DE1915680B2 - Fotometer fuer beobachtungsinstrumente, insbesondere mikroskope - Google Patents
Fotometer fuer beobachtungsinstrumente, insbesondere mikroskopeInfo
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- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0096—Microscopes with photometer devices
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Description
915
680
Pupille P2 auf den Fotomultiplier 17 abbilden. Das
Objektzwischenbild B2 wird hiei mittels der Optik
14 in eine Bildebene B4 abgebildet. Eine weitere
Optik 23 bildet diese Ebene B1 in der Ebene B3 ab,
in der sich die Blende 20 befindet. Der Optik 23 ist ein optischer Strahlumschalter in Form einer teilverspiegelten
Kreisscheibe 25 zugeordnet, die, von einem Motor 26 angetrieben, sich dreht und den
Lichteinfall in die Optik 23 aus zwei unterschiedlichen Richtungen gestattet. Jeder dieser Lichteinfallsrichtungen
sind zwei Prismen 27, 28 bzw. 39, 30 zugeordnet, wobei den letztgenannten Prismen noch
ein ortsfest montierter Spiegel 31 nachgeschaltet ist. Die Prismen 27,29 sind so angebracht, daß ihre
Berührungskante die optische Achse des Gerätes schneidet, und jedes dieser beiden Prismen ist einem
anderen Bildbereich in der Bildebene B4 zugeordnet. Sind die Prismen 28, 30, wie durch Pfeile angedeutet,
verschieblich gelagert, so hat man die Möglichkeit. den relativen Abstand der Beobachtungsstrahlengänge
in der Objektbildebene B4 zu variieren und an
den dort vorhandenen Abstand der Bilder zweier gleichzeitig im Bildfeld vorhandener Objekte anzupassen
derart, daß bei lauferdem Motor 26 wechselweise diese beiden Objekte in die Blende 20 abgebildet
werden.
Eine Variation der Beobachtungsstrahlengänge bezüglich der Bildebene B4 läßt sich auch durch ein
ίο Verschieben der Prismen 27, 29 längs der optischen
Achse erreichen.
Schließlich kann es vorteilhaft sein, die beiden Baueinheiten I und HI drehbar miteinander zu verbinden.
Dadurch hat man dann die Möglichkeit, das Gerät an die Lage der Objekte im Beobachtungsfeld
anzupassen, ohne daß der Objektträger gedreht werden muß. Ein solches Gerät ist also beispielsweise
zum Gebrauch in Verbindung mit Mikroskopen ohne Drehtisch aeeienet.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (3)
1. Fotometer für Beobachtungsinstrumente, und einem Meßstrahlengang und einer in der Bildinsbesondere
Mikroskope, mit einem BeobacL- 5 ebene des Meßstrahlenganges angeordneten Blende,
tungs- und einem Meßstrahlengang und einer in bei dem eine variable Blende, beispielsweise eine
der Bildebene des Meßstrahlenganges angeord- Irisblende, eine hinter der Blende angeordnete Lichtneten
Blende, bei dem eine variable Blende, bei- quelle, mittels derer die Blende von der Rückseite
spielsweise eine Irisblende, eine hinter der Blende her beleuchtbar ist, und ein im Strahlengang vor der
angeordnete Lichtquelle, mittels derer die Blende io Blende angeordneter Strahlenteiler vorhanden sind,
von der Rückseite her beleuchtbar ist, und ein dessen Teilerfläche entweder so angeordnet ist, daß
im Strahlengang vor der Blende angeordneter das an ihr reflektierte Strahlenbündel unmittelbar
Strahlenteiler vorhanden sind, dessen Teiler- in die Beobachtungseinrichtung gelangt, während
fläche entweder so angeordnet ist, daß das an ihr das von der rückseitig beleuchteten Blende komreflektierte
Strahlenbündsl unmittelbar in die i5 mende Strahlenbündel nach Reflexion an der Strah-Beobachtungseinrichtung
gelangt, während das lenteilerfläche zunächst an einem zusätzlichen VoIlvon
der rückseitig beleuchteten Blende korn- spiegel reflektiert and nach Durchtritt durch die
mende Strahlenbündel nach Reflexion an der Teilerfläche in die Beobachtungseinrichtung gelangt.
Strahlen teilerfläche zunächst an einem zusatz- oder dessen Teilerfläche so angeordnet ist, daß das
liehen Vollspiegel reflektiert und nach Durch- 20 vom Objektiv kommende und an ihr reflektierte
tritt durch die Teilerfläche in die Beobachtungs- Strahlenbündel nach einer erneuten Reflexion an
einrichtung gelangt, oder dessen Teilerfläche so einem Vollspiegel und Durchdringen der Teilerangeordnet
ist, daß das vom Objektiv kommende fläche in die Beobachtungseinrichtung gelangt, wäh-
und an ihr reflektierte Strahlenbündel nach einer rend das von der rückseitig beleuchteten Blende
erneuten Reflexion an einem Vollspiegel und 25 kommende Strahlenbündel unmittelbar nach Re-Durchdringen
der Teilerfläche in die Beobach- flexion an der Teilerfläche zur Poobachtungseinrichtungseinrichtung
gelangt, während das von der rung gelangt. Dieses Fotometer zeichnet sich gemäß rückseitig beleuchteten Blende kommende Strah- der Erfindung dadurch aus, daß zwischen die Blende
lenbündel unmittelbar nach Reflexion an der und den Strahlenteiler eine Einrichtung zur Um-Teilerfläche
zur Beobachtungseinrichtung ge- 30 Wandlung des Fotometers in ein Zweistrahlgerät einlangt,
nach Patent 1 215954, dadurch ge- gefügt ist, die außer den die Okularpupille auf den
kennzeichnet, daß zwischen den Strahlen- Multiplier abbildenden Feldlinsen einen optischen
teiler (11) und die Blende (20) eine Einrichtung Strahlumschalter mit zugeordneter Optik aufweist,
zur Umwandlung des Fotometers in ein Zwei- der das Bild der Blende wechselweise über unterstrahlgerät
eingefügt ist, de außer den die Oku- 35 schiedliche, je zwei Prismen enthaltende Strahlenlarpupille
(P2) auf den Multiplier (17) abbilden- gänge nebeneinanderliegend in eine zur Blende konden
Linsen (21, 22) einen optischen Strahlum- jugierte Ebene, die gleichzeitig Objektbildebene ist,
schalter (25, 26) mit zugeordneter Optik (23) abbildet. Dabei kann mindestens eines der Prismen
aufweist, der das Bild der Blende (20) wechsel- parallel zur optischen Achse des Geräts verschiebweise
über unterschiedliche, je zwei Prismen (27, 40 bar sein. Vorteilhafterweise kann die Einrichtung
28; 29, 30) enthaltende Strahlengänge neben- relativ zum Strahlenteiler um die optische Achse
einanderliegend in eine zur Blende (20) konju- drehbar gelagert sein.
gierte Ebene (B4), die gleichzeitig Objektbild Ein Ausführungsbeispiel für die neue Einrichtung
ebene ist, abbildet. ist in den Zeichnungen dargestellt und nachfolgend
2. Fotometer nach Anspruch 1, dadurch ge- 45 beschrieben.
kennzeichnet, daß mindestens eines der Prismen Das bekannte Fotometer (Fig. 1) besteht aus den
(28; 30) parallel zur optischen Achse des Ge- beiden Baueinheiten I und II. In der Baueinheit I,
rätes verschiebbar ist. die auf den Okularstutzen 10 des Beobachtungs-
3. Fotometer nach Anspruch 1 oder 2, da- Instrumentes aufgesetzt ist, befindet sich der Strahdurch
gekennzeichnet, daß die Einrichtung rela- ,50 lenteiler 11, ein als Tripelspiegel ausgebildeter VoIltiv
zum Strahlenteiler (11) um die optische Achse spiegel 12 sowie ein Einblickfernrohr 13. Dem Strahdrehbar
gelagert ist. lenteiler ist eine Optik 14 nachgeschaltet, welche das
Objektzwischenbild B2 in die Ebene. B3 abbildet. Eine
Feldlinse 15 bildet zusammen mit einer in der Bau-
55 einheit II montierten Feldlinse 16 die Pupille P2 auf
In der deutschen Patentschrift 1 215 954 ist ein den ebenfalls in der Baueinheit II befindlichen Foto-Fotometer
für Beobachtungsinstrumente beschrie- multiplier 17 ab. Eine Lampe 18 beleuchtet über
ben, das nach dem Einstrahl-Meßverfahren arbeitet. einen Spiegel 19 die Blende 20, die in der Ebene B3
In manchen Fällen aber ist ein Messen nach dem liegt. Der Spiegel ist klappbar derart, daß er in einer
Zweistrahl-Meßverfahren erwünscht, weil dieses eine 60 Stellung das Licht der Lampe 18 auf die Blende 20
schnellere Auswertung der Messung bzw. eine lenkt, in einer anderen Stellung dagegen den Fotoraschere Anzeige des Meßergebnisses zuläßt. Es multiplier 17 für die Messung freigibt. Die beiden
stellt sich also die Aufgabe, eine Einrichtung zu Baueinheiten sind miteinander verschraubt,
schaffen, welche das im genannten Patent beschrie- F i g 2 zeigt das gleiche Fotometer mit zwischen bene Fotometer zu einem Zweistrahlfotometer er- 65 die Baueinheiten I und II als Einheit IN eingefügter gänzt, so daß zwei nebeneinanderliegende Bildbe- Einrichtung zur Zweistrahlfotometrie.
reiche vermessen und deren Lage in der Beobach- Diese Einrichtung enthält zwei Feldlinsen 21, 22, tungseinrichtung sichtbar gemacht werden kann. die zusammen mit den Feldlinsen 15 und 16 die
schaffen, welche das im genannten Patent beschrie- F i g 2 zeigt das gleiche Fotometer mit zwischen bene Fotometer zu einem Zweistrahlfotometer er- 65 die Baueinheiten I und II als Einheit IN eingefügter gänzt, so daß zwei nebeneinanderliegende Bildbe- Einrichtung zur Zweistrahlfotometrie.
reiche vermessen und deren Lage in der Beobach- Diese Einrichtung enthält zwei Feldlinsen 21, 22, tungseinrichtung sichtbar gemacht werden kann. die zusammen mit den Feldlinsen 15 und 16 die
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---|---|---|---|
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US21721A US3664751A (en) | 1969-03-27 | 1970-03-23 | Accessory for microscopes for use as a two-beam photometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19691915680 DE1915680B2 (de) | 1969-03-27 | 1969-03-27 | Fotometer fuer beobachtungsinstrumente, insbesondere mikroskope |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1915680A1 DE1915680A1 (de) | 1970-10-01 |
DE1915680B2 true DE1915680B2 (de) | 1973-03-08 |
Family
ID=5729495
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19691915680 Pending DE1915680B2 (de) | 1969-03-27 | 1969-03-27 | Fotometer fuer beobachtungsinstrumente, insbesondere mikroskope |
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US4877960A (en) * | 1987-02-17 | 1989-10-31 | Spectra-Tech, Inc. | Microscope having dual remote image masking |
US4884881A (en) * | 1987-11-16 | 1989-12-05 | Washington University | Single aperture confocal scanning epi-illumination microscope |
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US5073702A (en) * | 1990-03-26 | 1991-12-17 | Ncr Corporation | Multiple beam bar code scanner |
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-
1970
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- 1970-03-16 GB GB1239359D patent/GB1239359A/en not_active Expired
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- 1970-03-23 US US21721A patent/US3664751A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
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JPS5015369B1 (de) | 1975-06-04 |
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AT291622B (de) | 1971-07-26 |
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