DE19511707A1 - Verfahren zur Bestimmung von Spannungen in transparenten Materialien - Google Patents
Verfahren zur Bestimmung von Spannungen in transparenten MaterialienInfo
- Publication number
- DE19511707A1 DE19511707A1 DE1995111707 DE19511707A DE19511707A1 DE 19511707 A1 DE19511707 A1 DE 19511707A1 DE 1995111707 DE1995111707 DE 1995111707 DE 19511707 A DE19511707 A DE 19511707A DE 19511707 A1 DE19511707 A1 DE 19511707A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- glass
- delta
- intensity
- light
- polarization
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 53
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 title claims description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 14
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 22
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000005329 float glass Substances 0.000 description 2
- 229920005372 Plexiglas® Polymers 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000010972 statistical evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/24—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet
- G01L1/241—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet by photoelastic stress analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung von Spannungen in
transparenten Materialien nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Aus der DE 35 12 851 A1 ist ein Verfahren zur Messung permanenter
Längsspannungen eines Bandes aus Float-Glas in der Fertigungsstraße bekannt.
Hierzu wird ein Bündel linear polarisierten Lichts in das Glasband geschickt,
wobei Spannungen im Glas eine Doppelbrechung bewirken. Der austretende
Lichtstrahl wird analysiert, um die durch Doppelbrechung verursachten
Änderungen des Polarisationszustandes und demzufolge die Spannung im Glas
zu bestimmen. Hierbei wird auf derselben optischen Achse eine Lichtquelle, ein
linear polarisierender Polarisator und eine das linear polarisierte Lichtbündel in
ein zirkularpolarisiertes Lichtbündel verwandelnde Einrichtung verwendet. Auf der
anderen Seite des Glasbandes ist auf derselben optischen Achse ein zweiter
linearer Polarisator und ein lichtempfindlicher Empfänger zur Wandlung der
Intensität des Lichtbündels in ein elektrisches Signal angeordnet. Einer der
beiden Polarisatoren ist dabei mit einer kontinuierlichen Drehbewegung
angetrieben. Außerdem wird noch die Temperatur des Glasbandes an der
Meßstelle für die Spannungen ermittelt.
Nachteilig an dieser Meßmethode ist u. a., daß permanent rotierende
Polarisatoren verwendet werden, die gerade bei Messungen in einer
Fertigungsstraße von Glasbändern mit deren hohen Temperaturen und hohem
Verschmutzungsgrad leicht zu Störungen führen können.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Bestimmung von
Spannungen in transparenten Materialien, insbesondere in Glas, anzugeben, mit
dem ohne rotierende Elemente und mit einer Empfindlichkeit unabhängig von
störenden äußeren Einflüssen, wie Helligkeitsänderungen der Lichtquelle und
dem Transmissionsgrad des transparenten Materials, gemessen werden kann.
Unter transparenten Materialien wird Glas, Klarsichtfolie oder Kunststoff wie
Plexiglas etc. verstanden, d. h. hindurchtretendes Licht nicht diffus machende
durchsichtige Materialien.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß zirkular polarisiertes
Licht durch das Material geschickt wird und daß gleichzeitig und unabhängig
voneinander die Intensität des durch das Material hindurchtretenen Lichts in zwei
zueinander senkrechten Polarisationskomponenten Ip, Is gemessen wird.
Eine vorteilhafte Ausführungsform zeichnet sich dadurch aus,
- - daß dann aus den Polarisationskomponenten Ip, Is der Quotient K berechnet wird aus
- - daß daraus der Gangunterschied δ aus der Doppelbrechung berechnet wird zu
wobei λ = Wellenlänge der Lichtquelle,
- - daß die Materialdicke d des transparenten Materials mittels an sich bekannter Meßverfahren ermittelt wird und
- - daß die Materialspannung Δ σ berechnet wird aus der Beziehung Δ σ = δ/(S · d),
wobei S die spannungsoptische Konstante des zu untersuchenden Materials ist.
Ein Kernpunkt der Erfindung ist, daß zirkular polarisiertes Licht durch das Material
geschickt wird und gleichzeitig und unabhängig voneinander die Intensität des
durch das Material hindurchgetretenen Lichts in zwei zueinander senkrechten
Polarisationskomponenten gemessen wird. Verspanntes Glas verändert durch
seine Doppelbrechung den Polarisationsgrad des durch das Glas dringenden
zirkular-polarisierten Lichts. Hierdurch tritt entweder eine Vergrößerung oder eine
Verkleinerung des Gangunterschiedes zwischen den beiden senkrecht
zueinander schwingenden Polarisationskomponenten des Lichts auf, je nach
Größe und Vorzeichen der Glasspannung. Es wird demnach ein elliptisch
polarisiertes Licht das Glas verlassen. Es wird im folgenden für den Begriff
"transparentes Material" oft die Bezeichnung Glas verwendet. Wie oben erwähnt,
können jedoch außer Glas auch andere Materialien verwendet werden.
Die Lichtintensität der Polarisationskomponenten ist eine direkte Funktion des
Gangunterschiedes und der Helligkeit der Lichtquelle. Die Lichtintensität wird
jedoch durch die Glasfarbe, Glasdicke, Verschmutzung optischer Komponenten
im Lichtweg und die Alterung der Lichtquelle beeinflußt. Um diesen Effekt zu
beseitigen, wird daher der oben erwähnte Quotient K berechnet, der eine von der
Lichtintensität unabhängige Größe darstellt. Dies bedeutet, daß oben erwähnte
Effekte keinen Einfluß auf die Messung haben. Der Wertebereich des Quotienten
K liegt dabei zwischen -1 und +1.
Die Berechnung des Gangunterschiedes δ erfolgt nach der Bestimmung des
Quotienten K einfach durch die obige Gleichung. Erforderlich ist lediglich noch die
Kenntnis der Wellenlänge λ der Lichtquelle. Vorteilhafterweise wird ein Laser
verwendet.
Mit der Kenntnis der Materialdicke d am Meßort der Spannungsmessung ergibt
sich die Spannung einfach aus der Beziehung
Δ σ = δ/(S × d)
wobei S die spannungsoptische Konstante des zu untersuchenden Glases ist. δ
ist der Gangunterschied. Die Materialdicke bzw. Glasdicke wird durch an sich
bekannte Verfahren ermittelt (siehe z. B. DE 35 12 851 A1).
Bei Glasbändern sind produktionsbedingt die für die Messung interessanten
Hauptspannungsrichtungen σ₂ und σ₁ in Glaslaufrichtung und quer zur
Glaslaufrichtung (= Querrichtung). Die zueinander senkrecht orientierten
Polarisationskomponenten Ip und Is sind nun wiederum bezüglich des
Glasbandes so orientiert, daß ihre Winkelhalbierende mit der Glaslaufrichtung
übereinstimmt.
Zweckmäßigerweise besteht der Transmitter aus einem Laser als Lichtquelle,
einer Blende und einem Polarisationsfilter mit nachgeschalteter Lambda/4-Platte.
Der Transmitter erzeugt so zirkular polarisiertes Licht, welches dann durch das
Glas hindurchgeschickt wird.
Der Receiver besteht u. a. aus zwei Polarisatoren, bevorzugt aus zwei
Brewsterplatten, die jeweils zueinander gekreuzt sind und in einem Winkel von
45° zur Glaslaufrichtung angeordnet sind. Mit diesen Brewsterplatten werden
somit die beiden senkrecht zueinander stehenden Polarisationskomponenten Ip,
Is sauber getrennt.
Die Intensität der zwei zueinander senkrecht stehenden Polarisations
komponenten werden erfindungsgemäß mittels PIN-Dioden mit nachge
schaltetem Lock-In Verstärker gemessen.
Weitere Merkmale der Erfindung ergeben sich aus den Figuren, die nachfolgend
eingehend beschrieben werden. Es zeigt:
Fig. 1 schematisch eine erfindungsgemäße Meßanordnung zur
Bestimmung der Spannung in einem Glasband und
Fig. 2 schematisch die dazugehörende Peripherie.
Fig. 1 zeigt schematisch eine Meßanordnung zur Bestimmung der Spannung in
einem Glasband 1. Unterhalb des Glasbandes 1 ist ein Transmitter 2 angeordnet,
der aus einem Laser als Lichtquelle 3, einer Blende 4 und einem
Polarisationsfilter 5 unter 45° zur Glaslaufrichtung orientiert mit nachgeschalteter
Lambda/4-Platte 6 besteht. Der Transmitter 2 erzeugt zirkular polarisiertes Licht,
welches durch das Glasband 1 hindurchgeschickt wird. Der Lichtstrahl ist mit dem
Bezugszeichen 11 angedeutet. Der Laser ist z. B. ein Dioden-Laser mit einer
Wellenlänge von z. B. 688 nm. Um Störeinflüsse durch Fremdlicht zu
unterdrücken, wird der Laser moduliert.
Oberhalb des Glasbandes 1 ist ein Receiver 7 angeordnet, der hinter einem
optischen Filter 12 zwei Brewster-Platten 8a, 8b enthält, die jeweils in einem
Winkel von 45° zur Glaslaufrichtung und relativ zu einander gekreuzt angeordnet
sind. Diese zwei Brewster-Platten 8a, 8b spalten das ankommende Licht in zwei
Polarisationskomponenten Ip, Is auf, deren Intensitäten mit hochempfindlichen
PlN-Dioden 9a, 9b gemessen werden. Die Auswertung der Ausgangssignale der
beiden PlN-Dioden 9a, 9b erfolgt über einen hochgenauen linearen
Meßverstärker mit nachgeschaltetem Lock-In Verstärker 10. Das Ausgangssignal
des Lock-In Verstärkers 10 wird direkt auf einen Analog-Digital-Wandler geführt
und an einen Microcontroller 13 (siehe Fig. 2) weitergegeben.
Da zur Bestimmung der Spannung auch die Messung der Dicke der Glasbahn 1
erforderlich ist, ist ein Dickenmeßgerät 14 oberhalb der Glasbahn 1 angeordnet.
Zur Bestimmung der permanenten Spannung, auch "Kaltspannung" Δσkalt
genannt, ist die Kenntnis der Temperatur der Glasbahn am Meßort erforderlich.
Aus diesem Grunde ist ein Strahlungspyrometer 15 eingebaut.
Fig. 2 zeigt die zugehörige Peripherie. Sowohl der Transmitter 2 wie auch der
Receiver 7 sind mit einem Microcontroller 13 verbunden. Der Lock-In Verstärker
bzw. der Meßverstärker 10 wandelt die Intensität der beiden Polarisations
komponenten in einen 12 Bit Digitalwert um. Der Lock-In Verstärker unterdrückt
dabei das in den Receiver 7 fallende Fremdlicht. Die digitalen Meßwerte werden
dann zur weiteren Bearbeitung an den Microcontroller 13 übertragen. Dieser
verbindet die Werte mit der aktuellen Meßposition, der lokalen Glastemperatur
sowie der lokalen Glasdicke aus dem Dickenmeßgerät 14. Nachdem der
Gangunterschied δ der beiden Polarisationskomponenten errechnet wurde,
werden die Ergebnisse an einen Personalcomputer 16 mit Monitor 17, Tastatur
18 und Drucker 19 zur Darstellung und zur statistischen Auswertung übertragen.
Mit dem Bezugszeichen 20 ist ein Stromschalter bezeichnet, ebenso mit dem
Bezugszeichen 21 die Stromzufuhr für den Personalcomputer 16 mit Peripherie.
Der Personalcomputer 16 läßt sich auch vorteilhafterweise in ein Netzwerk 22
integrieren.
Die Bestimmung der momentanen Glasspannung, auch "Wärmespannung"
Δσ warm bezeichnet, erfolgt dann nach dem weiter oben beschriebenen
Verfahren. Dieser Wert der Glasspannung gilt jedoch nur für den Meßort und für
die momentane Temperatur der Glasbahn zum Zeitpunkt der Messung. Für die
Berechnung der Permanentspannung wird folgende bekannte Gleichung
verwendet:
Δ σkalt=Δ σwarm-F·ΔT=Δ σwarm-F·(T(x)-Tm).
Hierbei ist Δ σk die permanente Glasspannung und Δ σw, die Warmspannung
aus der Messung, T(x) die Temperatur am Meßort. Tm ist die mittlere
Glastemperatur gemittelt über die Glasbreite am Meßort und F eine Konstante,
die elastische Eigenschaften für die bestimmte Glassorte beschreibt. Für diese
Konstante wird bei Float-Glas bevorzugt der Wert F= 0,63 N/mm²K benutzt.
Da der Wertebereich für den Quotienten K zwischen -1 und +1 liegt, ergibt sich
der maximale Meßbereich für den Gangunterschied δ zu
-λ/4δ+λ/4.
Der verwendete Dioden-Laser hat eine Wellenlänge von 688 mm, wodurch der
Meßbereich für den Gangunterschied zwischen -172 nm und +172 nm liegt. Bei
einer mittleren Glasdicke von 5 mm entspricht dies einer Glasspannung Δ σ
zwischen -12,08 N/mm² und +12,08 N/mm². Die Meßergebnisse sind dabei nicht
von den absoluten Intensitätswerten der Polarisationskomponenten abhängig.
Claims (6)
1. Verfahren zur Bestimmung von Spannungen in transparenten Materialien,
insbesondere in Glas, wobei polarisiertes Licht durch das Material
geschickt wird und der austretende Lichtstrahl derart analysiert wird, daß
eine durch Doppelbrechung aufgrund von Spannungen im Material
eingetretene Änderung des Polarisationszustandes des Lichtstrahls
gemessen wird, dadurch gekennzeichnet,
- - daß zirkular polarisiertes Licht durch das Material geschickt wird und
- - daß gleichzeitig und unabhängig voneinander die Intensität des durch das Material hindurchgetretenen Lichts in zwei zueinander senkrechten Polarisationskomponenten Ip, Is gemessen wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß aus den
Polarisationskomponenten Ip, Is der Quotient K berechnet wird aus
- - daß daraus der Gangunterschied δ der Doppelbrechung berechnet wird aus wobei λ = Wellenlänge der Lichtquelle (3),
- - daß die Materialdicke d des transparenten Materials mittels an sich bekannter Meßverfahren ermittelt wird und
- - daß die Materialspannung Δ σ berechnet wird aus der Beziehung Δ σ = δ/(S · d),wobei S die spannungsoptische Konstante des zu untersuchenden Materials ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das
transparente Material ein Glasband (1) ist und die
Polarisationskomponente Ip die Intensität in Glaslaufrichtung und die
Polarisiationskomponente Is die Intensität in Querrichtung ist.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet,
daß der Transmitter (2) aus einem Laser als Lichtquelle (3), einer Blende
(4) und einem Polarisationsfilter (5) mit nachgeschalteter Lambda/4-Platte
(6) besteht.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet,
daß der Receiver (7) aus zwei getrennten Polarisatoren, bevorzugt aus
zwei gekreuzten Brewsterplatten (8a, 8b) besteht, die jeweils in einem
Winkel von 45° zur Glaslaufrichtung angeordnet sind.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet,
daß die Intensität der zwei zueinander senkrechten
Polarisationskomponenten Ip, Is mittels PIN-Dioden (9a, 9b) mit
nachgeschaltetem Lock-In Verstärker (10) gemessen werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995111707 DE19511707B4 (de) | 1995-03-30 | 1995-03-30 | Verfahren zur Bestimmung von Spannungen in transparenten Materialien |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995111707 DE19511707B4 (de) | 1995-03-30 | 1995-03-30 | Verfahren zur Bestimmung von Spannungen in transparenten Materialien |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19511707A1 true DE19511707A1 (de) | 1996-10-02 |
DE19511707B4 DE19511707B4 (de) | 2007-09-27 |
Family
ID=7758178
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1995111707 Expired - Lifetime DE19511707B4 (de) | 1995-03-30 | 1995-03-30 | Verfahren zur Bestimmung von Spannungen in transparenten Materialien |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19511707B4 (de) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19712407A1 (de) * | 1997-03-25 | 1998-10-01 | Gloetzl Ges Fuer Baumestechnik | Wegmeßvorrichtung |
DE19942245A1 (de) * | 1999-03-02 | 2000-09-07 | Lasor Ag | Messung mechanischer Spannungen in transparenten Materialien mit Kameras |
DE10154008C1 (de) * | 2001-10-28 | 2003-04-30 | Hans-Dieter Geiler | Verfahren und Anordnung zur spannungsoptischen Analyse von Festkörpern |
EP2159199A2 (de) | 2008-09-02 | 2010-03-03 | Arcon-dur Sicherheitsglas GmbH & Co. KG | Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung thermisch vorgespannter Glasscheiben und thermisch vorgespannte Glasscheibe |
DE19953528B4 (de) * | 1999-11-05 | 2010-10-07 | Schott Ag | Vorrichtung und Verfahren zur automatischen Messung der Spannungsdoppelbrechung mit feststehendem Analysator |
CN101413936B (zh) * | 2007-10-16 | 2013-05-15 | 中国建材检验认证集团股份有限公司 | 一种检测玻璃幕墙自爆隐患的方法 |
DE102016218390B3 (de) * | 2016-09-23 | 2018-02-01 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Messanordnung und Verfahren zum Messen von mechanischen Spannungen |
US11480532B2 (en) * | 2018-06-07 | 2022-10-25 | LiteSentry LLC | Inspection, analysis, classification, and grading of transparent sheets using segmented datasets of photoelasticity measurements |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11867630B1 (en) | 2022-08-09 | 2024-01-09 | Glasstech, Inc. | Fixture and method for optical alignment in a system for measuring a surface in contoured glass sheets |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3902805A (en) * | 1973-09-17 | 1975-09-02 | Vishay Intertechnology Inc | Automatic birefringence measuring apparatus |
DE2916202A1 (de) * | 1979-04-21 | 1980-10-23 | Ibm Deutschland | Verfahren zur analyse des polarisationszustandes einer strahlung und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
DE3129505A1 (de) * | 1980-10-29 | 1982-06-24 | Jenoptik Jena Gmbh, Ddr 6900 Jena | "vorrichtung zum messen von gangunterschieden in polarisiertem licht" |
DE3311524C2 (de) * | 1983-03-30 | 1985-11-14 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Faseroptischer Sensor für Kraft- und Druckmessungen sowie für Überwachungs- und Schutzzwecke |
DE3906119A1 (de) * | 1988-04-08 | 1989-10-19 | Jenoptik Jena Gmbh | Anordnung zum messen polarisationsoptischer gangunterschiede |
DE3929713A1 (de) * | 1988-11-02 | 1990-05-03 | Jenoptik Jena Gmbh | Verfahren zur gangunterschiedsmessung an anisotropen transparenten objekten |
DE3822512C2 (de) * | 1988-07-04 | 1992-05-21 | Bodenseewerk Geraetetechnik Gmbh, 7770 Ueberlingen, De | |
DE4211467A1 (de) * | 1992-04-06 | 1993-10-07 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Verfahren zur Bestimmung räumlicher Anisotropiezustände eines niedrig orientierten zweiachsigen Objektes |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2563337B1 (fr) * | 1984-04-19 | 1986-06-27 | Saint Gobain Rech | Mesure des contraintes dans le verre flotte |
-
1995
- 1995-03-30 DE DE1995111707 patent/DE19511707B4/de not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3902805A (en) * | 1973-09-17 | 1975-09-02 | Vishay Intertechnology Inc | Automatic birefringence measuring apparatus |
DE2916202A1 (de) * | 1979-04-21 | 1980-10-23 | Ibm Deutschland | Verfahren zur analyse des polarisationszustandes einer strahlung und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
DE3129505A1 (de) * | 1980-10-29 | 1982-06-24 | Jenoptik Jena Gmbh, Ddr 6900 Jena | "vorrichtung zum messen von gangunterschieden in polarisiertem licht" |
DE3311524C2 (de) * | 1983-03-30 | 1985-11-14 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Faseroptischer Sensor für Kraft- und Druckmessungen sowie für Überwachungs- und Schutzzwecke |
DE3906119A1 (de) * | 1988-04-08 | 1989-10-19 | Jenoptik Jena Gmbh | Anordnung zum messen polarisationsoptischer gangunterschiede |
DE3822512C2 (de) * | 1988-07-04 | 1992-05-21 | Bodenseewerk Geraetetechnik Gmbh, 7770 Ueberlingen, De | |
DE3929713A1 (de) * | 1988-11-02 | 1990-05-03 | Jenoptik Jena Gmbh | Verfahren zur gangunterschiedsmessung an anisotropen transparenten objekten |
DE4211467A1 (de) * | 1992-04-06 | 1993-10-07 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Verfahren zur Bestimmung räumlicher Anisotropiezustände eines niedrig orientierten zweiachsigen Objektes |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19712407A1 (de) * | 1997-03-25 | 1998-10-01 | Gloetzl Ges Fuer Baumestechnik | Wegmeßvorrichtung |
DE19942245A1 (de) * | 1999-03-02 | 2000-09-07 | Lasor Ag | Messung mechanischer Spannungen in transparenten Materialien mit Kameras |
DE19953528B4 (de) * | 1999-11-05 | 2010-10-07 | Schott Ag | Vorrichtung und Verfahren zur automatischen Messung der Spannungsdoppelbrechung mit feststehendem Analysator |
DE10154008C1 (de) * | 2001-10-28 | 2003-04-30 | Hans-Dieter Geiler | Verfahren und Anordnung zur spannungsoptischen Analyse von Festkörpern |
US6927853B2 (en) | 2001-10-28 | 2005-08-09 | Jena-Wave Gmbh | Method and arrangement for optical stress analysis of solids |
CN101413936B (zh) * | 2007-10-16 | 2013-05-15 | 中国建材检验认证集团股份有限公司 | 一种检测玻璃幕墙自爆隐患的方法 |
EP2159199A2 (de) | 2008-09-02 | 2010-03-03 | Arcon-dur Sicherheitsglas GmbH & Co. KG | Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung thermisch vorgespannter Glasscheiben und thermisch vorgespannte Glasscheibe |
DE102008045416A1 (de) | 2008-09-02 | 2010-03-04 | Arcon-Dur Sicherheitsglas Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung thermisch vorgespannter Glasscheiben und thermisch vorgespannte Glasscheibe |
DE102016218390B3 (de) * | 2016-09-23 | 2018-02-01 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Messanordnung und Verfahren zum Messen von mechanischen Spannungen |
US11480532B2 (en) * | 2018-06-07 | 2022-10-25 | LiteSentry LLC | Inspection, analysis, classification, and grading of transparent sheets using segmented datasets of photoelasticity measurements |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19511707B4 (de) | 2007-09-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3138061C2 (de) | ||
DE69307547T2 (de) | Temperaturfühler für medizinische Anwendung | |
DE69421844T2 (de) | Verfahren zur Kontrolle der Schichtdicke und/oder des Brechungsindexes | |
DE69015401T2 (de) | Instrument zur gleichzeitigen optischen Messung von thermischen und elektrischen Grössen. | |
EP0019088A1 (de) | Ellipsometrisches Verfahren und ellipsometrische Vorrichtung zur Untersuchung der physikalischen Eigenschaften der Oberfläche einer Probe | |
DE102007059309A1 (de) | System und Verfahren für integrierte Messungen unter Anwendung optischer Sensoren | |
DE3607462A1 (de) | Anordnung zur messung der spannungsdoppelbrechung eines optischen sensors | |
EP0987537A2 (de) | Mikropolarimeter und Ellipsometer | |
DE19511707A1 (de) | Verfahren zur Bestimmung von Spannungen in transparenten Materialien | |
DE112009002635T5 (de) | Vorrichtung und Verfahren für polarimetrische und spektroskopische Messungen im sichtbaren und Nah-Infrarot-Bereich | |
DE4434266B4 (de) | Verfahren zur Berücksichtigung der Temperaturabhängigkeit von optoelektronischen Dioden | |
DE2118606A1 (de) | Universalpolarimeter | |
EP1484596A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur dreidimensionalen Bestimmung des Brechungsindex von transparenten Schichten | |
EP0179016A1 (de) | Zweistrahl-Echtzeitpolarimeter | |
DE3887008T2 (de) | Spannungsdetektor. | |
DE3031961C2 (de) | Interferometrische Einrichtung zur Messung physikalischer Größen | |
EP1002221A1 (de) | Mikropolarimeter | |
DE3035025A1 (de) | Depolarisator | |
DE3883058T2 (de) | Optischer Sensor. | |
DE3906119C2 (de) | Anordnung zum Messen polarisationsoptischer Gangunterschiede | |
Haake et al. | The dispersion of birefringence in photoelastic materials | |
DE2449475C2 (de) | Vorrichtung zur Bestimmung des Anisotropiezustandes durch Messen der Orientierungsdoppelbrechung | |
EP0499074A2 (de) | Polarisationsinterferometer mit Schmalbandfilter | |
DE4209537A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur messung von polarisiertem licht | |
DE4012240A1 (de) | Messverfahren und messanordnung zur bestimmung des richtfaktors bei flexiblen magnetogrammtraegern |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: LASOR AG, 33813 OERLINGHAUSEN, DE |
|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: ISRA VISION LASOR GMBH, 33813 OERLINGHAUSEN, DE |
|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R071 | Expiry of right | ||
R071 | Expiry of right |