DE19841582A1 - Verwendung einer Kupfer-Chrom-Legierung - Google Patents
Verwendung einer Kupfer-Chrom-LegierungInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft die Verwendung einer sprühkompaktierten Kupfer-Chrom-Legierung, bestehend aus 10 bis 50% Chrom, Rest Kupfer und üblichen Verunreinigungen, als Kontaktwerkstoff in Vakuum-Leistungsschaltern. DOLLAR A Gegenüber einem bisher pulvermetallurgisch hergestellten Kontaktwerkstoff bietet die Herstellung nach dem Sprühkompaktier-Verfahren besondere Vorteile.
Description
Die Erfindung betrifft die Verwendung einer sprühkompaktierten
Kupfer-Chrom-Legierung als Kontaktwerkstoff in Vakuum-Lei
stungsschaltern.
Zum Überlastungsschutz in der elektrischen Mittelspannungs
technik (1 bis 36 kV) finden sogenannte Vakuum-Leistungsschal
ter Verwendung (vgl. beispielsweise den Abschnitt 8.4.1.2-
Vakuumleistungsschalter - und das Bild 8.17 auf den S. 211
bis 213 des Buches "Werkstoffe für elektrische Kontakte und
ihre Anwendungen" von K.-H. Schröder et al., expert-Verlag,
1992). Bei diesen Schaltern werden im Überlastungsfall zwei
Kontakte im Vakuum auseinandergezogen. Dabei entsteht ein
Lichtbogen, bei dem nahezu ausschließlich Metalldampf als
Ladungsträger zur Verfügung steht (Metalldampfbogen). Die
Zeitdauer, für die der Lichtbogen existiert, hängt u. a. davon
ab, in welchem Phasenabschnitt des Wechselstromverlaufs die
Trennung der Kontakte erfolgt. Das Kontaktmaterial hat dabei
zwei Hauptfunktionen: Zum einen soll auch nach einer Vielzahl
von Schaltvorgängen gewährleistet sein, daß spätestens beim
nächsten Stromnulldurchgang dieser Lichtbogen abreißt, so daß
er maximal für eine halbe Periodendauer existieren kann (Aus
schaltvermögen). Andererseits darf der Lichtbogen nicht zu
früh vor dem Stromnulldurchgang abreißen, da sonst Überspan
nungen im Netz induziert werden.
Im einzelnen ergeben sich folgende Anforderungen an den Kon
taktwerkstoff:
Damit auch nach einer hohen Anzahl von Schaltvorgängen
gewährleistet ist, daß der Lichtbogen spätestens beim
nächsten Stromnulldurchgang nach Öffnen des Schalters
abreißt und nicht erneut entsteht, muß die Oberfläche des
Kontaktbauteils möglichst eben sein. Reines Kupfer würde
aufgrund von Ausdampfungen durch den Lichtbogen Krater in
der Oberfläche aufweisen, so daß das elektrische Feld
zwischen den Kontakten inhomogen wird. An Oberflächen
erhebungen können so lokale Feldstärkeerhöhungen auftre
ten, die das Abreißen des Lichtbogens erschweren.
Der Abriß des Lichtbogens erfolgt nicht genau beim Null
durchgang, sondern bereits bei einer werkstoffspezifi
schen Reststromstärke ("Chopping-Level"). Je höher diese
Abrißstromstärke ist, desto höher ist die Gefahr von
Überspannungen in induktiven Stromkreisen. Angestrebt
werden möglichst kleine Abrißstromstärken.
Aufgrund der extremen Temperaturbelastung durch den
Lichtbogen ist eine ausreichende Verdampfungsenthalpie
des verdampfenden Kontaktmaterials vorzusehen. Je höher
diese Verdampfungsenthalpie ist, desto größer ist die
Kühlwirkung für das Kontaktmaterial.
Diese Anforderungen werden hinreichend durch Werkstoffe aus
CuCr-Legierungen erfüllt, in denen homogen verteilte Cr-halti
ge Phasen dispers in einer Cu-Matrix eingebettet sind. Diese
Cr-Ausscheidungen wirken aufgrund ihres hohen Schmelzpunktes
formstabilisierend auf den Kontaktkörper, da sie bei Verdamp
fung der Cu-Phase durch den Lichtbogen als "Skelett" zurück
bleiben (hohes Ausschaltvermögen). Gleichzeitig senken die Cr-
Ausscheidungen die Lichtbogenabrißstromstärke ("Chopping-
Level") von Werten zwischen 10 und 15 A bei reinem Cu auf
Werte deutlich unter 10 A. Der hohe Cu-Anteil im Matrixwerk
stoff gewährleistet eine ausreichende elektrische Leitfähig
keit. Die hohe Verdampfungsenthalpie von Cu wirkt ausreichend
kühlend auf den gesamten Kontaktkörper.
Da sich Legierungen mit hohen Cr-Gehalten bei Erstarrungs
prozessen aus der Schmelze extrem seigerungsanfällig verhal
ten, sind die oben beschriebenen Werkstoffe zur Verwendung in
Vakuum-Leistungsschaltern nicht mit üblichen Kokillen-Gieß
verfahren herzustellen. Eine homogene und feine Verteilung von
Cr-Phasen wäre so nicht zu erzielen.
Nach dem heutigen Stand der Technik wird dieses Problem da
durch gelöst, daß diese Kontaktbauteile pulvermetallurgisch
aus Metallpulvergemischen durch Pressen mit Sintervorgang
sowie spanender Endbearbeitung gefertigt werden. Diese so
gefertigten Bauteile weisen jedoch eine inhomogene Verteilung
der Cr-Partikel auf, deren Größe und Streuung mit Durchmessern
von ca 80 bis ca 120 µm sehr groß ist. Dies beeinflußt das
Ausschaltvermögen nachteilig. Schon die Prozesse des Pulver
handlings, der Pulveraufbewahrung, der -dosierung und -förde
rung sowie insbesondere des Pulvermischens, sind verfahrens
technisch als sehr aufwendig einzustufen. Hinzu kommt, daß
jedes Kontaktbauteil einzeln durch den pulvermetallurgischen
Sintervorgang urgeformt werden muß. Wünschenswert ist ein mehr
an die klassische Halbzeugfertigung angelehnter Herstellungs
prozeß, bei dem das Kontaktbauteil aus einem Stangen- oder
Rohrhalbzeug in großen Stückzahlen effektiv gefertigt werden
kann.
Es stellt sich daher für die vorliegende Erfindung die Auf
gabe, einen Werkstoff für oben genannte Kontaktbauteile vor
zuschlagen, der eine homogenere und feinere Partikelverteilung
aufweist und durch den der fertigungstechnische Aufwand der
pulvermetallurgischen Herstellung umgangen wird, so daß die
effektivere und kostengünstigere Halbzeugfertigung von Rohren
oder Stangen möglich ist.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Verwendung einer
sprühkompaktierten Kupfer-Chrom-Legierung gelöst, die aus 10
bis 50% Chrom, Rest Kupfer und üblichen Verunreinigungen
besteht (die Prozentangabe bezieht sich auf das Gewicht).
Der Urformprozeß für den Kontaktwerkstoff erfolgt damit durch
Sprühkompaktieren (vgl. den sogenannten "OSPREY"-Prozeß bei
spielsweise nach den GB-PSen 1.379.261/1.599.392 oder EPS
0.225.732).
Als Vorform bieten sich Bolzen an, die durch Strangpressen zu
Rohren oder Stangen warmumgeformt werden. Nach ggf. einer
Kaltumformung (z. B. Richten) und Wärmebehandlung werden die
Kontaktbauteile spanend gefertigt.
Trotz dieses gegenüber dem bisherigen Verfahren sehr verein
fachten Fertigungsganges weisen die Kontaktbauteile aus sprüh
kompaktiertem Vormaterial im Vergleich zu pulvermetallurgisch
gefertigten Kontakten ebenbürtige, z. T. sogar überragende
Eigenschaften auf. Erprobungen brachten ein verbessertes
Ausschaltvermögen zutage, das auf die feineren und homogener
verteilten Cr-Ausscheidungen und der damit verbundenen, ver
besserten Formstabilität der Kontaktfläche zurückzuführen ist.
Auch "Chopping-Level", elektrische Leitfähigkeit und Kontakt
erwärmung genügen den Anforderungen und stehen den Eigenschaf
ten der herkömmlichen, pulvermetallurgisch hergestellten
Kontaktkörpern um nichts nach.
Bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung ergeben sich nach
den Ansprüchen 2 bis 6.
Die Erfindung wird anhand des folgenden Ausführungsbeispiels
näher erläutert:
Das Sprühkompaktieren einer CuCr-Schmelze mit einem Cr-Anteil von 25 Gewichts-% erfolgte auf einen Bolzendurchmesser von 210 mm, Länge: 240 mm. Der Bolzen wurde nach Überdrehen und Sägen (∅ 200 mm × 200 mm) bei 750°C durch Strangpressen zu einem Rohr der Abmessung ∅ 60 mm × ∅ 35 mm × 2000 mm gepreßt. Die anschließende Drehbearbeitung zu Kontaktringen (∅ 59 mm × ∅ 36 mm × 3 mm) erfolgte direkt aus dem Preßrohr. Der Kontakt ring zeigte eine elektrische Leitfähigkeit von 25 MS/m und eine Härte von HB 105. Die Cr-Ausscheidungen lagen homogen verteilt mit Durchmessern von 10 etwa µm vor. Eine Wärmebe handlung war nicht erforderlich.
Das Sprühkompaktieren einer CuCr-Schmelze mit einem Cr-Anteil von 25 Gewichts-% erfolgte auf einen Bolzendurchmesser von 210 mm, Länge: 240 mm. Der Bolzen wurde nach Überdrehen und Sägen (∅ 200 mm × 200 mm) bei 750°C durch Strangpressen zu einem Rohr der Abmessung ∅ 60 mm × ∅ 35 mm × 2000 mm gepreßt. Die anschließende Drehbearbeitung zu Kontaktringen (∅ 59 mm × ∅ 36 mm × 3 mm) erfolgte direkt aus dem Preßrohr. Der Kontakt ring zeigte eine elektrische Leitfähigkeit von 25 MS/m und eine Härte von HB 105. Die Cr-Ausscheidungen lagen homogen verteilt mit Durchmessern von 10 etwa µm vor. Eine Wärmebe handlung war nicht erforderlich.
Claims (6)
1. Verwendung einer sprühkompaktierten Kupfer-Chrom-Legie
rung, bestehend aus 10 bis 50% Chrom, Rest Kupfer und
üblichen Verunreinigungen, als Kontaktwerkstoff in
Vakuum-Leistungsschaltern.
2. Verwendung einer Kupfer-Chrom-Legierung nach Anspruch 1,
bestehend aus 25 bis 50% Chrom, Rest Kupfer und üblichen
Verunreinigungen, für den Zweck nach Anspruch 1.
3. Verwendung einer Kupfer-Chrom-Legierung nach Anspruch 1
oder 2 mit maximalen Gasgehalten von 4 ppm für H2, 80 ppm
für N2 und 2000 ppm für O2 für den Zweck nach Anspruch 1.
4. Verwendung einer Kupfer-Chrom-Legierung nach einem oder
mehreren der Ansprüche 1 bis 3, die eine Brinellhärte HB
< 100 aufweist, für den Zweck nach Anspruch 1.
5. Verwendung einer Kupfer-Chrom-Legierung nach einem oder
mehreren der Ansprüche 1 bis 4, die eine elektrische
Leitfähigkeit von 22 bis 35 MS/m aufweist, für den Zweck
nach Anspruch 1.
6. Verwendung einer Kupfer-Chrom-Legierung nach einem oder
mehreren der Ansprüche 1 bis 5, bei welcher der Durch
messer der chromhaltigen Ausscheidungen < 50 µm, vorzugs
weise etwa 10 µm, beträgt, für den Zweck nach Anspruch 1.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998141582 DE19841582C2 (de) | 1998-09-11 | 1998-09-11 | Verwendung einer Kupfer-Chrom-Legierung |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE1998141582 DE19841582C2 (de) | 1998-09-11 | 1998-09-11 | Verwendung einer Kupfer-Chrom-Legierung |
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Publication Number | Publication Date |
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DE19841582A1 true DE19841582A1 (de) | 2000-03-16 |
DE19841582C2 DE19841582C2 (de) | 2002-07-18 |
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ID=7880611
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE1998141582 Expired - Fee Related DE19841582C2 (de) | 1998-09-11 | 1998-09-11 | Verwendung einer Kupfer-Chrom-Legierung |
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Country | Link |
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DE (1) | DE19841582C2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112658243A (zh) * | 2020-11-21 | 2021-04-16 | 陕西斯瑞新材料股份有限公司 | 一种CuW/CuCr整体触头的制备方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5480472A (en) * | 1990-08-02 | 1996-01-02 | Kabushiki Kaisha Meidensha | Method for forming an electrical contact material |
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1998
- 1998-09-11 DE DE1998141582 patent/DE19841582C2/de not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US5480472A (en) * | 1990-08-02 | 1996-01-02 | Kabushiki Kaisha Meidensha | Method for forming an electrical contact material |
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CN112658243A (zh) * | 2020-11-21 | 2021-04-16 | 陕西斯瑞新材料股份有限公司 | 一种CuW/CuCr整体触头的制备方法 |
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DE19841582C2 (de) | 2002-07-18 |
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