DE1953687A1 - Verfahren zum Regeln der Fokussierung beim Elektronenstrahlschweissen - Google Patents
Verfahren zum Regeln der Fokussierung beim ElektronenstrahlschweissenInfo
- Publication number
- DE1953687A1 DE1953687A1 DE19691953687 DE1953687A DE1953687A1 DE 1953687 A1 DE1953687 A1 DE 1953687A1 DE 19691953687 DE19691953687 DE 19691953687 DE 1953687 A DE1953687 A DE 1953687A DE 1953687 A1 DE1953687 A1 DE 1953687A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- focusing
- electron beam
- current
- curve
- welding
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K15/00—Electron-beam welding or cutting
- B23K15/02—Control circuits therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/21—Means for adjusting the focus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
- H01J37/3002—Details
- H01J37/3005—Observing the objects or the point of impact on the object
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Welding Or Cutting Using Electron Beams (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
Β·2948.3 PP
CP 314-791
München, 24· Oktober 1969 Dr.M./raj
schweißen
Die Erfindung betrifft ein Verfahren turn Regien der Fokussierung
beim Elektronenstrahlschweißen, das gleichzeitig das Peststellen bzw. Aufsuchen der verschiedenen Schweißparameter ermöglicht.
Eine vichtige und schwierige Aufgabe liegt beim Elektronenstrahlschweißen darin, eine Schveißung mit gegebenen Eigenschaften
zu reproduzieren« Um zvei identische Schveißungen an zwei etvas auseinander liegenden Tagen mit ein und demselben Elektronenstrahl«
erzeuger auszuführen, muß man die verschiedenen Schweißparameter genau reproduzieren. Insbesondere ist es unbedingt erforderlich,
daß der Einschnürungsquerschnitt oder Hals des Elektronenbündels wieder genau die gleiche Lage bezüglich der Oberfläche des zu
behandelnden Werkstücks oder Auffängers einnimmt. Andererseits aber verändern sich die Kenneigenschaften des Slektronenstrahlerzeugers im zeitlichen Verlauf rasch« sodaß die Gefahr besteht,
daß für einen gleichen durch die elektromagnetische Fokussierung»·
109820/0169
BAD ORIGINAL
spule gehenden Fokussierungsstrom der Einschnürungsquer schnitt des Bündels nicht mehr die gleiche Stellung einnimmt, sodaß die
erhaltenen Schweißnähte verschieden sind. Man kann sich daher nicht damit zufrieden geben, dem Elektronenstrahlerzeuger die
gleiche Stellung bezüglich des Auffängers zu geben, und es ist erforderlich,die Lage des Einschnürungsquerschnitts genau zu
orten. Nachdem bisherigen Verfahren versucht man, durch Experimente und empirisch den Einschnürungsquerschnitt auf die Oberfläche
des zu schweißenden Werkstücks oder Auffängers einzustellen. Zu diesem Zveck stellt der Experimentator eine Schmelzlinie
auf einem Auffänger gleicher Zusammensetzung vie das zu schweißende Stück her. Die vom geschmolzenen Metall ausgesandten
Dämpfe werden im EleWronenstrahlbündelionisiert, das sich färbt
und sichtbar wird. Der Experimentator stellt den Fokussierungsstrom
so ein, daß der Einschnürungspunkt des Bündels auf die Oberfläche des Auffängers eingestellt wird.
Ein solches Verfahren ist empirisch/und seine Genauigkeit hängt
von der Geschicklichkeit und dem Können des Experimentators, derArt des zu schweißenden Metalls, der für das Schweißen eingesetzten
Leistung usw. ab, sodaß die Reproduzierbarkeit der Schweißungen nicht gegeben sondern vom Zufall abhängig ist.
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zu Grunde, diese Nachteile zu beheben und eine Regelung der Fokussierung zu ermöglichen.
Die Erfindung beruht auf dem im folgenden dargelegten Prinzip und geht für die gewünschte Regelung aus von einer graphischen
Registrierung.
Angenommen ein Elektronenstrahlbündel, dessen sämtliche Eigenschaften,
außer der Fokussierung, als unveränderlich angenommen
109820/Q869
!AVH^rri', GAG
BAD ORIGINAL
verden, trifft auf einen metallischen Auffanger bekannter Zu-. sammensetzung, so kann dieser Auffänger sich erhitzen oder bei
Raumtemperatur verbleiben, je nachdem er gekühlt vird und je nach der Größe der Energiezufuhr durch die vom Elektronenstrahlerzeuger gelieferten Elektronen.
Wenn die Bedingungen so sind» daß sich der Auffänger nicht ervärmt, schlagen die einfallenden Elektronen auf dem Auffänger
auf und dringen in das Metall ein« Einige Elektronen bleiben dort fixiert, vährend andere austreten; dies sind einerseits
die mit hoher Energie zurückgestreuten Elektronen und andererseits die Sekundärelektronen mit einer Energie unter
Fig. 1 faßt diese Bedingungen zusammen und zeigt, daß der durch
das Werkstück 1 gehende Strom Ip gleich der Differenz zwischen
dem vom Elektronenstrahlerzeuger 2 gelieferten auftreffenden Strom Ib und den auf die Sekundärelektronen es und die zurtickgestreuten Elektronen ep zurückgehenden Strömen I8 und I7 ist;
es gilt daher:
Die Erfahrung zeigt, daß der Strom Ip unabhängig vom Fokussierungsstrom praktisch Konstant bleibt.
Wenn dagegen die Bedingungen so sind, daß sich der Auffänger erhitzt und unter dem Aufprall der vom.Elektronenstrahlerzeuger
herkommenden Elektronen schmilzt, vird dieser Auffänger zu einem Thermoelektronenstrahler und sendet thermische Elektronen et
von geringer Energie aus, die aus de« Metall austreten (Fig.2). Der Strom im Werkstück 1 hat daher den Wert*
1P s *b * <V 1S + *t>·
109820/0869
BAD
vobei It der von den thermischen Elektronen gelieferte Strom
und Ir gleich nib ist, vor in η den Rucks treuungsfak tor
für das betrachtete Metall bedeutet.
Die Thermoelektronenemissxon unterliegt dem Gesetz von Richardson-*
Dushmann, wonach für ein gegebenes Metall der Strom thermischer Elektronen sich mit der Temperatur und -der Oberfläche des abstrählenden
Auffängers verändert. Andererseits verändern sich
bekanntlich die Tiefe und Breite der geschmolzenen Zone und damit die abstrahlende Oberfläche sowie die Temperatur des flüssigen
Bades mit der Fokussierung des Elektronenstrahlbündels. Infolgedessen
hängt It von dieser Fokussierung ab.
Außerdem verändern sich die Ir und X mit der Form, dem Zustand
der Oberfläche des Auffängers und dem Einfall der Elektronen, und da die Oberfläche des Auffängers unter dem Aufprall der Elektronen
dauernd und in einem von der Fokussierung des Bündels abhängenden Wert deformiert vird, folgt, daß 1 und Ir ebenfalls
von der Fokussierung abhängen.
Schließlich muß die Stromstärke I_ vom Fokussierungstrom Iß
abhängen, vas durch die Erfahrung bestätigt vird.
Die Erfindung bedient sich der Aufzeichnung der Kurve Ip = f(l£).
Genau gesagt schlägt die Erfindung zur Lösung der gestellten Aufgabe ein Verfahren zum Regeln der Fokussierung beim Elektronenstrahlschweißen
vor, das sich dadurch auszeichnet, daß die Kurve I « f (Ip) unter den gewählten Schveißbedingungen, d.h. bei gut
definierten Schweißparametern und insbesondere festgelegter Geschwindigkeit der Veränderung des Fokussierungsstroms, registriert
vird, die Werte des Fokussierungsstroms für einerseits eine der
109820/0869 BAD ORIGINAL
charakteristischen Spitzen dieser Kurve und andererseits die erste hergestellte Schweißung festgestellt werden, zur Reproduktion
der Schweißung die Kurve unter den gleichen Bedingungen wieder aufgezeichnet wird, der Fokussierungsstrom der gewählten
charakteristischen Spitze festgestellt und das Elektronenstrahlbündel defokussiert wird, indem der Fokussierungsstrom um einen
Wert gleich der Differenz zwischen den beiden bei der ersten Schieißung festgestellten Strömen verändert wird.
Weitere Eigenschaften und Vorteil der Erfindung ergeben sich aus
der folgenden Beschreibung mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen, die nur als Beispiel einer Ausführungsform der Erfindung
erläutern.
Es zeigen:
Es zeigen:
Die Figuren 1 und 2 schematisch die Verteilung der verschiedenen Ströme, wie oben erläutert für den Fall, daß sich der
Auffänger nicht erwärmt, bzw. daß er unter dem Aufprall der Elektronen des ELektronenstrahlerzeugers schmilzt;
Fig. 3 schematisch eine Vorrichtung zur Regelung der Fokussierung
nach dem erfindungsgemäßen Verfahren; Fig. 4 eine Kurve der Veränderung des im Auffänger fließenden
Stroms I- in Abhängigkeit vom Fokussierungsstrom 1^;
Fig· 5 eine Kurve entsprechend der der Fig. 3t worin jedoch
schematisch die Querschnitte der bei verschiedenen Fokussierungen erhaltenen Schweißungen angegeben sind.
In Fig. 3 besitzt eine zum Elektronenstrahlschweißen verwendete Vorrichtung bekannter Art ein Registriergerät 5 zur Aufzeichnung
der Kurve von I in Abhängigkeit von I£- Die Vorrichtung besitzt
in bekannter Weise eine Fokussierungsspule 3» während mit.4 ein
Isolator bezeichnet ist. Als Elektronenstrahlerzeuger wird ein
109820/0869
! BAD ORfGINAL
solcher nach Pierce verwendet.
Man hält konstant den Beschießungsstrom Ib, die Elektronenbeschleunigungsspannung U1 den Abstand H zwischen dem Werkstück
1 und dem Elektronenstrahlerzeuger 2 sowie die Schweißgeschwindigkeit ν.. Verändert wird mit konstanter Geschwindigkeit der Fokus sierungs strom Ip, und man registriert die Kurve I ■ £(i£)
am Registriergerät 5« Fig. 4 zeigt, daß sich der Strom L, kontinuierlich in Abhängigkeit von If verändert.
Die Kurve der Fig. 4 vurde für folgende Werte der verschiedenen
Parameter erhalten«
X^ft-viifiÖ' mA, U e 26,5 kV, V β 36 mm/min, und H = 9.5 cm;
das behandelte Stück bestand aus Flußstahl.
Für einen Auffänger von gegebener Art und Form und für, abgesehen
von der Fokussierung^konstante Werte der Parameter des Elektronen-Strahlbündels ist die am Registriergerät 5 erhaltene Kurve stets
bis auf einige Prozent die gleiche, und die den Extremwerten der Spitzen entsprechenden Werte sind praktisch feststehend und
kennzeichnend für den Fokussierungsstrom Ip, vobei die Schwankungen der Abrissen werte unter den Bedingungen der durchgeführten
Untersuchungen und nach der gewonnenen Erfahrung stets unter 1%
lagen. .
Die Untersuchungen haben gezeigt» das eine Beziehung zwischen den Abmessungen der Schweißnähte und den am Registriergerät 5
erhaltenen Kurven besteht.
Die Kurve I0 ■ f(lp) wurde für eine Geschwindigkeit O der
Veränderung von l£, d.h. Punkt £V& Punkt aufgezeichnet. Man
führt Scha·!»linien £Ur verschiedene Werte dieses Fokussierungsstrom· aus» wobei alle anderen Schweißparameter konstant bleiben.
109820/0869
Die durchgeführten Versuche zeigen, daß die Maxima und Minima der
Kurven charakteristischen Abmessungen der Schweißnähte entsprechen.
Es sei bemerkt, daß die für Punkt für Punkt aufgezeichntet Kurve
I « f Cljp) praktisch mit der durch kontinuierliche Veränderung
von Ip erhaltenen Kurve zusammenfällt, wenn die Geschwindigkeit
der Veränderung des FoKussierungsStroms gering ist.
Fig· 5 zeigt die im Fall einer kontinuierlichen und langsamen
Veränderung des Pokussierungsstroms erhaltene Kurve I « f (l£)i
vobei der Auffänger aus Flußstahl bestand. In dieser Figur
sind schematisch die Querschnitte der bei verschiedenen Fokussferungen erhaltenen Schweißnähte angegeben.
In erster Annäherung erhält man die folgenden Ergebnisse:
1. Auf den Zweigen AB und DB der Kurve erfolgt das Schmelzen
des Metalls des Auffängers durch Leitung, und die geschmolzene Zone ist ebenso breit wie tief. Auf den Zweigen BC und CD ist
die geschmolzene Zone nageiförmig; außerhalb A und E ist die Tiefe der geschmolzenen Zone zu vernachlässigen.
2. Die tiefste Schweißung wird für die dem Punkt C entsprechende Fokussierung erhalten (das ist beispielsweise der Fall einer
Zapfenschweißung)·
3. Auf dem Zweig CD verändert sich die Tiefe der Schweißnähte erheblich, und es erscheinen Lunker» Die regelmäßigsten Schweißnähte
werden auf dem Zweig BC erhalten.
4· Die Gestalten der Kurven verändert sich mit der Atomzahl
desAuffängers, sodaß die Kurven und Formen der Schweißnähte
mindestens einmal für jedes Metall oder jede Legierung verglichen werden müssen, womit die Beziehungen dann festliegen.
109820/0869 BAD
Das erfindungsgemäße Verfahren bietet den Vorteil, daß es sich unnittelbar undjunabhängig von der Geschicklichkeit des Ausführenden
und den Schweißparametern durchführen läßt. Die Messgenauigkeit ist stets besser als * 1 %.
Die verschiedenen Parameter des. Blektrönenstrahlbündels f vie
die Intensität des Beschüsses» die Elektronenbeschleunigungsspannung
und die Abstände zvischen dem Elektronenstrahlerzeuger und dem Auf fänger usw., haben einen Einfluß auf die Form der von
Registriergerät 5 gelieferten Kurve oder die Lage der Spitzen, jedoch zeigt sich praktisch die Auswirkung dieser Parameter nur
bei erheblichen Veränderungen (zufälligen Irrtümern, Zvischenfallen
beim Betrieb usw.)·
Das exßndungsgemäße Verfahren ermöglicht die unmittelbare Peststellung
von zufälligen und vesentliehen Veränderungen eines
Schweißparameters, da sich dann die Spitzen bei den verschiedenen
vorgenommenen Registrierungen verschieben oder die Form der Kurve sich verändert.
Das erfindungsgemäße Verfahren ermöglicht ferner die unmittelbare Feststellung der Bereiche des Fokussierungsstroms, die eine
bestimmte Form der Schweißnaht liefern, diejunmittelbare Bestimmung
der Fokussierung, welche für die gewählten Schweißparameter die tiefrte Schweißung liePert, und die unmittelbare Feststellung des
Bereichs des Fokussierungsstroas, der Schweißnähte mit dem Minimum
an Fehlern und einer regelmäßigen Tiefe liefert.
109820/0869 BAD ORfG^AlT °
Claims (1)
- Patentanspruch ■ 'Verfahren zum Regeln der Fokussierung beim Elektronenstrahlschweißen, dadurch gekennzeichnet, daß die Kurve I « JP (Ip) unter den gewählten Schveißbedingungen, das heißt bei gut definierten Schveißparametern und insbesondexs gut definierter Geschwindigkeit der Veränderung des FokussierungsStroms, registriert wird, di· Werte des Fokussierungsstroms Ip für einerseits kennzeichnende Spitzen dieser rurve und andererseits die erste hergestellte : Schveißung fesgestellt verden, zur Reproduktion der Schveißung di^£ürve unter den gleichen Bedingungen nachgezeichnet wird, der F^kussierungsstrora der gewählten charakteristischen Spitze festgestellt und das Elektronenstrahlbündel defokussiert vird, indem der: Fokussierungsstrom Ip umeiaen Wert gleich der Differenz zwischen den beiden bei der ersten Schveißung festgestellten Strömen verändert wird. ·109820/0869BAD ORIGINAL
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR171533 | 1968-10-25 | ||
FR171534 | 1968-10-25 | ||
FR6920832A FR2050701A6 (de) | 1968-10-25 | 1969-06-20 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1953687A1 true DE1953687A1 (de) | 1971-05-13 |
DE1953687B2 DE1953687B2 (de) | 1973-06-14 |
DE1953687C3 DE1953687C3 (de) | 1974-02-07 |
Family
ID=27244903
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1953687A Expired DE1953687C3 (de) | 1968-10-25 | 1969-10-24 | Verfahren zum Reproduzieren von Elektronenstrahlschweißungen mit gleichen Eigenschaften |
DE19691953686 Pending DE1953686B2 (de) | 1968-10-25 | 1969-10-24 | Verfahren zum kontinuierlichen ueberwachen von elektronenstrahlschweissungen |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19691953686 Pending DE1953686B2 (de) | 1968-10-25 | 1969-10-24 | Verfahren zum kontinuierlichen ueberwachen von elektronenstrahlschweissungen |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US3626144A (de) |
BE (2) | BE740164A (de) |
CH (2) | CH514390A (de) |
DE (2) | DE1953687C3 (de) |
FR (3) | FR1588067A (de) |
GB (2) | GB1246528A (de) |
LU (2) | LU59665A1 (de) |
NL (2) | NL6915990A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114527550A (zh) * | 2022-03-04 | 2022-05-24 | 四川九洲电器集团有限责任公司 | 一种高精度光学调焦机构、装置、***及设备 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2464783A1 (fr) * | 1979-09-14 | 1981-03-20 | Petroles Cie Francaise | Procede de soudage par faisceau d'electrons, a regulation par la puissance absorbee ou par la puissance traversante, ainsi que dispositif de mise en oeuvre de ce procede |
CN104289808B (zh) * | 2014-09-29 | 2016-08-03 | 中国航空工业集团公司北京航空制造工程研究所 | 电子束焊接参数确定方法和装置 |
CN108213681B (zh) * | 2016-12-14 | 2019-09-06 | 宁波江丰电子材料股份有限公司 | 靶材组件的形成方法 |
CN114523183B (zh) * | 2022-02-18 | 2022-12-16 | 中国航空制造技术研究院 | 一种交变厚度截面的动态调控电子束焊接方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2430237A (en) * | 1945-03-26 | 1947-11-04 | Gen Motors Corp | Weld analyzer |
US3054896A (en) * | 1961-01-12 | 1962-09-18 | William H Jones | Apparatus for electron beam heating control |
NL285495A (de) * | 1961-11-18 | |||
US3148265A (en) * | 1962-04-30 | 1964-09-08 | United Aircraft Corp | Means for focusing beams of charged particles |
US3158733A (en) * | 1962-09-12 | 1964-11-24 | Nat Res Corp | Focus control for electron beam heating |
US3196246A (en) * | 1962-11-29 | 1965-07-20 | Rca Corp | Means for observing a workpiece in electron beam machining apparatus |
US3389382A (en) * | 1964-04-27 | 1968-06-18 | Ibm | Electron beam readout of stored information |
US3426174A (en) * | 1965-12-09 | 1969-02-04 | United Aircraft Corp | Electron reflection seam tracker |
US3472997A (en) * | 1966-08-26 | 1969-10-14 | Us Navy | Secondary electron collection system |
US3461306A (en) * | 1967-04-27 | 1969-08-12 | Gen Electric | Electron probe microanalyzer for measuring the differential energy response of auger electrons |
-
1968
- 1968-10-25 FR FR171533A patent/FR1588067A/fr not_active Expired
- 1968-10-25 FR FR171534A patent/FR1593088A/fr not_active Expired
-
1969
- 1969-06-20 FR FR6920832A patent/FR2050701A6/fr not_active Expired
- 1969-10-13 BE BE740164D patent/BE740164A/xx unknown
- 1969-10-13 BE BE740163D patent/BE740163A/xx unknown
- 1969-10-17 LU LU59665D patent/LU59665A1/xx unknown
- 1969-10-22 LU LU59685D patent/LU59685A1/xx unknown
- 1969-10-23 GB GB51985/69A patent/GB1246528A/en not_active Expired
- 1969-10-23 GB GB1259146D patent/GB1259146A/en not_active Expired
- 1969-10-23 NL NL6915990A patent/NL6915990A/xx unknown
- 1969-10-23 NL NL6915989A patent/NL6915989A/xx unknown
- 1969-10-24 US US869199A patent/US3626144A/en not_active Expired - Lifetime
- 1969-10-24 US US869198A patent/US3627971A/en not_active Expired - Lifetime
- 1969-10-24 DE DE1953687A patent/DE1953687C3/de not_active Expired
- 1969-10-24 DE DE19691953686 patent/DE1953686B2/de active Pending
- 1969-10-24 CH CH1591269A patent/CH514390A/fr not_active IP Right Cessation
- 1969-10-24 CH CH1591369A patent/CH514391A/fr not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114527550A (zh) * | 2022-03-04 | 2022-05-24 | 四川九洲电器集团有限责任公司 | 一种高精度光学调焦机构、装置、***及设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL6915989A (de) | 1970-04-28 |
FR1593088A (de) | 1970-05-25 |
LU59665A1 (de) | 1970-01-12 |
GB1259146A (de) | 1972-01-05 |
DE1953687C3 (de) | 1974-02-07 |
GB1246528A (en) | 1971-09-15 |
DE1953686B2 (de) | 1973-03-22 |
CH514390A (fr) | 1971-10-31 |
NL6915990A (de) | 1970-04-28 |
LU59685A1 (de) | 1970-01-12 |
CH514391A (fr) | 1971-10-31 |
DE1953687B2 (de) | 1973-06-14 |
BE740163A (de) | 1970-03-16 |
US3627971A (en) | 1971-12-14 |
FR2050701A6 (de) | 1971-04-02 |
FR1588067A (de) | 1970-04-03 |
DE1953686A1 (de) | 1971-01-21 |
US3626144A (en) | 1971-12-07 |
BE740164A (de) | 1970-03-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2458370C2 (de) | Energiestrahl-Gravierverfahren und Einrichtung zu seiner Durchführung | |
DE1053691B (de) | Verfahren und Einrichtung zur Materialbearbeitung mittels Ladungstraegerstrahl | |
DE2654486A1 (de) | Verfahren zur glaettung eines nadeloehrs | |
DE3401749A1 (de) | Roentgendiagnostikeinrichtung mit einer roentgenroehre | |
DE2814044C2 (de) | ||
CH395373A (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Schweissen oder Löten im dafür nicht direkt zugänglichen Innern eines Werkstückes | |
DE1301209B (de) | Verfahren zum Abtragen, insbesondere zum Perforieren von flexiblen Kunststoffen | |
DE102018219280A1 (de) | Verfahren zum spritzerfreien Schweißen, insbesondere mit einem Festkörperlaser | |
DE3505857C2 (de) | ||
DE1953687A1 (de) | Verfahren zum Regeln der Fokussierung beim Elektronenstrahlschweissen | |
DE1125096B (de) | Verfahren zum Herstellen einer Schweisszone gewuenschter Querschnittsform beim Ladungstraegerstrahl-Schweissen | |
DE2432021A1 (de) | Verfahren zur herstellung eines speisers und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens | |
DE2047138A1 (de) | Steuersystem fur eine Elektronenstrahl Heizvorrichtung | |
DE1615055A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von Duennschicht-Bauelementen | |
CH414891A (de) | Verfahren zum Schneiden von Werkstücken mittels eines Ladungsträgerstrahls | |
DE2831602A1 (de) | Vorrichtung zur erfassung von strahlparametern eines periodisch ueber eine zielflaeche gefuehrten, fokussierten ladungstraegerstrahls und messverfahren unter verwendung der vorrichtung | |
DE3034580A1 (de) | Verfahren zur regelung einer elektronenstrahlschweissung | |
DE102020105505A1 (de) | Verfahren zum Laserschweißen zweier beschichteter Werkstücke | |
DE60202058T2 (de) | Verfahren zur Regelung der Schaltstrecke der Kontaktzungen in einem Reed-Schalter | |
DE2815478A1 (de) | Strahlerzeugungssystem fuer ein technisches ladungstraegerstrahlgeraet | |
EP0428867B1 (de) | Verfahren zum Schutz einer Blende beim Erzeugen von Elektronenstrahlimpulsen | |
DE3516167A1 (de) | Metallische vakuumkammer mit geringen wirbelstromverlusten fuer beschleuniger mit magnetischen wechselfeldern und verfahren zu ihrer herstellung | |
DE1936434B2 (de) | Vorrichtung zum Schmelzen von Metall mittels Elektronenbeschusses | |
DE2204187C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Elektronenstrahlschweißen | |
CH460198A (de) | Verfahren zum Elektronenstrahlschweissen von Werkstücken |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |