DE19823943C2 - Schaltungsanordnung für Burn-In-Systeme zum Testen von Bausteinen mittels eines Boards - Google Patents

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung für Burn-In-Systeme zum Testen von Bausteinen mittels eines Boards, bei der die Bausteine matrixartig in den Boards angeordnet und in diesen an Eingabe-/Ausgabe-Kanäle (4, 5) anschaltbar und gruppenweise durch Scan-Signale (1) aktivierbar sind. Dabei ist jeweils ein Scan-Signal über eine Diode (2, 3) zwei Eingabekanälen zur Aktivierung der Eingabe-/Ausgabe-Kanäle (4, 5) zugeordnet.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung für Burn-In-Systeme zum Testen von Bausteinen mittels eines Boards, bei der die Bausteine matrixartig in den Boards ange­ ordnet und in diesen an Eingabe-/Ausgabe-Kanäle anschaltbar und gruppenweise durch Scan-Signale aktivierbar sind.

Eine derartige Schaltungsanordnung ist beispielsweise aus DE 196 10 123 C1 bekannt. Bei dieser bekannten Schaltungsan­ ordnung wird zunächst ein von Bausteinen leeres Board auf seine Funktionalität überprüft. Dann werden in das Board nacheinander Bausteine eingesetzt, und nach jedem Einsetzen eines Bausteines wird ein erneuter Test vorgenommen, um so fehlerhafte Bausteine und gegebenenfalls auch Sockel fest­ stellen zu können.

Bei testenden Burn-In-Systemen, also Systemen, in denen Bau­ steine auf Fehlerfreiheit unter Hochtemperaturbedingungen in der Größenordnung von 130°C überprüft werden, und die eine geringe Anzahl von Eingabe-/Ausgabe-Kanälen für die Bausteine aufweisen, ist die Anzahl der Bausteine pro Board bzw. Prüf­ tafel nicht nur durch die Sockelgröße der jeweiligen Baustei­ ne, sondern auch durch die Anzahl der zur Verfügung stehenden Scan-Signale begrenzt. Scan-Signale oder auch "Enable"-Signa­ le bzw. Freigabesignale werden in testenden Burn-In-Systemen dazu benutzt, eine Gruppe von zu testenden Bausteinen zur Be­ wertung aktiv zu schalten.

In testenden Burn-In-Systemen wird praktisch immer die maxi­ mal mögliche Anzahl von Eingabe-/Ausgabe-Kanälen dieser Sy­ steme benutzt. Als Beispiel sei ein Burn-In-System angeführt, das 64 Eingabe-/Ausgabe-Kanäle hat. Werden in einem solchen Burn-In-System Bausteine mit 16 Datenein- bzw. -ausgängen ge­ testet, so können damit vier Bausteine ("4 × 16 = 64") paral­ lel bewertet werden.

Nun ist aber in solchen testenden Burn-In-Systemen die Anzahl der Scan-Signale ebenfalls begrenzt und beträgt maximal je nach System etwa 32 bis 40 Signale. Damit ist es dann mög­ lich, in einem Board 160 Bausteine ("4 × 40") zu testen, so daß hier eine maximale Boarddichte von ca. 160 Bausteinen vorliegt.

Bei Bausteinen mit 4 oder 8 Datenausgängen, also bei "× 4" oder "× 8" organisierten Bausteinen, beträgt dagegen die Boarddichte, begrenzt durch die Sockelgröße, etwa 256.

Bisher wurden für die einzelnen Baustein-Konfigurationen je­ weils für jede Konfiguration speziell Boards entwickelt, die an die Anforderungen dieser Konfigurationen angepaßt sind. Da in jüngster Zeit speziell bei SDRAM-Bausteinen in einem Ge­ häusetyp verschiedene Konfigurationen untergebracht sind, ist die Entwicklung gesonderter Boards für jede dieser Konfigura­ tionen äußerst aufwendig. Es wäre daher vorteilhaft, wenn Bausteine, die im gleichen Gehäusetyp untergebracht sind, mit nur einem Board in einer Schaltungsanordnung für Burn-In- Systeme getestet werden könnten.

Es ist daher Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Schal­ tungsanordnung für Burn-In-Systeme zum Testen von Bausteinen mittels eines Boards zu schaffen, in welcher auch höher orga­ nisierte Bausteine als bisherige Bausteine mit der gleichen Boarddichte getestet und geburnt werden können.

Diese Aufgabe wird bei einer Schaltungsanordnung der eingangs genannten Art erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß ein Scan- Signal über jeweils eine erste bzw. eine zweite Diode bzw. Eingabekanälen zur Aktivierung der Eingabe-/Ausgabe-Kanäle zugeordnet ist.

Durch die Verwendung der Dioden in Verbindung mit den Scan- Signalen können so beispielsweise "× 16"-organisierte Baustei­ ne mit der gleichen Boarddichte wie "× 4"- oder "× 8"- organisierte Bausteine getestet und geburnt werden.

Werden speziell zwei Dioden und damit über diese geführte zwei Systemsignale verwendet, so können die "× 16"- organisierten Bausteine als "× 8"-Bausteine getestet werden. Voraussetzung ist dabei lediglich, daß bei dem "× 16"- organisierten Baustein wenigstens zwei Bausteinanschlüsse für die Aktivierung der Datenausgänge vorhanden sind, was bei­ spielsweise für die bisherigen SDRAMs zutrifft.

Beim Schreiben von Daten in einen solchen SDRAM-Speicher wer­ den so über die beiden Bausteinanschlüsse zwei Clocks bzw. Takte aktiviert, so daß die Information über alle 16 Daten­ eingänge eingeschrieben wird. Beim Lesen der Daten werden zu­ erst ein Clock und damit die diesem Clock zugeordneten acht Datenausgänge aktiviert und bewertet, worauf sich der zweite Clock mit dem diesen zugeordneten anderen acht Datenausgängen anschließt.

Vorteilhaft an der Erfindung ist insbesondere, daß unabhängig von der Organisation ("× 4", "× 8" oder "× 16") nur noch ein Burn-In-Board für alle Konfigurationen verwendet werden kann. Dies ist für die Fertigung von großem Vorteil, da diese so­ fort an Neuentwicklungen oder sonstige Veränderungen in der Konfiguration der Bausteine anpaßbar ist.

Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Zeichnung näher er­ läutert, in deren einziger Figur die erfindungsgemäße Schal­ tungsanordnung schematisch gezeigt ist.

In der Figur ist ein Anschluß 1 gezeigt, an welchem ein Scan- Signal anliegt, das über zwei Dioden 2, 3 Eingabekanälen 4, 5 zur Aktivierung der Datenein-/ausgänge zugeführt ist, an de­ nen Clocks bzw. Taktsignale CLK11, CLK10 anliegen und die mit Bausteinanschlüssen LDQM und UDQM verbunden sind. Die Knoten­ punkte zwischen den Clocks und den Scan-Signalen sind jeweils über Widerstände 6, 7 von etwa 500 Ohm mit Masse GND verbun­ den. Die Clocks CLK10, CLK11 sind ihrerseits ebenfalls über Dioden 8, 9 zugeführt.

Bei der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung wird also das Scan-Signal über die Dioden 2, 3 auf beide Eingabekanäle 4, 5 "verteilt", so daß in gleicher Weise auch höher organisierte Bausteine als beispielsweise "× 8"-organisierte Bausteine mit der gleichen Boarddichte getestet und geburnt werden können.

Claims (2)

1. Schaltungsanordnung für Burn-In-Systeme zum Testen von Bausteinen mittels eines Boards, bei der die Bausteine matrixartig in den Boards angeordnet und in diesen an Eingabe-/Ausgabe-Kanäle (4, 5) anschaltbar und gruppen­ weise durch Scan-Signale (1) aktivierbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß ein Scan-Signal (1) über jeweils eine erste bzw. eine zweite Diode (2, 3) zwei Eingabekanälen zur Aktivierung der Eingabe-/Ausgabe-Kanäle (4, 5) zugeordnet ist.

2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Baustein ein Speicher ist, und daß beim Schrei­ ben von Daten in den Speicher beide einem Scan-Signal zugeordnete Eingabekanäle gleichzeitig und beim Lesen von Daten aus dem Speicher diese Eingabekanäle (4, 5) sequentiell aktivierbar sind.