode bzw. interne Freilaufdiode bezeichnet wird. Der selbstsperrende n-Kanal-MOSFET 2 ist aus Silizium, wogegen der selbstsperrende n-Kanal-JFET 4 aus Siliziumcarbid besteht. Dieser Hybrid-Leistungs-MOSFET ist für eine hohe Sperrspannung von über 600 Volt ausgelegt und weist dennoch nur geringe Verluste im Durchlaßbereich auf.
Gesteuert wird diese bekannte Kaskodenschaltung mittels der
Gate-Spannung UG'S' des selbstsperrenden MOSFET 2. Ist der
MOSFET 2 eingeschaltet oder die antiparallele interne Diode
DIN des MOSFET 2 führt einen Strom, so ist die Drain-Spannung
UD'S' des MOSFET 2 näherungsweise Null. Durch die Kopplung des
Gate-Anschlusses des JFET 4 mit dem Source-Anschluß S' des
MOSFET 2 ist die Gate-Spannung UGS' des JFET 4 Null bis ein
wenig negativ oder positiv. Gemäß einer Übertragungskennlinie
fließt durch den JFET 4 annähernd der größte Drain-Strom ID.
Wird der MOSFET 2 abgeschaltet, so steigt die Drain-Spannung
UD'S' an, bis die maximal zulässige Sperrspannung des MOSFET 2
erreicht ist. Der Wert der Sperrspannung ist bei einem Nie
dervolt-Leistungs-MOSFET 2 beispielsweise 30 Volt. Sobald der
Wert der Drain-Spannung UD'S' des MOSFET 2 den Wert der
Schwellenspannung UTh des JFET 4 überschreitet, ist der
Drain-Strom ID des JFET 4 gemäß seiner Übertragungskennlinie
Null. Das heißt, der JFET 4 ist abgeschaltet. Durch die Ver
kopplung des Gate-Anschlusses G des JFET 4 mit dem Source-
Anschluß S' des MOSFET 2 wird die Drain-Spannung UD'S' des
MOSFET 2 auf das Gate G des JFET 4 gegengekoppelt.
Der bekannte Hybrid-Leistungs-MOSFET ist grundsätzlich pa
rallel schaltbar, wodurch die Stromtragfähigkeit der Gesamt
anordnung erhöht wird. Die Nachteile einer derartigen konven
tionellen Parallelschaltung von n Kaskodenschaltungen sind
wie folgt:
- a) bei n parallelen Kaskodenschaltungen werden 2n Chips benötigt, wodurch die Aufbautechnik kompliziert wird.
- b) bei n parallelen Kaskodenschaltungen werden n Steuerlei tungen benötigt, wegen der Entkopplung der Gate-Anschlüs se der n MOSFET.
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, einen Hybrid-
Leistungs-MOSFET für eine hohe Stromtragfähigkeit anzugeben,
der die zuvor genannten Nachteile nicht mehr aufweist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit den Merkmalen des An
spruchs 1 gelöst.
Dadurch, daß zur Erhöhung der Stromtragfähigkeit des bekann
ten Hybrid-Leistungs-MOSFET nur ein niedersperrender MOSFET
und wenigstens zwei hochsperrende Sperrschicht-FET, die elek
trisch parallel geschaltet sind, verwendet werden, verringert
sich die Anzahl der Chips bei einem Hybrid-Leistungs-MOSFET
mit n hochsperrenden Sperrschicht-FET auf n + 1 Chips. Außerdem
wird nur eine Steuerleitung benötigt, da nur ein nieder
sperrender MOSFET verwendet wird. Dieser MOSFET hat die Funk
tion eines Steuerkopfes. Ferner vereinfacht sich die Aufbau
technik dieses erfindungsgemäßen Hybrid-Leistungs-MOSFET für
eine hohe Stromtragfähigkeit sehr, da anstelle von 2n Chips
bei einer konventionellen Parallelschaltung nun nur noch n + 1
Chips bei der Kaskodenschaltung verwendet werden.
Bei einer vorteilhaften Ausgestaltung des erfindungsgemäßen
Hybrid-Leistungs-MOSFET ist in jeder Verbindungsleitung zwi
schen einem Gate-Anschluß der parallel geschalteten Sperr
schicht-FET und einem Source-Anschluß des niedersperrenden
MOSFET ein Gate-Widerstand angeordnet. Dadurch werden die
Steuerkreise der Sperrschicht-FET voneinander entkoppelt und
so das Schaltverhalten des Hybrid-Leistungs-MOSFET wesentlich
verbessert.
Bei einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung des erfin
dungsgemäßen Hybrid-Leistungs-MOSFET ist in jeder Verbin
dungsleitung zwischen dem Drain-Anschluß des niedersperrenden
MOSFET und einem Source-Anschluß der parallel geschalteten
Sperrschicht-FET eine Induktivität angeordnet. Dadurch ver
bessert sich die Symmetrierung der dynamischen Stromabteilung
des Hybrid-Leistungs-MOSFET.
Bei einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung weist jeder
Sperrschicht-FET des erfindungsgemäßen Hybrid-Leistungs-
MOSFET einen Gate-Widerstand auf und in den Verbindungslei
tungen des MOSFET mit den parallel geschalteten Sperrschicht-
FET sind jeweils eine Induktivität angeordnet. Somit erhält
man einen Hybrid-Leistungs-MOSFET, dessen Schaltverfahren und
dessen Symmetrierung der dynamischen Stromaufteilung verbes
sert worden ist. Diese Ausführungsform ist insbesondere vor
teilhaft, wenn als Induktivität jeweils ein verlängerter
Bonddraht verwendet wird.
Weitere Ausgestaltungen des erfindungsgemäßen Hybrid-Lei
stungs-MOSFET sind den Unteransprüchen 5 bis 7 zu entnehmen.
Zur näheren Erläuterung der Erfindung wird auf die Zeichnung
Bezug genommen, in der mehrere Ausführungsformen des erfin
dungsgemäßen Hybrid-Leistungs-MOSFET schematisch veranschau
licht sind.
Fig. 1 zeigt die Schaltung eines bekannten Hybrid-Leistungs-
MOSFET, die
Fig. 2 zeigt eine Schaltung eines erfindungsgemäßen Hybrid-
Leistungs-MOSFET und in den
Fig. 3-5 sind vorteilhafte Ausführungsformen des erfindungsge
mäßen Hybrid-Leistungs-MOSFET nach der Fig. 2 darge
stellt.
In der Fig. 2 ist ein erfindungsgemäßer Hybrid-Leistungs-
MOSFET näher dargestellt. Dieser Hybrid-Leistungs-MOSFET
weist einen niedersperrenden MOSFET 2 und n hochsperrende
Sperrschicht-FET 4 1 bis 4 n auf. Die Anzahl der verwendeten
Sperrschicht-FET 4 1 bis 4 n hängt von der geforderten Strom
tragfähigkeit des Hybrid-Leistungs-MOSFET ab. Diese n JFET
4 1 bis 4 n sind elektrisch parallel geschaltet. Der gemeinsame
Source-Anschluß S dieser Parallelschaltung 6 ist mit dem
Drain-Anschluß D' des niedersperrenden MOSFET 2 elektrisch
leitend verbunden. Dieser MOSFET 2 hat die Funktion eines
Steuerkopfes. Durch die Verwendung nur eines MOSFET 2 werden
gegenüber einer konventionellen Parallelschaltung mehrerer
bekannter Hybrid-Leistungs-MOSFET n - 1 Steuerleitungen einge
spart, wodurch sich der Aufbau dieser erfindungsgemäßen Kas
kodenschaltung wesentlich verbessert. Die Gate-Anschlüsse
G1 bis Gn der parallel geschalteten JFET 4 1 bis 4 n sind mittels
einer Verbindungsleitung 8 1 bis 8 n mit den Source-An
schluß S' des niedersperrenden MOSFET 2 verbunden. Wie bei
dem bekannten Hybrid-Leistungs-MOSFET wird beim erfindungsge
mäßen Hybrid-Leistungs-MOSFET als niedersperrender MOSFET 2
ein selbstsperrender n-Kanal Leistungs-MOSFET, insbesondere
ein Niedervolt-Leistungs-MOSFET, verwendet, der aus Silizium
besteht. Die verwendeten JFET 4 1 bis 4 n bestehen jeweils aus
Siliziumcarbid.
Bei einer vorteilhaften Ausführungsform des erfindungsgemäßen
Hybrid-Leistungs-MOSFET der Fig. 3 sind in jeder Verbindungs
leitung 8 1 bis 8 n der Parallelschaltung 6 gemäß den Gate-Wi
derständen Rg1 bis Rgn angeordnet. Durch die Verwendung die
ser Gate-Widerstände Rg1 bis Rgn werden die Steuerkreise der
JFET 4 1 bis 4 n voneinander entkoppelt. Dadurch verbessert sich
das Schaltverhalten dieser erfindungsgemäßen Kaskodenschal
tung wesentlich.
In der Fig. 4 ist eine weitere vorteilhafte Ausführungsform
des erfindungsgemäßen Hybrid-Leistungs-MOSFET nach Fig. 2 nä
her dargestellt. Bei dieser Ausführungsform sind in den Ver
bindungsleitungen 10 1 bis 10 n zwischen den Source-Anschlüssen
S1 bis Sn und dem Drain-Anschluß D' des niedersperrenden
MOSFET 2 jeweils eine Induktivität LS1 bis LSn angeordnet.
Durch diese Induktivitäten LS1 bis LSn werden die Spannungsab
fälle an diesen Induktivitäten LS1 bis LSn aufgrund von Strom
änderungen auf die korrespondierenden Gatespannungen jeder
einzelnen JFET 4 1 bis 4 n rückgekoppelt, so daß die Stromände
rung in den einzelnen JFET 4 1 bis 4 n symmetriert werden. Dies
ermöglicht eine ideal gleiche Strombelastung für alle JFET
4 1 bis 4 n. Da bereits kleine Werte der Induktivität LS1 bis LSn
bei entsprechenden Stromsteilheiten zu merklichen Spannungs
abfällen an den Induktivitäten LS1 bis LSn führen, kann der
Wert dieser Induktivitäten LS1 bis LSn sehr klein sein. Da
durch können als Induktivitäten LS1 bis LSn jeweils ein ver
längerter Bonddraht zwischen den Source-Anschlüssen S1 bis Sn
der parallel geschalteten JFET 4 1 bis 4 n und dem Drain-An
schluß D' des Hybrid-Leistungs-MOSFET 2 realisiert werden.
In der Fig. 5 ist eine weitere vorteilhafte Ausführungsform
des Hybrid-Leistungs-MOSFET nach Fig. 2 veranschaulicht. Diese
Ausführungsform kombiniert die Ausführungsform nach Fig. 3 mit
der Ausführungsform nach Fig. 4. Somit erhält man eine Kasko
denschaltung, deren Symmetrierung der dynamischen Stromauf
teilung und deren Schaltverhalten verbessert ist.
Claims (7)
1. Hybrid-Leistungs-MOSFET, mit einem niedersperrenden MOSFET
(2) und wenigstens zwei hochsperrenden Sperrschicht-FET
(4 1, . . ., 4 n), wobei die Sperrschit-FET (4 1, . . ., 4 n) elektrisch
parallel geschaltet sind, wobei ein Drain-Anschluß (D') des
niedersperrenden MOSFET (2) mit einem Source-Anschluß (S) der
Parallelschaltung (6) der Sperrschicht-FET (4 1, . . ., 4 n) ver
bunden ist, und wobei die Gate-Anschlüsse (G1, . . ., Gn) der
parallel geschalteten Sperrschicht-FET (4 1, . . ., 4 n) jeweils
mit dem Source-Anschluß (S') des MOSFET (2) elektrisch lei
tend verknüpft sind.
2. Hybrid-Leistungs-MOSFET nach Anspruch 1, wobei in jeder
Verbindungsleitung (8 1, . . ., 8 n) zwischen einem Gate-Anschluß
(G1, . . ., Gn) der parallel geschalteten Sperrschicht-FET
(4 1, . . ., 4 n) und einem Source-Anschluß (S') des niedersper
renden MOSFET (2) ein Gate-Widerstand (Rg1, . . ., Rng) ange
ordnet ist.
3. Hybrid-Leistungs-MOSFET nach Anspruch 1 oder 2, wobei in
jeder Verbindungsleitung (10 1, . . ., 10 n) zwischen dem Drain-
Anschluß (D') des MOSFET (2) und einem Source-Anschluß
(S1, . . ., Sn) der parallel geschalteten Sperrschicht-FET
(4 1, . . ., 4 n) eine Induktivität (LS1, . . ., LSn) angeordnet ist.
4. Hybrid-Leistungs-MOSFET nach Anspruch 3, wobei als Induk
tivität (LS1, . . ., LSn) jeweils ein verlängerter Bonddraht vor
gesehen ist.
5. Hybrid-Leistungs-MOSFET nach einem der vorgenannten An
sprüche, wobei als niedersperrender MOSFET (2) ein Nieder
volt-Leistungs-MOSFET vorgesehen ist.
6. Hybrid-Leistungs-MOSFET nach einem der vorgenannten An
sprüche, wobei der niedersperrende MOSFET (2) aus Silizium
besteht.
7. Hybrid-Leistungs-MOSFET nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
wobei jeder hochsperrende Sperrschicht-FET (4 1, . . ., 4 n) aus
Siliziumcarbid besteht.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19902519A DE19902519C2 (de) | 1999-01-22 | 1999-01-22 | Hybrid-Leistungs-MOSFET für hohe Stromtragfähigkeit |
DE50003991T DE50003991D1 (de) | 1999-01-22 | 2000-01-13 | Hybrid-leistungs-mosfet für hohe stromtragfähigkeit |
PCT/DE2000/000119 WO2000044088A1 (de) | 1999-01-22 | 2000-01-13 | Hybrid-leistungs-mosfet für hohe stromtragfähigkeit |
EP00907426A EP1145424B1 (de) | 1999-01-22 | 2000-01-13 | Hybrid-leistungs-mosfet für hohe stromtragfähigkeit |
US09/911,167 US6535050B2 (en) | 1999-01-22 | 2001-07-23 | Hybrid power MOSFET for high current-carrying capacity |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19902519A DE19902519C2 (de) | 1999-01-22 | 1999-01-22 | Hybrid-Leistungs-MOSFET für hohe Stromtragfähigkeit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19902519A1 DE19902519A1 (de) | 2000-08-24 |
DE19902519C2 true DE19902519C2 (de) | 2002-04-18 |
Family
ID=7895107
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19902519A Expired - Fee Related DE19902519C2 (de) | 1999-01-22 | 1999-01-22 | Hybrid-Leistungs-MOSFET für hohe Stromtragfähigkeit |
DE50003991T Expired - Lifetime DE50003991D1 (de) | 1999-01-22 | 2000-01-13 | Hybrid-leistungs-mosfet für hohe stromtragfähigkeit |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE50003991T Expired - Lifetime DE50003991D1 (de) | 1999-01-22 | 2000-01-13 | Hybrid-leistungs-mosfet für hohe stromtragfähigkeit |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6535050B2 (de) |
EP (1) | EP1145424B1 (de) |
DE (2) | DE19902519C2 (de) |
WO (1) | WO2000044088A1 (de) |
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EP1145424B1 (de) | 2003-10-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |