DE19652113A1 - Echtzeitinterferometer mit "phase shift"-Auswertung in "single-frame"-Technik - Google Patents
Echtzeitinterferometer mit "phase shift"-Auswertung in "single-frame"-TechnikInfo
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Description
Der Erfindung liegt die Aufgabe zu Grunde, Interferogramme im Videotakt auszuwerten.
Dabei soll das Phasenschiebe-Verfahren angewandt werden, welches hochgenaue
Auswertungen der Phase erlaubt und nicht auf ein Streifeninterferogramm zurückgreift. Bei der
Phasenschiebe-Interferometrie werden mindestens 3 Intensitätsbilder der gleichen
Objektphasenverteilung benötigt, die sich bezüglich Ihrer Referenzphasenlage unterscheiden.
Typischerweise werden Intensitätsbilder mit Vielfachen von π/2 dazu verwendet. Gewöhnlich
werden diese unterschiedlichen Intensitätsbilder zeitlich nacheinander erzeugt und in einem
angeschlossenen Rechner gespeichert und verarbeitet. Dabei werden moderne Array-
Empfänger, sogenannte CCD-Arrays, eingesetzt, die es erlauben, Datensätze mit bis zu
1000×1000 Intensitätswerten aufzunehmen. Moderne Arrays ermöglichen sogar mehr als das
4-fache dieser Datenmenge, weshalb es verständlich erscheint, daß man mit einem Bild parallel
mehrfach erzeugte phasengeschobene Intensitätsbilder der gleichen Phasenverteilung aufnimmt
und einer Bearbeitung zuführt.
Zur Erzeugung von phasenverschobenen Interferenzbildern der gleichen Objektverteilung
lassen sich unter anderem polarisationsoptische Mittel einsetzen. Durch unterschiedliche
Polarisationsindizierung der beiden Strahlengänge lassen sich die Phasenlagen der beiden
Strahlengänge noch nach Verlassen eines Polarisationsinterferometers beeinflussen. Da das
Licht zwei orthogonale Polarisationen haben kann, lassen sich diese relativ zueinander
verschieben, indem Phasenplatten geeigneter Orientierung vor einen Polarisator geschaltet
werden, der letztendlich die beiden orthogonalen Wellen zur Interferenz zwingt. Man hat also
die Aufgabe zu lösen, den Ausgang eines Polarisationsinterferometers geeignet zu
vervielfältigen, wobei man aus Zweckmäßigkeitsgründen sich auf die Mindestzahl drei
beschränken wird, um eine möglichst hohe Informationsdichte pro Einzelbild zu gewährleisten.
Unter den Vervielfältigungsmöglichkeiten sind besonders diejenigen technisch interessant, die
ein Minimum an Aufwand bei einem Maximum an Justiertoleranz garantieren. Hier wird
deshalb vorgeschlagen, daß man ein spezielles Phasengitter in den teleskopischen
Abbildungsstrahlengang im Interferometerausgang (Fig. 1) einbringt. Dieses Gitter soll so
entworfen sein, daß im wesentlichen nur die drei niedrigsten (-1.,0.,+1.) Beugungsordnungen
mit Licht beliefert werden und obendrein auch noch mit gleicher mittlerer Intensität versehen
sind. Ein solches Phasengitter läßt sich in Form eines sogenannten binären Ronchi-Gitters
auslegen, wobei die phaseschiebenden Bereiche die gleiche laterale Weite haben sollen wie die
nichtschiebenden. Durch geeignete Wahl der Furchentiefe kann man die Gleichverteilung der
Intensität über diese 3 Ordnungen erzwingen. Wenn das Gitter in der Nähe der Fokalebene der
Objektivlinse der teleskopischen Abbildungseinheit im Ausgang des Interferometers
angeordnet wird, erhält man eine äquidistante Verdreifachung des auszuwertenden
Interferenzbildes. Durch Drehen des Gitters relativ zum CCD-Array ist eine zeilentreue
Abbildung der drei Bilder erreichbar. Durch Wahl der Vergrößerung des Teleskops läßt sich
die CCD-Fläche optimal ausnutzen.
Man kann dann drei Interferenzbilder (I1, I2, I3) erhalten, die sich in der Phase jeweils um π/2
voneinander unterscheiden. Aus diesen Interferenzbildern folgt dann Pixel für Pixel ein
Phasenbild mod 2π aus der folgenden Formel:
Insbesondere ist an die Auswertung schnellablaufender Vorgänge gedacht, die durch
Mehrfachbelichtungen zeitliche Zustandsänderungen sichtbar machen. Solche
Aufgabenstellungen sind von der Hologramminterferometrie her bekannt und insbesondere
auch von der Speckleinterferometrie. Bei letzterer Methode wird kein photographisches
Speichermedium benötigt, da das stochastische Specklebild als Informationsträger für globale
Phasenänderungen benutzt werden kann.
Insbesondere lassen sich auch mit solch schnellen Aufnahmetechniken Höhenschichtlinien
erzeugen, selbst wenn das Objekt zeitlich im Raum nicht hinreichend stabilisiert werden kann.
Zur Erzeugung von Schichtlinien sind Zwei-Wellenlängenmethoden eingeführte Technologien.
Man hat nun dafür zu sorgen, daß zwei Sätze von jeweils 3 Aufnahmen in kurzem Zeitabstand
oder gleichzeitig auf dem gleichen Empfängerframe untergebracht werden können.
Zu diesem Zweck kann man mittels Shutter das Array in zwei Subaperturen zerlegen, die sich
abwechselnd schalten lassen und auf diese Weise zwei getrennte Auswertungen zulassen. Zur
Vervielfältigung hat man dabei das diffraktive Element in der orthogonalen Dimension zur
Dreiteilung derart zu strukturieren, daß nur die jeweils ersten Beugungsordnungen auftreten.
Durch geeignete Wahl der Periode des DOE und der Brennweiten im teleskopischen System
kann man für eine angepaßte Bildaufteilung sorgen.
Bei Zwei-Wellenlängenmethoden kann der Shutter auch durch ein zweigeteiltes
Interferenzfilter mit unterschiedlichen und angepaßten Paßbändern ersetzt werden. Das
ermöglicht auch die gleichzeitige Einstrahlung der beiden Wellenlängen in das Interferometer,
wodurch sich der elektronische Aufwand vermindert.
Zweckmäßigerweise wird man mit gepulster Beleuchtung arbeiten, um auf diese Weise
Interferometrie in gestörten Umgebungen machen zu können. Der Frame-Impuls der Kamera
kann dann die benötigten Laserblitze auslösen.
Auf die Speckleinterferometrie angewandt, hat das Verfahren z. B. die folgende Ausprägung.
Das Licht von einem Laser wird mittels einer Polarisationsoptik in zwei senkrecht zueinander
polarisierte Bündel geteilt, die in polarisationserhaltende Einmodenfasern eingekoppelt werden.
Die eine Faser wird zur Objektbeleuchtung benutzt während die andere Faser Licht in das
abbildende Objektiv einkoppelt. Damit hat man zwei senkrecht zueinander polarisierte Wellen
erzeugt, die durch einen Polarisator zur Interferenz gebracht werden können. Für das
Funktionieren der Speckleinterferometrie muß die Beobachtungsapertur hinreichend
eingeschränkt werden und außerdem der offset Winkel der Referenzwelle ausreichend klein
gehalten werden, damit die CCD-Kamera das Speckle-Korn hinreichend auflösen kann. Das
Objekt wird in die Kameraebene scharf abgebildet, wobei in dem teleskopischen
Abbildungssystem die diffraktive Vervielfältigungseinheit in Nähe der Fourierebene des
Frontobjektivs angeordnet werden muß. Die doppelbrechenden Phasenplatten sowie das
Polarisationsfilter werden direkt vor der Chipebene der Kamera oder in einer
Zwischenbildebene angeordnet. Auf das Polarisationsfilter folgt dann je nach Anwendung
entweder der Verschluß oder ein geeignetes zweigeteiltes Interferenzfilter.
Claims (6)
1. Verfahren zur schnellen automatisierten Auswertung von Phasenverteilungen in
Interferometern, dadurch gekennzeichnet, daß in geeigneter Weise am Interferometerausgang
3 oder mehr Interferenzbilder der gleichen Phasenverteilung mit unterschiedlicher mittlerer
Referenzphase erzeugt werden und parallel detektiert und ausgewertet werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Interferometer als
Polarisationsinterferometer mit orthogonal polarisierten Teilstrahlengängen ausgelegt wird, die
durch nachgeschaltete doppelbrechende Phasenplatten geeigneter Orientierung in ihrer
relativen Phasenlage beeinflußt werden können.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vervielfältigung der
Austrittspupille des Interferometers mit einem geeignet strukturierten diffraktiven Element als
Bestandteil des teleskopischen Abbildungssystems vorgenommen wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1-3, dadurch gekennzeichnet, daß vor dem Photodetektorfeld
ein Polarisator zur Erzeugung des Interferenzbildes und ein optoelektronisch schaltbarer
Verschluß angeordnet wird, der wahlweise eine Halbapertur freigibt bzw. verschließt.
5. Verfahren nach Anspruch 1-3, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Verwendung von
zwei oder mehreren Wellenlängen im Interferometer ein geteiltes Interferenzfilter vor den
Photodetektor geschaltet wird, dessen eine Hälfte für die eine Wellenlänge und dessen andere
Hälfte auf die benachbarte Wellenlänge abgestimmt ist und so in Kombination mit einem
zweidimensionalen diffraktiven Element die parallele Auswertung von z. B. 2 mal 3
Interferenzbildern auf demselben Detektorfeld ausreichender Pixelzahl gestattet.
6. Verfahren nach Anspruch 1-5, dadurch gekennzeichnet, daß das diffraktive
Phasenelement in zwei orthogonalen Richtungen derart strukturiert ist, daß in der einen
Richtung die ersten drei Beugungsordnungen gleichintensiv auftreten und in der dazu
orthogonalen Richtung die plus/minus erste Beugungsordnung auftreten und daß durch
passende Abstimmung der Perioden eine saubere und optimale Bildtrennung erfolgt.
Priority Applications (1)
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Publications (1)
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- 1996-12-14 DE DE1996152113 patent/DE19652113A1/de not_active Withdrawn
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