DE1801033C - Device for calibrating at least one radiation intensity measuring device - Google Patents

Description

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Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung den genauen Zusammenhang zwischen erzeugter iur Eichung mindestens einer Strahlungsintensitlts- Meßspanmmg und zu messender Größe (z, B, Gemeßvorrichtung, die zur Messung von solchen Eigen- wicht pro Flächeneinheit des zu untersuchendenThe invention relates to a device the exact relationship between generated In order to calibrate at least one radiation intensity measuring span and the quantity to be measured (e.g. measuring device which is used to measure such dead weight per unit area of the to be examined

schäften eines Gegenstands dient, für welche die bei Gegenstands) zu kennen. Insbesondere bei Strah-Bestrahlung von dem Gegenstand durchgelassene 5 lungsintensitätsmeßvorrichtungen, die in industriel-Strahlungsintensität ein Maß ist, und die eine Strah- Ien Anlagen installiert sind, ist jedoch die erzeugte lungsquelle, einen von der Strahlungsquelle be- Meßspannung starken zeitlichen Abweichungen unter-shanks of an object, for which the at object) to know. In particular, in the case of radiation radiation from the object, 5 lungsintensitätsmeßvorrichtungen transmitted, which is a measure in industrial radiation intensity, and which a radiation Ien systems are installed, however, is the generated source, one of the measurement voltage applied by the radiation source subject to strong temporal deviations.

triebsmäßig durch einen zu untersuchenden Gegen- worfen, die von Zeit zu Zeit eine Neueichung eritand hindurch bestrahlten Strahlungsdetektor, der forderlich machen,instinctively through an object to be examined, the radiation detector irradiated from time to time through a recalibration, which makes it necessary

einen der Strahlungsintensität proportionalen Strom ίο Mittels bekannter Vorrichtungen der eingangs erzeugt, und eine daran angeschlossene Schaltung genannten Art (USA.-Patentschriften 3 281676, mit Tiefpaßverhalten aufweist, die eine hohe Impe- 2 829 268) erfolgte die Eichung seither lediglich danz, welche eine dem Strom proportionale Span- durch Nullpunktverschiebung der Meßspannung und nung erzeugt, einen hinsichtlich Nullpunktswande- durch deren Normierung bezüglich der Strahlungsrungen normierten Verstärker, welcher diese Span- 15 intensität der Strahlungsquelle, und zwar von Hand, nung verstärkt und sie über ein Kabel einer Signal- halbautomatisch oder automatisch. Durch derartige analysiervorrichtung als Meßspannung weitergibt, ein Eichung werden eine zeitliche, beispielsweise tem-Netzwerk zur Nullpunktverschiebung der Meß- peratur- oder alterungsbedingte Nullpunktswandespannung zum Ä'ogleich einer Nullpunktswanderung rung des Verstärkers und eine unerwünschte zeitdes Verstärkers und ein Potentiometer zur Normierung ao liehe Änderung des Ionisationsstroms trotz gleichder Meßspannung bezüglich der Strahlungsintensität bleibender Eigenschaften des untersuchten Gegender Strahlungsquelle umfaßt, mittels dessen bei aus Standes ausgeglichen. Eine solche Änderung des der Meßstrecke entferntem Untersuchungsgegenstand lonisationsstroms tritt beispielsweise auf Grund der eine bestimmte Meßspannung einstellbar ist. zeitlich exponentiellen Intensitätsabnahme der Strah-one of the radiation intensity proportional current ίο by means of known devices of the initially generated, and a circuit connected to it called type (US Patents 3 281676, with a low-pass behavior that has a high impedance, the calibration has only been carried out since then danz, which is a span proportional to the current through zero point shift of the measuring voltage and voltage generated, an amplifier standardized with respect to the zero point wall through their normalization with respect to the radiation stanchions, which this voltage intensity of the radiation source, namely by hand, amplified and transmitted via a cable to a signal semi-automatic or automatic. By such analysis device passes on as measuring voltage, a calibration is a temporal, for example tem network for zero point shift of the measuring temperature or age-related zero point wall voltage to equal a zero point migration of the amplifier and an undesired time of the amplifier and a potentiometer for normalizing ao liehe change in the ionization current despite equal to the measurement voltage with respect to the radiation intensity of permanent properties of the examined area of the radiation source, by means of which balanced from the state. Such a change in the The object to be examined removed from the measuring section occurs, for example, due to the a certain measuring voltage can be set. exponential decrease in intensity of the radiation

Strahlungsintensitätsmeßvorrichfingen werden hau- as lungsquelle, auf Grund von Änderungen des baro-Radiation intensity measuring devices become a source of housing due to changes in the barometric

fig zur Messung des Gewichtes pro Flächeneinheit metrischen Luftdrucks innerhalb der Meßstreckefig for measuring the weight per unit area of metric air pressure within the measuring section

oder der Dichte eines Gegenstandes während dessen und auf Grund der Ansammlung von Schmutz zwi-or the density of an object during it and due to the accumulation of dirt between

Herstellung oder Bearbeitung verwendet. sehen der Strahlungsquelle und der IonisationskammerUsed in manufacturing or machining. see the radiation source and the ionization chamber

Solche Meßvorrichtungen können mit Röntgen- auf. Die Verschmutzung ist bei industriellen Herstrahlen. Gammastrahlen, Betastrahlen oder anderen 30 stellungsverfahren, z. B. bei der Papierherstellung Sorten von beispielsweise beim radioaktiven Zerfall und bei Walzwerken, von besonders starkem Einauftretenden Strahlen arbeiten, sofern diese Strahlen fluß, da hier nicht versucht wird, eine einwandfrei den jeweils zu untersuchenden Gegenstand zu durch- saubere Umgebung zu schaffen. In diesen Fällen ist dringen vermögen. Mit Betastrahlen betriebene der- daher eine Neueichung in kurzen zeitlichen Abartige Meßvorrichtungen weisen beispielsweise eine 35 ständen, z. B. jede halbe Stunde, vorzunehmen, wo-Betateilchen emittierende Strahlungsquelle auf, die bei eine automatische Eichung bevorzugt wird, im allgemeinen ein natürliches radioaktives Präparat Bei den bekannten Vorrichturg^n ist man davon enthält. Einige der Betateilchen durchdringen den /u ausgegangen, daß der Frequenzgang mehrerer gleichuntersuchenden Gegenstand und fallen auf eine zeitig oder im Austausch nacheinander verwendeter einen lonisationsstrom erzeugende Ionisationskammer 40 Strahlungsintensitätsmeßvorrichtungen weitgehend oder einen ähnlichen Strahlendetektor, wie bcispiels- identisch ist, oder man hat den Frequenzgang als weise einen Szintillations-Kristall-Fotoelektronenvcr- unwichtig angesehen. Es ist jedoch festgestellt worden, vielfacher, der einen Strom in Form einer Impuls- daß verschiedene Strahlungsintensitätsmeßvorrichtunfolge erzeugt, bei der die Impulsfolgcfrcquenz und gen unterschiedliche Frequenzgänge aufweisen und damit der Mittelwert des Stroms der auftreffenden 45 daß der Frequenzgang wichtig ist zur Bestimmung Strahlungsintensität proportional ist. Die Anzahl der der Eigenschaften eines zu untersuchenden Gegen-Betateilchen, die je Zeiteinheit auf die lonisations- Standes, weil die spektrale Zusammensetzung der kammer auf treffen, wird unter anderem durch das Meßspannung zusätzlich Rückv-hlüsse auf den Ab· Gewicht pro Flächeneinheit des zu untersuchenden lauf des jeweiligen Herstellungs- oder Bcirbeitungs-Gegenstands bestimmt, der in einer Meßstrecke so Verfahrens erlaubt. Wenn beispielsweise in einer zwischen der Strahlungsquelle und der lonisations· Maschine zur Papierherstellung, bei der die Dicke kammer angeordnet ist oder bewegt wird. Daher der Papierbahn mittels mehrerer Strahlungsintensibilden der lonisationsstrom der Ionisationskammer tätsmcßvorrichtungen gemessen wird, in der Meß- und die daraus gewonnene Meßspannung ein Maß spannung einer Strahlungsintensitätsmeßvorrichtung für die Dicke des Gegenstands, falls dessen Dichte 55 eine bestimmte Frequenzkomponente zunimmt, kann bekannt ist, oder für die Dichte, falls die Dicke be- ein Beobachter daraus schließen, daß vor dieser kannt ist. Eine mit Betastrahlen betriebene Stiah- Strahlungsmeßvorrichtung wahrscheinlich ein Fehler I ungsintensitätsmeßvorrichtung kann so beispielsweise im Verfahrensablauf auftritt, zur Messung des Gewichtes pro Flächeneinheit einer Damit die spektrale Zusammensetzung der MeQ* laufenden Papierbahn, zur Messung der Dichte des 60 spannung exakte Rückschlüsse auf einen Verfahrens* Tabaks in einer zu verarbeitenden Zigarettenstange ablauf ertaubt, ist es notwendig, daß der Frequenz* oder zur Messung der Dicke von Kunststoffbahnen png der Strahlungsintensitatsmeßvorriehtung, d. h. usw. dienen. In ähnlicher Weise werden Messungen die Abhängigkeit der Amplitude der Meßspannung mit Röntgenstrahlen durchgeführt, während zu Mes- von der Frequenz des lonisationsstroms innerhalb sungen an Gegenständen aus dichterem Material, 6$ eines interessierenden Frequenzbereichs, genau be* /. B. Stahl, meist Gammastrahlen verwendet werden. kannt ist. Hierzu ist eine Eichung erforderlich, weilSuch measuring devices can with X-ray on. The pollution is from industrial glare. Gamma rays, beta rays or other 30 positional methods, e.g. B. in papermaking Types of, for example, in the case of radioactive decay and rolling mills, of particularly strong incoming rays work, provided that these rays flow, since no attempt is made here, a flawlessly to create a clean environment for the object to be examined. In these cases it is to penetrate. With beta rays, therefore, a recalibration in short periods of time. B. every half hour to make where beta particle emitting radiation source, which is preferred for an automatic calibration, generally a natural radioactive preparation contains. Some of the beta particles penetrate the / u assumed that the frequency response of several objects under investigation and fall on a timely or in exchange used one after the other an ionization current generating ionization chamber 40 radiation intensity measuring devices largely or a similar radiation detector, as is identical for example, or the frequency response is as wise a scintillation crystal photoelectron is considered unimportant. However, it has been found multiple, which generates a current in the form of a pulse that different radiation intensity measuring device sequence, in which the pulse train frequency and gene have different frequency responses and so that the mean value of the current of the impinging 45 that the frequency response is important to determine Radiation intensity is proportional. The number of the properties of a counter-beta particle to be examined, which per unit of time on the ionization state, because the spectral composition of the When the chamber meets, the measuring voltage provides additional feedback on the Weight per unit area of the run of the respective manufacturing or processing object to be examined, which thus allows a method in a measuring section. For example, if in a between the radiation source and the ionization · machine for making paper, in which the thickness chamber is arranged or is moved. Therefore the paper web is measured by means of several radiation intensities. and the measurement voltage obtained therefrom is a measurement voltage of a radiation intensity measuring device for the thickness of the object if its density 55 increases a certain frequency component is known, or for the density, if the thickness an observer concludes that before this is known. A beta-ray stiah radiation measuring device is likely to be a fault I ungsintensitätsmeßvorrichtung can occur for example in the process, to measure the weight per unit area of a so that the spectral composition of the MeQ * running paper web, for measuring the density of the 60 tension exact conclusions on a process * Tobacco expires in a cigarette rod to be processed, it is necessary that the frequency * or for measuring the thickness of plastic webs png of the radiation intensity measuring device, d. H. etc. serve. In a similar way, measurements are the dependence of the amplitude of the measurement voltage performed with X-rays while measuring the frequency of the ionization current within sung on objects made of denser material, 6 $ of a frequency range of interest, precisely be * /. B. steel, mostly gamma rays are used. is known. This requires calibration because

Eine Strahlungsintensitätsmeßvorrichtung muß zu- die einen Teil der Meßvorrichtung bildende SchaltungA radiation intensity measuring device must be part of the circuit forming part of the measuring device

nächst nach ihrer Herstellung geeicht werden, um iitiit Ticfpaßverhalten elektrische Schaltungselementemust be calibrated next after their production in order to ensure correct performance of electrical circuit elements

I 801 033I 801 033

IMfweist, deren Impedanz sich zeitlich Ändert, beispiels- ten Strahlungsdetektors (USA.-Patentschrift 2844068) veise Elemente mit Ohmschem und kapazitivem die Überwachung einer bestimmten Materialeigen-2harakter. Sowohl der Wert der Ohmschen wie auch schaft einer Papierbahn vorgenommen, wobei das ier kapazitiven Schaltungselemente ist erheblichen Ausgangssignal einer Fotozelle in Abhängigkeit von änderungen unterworfen, wodurch z, B, die obere 5 dem Ausgangssignal eines Oszillators moduliert wird. Grenzfrequenz der Schaltung verschoben wird, so Die vom Oszillator kommenden Schwingungen werdaß verschiedene Metivorrichtungen bei Eigenschafts- den amplitudenmoduliert je nach der auf die Fotoänderunger» der gleichen Art, Größe und Frequenz zelle fallenden Strahlungsintensität, Die Schwingungen in dem zu untersuchenden Gegenstand im allgemeinen mit derart variabler Amplitude enthalten zwei Kom-Meßspannungen unterschiedlicher Amplituden erzeu- iq ponenten, die eine Aussage über die Eigenschaften gen. der Papierbahn erlauben. Diese Schwingungen wer-AIs Beispiel für eine Reihe von Schaltungselementen den mittels eines Verstärkers verstärkt, und das erin einer Strahlungsintensitätsmeßvorriohtung, die deren zeugte Signal wird als Meßspannung verwendet. Frequenzgang verändern, sei der sogenannte Hoch- Für den Verstärker ist eine Schaltung zur automatiohmwiderstand genannt, der bei einer mit Betastrahlen 15 sehen Verstärkungsregelung vorgesehen, die Abarbeitenden Strahlungsintensitätsmeßvorrichtung vor- weichungen in der Lichtdurchlässigkeit der Papierjesehen ist. Es handelt sich hierbei um einen von bahn infolge von bei der Herstellung nicht beeindem lonisationsstrom der Ionisationskammer durch- fluPbaren Faktoren ausregelt. Das bei der automatifossenen Widerstand mit sehr hohem Widerstands- sehen Verstärkungsregelu··..: gebildete Signal bildet wert. Der Wert liegt in der Größenordnung von ao somit ein Maß für eine Figenschaft des unter-2 · 10* bis 5 · 10· Ohm. Dieser Wert ist dadurch suchenden Gegenstands, nicht aber für in der Meßbedingt, daß aus dem geringen lonisationsstrom eine vorrichtung selbst auftretende Veränderungen.
Spannung erhalten werden muß, die nach ihrer Ver- Bei einer aus einer Ionisationskammer und einem Stärkung als Meßspannung dienen kann. aachgeschalteten Verstarker mit negativer RückWiderstände mit Widerstandswerten in der genann- as führung bestehenden Strahlungsintensitätsmeßvorrichten Größenordnung sind im aligemeinen nur mit tung (USA.-Patentschrift 2 536 617) ist es auch begroßen Toleranzen herstellbar, so daß bei verschiede- kannt, durch entsprechende Bemessung der Rücknen, an sich gleichartig aufgebauten Meßvorrichtun- führungsschleife der erzeugten Meßspannung bei gen unterschiedliche Widerstandswerte anzutreffen einer plötzlichen Änderung der Versorgungsspannung, sind. Ein Hochohmwiderstand ist ferner einer be- 30 der untersuchten Eigenschaft eines Untersuch ungsträchtlichen Widerstandsänderung je nach den Um- gegenstände oder des elektrischen Verhaltens der gebungsbedingungen, z. B. der Temperatur und Feuch- Ionisationskammer einen bestimmten zeitlichen Vertigkeit, unterworfen. Der Hochohmwiderstand einer lauf zu geben. Hierdurch wird jedoch nicht eine mit Betastrahlen arbeitenden Strahlungsintensitäts- Eichung, sondern eine Stabilisierung der Meßspanmeßvornchtung hat direkten Einfluß auf deren Fre- 35 nung erzielt.IMf shows, the impedance of which changes over time, for example radiation detector (USA.-Patent 2844068), elements with ohmic and capacitive monitoring of a specific material characteristic. Both the value of the ohmic as well as the shaft of a paper web made, the ier capacitive circuit element is subject to considerable output signal of a photocell as a function of changes, whereby, for example, the upper 5 is modulated to the output signal of an oscillator. Cut-off frequency of the circuit is shifted, so the vibrations coming from the oscillator are amplitude-modulated by various measuring devices depending on the radiation intensity falling on the photochanger of the same type, size and frequency cell. The vibrations in the object to be examined are generally so variable Amplitude contain two Kom measurement voltages of different amplitudes generating components which allow a statement to be made about the properties of the paper web. These oscillations are amplified by means of an amplifier as an example for a number of circuit elements and are used in a radiation intensity measuring device, the signal generated by them is used as the measuring voltage. For the amplifier, a circuit for automatic resistance is mentioned, which is provided with a gain control with beta rays 15, the processing radiation intensity measuring device is visible in the light permeability of the paper. This is one of the factors that cannot be flowed through during manufacture because the ionization current of the ionization chamber cannot be flowed through during manufacture. The signal formed in the automatic resistance with very high resistance - see gain control u ·· ..: forms value. The value is in the order of magnitude of ao, thus a measure for a property of below -2 · 10 * to 5 · 10 · Ohm. This value is the subject of the search, but not for the measurement, that the device itself changes from the low ionization current.
Voltage must be obtained, which can serve as a measuring voltage after their connection with an ionization chamber and a strengthening. A downstream amplifier with negative return resistances with resistance values in the range of radiation intensity measuring devices mentioned above can generally only be produced with large tolerances (US Pat , in itself similarly structured measuring device guide loop of the generated measuring voltage with different resistance values to be encountered with a sudden change in the supply voltage. A high ohmic resistance is also a change in resistance that is negligible in the property being investigated, depending on the circumstances or the electrical behavior of the ambient conditions, e.g. B. the temperature and humidity ionization chamber a certain time Vertigkeit, subjected. The high resistance to give a run. However, this does not result in a radiation intensity calibration using beta rays, but rather a stabilization of the measuring span measuring device has a direct influence on its exposure.

quenzgang. Er ist parallel zu einem Glättungskon- Weiter ist es bekannt, bei einer in einer Zigaretten-quenzgang. It is parallel to a smoothing con

densatur geschaltet, mit dem er einen ÄC-Kreis herstellungsmaschine verwendeten Strahlungsinten-switched densatur, with which he used an ÄC-Kreis manufacturing machine radiation ink

mit einer Zeitkonstante in der Größenordnung von sitätsmeßvorrichtung (USA.-Patentschrift 3 049 621)with a time constant in the order of magnitude of the sitätsmeßvorrichtung (USA.-Patent 3 049 621)

einer Sekunde bildet. Der Glättungskondensator hat die Strahlungsintensität in der Meßstrecke bei ent-a second forms. The smoothing capacitor has the radiation intensity in the measuring section at

dic Aufgabe .sprunghafte Änderungen des lonisa- 40 fernter Zigarettenstange mittels umlaufender sektor-the task. sudden changes in the lonisa 40 remote cigarette rod by means of a circulating sector

tionsstromes zu glätten, die sich auf Grund der fcirmiger oder schraubenartiger Wenden zu modulie-flow, which due to the steady or helical turns to modulate

statistischen zeitlichen Verteilung des Auftreffeas der ren, um zu prüfen, ob die Zeitkonstante der Meß-statistical temporal distribution of the impingement measure to check whether the time constant of the measurement

Betateilchcn ergeben. Da der Glättungskondensatur vorrichtung derjenigen Zeit entspricht, die jeweilsBeta particles result. Since the smoothing device corresponds to that time, each

parallel 7\i dem Hochohmwiderstand geschaltet ist, zum Durchlauf einer Zigarettenlänge erforderlich ist.is connected in parallel 7 \ i the high resistance, is required to run through a cigarette length.

führen Änderungen des Werts des Hochohmwider- 45 Es sind auch Verfahren zum Testen des Verhaltensresult in changes in the value of the high resistance 45 There are also procedures for testing the behavior

Standes zu unterschiedlichen Zeitkonstanten dieses von Schaltungen hoher Impedanz bekannt, wobei dieThis was known at different time constants from circuits of high impedance, the

ÄC-Kreises und verändern damit den Frequenzgang Schaltungen mit einem StrahlungsintensitatsdetektorÄC circle and thus change the frequency response circuits with a radiation intensity detector

der Meßvorrichtung. in einer Meßvorrichtung zusammenarbeiten könnenthe measuring device. can work together in a measuring device

Betrachtet man weiter mit Betastrahlen arbeitende (USA.-Patentsohrift 3 281 676; Zeitschrift ProceedingsIf one continues to consider those working with beta rays (USA.-Patentsohrpen 3 281 676; Journal Proceedings

Strahlungsmeßvorrichtungen, so kann eine zweite 30 of the IRE, April 1960: »High Speed ElectrometersRadiation measuring devices, a second 30 of the IRE, April 1960: »High Speed Electrometers

Ursache der Verschiedenheit von Frequenzgängen for Rucket and Satellite Experiments«;. Jedoch istCause of the Difference in Frequency Response for Rucket and Satellite Experiments «; However is

gleichartiger Meßvorrichtungen in langen Kabeln hierbei kein Hinweis auf eine Eichung des dynami-similar measuring devices in long cables here no indication of a calibration of the dynamic

liegen, die jeweils den Ausgang des Verstärkers der sehen Verhaltens einer Meßvorrichtung für einenlie, each of which see the output of the amplifier of the behavior of a measuring device for a

Meßvorrichtung in einem in räumlicher Entfernung betriebsmäßig durchstrahlten Gegenstand gegeben,Measuring device given in an object that is operationally irradiated at a distance,

angeordneten Aufzeichnungsgerät, einem Anzeige- 55 wahrem" dieser Gegenstand aus der Meßstreck;;arranged recording device, a display 55 true "this object from the measuring range ;;

gerät oder einer anderen Signalanalysiervorrichtung entfernt ist.device or other signal analyzer is removed.

verbinden. Diese Kabel weisen im altgemeinen unter- Allgemein ist auch das dynamische Verhalten von schiedliche Längen auf, und weiter können auch ihre Strahlungsintemitätsmeßvorrichiungen bekannt (Zeit-Kapazitätsbeläge unterschiedlich sein, so daß der schrift ISA Journal, September 1963: »Instrument Einfluß dieser Kabel auf den Frequenzgang der 60 Dynamics for On-Line Measurements«).
Meßspannung nicht ohne weiteres im voraus be- Der Etfinduitg liegt die Aufgabe zugrunde, eine stimmbar ist. D?tartige Kabel führen somit zu Unter- Vorrichtung zu einer verbesserten Eichung einer schieden im Frequenzgang verschiedener Meßvor- Strahlungsintensitätsmeßvorrichtung anzugeben und richtungen, damit die Einsatzmöglichkeiten von Strahlungsinten-Neben der '^ei der eingangs genannten Vor- 65 sitatsmeßvorrichtungen bei Meßvorgängen der indurichtung vorausgesetzten Bauart von Strahlungs- striellen Fertigung zu erweitern,
intensitätmeßvorrichtungen sind andere solche Meß- Die Aufgabe wird bei einer Vorrichtung der einvorrichtungen bekannt. So wird mittels eines bekann- gangs genannten Art gemäß der Erfindung dadurchassociate. These cables generally show the dynamic behavior of different lengths, and their radiation intensity measurement devices can also be known (time-capacitance coverages are different, so the ISA Journal, September 1963: “Instrument influence of these cables on the frequency response of the 60 Dynamics for On-Line Measurements «).
The measurement voltage cannot be easily adjusted in advance. D-type cables thus lead to sub-device for an improved calibration of a different measuring device in the frequency response of different measuring devices and directions, thus the possible uses of radiation inks in addition to the above-mentioned device measuring devices in measuring processes of the type required to expand from radiation strial manufacturing,
Intensity measuring devices are other such measuring devices. Thus, according to the invention, by means of a previously mentioned type

gelöst, daß zusätzlich zur Strahlungsquelle^ und densatorl6, die parallel zum Ausgang der Ionise' Nullpunktsnoffiiierung der Meßvorriehtung der Fr*- tionskammer 12 liegen, bestimmen im wesentlichen quenzgang der Meflspannung in Abhängigkeit von die Zeitkonstanu d«r - MeBvotttehtung, Diese Zeit* der Amplitude in der Weise geeicht wird, daß «kr konstante liegt in der Größenordnung von einer Se« von dem Strahlungsdetektor erzeugte Strom bei aus % künde. Weil der Hoehohmwiderstand IB einen so der Meßstfecke entferntem Untersuehungsgegenstand hohen Widerstandswert aufweist, kann er nieht mit mit einer vorgegebenen Eiehfrequenz moduliert wird, engen Toleranzen hergestellt werden und ist während daß hierbei die Amplitude des Wechselstromanteils des Betriebes, bedingt durch Umgebtingsbedingungen der- Meßspannüng in der äignalanälysiervorriehtting wie Feuchtigkeit und temperatur, Änderungen unter* gemessen wird und daß durch Verstellung einer den to worfen. Somit ist die Zeitkonstante und damit der Frequenzgang beeinflussenden Impedanz der Schaltung Frequenzgang der der Ionisationskammern naehmit Tiefpaßverhalten eine vorgegebene Amplitude geschalteten Schaltung mit Tiefpaßverhalten von eingestellt wird. vornherein nicht genau bekannt.solved that, in addition to the radiation source and the capacitor, which are parallel to the output of the ionization zero point notification of the measuring device of the freezing chamber 12, essentially determine the frequency response of the measuring voltage as a function of the time constant of the measuring value, this time of the amplitude is calibrated in such a way that "kr constant is in the order of magnitude of one Se" of the current generated by the radiation detector at off % k. Because the high-ohmic resistance IB has a high resistance value so far away from the test object, it cannot be modulated with a given frequency, tight tolerances can be produced and while the amplitude of the alternating current component of the operation, due to ambient conditions, is the measuring voltage in the Äignalanälysiervorriehting how humidity and temperature, changes under * are measured and that by adjusting one of the to throw. Thus the time constant and thus the impedance of the circuit, which influences the frequency response, is the frequency response of which the ionization chambers are set with a low-pass behavior of a predetermined amplitude switched circuit with low-pass behavior. not exactly known in advance.

Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind In normalem Betrieb wird die an dem Hoehohmin den Unteransprüchen beschrieben. i$ widerstand IS auf Orund des lonisationsstromes ab·Advantageous further developments of the invention are described in the subclaims at the Hoehohmin in normal operation. i $ resistance IS on orund of the ionization current from

t)ie Erfindung wird im folgenden an Hand der fallende Spannung der nicht geerdeten Eingangs-Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt klemme eines Verstärkers 17 zugeführt, der als Gleich-F i g. 1 eine Strahlungsintensititsmeßvorrichtung strom-Operationsverstärker bekannter Bauweise aus· und eine Vorrichtung zu deren Eichung, gebildet i«? T>r Verstärker 17 weist eine sehr hohe Fig. 2 eine graphische Darstellung von mög- »o Eingangsimpedanz und eine Verstärkung in der liehen Frequenzgängen der Meßvorrichtungen in Größenordnung von mindestens 10000 auf. Die Fig. 1. Polarität seiner Ausgangsspannung ist gegenüber der F i g. 3 als Blockschaltbild eine Vielzahl von Sttah- Eingangsspannung umgekehrt. Auf Grund der Eigen· hingsintensttätsmeßvorrichtungen und eine Vorrich- schäften des Verstärkers 17 sind dessen Eingangstung zu deren Eichung. *5 spannung und Eingangsstrom gegenüber den ent-F i g. 4 eine Strahlungsintensitätsmeßvorrichtung sprechenden Ausgangsgrößen vernachlässigbar klein und eine Vorrichtung zu deren Eichung in einer und können in Berechnungen gleich Null gesetzt weiteren Ausführungsform. werden. Die nicht geerdete Ausgangsklemme des In Fig. 1 ist eine Strahlungsquelle 11 erkennbar, Verstärkers 17 ist einerseits mit einem Erdanschluß32 die in diesem Ausführungsbeispiel Betastrahlen emit- 30 versehenen Potentiometer IR und andererseits mit tiert: die Verwendung anderer Strahlungsarten, wie dem beweglichen Kontakt eines Wahlschalters 19 Röntgenstrahlen oder Gammastrahlen, wäre eben- verbunden, über den noch zu beschreibende Teile falls möglich. Mit den von der Strahlungsquelle 11 angeschlossen sind. Diese Teile sind entfernt von der emittierten Betateilchen wird eine lonisationskam- Meßvorrichtung mit der Ionisationskammer 12, dem mer 12 bestrahlt. Diese liegt an einer von der 35 Verstärker 17 und der übrigen zugehörigen Schaltung Gleichstromquelle 13 gelieferten, relativ hohen Span- mit riefpaßverhalten angeordnet. Sie sind deshalb nung von beispielsweise 300 V und wirkt als 'Kon- mit der Meßvorrichtung über ein verhältnismäßig stantstromquelle. da der von ihr erzeugte lonisations- langes Kabel verbunden, das in F i g. 1 nicht gezeigt strom nur von der Anzahl der pro Zeiteinheit auf- ist. Der nicht ohne weiteres bestimmbare Impedanztreffenden Betateilchen, nicht aber vom Werli der 40 belag dieses Kabels beeinflußt zusätzlich den Fre-Eingangsimpedanz der nachgeschalteten Schaltung quenzgang der am Ende des Kabels feststellbaren abhängig ist. Meßspannung.The invention is explained in more detail below with reference to the falling voltage of the ungrounded input drawings. It shows the terminal of an amplifier 17, which is called DC-F i g. 1 a radiation intensity measuring device current operational amplifier of known design from and a device for their calibration, formed i «? T> r amplifier 17 has a very high FIG. 2 shows a graphic representation of possible input impedance and a gain in the borrowed frequency responses of the measuring devices in the order of at least 10,000. the Fig. 1. Polarity of its output voltage is opposite that of F i g. 3 as a block diagram a multitude of Sttah input voltages reversed. Due to the own hingsintensttätsmeßvorrichtungen and a device of the amplifier 17 are its input for their calibration. * 5 voltage and input current compared to the ent-F i g. 4 a radiation intensity measuring device speaking output variables negligibly small and a device for their calibration in one and can be set equal to zero in calculations further embodiment. will. The ungrounded output terminal of the A radiation source 11 can be seen in FIG. 1; the in this embodiment beta rays emit- 30 provided potentiometer IR and on the other hand with tated: the use of other types of radiation, such as the moving contact of a selector switch 19 X-rays, or gamma rays, would also be linked, via the parts to be described if possible. With those of the radiation source 11 are connected. These parts are removed from the emitted beta particles is an ionization chamber measuring device with the ionization chamber 12, the mer 12 irradiated. This is due to one of the amplifiers 17 and the rest of the associated circuit Direct current source 13 supplied, arranged relatively high span with low-pass behavior. You are therefore voltage of, for example, 300 V and acts as a 'con with the measuring device over a relatively constant power source. since the long ionization cable produced by it, which is shown in FIG. 1 not shown electricity only depends on the number of times per unit of time. The not readily determinable impedance-hitting beta particles, but not from Werli's 40 lining of this cable, also influences the Fre input impedance of the downstream circuit quenzgang of the detectable at the end of the cable is dependent. Measuring voltage.

In normalem Betrieb wird ein Teil der vom der Die Einstellung des Schleifers 21 des Potentio-In normal operation, part of the

Strahlungsquelie 11 emittierten Betateilchen von einem meters 18 bestimmt die Empfindlichkeit der MeB-Gegenstand 14 absorbiert, der durch eine zwischen 45 vorrichtung. Der an dem Schleifer 21 abgenommenen Strahlungsquelle 11 und Ionisationskammer 12 ge- Rückführungsspannung wird eine von einem Strom-Iegcne Meßstrecke fortlaufend hindurchgeführt wird kreis 22 erzeugte Spannung überlagert, und dessen Gewicht pro Flächeneinheit gemessen Der Stromkreis 22 weist eine Gleichste .Ttquelle 23Radiation source 11 emitted beta particles of one meter 18 determines the sensitivity of the measuring object 14 absorbed by a device between 45. The one removed from the grinder 21 Radiation source 11 and ionization chamber 12 feedback voltage, a voltage generated by a current Iegcne measuring section is continuously passed through circuit 22 superimposed, and its weight per unit area measured. The circuit 22 has a most equal .Ttquelle 23

wird. Daher erzeugt die Ionisationskammer 12 einen auf, die in Reihe mit einem veränderlichen Wider-Ionisationsstrom, der umgekehrt propoirtional der 50 stand 24 und einem Potentiometer 25 liegt, wobei sich Dichte und Dicke des Gegenstandes 14 ist. Bei- ein Umschalter 31 betriebsmäßig in seiner dargestellspielsweise ist der Gegenstand 14 eine Bahn aus ten, den Minuspol der Gleichstromquelle 23 mit Papier. Kunststoff oder Stahl oder eine Zigaretten- dem Widerstand 24 verbindenden Stellung befindet. stange während der Herstellung. Die erzeugte Spannung kann mittels eines Umschal-will. Therefore, the ionization chamber 12 generates a, which is in series with a variable counter-ionization current, which is inversely proportional to the 50 stand 24 and a potentiometer 25, whereby The density and thickness of the article 14 is. In the case of a changeover switch 31 operationally in its illustrated manner, the object 14 is a path from th, the negative pole of the direct current source 23 with Paper. Plastic or steel or a cigarette position connecting the resistor 24 is located. rod during manufacture. The generated voltage can be changed by means of a toggle

Der von der Ionisationskammer 12 erzeugte loni- 55 ters37 verändert werden, dessen beweglicher Kontakt sationsstrom durchfließt einen Hoehohmwiderstand 15. betriebsmäßig mit dem Schleifer 26 des Potentioder einen Widerstandswert in der Größenordnung meters 25 verbunden ist. Der Stromkreis 22 erlaubt von 5 -10⁹ Ohm aufweist und der damit so ausgelegt eine Nullpunktverschiebung der Meßspannung ohne ist. daß an ihm eine endliche, zur Verstärkung ge- Änderung des Proportionalitätsmaßstabes zwischen eignete Spannung aus dem lonisationsstrom gewonnen 60 Meßspannung und Gewicht pro Fläche des Gegenwerden kann, dessen Wert extrem niedrig ist. Parallel Standes 14. Der Stromkreis 22 gestattet es daher, die zu dem Hoehohmwiderstand 15 ist ein Kondensator 16 Meßspannung für einen gewünschten Sollwert des geschaltet, der einen Wert in der Größenordnung Gewichts pro Flächeneinheit des Gegenstandes 14 von 20OpF aufweist und der statistische Schwan- zu Null zu machen. Verändert sieh dann das Gekungen der aus dem lonisationsstrom gewonnenen 65 wicht pro Flächeneinheit des Gegenstandes 14 gegen-' Spannung auf Grund der Poissonschen. Verteilung über dem Sollwert, so ändert sich die Meßspannung der von der Strahlungsquelle 11 emittierten Beta- entsprechend um den Nullpunkt. Die Nullpunkttcilchcn glättet. Hoehohmwiderstand 15 und Kon- verschiebung erfolgt durch Verstellung des Wider-The ionization chamber generated by the ionization chamber 12 can be changed, the movable contact sation current flows through a high resistance 15. The circuit 22 allows 5 -10 ⁹ ohms and is thus designed without a zero point shift of the measurement voltage. that a finite change in the proportionality scale between the appropriate voltage obtained from the ionization current and the weight per surface area of the counterpart, the value of which is extremely low, can be applied to it. Parallel stand 14. The circuit 22 therefore allows the high-ohmic resistance 15 to be connected to a capacitor 16 measuring voltage for a desired setpoint value, which has a value in the order of magnitude of weight per unit area of the object 14 of 20OpF and the statistical swan to zero close. If you then see the change in the weight per unit area of the object 14 obtained from the ionization current, counter-tension due to Poisson's. Distribution over the nominal value, the measurement voltage of the beta emitted by the radiation source 11 changes accordingly around the zero point. The zero point is smoothed. High resistance 15 and con-shifting is done by adjusting the counter

Standes 24 und des Schleifers 26 des Potentiometers 25. Eine Anpassung an die Intensität der Stcahlungs-Der bewegliche Kontakt des Umsehalters 37 speist ein quelle 11 ist nicht nur wegen deren zeitlicher Inten-Potentiometer 27, das zuf Anpassung an die Intensität sitälsabnahme, sondern auch wegen Änderungen der Strahlungsquelle 11 dient, Dessen Schleifer 28 der Umgebungsbedingungen innerhalb der Meß* ist mit dem von dem Ausgang der Ionisation*· S strecke notwendig, die zwischen Strahlungsquelle 11 kammer 12 abgelegenen gemeinsamen Niederspan- und Ionisationskammer 12 liegt. Der erste Schritt nüiujnansehluß des Hoehohrnwidefstandes IS und des bei der Anpassung an die tntensität der Strahlungen Kondensators 16 verbunden, queilell besteht darin, den Gegenstand 14 aus derStand 24 and the wiper 26 of the potentiometer 25. An adaptation to the intensity of the stcahlungs-The movable contact of the Umsehalters 37 feeds a source 11 is not only because of their temporal Inten potentiometer 27, which is to adapt to the intensity sitälsabnahme, but also because of Changes the radiation source 11 is used, whose grinder 28 of the ambient conditions within the measuring * is necessary with the distance from the exit of the ionization * · S between the radiation source 11 Chamber 12 remote common low-voltage and ionization chamber 12 is located. The first step Nüiujnansehluß the Hoehohrnwidefstandes and that in the adaptation to the intensity of the radiation Capacitor 16 connected, source consists in the article 14 from the

Die Ausgangsspannung des Verstärkers 17 ist, MeDstrecke zu entfernen, indem beispielsweise die wenn man von der Wirkung dus nicht gezeigten ι» Strahlungsquelle 11 und die ionisationskammer 12 Kabels absieht, der Meßspannung gleich. Sie kann von dem Gegenstand 14 wegg«schwenkt werden, wie folgt dargestellt werden: Die Meßstrecke befindet sich dann theoretisch in The output voltage of the amplifier 17 is to remove the measurement path by, for example, disregarding the radiation source 11 (not shown) and the ionization chamber 12 of the cable, equal to the measurement voltage. It can be pivoted away from the object 14, as shown as follows: The measuring section is then theoretically in

einem genau bestimmten Zustand, d. h., sie absor-a precisely defined state, d. i.e., they sub-

1 / l*Ztn ,. \ ,*. biert praktisch keine Betastrahlen. In Wirklichkeit1 / l * Ztn,. \, *. emits practically no beta rays. In reality

^β λ \ ß Y ■** J· ^Kl «ι) jedoch ist eine erhebliche zeitliche Änderung des unter ^β λ \ ß Y ■ ** J · ^Kl «ι), however, is a considerable change over time of the under

dieser Bedingung erzeugten lonisationsstromes zuthis condition generated ionization current to

Dabei bezeichnet beobachten, und zwar auf Grund der Ablagerung vonIt means to observe, on the basis of the deposition of

P₈ die Ausgangsspannung des Verstärkers 17, Schmitt.'* auf den Fenstern der Strahlungsquelle 11P ₈ the output voltage of the amplifier 17, Schmitt. '* On the windows of the radiation source 11

* das prozentuale Widerstandiiverhältnis des zwi· und der Ionisationskammer 12 sowie auf (kund von sehen Schleifer 2t und Erdanischluß 32 liegenden «o Änderungen im Feuchtigkeitsgehalt und Druck der Teils des Potentiometers 18 gegenüber dem ge* Luft innerhalb der Meßstrecke,
samten Potentiometer 18, Um diese Änderung zu kompensieren und die* the percentage resistance ratio of the between and the ionization chamber 12 as well as changes in the moisture content and pressure of the part of the potentiometer 18 compared to the air within the measuring section,
velvet potentiometer 18, To compensate for this change and the

h den von der Ionisationskammer 12 erzeugten Meßvorrichtung insofern zu eichen, wird bei entfernlonisationsstrom, tem Gegenstand 14 der Umschalter 37, der nor- h to calibrate the measuring device generated by the ionization chamber 12, the switch 37, the normal

Zi_n die Impedanz der aus Hochohmwiderstand 15 *5 malerweise den Schleifer 26 mit dem Potentiometer 27 und Kondensator 16 gebildeten Parallelschaltung. verbindet, umgelegt, so daß jetzt die gemeinsame β das prozentuale Widerstandsverhältnis des zwi- Verbindungsquelle des Potentiometers 25 und des sehen Schleifer 28 und Erdanschluß 32 liegenden veränderlichen Widerstands 24 mit dem Potentio-Teils des Potentiometers 27 gegenüber dem ge- meter 27 verbunden ist. Diese Umschaltung besamten Potentiometer 27, 30 wirkt, daß das Widerstandsverhältnis γ in Gleichung γ das prozentuale Widerstandsverhältnis des zwi- (1) jetzt den Wert Eins annimmt. Damit wird das sehen dem Schleifer 26 und dem mit der positiven Potentiometer 27 an eine verhältnismäßig große. Klemme der Gleichstromquelle 23 verbundenen wählbare Spannung gelegt. Weiter wird nun zur AnEnde des Potentiometers 25 liegenden Teils gegen- passung an die Intensität der Strahlungsquelle 11 über dem gesamten Potentiometer 25, 35 der Schleifer 28 so lange verstellt, bis sich aus der £_M die an dem Potentiometer 315 auf Grund seiner Registrierung des Auf/eichnungsgerätes 34 die AusSpeisung durch die Gleichstromquelle 23 über gangsspannung Null des Verstärkers 17 ergibt. Verden veränderlichen Widerstand 24 anstehende ändert man danach die Stellung des Schieifers 28. Spannung. so ändert sich der Wert von fl in der Gleichung (1). Die Gleichung (I) ist nur dann zutreffend, wenn eine 40 Die Meßvorrichtung.kann dadurch so geeicht werden. Anpassung an die Intensität der Strahlungsquelle 111 daß der geeichte Zustand auch dann weiterbesteht, und ein Nullpunktabgleich des Verstärkers 17 vorge- wenn der Gegenstand 14 wieder in die Meßstrecke rtommen worden sind. Ein Nullpunktabgleich des eingeführt ist. Zi _{n is} the impedance of the parallel circuit formed from high resistance 15 * 5 times the wiper 26 with the potentiometer 27 and capacitor 16. connects, turned over, so that now the common β is the percentage resistance ratio of the variable resistor 24 located between the connection source of the potentiometer 25 and the wiper 28 and earth connection 32 with the potentiometer part of the potentiometer 27 opposite the meter 27. This switch-over inseminated potentiometer 27, 30 has the effect that the resistance ratio γ in equation γ, the percentage resistance ratio of the between (1) now assumes the value one. This will see the wiper 26 and the one with the positive potentiometer 27 at a relatively large. Terminal of the direct current source 23 connected selectable voltage applied. Next the potentiometer will be moved 25 part counter adaptation to the intensity of the radiation source located 11 over the entire potentiometer 25, 35, the slider 28 as long as the AnEnde until from the £ _M attached to the potentiometer 315 on the basis of his registration on / calibration device 34 the output by the direct current source 23 via output voltage zero of the amplifier 17 results. If the variable resistance 24 is pending, then the position of the slider 28 is changed. Voltage. so the value of fl changes in equation (1). Equation (I) is only applicable if a 40 The measuring device can be calibrated in this way. Adaptation to the intensity of the radiation source 111 so that the calibrated state also continues, and a zero point adjustment of the amplifier 17 takes place when the object 14 has been moved back into the measuring section. A zero point adjustment is introduced.

Verstärkers 17 ist erforderlich, um die Drift in der Nachdem die Meßvorrichtung soweit in an sichAmplifier 17 is required to reduce the drift in the after the measuring device so far in itself

Ausgangsspannung des Verstärkers 17 gegenüber dem 45 bekannter Weise geeicht ist. wird zusätzlich ihr Wert Null zu kompensieren, wobei angenommen Frequenzgang geeicht, um unbekannte Einflüsse des wird, daß der Wert der Eingangsspannung ebenfalls Hochohmwiderstandes 15 und des den Verstärker 17 gleich Null ist. Der Nullpunktabgleich wird in de· mit Teilen der Eicheinrichtung verbindenden Kabels zu Weise vorgenommen, daß der normalerweise geöff- kompensieren. Hierzu wird bei dem gezeigten Ausnete Schalter 33, der parallel zu den Eingangs- 50 führungsbeispiel eine Wechselstromquelle 28 mit vorklemmen des Verstärkers 17 liegt, geschlossen und der gegebener Eichfrequenz an Stelle der Gleichstrom-Wahlschalter 19 mit einem spannungsempfindlichem quelle 23 in den Stromkreis 22 eingeschaltet, indem Aufzeichnungsgerät34 verbunden wird. Durch dan der Schalter31 in seine in Fig. 1 untere Stellung Schließen des Schalters 33 wird die Eingangsspannung umgelegt wird, in der er die Wechselspannungsquelle 38 des Verstärkers 17 auf dem Potential Null gehalten, 55 mit dem veränderlichen Widerstand 24 verbindet. Die Ausgangsspannung, die dann ebenfalls Null sein, Statt der Wechselspannungsqueile 38 könnte auch ein sollte, wird an Hand des von dem Aufzeichnung!!·- Impulsgenerator vorgesehen sein. Die Amplitude gerät 34 auf einem Blatt registrierten Wertes beobach· der Meßspannung, die jetzt eine Wechselspannung tet. Wenn der Verstärker 17 eine Drift zeigt, die bei ist. wird mittels einer Amplitudenmeßvorrichtung 39 geschlossenem Schalter 33 mittels des Aufzeichnungs- 60 gemessen, deren nicht geerdete Eingangskicmme gerätes 34 als positive oder negative Meßspannumj; über den Schalter 19 mit der nicht geerdeten Ausfestgestellt wird, wird ein den Arbeitspunkt des Ver- gangsklemme des Verstärkers 17 und deren Ausgang stärkers 17 beeinflussender, verstellbarer Widerstand zur Anzeige mit einem Gleichstrom-Voltmeter 40 innerhalb der Verstärkers mit geeigneten Mitteln so verbunden ist.Output voltage of the amplifier 17 compared to the 45 is calibrated in a known manner. will also be her Compensate value zero, assuming frequency response calibrated to avoid unknown influences of the is that the value of the input voltage also high resistance 15 and the amplifier 17 equals zero. The zero point adjustment is carried out in the cable connecting parts of the calibration device Manner made that the normally open-compensated. For this purpose, the Ausnete shown Switch 33, which, in parallel with the input 50 guide example, also clamps an alternating current source 28 of the amplifier 17 is closed and the given calibration frequency instead of the direct current selector switch 19 switched to a voltage-sensitive source 23 in the circuit 22 by Recording device34 is connected. By then the switch 31 in its lower position in FIG. 1 Closing the switch 33, the input voltage is switched over, in which it the AC voltage source 38 of the amplifier 17 is held at zero potential, 55 connects to the variable resistor 24. The output voltage, which would then also be zero, instead of the AC voltage source 38 could also be a should be provided on the basis of the !! · pulse generator from the recording. The amplitude device 34 on a sheet of registered value observe · the measuring voltage, which is now an alternating voltage tet. When the amplifier 17 shows a drift that is at. is by means of an amplitude measuring device 39 closed switch 33 measured by means of the recording 60, whose ungrounded input Kimme device 34 as positive or negative Meßspannumj; Detected via switch 19 with the ungrounded Aus becomes, the operating point of the output terminal of the amplifier 17 and its output More powerful 17 influencing, adjustable resistance for display with a DC voltmeter 40 is so connected within the amplifier by suitable means.

lange verstellt, bis das Aufzeichnungsgerät 34 dins 65 Um eine Eichung hinsichtlich des Frequenzgangs Spannung Null registriert. Dk: Verstellbarkeit de» der Meßspannung durchführen zu können, müssen nicht gezeigten Widerstands ist durch einen Pfeil JS zunächst die Nullpunkteinstellung der Meßspannung angedeutet. und die Anpassung an die Intensität der Strahlungs-Adjusted for a long time until the recording device 34 dins 65 in order to calibrate the frequency response Voltage zero registered. Dk: adjustability of the measuring voltage to be able to perform Resistance, not shown, is initially the zero point setting of the measuring voltage by an arrow JS indicated. and the adaptation to the intensity of the radiation

19221922

99 ^Λ 10 ^Λ 10

quelleil erfolgt sein, wie beschrieben. Danach wird Dies ist beim ^usführungsbeispiel der Fall, bis diesourceil be done as described. This is then the case with the execution example until the

bei entferntem Gegenstand 14 der Umschalter 37 er' Frequenz der Wechselstromquelle 38 diejenige Grenz*with the object 14 removed, the switch 37 er 'frequency of the alternating current source 38 that limit *

neut umgelegt· so daß er den Schleifer 26 mit dem frequenz der Meßvorriehtting erreicht hat, bei deragain turned over so that it has reached the grinder 26 at the frequency of the measuring device at which

nicht geerdeten Anschluß des Potentiometers 27 ver- sich eine Dämpfung von 3 db ergibt. Diese Grenz*ungrounded connection of the potentiometer 27 results in an attenuation of 3 db. This limit *

bindet. Der Wählschalter 19 wird in diejenige Stellung $ frequenz ist weitgehend durch die ÄC-Zeitkonstantebinds. The selector switch 19 is in the position $ frequency is largely due to the ÄC time constant

gebracht, in der er die Affißlitudenmeßvorficritung 39 du» Hochohmwiderstandes IS und des Kondensatorsbrought, in which he the Affißlitudenmeßvorficritung 39 du "high ohmic resistance IS and the capacitor

und damit das Voltmeter 40 mit dem Ausgang des 16 festgelegt. Die Wechselstromquelle 38 umfaßt dannand thus the voltmeter 40 is fixed to the output of the 16. The AC power source 38 then includes

Verstärkers 17 verbindet, während der Umschalter 31 einen Oszillator, der eine Spannungsamplitude gleichAmplifier 17 connects, while the changeover switch 31 is an oscillator, which equals a voltage amplitude

so umgelegt bleibt, daß die Gleichstromquelle 23 dar Spannung der Gleichstromquelle 23 und eineremains so converted that the direct current source 23, the voltage of the direct current source 23 and a

mit dem veränderlichen Widerstand 24 verbunden to einzige Eichfrequenz aufweist, die mit derjenigenconnected to the variable resistor 24 to the only calibration frequency that with that

ist. Unter diesen Bedingungen wird von dem Ver- Firequenz zusammenfällt, bei der die Meßvorrichtungis. Under these conditions, the fire sequence coincides with which the measuring device

stärker 17 eine positive, endliche Gleichspannung als eine Dämpfung von 3 db aufweist. Wird ditse Wech-stronger 17 has a positive, finite DC voltage than an attenuation of 3 db. Will this change

Ausgangsspannung erzeugt, deren Wert mittels des selstromquelle 38 in den Stromkreis 22 eingeschaltet,Output voltage generated, the value of which is switched into the circuit 22 by means of the selstromquelle 38, Voltmeters 40 ablesbar ist. Der Wert der am Volt- indem der Umschalter 31 aus der gezeigten StellungVoltmeter 40 can be read. The value of the volt by pulling the switch 31 out of the position shown

meter 40 abgelesenen Spannung ergibt sich zu: i$ in seine untere Stellung umgelegt wird, muß demnachThe voltage read from meter 40 results in: i $ is moved to its lower position, must therefore

eine Spannung an dem Voltmeter 40 abgelesenread a voltage on voltmeter 40

_ £« /t _ _v* (2) werden, die der um 3'ib gedämpften Spannung bei_ £ «/ t _ _v * (2) will add to the tension attenuated by 3'ib

" &"& eingeschalteter Gleichstromquelle 23 entspricht. Wennswitched on DC power source 23 corresponds. When

die abgelesene Spannung sich von dieser zu erwarten-the voltage read can be expected from this-

Die Gleichung (2) stellt die Verlagerung der Aus- ao den Ablesung unterscheidet, wird eine den frequenz-Equation (2) represents the shift in output ao the reading differs, if a frequency

gangsspannung des Verstärkers gegenüber dem Wert gang beeinflussende Impedanz der Meßvorrichtungoutput voltage of the amplifier compared to the value output influencing impedance of the measuring device

während der Eichung unter Anpassung an die Intensi- verstellt und damit der Frequenzgang verändert, bisadjusted during calibration with adaptation to the intensity and thus changed the frequency response, to

tat der Strahlungsquelle 11 dar und <vird dadurch er- die zu erwartende Spannung an dem Voltmeter 40This is shown by the radiation source 11 and the voltage to be expected at the voltmeter 40 is thereby obtained

halten, daß in die Gleichung (1) eingesetzt wird: abgelesen wird. Bei dem Ausführungsbeispiel nachhold that in equation (1) is inserted: is read. In the embodiment according to

as Fig. 1 ist in der Schaltung mit TiefpaßverhaltenAs Fig. 1 is in the circuit with low-pass behavior

7 — R iinrJ Λ — '*' "^1S der dem Hochohmwiderstand 15 parallelgeschaltete 7 - R iinrJ Λ - '*'" ^1S of the high resistance 15 connected in parallel

'" " ^{1S p} " _tn " Kondensator 16 die zu verstellende Impedanz. Bei'"" ^{1S p} " _tn " capacitor 16 the impedance to be adjusted. at

anderen Schaltungen können auch andere Filtereigen-other circuits can also have other filter properties

Ztn = Λ» gilt, weil nunmehr in dtt Schaltung kein schäften durch veränderliche Blindwiderstände geWechselstrom fließt, so daß die von Hochohmwider- 30 geben sein, beispielsweise kann ein Tiefpaßfilter an stand 15 und Kondensator 16 gebildete Parallelschal- den Ausgangsklemmen des Verstärkers 17 angeschlostung gleichstrommäßig nur als Hochchmwiderstiind 15 sen sein. Bei komplizierterem Verlauf des Frequenzzu betrachten ist. Der Wert ganges kann es auch erforderlich sein, den Frequenzgang abschnittsweise bei mehr als einer Eichfrequenz Ztn = Λ »applies because now in the dtt circuit no alternating current flows through variable reactive resistances, so that the high-ohmic resistors can be given, for example, a low-pass filter at stand 15 and capacitor 16 can be connected in parallel to the output terminals of the amplifier 17 with direct current only be 15 sen as high-temperature resistance. With a more complicated course of the frequency is to be considered. For the value ganges it may also be necessary to adjust the frequency response in sections with more than one calibration frequency

, _ /* R_n , _ / * R _n 35 dadurch festzulegen, daß nacheinander in jedem35 to be determined by the fact that one after the other in each

^p " £_2s Abschnitt eine besondere Einstellung der Dämpfung ^p " £ _2s section a special setting of the damping

erfolgt, indem eine den Frequenzgang in diesem Abergibt sich aus der Gleichung (1) unter der Bedingung, schnitt bestimmende Impedanz verstellt wird, daß die Anpassung an die Intensität der Strah- Um die Art und Weise, in der der frequenzgang lungsquelle 11 erfolgt ist, wobei di ϊ Ausgangsspan- 40 der Schaltung mit Tiefpaßverhalten bei der Meßvornung e₀ des Verstärkers 17 gleich Null und γ -= 1 ist. richtung nach F i g. 1 geeicht wird, an zwei Einzel-Der Frequenzgang der hinsichtlich Nullpunktein- fällen zu betrachten, wird auf die Darstellung nach stellung und Anpassung an die Intensität der F i g. 2 Bezug genommen. In dieser ist die Ampli-Strahlungsquelle 11 bereits geeichten Meßvorrichtung tude der Meßspannung über der Frequenz aufgetragen, wird nun dadurch bestimmt, daß d e Wechselstrom- 45 Dabei sei zunächst angenommen, daß der durch quelle 38 an Stelle der Gleichstronquelle 23 einge- Eichung zu erreichende Frequenzgang der Meßvorschaltet wird, indem die Stellung des Umschalters richtung nach F i g. 1 durch die Eichkurve 42 in 31 geändert wird. Die Amplitude der Spannung der F i g. 2 wiedergegeben ist. Die Eichkurve 42 verläuft, Wechselstromquelle 38 ist der Spannung der Gleich- von der Frequenz Null (Gleichstrom) ausgehend, zustromquelle23 gleich, d. h. der Spannungsunterschied 50 nächst verhältnismäßig flach bis zu einer Frequenz/,, zwischen aufeinanderfolgenden Amplituden ist bei wo eine Dämpfung von 3 db auftritt. Von der Frequenz der Spannung der Wechselstromquclle 38 gleich der J₁ an weist die Kurve 42 eine Dämpfungszunahme von doppelten Spannung der Gleichstromquelle 23. Dabei 3 db pro Oktave auf. Der gesamte Verlauf der ist für sehr niedrige Frequenzen der von der Ampli- Eichkurve 42 ist also im wesentlichen bestimmt durch tudenmeßvorrichtung 39 gemessene Wert etwa gleich 55 eine willkürlich vorgebbare Frequenz — im vorliegendemjenigen, der bei in dem Stromkreis 22 vorge- den Fall J₁ — und durch eine dieser zugeordnete sehener Gleichstromquelle 23, also i>ei der Frequenz Dämpfung — im vorliegenden Fall 3 db. Die derart Null, gemessen wird. Wird die Frequenz der Wechsel- vorgegebene Frequenz wird im folgenden als Eichstromquelle 38 jedoch erhöht, so dämpfen die Impe- frequenz bezeichnet.takes place by adjusting the frequency response in this transfer from equation (1) under the condition that the cut-determining impedance is adjusted that the adaptation to the intensity of the radiation source 11 is made to the way in which the frequency response is done, where di ϊ output voltage 40 of the circuit with low-pass behavior at measuring device e ₀ of amplifier 17 is equal to zero and γ - = 1. direction according to fig. 1 is calibrated on two single The frequency response of the zero point incidence is to be viewed on the representation after setting and adaptation to the intensity of the F i g. 2 referred to. In this, the ampli-radiation source 11 is already calibrated measuring device tude of the measuring voltage plotted against the frequency, is now determined by the fact that the alternating current 45 It is initially assumed that the frequency response to be achieved by source 38 instead of direct current source 23 calibration the measuring upstream is switched by the position of the switch in the direction of FIG. 1 is changed to 31 by the calibration curve 42. The amplitude of the voltage of the F i g. 2 is reproduced. The calibration curve 42 runs, the alternating current source 38 is the voltage of the direct current starting from the frequency zero (direct current), the same as influx source23, ie the voltage difference 50 next is relatively flat up to a frequency / ,, between successive amplitudes at where there is an attenuation of 3 db occurs. From the frequency of the voltage of the alternating current source 38 equal to J ₁ , the curve 42 has an increase in attenuation of twice the voltage of the direct current source 23, 3 db per octave. The entire course of the is for very low frequencies that of the ampli calibration curve 42 is essentially determined by the tuden measuring device 39 measured value approximately equal to 55 an arbitrarily predeterminable frequency - in the present case that in the case J ₁ in the circuit 22 - and by a direct current source 23 assigned to it, that is to say i> ei of the frequency attenuation - in the present case 3 db. Which is so zero that is measured. However, if the frequency of the alternating predetermined frequency is increased in the following as calibration current source 38, then damping is referred to as the pulse frequency.

danzen der Schaltung mit Tief paß verhalten, z. B. der 60 Es sei nunmehr angenommen, daß die Schaltung Kondensator 16, die Meßspannung, :,o daß die Ampli- mit Tiefpaßverhalten bei der Meßvorrichtung nach tude der Spannung e₀ an der Ausjjangskk?nme des F i g. 1 tatsächlich den durch die Kurve 43 wiederVerstärkers 17 abnimmt. gegebenen Frequenzgang aufweist, wobei der Fre-Bei den meisten Meßvorrichtungen, bei denen der quenzgang einen verhältnismäßig flachen Verlauf von Frequenzgang als der eines einfachen Tiefpaßfilters 65 der Frequenz Null bis zu einer mittleren Frequenz betrachtet werden kann, bleibt die Amplitude der aufweist, von der die Kurve 43 bis zu einer Dämpfung Meßspannung bei wachsender Frequenz zunächst von 3 db bei der Frequenz /, abfällt, wobei /, < J₁. verhältnismäßig konstant. Jenseits der Dämpfung von 3 db fällt die Kurve 43Danzen the circuit with low pass behave, z. B. The 60 It is now assumed that the circuit capacitor 16, the measuring voltage,:, o that the ampli with low-pass behavior in the measuring device after the voltage e ₀ at the output terminal of FIG. 1 actually decreases the amplifier 17 again through curve 43. Has given frequency response, the frequency response in most measuring devices in which the quenzgang a relatively flat course of frequency response can be viewed as that of a simple low-pass filter 65 of frequency zero to a medium frequency, the amplitude remains that of which the Curve 43 up to an attenuation of the measuring voltage with increasing frequency initially of 3 db at the frequency /, where /, < J ₁ . relatively constant. Curve 43 falls beyond the attenuation of 3 db

19221922

11 1211 12

und damit der angenommene Frequenzgang; mit 3 db vorgenommen. Aus der Gleichung (3) ergibt sich, daßand thus the assumed frequency response; made with 3 db. From equation (3) it follows that

pro Oktave ab, wie dies auch bei der Eichkurve 42 sich der Wert der Ausgangsspannung des Verstärkersper octave, as is the case with the calibration curve 42, the value of the output voltage of the amplifier

der Fall ist. Der Frequenzgang der Meövoitrichtung 17 im Falle der eingeschalteten Wechselstromquelle 38the case is. The frequency response of the measuring device 17 when the alternating current source 38 is switched on

naeh F i g, 1 kann in diesem Fall mit der Eicbkurve 42 von dem Wert im Falle der eingeschalteten Gteich-according to F i g, 1 in this case with the calibration curve 42 of the value in the case of the activated calibration

zur Deckung gebracht werden, also geeicht werden, S stromquelle 23 um folgenden Betrag unterscheidet: indem der Wert des Kondensators 16 und damit, diebe brought to congruence, i.e. are calibrated, S power source 23 differs by the following amount: by the value of the capacitor 16 and thus, the

von dem Hochohmwiderstand 15 und dem Kondensat £»a _ j *\ A₁₅C_{14 4} of the high resistance 15 and the condensate £ »a _ j * \ A ₁₅ C _{14 4}

tor 16 bestimmte ÄC-Zeitkonstante entsprechend ver* _Λ \ ± j w_t R_tiC_u
ändert wird.tor 16 determined ÄC time constant according to ver * _Λ \ ± jw _t R _ti C _u
will change.

Die Feststellung, ob der Frequenzgang der Meß- to und daß die Ausgangsspannung bei WechselstromThe determination of whether the frequency response of the measuring to and that the output voltage with alternating current

torrichtung nach F i g. 1 mit der Eichkurve 42 über- stets kleiner als die Ausgangsspannung bei Gleich-gate direction according to fig. 1 with the calibration curve 42 always smaller than the output voltage with constant

iinstimmt oder ob er auf einer anderen Kurve liegt, strom ist. Die Gleichung (4) zeigt, daß für t. B. der Kurve 43, erfolgt durch Einschaltung deragrees or whether it is on a different curve, is current. Equation (4) shows that for t. B. the curve 43, takes place by switching on the

Wechselstromquelle 38 in den Stromkreis 22 an Ste'<e _H. ._ 1 Her Gleichstromquelle 23 und durch Einstellung der 15 ' Ä_ISC,_e t-'requenz der Wechselstromquelle 38 auf die Eichfrequenz /, und auf eine Spannungsamplitude gleich die Ausgangsspannung des Verstärkers 17 gegenüber tier Spannung der Gleichstromquelle 23. Elei einem der Frequenz und Winkelgeschwindigkeit Null um tatsächlichen Verlauf des Frequenzgangs nach Kurve 3 db gedämpft ist. wie dies von einer Schaltung zu 43 dampfen die Impedanzen in der Schaltung mit ao erwarten ist, die ein Tiefpaßverhalten entsprechend Tiefpaßverhalten die Eichfrequenz J_x in größerem dem eines einfachen ÄC-Filters aufweist. Maße, als dies bei einer Schaltung der Fall wäre, die Nach der Eichung der Meßvorrichtung hinsichtlich den gewünschten Frequenzgang Besitzt, der durch die ihies Frequenzganges wird der Umschalter 31 wieder tichkurve 42 gegeben ist. Dies ist erkennbar beim Ver- in seine in Fig. 1 gezeigte betriebsmäßige Stellung gleich der jeweiligen Werte der Kurve 43 und der 35 gebracht. Die Meßvorrichtung ist damit betriebs-Eichkurve 42 bei der Eichfrequenz /,. Die Dämpfung bereit. Zur betriebsmäßigen Messung wiird der Gegenwird mittels der Amplitudenmeßvorrichturig 39 und stand 14 wieder in die Meßstrecke gebracht, und es des Voltmeters 40 bestimmt. Der Wert des Kondensa- wird von dem Verstärker 17 eine Ausgangsspannung tors 16 wird nun vermindert, ohne daß die Frequenz erzeugt, die nach Größe und Vorzeichen dem Gewicht oder Amplitude der Wechselstrc.nquelle 38 verändert 30 pro Flächeneinheit des Gegenstandes 14 proportional wird. Dabei ergibt sich eine Vergrößerung der Ampli- ist. Die Ausgangsspannung des Verstärkers 17 wird tude der Ausgangsspannung des Verstärkers 17, die jetzt dem Aufzeichnungsgerät 34 zugeführt, so daß am Voltmeter 40 feststellbar ist. Wenn der Kondensa- eine sichtbare Aufzeichnung des Gewichts pro Flächentor 16 in geeigneter Weise verstellt worden ist, stimmt einheit des untersuchten Gegenstandes 14 erhalten die Spannung, die am Voltmeter 40 abgelesen wird, 35 wird.AC power source 38 in circuit 22 at Ste '<e _H. ._ 1 Her direct current source 23 and by setting the 15 'Ä _IS C, _e t' frequency of the alternating current source 38 to the calibration frequency /, and to a voltage amplitude equal to the output voltage of the amplifier 17 compared to the voltage of the direct current source 23. Elei one of the frequency and zero angular velocity is attenuated by the actual course of the frequency response according to curve 3 db. as is to be expected from a circuit for 43 damping the impedances in the circuit with ao, which has a low-pass behavior corresponding to the low-pass behavior of the calibration frequency J _x , which is greater than that of a simple ÄC filter. Dimensions than would be the case with a circuit which, after calibration of the measuring device, possesses the desired frequency response, which is given by the frequency response of the switch 31 again tich curve 42. This can be seen when it is brought into its operational position shown in FIG. 1 equal to the respective values of curve 43 and 35. The measuring device is thus operating calibration curve 42 at the calibration frequency /,. The cushioning ready. For operational measurement, the counter is brought back into the measuring section by means of the amplitude measuring device 39 and stand 14, and it is determined by the voltmeter 40. The value of the capacitor is now reduced by the amplifier 17, an output voltage gate 16, without the frequency being generated, which changes in magnitude and sign to the weight or amplitude of the alternating current source 38 per unit area of the object 14 is proportional. This results in an increase in the amplitude. The output voltage of the amplifier 17 is equal to the output voltage of the amplifier 17, which is now fed to the recording device 34, so that the voltmeter 40 can be determined. If the condensate a visible record of the weight per surface gate 16 has been adjusted in a suitable manner, the unit of the examined object 14 is correct, the voltage which is read on the voltmeter 40, 35 is obtained.

mit derjenigen Spannung überein, die siclh aus der Andererseits wird eine Anzeige der spektralen ZuDämpfung von 3 db bei der Eichfrequenz /, ent- sammensetzung des von der Ionisationskammer 12 sprechend der Eichkurve 42 ergibt, so daß jetzt auch erzeugten Ionisationsstromes innerhalb des Durchlaßder tatsächliche Frequenzgang der Meßvorrichtung bereiches der Schaltung mit Tiefpaßverhalten dadurch durch die Kurve 42 wiedergegeben wird. In ähnlicher 40 erhalten, daß der Ausgang des Verstärkers 17 über Weise, aber mit entgegengesetztem Vorzeichen, wird den Wahlschalter 19 mit einer Vorrichtung 45 verder Wert des Kondensators 16 in dem Fall verändert, bunden wird, die die spektral«; Zusammensetzung daß der Frequenzgang der Meßvorrichtung durch die dtr Meßspannung analysiert und vorzugsweise als ein Kurve 44 wiedergegeben wird, wo erst bei einer Fre- auf Grund der Berechnung dei statistischen Standardquenz /₃ > /, eine Dämpfung von 3 db auftritt. 45 abweichung arbeitender Rechner ausgebildet ist. Dieon the other hand, a display of the spectral additional attenuation of 3 db at the calibration frequency /, composition of the calibration curve 42 corresponding to the ionization chamber 12, so that the ionization current generated within the passage now also shows the actual frequency response of the Measuring device area of the circuit with low-pass behavior is thereby reproduced by curve 42. In a similar 40 obtained that the output of the amplifier 17 on way, but with the opposite sign, the selector switch 19 is changed with a device 45 changing the value of the capacitor 16 in the case that the spectral «; Composition that the frequency response of the measuring device is analyzed by the dtr measuring voltage and is preferably reproduced as a curve 44, where an attenuation of 3 db _{only occurs in the case of a Fre- based on the calculation of the statistical standard sequence / 3> /.} 45 deviation working computer is designed. the

Nachstehend wird theoretisch dargelegt, d»ß das Vorrichtung 45 ermittelt die statistische Standardab-Einschalten der Wechselstromquelle 38 mit sinus- weichung der Meßspannung für eine Vielzah'^on unterförmiger Spannung, mit einer Spannungsamplitude schiedlichen Frequenz-Teilbereichen. Sie ei zeugt beigleich der Spannung der Gleichstromquelle 23 und spielsweise an einer Vielzahl von Ausgängen, die jeeiner Winkelgeschwindigkeit W₁ bewirkt, daß die 50 weils einem Frequenz-Teilbereich zugeordnet sind, Amplitude der Ausgangsspannung des Verstärkers 17 jeweils eine ein Maß für die Standardabweichung folgenden Wert annimmt: der Meßspannung bildende Ausgangsspannung. DieIn the following it will be shown theoretically that the device 45 determines the statistical standard switch-off of the alternating current source 38 with sinusoidal deviation of the measuring voltage for a multitude of undershaped voltage, with a voltage amplitude of different frequency subranges. It also testifies to the voltage of the direct current source 23 and, for example, at a large number of outputs, each of which has an angular velocity W ₁ that the 50 because are assigned to a frequency subrange, the amplitude of the output voltage of the amplifier 17 in each case a value following a measure for the standard deviation assumes: the output voltage forming the measuring voltage. the

Standardabweichung ist ein Maß für die gesamte Ab-Standard deviation is a measure of the total deviation

e = -** ( * ^ (3) weichung einer Signalamplitude von der mittleren e = - ** ( * ^ (3) deviation of a signal amplitude from the mean

⁰ _α \ 1 + JH₁Ri₅C,,, / 55 Signalamplitude und ist wie folgt definiert: ⁰ _α \ 1 + JH ₁ Ri ₅ C ,,, / 55 signal amplitude and is defined as follows:

τ τ τ τ

Die Gleichung (3) ist ableitbar unter der Überlegung, 1 f\ 1 Γ 1Equation (3) can be derived from the consideration that 1 f \ 1 Γ 1

daß die Amplitude der an dem Potentiometer 25 ^σ ~ γ j K¹^jJ ^Λ0<" ^d'⁽⁵⁾'that the amplitude of the potentiometer 25 ^σ ~ γ j K ¹ ^ jJ ^{Λ0 <} " ^d ' ⁽⁵⁾ '

abfallenden Wechselspannung der Gleichspannung 5 0falling AC voltage of DC voltage 5 0

E₂₅ gleich ist, die sonst an dem gleichen Potentiometer 60 wobeiE _{25 is the} same, which is otherwise on the same potentiometer 60 being

25 abfällt. Weiter wird Zt_n in der Gleichung (1) σ¹ das Quadrat der Standardabweichung,25 drops. Furthermore, Zt _n in equation (1) σ ¹ becomes the square of the standard deviation,

unter Berücksichtigung der Wechselstromimpedanz V die Varianz,taking into account the alternating current impedance V is the variance,

des Kondensators 16 ausgedruckt, und es wird die T das Zeitintervall, für das die Standardabweichungof the capacitor 16 is printed out, and it becomes the T is the time interval for which the standard deviation

Substitution berechnet wird,Substitution is calculated,

65 t die Zeit und65 t the time and

ο _ JjJ^nο _ JjJ ^ n f(t) das Signal, dessen Standardabweichung berechnet f (t) is the signal whose standard deviation is calculated

£"» ^wird>£ "» ^becomes >

ist.is.

1 80! 0331 80! 033

13 ^l 1413 ^l 14

Die Ausgangssignale, die jeweils an einem Ausgang die jeweilige Ausgangsspannung des Verstärkers 17 der Vorrichtung45 erhalten werden, werden getrenn- (Fig. i), wird über den Leiter53 des jeweiligen ten Eingängen eines weiteren Aufzeichnungsgerätes 46 Kabels 50 als Meßspannung zum Multiplexschalter52 zugeführt, mittels dessen eine sichtbare Aufzeichnung in der Zentrale 51 übertragen. Über den Mulltiplexder spektralen Zusammensetzung des lonisations- 5 schalter 52 werden diese Meßspannungen im Zeitstromes hinsichtlich der durch die Vorrichtung 45 multiplexverfahren nacheinander dem Schalter 62 bestimmten Teil-Frequenzbereiche erzeugt wird. Die zugeführt, über den wahlweise das Aufzeichnungs-Aufzeichnungen der Aufzeichnungsvorrichtung 46 gerät 34 oder die Amplitudenmeßvorrichtung 39 mit gehen den auf den jeweiligen Teil-Frequenzbereich dem nachgeschalteten Voltmeter 40 angeschlossen entfallenden spektralen Anteil des lonisationsstromes io werden können. The output signals, which are each obtained at one output, the respective output voltage of the amplifier 17 of the device 45, are separated (Fig. I), is fed via the conductor 53 of the respective th inputs of a further recording device 46 cable 50 as measuring voltage to the multiplex switch 52 , by means of which a visible record in the center 51 is transmitted. Via the mulletiplex of the spectral composition of the ionization switch 52, these measurement voltages are generated in the time stream with regard to the partial frequency ranges determined by the device 45 multiplexing method one after the other for the switch 62. The supplied, via which either the recording recordings of the recording device 46 device 34 or the amplitude measuring device 39 can be used to connect the spectral portion of the ionization current to the respective partial frequency range connected to the downstream voltmeter 40.

genau wieder, weil der Frequenzgang der Meßvorrich- Um eine vollständige Eichung aller N Meßvorrichtung nach Fig. 1 geeicht ist. Auf Grund dieser tungen in drei Schritten durchführen zu können, Eichung entspricht der Amplitudenverlauf der Meß- weist die Zentrale 51 drei getrennte Steueryorrichspannung in Abhängigkeit von der Frequenz genau tungen 63 bis 65 für die Eichung auf, nämlich eine der Eichkurve 42 in F i g. 2. Da dieser Frequenzgang 15 Steuervorrichtung 63 für den Nullpunktabgleich des bekannt ist, kann die von der Vorrichtung 45 vorge- Verstärkers 17, eine Steuereinrichtung 64 zur Anpasnommene Analyse der spektralen Zusammensetzung sung sn die Intensität der Strahlungsquelle 11 und eine als zuverlässig angesehen werden. Andererseits wären Steuervorrichtung 65 zur Eichung des Frequenzganjcdoch bei nicht geeichter Meßvorrithtung und bei ges. Jede der Steuervorrichtungen 63 bis 65 weist demgemäß nach einer der Kurven 43 oder 44 in ao zwei Steuerausgänge auf. An einem Steuerausgang F i g. 2 verlaufendem Frequenzgang die Amplituden wird ein Vorbereitungssignal abgegeben, das zwei der 1 requenz-Tcilbereiche in der der Vorrichtung 45 Werte annehmen kann und das bei einem Wert über zugcführten Meßspannung und damit die Ausgangs- den Multiplexschalter 52 die Umschaltung eines spannungen der Vorrichtung 45 nur ungenau bestimm- Schalters innerhalb einer Meßvorrichtung zur Vorbebar. Dies ergibt sich auf Grund des durch Impedanzen 25 reitung der Eichung bewirkt, während das an dem bestimmten Frequenzganges der Meßvorrichtung, zweiten Ausgang anstehende Steuersignal eine Verwenn diese in oder über demjenigen Frequenzbereich stellung desjenigen Schaltungsteils der Meßvorrichbetrieben wird, bei dem eine Dämpfung von 3 db tung bewirkt, der für den jeweiligen Schritt des Eichauftritt. Verfahrens maßgebend ist.exactly again because the frequency response of the measuring device is calibrated in order to complete calibration of all N measuring devices according to FIG. On the basis of these lines being able to carry out calibration in three steps, the amplitude curve corresponds to the measurement, the central unit 51 has three separate controlorrich voltage depending on the frequency exactly lines 63 to 65 for the calibration, namely one of the calibration curve 42 in FIG. 2. Since this frequency response 15 control device 63 for the zero point adjustment is known, the amplifier 17, a control device 64 for the adapted analysis of the spectral composition, the intensity of the radiation source 11 and the intensity of the radiation source 11 can be regarded as reliable. On the other hand, there would be control device 65 for calibrating the frequency start with non-calibrated measuring devices and with total. Each of the control devices 63 to 65 accordingly has two control outputs according to one of the curves 43 or 44 in ao. At a control output F i g. 2 running frequency response the amplitudes, a preparation signal is emitted, which can assume two of the 1 frequency range in the device 45 values and which is only imprecise for a value over the supplied measuring voltage and thus the output switch 52 of the multiplex switch 52, the switching of a voltage of the device 45 determinate switch within a measuring device to be prepared. This is due to the calibration caused by impedances, while the control signal pending at the specific frequency response of the measuring device, second output, is operated in or above that frequency range position of that circuit part of the measuring device in which an attenuation of 3 db device which occurs for the respective step of the calibration. Procedure is decisive.

Es ist bisher davon ausgegangen worden, daß die 30 Zum Betätigen des Schalters33 (Fig. 1) besitzt Verstellung des Schleifers 28. des Kondensators 16, die Steuervorrichtung 63 für den Nullpunktabgleich der I 'nischalter 31. 37 und des Schalters 33 direkt von einen Steuerausgang 66. der über den Multiplex-Hand erfolgte. Diese Teile können jedoch auch schalter 52 mit den Leitern 59 in den Kabeln 50 unter Verwendung entsprechender Stellmotoren oder verbindbar ist. Nach Inbetriebnahme der Steuervoraiulerer Stellantriebe ferngesteuert werden. So kann 35 richtung 63 wird an dem Stcuerausgang 66 der Wert die Mcßvorrichtung nach Fig. 1 Teil einer mehrere des Voibereitungssignals verändert, indem beispielsglcichariige Meßvorrichtungen umfassenden Meßein- weise die Spannung an dem Steuerausgang 66 von Null richtung sein, wie sie z. B. in einer Anlage zur Her- auf einen endlichen Wert ansteigt. Hierdurch wird, stellung von Zellophan verwendet wird. Dabei können falls das Steuergerät 53.1 den Multiplexschalter su die verschiedenen Meßvorrichtungen von einer einzi- 40 geschaltet hat, daß er an das der ersten Meßvorrichgen Stelle aus ferngesteuert werden. Ein System, bei tung zugeordnete Kabel 50 angeschlossen ist, der Schaldcm eine Vielzahl derartiger Meßvorrichtungen vor- tcr33 in der ersten Meßvorrichtung geschlossen, gesehen ist, die zur Eichung von einer einzigen Zentrale Danach betätigt eine Bedienungsperson den Schalter aus auf Zeitmultiplcxbasis gesteuert werden, ist in 62, so daß die Ausgangsspannung des Verstärkers 17 dem Blockschaltbild der F i g. 3 dargestellt. 45 der ersten Meßvorrichtung als Meßspannung an denIt has so far been assumed that the 30 has to operate the switch 33 (Fig. 1) Adjustment of the wiper 28 of the capacitor 16, the control device 63 for the zero point adjustment the I 'nischalter 31.37 and the switch 33 directly from a control output 66. the over the multiplex hand took place. However, these parts can also switch 52 with the conductors 59 in the cables 50 using appropriate servomotors or can be connected. After commissioning the tax prepayment Actuators can be controlled remotely. So can 35 direction 63 is the value at the control output 66 the measuring device according to FIG. 1, part of a plurality of the preparation signal changed by example Measuring devices include measuring instructions, the voltage at the control output 66 from zero be direction as you z. B. in a system to increase to a finite value. This will position of cellophane is used. In this case, if the control unit 53.1 can use the multiplex switch, see below has switched the various measuring devices from one single 40 to that of the first measuring devices Body can be controlled remotely. A system in which the associated cable 50 is connected is the Schaldcm a large number of such measuring devices are closed in front of tcr33 in the first measuring device, is seen, the calibration of a single center then an operator operates the switch off on a time multiplex basis is in 62 so that the output voltage of the amplifier 17 the block diagram of FIG. 3 shown. 45 of the first measuring device as a measuring voltage to the

Im Blockschaltbild der F i g. 3 sind die erste, zweite Eingang des Aufzeichnungsgerätes 34 gelegt ist. Unter und /V-tc Meßvorrichtung aus einer Vielzahl von Strah- diesen Umständen sollte die von dem Aufzeichnungslungsintensitätsmcßvorrichtungen der aus Fig. 1 gerät34 zur Anzeige gebrachte Ausgangsspannung bekannten Art gezeigt. Sie werden von einer einzigen des Verstärkers 17 gleich Null sein. Die Bedicnungs· Zentrale 51 aus geeicht, über tV Kabel 50 und einen von so person beobachtet mittels des Aufzeichnungsgerätes dem Steuergerät 53.1 betätigten Multiplexschalter 52 34. ob dies der Fall ist, und ändert nötigenfalls die werden einerseits Steuersignale von der Zentrale 51 Abglcichsverhältnisse innerhalb des Verstärkers 17 zu den N Meßvorrichtungen und andererseits von die- durch entsprechende Steuerung. Hierzu wird ein an sen erzeugte Ausgangsspannungen zur Zentrale 51 dem Steuerausgang 67 der Steuervorrichtung 63 anübcrtragen, wo diese Ausgangsspannungen als Meß- SS stehendes Steuersignal in Form einer Steuerspannung spannungen dienen. Jeder der N Meßvorrichtungen erzeugt. Die Steuerspannung wird über den Leiter 58 ist ein gesondertes Kabel 50 zugeordnet, und jedes in dem der ersten Meßvorrichtung zugeordneten Kabel der N Kabel 50 weist sieben Leiter S3 bis 59 und 50 zu dieser übertragen und speist dort einen nicht einen geerdeten Mantel auf. Die Leiter 53 dienen dargestellten Stellmotor oder einen anderen Stelfan· jeweils zur übertragung einer Meßspannung; die 60 trieb, der einen Widerstand in dem Verstärker 17 Leiter 54 bis 59 der Steuerung bei der Eichung. verstellt. Dessen Abgleich wird in dieser Weise so Die Kabel 50 haben je nach dem Abstand der Meßvor- lange verändert, bis mittels des Aufzeichnungsgerichtungen von der Zentrale 51 unterschiedliche rätes 34 festgestellt wird, daß die Ausgangsspannung Längen, und der Kapazitätsbelag der Kabel 50 kann des Verstärkers 17 wieder zu Null geworden ist. verschieden sein, so daß die Kapazität der Kabel 50 65 Danach schaltet die Bedienungsperson die Steuervorbei der Eichung hinsichtlich des Frequenzganges der richtung 63 ab, wodurch der Schalter 33 wiedrr ge-Meßspannungen berücksichtigt werden muß. öffnet wird, wonach der Abgleich des Verstärkers 17 In the block diagram of FIG. 3 are the first, second input of the recording device 34 is placed. Under and / V-tc measuring device from a variety of radiation conditions, the output voltage known from recording intensity measuring devices of the type shown in Fig. 1 should be shown. They will be zero from a single one of the amplifier 17. The control center 51 is calibrated via tV cable 50 and a multiplex switch 52 34 operated by the recording device to the control device 53.1, which is monitored by the person using the recording device, and if necessary changes the control signals from the center 51 on the one hand to comparison conditions within the amplifier 17 to the N measuring devices and, on the other hand, from them- by appropriate control. For this purpose, an output voltage generated at sen to the control center 51 is transmitted to the control output 67 of the control device 63, where these output voltages serve as a control signal in the form of a control voltage. Each of the N measuring devices generates. The control voltage is assigned to a separate cable 50 via the conductor 58, and each of the N cables 50 in the cable assigned to the first measuring device has seven conductors S3 to 59 and 50 which are transmitted to the latter and feed there to a non-earthed sheath. The conductors 53 are used as the servomotor or another control fan, each for the transmission of a measuring voltage; the 60 drove a resistor in the amplifier 17 conductors 54 to 59 of the control during calibration. adjusted. Its adjustment is carried out in this way has returned to zero. be different, so that the capacitance of the cables 50 65 Then the operator switches off the control override for the calibration with regard to the frequency response of the direction 63, whereby the switch 33 must be taken into account again measurement voltages. opens, after which the adjustment of the amplifier 17

Die Ausgangsspannung einer Meßvorrichtung, d. h. aufrechterhalten bleibt.The output voltage of a measuring device, i.e. H. is maintained.

(O(O

I 801 033I 801 033

15 1615 16

Nachdem der Nullpunkt des Verstärkers 17 abge- 38 einschaltet. Die Wßchselstromquelle 38 weist, wie fliehen ist, kann die erste Meßvorrichtung an die bereits erwähnt, eine Wpannungsamplitude gleich der Intensität der Strahlungsquelle U angepaßt werden. Spannung der Gleichstromquelle auf und wird vor-Bei diesem Schritt der Eichung wird zunächst die zugsweise bei derjenigen Eichfrequenz betrieben, bei Steuervorrichtung 64 in Betrieb gesetzt, wodurch an 5 der die Meßspannung der enten Meßvorrichtung eine dem Steuerausgang 68 ein Vorbereitungssignal in Dämpfung von 3 db aufweisen soll. Form einer Steuerspannung erscheint. Diese Steuer- Die von der ersten Meßvorrichtung nach Einschalspannung wird über den Multiplexschalter 52 und einen ten der Wechselstromquelle 38 erzeugte Ausgangs-Leiter 57 in einem Kabel 50 zur ersten Meßvorrichtung spannung wird über einen Leiter 53 der Amplitudenübertragen. Die Steuerspannung bewirkt, daß die io meßvorrichtung 39 und dem nachgeschalteten VoIt-Strahlungsquelle 11 und d<e Ionisationskammer 12 meter'IO zugeführt, da der Schalter 62 I .m Auftreten der ersten Meßstation von dem Gegenstand 14 weg- der Steuerspannung an dem Steuerausgang 70 umgegeschwenkt werden und daß gleichzeitig der Um- schaltet wird. Eine gegebenenfalls notwendige Verschalter 37 von dem Schleifer26 zur gemeinsamen stellung einer den Frequenzgang beeinflussenden Im-Verbindung zwischen dem veränderlichen Wider- 15 pedanz der ersten Meßvorrichtung wird dadurch vorstand 24 und dem Potentiometer 25 umgeschaltet wird. genommen, daß an dem Steuerausgang 71 der Steuer-Nach dieser Vorbereitung wird die Ausgangsspan- vorrichtung 65 ein Steuersignal erzeugt wad. Das nung des Verstärkers 17 mittels des über den Ltiter 53 Steuersignal kann beispielsweise über den Leiter 54 des der ersten Meßvorrichtung zugeordneten Kabels 50 des der ersten Meßvorrichtung zugeordneten Kabels 50 und über den Schalter 62 angeschlossenen Aufzeich- 20 bewirken, daß ein in der ersten Meßvorrichtung vornungsgeräts 34 überwacht. Wenn sich die jetzt aufge- gesehener Stellantrieb den Kondensator 16 verstellt, zeichnete Spannung von dem zu erwartenden Wert, Nachdem die Eichung des Frequenzganges durchgez. ß. Null, unterscheidet, bewirkt die Bedienungsper- führt ist und das Voltmeter 40 eine der der Eichfrei>on, daß von der Steuervorrichtung 64 eine Steuer- quenz zugeordneten Dämpfung entsprechende Spanipannung erzeugt wird, die über den Steuerausgang 69 as nung angezeigt hat, wird die Steuervorrichtung 65 und den Leiter 56 des der ersten Meßvorrichtung zu- außer Betrieb gesetzt, worauf die Steuerspannung am geordneten Kabels 50 einen in der Meßvorrichtung Steuerausgang 70 verschwindet und die Strahlungsvorgesehenen Stellmotor oder einen anderen Stell- quelle H und die Ionisationskammer 12 der ersten antrieb zur Verstellung des Potentiometers 28 speist. Meßvorrichtung wieder in ihre den Gegenstand 14 Eine Verstellung des Potentiometers 28 erfolgt dann 30 erfassende Arbeitsstellung zurückgeschwenkt werden, »o lange, bis die gewünschte Ablesung, z. B. Null, an Während vorstehend vorausgesetzt wurde, daß die dem Aufzeichnungsgerät 34 erhalten wird. Eichung von einer Bedienungsperson durchgeführt Nachdem das Eichverfahren soweit durchgeführt wird, können die einzelnen Schritte dieser Eichung ist. ist die erste Meßvorrichtung der Intensität ihrer auch jeweils automatisch ausgeführt werden, wie dies Strahlungsquelle 11 angepaßt, sobald die Steuervor- 35 für den Fall der Eichung des Frequenzganges noch an richtung 68 wieder außer Betrieb gesetzt und damit Hand der F i g. 4 erläutert werden wird, die Steuerspannung an dem Steuerausgang 69 ver- Nachdem die erste Meß.orrichtuiie in der beschrieschwunden ist, so daß der Umschalter 37 wieder in die benen V.'cise vollständig geeicht ist, wird das Steuerden Schleifer 26 anschließende Stellung gelangt. Der gerät 53.1 derart betätigt, daß es den Multiplex-Fortfall der Steuerspannung an dem Steuerausgang 69 40 schalter 52 auf die Anschlüsse der zweiten Meßvorcrmöglicht auch, daß die Strahlungsquelle 11 und die richtung anstellt. Die Betltigung des Steuergerätes 53.1 Ionisationskammer 12 wieder in ihre Arbeitsstellung bewirkt die Verbindung der zweiten Meövomchtung zurückgeschwenkt werden, in der sich der Gegen· an Stelle der ersten Meßvorrichtung mit der Zentrale stand 14 in der Meßstrecke befindet. Das Zurück- 51, soweit diese dargestellt ist. gleichzeitig aber auch schwenken erfolgt jedoch in zusätzlicher Abhängigkeit 45 die Anschaltung des Leiters 53 des der ersten Meßvorvon einer nicht gezeigten, zeitabhängigen Auslöse· richtung zugeordneten Kabels 50 an eine in der Zen· schaltung, die das Wirksamwerden des entsprechenden trale 51 ebenfalls vorgesehene, nicht i/argeitellte. die Schwenkantriebs erst dann zuläßt, wenn innerhalb statistische Standardabweichung berechnende Vorricheines bestimmten Zeitintervalls nach Abschaltung der tung, deren Ausbildung bereits in Verbindung mit Steuervorrichtung 64 keine zusätzliche Eichung des so F i g. I beschrieben wurde. Jede der übrigen Meß· Frequenzganges erfolgt. vorrichtungen ist normalerweise ebenfalls zur Analyse Die Strahlungsquelle 11 und die Ionisationskammer der spektralen Zusammensetzung der Meßspannung 12 der ersten Meßvorrichtung bleiben in einer von dem mit einer derartigen Vorrichtung verbunden und wird Gegenstand 14 weggeschwenkten Stellung, wenn die von dieser nur getrennt, wenn der Multiplexschalter SJ Meßvorrichtung hinsichtlich ihres Frequenzganges ge- 55 mit dem dieser Meßvorrichtung zugeordneten Kabel 5( eicht wird, falls die Bedienungsperson innerhalb des verbunden ist. Daher kann stlndig die genaue spektral« erwähnten Zeitintervalls von beispielsweise 10 Se' Zusammensetzung der Meßspannungen überwach kuoden nach Abschaltung der Steuervorrichtung 64 werden; von der Überwachung scheidet nur die Meß die Steuervorrichtung 65 in Betrieb setzt, so daß eine spannung einer Meßvorrichtung dann aus, wenn dies« Steuerspannung an dem Steuerausgang70 erscheint. 60 geeicht wird. Ist die zweite Meßvorrichtung nunmchi Diese Steuerspannung wird Über den Letter 55 des in gleicher Weise unter Steuerung von der Zentrale 51 der ersten Meßvorfichtung zugeordneten Kabels zu aus vollständig geeicht, wie dies für die erste Meßvor der ersten Meßvorrichtung übertragen und bewirkt in richtung beschrieben wurde, so können in cntspre jedem Falle, daß die Strahlungsquelle Ii und die loni- chender Weise alle Übrigen Meßvorrichtungen voi sationskammef 12 vom Gegenstand 14 weggeschwenkt 6$ der Zentrale 51 aus nach Weiterschaltcn des Zeit bleiben bzw. werden, während zusätzlich der Umschal- muitiplcxschatters 52 geeicht werden. Sind alle Meß ter 31 betätigt wird, so daß er die Gleichstromquelle 23 vorrichtungen unter Nullpunkleinstellung der Meß abschaltet und an ihrer Stelle die Wechselstromquelle spannung, Anpassung an die Intensität der Strahlung?After the zero point of the amplifier 17 is switched off. The alternating current source 38 has a voltage amplitude equal to the intensity of the radiation source U, the first measuring device can be adapted to that already mentioned. The voltage of the direct current source is applied to the calibration step and is initially operated at that calibration frequency, which is operated by the control device 64, which means that the control output 68 has a preparatory signal in attenuation of 3 db on the measuring voltage of the duck measuring device target. Form of a control voltage appears. This control The voltage from the first measuring device after switch-on voltage is transmitted via the multiplex switch 52 and a th of the alternating current source 38 output conductor 57 in a cable 50 to the first measuring device is transmitted via a conductor 53 of the amplitude. The control voltage causes the measuring device 39 and the downstream VoIt radiation source 11 and the ionization chamber 12 to be fed to the control voltage at the control output 70 when the switch 62 occurs when the first measuring station occurs be swiveled and that the switchover is carried out at the same time. A possibly necessary interconnector 37 from the wiper 26 for the common setting of an Im connection influencing the frequency response between the variable impedance of the first measuring device is switched over by the control unit 24 and the potentiometer 25. Assumed that the control output 71 of the control After this preparation, the output clamping device 65 is generated a control signal. The voltage of the amplifier 17 by means of the control signal via the liter 53 can, for example, via the conductor 54 of the cable 50 assigned to the first measuring device, the cable 50 assigned to the first measuring device and via the switch 62, cause a device in the first measuring device 34 monitored. When the now viewed actuator adjusts the capacitor 16, the voltage recorded from the expected value. ß. Zero, differentiates, causes the operator lockout and the voltmeter 40 is one of the calibration-free> on that the control device 64 generates a damping corresponding to a control sequence, which has indicated via the control output 69 as voltage, the control device becomes 65 and the conductor 56 of the first measuring device is put out of operation, whereupon the control voltage on the orderly cable 50 disappears in the measuring device control output 70 and the radiation-provided servomotor or another control source H and the ionization chamber 12 of the first drive to adjust the Potentiometer 28 feeds. Measuring device back into its object 14. Adjustment of potentiometer 28 is then carried out in the 30-sensing working position. B. Zero, while it was assumed above that the recorder 34 is obtained. Calibration carried out by an operator After the calibration process has been carried out so far, the individual steps of this calibration can be. the first measuring device of the intensity is also carried out automatically, as the radiation source 11 is adapted as soon as the control device is still out of operation at direction 68 in the case of the calibration of the frequency response and thus hand of FIG. 4 will be explained, the control voltage at the control output 69. After the first measuring device has disappeared in the described, so that the switch 37 is fully calibrated again in the same V.'cise, the control of the grinder 26 will come to the next position. The device 53.1 is operated in such a way that the multiplexing of the control voltage at the control output 69 40 switch 52 to the connections of the second measuring device also enables the radiation source 11 and the direction to be switched on. The actuation of the control device 53.1 ionization chamber 12 back into its working position causes the connection of the second measuring device to be swiveled back, in which the counterpart is located in the measuring section in place of the first measuring device with the central station 14. The back 51, as far as this is shown. at the same time but also pivoting, however, the connection of the conductor 53 of the cable 50 assigned to the first measuring front of a time-dependent triggering direction (not shown) to a central circuit that also provides for the activation of the corresponding central 51, not i / argeitelte. the swivel drive only allows if, within a statistical standard deviation, the device calculates a certain time interval after the device has been switched off, the formation of which, in conjunction with the control device 64, does not require additional calibration of the fig. I was described. Each of the other measurement frequency response takes place. The radiation source 11 and the ionization chamber of the spectral composition of the measurement voltage 12 of the first measuring device remain in one of the positions connected to such a device and object 14 is swiveled away if it is only separated from this when the multiplex switch SJ measuring device With regard to its frequency response it is calibrated with the cable 5 assigned to this measuring device, if the operator is connected within the. Therefore, the exact spectrally mentioned time interval of, for example, 10 Se 'composition of the measuring voltages can be monitored after the control device 64 has been switched off Only the measuring device disconnects the control device 65 from monitoring, so that a voltage of a measuring device is then calibrated when this control voltage appears at the control output 70. 60. If the second measuring device is now this control voltage is completely calibrated via the letter 55 of the cable assigned to the first measuring device in the same way under the control of the central unit 51, as was described for the first measuring device and effected in the direction, so in each case that The radiation source Ii and the ionic way all other measuring devices voi sationkammef 12 pivoted away from the object 14 6 $ of the central unit 51 remain or will remain after switching the time, while the switching circuit switch 52 is also calibrated. Are all measuring ter 31 is actuated so that it switches off the DC power source 23 devices under Nullpunkleinstellung the measurement and in its place the AC power source voltage, adaptation to the intensity of the radiation?

quelle und Eichung des Frequenzganges vollständig W_x die Winkelgeschwindigkeit ist, die sich aus der |eeicht, so ist der Frequenzgang praktisch gleich, Unterbrechung der Strahlung durch die Blende 81source and calibration of the frequency response is complete W _{x is} the angular velocity which is calibrated from the | e, then the frequency response is practically the same, interruption of the radiation by the diaphragm 81

Und es ist nicht erforderlich, die Meßspannungen der for den lonisationsstrom ergibt,And it is not necessary to determine the measurement voltages for the ionization current,

verschiedenen Meßvorrichtungen in irgendeiner Weise _{pef Gleicnstromantei}| _der Gleichung (6), A₀ - \ , Pu Kompensieren» 5different measuring devices in some way _{pef constant currents} | _The equation (6), A ₀ - \ , Pu compensate »5

Während F i g. I eine bevorzugte Ausführungsform führt zu einem Gleichspannungsanteil der Ausgangsder Einrichtung zur Eichung der dort ebenfalls dar- spannung des Verstärkers 17 entsprechend der Gleigestellten Meßvorrichtung darstellt, sind auch weitere chung:
Ausführungsformen denkbar. Insbesondere kann eine
Eichung des Frequenzganges auch dann erreicht wer- 10
den, wenn die Modulation des Ionisationsstromes inWhile F i g. A preferred embodiment leads to a direct voltage component of the output of the device for calibration of the voltage of the amplifier 17 which is also displayed there in accordance with the measuring device set up, further information are also:
Embodiments are conceivable. In particular, a
Calibration of the frequency response can then also be achieved 10
when the modulation of the ionization current in

anderer Weise als mittels der Wechselstromquelle 38 ^e°^DC other way than by means of the alternating current source 38 ^e ° ^DC

erfolgt. Auch kann die Schaltung mit Tiefpaßverhalten
abweichend von F i g. 1 aufgebaut sein und dabei während der Wechselst«-omanteil des Ionisationsandere Impedanzen als den Kondensator 16 aufweisen, 15 stromes, der von der Ionisationskammer 12 in F i g. 4 die den Frequenzgang der Meßvorrichtung beeinflussen erzeugt wird, zu einem überlagerten Wechselstrom- und zu dessen Eichung verstellt werden können. Auch anteil in der Ausgangsspannung des Verstärkers 17 muß es sich bei den verstellten Impedanzen nicht not- führt, dessen Amplitude durch folgende Gleichung gewendig um solche handeln, die in der Schaltung mit geben ist:he follows. The circuit can also have a low-pass behavior
deviating from FIG. 1 and while the alternating current component of the ionization has different impedances than the capacitor 16, the current flowing from the ionization chamber 12 in FIG. 4, which influence the frequency response of the measuring device, can be adjusted to a superimposed alternating current and to its calibration. Even the proportion of the output voltage of the amplifier 17 does not have to be involved in the adjusted impedances, the amplitude of which is given by the following equation, which is given in the circuit:

Tiefpaßverhalten ursprünglich vorgesehen sind; solche ao ^ . + » \BLow-pass behavior are originally intended; such ao ^. + »\ B

einstellbare Impedanzen können vielmehr zum Zwecke ' y ^ ** " ^1S Rather, adjustable impedances can be used for the purpose of 'y ^ ** " ^1S

der Eichung zusätzlich in die Schaltung eingefügt wer- e₀AC = _r > Wthe calibration can also be inserted into the circuit ₀ AC = _r > W

den. Auch kann eine Wechselstromquelle während der ^α ß^n 0- + J^wi^n^w the. An alternating current source can also be used during the ^α ß ^ n 0- + J ^w i ^ n ^ w

Eichung des Frequenzganges an anderer Stelle in derCalibration of the frequency response elsewhere in the

Schaltung angeschlossen werden als F i g. 1 zeigt. as wobei A₂₇ der Widerstand des Potentiometers 27 undCircuit can be connected as F i g. 1 shows. as where A _{27 is} the resistance of potentiometer 27 and

Eine weitere Ausführungsform eine: Einrichtung zur A₂* der Innenwiderstand des Stromkreises 22 ist.
Eichung einer Strahlungsintensitätsmeßvorrichtung Der Innenwidersttad des Stromkreises 22 ergibtAnother embodiment is a: Means for A ₂ * the internal resistance of the circuit 22 is.
Calibration of a radiation intensity measuring device The internal resistance of the circuit 22 results

geht aus F i g . 4 hervor. Hierbei wird, ähnlich wie sich als Widerstand der Parallelschaltung des zwischen mittels der Wechsdstromquelle 38 in Fig. 1, eine den Schleifern 21 und 26 liegend en Teils des Poten-Modulation des Ion·' ationsstromes erzielt, jedoch im 30 tiometers 25 einerseits und der Reihenschaltung des vorliegenden Falle dadurch, daß die Strahlung inner- übrigen Teils des Potentiometers 25 mit dem veränderhalb der Meßstreck« zwischen der Strahlungsquelle 11 liehen Widerstand 24 andererseits zu
und der Ionisationskammer 12 mit der Eichfrequenzgoes out of fig. 4 emerges. Here, similar to the resistance of the parallel connection of the part of the poten-modulation of the ionic current lying between the alternating current source 38 in FIG In the present case, on the other hand, the radiation inside the remaining part of the potentiometer 25 with the resistance 24, which changes the measuring distance between the radiation source 11, is added
and the ionization chamber 12 at the calibration frequency

abwechselnd durchgelassen und unterbrochen wird, η _ Y^uPJ^*lZ~_yJ***) . (9)is alternately allowed through and interrupted, η _ Y ^ uPJ ^ * lZ ~ _yJ ***). (9)

während die Strahlungsquelle 11 und die Ionisation- 35 ^M r_u + ^₁₄ while the radiation source 11 and the ionization- 35 ^M r _u + ^ ₁₄

kammer 12 von dem Gegenstand 14 weggeschwenktchamber 12 pivoted away from the object 14

werden. Die Eichung des Frequenzganges durch diese wobei R_n der Widerstand des Potentiometers 25 und Unterbrechung der Strahlung in der Meßstrecke er- R_u der Widerstandswert des veränderlichen Widerfolgt auch hier nach der Nullpunkteinstellung der Meß- Standes 24 ist.will. The calibration of the frequency response by this where R _{n is} the resistance of the potentiometer 25 and the interruption of the radiation in the measuring section er R _{u is} the resistance value of the variable resistance here after the zero point adjustment of the measuring stand 24 as well.

spannung und der Anpassung an die Intensität der 40 Während die Ableitung der Gleichung (7) aus der Strahlungsquelle 11. Zur Eichung der Meßvorrichtung Gleichung (1) durch entsprechende Substitution der hinsichtlich des Frequenzganges wird zunächst die Gleichstromausdrücke in Gleichung (6) und Elimivon einem Synchronmotor 82 mit konstanter Winkel- nierung der Wechselstromimpedanz des Kondensageschwindigkeit in Drehung versetzte Blende 81 in tors 16 verhältnismäßig einfach ist, wird die Ableitung die Meßstrecke gebracht. 45 der Gleichung (8) dadurch erschwert, daß die ständigvoltage and the adaptation to the intensity of 40 While the derivation of equation (7) from the Radiation source 11. To calibrate the measuring device equation (1) by appropriate substitution of the with regard to the frequency response, the direct current expressions in equation (6) and Elimivon a synchronous motor 82 with constant angulation of the alternating current impedance of the condenser speed rotated diaphragm 81 in gate 16 is relatively simple, the derivation brought the test section. 45 of equation (8) is complicated by the fact that the constantly

Zur einfacheren Erläuterung und mathematischen eingeschaltete Gleichstromquelle 23 für den durch die Behandlung sei angenommen, daß die Blende 81 die Drehung der Blende 81 erzeugten Wechsel it romin teil Strahlung rein sinusförmig moduliert, wobei die des Ionisationsstromes die Impedanz Null aufweist. Blende 81 bei bestimmten Stellungen eine vollständige Daher unterscheidet sich die methematische Behand-Durchlässigkeit für die Strahlung aufweist und bei 50 lung der Meßvorrichtung nach F i g. 4 hinsichtlich des bestimmten Zwischenstellungen maximal zu einer Wechselstromanteils des Ionisationsstromes von d^r-Schwächung des von der Strahlung ausgelösten Ionisa- jenigen, bei der der lonisationsstrom ein Gleichstrom tionsstromes um einen Betrag K führt. In der Praxis ist. Insbesondere muß beachtet werden, daß der Teil hat die Blende 81 selbstverständlich eine Gestalt, die des Potentiometers 25, der zwischen dem Schleifer 26 eine stufenförmige Schwächung der durchgelassenen 55 und dem positiven Pol der Gleichstromquelie 23 liegt, Strahlung bedingt. Legt man eine sinusförmige Blen- hinsichtlich des Wechselstromanteils parallel zu der denausbildung zugrunde, so ist der von der Ionisa· Reihenschaltung, des übrigen Teils des Potentiometers tionskammer 1} während einer Drehung der Blende 81 25 und des veränderlichen Widerstands 24 geschaltet erzeugte lonisationsstrom durch folgende Gleichung ist. For simplicity of explanation and mathematical switched-on direct current source 23 for the treatment, it is assumed that the diaphragm 81 modulates the rotation of the diaphragm 81 generated alternation it romin part radiation in a purely sinusoidal manner, the ionization current having zero impedance. Aperture 81 is completely complete in certain positions. Therefore, the methematic treatment permeability for the radiation differs from that of the measuring device according to FIG. 4 with regard to the specific intermediate positions at most to an alternating current component of the ionization current of d ^ r weakening of the ionization triggered by the radiation, in which the ionization current leads a direct current ionization current by an amount K. In practice it is. In particular, it must be noted that the part of the diaphragm 81 naturally has a shape which causes radiation from the potentiometer 25, which lies between the wiper 26 and a stepped weakening of the transmitted 55 and the positive pole of the direct current source 23. If a sinusoidal aperture with regard to the alternating current component is used as a basis, the ionization current generated by the ionization series connection, the remaining part of the potentiometer during a rotation of the aperture 81 25 and the variable resistor 24 is switched by the following equation is.

gegeben: 60 Die von dent veränderlichen Widerstand 24 und demgiven: 60 The variable resistance of dent 24 and the

_K £ Potentiometer 25 gebildete Parallelschaltung ist mit _K £ potentiometer 25 is formed in parallel with

ft — h% 1 cos W₁/, (6) dem nicht geerdeten Anschluß des Potentiometers 27 ft - h% 1 cos W ₁ /, (6) the non-earthed connection of the potentiometer 27

2 2 verbunden, wodurch (Qr die an dem Schleifer 21 des2 2 connected, whereby (Qr the on the grinder 21 of the

wobei Potentiometers IR abgenommene Rflckführungsspan-where potentiometer IR recorded return voltage

It₉ der lonisationsstrom ist, den die lonisationskam- 6s nung ein Spannungsteiler gebildet ist. Die beiden Ab- It _{9 is} the ionization current that the ionization chamber 6s voltage is formed by a voltage divider. The two off

mer 12 in Abwesenheit der Blende 81 nach Anpas· schnitte des Spannungsteilers sind einerseits der zwiMergers 12 in the absence of the diaphragm 81 after adapting the voltage divider are on the one hand the two sung an die !intensität der Strahlungsquelle 11 er· sehen dem Schleifer 28 und dem Erdanschluß 32 ge*The information on the intensity of the radiation source 11 can be seen from the wiper 28 and the earth connection 32.

zeugt, und legetto Teil des Potentiometers 27 und andererseits diebegets, and legetto part of the potentiometer 27 and the other hand the

Reihenschaltung des zwischen dem Schleifer 28 und dem nicht geerdeten Anschluß liegenden Teil des Potentiometers 27 mit der von dem veränderlichen Wider* stand 24 und dem Potentiometer 25 gebildeten Parallelschaltung, Nimmt man an, daß dem Schleifer 28 des Potentiometers 27 eine sehr große Impedanz nachgeschaltet ist, so ergibt sich die Amplitude der Wechselspannung an dem Schleifer 28 des Potentiometers 27 zuSeries connection of the part of the potentiometer 27 located between the wiper 28 and the ungrounded connection with the part of the variable cons * stood 24 and the potentiometer 25 formed parallel connection, it is assumed that the grinder 28 of the potentiometer 27 is followed by a very large impedance, the amplitude of the alternating voltage at the wiper 28 of the potentiometer 27 results

+ Ä,+ Ä,

e₀ e ₀

(10)(10)

Die Wechselspannung am Schleifer 28 ergibt infolge der Verbindung des Schleifers 28 mst dem Eingang dqs Verstärkers 17 über den Hochohm-Widerstand 15 und dem Kondensator 16 einen Strom der AmplitudeThe alternating voltage at the wiper 28 results from the connection of the wiper 28 mst to the input dqs amplifier 17 through the high resistance 15 and the capacitor 16 a current of the amplitude

A₂₂ + A₂ A ₂₂ + A ₂

(H)(H)

im Schleifer 28, da die Eingangsspannung des Verstärken 17 praktisch gleich Null gesetzt werden kann. Da andererseits der Verstärker 17 eine hohe Eingangsimpedanz aufweist, muß der Wechselstromanteil des von der Ionisationskammer 12 erzeugten Ionisationsstroms gleich demjenigen Wechselstrom sein, der vom Schieber 28 zu dem Eingang des Verstärkers 17 fließt, woraus für die Amplitude dieses Wechselstromanteils die Gleichung folgtin the grinder 28, since the input voltage of the amplifier 17 is set practically equal to zero can. On the other hand, since the amplifier 17 has a high input impedance, the AC component must of the ionization current generated by the ionization chamber 12 is equal to that alternating current be flowing from the slider 28 to the input of the amplifier 17, from which for the amplitude of this AC component the equation follows

U ACU AC

R,R,

renz der Ausgangsspannung der Ampiitudenmeßvorrichtung 39 und einer an einem Potentiometer 86 eingestellten, einen Sollwert darstellenden Spannung gebildet wird. Der mittels des Schiebers des Poten- renz of the output voltage of the Ampiitudenmeßeinrichtung 39 and a set on a potentiometer 86, a target value representing voltage is formed. The by means of the slider of the potential

tiometers 86 bestimmte Sollwert ist so gewählt, daß er derjenigen Amplitude der Ausgangsspannung der Meßvorrichtung gleicht, die infolge deren Dämpfung hei der durch die Blende 81 erzeugten Eichfrequenz auftreten sollte. Mit der von dem Vergleichsglied 85 ge-tiometer 86 certain setpoint is chosen so that he equal to that amplitude of the output voltage of the measuring device, which is called as a result of its attenuation the calibration frequency generated by the diaphragm 81 should occur. With the comparison element 85 determined

bildeten Regelabweichung ist ein Gleichstrommotor 87 beaufschlagt, der den Wert einer den Frequenzgang beeinflussenden Impedanz, im Ausführungsbeispiel des Kondensators 16, so lange im Sinne einer Verringerung der Regelabweichung verstellt, bis diese zu Null ge- A direct current motor 87 is applied to the control deviation formed, which adjusts the value of an impedance influencing the frequency response, in the exemplary embodiment the capacitor 16, in the sense of reducing the control deviation until it reaches zero.

is worden und die Meßvorrichtung damit geeicht ist.has been and the measuring device is thus calibrated.

Die Eichung kann anstatt mittels der beschriebenen elektronischen Steuerung auch mittels elektromechanischer Vorrichtungen erfolgen. Weiter kann, wie bereits erwähnt, die Ionisationskammer 12 durch einenThe calibration can also be carried out by means of electromechanical controls instead of the electronic control described Devices take place. As already mentioned, the ionization chamber 12 can also be provided with a

so Szintillations - Kristall - Fotocdctronenvervielfacher oder eine andere Vorrichtung ersetz., werden, die einen Strom in Form einer Impulsfolge erzeugt, bei der die Impulsfolgefrequenz der auftretenden Strahlungsintensität proportional ist. Eine derartige Meßvorrichtung,so scintillation crystal photo multiplier or another device, will replace the one Electricity generated in the form of a pulse train, at which the pulse repetition frequency of the occurring radiation intensity is proportional. Such a measuring device,

as die zur digitalen Anzeige der Meßspannung verwendet wird, ist an sich bekannt. Die zusätzliche Eichung des Frequenzganges kann jedoch auch hier zweckmäßig sein, da bei derartigen Digjtalmrßvorrichtungen die zeitliche Änderung des Frequenzganges dazu führt,as used for the digital display of the measuring voltage is known per se. However, the additional calibration of the frequency response can also be useful here because in such digital measuring devices the temporal change of the frequency response leads to

daß an sich /u zählende Impulse nicht erfaßt werden und daß sich andere Fehlfunktionen ergeben, die zu unannehmbaren und irreführenden Fehlern führen.that per se / u counting pulses are not detected and that other malfunctions result which lead to lead to unacceptable and misleading errors.

Die Auflösung der Gleichung (12) für e₀ ergibt die Gleichung (8).Solving equation (12) for e ₀ gives equation (8).

Ein Vergleich der Glekhurs?" (3) and (8), die die Amplituden der Wechselstromanteile der Ausgangsspannung des Verstärkers 17 bei der Eichung des Frequenzganges unter Verwendung der Einrichtungen nach den F i g. 1 bzw. 4 darstellen, zeigt die Ähnlichkeit des so jeweils ermittelten Frequenzganges. Insbesondere weist in beiden Gleichungen der Nenner den frequenzabhängigen Dämpfungsfaktor (1 + jw_tR_i6C_u) auf. Dieser Dämpfungsfaktor zeigt, daß diejenige Frequenz, bei der eine bestimmte Dämpfung von beispielsweise 3 db auftritt, in beiden Fällen gleich und durch die Werte des Hochohm-Widerstands 15 und des Kondensators 16 bestimmt ist, so daß auch Änderungen des Wertes des Hochohm-Widerstands 15 so in beiden Fällen den gleichen Einfluß auf den Frequenzgang haben und in beiden Fällen eine Eichung des Frequenzganges durch Verstellung des Kondensators 16 erreicht werden kann. Entsprechend können auch bei der Einrichtung nach F i g. 4 andere, den Frequenzgang beeinflussende Impedanzen als der Kondensator 16 mit ähnlichem Erfolg zur Eichung des Frequenzgangs verwendet werden.A comparison of the Glekhurs? "(3) and (8), which represent the amplitudes of the alternating current components of the output voltage of the amplifier 17 when calibrating the frequency response using the devices according to FIGS. 1 and 4, shows the similarity of the above In particular, the denominator in both equations has the frequency-dependent damping _factor (1 + jw _t R i6 C _u ) . This damping factor shows that the frequency at which a certain damping of, for example 3 db occurs, is the same in both cases and is determined by the values of the high-ohm resistor 15 and the capacitor 16, so that changes in the value of the high-ohm resistor 15 have the same influence on the frequency response in both cases and in both cases a calibration of the frequency response by adjusting the capacitor 16 Correspondingly, in the device according to FIG. 4, other impedances influencing the frequency response than d he capacitor 16 can be used with similar success to calibrate the frequency response.

Der Kondensator 16 der Meßyorrichtung nach F i g. 4 könnte an sich, wie derjenige der in F i g. 1 gezeigten Ausführung, zur Eichung von einer Bedienungsperson verstellt werden, die hierbei das Voltmeter 40 beobachtet, Die Eichung des Frequenzganges kann hier jedoch im Rahmen einer Regelung erfolgen, bei der eine den Frequenzgang beeinflussende Impedanz verstellt wild Dies erfolgt bei der Meß· vorrichtung nach F i g. 4 dadurch, daß mittels eines Vereleichsglieds 85 eine Regelabweichung als Diffe-The capacitor 16 according to the measuring device F i g. 4 could in itself, like the one in FIG. 1, can be adjusted for calibration by an operator who observes the voltmeter 40 here Impedance shifts wildly. This takes place in the measuring device according to FIG. 4 in that by means of a Comparison element 85 a system deviation as a difference

Claims (10)

Patentansprüche:Patent claims: 1. Vorrichtung zur Eichung mindestens einer Strahlungsintensitätsmeßvorrichtung, die zur Messung von solchen Eigenschaften eines Gegenstands dient, für welche die bei Bestrahlung von dem Gegestand durchgelassene Strahlungsintensität ein Maß ist, und die eine Sbahlungsquelle, einen von der Strahlungsquelle betriebsmäßig durch einen zu untersuchenden Gegenstand hindurch bestrahlten Strahlungsdetektor, der einen der Strahlungsintensität proportionalen Strom erzeugt, und eine daran angeschlossene Schaltung mit Tiefpaßverhalten aufweist, die eine hohe Impedanz, welche eine dem Strom proportionale Spannung erzeugt, einen hinsichtlich Nullpunktswanderungen normierten Verstärker, welcher diese Spannung verstärkt und sie über ein Kabel einer Sißnalanalysiervorrichtung als Meßspannung weitergibt, ein Netzwerk zur Nullpunktverschiebung der Meßspannung zum Abgleich einer Nullpunktswanderung des Verstärken, und ein Potentiometer zur Normierung der Meßspannung bezüglich der Strahlungsintensität der Strahlungsquelle umfaßt, mittels dessen bei aus der Meßstrecke entferntem Untersuchungsgegenstand eine bestimmte Meßspannung einstellbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß zusätzlich zur Strahlungsquellen- und Nullpunktnormierung der Meßvorrichtung der Frequenzgang der Meßspannung in Abhängigkeit von der Amplitude in der Weise geeicht wird, daß der von dem Strahlungsdetektor (12) erzeugte Strom bei aus der Meßstrecke entferntem Untersuchungsgegenstand (14) mit einer vorgegebenen Eichfre- 1. Device for calibrating at least one radiation intensity measuring device, which is used to measure properties of an object for which the radiation intensity let through by the object during irradiation is a measure, and which a Sbahlungsquelle, an operationally irradiated by the radiation source through an object to be examined Radiation detector, which generates a current proportional to the radiation intensity, and a circuit connected to it with low-pass behavior, which has a high impedance, which generates a voltage proportional to the current, an amplifier standardized with respect to zero point drifts, which amplifies this voltage and uses a cable of a Sißnalanalysiervorrichtung as Measuring voltage passes on, a network for zero point shifting of the measuring voltage for balancing a zero point migration of the amplification, and a potentiometer for normalizing the measuring voltage with respect to the radiation intensity of the Radiation source, by means of which a certain measuring voltage can be set when the object to be examined is removed from the measuring section, characterized in that, in addition to the radiation source and zero point normalization of the measuring device, the frequency response of the measuring voltage is calibrated as a function of the amplitude in such a way that the measured voltage from the radiation detector ( 12) generated current when the test object (14) is removed from the measuring section with a specified calibration frequency. quettz moduliert wird, daß hierbei die Amplitude des Wechselstrornanteils der Meßspannutig in der Signalanalysiervorrichtung (34, 39, 40, 45, 46) ge' ittessen wird und daß durch die Verstellung einer den Frequenzgang beeinflussenden Impedanz (16) S der Schaltung mit Tiefpaßverhalten eine vorgege* bene Amplitude eingestellt wird.quettz is modulated that here the amplitude of the alternating current component of the measuring span in the Signal analysis device (34, 39, 40, 45, 46) ge ' ittessen and that by adjusting an impedance influencing the frequency response (16) S the circuit with low-pass behavior a preset * level amplitude is set. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die der Eichfrequenz zugeordnete Amplitude mit Hüte der Amplitudenmeßvor- richtung (39) so auf einen vorgegebenen Wert eingestellt wird, daß bei der Eichfrequenz gegen· über ditr Frequenz Null eine vorgegebene Dämpfung auftritt, die mindestens gleich 3 db ist.2. Apparatus according to claim 1, characterized in that the amplitude assigned to the calibration frequency with hats of the Amplitudenmeßvor- direction (39) is set to a predetermined value so that at the calibration frequency against A predetermined attenuation occurs above the zero frequency, which is at least equal to 3 db. 3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch »5 gekennzeichnet, daß die Vorrichtung zur Modulation eine Wechselstromquelle (38) mit einer Eichfrequenz ist, die derart in die Schaltung mit TiefpaBvei halten eingeschaltet ist, daß sie von dem vom Strahlungsdetektor (12) erzeugten Strom unbeein- ^ao flußt bleibt (F ig. 1).3. Device according to claim 1 or 2, characterized in that the device for modulation is an alternating current source (38) with a calibration frequency which is switched on in the circuit with TiefpaBvei hold in such a way that it is generated by the radiation detector (12) current unbeein- ^ao influ- remains (FIG. 1). 4. Vorrichtung nach Anspruch 3, bei der das Netzwerk zur Nullpunktverschiebung der Meßspannung eine Gleichstromquelle umfaßt und in einer Strom-Rückführungsschleife für den Ver- »5 stärker angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Wechselstromquelle (38) an Stelle der Gleichstromquelle (23) in die Strom-Rückführungsschleife einschaltbar ist und daß die Spannungsamplitude der Wechselstromqueile (38) gleich der 3» Spannung der Gleichstromquelle (23) ist.4. Apparatus according to claim 3, wherein the network for zero point shifting of the measurement voltage comprises a direct current source and in a current feedback loop for the »5 is arranged stronger, characterized in that the alternating current source (38) in place of the Direct current source (23) can be switched into the current feedback loop and that the voltage amplitude of the alternating current source (38) is equal to the 3 » Voltage of the direct current source (23) is. 5. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung zur Modulation eine in der Meßstrecke zwischen Strahlungsquelle (11) und Strahlungsdetektor (12) umlaufende Blende (81) ist (F i g. 4).5. Apparatus according to claim 1, characterized in that the device for modulation a diaphragm rotating in the measuring section between radiation source (11) and radiation detector (12) (81) is (Fig. 4). 6. Vorrichtung nach einem der vorangegangenen Ansprüche, bei der die hohe Impedanz aus einem Hochohm widerstand (IS) und einem ihm parallelgeschalteten Kondensator (16) gebildet ist, dadurch gekennzeichnet, daß der Kondensator (16) zur Einstellung der vorgegebenen Amplitude dient.6. Device according to one of the preceding claims, wherein the high impedance from a High resistance (IS) and a capacitor (16) connected in parallel to it is formed thereby characterized in that the capacitor (16) is used to set the predetermined amplitude. 7. Vorrichtung nach einem der vorangegangenen Ansprüche im Falle der Eichung einer Vielzahl innerhalb derselben Meßeinrichtung gleichzeitig ver* wendeter Strahlungsintensitätsmeßvorrichtungen, deren MöBsparmungen über Kabel zu einer gemeinsamen Zentrale übertragen werden, dadurch gekennzeichnet, daß die Eichfrequenz und die zugeordnete, vorgegebene Amplitude jeweils bei allen Strahtungsintensitätsmeßvorrichtungen gleichgewählt sind (F i g. 3).7. Device according to one of the preceding claims in the case of calibration of a plurality within the same measuring device simultaneously ver * turned radiation intensity measuring devices, whose MöBsparmungen are transmitted via cable to a common center, thereby characterized in that the calibration frequency and the associated, predetermined amplitude each at all radiation intensity measuring devices are selected to be the same (FIG. 3). 8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Amptitudenmeßvorrichtung (39) in der Zentrale (Sl) angeordnet ist und über einen Multiplexschalter (52) mit jeweils einer Meßspannung verbindbar ist.8. Apparatus according to claim 7, characterized in that the amplitude measuring device (39) is arranged in the control center (S1) and can be connected to a respective measuring voltage via a multiplex switch (52). 9. Vorrichtung nach Anspruch 4 oder 8. gekennzeichnet durch eine in der Zentrale (Sl) angeordnete Steuervorrichtung (6S) zur Erzeugung von zwei Steuersignalen sowie durch zusätzliche Kontakte des Multiplexschalters (52) und zusätzliche Leiter (54 his 59) in den den Meßvorrichtungen zugeordneten Kabeln (50) zur Übertragung dieser Steuersignale zu jeweils einer Meßvorrichtung, wobei das erste Steuersignal eine Vorbereitung der Meßvorrichtung zur Eichung des Frequenzgangs durch Entfernung des Gegenstands (14) aus der MeBstrecke und durch die Einschaltung der Wechselstromquelle (38) an Stelle der Gleichstromquelle (23) bewirkt und das zweite Steuersignal eine zur Durchführung der Eichung erforderliche Verstellung der den Frequenzgang beeinflussenden Impedanz (16) steuert.9. Apparatus according to claim 4 or 8, characterized by a control device (6S) arranged in the center (S1) for generating of two control signals as well as additional contacts of the multiplex switch (52) and additional conductors (54 to 59) in the cables (50) assigned to the measuring devices for the transmission of these control signals to a respective measuring device, wherein the first control signal prepares the measuring device for calibrating the frequency response by removing the object (14) from the measuring path and by switching on the alternating current source (38) instead of the direct current source (23) and the second control signal controls an adjustment of the impedance (16) influencing the frequency response, which is necessary to carry out the calibration. 10. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein Vergleichsglied (85) durch Differenzbildung aus der von der Amplitudenmeßvorrichtung (39) erzeugten, der tatsächlichen Dämpfung der Meßspannung bei der Eichfrequenz (/,) entsprechenden Spannung und einer der der Eichfrequenz zugeordneten, vorgegebenen Dämpfung der Meßspannung entsprechenden Spannung ein Regelabweichungssignal in Form einer Gleichspannung erzeugt und daß ein mit dieser Gleichspannung gespeister Stellantrieb (57) eine den Frequenzgang der Meßvorrichtung beeinflussende Impedanz (16) im Sinne einer betragsmäßigen Ver mindening der Regelabweichung verstellt (F i g. 4)10. The device according to claim 2, characterized in that a comparison member (85) through Difference formation from the amplitude measuring device (39) generated, the actual attenuation of the measuring voltage at the calibration frequency (/,) corresponding voltage and one of the predetermined damping associated with the calibration frequency the voltage corresponding to the measurement voltage generates a control deviation signal in the form of a direct voltage and that an actuator (57) fed with this direct voltage has an influence on the frequency response of the measuring device Impedance (16) adjusted to reduce the amount of the control deviation (Fig. 4) Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings 922922